JPS6042725A - 焦点検出装置 - Google Patents

焦点検出装置

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JPS6042725A
JPS6042725A JP58150741A JP15074183A JPS6042725A JP S6042725 A JPS6042725 A JP S6042725A JP 58150741 A JP58150741 A JP 58150741A JP 15074183 A JP15074183 A JP 15074183A JP S6042725 A JPS6042725 A JP S6042725A
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JP
Japan
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light
signal
image
lens
focus
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JP58150741A
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English (en)
Inventor
Yoshiaki Horikawa
嘉明 堀川
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/30Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
    • G02B7/32Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Focusing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、カメラ、顕微鏡、硬性鏡、眼底カメラ等の光
学機器や医療機器に適する焦点検出装置であって、光学
系中の異なる経路を通過する光束を用いて像の位置ずれ
を生じさせて焦点位置を検出するようにして成る焦点位
置検出装置に関するものである。
この種焦点検出装置には種々のものがあるが、例えば特
願昭56−64065号、特願昭57− ″11681
6号、特願昭58−28594号、特願昭58−285
95号、特願昭58−28599号、特開昭57−17
9809号、特開昭57−179810号等に記載の如
く瞳を分割して像の位相差を生じさせる方式のものは、
光学系の瞳位置の近傍に瞳を分割するための機械的手段
や液晶等の電気的手段を設ける必要があったため、光学
系が複雑になるという問題があった。又、特開昭55−
126221号に記載の如く光学系に瞳分割手段が入る
のを避けるためにレンズによって瞳の一部を見る方式に
したものは、像のずれF検出する受光素子が複数個必要
となり、調整が難しくなるという問題があった。又、特
開昭55−130506号に記載の如く像面上に小さい
レンズを配置し且つ一画素ごとに瞳の異なる部分を見る
素子の組合せを設けたものは、それ専用の複雑な受光素
子が必要とな如、信号処理系が複雑になるという問題が
あった。又、以上のものけ物体光を利用する方式である
ため、物体が暗い場合に焦点検出が不可能になるという
問題があった。一方、光を投射する方式のものも提案さ
れているが、これは距離計方式であったため、TTL方
式のものが望ましい一眼レフカメラや顕微鏡には不向き
であった。
本発明は、上記問題点に鑑み、光学系や信号処理系が簡
単となり調整も容易である焦点位置検出装置を提供せん
とするものであって、それは像面と共役な位置を通り異
なる経路を通過して物体面に向う一対の光束を交互に生
成し得る光源と、像面に配置されていて物体面で反射し
た前記一対の光束の像の位置を検出する受光素子と、前
記受光素子からの信号により前記像の位置ずれを検出す
る信号処理回路とから基本的に構成されている。
丑ず、第1図及び第2図により本発明による焦点位置検
出装置の基本原理について説明すれば、第1図は合焦状
態を示しており、発光素子7による点像は微小レンズ5
を経た後撮像レンズlの像面と共役な位置Pを通り、ビ
ームスプリッタ−4を経て撮像レンズ(対物レンズ)1
から光束Aとなって合焦位置にある物体2上に点像Qと
して形成される。点像Qは、物体2が散乱体の場合は撮
像レンズ1の開ロ一杯の光束となって像面に配置された
受光素子3上に点像Q′として結像される。又、物体2
が鏡面の場合は光束Bとなって受光素子3上に点像Q′
として結像される。一方、発光素子8による点像も微小
レンズ6を経た後同様にし−て受光素子3上に点像Q′
として形成される(光束B参照)。従って、合焦状態の
場合は、発光素子7による点像も発光素子8による点像
も受光素子3上では全く同一の点像となることがわかる
一方、第2図は非合焦状態を示しており、発光素子7に
よる点像は微小レンズ5を経た後撮像レンズ1の像面と
共役な位置Pを通シ、ビームスプ、リッター4を経て撮
像レンズ(対物レンズ)1から光束Aとなって合焦位置
にない物体2上にピントのずれた点像QAとして形成さ
れる。尚、合焦位置は2′で示されている。点像QAは
、物体2が昔乱体の場合は撮像レンズ1の開口に等しい
光束となって受光素子3上にピントのずれた点像Qλと
して形成される。又、物体2が鏡面の場合は光束Cとな
って受光素子3上にピントのずれた点像Qスとして形成
される。一方、発光素子8による点像も微小レンズ6f
!:経た後同様に物体2上にピントのずれた点像QBと
して形成された後受光素子3上にピントのずれた点像Q
6として形成される(光”束B。
D参照)。この様に非合焦時の場合は受光素子3上の発
光素子7及び発光素子8の点像Qλ及びQ吊具なった位
置に形成され、又合焦時の場合は同じ位置に形成される
ここで発光素子7及び発光素子8を交互に点滅させると
、合焦時には受光素子3上の点像の位置は変化しないが
、非合焦時には受光素子3上の点像は交互にQ、; 、
 Q6となって位置変化を生じる。従って、合焦を行な
う場合には受光素子3上の点像の移動が生じないように
撮像ンンズl(顕微鏡の場合は物体2)を移動すれば良
い。
又、点像の移動方向及び移動量から前ピン、後ビンの判
定及びデフォーカス量の測定が可能である。特にデフォ
ーカス量が小さい場合には、発光素子7及び発光素子8
による光束のなす角を0゜点像の移動量をδとすれば、
像側のデフォーカスよりめることが出来る。尚、以上は
点像として話を進めたが、必ずしも点像である必要は無
い。
次に、第3図乃至第7図により、第一の実施例として上
記原理を一眼レフカメラに応用した場合について説明す
る。第3図はその光学系を示しており、9は撮像レンズ
、10はクイックリターンミラー中に設けられたビーム
スプリッタ、1】はミラー、12はビームスプリッタ、
13は受光素子、14 、 ]、 5は微小レンズ、1
6.17は発光素子である。以上のように第1図と同様
な光学系がカメラの中に設置されている。この場合、受
光素子13としては、ラテラル・フォト・エフエフ) 
(Lateral Photo Effect )を利
用した半導体装置検出器が用いられている。
第4図は上記第一の実施例の信号処理回路を示している
が、先づ、第5図により受光素子13の詳細な構造につ
いて説明すれば、30は高抵抗Si基板、31はp型抵
抗層、32はn十層、33は共通電極、34.35は電
極であって、表面層はp−n接合により光電効果を発揮
するようになっている。従って、図示の如く光がp型抵
抗層31に入射すると、その入射位置に応じて電極34
.35から各々出力電流IA 、 IBが得られる。こ
こで電極34及び35の間の距離をe、抵抗をUとし、
更に電極34から光の入射位置までの距離をX、その部
分抵抗をRX 、入射光により発生した光電流を10と
すれば、 となり、抵抗層が均一であれば、次式が得られる従って
、電極34.35の出力電流IA 、 IBからIA−
IB 1−2y □ = □ (4) IA十IB l! なる演算を行うことにより、入射エネルギー即ち入射光
量に無関係に光の入射位置即ち距離Xがめられる。尚、
入射光量は、次式 %式%(51 再び第4図において、18.18’は受光素子13の二
つの電極34.35からの出力電流rh 、 IBを増
幅する為の電流増幅器であって、出力はVA 、VBと
なる。19は(VA −VB )を演算する減算器、2
゜は(VA−1−VB )を演算する加算器、21は(
VA−Vll)/ (VA−1−VB ) (式(4)
に相当する)の演算を行なう除算器である。22は除算
器21の出力信号がら直流バイアス成分を除去した後そ
の出力信号に応じてレンズ駆動回路23を制御する制御
回路であって、その回路構成は例えば第6図に示すよう
になっている。即ち、36は整流回路、37は微分回路
、38はコンパレーター、39はゼロレベル検出回路で
あり、除算器21からの交流出力信号は整流回路36に
より直流信号に変換され、微分回路37を介してコンパ
レーター38により正負の判定が行われ、前記信号が減
少しつXあるのか増加しつメあるのかを判別して増加し
つ5ある場合はレンズ駆動の方向を反転させ、該信号が
「ゼロ」になったことをゼロレベル検出回路39が検出
することにより合焦が検出され、レンズ駆動が停止され
るようになっている。尚、24は発光素子16及び17
を交互に点滅させるドライブ回路である。
本発明による焦点検出装置は上述の如く構成されている
から、撮像レンズ9を一定の位置において、捷ず光源1
6.17を交互に発光させると、非合焦状態では例えば
第7図(a)に示した如き一定振幅の信号が除算器21
から出力される。ここで、この信号の振幅は合焦点から
の外れの目安となり、もし振幅−〇であれば合焦状態で
あることを意味している。そこで、撮像レンズ9をわず
かずつ光軸に沿って移動させると、除算器2Iの出力信
号は第7図(b)又は第7図(c)に示した如き信号に
変化する。そして、この信号を整流回路36により整流
して平滑化すれば、第7図(d)又は第7図(e)に示
した如き信号に変化する。従って、これを微分回路37
により微分すれば信号変化の包絡線の傾きが得られる。
そして、この傾きが負であれば合焦点に近づきつ\あシ
、正であれば合焦点から離れつ\あることになる。そこ
で、この正負をコンパレータ38で判定し、正の場合に
は反転信号を。
負の場合には正転信号をレンズ駆動回路23に夫夫加え
れば、撮像レンズ9は合焦点に向って移動せしめられる
。そして、振幅−〇となった時に撮r象レンズ9の移動
を停止すれば合焦状態となる。
かくして、本発明装置による焦点検出が行われるが、本
発明装置は、瞳分割手段を必要としないので光学系が簡
単となり、而も受光素子は簡単な構造のもの一個で済む
ので信号処理系が簡単になると共に調整も容易となる。
そして、光学系も信号処理系も簡単となることから全体
の構成が簡単となり、その結果光学機器や医療機器に無
理なく組み込むことが出来る。又、受光素子として半導
体装置検出器を用いているので、実時間で信号が入力さ
れるようになりその結果合焦速度が向上する。
第8図は上記制御回路22として簡単なマイクロプロセ
ッサを用いた場合のフローチャートを示しており、まず
発光素子16’1ONl、てその時の点像位置Qスを入
力し、次に発光素子17をONしてその時の点像位置鼾
を入力する。次にその差(像のずれ)δ−Q、H−改を
める。δの符号がデフォーカスの方向(前ピン、後ビン
)を示し、δの絶対値がデフォーカス量に対応している
ことになる。次に(1)式の計算を行ない、像のずれδ
をデフォーカス量dに換算し、レンズ9を駆動すること
により合焦を得ることが出来る。この時、デフォーカス
量dが大きい場合は、物体から反射して戻ってくる発光
素子16.17からの光束がレンズ枠等でけられて光量
が少なくなる。そこで、デフォーカス量dが大きい場合
には受光素子13が得る光量(VA+V11 )を検出
して、この値が太きくなる様にレンズ9を駆動せしめて
受光素子13が点像蘇とQ6の位置を検出できるように
すれば合焦むお゛ 速度を速くすることができる。参尭、発光素子16、I
Tは普通のランプ、LED 、レーザー。
半導体レーザー等測を用いても良いが、実用的には赤外
L E D、、赤外半導体レーザーが適している。
又、受光素子13は半導体装置検出器でなくとも、いわ
ゆるCCD型、MOS型等のイメージセンサ−を用いて
も良い。
第9図は第二の実施例として上記原理を落射型の顕微鏡
に応用した場合の基本光学系を示しており、40は図示
しないステージ上に置かれた試料、41は対物レンズ、
42.43はビームスプリッタであって、他の部材で第
一の実施例と同一の部材には同一符号を付してその説明
は省略する。以上のように第1図と同様な光学系が顕微
鏡内に設置されている。
この場合、信号処理系は第一実施例で示した処理系と同
じ作用をするものであれば良いが、金魚信号によって駆
動されるのは対物レンズ41でけなく試料40をのせた
ステージである。また対物レンズ41を含めた系の倍率
をβとすると、ステージの移動量d′は(1)式から よりめることが出来る。尚、顕微鏡対物の場合、色収差
補正が違うタイプのレンズがあるので、赤外光で合焦を
調整した場合の可視光との焦点位置の差が各タイプによ
り一定でない場合が生じる。
との場合発光素子16.17を可視光にすると問題は無
いが、その場合は視野外の軸外光で第1図の光学系が構
成されるようにすると良い。
上述の如く、本発明による焦点検出装置は、光学系や信
号処理系が簡単となり調整も容易であるという実用上重
要な利点を有している。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による焦点位置検出装置の基本原理を説
明するための図、第3図は第一の実施例の光学系を示す
図、第4図は」二記第−の実施例の信号処理回路を示す
図、第5図は上記光学系中の受光素子の構造を示す図、
第6図は上記信号処理回路中の制御回路の構成を示す図
、第7図は上記制御回路による信号処理過程を示す図、
第8図は上記制御回路としてマイクロプロセッサを用い
た場合のフローチャー)k示す図、第9図は第二の実施
例の光学系を示す図である。 9・・・・撮像レンズ、10・・・・ビームスプリッタ
−111・・・・ミラー、12・・・・ビームスプリッ
タ−113・・・・受光素子、14.15・・・・微小
レンズ、16.17・・・・発光素子、18.18’・
・・・電流増幅器、19・・・・減算器、20・・・・
・加算器、21・・・・除算器、22・・・・制御回路
、23・・・・レンズ駆動回路、24・・・・ドライブ
回路。 オI 図 第3図 第4図 第5図 ( θ 第6図 0 9 ( オフ図 手続補正書(方式) 昭和58年12月8日 1、事件の表示 特願昭58−150741号 公昭 号 2、発明の名称 焦点検出装置 3、補正をする者 特許出願人 東京都渋谷区幡ケ谷2の43の2 5、補正命令の日付 昭和58年1129日6、補正の
対象 明細書の図面の簡単な説明の欄。 7、補正の内容 (1)明細書第13頁下から4行目の「第1図は」を「
第1図及び第2図は」と訂正する。 手続補正書(自発) 1.事件の表示 特願昭58−150741号 公昭 号 2、発明の名称 焦点検出装置 3、補正をする者 特許出願人 東京都渋谷区幡ケ谷2の43の2 4、代 理 人 〒105東京都港区新橋5の19 5、補正の対象 明細書の特許請求の範囲の欄及び発明の詳細な説明の欄
。 6、補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙添付の通シ訂正する。 (2)明細書第3頁10〜11行目の「像面と共役な位
置を通り」を削除する。 (3)明細書第10頁9〜11行目の「正の場合には・
・・・加えれば」を「負の場合にはレンズ駆動回路23
がそのit作動するようにし、正の場合には反転信号を
レンズ駆動回路23に加えるようにすれば」と訂正する
。 特許請求の範囲 光学系中の異なる経路を通過する光束を用いて像の位置
ずれを生じさせて焦点位置を検出するようにして成る焦
点位置検出装置において、異なる経路を通過して物体面
に向う一対の光束を交互に生成し得る光源と、像面に配
置されていて物体面で反射した前記一対の光束の像の位
置を検出する受光素子と、前記受光素子からの信号によ
り前記像の位置ずれを検出する信号処理回路とから構成
されていることを特徴とする焦点検出装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光学系中の異なる経路を通過する光束を用いて像の位置
    ずれを生じさせて焦点位置を検出するようにして成る焦
    点位置検出装置において、像面と共役な位置を通り異な
    る経路を通過して物体面に向う一対の光束を交互に生成
    し得る光源と、像面に配置されていて物体面で反射した
    前記一対の光束の像の位置を検出する受光素子と、前記
    受光素子からの信号により前記像の位置ずれを検出する
    信号処理回路とから構成されていることを特徴とする焦
    点検出装置。
JP58150741A 1983-08-18 1983-08-18 焦点検出装置 Pending JPS6042725A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58150741A JPS6042725A (ja) 1983-08-18 1983-08-18 焦点検出装置
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Applications Claiming Priority (1)

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JP58150741A JPS6042725A (ja) 1983-08-18 1983-08-18 焦点検出装置

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ID=15503398

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JP (1) JPS6042725A (ja)
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DE3430569A1 (de) 1985-03-07
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