JPS6040596A - 電子装置 - Google Patents

電子装置

Info

Publication number
JPS6040596A
JPS6040596A JP59145286A JP14528684A JPS6040596A JP S6040596 A JPS6040596 A JP S6040596A JP 59145286 A JP59145286 A JP 59145286A JP 14528684 A JP14528684 A JP 14528684A JP S6040596 A JPS6040596 A JP S6040596A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory array
data
groups
gate
conductive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59145286A
Other languages
English (en)
Inventor
ピーター・シー・テイ・ロバーツ
トー・テイ・ブ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Honeywell Inc
Original Assignee
Honeywell Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Honeywell Inc filed Critical Honeywell Inc
Publication of JPS6040596A publication Critical patent/JPS6040596A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/06Address interface arrangements, e.g. address buffers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/02Disposition of storage elements, e.g. in the form of a matrix array
    • G11C5/025Geometric lay-out considerations of storage- and peripheral-blocks in a semiconductor storage device
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/12Bit line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, equalising circuits, for bit lines
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/10Decoders

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、アドレス舎デコーダがデータ・フィルドの中
央に置かれるような半導体メモリに関するものであり、
とくに、ショットキー・ダイオード寺メモリアレイとと
もに、語線ドライバとして集積化したショットキー・ロ
ジック(ISL)tiは金属−半導体電界効果トランジ
スタ(MESFI灯)グー1cm利用する読出し専用メ
モ’J (ROM)に関するものである。
〔従来技術〕
半導体メモリは記録密度を高くし、消費電力全最小にし
、読出し動作と畜込み動作の速度金高くし、完全に機能
するように容易に処理されるメモリチップを得ることを
めている。ダイオードのデータフィールドは通常は高い
歩留v全示し、かつ記録密度が比較的高いから、ダイオ
ードのデータフィールドは有利である。このことは、シ
ョットキー・ダイオードの処理の歩留、!7が高いため
に、ショットキー・ダイオードプレイの場合にとくにそ
うである。読出し専用記憶装置すなわち再生専用記憶装
置(RO3)マトリックス、およびショットキー・ダイ
オードがメモリアレイ全形成するトランジスタ・スイッ
チング回路の例が米国特許第4347585号と第42
76617号に開示されている。
米国特許第4347585号 においては、それぞれ何
個かのトランジスタを含む複合TTL語線ゲート(ゲー
)19Aのような)と、複雑なセンス増幅器(増幅器8
6Aのような)が用いられる。
そのためには、ゲートのために比較的大きなチップ面積
全使用すること全必要とする。米国特許第427661
7号においては、2種類のショットキー・ダイオード・
バリヤ(すなわち、ダイオード31−nn 、 70−
7nのような高バリヤダイオードと9O−9nのような
低バリヤダイオード)が回路中に含まれる。2種類のシ
ョットキー・ダイオード全使用すると、1種類のショッ
トキー・ダイオード金層いる場合よりも処理が複雑とな
る。
また、それら、2つの米国特許においては、回路アドレ
ス・デコーダ(第4276617号においては回路11
0,120を、第4347585号においては回路19
A、40A’を見よ)をデータフィールド・メモリアレ
イの周辺に置く。列ドライバまたは行ドライバのいずれ
か一方または両方からのフイールドの端に配置されてい
るデータビットに対しては、離れている場所におけるデ
ータに作用を及ぼすために、対応するビット線と語線の
少くとも一方に沿って最高の電圧降下を必要とする。そ
れら2つの米国特許に示されでいる構成に対して、与え
られたメモリの寸法に対する離れた場所におけるデータ
に作用を及l″Jf、丁ために必要な電圧降下を小さく
することが好ましい。電圧降下を小さくするとノイズマ
ージンが小さくなり、したがって設計の余裕が小さくな
り、!!たけ、それらの米国特許に開示されているよう
な構成よりも多くのデータビットを、与えられたノイズ
マージンに対して、回路内に設計できるようにする。
〔発明の概要〕
本発明は、内部の場所にデータを格納できる第1と第2
のメモリアレイと、第】のメモリアレイと第2のメモリ
アレイの間に位置させられ、前記場所に対応するアドレ
ス信号入力を復号するためのアドレスOデコーダと全備
える電子装置を提供するものである。アドレスOデコー
ダは1群のISL ゲートまたはMESFET Ml理
ゲートとして構成すると有利である。ISL構成に用い
られる場合に、ISLゲートで用いられるショットキー
・ダイオードと同じショットキー會ダイオードをメモリ
アレイに用いるショットキー・ダイオードのメモリアレ
イ全形成することも有利である。更に別の実施例では各
ビット線のためのプレチャージされる回路金膜ける。
〔実施例〕
以下、図面全参照して本発明の詳細な説明する。
装[10(第1図)は電気信号として入力されたデータ
または格納されているデータ全処理するための、半導体
メモリ装置のような、装置でろる。
本発明は読出し専用メモIJ (ROM)としてとくに
用いられる装置についてのものである。そのようなRO
Mのアーキテクチャの例が第1図に示されている。
装置10は、中央部にアドレス復号器12を含む。この
アドレス復号器12は、たとえば、1群の語線ドライバ
14と、それらの語線ドライバの横に配置さ扛る第1の
ダイオードアレイ16と第2のダイオードプレイ18と
で構成される。WJlのメモリアレイ20がアドレス復
号器12の左側に配置され、第2のメモリアレイ22が
アドレス復号器12の右側に配置される。アレイ20に
近接して電流源24が設けられ、アレイ22に近接して
電流源26が設けられる。
アドレス情報28會アドレス復号器12に入力させるた
めの手段が装置10に含まれる。アドレス入力手段28
は、第1のアドレス復号ドライバ群30と、第2のアド
レス復号ドライバ群32と、電子信号34をアドレス復
号ドライバ30.32に入力するための手段34を含む
装置10からデータを出力するための手段は、左アレイ
出力器38と右アレイ出力器40全含む。
各アレイ出力器38.40は、メモリアレイ20.22
とそれぞれ作動的に組合わされる1、左メモリアレイ選
択器42と右メモリアレイ選択器44全更に含むことが
できる。川内線の数ケ減少するために、装置10からの
データのと9出し全可能にするための手段48とともに
、「ワイヤド」論理出力を与えるための手段46を出力
器36になるべく含ませる。
装置10に用いると有利でるる部品を一層詳しく示す装
置10の全体の回路図全第2図に示す。
この回路図においてナントゲート50.52は2つの語
線ドライバ群14の例である。語線ドライバ50.52
への入力は、それぞれWL54.56に沿って行われる
。語線ドライバ50.52からの出力は、WL58.6
0に沿ってそ扛ぞれ行わする。図示を明確にするためだ
けに、WLは先を切りつめて示してるる。
第2図は説明のためにダイオードプレイ16゜1B、2
0.22の一部だけを示すが、典型的なそのようなダイ
オード・アレイははるかに大きいものであることを理解
すべきである。ダイオードアレイ18は入力線66.6
8Tr含む。第2図における記号Xはダイオード(なる
べくショットキー・ダイオード)の存在全厚す。第2図
においてダイオードアレイ16は2個のダイオード70
゜72 ”f含み、ダイオードアレイ18はダイオード
74.76に含む。左メモリアレイ20は、ビット線7
8.80とダイオード82,84,86゜88ft含み
、右メモリアレイ22は、ビット線90.92とダイオ
ード94,96 .98,100を含む。
第2図においては、電流源24は線102 により電源
電圧Vccに接続さnl ビット線78.80にそれぞ
れ接続される個々の電流源104,106を含む。電流
源26は線108によ!llt#、を圧Vccに同様に
接続さn1個々の電流源110 。
112をビット線90.92にそtそれ接続する。
アドレス拳ドライバ30.32は復号ドライバ114.
116,118,120 を含む。 各復号ドライバは
インバータとして構成すると有利である。各復号ドライ
バ30.32においては、一方のインバータの出力端子
が他方のインバータの入力端子となって、入力端子の数
ケ減少するように(たとえば入力端子122,124 
を見よう、それらのインバータは対として組合わせると
有利である。この対としての組合わせは、線126 と
 128により行われる。インバー1114.116,
118,120の出力端子は線62,64.66.68
にそれぞれ接続さnる。
メモリアレイ出力回路38.40は、インバータ130
と 132,134 と136をそれぞれ含む。インバ
ータ130,132,134.136の入力端子位、ヒ
ツト線78.8G、90.92にそれぞれ接続される。
メモリアレイ出力回路311,401!、インバータ1
30と 132,134 と 136全それぞれ含む。
インバータ130,132,134,136の入力端子
は、ヒツト97B、80,90.92にそt−Lぞれ接
続される。インバータ130,134の出力端子は「ワ
イヤドーオア」である、すなわち、いずれか一方へ論理
工入力が与えられると共通出力線138に論理l出力が
生ずるように、インバータ130,134 の出力は電
気的に接続される。同様に、インバータ132,136
 は「ワイヤドーオア」されて、共通出力線140 に
出力を生ずる。
11− 選択器41t、たとえばダイオード142,144を含
む。それらのダイオード142 、144は、乳146
に作動的に組合わされて、左メモリ20を選択できるよ
うにする。選択器44は、たとえばダイオード148,
150 を含む。そ扛らのダイオードは、WL146 
に作動的に組合わされて、右メモリアレイ22全選択で
きるようにする。ナントゲート152 と、WL154
 と、ダイオード156.157 とがアドレス・デコ
ーダ12に含まれ、かつ左メモリアレイ20と右メモリ
アレイ22の間で、適切な入力信号を(選択器42.4
4とともに選択できるようにするために用いられる。
出力可能化(イネーブル)手段48は、ダイオード15
8,160 とインバータ162゛を含む。出力端子1
64,166 がインバータ168,170全それぞれ
介して共通出力線138,140 にそれぞれ接続され
る。
第1図に示す装置(および第2図の一部)の一層詳しい
回路図を第3図に示す。第3図に示す回路図は、いくつ
かの点が第2図に示す回路図と異=12− なる。その違いについては後で説明する。第2図と第3
図において、機能的に対応する部分には同じ参照番号を
つけてめる。第3図に示す種々のダイオードは、なるべ
くショットキ−9ダイオードとする。メモリアレイ選択
器42.44とにおいては、ビット線とWL線の全ての
交点にダイオードが存在する。しかし、メモリアレイ2
0または22内の特定の交差点に論理Oを生じさせるこ
と全希望した時だけ、または、他の場合には出力回路3
8または40へ送られるデータを左出力選択器42また
は右出力選択器44によジ希望により阻止させる時だけ
、ビット線とWL線の間の特定の交点にダイオードが接
続される。
第3図に示されている種々のインバータと種々のナント
ゲート線、なるべく集積化されたショットキー論理(l
5L)ゲートとする。ISLは、非常に高密度の組合わ
されたトランジスタロジック(MTL)である。このM
TLは、極めて僅かに飽和するだけであるから、比較的
高速でるる。第4図は、基本的なISL回路172 の
回路図でおる。
ISL回路172 の機能は良く知られており、IEE
E固体回路ジャーナル(IEEE Journal o
fSolid 5tates C1rcuits ) 
、 Vol、 SC−14,43,1979年6月、所
載のローストロー(J、 Lohstroh )のr 
ISL 、標準ショットキー・プロセスで作った高速、
高密度、低電力ロジック(ISL 、 a Fast 
and Dense LowerLogic Made
 ln a 5tandard 5chottk7Pr
ocess ) Jという論文に詳しく述べられている
ISL回路172 は、1つの入力端子174と、電流
源176 と、n−p−n)ランジスタ178と、p−
n−p)ランジスタ180 とを含む。トランジスタ1
78のベースハ、トランジスタ180のエミッタに接続
される。トランジスタ178のコレクタと ISL回路
172 の出力端子184との間に、ショットキー−ダ
イオード182が、直列に接続される。ISL回路17
2の基本的な機能はナンドであるから、ただ1つの入力
が与えられる場合には、インバータとしても機能する。
電流源176 は、典壓的には、電圧源とトランジスタ
178のベースの間に直列接続される直線抵抗器(第3
図の抵抗器188,190,192,194を参照され
たい)である。
次に、装置10の動作を、まず第1図を参照して、次に
第3図全参照して説明する。まず、第1図を参照して、
電気信号の形のデータが、メモリアレイ20.22に格
納される。データの語アドレス全アドレス入力器34に
入力することにより、データがと9出される。アドレス
入力器34は、入力アドレスをアドレス復号ドライバ3
0.32を介してアドレス・デコーダ16.18へ送ル
語線ドライバ14とともに、アドレス・デコーダ16.
18は、アドレス入力の場所に格納されているデータ全
選択する。選択器42.44が含まれていると、語アド
レス入力は、メモリアレイ20だけを、または、メモリ
アレイ22だけ全選択するための、選択ピラトラ含む。
出力可能器48が無いと、語アドレスがひとたび入力さ
れると、出力器36は、アドレス語の内容を出力回路3
8゜40を通じて、それによりワイヤドーオア出力回路
46を通じて、出力する。メモリ選択器42゜44が含
捷れるものとすると、データは、左アレイ出力回路38
または右アレイ出力回路40のみを通じて出力される。
出力可能器により、別の可能化信号全出力回路に供給し
て、どのようなデータも出力できるようにしなければな
らない。
次に第3図を参照する。語アドレスデータが、入力端子
(A5のための端子196だけが示されている)へ与え
られる。ドライバ114,116 のようなアドレス・
ドライバが、各入力信号及び、その相補信号全線62.
64のようなアドレス復号線へ導く。アドレス・デコー
ダ16.18は、アドレス復号線とWL線の交点に設け
らnているダイオードを使用することにより、選択され
たアドレス復号線からの論理l!f、たは0の入力を語
線ドライバ14と、それのナントゲートへ与える。
たとえば、アドレス復号線62(入力信号A5が与えら
れている)とWL線54の間にショットキー拳ダイオー
ド198が接続される。入力端子196 に低電圧信号
(論理O)が与えられると、ダイオード198は順バイ
アスされて、電流全電源Vccから抵抗器200と、ダ
イオード198と、インバータ116 とを通ってアー
スまで流させる。
その几めにn−p−n)ランジスタ202のベースに与
えられる電圧が低くなり、入力Asからナントゲート5
00Åカーベースへ低い電圧(論理0)を与える。高電
圧が入力端子へ与えられると、論理lがナントゲート5
0のベースへ入力されたことになる。ナントゲート50
UA@およびAllとして示されている他の2ろの入力
を含む。したがって、ナントゲート50は、この例では
論理機能(As AND As AND An ) 全
行う。
ゲート50への入力のいずれ〃為が論理O″′cめると
、ゲート50のトランジスタ202が非導通状態にされ
て、ゲート50の出力点204を論理1にする。ゲート
50への全ての入力が論理1でるる(すなわち、A5 
=1 、As =l 、Ao:l )ときだけダイオー
ド197,198,199は逆バイアスされ、シタがっ
て高レベルの入力全トランジー18= スタ202 のベースに与えてそのトランジスタを導通
状態にし、WL線58上の正電圧を接地するトランジス
タ202を通る導電路を形成する。そのためにゲート5
0の出力が低レベルにされ、WL線58上の電圧が低く
(論理0)にされる。語線に低レベルのパルスが与えら
れると、メモリアレイ20または22内で語線とビット
線の交点において語線に接続されているダイオードが順
バイアスされて、電1Vccからの電流全ビット線と、
その飴純に組合わされているISLドライバ・ゲートヲ
経てアースへ流す。たとえばゲート50が開かれたとす
ると、回路点204は低レベルとなって左メモリアレイ
中のダイオード811@バイアスし、それによ!ll電
源Vccからの電流全線102 と、抵抗器188 と
、ダイオード82と、語線58と、トランジスタ202
 とを通ってアースへ流す。そうすると、ビット線T8
のショットキー・ダイオード82のアノードに接続され
ている点205の電位が高レベル値から低レベル値へ低
下する。したがって、ビット語線の交点の間におけるシ
ョットキー・ダイオードの接続は、その交点における0
の格納として定義される。その理由は、ある語線をアド
レスすると、アドレスされた語線に交差し、かつその交
点にダイオードが接続されているようなビット線に低レ
ベルの電圧が現われていることになるからでるる。
第3図において、左ROM 20のビット線8゜と語線
58の交点にダイオード84が存在するが、そのダイオ
ード84はビット線80と語線58の交点には接続され
ないことに注意されたい。したがって、トランジスタ2
2が導通状態になった時に語線58が低レベルになると
、ビット線8oは高レベル状態を保つ。したがって、そ
のような交点は論理1と定められる。
出力ゲート(すなわち、インバータ130,132.2
06,207)は、メモリアレイと他の回路との間のバ
ッファとして機能し、願方向電流モードトランジスタの
正常’&電流増幅を行わせ、かつ反転機能を行う。アド
レス復号ゲートへ適切なアドレス信号ケガえたためにビ
ット線に現われたデータは、出力回路を軽て直接に出力
できるが、出力ゲート(ゲート134,136のような
)とともに共通出力線“金層いると便利である。これに
より左と右のメモリアレイが種々の「ワイヤド論理」機
能において出力線を共用できる。最後に、出力信号がイ
ンバータ208,210 ’1il−通って出力端子D
O−・・Dn へ送らする。
第1図、第2囚に出力可能器48が示されている。この
出力可能器48は、入力端子212と、インバータゲー
ト162 と、ダイオード158゜160 とで簡単に
構成できる。各ダイオードは、共通出力線(fcとえは
線138,140 ) と、出力インバータゲート(た
とえばゲー1−160,170)との間に接続される。
ダイオード158,160 は順バイアスさtて、それ
に接続さtしているビット線と導電線213に沿って電
流全分路し、全てのビット線に沿って一様な出力を与え
る。可能化信号が入力端子212に与えられると、ダイ
オード158 、160 は逆バイアスされて、どのよ
うな電圧信号でもそのビット線に存在する電圧信号をイ
ンバータ168,170 を経て出力端子164,16
6へ送ることができるようにする。
第2図は、選択器42.44の一部も含む。ナントゲー
ト152fl、第2図のナントゲート50゜52の機能
と同じ機能を寮行する。ナントゲート152 と語線1
46に関連するダイオード(すなわち、ダイオード14
2,144,148,150)は、共通出力線138ま
たは140に沿って、左または右のメモリアレイと、そ
の中のデータのみ全選択するようにされる。
メモリアレイ選択まfCはバイト選択に関連する構造が
拡張されて、第3図に詳しく示されている。
その構造においては、左ROM 20または右ROM2
2のいずれかに含まれるメモリのみ全選択するために、
2本の語線146,214 ’e使用できる。
ゲート152へ適切な信号を入力することにより語線1
46 t−一時的に高レベルまたは低レベルにできる。
ゲート216へ与えられる入力信号に応じて語線214
全一時的に高レベルまたは低レベルにできる。ナントゲ
ート152へはアドレス復号線A。とダイオード218
を介して入力を与えることができ、ナントゲート216
へはアドレス復号線A。とダイオード219を介して入
力を与えることができる。語線146を一時的に低レベ
ルにすることによplその語線に関連するダイオード(
−jなわち、ダイオード220,222,224゜22
6)が、その語線に沿う情報のどのバイl潜在的に出力
できるか全決定する。
たとえば、左メモリアレイ20のダイオード220.2
22 は、それぞれのビット線78.80の語線146
 との交点には接続されないから、グー)152 から
の出力はビット組子8.BO上のデータに作用しない。
しかし、語線146の論理状態は、ダイオード224 
と226を逆バイアスま友は正バイアスすることにより
、それぞれ対応するビット線90.92上のデータに直
接作用する。ダイオード224,226 k順バイアス
すると、ビット線90.92’e流れる電流全分流して
(これはそれらのビット線上の論理状態を区別する)、
ビット線90.92に沿う出力を阻止する。ゲート15
2への入力の論理状態(すなわち、Aoの論理状態)′
を知ることにより、ビット1lli90または92上の
データがと9出されているか、阻止さnている1−?決
定できる。ダイオード230,232.234,236
 はナントゲート216 とともに同様に動作する。
上記のバイト選択の例においては、バイトの寸法は、左
または右のメモリアレイのビット線の数(たとえば16
0ビツト)に等しくされる。ゲート152 と 216
に類似する別のISLゲート対を加えることにより、バ
イトの寸法を小さくできる。
たとえば、別の2つのゲート(図示せず)會、別の2本
のビット線、たとえばAl1 + Al11 (図示せ
ず)、と、別の2本の語線と、別の2個のダイオード(
図示せず)とともに用いたとすると、バイトの寸法を手
分にできる。別のISLゲートUゲー)152,216
 と同じように機能する。各メモリアレイ20.22に
よジ、ダイオードによって一方のバイトのバイト選択語
線に接続されてい23− るビットaは、他方のバイトの対応するバイト選択語線
から切り離される。たとえば、メモリアレイ20内のダ
イオード232はビット線80全語線214に接続し、
ビット線80はメモリアレイ20の最初のバイトにめる
。別のISLS−ゲート中応するバイト選択語線はビッ
ト線80に接続されない。同様に、最初のバイト選択器
内のビット線(fcとえはダイオード222)が接続さ
れないと、そのビット線は対応する場所における第2の
バイト選択器に選択される。各付加ゲート対は、前のバ
イト寸法全子分にする。バイトの寸法がどのようなもの
でめっても、パイ)U BYTE MUX(第3図)の
ようなマルチプレックス回路により多重化できる。
第3図においては、電流源は、直線抵抗器186.18
8,190,192,194として示されている15図
は、別のプレチャージ電流源の回路238 を示す。回
路238は、抵抗器240,242,244金含む。抵
抗器240はn−p−n)ランジスタ246のコレクタ
とエミッタの間に接続され、抵抗器24− 2421−j、)ランラスタ2460ベースとコレクタ
の間に接続される。抵抗器240 と 244は直列に
接続される。トランジスタ246のベースへは、入力信
号がインバータ248を介して与えら九る。トランジス
タ246が導通状態になっていると、電源Vcc nh
らのほとんど全ての電流はトランジスタ246 と抵抗
器244を流れる。その理由は、導通時のトランジスタ
246の等価抵抗値が抵抗器240 の抵抗値よりはる
かに低いからである。トランジスタ246が非導通状態
になると、電源Vccからのほとんど全ての電流は、抵
抗器240,244 ’!r通って流れる。抵抗器24
0゜244の抵抗値は、それぞれたとえば150にオー
ム、20にオームとすることができる。
プレチャージ回路238は、装置10の待機電流を小さ
く保つことにより、非常な低電力動作全行わせる。待機
期間中はメモリアレイ20.22は回路238 によp
高電位まで充電され、その期間中はトランジスタ246
は非導通状態に保たれる。そのために、トランジスタ2
46が導通状態の時に流れる電流よりも小さい電流がビ
ット線250を流れる。したがって、「待機モード」中
は、装@ioの消費電力は減少する。装置10の語線が
一時的に高レベルにされる(新しいアドレスへ変る)と
、■SLゲート248 はトランジスタ246會一時的
に「導通状態」にし、待機モード中にビット線250ケ
流れる電流よりも大きい電流全トランジスタ246 と
抵抗器244 kmつて峰丁。この大きな電流が流れる
状態は、装置10内の動作速度を高くする高電位までビ
ット線を急速に充電するのに十分な時間だけ持続させる
第3図のISLゲートへの別の語線ドライバ全第6図に
示”jo この語線ドライバにおいては、3個のnチャ
ネル・デプリーション型MES FET252.254
,256が1群の入力ショットキー・ダイオード258
,260,262に接続されてノアゲート264を形成
する。入力端子は端子266゜268.270でろジ、
出力端子は端子272である。MESFET252,2
56 のゲーI・とソースは短絡されて、ゲート264
 にほぼ一定の電流を与える。
ゲート264 はノア機能全行うから、ゲート264を
第3図のナントゲートの代りに直接使用するためには、
少し構成全変える必要がろる。語線全一時的に低レベル
にするのではなくて一時的に高いレベルにする時には、
左メモリアレイ20と右メモリアレイ22にデータ全出
力させるようにすると都合が良いことがある。高レベル
全選択するために、メモリアレイ20と22がデータを
出力するように、それらのメモリアレイの構成を変える
ことは、たとえば、第3図においては、ビット線と語線
の交点に接続されているショットキー・ダイオードのア
ノードとカソードをそれぞれ語線とビット線に接続する
ことにより簡単に行うことができる。
本発明には数多くの利点がめる。第1図のアーキテクチ
ャに関して、アドレス争デコーダ12をメモリアレイ2
0と22の間に設けることにより、与えられた数のビッ
ト線に対して、語線により最も遠くのビットへ送ら扛る
信号の電圧降下は、アドレス争デコーダをメモリの周縁
部に設けるアーキテクチャにおける場合と比較して、小
さい。そのように電圧降下が小さい理由株、語線の抵抗
値が低いためでめる。語線ドライバの出力点(たとえば
、第3図の回路点204)が、ある特定の語線ドライバ
の出力点の各個において同数(またはできるだけ等しい
数)のビット線t−有するように、アドレス・デコーダ
を設ける。電圧降下が小さいと装[10を構成するため
のノイズマージンが高くなる。このことは、同じノイズ
マージンに対して設計の余裕が大きくなること、るるい
はメモリ内により多くのビット′j&:tけることを意
味する。
メモリアレイ内にアドレス・デコーダを置くことにより
、左側または右側にデータピッl付加することによって
、データ飴會任意のビット長へ拡張できる。
装[10のアーキテクチャにより、非常にフレキシブル
な形の要因が与えられる。すなわち、語線の数と、デー
タバイト当りのビット線の数またはバイトの数とを、一
方が増加すれば他方が減少するという関係に置くCとが
できる。与えらtまた用途に対してアクセス時間全最適
にするためにtJ動作速度と消費電力をゴ相反する関係
にるる。1〜0.5ミクロンの綜幅と間隔が用いられる
進歩したフォトリングラフィを用いると、非常に太6い
アレイ(1メガピッドまたはそt′L以上)を容易に製
造できることがわかる。ISLの歩留r)が非常に萬い
たら、どのような方法紫用いてもv2度會本質的に高く
できる。
装置10内の部品の構造によっても多くの利点が得られ
る。ISLゲートによジ、いくつかり処理工程を賛する
非常に筒密度で、比較的高速のROMが得らiする。語
線と、アドレス線と、ビットセンス線のみか、エミッタ
拡散會有するトランジスタ全必要とし、したがってそれ
らのトランジスタだけがパイプの問題↓−よび類似の洩
れ問題から解放されるCとr必要とする。論理的な遷移
レベルは、装[10が他のISL、ンヨットキー・トラ
ンジスタ論理(STL) 、インチグレーデッド会イン
ジェクション・ロジック(IL)−*たlインプレーナ
・インテグレーテッド・インジェクション・ロジック(
I3T、)が形成されるチップと同じチップ上に集積化
される場合には、不要とされる。ISLにより装置は広
い温度範囲で動作でき、かつ、ショットキー・バリヤダ
イオード(SBD)は断面積が小さく、I−V特性全乱
丁ために大きいインターフェイス状態密度を要するから
、1回の全放射線量(total dose radi
atton ) に対する耐性が十分に高くなる。
本発明の別の実施例は、予め処理されているウェハー上
で装[1(l再プログラムおよび予めプログラムできる
ように、第1の金属−経由一第2の金属(first 
metal−via−second metal )プ
ログラミング特徴全使用することである。M線とビット
線の交点におけるダイオードを開放または短絡するため
に、ポリシリコンまたはそれに類似の標準的なヒユーズ
を用いることによジ、データの電気的書込みのために、
プログラム可能なROM (FROM)’に作ることが
できる。この場合には、メモリ20.22の上部にビッ
ト線デコーダを含ませることができる(ビット線デコー
ダ274.276を見よ)。ビット線デコーダ214゜
276 とアドレスデコーダ12は、メモリ20゜22
内の任意のデータ点にデータを書込むためにパルスを与
えることができる。アドレスデコーダにおけるゲートと
してMESFETが用いられると、ショットキー・ダイ
オードのように、半導体の上に金属が直接!かれるから
、装[10の処理は簡単なままでるる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のアーキテクチャに従って作らtl、た
ROMの一例を示す図、第2図は第1図のアーキテクチ
ャを実現するために使用できる回路の略図、第3図は第
1図のアーキテクチャに従って構成できる回路のるる部
分の回路図、第4図は基本的なISLゲートの回路図、
第5図はプレチャージ回路の回路図、第6図は本発明に
用いて有利であるMESF’ETノアゲートの一例の回
路図である。 12・・・67)”L’ス・デコーダ、20.22・・
働・メモリアレイ、50.152,216 ・・・ ・
 ISL ゲート、 82,84,94,96 ・ ・
拳・ショットキー・ダイオード、264・・・・Mg5
FET ゲート。 特許出願人 ハネウェル・インコーボレーテツド復代理
人 山川政樹(ほか2名) 33− FIG / ゝ−)−一ノ 8

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)内部の場所にデータをそれぞれ格納できる第1と
    第2のメモリアレイと、 前記第1と第2のメモリアレイの間に位置させられ、そ
    れへの前記場所に対応するアドレス信号入力を復号する
    アドレス・デコーダと 全備えること葡特徴とする電子装置。
  2. (2)第1.第2および第3のショットキー・ダイオー
    ド群と、 第1.第2.第3および第4の導電路群と、複数のIS
    Lゲートと、 前記第3と第4の導電路に電気信号全印加する手段と 全備え、前記第1のショットキー・ダイオード群と前記
    第1および第2の導電路群とはデータ全デジタル形式で
    格納でき、前記第2のショットキー・ダイオード群と前
    記第2と第3の導電路群はデー1 − −− −タ全デジタル形式で格納でき、 前記ISLゲートと、前記第3のショットキー・ダイオ
    ード群と、前記第3および第4の導電路群とは、前記第
    3および第4の導電路群に印加された特定の電気信号に
    応答して、前記格納されているデータのうちの少くとも
    いくつかをとり出せるようにされ、 前記手段は前記特定の電気信号を前記第3またけ第4の
    導電路に印加することを特徴とする電子装置。
  3. (3)第1.l@2および第3のショットキーφダイオ
    ード群と、 第1.第2.第3および第4の導電路群と、複数のME
    SFETゲートと、 電気信号印加手段と 全備え、前記第1のショットキー−ダイオード群と前記
    第1および第2の導電路群はデータをデジタル形式で格
    納でき、前記第2のショットキー・ダイオード群と前記
    、112および第3の導電路群はデータをデジタル形式
    で格納でき、 2− 前記MESFETゲートと、前記#!3のショットキー
    −ダイオード群と、前記第3および第4の4を路群とは
    、第3と第4の導電路群に印加された特定の電気信号に
    応答して、前記格納されているデータの少くともいくつ
    か會とり出せるようにされ、 前記電気信号印加手段は前記特定の信号全前記第3また
    #2第4の導電路に印加することを特徴とする電子装置
  4. (4)行群と列群をそれぞれ含み、かつそれらの行と列
    の交差によジ定められた場所にデータを格納できる第1
    と第2のメモリアレイと、 前記第1のメモリアレイの1つの行と11J記第2のメ
    モリアレイの1つの行に電気的に接続される導電手段と
    、 データ路を選択するための電気信号が通る出力点を含む
    少くとも1つの前記場所に格納されているデータを選択
    するための手段と 全備え、前記電気信号が前記第2のメモリアレイを最初
    に通ることなしに、その電気信号が通ることができるろ
    る導電路が前記回路点から前記第1のメモリアレイまで
    設けられるように、前記出力点は前記導電手段に面接電
    気的に接続されることを特徴とする電子装置。
  5. (5)行群と列群全それぞれ含み、かつそれらの行と列
    の交差により足められた場所にデータを格納できる第1
    と第2のメモリアレイと、 前記第1のメモリアレイの1つの行と前記第2のメモリ
    アレイの1つの行に電気的に接続される導電手段と、 出力点を含む少くとも1つの前記場所に格納されている
    データを選択する九めの手段とを備え、前記第1と第2
    のメモリアレイは前記出力点に並列に接続されることを
    特徴とする電子装置。
JP59145286A 1983-07-14 1984-07-14 電子装置 Pending JPS6040596A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US513872 1983-07-14
US06/513,872 US4608672A (en) 1983-07-14 1983-07-14 Semiconductor memory

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6040596A true JPS6040596A (ja) 1985-03-02

Family

ID=24044949

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59145286A Pending JPS6040596A (ja) 1983-07-14 1984-07-14 電子装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4608672A (ja)
EP (1) EP0137135A3 (ja)
JP (1) JPS6040596A (ja)
CA (1) CA1219369A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03169473A (ja) * 1989-11-17 1991-07-23 Sollac 金属を調整するためのとりべ及びその耐火底ライニングを形成する方法

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6184054A (ja) * 1984-09-27 1986-04-28 シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト 集積mos回路
US4661927A (en) * 1985-01-15 1987-04-28 Honeywell Inc. Integrated Schottky logic read only memory
JPS61199297A (ja) * 1985-02-28 1986-09-03 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JPS61227289A (ja) * 1985-03-30 1986-10-09 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US4845679A (en) * 1987-03-30 1989-07-04 Honeywell Inc. Diode-FET logic circuitry
US4931999A (en) * 1987-07-27 1990-06-05 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Access circuit for a semiconductor memory
US4884238A (en) * 1988-03-09 1989-11-28 Honeywell Inc. Read-only memory
US5016216A (en) * 1988-10-17 1991-05-14 Waferscale Integration, Inc. Decoder for a floating gate memory
US5673218A (en) * 1996-03-05 1997-09-30 Shepard; Daniel R. Dual-addressed rectifier storage device
US5889694A (en) * 1996-03-05 1999-03-30 Shepard; Daniel R. Dual-addressed rectifier storage device
US5920499A (en) * 1997-01-02 1999-07-06 United Microelectronics Corp. Method of decoding a diode type read only memory
US5905670A (en) * 1997-05-13 1999-05-18 International Business Machines Corp. ROM storage cell and method of fabrication
US6407961B1 (en) * 1998-06-11 2002-06-18 Dsp Group, Ltd. Dual access memory array
IL124863A (en) * 1998-06-11 2004-05-12 Dsp Group Ltd Dual access memory array
US6956757B2 (en) * 2000-06-22 2005-10-18 Contour Semiconductor, Inc. Low cost high density rectifier matrix memory
US7376008B2 (en) * 2003-08-07 2008-05-20 Contour Seminconductor, Inc. SCR matrix storage device
US7646622B2 (en) * 2006-03-23 2010-01-12 Toshiba America Research, Inc. Memory based computation systems and methods of using the same
US7813157B2 (en) * 2007-10-29 2010-10-12 Contour Semiconductor, Inc. Non-linear conductor memory
US20090225621A1 (en) * 2008-03-05 2009-09-10 Shepard Daniel R Split decoder storage array and methods of forming the same
WO2009149061A2 (en) * 2008-06-02 2009-12-10 Contour Semiconductor, Inc. Diode decoder array with non-sequential layout and methods of forming the same
US8325556B2 (en) * 2008-10-07 2012-12-04 Contour Semiconductor, Inc. Sequencing decoder circuit

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5619584A (en) * 1979-07-24 1981-02-24 Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai Semiconductor memory
JPS5651093A (en) * 1979-09-28 1981-05-08 Nec Corp Semiconductor storage device
JPS5694576A (en) * 1979-12-28 1981-07-31 Fujitsu Ltd Word decoder circuit
JPS56137589A (en) * 1980-03-31 1981-10-27 Fujitsu Ltd Semiconductor storage device

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3924264A (en) * 1973-05-17 1975-12-02 Ibm Schottky barrier device and circuit application
US3886531A (en) * 1974-02-11 1975-05-27 Texas Instruments Inc Schottky loaded emitter coupled memory cell for random access memory
US4096584A (en) * 1977-01-31 1978-06-20 Intel Corporation Low power/high speed static ram
US4208730A (en) * 1978-08-07 1980-06-17 Rca Corporation Precharge circuit for memory array
US4276617A (en) * 1979-06-28 1981-06-30 Raytheon Company Transistor switching circuitry
JPS56101687A (en) * 1979-12-27 1981-08-14 Fujitsu Ltd Semiconductor memory circuit
US4347585A (en) * 1980-06-09 1982-08-31 International Business Machines Corporation Reproduce only storage matrix
DE3070584D1 (en) * 1980-09-26 1985-06-05 Ibm Decoding and selection circuit for monolithic memory
JPS5850700A (ja) * 1981-09-21 1983-03-25 Hitachi Ltd Eprom書込み回路

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5619584A (en) * 1979-07-24 1981-02-24 Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai Semiconductor memory
JPS5651093A (en) * 1979-09-28 1981-05-08 Nec Corp Semiconductor storage device
JPS5694576A (en) * 1979-12-28 1981-07-31 Fujitsu Ltd Word decoder circuit
JPS56137589A (en) * 1980-03-31 1981-10-27 Fujitsu Ltd Semiconductor storage device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03169473A (ja) * 1989-11-17 1991-07-23 Sollac 金属を調整するためのとりべ及びその耐火底ライニングを形成する方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP0137135A3 (en) 1987-10-28
CA1219369A (en) 1987-03-17
EP0137135A2 (en) 1985-04-17
US4608672A (en) 1986-08-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6040596A (ja) 電子装置
US5051948A (en) Content addressable memory device
US6633509B2 (en) Partial selection of passive element memory cell sub-arrays for write operations
US6055187A (en) Sensing circuitry for reading and verifying the contents of electrically programmable/erasable non-volatile memory cells
US4281398A (en) Block redundancy for memory array
US4603404A (en) Semiconductor memory device with redundant cells
US5371713A (en) Semiconductor integrated circuit
KR0179361B1 (ko) 비휘발성 메모리 어레이
EP0110636B1 (en) Improvements in or relating to semiconductor memories
EP0044978B1 (en) Read-only storage
US6307800B1 (en) Circuits and method for multi-level data through a single input/output pin
EP1435098B1 (en) Mram bit line word line architecture
EP0461430B1 (en) Individual bit line recovery circuits
US4901281A (en) Semiconductor memory device having two column transfer gate transistor groups independently provided for a sense amplifier and a programmed circuit
EP0041603B1 (en) Read only storage matrix
US5745401A (en) High-speed programmable read only memory
EP0182305A2 (en) Read only memory
US4636990A (en) Three state select circuit for use in a data processing system or the like
EP0090186B1 (en) Complementary logic circuit
EP0289893A2 (en) Bipmos decoder circuit
CN112750491B (zh) 一种efuse阵列结构及其编程方法和读方法
US3540002A (en) Content addressable memory
US4138739A (en) Schottky bipolar two-port random-access memory
EP0366332A2 (en) Digital memory system
JPH06334138A (ja) 半導体記憶装置