JPS6051054B2 - ゼ−マン原子吸光光度計 - Google Patents

ゼ−マン原子吸光光度計

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JPS6051054B2
JPS6051054B2 JP55131617A JP13161780A JPS6051054B2 JP S6051054 B2 JPS6051054 B2 JP S6051054B2 JP 55131617 A JP55131617 A JP 55131617A JP 13161780 A JP13161780 A JP 13161780A JP S6051054 B2 JPS6051054 B2 JP S6051054B2
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concentration
absorbance
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英雄 山田
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/3103Atomic absorption analysis

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  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ゼーマン原子吸光光度計に関する。
原子吸光光度計は、汚水、食品、尿などの中に含まれ
ている金属元素の定量分析を行うための装置として知ら
れている。この原子吸光光度計の中で、微量金属を高感
度で分析できる方法としてゼーマン効果を用いたゼーマ
ン原子吸光光度計が知られている。 ゼーマン原子吸光
法とは、原子化された試料蒸気に10kG程度の磁場を
印加し、互いに偏光面が 直交する2種類の直線偏光を
用いて原子による共鳴吸収を観測する。
磁場に平行な振動面と持つ偏光(P/)が原子吸光用の
試料光束となり、磁場に垂直な振動面を持つ偏光(P土
)が参照用光束となる。この方法は、バックグラウンド
吸収を精度良く補正する事ができ、また完全な複光束方
式のためベースラインが極めて安定なことから、最近多
くの研究者によつて検討され、極めて信頼性が高く有力
な分析法として注目されている。ゼーマン効果の利用法
にはいくつかあり、上記の試料蒸気に一定磁場を印加す
る方法の他に、光源に磁場を印加する方法、あるいは、
磁場強度を変調する方式などがある。しかし、ゼーマン
原子吸光法全般に共通した一つの問題点は、非常に高い
濃度領域で検量線が下降する点である。 極大吸光度A
pを与える濃度Cpより高い濃度域では検量線は下降し
反転する。
ゼーマン原子吸光法で測定する濃度領域がCpより小さ
い濃度領域である限り測定値の信頼性に問題は無い。し
か・し、検量線が2価関数であため、未知試料を測定し
吸収度値Alという結果を得ても試料濃度がClである
保証が無い。試料濃度がCoである可能性もある。検量
線が2価関数である以上、静的な測定によつてClとC
oを区別する事は不可能であ・る。また、比較的高濃度
の範囲では検量線の曲りが大きく、実際の分析にあつて
十分な精度は得られない。このドローバック現象は、理
論的に次のように説明できる。
すなわち、試料原子化部に磁場を印加する方式のゼーマ
ン原子吸光分析法では、ゼーマン***しない成分と同じ
偏光面の光源からの光に対して、その光源からの光と直
交する成撫の光をバックグランドの補正に用い、両者の
差信号を得ている。ここで、高濃度域では、原子吸収に
よる吸収は飽和するのに対して、バックグランド吸収は
直線的に増加していくことになる。その結果、差信号も
飽和するとともに、原子吸光法が本来持つている検量線
の曲りの要素が加わることにより、検量線のドローバッ
ク現象が生じる。本発明の目的は、特に試料原子化部と
して化学炎を用いる形のゼーマン原子吸光光度計におい
て、高濃度域での測定の可能なゼーマン原子吸光光度計
を提供するにある。本発明の原理について説明すると次
のようになる。
フレーム(化学炎)を使用した原子吸光では、試料をネ
ビユライザによつて霧状し、それをフレームに導入し、
熱解離により原子蒸気を生成する。この原子蒸気中にホ
ローカソードランプからの光を通し、共鳴原子吸収を測
定する。フレーム中に原子蒸気が形成される過程を時間
的に詳しく観測すると次のようになる。すなわち、ネビ
ユライザに試料を導入すると、時間ともにフレーム中の
原子蒸気の濃度は増加する。そして、試料吸入後のある
一定時間は濃度値は一定となり、吸入終了後は濃度は時
間とともに減少する。本発明においては、原子化部への
試料導入後、原子吸収信号の強度のピーク値を検出し、
このピーク値原子吸収信号の所定時間の平均値の大小を
比較するようにしたものである。
本発明の原理について第1図および第2図を用いて説明
する。
第1図aはフレーム中の原子蒸気の濃度と時間の関係を
示している。
時刻ちは試料吸入開始の時点である。非常に短い時間ス
ケール(4).05〜0.1秒)で原子蒸気の濃度の変
化を観察すると、フレーム中の原子蒸気濃度は時刻ちま
で上昇し後に一定となる。また試料吸入終了時刻T5か
ら下降を開始し時刻tで零となる。このような試料蒸気
圧の立上り、立下り現象が現われるのは、ネビユライザ
により霧化された試料が、バーナチエンバ内で拡散する
ためと考えられる。実験によると、一般に、立上りより
立下りの方がゆるやかな傾向が見られる。第1図bに、
濃度軸を第1図aと同一の方向にとつたゼーマン原子吸
収の検量線を示す。即ち、ゼーマン原子吸収に於ける吸
光度値と濃度の関係を示すグラフである。第1図aで、
時刻ちにはフレーム中の原子蒸気濃度がC1になる事が
わかる。第1図bで、原子蒸気濃度がC1のときの吸光
度値がA1となることがわかる。こうして得られた吸光
度値は、第1図cに時間軸を第1図aと同一の方向にと
つて示してある。時亥!1t2に於て濃度はCpとなり
吸光度はApとなる。即ち、時刻T2で観測される吸光
度値は最大となり、さらに濃度が増すと逆に吸光度値は
小さくなつてくる。時刻ちからちので濃度値はC2とな
ソー定値を示す。このとき観測される吸光度値A1はA
pより小さく、また濃度C1のときと同一の値を示す。
時刻T5の吸入終了時から!までは、吸入開始時の逆の
過程を通る。最終的に、時間と吸光度の関係は第1図C
に示すように2つのピークを持つものとなる。即ち、C
pより高い濃度を示す試料の場合、T4に於ける吸光度
値はA,より低くなるが、時刻T。からT3の間、およ
び時刻T5からT8の間で、かならず最大吸光度値A,
に相当するピークP1およびピークP2が出現する。実
験によるとピークP1およびP2は極めて速いピークで
あり、応答速度が0.2秒より速くないと正確に観測で
きない。速い信号処理系を用いてピークP2の高さ測定
し試料濃度との関係をグラフにすると第2図に示すよう
になり、ゼーマン原子吸光法に於ても、高濃度域で検量
線が反転する事なく正しい分析ができる事が確認された
。本発明の一実施例について、第3図を用いて説明する
。最初に、ゼーマン原子吸光光度計の概略を説明する。
光源10は、電源12から供給される電流により点灯さ
れる。光源10から発せられた光は、偏光子14に入射
する。そして、この偏光子14から出射する光は特定の
偏光面を有する直線偏光である。さらに、偏光子14は
、回転しており、この回転に応じて直線偏光の偏光面も
回転する。偏光子14から出射した光は、フレームを形
成するバーナ装置などからなる原子化部16に入射し、
ここで原子によつて吸収される。この原子化部16には
、1対の磁石18によつて10kG程度の磁場が印加さ
れている。したがつて、原子化部16における原子吸収
線はゼーマン分岐している。原子化部16を透過した光
は、分光器20によつて所定の波長の光が選択された後
、検知器22に入射する。入射した光強度に対応する電
気信号が検知器22から出力する。この電気信号は、前
置増巾器24によつて増巾され、対数変換器26によつ
て対数変換される。この信号は、中心周波数をf1とす
るバンドパスフィルタ28によつて、ノイズ成分を除去
された後、同期整流器30に入力する。一方、ゲート回
路32からは、偏光子14の回転と同期した周波数f1
のゲート信号が、同期整流器30に入力している。した
がつて、同期整流器30の入力信号は整流される。同期
整流器30の出力信号は、第1図cに示すような時間と
ともに変化する吸光度を示す信号となる。この信号は記
録計Recに記録される。また、吸光度信号は、ピーク
判定回路40に入力する。
ピーク判定回路40内には、タイマ42が備えられげお
り、試料吸入後からの一定時間(例えば、第1図a(7
)TO−T3)や試料吸入終了後からの一定時間(例え
ば、第1図a(7)T5〜T8)の間、ゲート回路44
にゲート信号を供給する。ゲート回路44は、ゲート信
号を受けて、吸光度信号をピークホールド回路46に供
給する。ピークホールド回路46は、入力した吸光度信
号のピーク値を得る。このピーク値は、吸光度一濃度変
換回路48に入力する。吸光度一濃度変換回路48は、
第2図の検量線の相関関係を保持しており、入力した吸
光度に対応する濃度値を出力する。この濃度値は、メー
タ、プリンタなどの表示装置50に表示される。ピーク
ホールド回路46は、第1図cのピークPl,P2のい
ずれか一方をホールドするが、ピークP2をホールドす
るようにした方が精度がよい。すなわち、前述したよう
に、P2の立ち下りの方がP1の立ち上りよりゆるやか
であり、信号処理が容易だからである。以上のようにし
て、高濃度の測定が可能となる。また、吸光度信号は、
判別回路60に入力する。
判別回路60内には、タイマ42が備えられており、フ
レーム中の原子蒸気濃度がほぼ一定になつている期間(
例えば、第1図a(7)T3〜T5)の間ゲート回路6
2にゲート信号を供給する。このゲート信号によつてゲ
ート回路62は導理し、吸光度信号積分(平均化)回路
64に入力する。積分回路64は、入力信号の平均値を
順次演算する。ピークホールド回路46によるピークの
判定および積分回路64による平均化が終了すると、比
較器66は両出力の大小を比較する。ここで、ピークホ
ールド回路46の出力をApとし、積分回路64の出力
をA1とする。一方、積分回路64の出力は、吸光度一
濃度変換回路68に入力する。吸光度一濃度変換回路6
8は、第1図cの2価関数の検量線を保持している。し
たがつて、積分回路64の出力がA1のとき、変換回路
68は濃度C1とC2の2値を選択する。ここて、比較
器66が(Ap>A1)である出力を発している場合、
変換回路68は吸光度A1に対する値として濃度C2を
選択し、表示装置70に表示される。比較器66の出力
が(Ap≦A1)であることを示している場合には、濃
度はC1となる。また、(A2〉A1)の場合であつて
、あまり高濃度の測定が必要でない場合には、エラー表
示を表示器72に行うこともできる。バーナへの磁場印
加について、第4図を用いて説明する。
まず、耐熱温度が低く、また材質の硬さともろさから機
械加工のできない磁性材料100,101をフレーム1
02から離して、しかもフレームからのふく射に対して
かげになる部分に配置してある。磁性材料100,10
1からの磁束を、軟鋼から成るボールピース104,1
05による磁気回路を通してフレームに印加する。フj
レーム102が直接ふれるボールピース104,105
先端のすぐ内側にボールピース104,105を貫通す
る穴106,107を設け、内部に水を流し冷却する。
また、フレームの不安定性は、フレームの一部が冷却さ
れたボールピース面川こふれることに起因するためでな
く、外部からの流れが妨害されるため引き起こされる。
また、予混合形のバーナを用いてもこの2次空気は安定
な燃焼に重要であることが実験から判明した。従つて、
バーナヘッド108の上面とボールピース1704,1
05下面の間に最低2順のすきまを左右対称に設け、し
かもバーナヘッド108の上面の角度とボールピース1
04,105下面の角度を一致させて、2次空気110
,111の左右対称に乱流を生じるとなく流れて火口に
達する構造としてある。2次空気が左右対称に流れ込ま
ないと、炎がかたむき、次に片方のボールピース先端の
表面によせられへばりついてしまう現象を生じる。
また2次空気の量が十分でないとフレームふらつきやす
く、ノイズを増大させる。1スロット形予混合バーナの
場合、2次空気を確実に流してやることにより、最高で
6Tfnのギャップ内に安定な状態でフレームを作るこ
とができた。
ボールピースに設けられた冷却用の穴の位置も、ギャッ
プ間に生する磁場強度に影響する。ボールピースの厚み
をしぼり込む直前(ボールピース先端より15顛)に厚
み(18順)の113の径をもつ穴をあけるのが、冷却
効率と磁場強度の点で最も効果的であつた。以上述べた
構造により安定なフレームを10kGの強磁場中に作る
ことができた。バーナは、バーナチエンバ112(予混
合室)とバーナヘッド108の間がバイブ114で連結
されている。バイブ114より太い穴116が磁石下部
ヨーク118にあけられており、バイブ114はその中
を通る。磁石は試料室に固定されているが、バーナ部は
試料室に固定された前後および上下方向の微動台120
に設置される。バーナの上下については、最も上に切つ
た状態でも、ボールピース下面とバーナヘッド上面との
間に2Wr!nのすきまができるように、ストッパが設
けられている。バーナチエンバ112とバーナヘッド1
08の間のバイブ114は、バイブ全長が20c!n以
下の場合バーナ効率に低下をきたさず、すしろわずかに
効率の上昇が見られた。バーナヘッド108、バイブ1
14は磁石から強い力を受けぬよう常磁性金属(304
ステンレスなど)で製作される。さもないと、バーナ位
置の微動がきかなくなつたり、ヘッドがすいつけられて
はずれたり、またヘッドの着脱時に危険がともなう。バ
ーナヘッドは、たびたびはずして内部を洗浄する必要が
あり、またH2ーアセチレンフレームを作るときには、
燃焼波速度の違いから、狭いスリットを有するヘッドに
交換しなければならない。ここでは、バーナ全体を下げ
、次にヘッド108を上に抜くことにより、ヘッド10
8の交換ができる。バイブ114とヘッド108の接続
部122は、0リングによるシールを使用している。装
置の試料室が特に狭い場合には、次の構造が効果的であ
つた。即ち、バーナチエンパ部112は、微動台120
に固定される。磁石はレール上に置かれ、必要に応じて
試料室の前の方に引き出すことができる。バイブ114
に、ヘッド部108とのジョイントだけでなく、チエン
バ部112もにジョイント124をもうける。バーナの
交換には、まず微動台120をいつぱいに下げ、次にバ
イブ114を、チエンバ112から引き抜く。次に、磁
石を試料室の前の方へ引き出し、バーナヘッドの交換を
行うことができる。以上の説明におけるゼーマン原子吸
光光度計の光学系は、原子化部に直流磁場を印加すると
ともに、その印加方向が光軸と直交する例である。
しかしながら、ゼーマン原子吸光光度計の光学系として
は種々のものが知られている。例えば、光源に磁場を印
加たり、磁場強度を変調したり、磁場の印加方向を光軸
と平行にするなど、これらの組み合せにより々のものが
ある。また、これらの変形に応じて、偏光子も回転する
場合や固定する場合、また、設置位置も検知器の前にす
るなど種々のケースがある。そして、これらのどの光学
系に体しても本実施例は有効てある。本発明の他の実施
例について第5図を用いて説明する。
第3図と同一符号は同一部分を示す。光学系における第
3図の実施例との相違は、磁石18による磁場が原子化
部ではなく光源10に印加する点にある。したがつて、
光源10からの発光線はゼーマン分岐している。そして
、π成分とσ士成分の偏光面の相違によつて、偏光子1
4を用いて両分が分離される。信号処理系における相違
は、マイクロプロセッサ(MPU)を用いる点にある。
検知器22の出力は、前置増巾器24により増巾され、
A/D変換器80によりディジタル信号に変換される。
このディジタル信号は、バスライン82を経てMPU8
4にり込まれる。また、ゲート回路32からのゲート信
号は入出力インタフェースI/086を経て取り込まれ
る。吸光度の演算は、MPU84内て行なえるとともに
、吸光度から濃度を求めるステップのプログラムは、あ
らかじめ、ROM88内に記憶されている。このプログ
ラムについて、第6図のフローチャートを用いて説明す
る。バーナへの試料吸入が行なわれると、判定150に
おいて経過時間tを監視する。そして、tがち、例えば
2秒になると、平均化を行う(処理152)。この平均
化は、例えば、20m1s毎に吸光度データが取り込ま
れ、積分される。あらかじめ定められた積分時間2〜1
@)が、判定154にて終了すると、処理156にて吸
光度データを201T1S毎に取り込んでピーク値が測
定される。ピーク値が検出された後、吸光度を濃度に変
換するために、判定158において、第2図の検量線の
変換法(COnv.l)が第1図bの検量線の変換法(
COnv.2)のいうずれかが選択される。この選択は
、例えば、キーボード90からI/092を介して、入
力される。COnv.lが選択されると、処理160に
おいて、吸光度A,に対応する濃度Cが演算される。ま
た、判定158において、COnv.2が選択されてい
ると、判定162において、ピーク値平均値の大小関係
を判別する。ピーク値が平均値より大きい場合には、処
理164において、吸光度A1に対応する濃度C2を演
算する。そうでない場合には、処理166において、吸
光度A1に対する濃度C1を演算する。そして、濃度値
は表示168において出力表示される。表示は、I/0
94を介してディスプレイ96になされる。以上の本発
明によれば、ゼーマン原子吸光光度計による従来に比べ
てより高濃度の試料の分析が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の原理説明図てあり、第2図・は、本
発明の一実施例の検量線図てあり、第3図は、本発明の
一実施例のブロック図であり、第4図は、本発明の一実
施例の部分拡大図であり、第5図は、本発明の他の実施
例のブロック図であり、第6図は、第5図の実施例のフ
ローチャート7である。 10・・・・・光源、16・・・・・・原子化部、18
・・・・・・磁石、22・・・・・・検知器、40・・
・・・ゼーク判定回路、60・・・・・判別回路、84
・・・・・−MPU。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 光源と、この光源から光が照射されるとともに試料
    を化学炎中に導入して原子化する原子化部と、この原子
    化部において原子吸収された上記光源からの光を受光し
    て電気信号に変換する検知器と、上記光源と上記原子化
    部のいずれか一方に磁場を印加する磁石と、上記原子化
    部に試料が導入された後の原子化部内における試料の蒸
    気濃度が変化している期間内の原子吸収信号の強度のピ
    ーク値を検出する手段と、上記原子化部に試料が導入さ
    れた後の原子化部内における試料の蒸気濃度がほぼ一定
    である期間内の原子吸収信号の平均値を得る手段と、前
    記ピーク値と平均値の大小に応じて原子吸収信号に対応
    する2価の濃度値のうち一方を選択する手段を備えたこ
    とを特徴とするゼーマン原子吸光光度計。
JP55131617A 1980-09-24 1980-09-24 ゼ−マン原子吸光光度計 Expired JPS6051054B2 (ja)

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US06/299,109 US4449820A (en) 1980-09-24 1981-09-03 Zeeman atomic absorption spectrophotometer
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