JPS60242673A - 電荷結合装置 - Google Patents

電荷結合装置

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JPS60242673A
JPS60242673A JP60084667A JP8466785A JPS60242673A JP S60242673 A JPS60242673 A JP S60242673A JP 60084667 A JP60084667 A JP 60084667A JP 8466785 A JP8466785 A JP 8466785A JP S60242673 A JPS60242673 A JP S60242673A
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JP
Japan
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charge
clock
packet
charge transfer
electrodes
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Pending
Application number
JP60084667A
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English (en)
Inventor
アルベルト・ヨセフ・ピエレ・セウウイツセン
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Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/148Charge coupled imagers
    • H01L27/14825Linear CCD imagers

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、表面隣接半導体領域を有する半導体本体を具
える電荷結合装置であって、前記の表面隣接半導体領域
内には情報を表わす個々の電荷パケットを蓄積および転
送するための電荷転送チャネルが形成され、前記の電荷
結合装置は更に電荷・転送チャネルの上方に位置するク
ロック電極の装置を具えており、これらクロック電極は
、nを2以上の整数とした際にn個の順次のクロック電
極当り1個のみの電荷パケットが存在するように、電荷
転送チャネル内の第1の位置がら第2の位置に前記の電
荷パケットを転送するクロック電圧を供給する手段に接
続されており、更に電荷転送チャネルには多数の並列入
力部が設けられており、これら並列入力部の各々は前記
のクロツタ電極の少くとも1つに対応しており、これら
並列入力部I・により電荷パケットを電荷転送チャネル
に並列に供給しうるようにした電荷結合装置に関するも
のよびオランダ国特許出願第8401311号の発明に
関連するものである。オランダ国特許出願第84018
11号明細書には、本願発明の代用をさせる場合に本願
発明を実施する上で最良のモードの装置が記載されてい
る。
並列入力部を有する既知の型の電荷結合装置は・ライン
センサである。この装置は半導体本体内に・設けられた
1行の光感応素子を有しており、これら光感応素子によ
り放射パターンを対応する一連の電気信号に変換せしめ
うる。これら電気信号は、各々が1つの光感応素子と関
連する並列入力部を・経て電荷パケットとして電荷転送
チャネル内に導入させ、これらを電荷結合装置の出力部
における他の信号処理のために直列に読出すことができ
る。
このようなラインセンサは、光感応素子の多数の行をフ
レームの列として互いに並べて配置し、各列間に読出し
用の電荷結合装置を設けることによりいわゆるインター
ライン型の二次元イメージセンサに簡単に拡張せしめう
る。
二次元イメージセンサ装置は主として並列入力部を有す
る電荷結合装置の形態の直列読出し水平レジスタを具え
て絶る。これらの並列入力部の各々は垂直レジスタとも
関連せしめうる。フレームの各ラインはこれら並列入力
部を経て水平レジスタ内にシフトせしめ且つこの水平レ
ジスタを経て読出すことができる。並列入力部を有する
このよ、うな水平レジスタは例えば、1975年にアカ
デミツクブレス社により発行されたシ・エイチ・七タイ
ン(0,H,5equin )およびエム・エフ・トン
プセット(M、F、 Tompsett )氏著の本[
電荷転送装置(Oharge Transfar De
vices ) Jの第152頁以降の章「アーリア・
イメージ・センサ(Area工mage 5ensor
 ) jに特に記載されているようにフレーム転送型お
よびインターライン型の二次元センサ装置に存在する。
並列入力部を有する電荷結合装置は、上記の本の特に第
248頁以降に記載されているように、放射パダーンを
変換する装置以外の装置、例えばSPSメモリにも存在
する。この場合、主として2進の情報が隣接の電荷転送
チャネルの並列区分内に蓄積され、これら電荷転送チャ
ネルの出力部は並列入力部を経て直列読出し水平レジス
タに結合されている。この直列読出し水平レジスタには
これらの並列入力部を経て前記の並列区分からの1行の
電荷パケットを入れることができ、その後にこれらの電
荷パケットが直列読出し水平レジス、りを経て検出素子
に転送されここで1つずつ読出される。
本発明は特にラインセンサにっき貌明するも、本発明を
適用しうる分野は前述したようにラインセンサのみより
も可成り広いことを考慮する必要がある。
既知のように、通常のn相電荷結合装置においては、n
は2或いは8或いは4に等しい。すなわち2或いは8或
いは4個の隣接のクロック電極当り1つの電荷パケット
が存在する。簡単な例では2つの順次の光感応素子(゛
画素)間のピッチは1つのCCDセルの長さに等しく選
択しうる。この長さは、2相ccDの場合2つのクロッ
ク電極を有し、8相ccDの場合8個のクロック電極を
有し、4相CODの場合4個のクロック電極を有する。
この状態では、センサから生じるすべての電荷パケット
を読出すのに単一のCODラインで充分である。しかし
、この場合、画素間のピッチが大きいために装置の解像
度がしばしば望まれている値よりも低くなるという欠点
がある。1画素当り、 、のクロック電極の個数は画素
の行の両側に設けた2つのCjODラインを用いること
により半分にすることができる。C’CDレジスタにお
けるビット長に対する画素の密度はこれらの画素を一方
のCODレジスタと他方のCODレジスタとに交互に接
続することにより2倍にすることができる。この方法に
おいてもまだ所望の解像度が達成されないため、2つの
CODラインの代りに4つのccDラインを用い、セン
サの行の両側にそれぞれ2つのCODラインを互いに並
べて股、けるようにする1゜ことも既に提案されている
。しかしこの方法の場合、電荷パケットを画素から2つ
の最外側のレジスタに転送するのが一層複雑となってし
まう。
電荷パケットのラインが並列の垂直CODラインのシス
テムを経て水平読出しレジスタに転送される二次元イメ
ージセンサおよびsPsメモIJにおいても、ラインセ
ンセ 問題が生じるおそれがある。この種類の装置では、並列
−y−ヤネル間の最適ピッチが水平読出しレジスタ中の
ビット長にしばしば一致しないため、単一、の水平読出
しレジスタを用いると、1つよりも多い電荷パケットが
読出しレジスタに供給されるおそれがある。従って、イ
メージセンサでは多相(2相或いは3相)読出しレジス
タが賎ばしば用いられる。SPSメモリにおいては、1
ラインの。
情報を2分割し、これらを水平レジスタに順次に導入し
て読出す1デ・インターレーシングの原理を用いること
ができる。
本発明の目的は特に、単位長さ当りの並列入力部の個数
をそのまま維持してクロック電極の個数を減少せしめつ
るようにするか、或いはクロック電極の個数をそのまま
維持して単位長さ当りの並列入力部の個数を多くしうる
ようにすることにある。
本発明は、表面隣接半導体領域を有する半導体本体を具
える電荷結合装置であって、前記の表面隣接半導体領域
内には情報を表わす個々の電荷パケットを蓄積および転
送するための電荷転送チャネルが形成され、前記の電荷
結合装置は更に電荷、転送チャネルの上方に位置するク
ロック電極の装、置を具えており、これらクロック電極
は、nを2以上の整数とした際にn個の順次のクロック
電極当り1個のみの電荷パケットが存在するように、電
荷転送チャネル内の第1の位置から第2の位置に前記の
電荷パケットを転送するクロック電圧を供給する手段に
接続されており、更に電荷転送チャネルには多数の並列
入力部が設けられており、これら並列入力部の各々は前
記のクロック電極の少くとも1つに対応しており、これ
ら並列入力部により電荷パケットを電荷転送チャネルに
並列に供給しうるようにした電荷結合装置において、m
をnよりも小さく、少くとち1である整数とした場合に
2つの隣接する並列入力部間の距離をほぼm個の電極に
等しくシ、電荷パケットの導入に際しクロック電極にク
ロック電圧を供給する手段を設け、電荷転送チャネルに
おける少くとも前記の第1の位置の領域で電位障壁によ
り互いに分離された電位の井戸の電位分布を得、1つの
並列入力部と関連する各クロック電極の下方に、電荷パ
ケットを蓄積しうる電位の井戸を形成し、導入され、た
電荷パケットを転送するために、タロツク電圧を供給す
る前記の手段により、電荷転送方向で見てまず最初に第
1の電荷パケットが少くとも1つの電極の距離に亘って
シフトされその後に第1の電荷パケットおよびその次の
第2の電荷パケット−。
のみが同一の距離に亘って同時にシフトされ、以下同様
にし、前の電荷パケットが前記の距離に亘ってシフトさ
れる度毎に、最後の電荷パケットがn相電荷転送に寄与
するまで次の電荷パケットがn相電荷転送に寄与するよ
うにするようなりロック電圧を供給するようにしたこと
を特徴とする。
本発明は、電荷パケットを並列に導入する際これらの電
荷パケットを、中間の電位障壁によってのみ互いに分離
する必要がある電位の井戸内に蓄積しうるという事実の
認識を基に成したものである。これに対し、通常の2相
或いは8相或いは4相転送に際しては、2つ°の隣接の
電荷パケットは少くとも1つの電位障壁によってのみな
らず、電荷転送を可能にする少くとも1つの中間自由位
置によっても互いに分離される。このことは、電荷、転
送が行なわれない限り、2相或いは8相或いは14相転
送中に可能である密度よりも高い密度で電荷パケットを
蓄積しうるということを意味する。
0″場合・電荷転送を’F常のようにして行なうと(こ
の際すべての電荷パケットが同時にシフトされる)、電
荷パケットが部分的に合成されてしまうおそれがある◇
−このことは、前述したように電荷転送を第1の電荷パ
ケットがら開始することにより電荷パケット間の距離を
順次大きくしてゆき、電荷転送に寄与する電荷パケット
が毎回1つずつ1多くなるようにすることにより防止さ
れる。このようにすることにより、並列大刀部間の距離
を電荷転送中1つのCODビットの長さよりも短かくで
き、従ってラインセンサの場合これらの距離は・画素間
のピッチに一層正確に一致し、電荷転送中1の情報の損
失を無くすことができる。
以下図面につき説明する。
本発明を説明する上で第1図に、例えば7アタシミリ像
表示装置に用いうる通常の之インセンサ或いはリニアイ
ージセンサ装置をブロック線図で、示す。この装置は光
感応素子21の直線配列と、電荷転送装置22とを有し
、電荷転送装置は光感応素子と一緒に共通半導体本体内
に集積化しつる。
電荷転送装置22には並列入力部28が設けられており
、光感応素子内で発生された電荷をこれら並列入力部を
経て電荷転送装置22内の関連の電荷蓄積位置に移送し
つる。これらの並列入力部28は電荷移送を表わすため
に矢印で示しである。
ラインセンサ装置は電荷転送袋N22の出力側に読出し
手段24を有しており、この読出し手段により電気信号
を直列に読゛出しつる。
第1図に線図的に示tように、電荷転送装置は順次の段
すなわちビット25の配列を以って構成されている。こ
れらのビットの各々には、特定の例では1つの電荷パケ
ットを蓄積したり転送したりするのに必要な最小数であ
る個数のクロック電極がある。このクロック電極の個数
は4相(30Dの場合4であり、8相0(3Dの場合8
であり、2相CCDの場合2である。通常の装置では、
多くとも1個の光感応素子(画素)が1つのOCDビ、
ットに対応しうるにすぎない。11丁、前転送装置22
を所定の寸法とした場合、上述した条件により415位
長さ当り設は得る画素の個数に重大な制限を課する。
第2図は本発明によるリニアセンサの一実施例を示す平
面図であり、本例の場合第1図に示すセンサに比べて画
素密度を2倍にしうる。このリニアセンサ装置も光感応
素子21の直線配列を有し、これらの光感応素子の各々
は制限領域26によりほぼ全周に沿って制限され1つ互
いに分4されている。本例の場合も画素2】の行のそば
にCT D。
本例の場合4相GOD(’電荷結合装置)が配置されて
いる。出力部27で終端する電荷転送チャネ/I/28
を第2図では破線で示しである。この電荷転送チャネル
28の上方には、電位の井戸および1電位障壁をこのチ
ャネル28内に誘起させるためのクロック電極1〜13
が設けられている。電荷をチャネル28を経て出力部に
転送するのに必要なりロック電圧φ0.φ2.φ8およ
びφ、は、クロックライン80,31.82および83
を絆てり・、ロック電極に接続しつるクロック電圧源2
9によlり供給される。本例の場合通常のCO,Dと相
違してクロック電極を固定の接続ラインを経てクロック
ラインに接続せずにスイッチS、 、 S2. S8等
ヲ経てクロックラインに接続し、これらスイッチにより
クリック電極をライン84或いはライン35にも接続し
うるようにする。これらのライン34或いは35を経て
、電圧源36から生じる電圧V 或いはv2をクロック
電極に供給しうる。電圧V およびv2の値は後に説明
する。スイッチS、 、 S2.38等はシフトレジス
タ8Bにより駆動される。このシフトレジスタ38によ
り、これらスイッチを右側のものから左側のものに順次
に電圧@86からクロック電圧源29へ切換えることが
できる。
CODチャネルは制限領域26における中断部より成る
並列入力部(斜線を付して示す)28を経て画素21に
接続されている。並列入力部28の上方には、画素21
とチャネ/I/28との間での電荷移送を制御する転送
ゲート87が配置されて、いる。図面から明らかなよう
に、並列入力部28−の個数および関連の画素の個数は
各4個の順次のクロック電極に対し、通常の4相ODD
の場合のように1個ではなく2個となる。
第4図は電荷結合装置の一部を示す断面図である。この
電荷結合装置はBOCD或いはPOCD型であり、n型
の比較的薄肉の表面層40を有し、この表面層40は電
荷結合装置の電荷転送チャネルを構成し、下側面でp型
頌域411により制限されている。本例ではp型頭域4
1が出発半導体布1・体を構成し、その表面に薄肉n型
表面層40が設けられる。しかし、領域41を、pn型
接合を経て下側にあるおよびn型基板領域内しこ入り込
んでいる比較的幅狭な領域を以って構成することもでき
る。表面42は例えば酸化珪素より成る絶縁層43によ
り被覆され、この絶縁層43上にクロック電極3+4+
5+6等が配置される。電極3゜5.7等は第1多結晶
珪素層で形成でき、これらの電極を部分的に覆うように
する電極4,6.8等は第2多結晶珪素層或いは金属層
を以って構成しう、る。第4図には更にクロックライン
30〜33と、直流電圧V工およびv2を供給するライ
ン84および35と、スイッチSとをも示しである。
第3図はりニアセンサ装置の一部分を電荷転送方向に対
し直角な面で断面とした断面図であり、この部分は画素
21と、転送ゲート87と、電荷転送チャネ/I/28
とを有している。画素z1はp型領域41内に形成した
n型表面領域を有する。
このn型表面領域21はそのほぼ全周に沿ってチャネル
制限p型領域26により制限されており、この領域26
のドーピング濃度はp型頭域41のドーピング濃度より
も高く、且つ隣接画素を相互接続するおそれのあるチャ
ネルを形成しない程度に充分高く選択する。領域26は
ゲート87の下側でのみ存在させず、ここに電荷転送チ
ャネル 128に対する前記の並列入力部の1つを構成
するチャネル28(第8図)が得られるようにする。
第8図に示すように、転送ゲート37は最下側(第1)
の多結晶珪素層で形成し、並列入力部28と関連するC
ODクロック電極は第2の多結、晶珪素層(或いはA1
層)で形成する。 ド−ヒ°ン。
グした領域21の代りに誘起させた光感応<偵j或21
を用いることもできること勿論である。こσ)場合、光
感応領域の上方で酸化物層49上Gこ絶縁ゲート電極を
形成し、この絶縁ゲート雷、極Gこよりその下方の光感
応領域内に空乏領域を誘起させる。
第5および6図は、スイッチSの可能な2実施例を示す
。第5図に示す実施例では、各スイ゛ンチをMOS)ラ
ンジメタ45を以って個別Gこ眉η成し、このトランジ
スタのゲート46をシフトレジスタ88にJlし、この
シフトレジスタGこよって駆動する0関連のクロック電
極は一方の主1呪極領域、すなわち主電極領域44に接
続する。この」三゛ン1尤る羽領域は抵抗47を経て、
所望の直流電圧v1或いは■ を供給するライン84或
いは85に接計へ′する。
他方の主電極領域48はクロ・ンク電圧φ0.φ2゜φ
8或いはφ、を対応するクロック電極に供給するための
関連のクロックライン80−8.’l&こ接5する。本
例の場合、スイッチSをすべてシフトレジスタに個別に
結合する。第6図は、2つの1116次のスイッチS毎
に共通ゲート46全設けた変形例を。
示し、この場合スイッチSiはトランジスタ45,1〜
を以って構成し、スイッチSi+、をトランジスタ45
,2を以って構成する。主電極領域44,1は抵抗47
,1を経て直流電圧v1の点に接続し、主電極領域48
.■はクロックライン5o(82)に接続する。主電極
領域44,2は抵抗47,2を経て直流電圧v2の点に
接続する。主電極領域48,2はクロックライン、1(
1(aa)に接続する。本例では、2つの順次に配置し
たスイッチ毎に同時に切換わり、この切換えは後の説明
から明らかとなるように本例の4相の実施例において他
の手段を用いることなく行なうことができる。
スイッチSは特に1974年に発行されたエフ・エイチ
・ヒルおよびジー・アール・ビータ−セン氏著の本「ス
イッチング理論および論理設計入門」(F、H,Hil
l、 G、R,Petersen @Introduc
tion t。
Switching Theory and Logi
cal Design s、 WileyInt、 J
ohn Wiley and 5ons、 1974 
) 、特にその90.4章(第221〜228頁)の「
シフトレ、ジメタおよびカウンタJ (” 5hift
 Rogistersand Counters ’ 
)に記載された種類のシフトレジスタ88により駆動せ
しめう6〕。
ラインセンサ装置の作動を説明するために、作動中の1
6個の順次のクロック電極の下側の電位。
分布を第8図に示す。第7図は時間tの関数として印加
する電圧を示す。放射パターンはまず最初フォトダイオ
ード21の配列(アレイ)中で電荷パケットのパターン
に変換される。次にスイッチSをすべて、クロック電極
1+2+8等が電圧源1(。
86に接続される位置にセットする。奇数番目の電極(
1y8+5等)には低電圧■2が印カロされるため、こ
れらの電極の下側には電子に対する電位障壁が形成され
る。偶数番目の電極には高電圧v0が印加されるため、
これらの電極の下側には電位の井戸が形成される。次に
転送ゲート87に正のパルスを供給すると、画素21内
に#積されたパケットをクロック電極2 t 4 + 
6 + 8等の下側の電位の井戸に移送せしめうる。こ
の状態を瞬時taで第7および8図に示す。これらの図
から明、らかなように、この際電荷パケットは1つ置き
の、電極の下側に蓄積されている。従って4つの電極毎
に2つの電荷パケットが存在し、これら電荷パケットは
1つのクロック雷、極に対応する電位障壁により互いに
分離されている。この密な電荷蓄積のために、従来の4
相装置に比べて単位長さ当りの画素の個数を2倍にする
ことができる。
電荷パケットの個数は通常の4相作動モードに対しあま
りにも多いため、第1の電荷パケット、すなわち読出し
手段24に最も近い電荷パケットをまず最初にシフトさ
せ(場合によってはこれを読出し)、その後に次の電荷
パケットと関連するクロック電極にもクロックパルスを
供給する。この電荷パケットとその次の電荷パケットと
の間の距離が充分長い場合には、関連のスイッチSを切
換えることにより、最後に述べた電荷パケットを転送せ
しめることができる。この点を説明するために第8図に
電荷転送のシフト中の電位分布を多数の瞬時t。−t7
で示す。開始瞬時は瞬時t。であり(第7図も参照]、
この瞬時には電極7〜.16(或いは8〜16)にクロ
ックパルスが供給1され、電極1〜6は固定電圧V お
よびv2のいずれか一方の電圧にある。この形態では電
荷バケツ) Q、 I Q2およびQ8が雷、荷転送に
寄与しており、電荷′ゞケットQ4.Q5およびQ、(
ま依然として静止している。4相作動モードは既知のい
わゆるオーバラップ(重なり)クロックで達成され、4
つの順次の電極の1群内では2つの′電極の下方に電位
の井戸が形成され、残りの2つの電極の下方に雷。
位障壁が形成され、従って電荷転送に際し1つの1・・
電荷パケットに対し常に2つの電極が得られる。
瞬時t0には電荷パケットQ8が電極9および10の下
方に蓄積され、次の電荷パケットQ、からは電極7およ
び8の下方の電位障壁により分離されている。次にタロ
ツク電極70こ接続されてい・るスイッチS (或いは
スイッチS6およびS、 )を切換え、これにより電荷
パケットQ、も1n1常の4相電荷転送に寄与しうるよ
うにする(瞬時t2)。
瞬時t8では、電荷パケットQ4および95間の距離が
充分長く、スイッチS、 、 S、を切換えること・に
より電荷パケット気を電荷転送に寄与せしめうる。瞬時
t、では電荷パケットQ、がすでにクロック電極5の下
方の部分内にシフトしている。この電荷パケットQ5の
シフトと同時に雷、荷パケットQ、 I Q、 IQ、
 I Q、も通常の4相電荷転送モードでシフトする。
この瞬時では電荷パケットQ6のみがまだ電荷転送に寄
与していない。瞬時t5においては、電荷パケットQ5
が電極5および6の下方に到達しているため、電荷パケ
ットQ5および96間の距離が電荷パケットQ6をもシ
フトせしめるのに充分長くなっている。、瞬時t6およ
びt7には、すべての電荷パケットQ8〜Q6が同時に
転送される状態が示されている。従って、上述した電荷
転送モードに対しては、スイッチS(第2図)をライン
84,85(すなわち電圧)からクロックライン30〜
88へ、すなわち右側から左側に切換える必要がある。
この目的のために、上述したシフトレジスタ8Bの入力
部(右側)に一連の入力信号@1#を供給し、これら入
力信号をこのシフトレジスタと関連するり四ツクにより
左にシフトさせる。第5図に示すような単一のスイッチ
を用いた場合のこのクロックの周波数はクロックφ□。
φ8.φ8.φ4の周波数の4倍である。第6図に示す
ような二重スイッチを用いた場合、シフトレジスタのク
ロックの周波数は2分の1としうる。
第9図は前述した実施例に比べ画素数を川に高めうる一
実施例を示す回′f6図である。本例の場合1つのCO
Dラインの代りに画素21の行の上下に1つずつ計2つ
のCODライン22aおよび22bを用いる。これら電
荷結合装置の各々は前述した1・・実施例における電荷
結合装置と同じ構造にすることができ、これらを4相型
であるものとする。4つの11L極を有する各ビットを
太い実線で囲んで示し、クロック電極を細い実線で区切
って示す。この場合、画素を上側のレジスタ22aおよ
び下側のレジスタ22bに交互に接続する。この場合も
各ビット当り2つの電荷パケットをレジスタ22aおよ
び22b内に導入せしめうる。これらレジスタ内 □に
導入された電荷パケットは第1の実施例と同様にして出
力部27に転送せしめつる。本例の場合−′、2つの電
荷結合装置を用V・るために第1の実施例。
に比べて単位長さ当りの画素数を2倍にすることができ
る。この個数はレジスタ22aおよび22bの上方およ
び下方に第3および第4のレジスタをそれぞれ設けるこ
とにより更に増大せしめうろこと勿論である。
本発明は上述した実施例に限定されず・幾多の変更を加
えうろこと勿論である。例えば、本発明を前述したライ
ンセンサに用いる以外に並列入力部を有する他のあらゆ
る種類の電荷結合装置に用いることができる。更に本発
明は8相電荷結合装置や2相電荷結合装置に用いること
ができる。また上述した電荷結合装置以外に、/<ケッ
ドブ1ノゲードレジスタのような他の種類の電荷転送装
置も用いることができる。
スイッチSやシフトレジスタ88はオランダ国特許出願
第8401811号明細書に記載されたシフトレジスタ
と置き換えることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、ラインセンサを示すブロック線図)第2図は
、本発明によるラインセンサの一1名−分(を示す平面
図、 第8図は、第2図のIII−Ml線上を断面とし、矢の
方向に見た断面図、 第4図は、第2図のIV −IV線上を断面とし、矢の
方向に見た断面図、 第5および6図は、第2図に示すラインセンサに用いる
スイッチSの2つの実施例を示す回路1図、第7図は、
ラインセンサに用ψる電圧を時間tの関数として示す波
形図、 第8図は、多数の瞬時での第7図の電圧によりチャネル
中に生じる電位分布を示す線図、第9図は、本発明によ
るラインセンサの第2の実施例を示すブロック回路図で
ある。 1〜18・・・クロック電極 21・・・光感応素子(画素;フォトダイオード)、2
2・・・電荷転送装置 23・・・並列入力部24・・
・読出し手段 25・・・GCDビ゛ノド26・・・制
限領域 27・・・出力部28・・・電荷転送チャネル
29・・・クロ゛ンク電圧源、30〜33・・・クロッ
クライン 36・・・電圧源 37・・・転送ゲート38・・・シ
フトレジスタ 40・・・表面層4J・・・p型側域 
43・・・絶縁層49・・・酸化物層 フルーイランペンファブリケン

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 表面隣接半導体領域を有する半導体本体を具える電
    荷結合装置であって、前記の表面隣接半導体領域内には
    情報を表わす個々の電荷パケットを蓄積および転送する
    ための電荷転送チャネルが形成され、前記の電荷結合装
    置は更に電荷転送チャネルの上方に位置するクロック電
    極の装置を具えており、これらクロ・ツク電極は、nを
    2以上の整数とした際にn個の順次の〃ロック電極光り
    1個のみの電荷パケットが存在するように、電荷転送チ
    ャネル内の第1の位置から第2の位置に前記の電荷パケ
    ットを転送するクロック電圧を供給す:る手段に接続さ
    れており、更に電荷転送チャネルには多数の並列入力部
    が設けられており、これら並列入力部の各々は前記のク
    ロック電極の少くとも1つに対応しており、これら並列
    入力部により電荷パケットを電荷転送チャーネルに並列
    に供給しうるようにした霜、荷結合装置において、mf
    i:nよりも小さく、少くとも1である整数とした場合
    に2つの隣接する並列入力部間の距離をほぼm個の電極
    に等しくシ、電荷パケットの導入に際しクロック電極に
    クロック雷、圧を供給する手段を設け、電荷転送チャネ
    ルにおける少くとも前記の第1の位置の領域で電位障壁
    により互いに分離された電位の井戸の電位分布を得、1
    つの並列入力部と関連する各クロック電極の下方に、電
    荷パケットを蓄積しうる電位の井戸を形成し、導入され
    た電荷パケットを転送するために、クロック電圧を供給
    する前記の手段により、電荷転送方向で見てまず最初に
    第1の電荷パケットが少くとも1つの電極の距離に亘っ
    てシフトされ、その後に第1の電荷パケットおよびその
    次の第2の電荷パケットのみが同一ノ距離に亘って同時
    にシフトされ、以下同様にし、前の電荷パケットが前記
    の距離に亘ってシフトされる度毎に、最彷/7″1雪腑
    パケツトがn相電荷転送に寄与するまで次の電荷パケッ
    トがn相電荷転送に寄与するようにするようなりロッタ
    ’i圧を供給するようにしたことを特徴とする電荷結合
    装置。 み 特許請求の範囲第1項に記載の電荷結合装置ニおい
    て、電荷転送チャネルのそばに光感応素子の直線配列が
    設けられ、これら光感応素子が並列入力部を経て電荷転
    送チャネルに接続されていることを特徴とする電荷結合
    装置。 & 特許請求の範囲第2項に記載の電荷結合装置におい
    て、光感応素子の前記の直線配列がラインセンサを構成
    していることを特徴とする電荷結合装置。
JP60084667A 1984-04-24 1985-04-22 電荷結合装置 Pending JPS60242673A (ja)

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NL8401312 1984-04-24
NL8401312A NL8401312A (nl) 1984-04-24 1984-04-24 Ladingsgekoppelde inrichting.

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JPS60242673A true JPS60242673A (ja) 1985-12-02

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ID=19843851

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JP (1) JPS60242673A (ja)
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL8602615A (nl) * 1986-10-17 1988-05-16 Optische Ind De Oude Delft Nv Beeldopneeminrichting.
NL8603008A (nl) * 1986-11-27 1988-06-16 Philips Nv Ccd-beeldopneeminrichting.
US4928003A (en) * 1988-07-15 1990-05-22 Tektronix, Inc. Charge-coupled device for detecting spatial variation in the intensity of electromagnetic radiation
US9239428B2 (en) 2011-09-28 2016-01-19 Ksaria Corporation Epoxy dispensing system and dispensing tip used therewith

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4178614A (en) * 1978-08-24 1979-12-11 Rca Corporation Readout of a densely packed CCD

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL7510311A (nl) * 1975-09-02 1977-03-04 Philips Nv Ladingsoverdrachtinrichting.
NL8301977A (nl) * 1983-06-03 1985-01-02 Philips Nv Ladinggekoppelde beeldopneeminrichting en geheugeninrichting met hoge bitdichtheid.

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4178614A (en) * 1978-08-24 1979-12-11 Rca Corporation Readout of a densely packed CCD

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NL8401312A (nl) 1985-11-18
EP0159758A1 (en) 1985-10-30
AU4161185A (en) 1985-10-31

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