JPS604127Y2 - 差動型磁気探傷装置 - Google Patents
差動型磁気探傷装置Info
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- JPS604127Y2 JPS604127Y2 JP1975164259U JP16425975U JPS604127Y2 JP S604127 Y2 JPS604127 Y2 JP S604127Y2 JP 1975164259 U JP1975164259 U JP 1975164259U JP 16425975 U JP16425975 U JP 16425975U JP S604127 Y2 JPS604127 Y2 JP S604127Y2
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- magnetic
- tubular body
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Description
【考案の詳細な説明】
本考案は磁気特性を利用して鋼管等管状磁性金属体に存
在する欠陥を探知する差動型の磁気探傷装置に関する。
在する欠陥を探知する差動型の磁気探傷装置に関する。
従来この種の差動型磁気探傷装置は、その探傷子として
、第5図に示す如く、同一の差動増幅器Aに接続され、
互に設定間隔をおいて配列された2個の磁場検出素子M
a、 Mbからなるものを適数個用い、管状磁性金属体
(以下管状体Pという)の送導径路近傍に、例えば円周
方向欠陥の幅寸法を検知する場合は前記磁場検出素子M
a、Mbが管状体Pの矢符で図示する送導方向前後に位
置するように探傷子を設置して使用する構成のものであ
った。
、第5図に示す如く、同一の差動増幅器Aに接続され、
互に設定間隔をおいて配列された2個の磁場検出素子M
a、 Mbからなるものを適数個用い、管状磁性金属体
(以下管状体Pという)の送導径路近傍に、例えば円周
方向欠陥の幅寸法を検知する場合は前記磁場検出素子M
a、Mbが管状体Pの矢符で図示する送導方向前後に位
置するように探傷子を設置して使用する構成のものであ
った。
そして管状体Pの外周面又は内周面に生じる欠陥は、そ
のほとんどが製造工程における特定の機器又は部品の異
常動作に基因するものであるから、例えば円周方向欠陥
についていえばその円周方向への長さ寸法が種々異なる
にせよ、その幅寸法すなわち軸方向寸法はほとんどの円
周方向欠陥について略々同一になることが知られている
ので、従来装置においては探傷子の磁場検出素子Ma、
Mbの配列間隔を管状体Pに存在する円周方向欠陥に
略々共通の幅寸法(以下、標準幅寸法Wという)の17
2に一致するように設定しておくのが通常であった。
のほとんどが製造工程における特定の機器又は部品の異
常動作に基因するものであるから、例えば円周方向欠陥
についていえばその円周方向への長さ寸法が種々異なる
にせよ、その幅寸法すなわち軸方向寸法はほとんどの円
周方向欠陥について略々同一になることが知られている
ので、従来装置においては探傷子の磁場検出素子Ma、
Mbの配列間隔を管状体Pに存在する円周方向欠陥に
略々共通の幅寸法(以下、標準幅寸法Wという)の17
2に一致するように設定しておくのが通常であった。
しかしながら、このような設定間隔で配列された磁場検
出素子Ma、 Mbによって管状体Pの円周方向欠陥を
検知する場合、管状体Pの外周面に存在する円周方向欠
陥(以下単に外周傷F工という)については良好なS/
N比でこれを探知できるが、管状体Pの内周面に存在す
る円周方向欠陥(以下単に内周傷F2という)の探知に
ついてはS/N比が悪いという欠点があつた。
出素子Ma、 Mbによって管状体Pの円周方向欠陥を
検知する場合、管状体Pの外周面に存在する円周方向欠
陥(以下単に外周傷F工という)については良好なS/
N比でこれを探知できるが、管状体Pの内周面に存在す
る円周方向欠陥(以下単に内周傷F2という)の探知に
ついてはS/N比が悪いという欠点があつた。
本考案は、従来の差動型磁気探傷装置にみられた上記の
如き欠点を除去し、管状体の欠陥が内外周面のいずれに
存在する場合においても常に良好なS/N比でこれを探
知しうる新規な差動型磁気探傷装置の提供を目的とする
。
如き欠点を除去し、管状体の欠陥が内外周面のいずれに
存在する場合においても常に良好なS/N比でこれを探
知しうる新規な差動型磁気探傷装置の提供を目的とする
。
本考案者は、差動型磁気探傷装置におけるSlN比を改
善するために、従来看過されていた探傷子内の磁場検出
素子配列間隔の検討を行っていたがその結果法のような
知見を得た。
善するために、従来看過されていた探傷子内の磁場検出
素子配列間隔の検討を行っていたがその結果法のような
知見を得た。
すなわち、磁場発生コイル(図示省略)等を用いて管状
体Pに磁場を与えた場合において、管状体Pの内外周に
存在する欠陥に基因して管状体Pの外周面から漏洩する
磁束の広がりすなわち欠陥幅方向への分布範囲は、第5
図に破線で示す如く、該欠陥が外周傷F1であるときは
その欠陥幅寸法すなわち前記標準幅寸法Wに略々一致す
るおに対し、該欠陥が内周傷F2であるときはその欠陥
幅寸法の2倍乃至用倍すなわち2W〜IOWに拡大し、
その拡大の度合は管状体Pの肉厚に関係することが判明
した。
体Pに磁場を与えた場合において、管状体Pの内外周に
存在する欠陥に基因して管状体Pの外周面から漏洩する
磁束の広がりすなわち欠陥幅方向への分布範囲は、第5
図に破線で示す如く、該欠陥が外周傷F1であるときは
その欠陥幅寸法すなわち前記標準幅寸法Wに略々一致す
るおに対し、該欠陥が内周傷F2であるときはその欠陥
幅寸法の2倍乃至用倍すなわち2W〜IOWに拡大し、
その拡大の度合は管状体Pの肉厚に関係することが判明
した。
この知見によれば従来の如く2個の磁場検出素子を前記
設定間隔1/2Wで配列した探傷子を用いるだけでは内
周傷探知の場合におけるS/N比が悪くなるのは自明の
理である。
設定間隔1/2Wで配列した探傷子を用いるだけでは内
周傷探知の場合におけるS/N比が悪くなるのは自明の
理である。
そきて本考案者は、従来の設定間隔より2倍乃至川倍広
い間隔で2個の磁場検出素子を配列した探傷子を新設し
、この新らたな探傷子によって管状体の内周傷を、また
従来の探傷子によって管状体の外周傷をそれぞれ探知さ
せることによって管状体の磁気探傷におけるS/N比を
改善する本考案を完成した、本考案をその実施例を示す
図面に基いて説明すると以下のとおりである。
い間隔で2個の磁場検出素子を配列した探傷子を新設し
、この新らたな探傷子によって管状体の内周傷を、また
従来の探傷子によって管状体の外周傷をそれぞれ探知さ
せることによって管状体の磁気探傷におけるS/N比を
改善する本考案を完成した、本考案をその実施例を示す
図面に基いて説明すると以下のとおりである。
すなわち、本考案に係る差動型磁気探傷装置(以下、本
案装置という)は、第1図に示す如く、管状体Pの送導
径路に対設した1対の磁場発生環状コイルC9C等の管
状体磁化手段と前記送導径路近傍に設けられ、略々1/
2Wの設定間隔で配列した2個の磁場検出素子Ma、
Mbを装着した規定間隔探傷子Mと磁場検出素子Ma、
Mbに差動接続した差動増幅器A等からなる従来公知
の差動型磁気探傷装置の前記規定間隔探傷子Mに近接し
て、前記設定間隔の2倍乃至用倍の間隔で磁場検出素子
Ma、Mbの配列方向と同一方向に配列した2個の磁場
検出素子Na、 Nbを装着した広幅間隔探傷子Nを設
は該磁場検出素子Na、 Nbは差動増幅器Bに差動接
続し、差動増幅器A、 Bの出力は一括して又は別個に
適宜の信号処理回路Qを介してオッシログラフ等の信号
表示器Rに接続したものである。
案装置という)は、第1図に示す如く、管状体Pの送導
径路に対設した1対の磁場発生環状コイルC9C等の管
状体磁化手段と前記送導径路近傍に設けられ、略々1/
2Wの設定間隔で配列した2個の磁場検出素子Ma、
Mbを装着した規定間隔探傷子Mと磁場検出素子Ma、
Mbに差動接続した差動増幅器A等からなる従来公知
の差動型磁気探傷装置の前記規定間隔探傷子Mに近接し
て、前記設定間隔の2倍乃至用倍の間隔で磁場検出素子
Ma、Mbの配列方向と同一方向に配列した2個の磁場
検出素子Na、 Nbを装着した広幅間隔探傷子Nを設
は該磁場検出素子Na、 Nbは差動増幅器Bに差動接
続し、差動増幅器A、 Bの出力は一括して又は別個に
適宜の信号処理回路Qを介してオッシログラフ等の信号
表示器Rに接続したものである。
上記の如く構成した本案装置を用いて管状体Pの円周方
向傷を磁気探傷する場合は、第1図に矢符で示す方向へ
管状体Pを送導する。
向傷を磁気探傷する場合は、第1図に矢符で示す方向へ
管状体Pを送導する。
標準幅寸法Wの外周傷F1が規定間隔探傷子Mの直下を
通過するとき、該外周傷F1に基因する漏洩磁束は先ず
磁場検出素子Maに検知され次いで磁場検出素子Mbに
検知される。
通過するとき、該外周傷F1に基因する漏洩磁束は先ず
磁場検出素子Maに検知され次いで磁場検出素子Mbに
検知される。
磁場検出素子Ma、Mbの配列間隔は略々1/2Wに設
定されているのでこれらの磁場検出素子が漏洩磁束を検
知して発する正弦波状の磁場信号m9m′は第2図A、
Bに示す如く凡そ180°の位相差を示す。
定されているのでこれらの磁場検出素子が漏洩磁束を検
知して発する正弦波状の磁場信号m9m′は第2図A、
Bに示す如く凡そ180°の位相差を示す。
従ってこのとき差動増幅器Aの出力する差分信号Xは第
2図Cに示す如く振幅が磁場信号m9m′の2倍近い十
分大きな信号になる。
2図Cに示す如く振幅が磁場信号m9m′の2倍近い十
分大きな信号になる。
これに反し標準幅寸法Wの内周傷F2が規定間隔探傷子
Mの直下を通過するときは、前述の如く該内周傷F2に
基因する漏洩磁束の分布範囲が2W乃至10Wにまで及
んでいるため、例えば分布範囲2Wの場合を例にとって
説明すると磁場検出素子Ma、 Mbが該漏洩磁束を検
知して発する正弦波状の磁場信号m9m′は第3図A、
Bに示す如くその位相差が90°程度になる。
Mの直下を通過するときは、前述の如く該内周傷F2に
基因する漏洩磁束の分布範囲が2W乃至10Wにまで及
んでいるため、例えば分布範囲2Wの場合を例にとって
説明すると磁場検出素子Ma、 Mbが該漏洩磁束を検
知して発する正弦波状の磁場信号m9m′は第3図A、
Bに示す如くその位相差が90°程度になる。
従ってこのとき差動増幅器Aは、差分信号Xとして、第
3図Cに示す如くその振幅が磁場信号m。
3図Cに示す如くその振幅が磁場信号m。
m′の振幅に比してほとんど差のない信号を出力するに
過ぎない。
過ぎない。
これがすなわち、従来装置において管状体の内周傷を探
知する際のS/N比が悪いとされていた理由に他ならな
い。
知する際のS/N比が悪いとされていた理由に他ならな
い。
しかしながら本案装置においては広幅間隔探傷子Nが併
設されており広幅間隔探傷子Nを構成する磁場検出素子
Na、 Nbは内周傷F2に基因する漏洩磁束の分布範
囲に対応する間隔、すなわち分布範囲が2Wの場合には
2Wxl/2=Wの間隔で配列されているため、内周傷
F2が広幅間隔探傷子Nの直下を通過する際に磁場検出
素子Na、 Nbが発する正弦波状の磁場信号n、n′
は第4図A、 Bに示す如く凡そ1800の位相差を示
すので、このとき差動増幅器Bの出力する差分信号yは
第4図Cに示す如く振幅が磁場信号n、n′の2倍近い
十分大きな信号になる。
設されており広幅間隔探傷子Nを構成する磁場検出素子
Na、 Nbは内周傷F2に基因する漏洩磁束の分布範
囲に対応する間隔、すなわち分布範囲が2Wの場合には
2Wxl/2=Wの間隔で配列されているため、内周傷
F2が広幅間隔探傷子Nの直下を通過する際に磁場検出
素子Na、 Nbが発する正弦波状の磁場信号n、n′
は第4図A、 Bに示す如く凡そ1800の位相差を示
すので、このとき差動増幅器Bの出力する差分信号yは
第4図Cに示す如く振幅が磁場信号n、n′の2倍近い
十分大きな信号になる。
従って差動増幅器A、 Bの出力する差分信号x、yを
信号処理回路Qにおいて所定レベル以上の入力信号に対
してのみ出力信号を発するように処理するなど適宜処理
した後、信号表示器Rに表示すれば、表示された信号か
ら管状体Pに存在するすべての欠陥を良好なS/N比で
探知することができる。
信号処理回路Qにおいて所定レベル以上の入力信号に対
してのみ出力信号を発するように処理するなど適宜処理
した後、信号表示器Rに表示すれば、表示された信号か
ら管状体Pに存在するすべての欠陥を良好なS/N比で
探知することができる。
本案装置はまた管状体Pの軸方向傷を磁気探傷するため
にも用いることが可能である。
にも用いることが可能である。
この目的に使用する場合は、従来から規定間隔探傷子M
を、これを構成する磁場検出素子の配列方向が管状体P
の外周に沿った円周方向となるように、設置するわけで
あるから広幅間隔探傷子Nもまたこれを構成する2個の
磁場検出素子が前記円周方向に一致するように設置して
管状体Pを軸心回転させながらその探傷を行う。
を、これを構成する磁場検出素子の配列方向が管状体P
の外周に沿った円周方向となるように、設置するわけで
あるから広幅間隔探傷子Nもまたこれを構成する2個の
磁場検出素子が前記円周方向に一致するように設置して
管状体Pを軸心回転させながらその探傷を行う。
この場合管状体Pの外周面に存在する軸方向傷のみなら
ず内周面に存在する軸方向傷をも良好なS/N比で探知
しうろことは前同様である。
ず内周面に存在する軸方向傷をも良好なS/N比で探知
しうろことは前同様である。
また本案装置の実際の使用にあたっては、規定間隔探傷
子Mと広幅間隔探傷子Nを各2個以上設置して探傷密度
の向上を図り得ることは勿論である。
子Mと広幅間隔探傷子Nを各2個以上設置して探傷密度
の向上を図り得ることは勿論である。
要するに、本案装置は従来装置に用いられていた規定間
隔探傷子Mの外にこれとは磁場検出素子の配列間隔が2
乃至W倍の広幅間隔探傷子Nを併設し、管状体の外周面
に存在する欠陥と内周面に存在する欠陥とを、配列間隔
の異なる二種類の探傷子によって別々に検出させるもの
であるから、管状体の内外周面いずれに存在する欠陥を
も良好なS/N比で探知することが可能になり、鋼管等
管状性金属体の品質管理面に寄与するところ大である。
隔探傷子Mの外にこれとは磁場検出素子の配列間隔が2
乃至W倍の広幅間隔探傷子Nを併設し、管状体の外周面
に存在する欠陥と内周面に存在する欠陥とを、配列間隔
の異なる二種類の探傷子によって別々に検出させるもの
であるから、管状体の内外周面いずれに存在する欠陥を
も良好なS/N比で探知することが可能になり、鋼管等
管状性金属体の品質管理面に寄与するところ大である。
なお、上記実施例においては信号処理回路Q及び信号表
示器Rを共用するものとしたが、差動増幅器A、 Bの
それぞれに独立の信号処理回路、信号表示器を設けるこ
とも可能である。
示器Rを共用するものとしたが、差動増幅器A、 Bの
それぞれに独立の信号処理回路、信号表示器を設けるこ
とも可能である。
また、規定間隔探傷子Mと広幅間隔探傷子Nに代えてこ
れらを構成していた磁場検出素子Ma、 Mb及びNa
。
れらを構成していた磁場検出素子Ma、 Mb及びNa
。
Nbの4個をこの順序に配列装着してなる単一の探傷子
を用いることも勿論可能である。
を用いることも勿論可能である。
図面は本考案の実施例を示すものであって、第1図は管
状体の側断面図と共に示す本案装置のブロック線図、第
2図乃至第4図の各A、 B、 Cは本案装置の磁場信
号及び差分信号の波形図、第5図は管状体の側断面図と
共に従来公知の差動型磁気探傷装置のブロック線図であ
る。 P・・・・・・管状体、F□・・・・・・外周欠陥、F
2・・・・・・内周欠陥、M・・・・・・規定間隔探傷
子、N・・・・・・広幅間隔探傷子、Ma、 Mb、
Na、 Nb・・・・・・磁場検出素子、A、 B・・
・・・・差動増幅器、Q・・・・・・信号処理回路、R
・・・・・・信号表示器、C・・・・・・磁場発生コイ
ル。
状体の側断面図と共に示す本案装置のブロック線図、第
2図乃至第4図の各A、 B、 Cは本案装置の磁場信
号及び差分信号の波形図、第5図は管状体の側断面図と
共に従来公知の差動型磁気探傷装置のブロック線図であ
る。 P・・・・・・管状体、F□・・・・・・外周欠陥、F
2・・・・・・内周欠陥、M・・・・・・規定間隔探傷
子、N・・・・・・広幅間隔探傷子、Ma、 Mb、
Na、 Nb・・・・・・磁場検出素子、A、 B・・
・・・・差動増幅器、Q・・・・・・信号処理回路、R
・・・・・・信号表示器、C・・・・・・磁場発生コイ
ル。
Claims (1)
- 同一の差動増幅器Aに差動接続され、鋼管等管状磁性金
属体の傷に基因する漏洩磁束を検出する2個の磁場検出
素子相互が所定間隔で配列されてなる規定間隔探傷子と
、前記とは別の差動増幅器Bに差動接続され、前記磁性
金属体の傷に基因する漏洩磁束を検出する前記とは別の
2個の磁場検出素子相互が前記所間隔の2乃至用倍間隔
で配列されてなる広幅間隔探傷子とを有し、前記規定間
隔探傷子と広幅間隔探傷子とが近接して前記磁性金属体
の送導径路近傍に適数個併設され、前記差動増幅器A、
Bの出力を適宜の信号処理回路を介して表示するよう
にしたことを特徴とする差動型磁気探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1975164259U JPS604127Y2 (ja) | 1975-12-05 | 1975-12-05 | 差動型磁気探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1975164259U JPS604127Y2 (ja) | 1975-12-05 | 1975-12-05 | 差動型磁気探傷装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5276392U JPS5276392U (ja) | 1977-06-07 |
JPS604127Y2 true JPS604127Y2 (ja) | 1985-02-05 |
Family
ID=28643053
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1975164259U Expired JPS604127Y2 (ja) | 1975-12-05 | 1975-12-05 | 差動型磁気探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS604127Y2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4829883B2 (ja) * | 2004-07-16 | 2011-12-07 | ファウ・ウント・エム・ドイチュラント・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 管を非破壊検査するための方法及び装置 |
JP2015179028A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-10-08 | 大阪瓦斯株式会社 | 欠陥深さ推定方法、及び欠陥深さ推定装置 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS582649A (ja) * | 1981-06-26 | 1983-01-08 | Sanyo Tokushu Seikou Kk | 磁気探傷装置 |
JP2014202483A (ja) * | 2013-04-01 | 2014-10-27 | 大阪瓦斯株式会社 | 検査装置及び検査方法 |
JP6452880B1 (ja) * | 2018-06-13 | 2019-01-16 | 東亜非破壊検査株式会社 | 管状体のきず又は欠陥の検査方法及び装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5256989A (en) * | 1975-11-05 | 1977-05-10 | Kobe Steel Ltd | Detector for detecting flaw by eddy current |
-
1975
- 1975-12-05 JP JP1975164259U patent/JPS604127Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5256989A (en) * | 1975-11-05 | 1977-05-10 | Kobe Steel Ltd | Detector for detecting flaw by eddy current |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4829883B2 (ja) * | 2004-07-16 | 2011-12-07 | ファウ・ウント・エム・ドイチュラント・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 管を非破壊検査するための方法及び装置 |
JP2015179028A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-10-08 | 大阪瓦斯株式会社 | 欠陥深さ推定方法、及び欠陥深さ推定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5276392U (ja) | 1977-06-07 |
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