JPS6025435A - Measuring device for braking performance of vehicle - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To acquire even a short-time phenomenon securely and identify the adequacy of measurement data immediately by processing arithmetically measurement data from detectors installed at respective parts of a vehicle, and displaying logical estimation data together with the measurement data. CONSTITUTION:A measuring device 1 is mounted on the test vehicle. A microcomputer 11 connects with a monitor interface circuit 12, CRT interface circuit 13, magnetic tape interface circuit 14, panel control circuit 15, speed detecting circuit 16, analog input circuit 17, brake operation detecting circuit 18, and semiconductor memory 19. Monitors 20A and 20B display analog signals which relate to braking operation closely or complementarily. A CRT21 displays measured raw data or a graph, etc., showing the correlation among data. The semiconductor memory 19 consists of an ROM in which the control program of the microcomputer 11 is writen and an RAM used to store the measurement data and for temporary storage during arithmetic.

Description

【発明の詳細な説明】 本光明は車両の制動性能を測定する制動性能測定８Ａ置
に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a braking performance measuring device 8A for measuring the braking performance of a vehicle.

車両の制動性能に関する実車試験データを収集する場合
、従来はドライバーが運転操作をしながら各種計測器に
り測定データを読みとってデータシー１〜に記入し、試
験終了後に上記データシー１−の測定データに基づいて
グラフ等を作成している。Conventionally, when collecting actual vehicle test data regarding the braking performance of a vehicle, the driver reads the measured data using various measuring instruments while driving and enters it in Data Sheet 1~, and after the test is completed, the data sheet 1~ is measured. Graphs, etc. are created based on the data.

このような方法ではドライバーはｍｍに多数の計測器の
データを読み取る必要があるため、短時間に生起づる現
象が往々にして見落とされる。また、測定データの欠陥
が試験路ｒ後グラフ等を作成しＣ発見されることも多く
、この場合には試験状態を再現して再試験を行なう等の
無駄が生じる。In such a method, the driver needs to read data from a large number of measuring instruments per millimeter, so phenomena that occur in a short period of time are often overlooked. Moreover, defects in measurement data are often discovered after creating a graph or the like after a test path, and in this case, it is wasteful to reproduce the test condition and perform a retest.

さらに、膨大な試験データをグラフ化するについて【、
１多人な手間を要づる上に、人手で（よグラフ作成の精
度も高くない。Furthermore, regarding graphing a huge amount of test data [,
1. In addition to requiring the effort of many people, the accuracy of creating graphs manually is also not high.

本発明は上記従来の問題点に鑑み、実り（試験中に多数
の測定データを入力して即座に演綽処裡１ｊるとともに
処理γ−タ（１′３よび上記測定データと合け−Ｃ］ｌ
Ｉ！論予測データの表示も可能な制動性（１ヒ測定装置
を提供することを目的とづるらので、本装置によれば短
時間・の現象す確実に捕１１ｆされ、かつ測定データの
妥当性も直ちに判明する。これにＪ二り、ドライバーは
制動操作時の操作フィーリング等のＩｔｌｒ　ｔ＆に専
念することができる。In view of the above-mentioned conventional problems, the present invention has the advantage of inputting a large number of measurement data during a test and immediately processing it, as well as processing ]l
I! The purpose of this device is to provide a device for measuring braking performance (1) that can also display theoretically predicted data, so this device can reliably capture short-term phenomena and also ensure the validity of the measured data. This is immediately obvious.In addition, the driver can concentrate on the feeling of operation during braking operation, etc.

づ−なわち、本発明の制動性能測定に’＜Ｍは車両の各
部に配設され、車両の制動状態に関係する物理用を測定
する測定手段ど、上記測定手段により得られた測定デー
タをあらかじめ定められた手順に従って入力し、かつ演
停処理づるデータ処理手段と、あらかじめ理論予測デー
タか記憶され、かつ付せで上記処理データ、および測定
データを記憶づるカセット式記憶手段ど、上記記憶され
た理論予測データ、処ｊ１ｐデータおにび測定データを
表示覆る表示手段とを具備している。In other words, in the braking performance measurement of the present invention, the measurement data obtained by the above-mentioned measuring means, such as a measuring means disposed in each part of the vehicle and measuring physical properties related to the braking state of the vehicle, is used. A data processing means that inputs data according to a predetermined procedure and performs performance/stop processing, and a cassette type storage means that stores theoretical prediction data in advance and stores the processed data and measurement data as an appendix. The apparatus is equipped with display means for displaying theoretical predicted data, processed J1P data, and measured data.

以下、図示の実施例により本発明を説明づる。The present invention will be explained below with reference to illustrated embodiments.

第１図は本発明の測定装置１の構成を示１しのＣ，装置
１は試験車両に搭載される。図中、マイクロコンビコー
タ１１には図略のデータバスにより［ニタインターフェ
ース回路１２、ＯＲ−１−インターフェース回路１３、
磁気テープインターノエース回路１４、パネルコン１〜
ロール回路１５、速度検出回路１Ｇ、アナログ入力回路
１７、ブレーキ作動検出回路１８の各回路および半導体
メモリ１９が接続しである。FIG. 1 shows the configuration of a measuring device 1 according to the present invention, and the device 1 is mounted on a test vehicle. In the figure, the micro combi coater 11 is connected to a data bus (not shown) such as [interface circuit 12, OR-1-interface circuit 13,
Magnetic tape internoace circuit 14, panel controller 1~
The roll circuit 15, speed detection circuit 1G, analog input circuit 17, brake operation detection circuit 18, and semiconductor memory 19 are connected.

しニタインターフコース回路１２には第１を二り２０△
おＪζび第２モニタ２０Ｂが接続しである。The first interface circuit 12 has two 20△
Jζ and the second monitor 20B are connected.

両’Ｅニタ’　２　ＯＡ、２０　ｔ３　ハト”／　イハ
ーカ胃１１２１ｉｆｆｉしｍるダツシュボードに設置さ
れ、第１モニタ２ｏ△は制動操作に密接に関係するアナ
ログ信号を指釧式メータで表示する。また第２モニタ２
０Ｂは制動操作に補助的に関係づるアブ［」グ侶号、車
両の制動初速、タイ１７が［コックされた順序、Ｒ置の
異常ａ３よび後述する試験モードの表示を行なう。上記
装置異常にはメモリ容」Ａ−バー、入ノルベルＡ−バー
、測定線路のｌ１７ｉ線等がある。The first monitor 2o△ displays analog signals closely related to braking operation with a finger and hook type meter. 2 monitor 2
0B displays the engine number that is auxiliary to the braking operation, the vehicle's initial braking speed, the order in which the tie 17 was cocked, the abnormality a3 in the R position, and the test mode to be described later. The above device abnormalities include the memory capacity A-bar, the input Norbel A-bar, the 117i line of the measurement line, etc.

ＣＲＴインターフェース回路１３には市販のビデＡ人力
喘子（＝Ｊボータブルカラーデレビを利用し１ｃＣＲ下
デイスプレイ２１が接続Ｉ〕であり、測定された生デー
タあるいはフ゛−タ間の相関関係を承りクラ７等が表示
される。The CRT interface circuit 13 is equipped with a commercially available video display A manual screener (=1CCR lower display 21 is connected using a J portable color TV), and receives the measured raw data or the correlation between the monitors. 7th prize will be displayed.

磁気テーゾインターフＪ−ス回路１／ｌにはノＪＬ／ッ
１−磁気ｊ−ブ装置２２が接続してあり、測定されたテ
゛−夕は装置２２内の磁気テープ２２１に記憶される。A magnetic j-beam device 22 is connected to the magnetic thesis interface circuit 1/l, and the measured data is stored on a magnetic tape 221 within the device 22.

車速検出回路１６には車輪の各々に設置された発電型速
度センサ２４△、２４Ｂ、２／１−Ｃ１２／ＩＤが接続
し−である。上記検出回路１６はセンυ２４Ａ〜２４．
　Ｄの出ノｊ信号を波型整形し、内蔵するカウンタでカ
ウントシてコンピュータ゛１１に出力でる。Power generation type speed sensors 24Δ, 24B, 2/1-C12/ID installed on each wheel are connected to the vehicle speed detection circuit 16. The detection circuit 16 includes sensors υ24A to 24.
The output signal from D is waveform-shaped, counted by a built-in counter, and output to the computer 11.

アナログ入力回路１７は１０′ｆ−ｐ＞ネルのアブ１」
グミ圧（０〜ｔ　２　Ｖ　）入力用ヂ１７ンネルと４ヂ
ヤンネルのＣＡ熱電対入力用チＶンネルを右している。Analog input circuit 17 is 10'f-p>Nel's AB 1''
The channel 17 for gummy pressure (0 to t 2 V) input and the channel 4 for CA thermocouple input are on the right.

各アナログ信号は２０Ｈ７のローパスフィルタ通過後８
ピツ１へのデジタルデータに変換されて＝１ンビ：Ｉ−
タ１１に送出される。図中アナログ信号２６ａは車両減
速度検出器２６からの出力信号である。Each analog signal passes through a 20H7 low-pass filter.
Converted to digital data to Pitsu 1 = 1 MB: I-
data 11. An analog signal 26a in the figure is an output signal from the vehicle deceleration detector 26.

ブレーキ作動検出回路１８にはブレーキに付設されたブ
レーキスイッヂ２５がらの信＠２５ａが入力しである。A signal @25a from a brake switch 25 attached to the brake is input to the brake operation detection circuit 18.

信号２５ａは波形整形後コンピュータ１１に送出される
。The signal 25a is sent to the computer 11 after waveform shaping.

パネルコントロール回路１５には単室のフロントパネル
２３に設置された各種スイッチや表示灯が接続しである
。スイッチは第１表ないし第５表に示すように八〜Ｅの
５グループに区別される。Various switches and indicator lights installed on a single front panel 23 are connected to the panel control circuit 15. The switches are classified into five groups, 8 to E, as shown in Tables 1 to 5.

△クル−プにはプログラムモードと入力信号較正モード
を選択するモード切換スイッチ、上記アナグし１入力回
路１７に入力する１４種のアナログ信号を選択する選択
スイッチＡｊよび上記速度検出回路′１６に人力する速
度信号を選択プる選択スイッチが含まれる。アナログ信
号選択スイッチおよび速度信号選択スイッチは後述の如
く人力信号較正モードで有効になる。△The croup is equipped with a mode changeover switch that selects the program mode and input signal calibration mode, a selection switch Aj that selects the 14 types of analog signals input to the 1-input circuit 17, and the speed detection circuit '16 that is manually operated. A selection switch is included to select the speed signal to be used. The analog signal selection switch and speed signal selection switch are enabled in the manual signal calibration mode as described below.

ＢグループにはＥ、Ｆ−Ｐ、Ｂ、Ｆの４秤の試験モード
すなわちデータ入力手順に関するモードを選択するスイ
ッチ、磁気アープ装置２２の操作上−ドであるＭＴＵモ
ードを選択Ｊるスイッチ、データの区切りを示すＦＩＮ
マークを磁気アー１２２１に書き込むスイッチ−および
後述する予想データを磁気テープ２２１より半導体メー
しり′１９に転送するスイッチが含まれる、。The B group includes a switch for selecting the test mode of the four scales E, F-P, B, and F, that is, a mode related to the data input procedure, a switch for selecting the MTU mode, which is the operational mode of the magnetic Arp device 22, and a data switch. FIN indicating the break between
It includes a switch for writing a mark on the magnetic tape 1221 and a switch for transferring expected data, which will be described later, from the magnetic tape 221 to the semiconductor mailer '19.

Ｃグループの各スイッチはＣＲＴディスプレイ２１の表
示［−ドを選択するもので、上記１４種のアナ［１グ信
号おＪ、び速庶信号の各信号間の相関関係を示すグラフ
の表示あるいは各イを号の生波形の表示のいづ゛れかを
選択づる。Each switch in group C selects the display [-] on the CRT display 21, and displays a graph showing the correlation between each of the 14 types of analog signals, J, and speed signals, or Select one of the raw waveform displays.

Ｄグループは測定装置１による測定の開始あるいは終了
を指示りるスター１〜スイツヂおよびストップスイッチ
である。Group D includes star 1 to switch and stop switches that instruct the measuring device 1 to start or end measurement.

［グループはパルス数と速麿を設定する３桁のデジタル
スイッチＣある。[The group has a 3-digit digital switch C that sets the number of pulses and speed.

上記半導体メモリ１９はマイクロコンピュータ１１の制
御プログラムを記入したＲＯＭと、測定データのストア
や演紳中の一時記憶として使用°するＲＡＭとにり構成
されている。The semiconductor memory 19 is composed of a ROM in which a control program for the microcomputer 11 is written, and a RAM used to store measurement data and as temporary storage during performance.

上記構成を有づる測定装置１の作動を以下第２図ないし
第６図の制御プログラムモ−ドｖ　−ｔ−に従って説明
する。まず、図示しない電源スイッチをＡンすると、メ
インルーチン１１０１が起動づる。最初、イニシャライ
ズＡ　１１０２にて］ンピ〕−夕１１の初期設定、周辺
ＬＳＩの初期設定が行なわれ、次にイニシャライズＢ１
１０３にてフロントパネル２３上のランプ、第２モニタ
２０Ｂ、ＣＲＴインタノ１．イス回路１３、半導体メモ
リ１９内のＲＡＭ、カセット磁気テーブ装躍２２を初期
化する。この時フロントパネル２３上のランプ、第２モ
ニタ２０Ｂのランプはすべて消灯し数字表示器類はＯ（
ゼ［１）を示し、ＣＲｌ−ディスプレイ２１の画面」：
には何も表示されない。次にＳ　／　Ｗ状態人力１１０
４に−Ｃフロン１〜パネル２３上の各スイッチ（第１表
〜第５表参照）の状態をすベーＣ読み込む。第１表に示
したΔグループのスイッチの内容が最初に調べられ、ス
テップ１１Ｑ５にてプログラムモードがあるいは入ノｊ
（ｆｆｉ号較正し一ドが判定される。入）〕較正モード
の場合には較正ルーチン１１２５に入る。較正ルーチン
１１２５ではΔグループのスイッチにて選択された１４
種のアナログ信号又は４　ｌＩの速度信号のうちの一つ
がフロンミーパネル２３上の図示しないデジタルパネル
メータ上に表示される。アナ［１グ信号の場合、アナロ
グ入力回路１７に設置した図示しないぜ口調ポテンショ
メータ及びゲイン調ポテンショメータによってデジタル
パネルメータの数値を見ながら入力レベルを調整できる
。車速入力の場合はＥグループのスイッチ（第５表参照
）によって設定されｌこパルス数と車速より２０００Ｘ
車速く１伽／ｈ）／パルス数（ＲＰ　Ｓ　）の計棹をし
た結果がデジタルパネルメークに表示される。この動作
を終了すると再びＳ／Ｗ状態入力１１０４にもどる。」
二記Ａグループのスイッチがプログラムピードになると
パネルメータ消灯１１０６が選択され、較正モードでは
何らかの数値を示し−Ｃいた上記デジタルパネルメータ
が消灯づる。でして紋いＴ　Ｂグループのスイッチ（第
２表参照）の状態をチェックづる。、Ｂグループのスイ
ッチの内Ｅモー１−’　１１０７が選択されていればプ
ログラムはＥルーチン１１０８に入る。Ｅ（−ドか選択
されて、：１５らｆ　Ｆ　−ｒ”七−ド１１１０か選択
されていればＦ−Ｐルーチン１１１１に入る。以下同様
にしてＢルーチン１１１４．Ｆルーチン１１．１７、Ｍ
ＴＵルーヂン１１２０、Ｆ’ＩＮルーヂン１１２２、入
力ルーチン１１２４が選択される。上記の内Ｅルーチン
、Ｆ−Ｐルーチン、Ｂルーチン、Ｆルーチンはそれぞれ
データを４制する為のルーチンで、それぞれ独白の試験
手順が決め１うれている。プログラムはその独自のシー
ケンスにしたがって進行する。第６図にしたがってＥル
ーチンを説明する。The operation of the measuring device 1 having the above configuration will be explained below according to the control program mode v-t- shown in FIGS. 2 to 6. First, when the power switch (not shown) is turned on, the main routine 1101 is activated. First, in initialize A 1102, the initial settings of the input pin 11 and the peripheral LSI are performed, and then the initial settings of the peripheral LSI are performed.
At 103, the lamp on the front panel 23, the second monitor 20B, the CRT intano 1. The chair circuit 13, the RAM in the semiconductor memory 19, and the cassette magnetic tape mount 22 are initialized. At this time, the lamps on the front panel 23 and the lamps on the second monitor 20B are all turned off, and the numerical displays are turned off (
ze [1), the screen of CRl-display 21":
nothing is displayed. Next S/W state human power 110
4, read the status of each switch on the -C freon 1 to panel 23 (see Tables 1 to 5). The contents of the switches in the Δ group shown in Table 1 are checked first, and in step 11Q5 the program mode is set to
(FFI calibration mode is determined. Enter)] If the calibration mode is selected, a calibration routine 1125 is entered. In the calibration routine 1125, the 14 selected by the Δ group switch
One of the two analog signals or the four speed signals is displayed on a digital panel meter (not shown) on the front panel 23. In the case of an analog signal, the input level can be adjusted using a non-illustrated high volume potentiometer and a gain adjustment potentiometer installed in the analog input circuit 17 while checking the numerical value on the digital panel meter. In the case of vehicle speed input, it is set by the E group switch (see Table 5) and is 2000X based on the number of pulses and vehicle speed.
The result of calculating the car speed (1 k/h)/number of pulses (RP S ) is displayed on the digital panel. When this operation is completed, the process returns to the S/W status input 1104 again. ”
When the switch of the second A group is set to the program speed, the panel meter off 1106 is selected, and in the calibration mode, the digital panel meter that indicates some numerical value -C goes off. Then check the status of the switches in the TB group (see Table 2). , if EMo1-' 1107 is selected among the switches in group B, the program enters E routine 1108. If E(-do is selected and :15 to f F -r"7-do 1110 is selected, the F-P routine 1111 is entered. Similarly, B routine 1114, F routine 11.17, M
TU routine 1120, F'IN routine 1122, and input routine 1124 are selected. Of the above routines, the E routine, the F-P routine, the B routine, and the F routine are each routines for four-way testing of data, and each has a predetermined monologue test procedure. The program progresses according to its own sequence. The E routine will be explained according to FIG.

［ルーチンに入るとまずフラグ類がリセツ１〜される（
ステップＥＯ１＞ｏＳＴＡ、ＲＴＦ　（スタートフラグ
）はぞれそれ第３図、第４図に示づスタート割込みルー
チン１１３１及びス１ヘツブ割込みルーチン１１３３に
てｒｒＶｒにセラ１−される。５ＴＯＰＩ三（ストップ
［フラグ）はＥ）ルーチンにおりるｉ１測が終了したｕ
１冒′１″にレッｌ〜される。次に［ルーチンが起動し
°（いる事を示ｔ　Ｆランプ（］［］１ントパネル２に
設りてｃ１５るが図示していない）及びｉｔ　ａｌｌｌ
準備完了を示ηＲ（ＥΔＤＹランプ〈同じく図示してい
ない）が点灯Ｊる（スー戸ツブＥＯ２、［０３）。その
後スター［・割込み及びストップ割込みを；Ｈ′１１■
シ（ステップＥＯ４＞、Ｄグループ（第４表参照）のス
タート又はストツゾスイッチの入ツノ待ちとなる。[When entering the routine, first the flags are reset to 1 (
Step EO1>oSTA and RTF (start flag) are set to rrVr in the start interrupt routine 1131 and block interrupt routine 1133 shown in FIGS. 3 and 4, respectively. 5TOPI3 (stop [flag) is E) Return to routine i1 measurement has finished u
Next, the [routine starts] (indicates that there is an F lamp (] [] installed on the front panel 2, but not shown) and it all.
The ηR (EΔDY lamp (also not shown) is lit to indicate the completion of preparation (suitable door EO2, [03)]. After that, start [・interrupt and stop interrupt; H'11■
(Step EO4>) Waits for the start of the D group (see Table 4) or for the switch to turn on.

この時同時にＣＲＴ表示り一ドの選択ス−７−ツブＥＯ
６及び測定線路の断線及び入力オーバーのチェックステ
ップＥＯ７を行ない、第３表に示したＣグループのスイ
ッチのチ’Ｊｉ−ンクも行なうゎスター１〜又はストッ
プのスイッチがオンされない間プ］コグラムはステップ
ＥＯ５〜Ｅ　Ｏ８のループを回るのＣ１この間ならばＣ
ＲＴ表示モードの変更は何度でもできる。この時ＣＲＴ
ディスプレイ２１土にはＣグループのスイッチで選択さ
れた表示モードに従ってタイトル及びグラフの縦軸及び
横軸が表示される。スター１−及びスＩ−ツプスイッヂ
はスター１〜及びストップ割込みルーチンの割込み原因
となる。スタート及びストップ割込みルーチンを第３図
、第４図に示す。それぞれＳ　Ｔ　Ａ　ＲＴ　Ｆ（スタ
ー１−フラグ）、５ＴＯＦ）ＦＬ　＜ス（−ツブフラグ
）をＪＩＶＩにセラ１〜、リターンづる。さてステップ
ＦＯ５にてＳ　ｌ−ＯＰ　Ｆ　ｔ、　＝　１が判定され
ると［ランプｄ３Ｊ：び５Ｔ−ＯＰクランプ消灯しくス
テップＥ１９）ステップＥ２２にジャンプする。ステッ
プＦ０８にてＳＴΔＲ−ｒ　Ｆ　＝　１が判定されると
、ステップＥＯ９でＲＥＡＤＹランプは計測中を示ＬＲ
’Ｕ　Ｎランプ（フロントパネル２３に設（プであるが
図示１〕でいない）に変わる。次にステップＥ　１０で
半導体メモリの記憶容量オーバーを示ｔ　Ｍ　ＩＥ　Ｍ
　ＯＯＶ　Ｅ　Ｒ−ｙ　ン７　（７ロンｔ−パネル２３
おＪ：び第２王二タ２０Ｂに設りであるが図示しくいイ
１い）、Ｓ’Ｔ−０１〕ランプを消灯し、ステップ［１
１Ｃ′リンブリング割込みとストップ割込みを５′［可
りる。リンブリング割込みルーチン１１３５を第５図に
示す。リンブリング割込みはマイクロ：コンビコータ１
１にて発生するｏ、１ｓｅｃ毎のリンブリング信号が割
込み原因となる。リンブリング割込みルーチン１１３５
に入るどまずレジスタがセーブされ割込みがリセットさ
れる（スーｉッグ１１３６．１１３７）。次いでステッ
プ１１３８で半導体メモリ１９の記憶容、ＰＪを越え゛
（いないがブ１−ツタし、越えていればステップ１１３
９でＩ）　Ａ１−「（）［二（ゲータ７ルフラグ）を７
１″どしスｊ・ツブ１１５９にジトンブづる。、記憶容
岱内であればスーアップ１１４０にてサンプルしＩこデ
ータを格納でべぎメモリのアドレスをｉｔ　Ｉし、ステ
ップ１１／１１で△／Ｄ変］匁リベす？ナログデータを
選択する。次にステップ１１４２にて△／Ｄコンバータ
（アナＵグ入力１７に含まれるが図示していない。）に
変換スタート命令を出し直ちに変換終了信号のチェック
に入る（ステップ１１４２）。ステップ１１４３にて△
／Ｄコンバータの変換終了信号が検出されたらステップ
１１４４にて変換後のデータを入ツノしステップ１１４
５にて先に作成したデータ格納番地にデータを格納リ−
る。でして次のｆ−夕に備えてスーアップ１１４６にて
次のデータを格納するメ七りのアドレスを計ｎ′？Ｉる
。ステップ１１４７では全でのΔ／Ｄ変換ずべきデータ
が終了したかチェックし、終了ならばステップ１１４８
に、終了していな（）ればステップ１１４１にジャンプ
する。アナｆ」グ信号の収録が終了したら次は車速信号
を収録する。ステップ１１４８に’Ｕ（ノンプルずへき
車速信号をまず選択し、ステップ１１　／’ｌ　９．１
１５０にて入ツノし、メ七り１９へ格納づる。そしてス
テップ１１５１では収録（〕たデータよりタイＡ７がロ
ックしＣいるか否かを判定しＣ、ロックしていればステ
ップ１１５２にて第２モニタ２０Ｂへロック状態を出力
表示する。At the same time, select screen 7 on the CRT display screen.
6 and check for disconnection of the measurement line and input overload, and check step EO7, and also check the switches in group C shown in Table 3. Steps EO5-E Go around the loop of O8 C1 During this time C
You can change the RT display mode as many times as you like. At this time the CRT
The title and the vertical and horizontal axes of the graph are displayed on the display 21 according to the display mode selected by the switch in group C. The Star 1- and Switch switches cause an interrupt to the Star 1- and Stop interrupt routine. The start and stop interrupt routines are shown in FIGS. 3 and 4. STA RT F (star 1-flag), 5TOF) FL <su (-tubu flag) to JIVI, return 1~, respectively. Now, when it is determined in step FO5 that S l-OP F t, = 1 [lamp d3J: and 5T-OP clamp are turned off (step E19)], the process jumps to step E22. When STΔR-r F = 1 is determined in step F08, the READY lamp indicates that measurement is in progress and the LR
'U N lamp (installed on the front panel 23, but not shown in Figure 1).Next, in step E10, the memory capacity of the semiconductor memory is exceeded.
OOV E R-y N7 (7 long t-panel 23
Turn off the S'T-01 lamp and step [1
1C' Limbling interrupt and Stop interrupt can be set to 5'. The limbering interrupt routine 1135 is shown in FIG. Limbling interrupt is micro: Combi coater 1
The rimbling signal generated every 1 sec at 1 is a cause of an interrupt. Limbling interrupt routine 1135
Upon entry, registers are saved and interrupts are reset (Sug 1136.1137). Next, in step 1138, the storage capacity of the semiconductor memory 19 exceeds PJ (it does not exceed PJ), but if it does, step 113
9 to I) A1- ``() [2 (Gator 7 flag) to 7
If it is within the memory capacity, sample it in the storage capacity 1140, store the data, set the address of the memory, and in step 11/11 △ /D change] Analog data is selected.Next, in step 1142, a conversion start command is issued to the △/D converter (included in the analog U input 17, but not shown), and the conversion end signal is immediately output. Check is entered (step 1142). At step 1143, △
When the conversion completion signal of the /D converter is detected, the converted data is inputted in step 1144, and step 114 is performed.
Store the data at the data storage address created earlier in step 5.
Ru. Then, in preparation for the next f-day, the update 1146 determines the total number of addresses n'? for storing the next data. I. In step 1147, it is checked whether all the data to be converted into Δ/D has been completed, and if it has been completed, step 1148
If the process has not finished (), the process jumps to step 1141. After recording the analog f'' signal, the next step is to record the vehicle speed signal. In step 1148, first select the non-pull vehicle speed signal, and then proceed to step 11 /'l 9.1
Entered at 150 and stored at 19. Then, in step 1151, it is determined from the recorded data whether or not the tie A7 is locked. If it is locked, the locked state is output and displayed on the second monitor 20B in step 1152.

１」ツタしていなければステップ１１５３ヘジＶンブづ
る。ステップ１１５３では次のデータに備えて格納番地
を剖粋し、ステップ１１５／Ｉで全ＣのＪｆｆ目か終了
していればステップ”′ｌ　１５５へ、ｔ４７しＣいな
（Ｊればステップ１１４８’＼ジトンブする。1" If there is no ivy, move to step 1153. In step 1153, the storage address is analyzed in preparation for the next data, and in step 115/I, if the Jffth of all C has been completed, the process advances to step 155, and t47 is completed (if J, step 1148' \Jitombu.

ステップ１１５５では４輪平均中速を訓篩し７、スーツ
ツブ１１５６でブレーキＯＦＦならば申ＫＭ　ＩｉＱを
第２七−タ２０’Ｂに出）Ｊする。ＯＮならばステップ
１１５８ヘジＶンブＪる。スーｔツブ１１５８ではデー
タカウンタ（半導体メモリ１９のＲＡＭ領域内に存在覆
る）を１だけインクリメン）−Ｌ、１／ジスタ復帰後（
ステップ１１５９）リターンする。At step 1155, the average medium speed of the four wheels is determined (7), and if the brake is off at step 1156, the signal KM IiQ is sent to the 27th motor 20'B). If it is ON, step 1158 returns. In the suite 1158, the data counter (existing in the RAM area of the semiconductor memory 19) is incremented by 1) -L, 1/after returning the register (
Step 1159) Return.

上記フゞ−タカウンタは次のザンブリングＶ］込み時の
データ格納番地を１綽づる為のものである。The above-mentioned data counter is used to increment the data storage address by one when the next Zumbling V] is inserted.

第６図のステップ［１１にてリンーｆリング及び）（・
ツブ割込みがγｆ可されてから、ステップＥ２０にて割
込みがマスクされるまでの間前期の→）゛ンブリング割
込みが０．１ｓｅｃｆｍに入つくデータのリンプリング
をりる。また、１ｌｌｌ＋定線路の断線及び人力Ａ−バ
ーのチェックがステップＥ　１４　にてされる。スーｊ
ツブ１三１２に−（＋）ＡＩ−ＦＬＪＦを調べ、ｎＶｒ
ならばメしり容量満杯であるから、ステップＥ１６にて
Ｍ　Ｆ　Ｍｏ　６　Ｖ　［Ｅ　ｌでランプを点灯し、ス
ラーツブＥ１７にて５ＴＯＰランプを点灯してステップ
Ｆ２０ヘジＩＩンブする。Ｄ　Ａ　Ｔ　Ｆ　Ｕ　ＦがＯ
ｕならばステップ「１３でヌトップ割込みの有無を調べ
、入っていればステップＥ１ＢにＵＳＴＯＰランプを点
灯してスーアップＥ２１ヘジ（７ンプする。ストップ割
込みが入っていなけ１＋ば断線、入〕〕Ａ−バーヂ］−
ツタ後ステップＥ１５にて［モード固有の開側終了条件
が成立しているかどうかをチェックし、成立していなけ
れば再びステップ「１２へ戻る。この条イ！ｌの要因と
してはブレーギ信号、減速度、車速などがある。成立し
ている場合には一連の目測を終了する為ステップＥ２０
にて割込みをマスクする。この時点よりザンブリング割
込みは入らなくなるので、データの１ノンシリングは行
なわれなくなる。次にステップＥ２１でＳ　１’　ＯＰ
フラグをｎ　−１＃どする。このフラグ【よ１−を−ド
に（データ４ノンブリングが綻イした事を示１ＪＬ次に
スーｊツｌ［２２にて、［ｔ−ドに−（何［ａｊ目の制
動操作が行なわれたかを示り−ＴＲＩ△１−力ウンタく
半導体メ〔す１９の［ぐΔＭ領領域存右する）を１だ（
づインクリメントシ、リターンづる。。In step 11 of FIG.
After the γf interrupt is enabled and until the interrupt is masked in step E20, the previous →) embedding interrupt limps the data that arrives at 0.1 secfm. In addition, the disconnection of the 1llll+ constant line and the manual A-bar are checked in step E14. Sue J
Check -(+)AI-FLJF on Tsubu 13 12, nVr
If so, since the capacity is full, the lamp is lit with M F Mo 6 V [E l in step E16, the 5TOP lamp is lit in slurry tube E17, and the process proceeds to step F20. D A T F U F is O
If u, check whether there is a NuTop interrupt in step 13, and if it is present, turn on the USTOP lamp in step E1B and press 7. −Birge】−
In step E15, it is checked whether the mode-specific open end conditions are satisfied, and if they are not, the process returns to step 12. , vehicle speed, etc. If it is true, step E20 ends the series of visual measurements.
Mask interrupts. From this point on, zumbling interrupts will no longer occur, so data will no longer be non-shilled. Next, in step E21, S 1' OP
Set the flag to n-1#. This flag (indicates that the data 4 non-bringing has failed). - TRI△1 - Force unloading semiconductor material [19 [ΔM region exists] is 1 (
Increment, return. .

以Ｊ−Ｅルーチンとリンプリング割込みルーチンのｖ）
作について説明しＩＣ，、Ｆ−Ｐルーチン、Ｂルーチン
、「ルーチンはそれぞれＦルーチンどは異なった独自の
処理シーケンスを持ってｄ３す、す゛ンブリング＾′１
］込みによりデータがリン１リングさ札る条イ′［は少
しずつ屓なる。◇Ｅシル−ンよりリターンしてくると次
にステップ１１０９にてｓ　−ｒ　ｏ　ｐ１三フラグを
調べる。ここでＳ　Ｔ　Ｏｌ）　Ｅかｕ　Ｏｒｒの用台
はデータリンプリングをする前にストラプス−（ツヂを
押しｌζ場合であり、１丁モードを解除づる意思がある
と判定してイニシＩＪライズＢ　１１０３へジャンプ覆
る。Ｓ　Ｔ　ＯＰ　ｂが７１″の場合一応すンアリング
はなされているが、次にスーｉツブ１１２６にてＳ　Ｔ
　ＯＩ〕Ｆ　Ｌが１“の■在は、（ノン・プリング途中
にストツゾスイップを押した場合であり、この時は不要
データとみなしＣＲ１−ディスプレイ２１への表示、磁
気チー１２２１への記録を行な４つずステップ１１３０
’＼ジトンプづる。ＳＴＯＰ　Ｆ　Ｌがｎｏｎの時は正
常な目測が行なわれた場合であり次にステップ１１２７
の演算ルーチンへ入る。？Ｉｉ算ルーチン１１２７では
リンプリングしｌＣｆ−夕のスフ−リングが行なわれる
。次にステップ１１２８のＣＲｌ−表示ルーチンに−Ｃ
１計測データのＣＲＴ上への表示が行なわれる。この時
表示されるデータは、前述のＣＲ１表示を一ドの選択ス
テップＥＯ６＜第６図参照）にて選択されたデータであ
り、Ｆ−Ｐ、８１Ｆの各モードもそれぞれの訓測ルーヂ
ンの中にこのプログラムを持っている。次にステップ１
１２９のＭＴＵ出力ルーヂンで上記リンプリングしたデ
ータをカセツ１ヘテーブインタフェイス回路′１４を介
してカレッ１〜テープ装買２２へ転送し、カセットテー
プ装置２２内のカセッ１〜磁気デープ２２１に記録する
。記録１ノ式（よデジタル記録方式である。最後に３１
測中を示ずＲＬＪ　Ｎランプを、準備ＯＫを示すＲＥ△
ＤＹランプに変え（ステップ１１３０）　、スラーツブ
１１０’ｌのスイッチ状態入力へ戻る。v) of J-E routine and limp ring interrupt routine.
He explains the operation of IC, F-P routine, B routine, and ``Each routine has its own unique processing sequence, such as F routine.
] The data will gradually increase as the data is added to the ring. ◇When the program returns from the E screen, the three s-ro p1 flags are checked in step 1109. Here, ST Ol) E or u Orr's stand is when you press Straps-(Tsuji) before data limp ring, and it is determined that there is an intention to cancel the 1-gun mode, and the initial IJ rise B is performed. Jump to step 1103. If S T OP b is 71", the tuning has been done, but next, at step 1126, S T
OI]F L is 1" (when the STUDIO SWIP is pressed during non-pulling. In this case, it is regarded as unnecessary data and is displayed on the CR1 display 21 and recorded on the magnetic chip 1221. 4 steps 1130
'\Jitompzuru. When STOP F L is non, it means that normal visual measurement has been performed, and then step 1127
Enter the calculation routine. ? In the Ii arithmetic routine 1127, limp ringing and sifting of lCf-y are performed. Next, in step 1128, the CRl-display routine -C
1 measurement data is displayed on the CRT. The data displayed at this time is the data selected in the selection step EO6 (see Figure 6) of the above-mentioned CR1 display, and each mode of F-P and 81F is also selected in the respective training routines. I have this program. Next step 1
The data limped by the MTU output routine of 129 is transferred to the cassette 1 through the tape loading unit 22 via the tape interface circuit '14, and recorded on the cassette 1 to the magnetic tape 221 in the cassette tape device 22. . Recording method 1 (digital recording method. Finally, 31
The RLJ N lamp does not indicate measurement, and the RE△ indicates readiness.
Change to the DY lamp (step 1130) and return to the switch state input of the slurry tube 110'l.

次にＭ　Ｔ　Ｕルーチン１１２０を説明する。Ｅ、１：
Ｆ〕、１３、「の泪ｍｌｌ　／ルーチンにおいてはカセ
ット磁気デープ装＠２２は自動的に作動（る。しかしテ
ープの記録消去とか、デーブ十に７−タを入れる（幾能
が手動で可能′Ｃ−ｄうれば使用上便利℃ある。Next, the MTU routine 1120 will be described. E.1:
F], 13, In the "Years mll/routine, the cassette magnetic tape device @22 operates automatically. However, it is possible to erase the record on the tape and insert 7-data into the data set (some functions can be done manually)" C-d is convenient for use.

Ｍ　Ｔ　ＩＪルーヂン１１２０はこれを可能とりるもの
で、動作は第２表に示した（３グループのスイッチの内
Ｍ　１’　Ｕモードとして示したＩ　Ｎ　Ｉ　−１’　
、　ＲＩ：Ｗ、ＭＡＲＫ、５ＲＣＨ，ＣＡＮの各スイッ
チに応じて行なわれる。］　Ｎ　Ｉ　ｌ−（Ｉ　Ｉ　Ｎ
　Ｉ　ｒ　ｌ△１−）スイッチを押づとテープが初期ポ
ジションにセラ１〜される。Ｍ　Ａ　ＲＫスイッチを押
でと７−ｊ′−１−にテープマークが記入される。これ
は試験の区切りなどに目印として挿入力ると便利（ある
。Ｓ　ＲＣｌ−１（Ｓ［三△ＲＣｌ−１）スイッチ−を
１甲づとアープマーク合捜しアーーブマークを検出した
位置（”７−１を止める。ＣＡＮ（０△Ｎ　ＣＬ：　Ｌ
　）スイッチを押−４と、テープに記録された内容がク
リアされる。The MTIJ Luzin 1120 can do this, and its operation is shown in Table 2 (among the three groups of switches, the INI-1' shown as M1'U mode)
, RI:W, MARK, 5RCH, and CAN switches. ] N I l-(I I N
IrlΔ1-) When the switch is pressed, the tape is moved to the initial position. When the MARK switch is pressed, a tape mark is written at 7-j'-1-. It is convenient to insert this as a mark at the end of a test.Turn the S RCl-1 (S[3△RCl-1) switch one by one to find the arp mark and locate the position where the arb mark is detected ("7- Stop 1. CAN (0△N CL: L
) Press the switch -4 to clear the contents recorded on the tape.

次にＦＩＮルーチン１１２２を説明づると、１３グルー
プのＩＩＮスイッヂを押すと、テープ」二にＦ　Ｅ　Ｎ
　ｖ−りを記入する。前述のテープマークはノｊｔ？ツ
１〜時期テープ装置２２自身が管理しＣいるもので゛、
テープを読み出し時テープマークは自動的に削除されて
データの力が読み出される。これに対してＦＩＮマーク
はＦＩＮ″という文字がデータとし゛Ｃデテーに書き込
まれるため、再生する事が可能ぐある。一連の試験の区
切りに目印どして挿入覆る。Next, to explain the FIN routine 1122, when the IIN switch of group 13 is pressed, F E N
Enter the v-ri. Is the tape mark mentioned above a nojt? It is managed by the tape device 22 itself.
When reading the tape, the tape marks are automatically deleted and the data strength is read out. On the other hand, with the FIN mark, the characters FIN'' are written as data in the C data, so it can be reproduced.It is inserted as a mark at the end of a series of tests.

入力ルーチン１１２４は理論予測データを入力する為の
ものである。予測データは図示しない別置の大型コンピ
ュータＪ：リカレッ１〜磁気テープ２２　′ｌにあらか
じめ記録されている。Ｃグループの入力エードスイッヂ
を押Ｊと、半導体メモリ１９に上記予測データが転送さ
れる。転送された予測データはＣＲＴ表示−し−ドの選
択ステップＥＯ６（第６図参照）にてＣグループのスイ
ッチ（第３表参照）のうち相関Ａ又はＢを選択したとき
、ＣＲＴディスプレイ２１のグラフ士に測定データとと
もに表示される。The input routine 1124 is for inputting theoretical prediction data. The predicted data is pre-recorded on a separate large-scale computer J:Recaret 1 to magnetic tape 22'l (not shown). When the C group input aid switch is pressed, the predicted data is transferred to the semiconductor memory 19. The transferred predicted data is displayed as a graph on the CRT display 21 when correlation A or B is selected from among the C group switches (see Table 3) in the CRT display mode selection step EO6 (see Figure 6). displayed along with the measurement data to the operator.

’Ｊ　Ｊ、）、前）！Ｉ！の「、ＩニーＰ、［３、［の
各泪測モードで測定されてカセッ１〜磁気デーブ２２１
に記憶きれた測定ｊ゛−夕は別置のインターノェースを
介して上記大型コンビコータに入力され、さらに詳細な
解析処１１ｐが行なわれる。'J J, ), previous)! I! Cassette 1 to Magnetic Dave 221 are measured in the following measurement modes:
The memorized measurements are inputted to the large combi coater via a separate interface, and further detailed analysis processing 11p is performed.

このにうに本発明の制動測定装（αは車両の各部に設置
された検出器より得られた測定データを演算処理覆るデ
ータ処理手段たるマイクロ：］ンビ」−夕と、上記測定
データ、処理データｄ３よひ理論予測データを記１（ｉ
するカセッ１〜磁気デーブ装置と、測定データ、処理）
２−夕ｄＪ　Ｊ：び予測ｊ’−夕を表示するＣ　ＲＴデ
ィスプレイとを貝悼１りることにより、大中試験時の膨
大な測定データをＷ４Ｉ１．′ｌに処理表示づることを
可能ど４１シｌこものて、本装ｒによれば短時間に生起
りる現象もｌｌＴ「実に捕促され、また測定データのグ
ラフ化の手間も不要である十に、測定データと予測デー
タを対照ゴることにＪ：り測定データの妥当性も即座に
判定（ることかできる。In addition to this, the braking measurement device of the present invention (α is a micro which is a data processing means that performs arithmetic processing on the measurement data obtained from the detectors installed in each part of the vehicle), and the above measured data and processed data. d3 Yohi theoretically predicted data is written as 1(i
cassette 1 ~ magnetic data device, measurement data, processing)
By comparing the CRT display that displays 2-Year dJ J: and Prediction j'-Year, a huge amount of measurement data from the large and medium-sized exams can be transferred to W4I1. It is possible to display the process in a 41-hour period, and with this system, phenomena that occur in a short period of time can be easily captured, and the trouble of graphing measurement data is also unnecessary. By comparing the measured data and predicted data, the validity of the measured data can also be immediately determined.

これにより、車両の制動測定にＪ３【プる試験り間の大
幅イ１知縮Ａ＞よび試験結宋の正確な把握を可能とづる
とともにドライバーの負担も大幅に軽減りるｂのひある
。This makes it possible to accurately grasp the J3 and test results when measuring vehicle braking, and it also greatly reduces the burden on the driver.

Ｅむ圃 （第２表） （第３表） （第１表） 〈第５表）Emu field (Table 2) (Table 3) (Table 1) (Table 5)

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第１図は測定装置の仝体椙成図、第２図ないし第６図は
コンビ二ノ、−夕の制御ブ［１グラムフローヂ１−−１
〜である。 １・・・・・・測定装置 １１・・・・・・データ処理手段（マイクロコンビコル
夕） ２１・・・・・・表示手段（ＣＲＴディスプレイ）２２
・・・・・・カセッＩ−磁気テープ装置２４Δ、２・Ｉ
Ｂ、２＝ＩＣ１２４１）・・・・・・速麻センリ 第３図 第４図Figure 1 shows the complete structure of the measuring device, and Figures 2 to 6 show the control block for the convenience store and evening machine [1 Gram Flow 1--1].
It is ~. 1... Measuring device 11... Data processing means (micro combinatorial) 21... Display means (CRT display) 22
...Cassette I-Magnetic tape device 24Δ, 2・I
B, 2=IC1241)... Fast hemp center Figure 3 Figure 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 車両の各部に配設され、車両の制動状態に関係づる物理
量を測定する測定手段と、上記測定手段ににり得られた
測定データをあらかじめ定めら４１だ手順にしたがって
入力し、かつ演粋処理するデータ処理手段と、あらかじ
め理論予測γ−夕が記憶され、かつ１）１せで上記処理
データおよび測定データを記憶するカセツ１〜式記憶手
段と、上記記憶された理論予測データ、処理データＪ５
よひ測定データを表示する表示手段とを具備する車両の
制動ｔ’ｌ能測定刻ＬMeasuring means installed in each part of the vehicle to measure physical quantities related to the braking state of the vehicle, and measurement data obtained by the measuring means are inputted according to 41 predetermined procedures, and then subjected to operational processing. a data processing means for storing the theoretically predicted γ-yield in advance, and 1) a storage means for storing the above-mentioned processed data and measured data, and the above-mentioned stored theoretically predicted data and processed data J5;
A vehicle braking performance measuring time L, comprising: a display means for displaying measurement data;