JPS60236632A - 第４世代ｃｔ装置 - Google Patents
第４世代ｃｔ装置Info
- Publication number
- JPS60236632A JPS60236632A JP59094799A JP9479984A JPS60236632A JP S60236632 A JPS60236632 A JP S60236632A JP 59094799 A JP59094799 A JP 59094799A JP 9479984 A JP9479984 A JP 9479984A JP S60236632 A JPS60236632 A JP S60236632A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- collimator
- scintillator
- thickness
- detector
- scintillator element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 8
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910001385 heavy metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000379 polymerizing effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
- PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N tungstate Chemical compound [O-][W]([O-])(=O)=O PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20183—Arrangements for preventing or correcting crosstalk, e.g. optical or electrical arrangements for correcting crosstalk
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20185—Coupling means between the photodiode and the scintillator, e.g. optical couplings using adhesives with wavelength-shifting fibres
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は固体放射線検出器を具備する第４世代ＣＴ装置
に関するものである。
に関するものである。
放射線断層撮影装置たとえば第３世代あるいは第４世代
のＸ線ＣＴ装置は、複数の検出素子を高密度に一次元配
列してなるＸ線検出器を有している。Ｘ線検出器として
は、従来主流を占めていたガス電離箱の代わりに、近年
、シンチレータとフォトダイオードとを組み合わせた固
体シンチレーション検出器が汎用されてきた。というの
は、固体シンチレーション検出器に使用されるフォトダ
イオードは高密度実装が可能であるので、高分解能のＣ
Ｔ両画像得るためには検出素子の配列ピッチをできるだ
け小さくしなければならないという要請に応することが
できるか、らである。
のＸ線ＣＴ装置は、複数の検出素子を高密度に一次元配
列してなるＸ線検出器を有している。Ｘ線検出器として
は、従来主流を占めていたガス電離箱の代わりに、近年
、シンチレータとフォトダイオードとを組み合わせた固
体シンチレーション検出器が汎用されてきた。というの
は、固体シンチレーション検出器に使用されるフォトダ
イオードは高密度実装が可能であるので、高分解能のＣ
Ｔ両画像得るためには検出素子の配列ピッチをできるだ
け小さくしなければならないという要請に応することが
できるか、らである。
従来のシンチレーション検出器を構成する多チヤンネル
型のシンチレータ素子体３を第１図に示す。 ゛ このシンチレータ素子体３は複数のシンチレータ素子１
を同一厚さのコリメータ板２，２ａを介して接着するこ
とにより形成したものである。
型のシンチレータ素子体３を第１図に示す。 ゛ このシンチレータ素子体３は複数のシンチレータ素子１
を同一厚さのコリメータ板２，２ａを介して接着するこ
とにより形成したものである。
コリメータ板２は通常Ｘ＠吸収効率の大きい重金属、例
えば鉛やタングステンの薄板でその両面にはシンチレー
タで発生した光を効率良く反射するために光反射剤が塗
布゛されている。
えば鉛やタングステンの薄板でその両面にはシンチレー
タで発生した光を効率良く反射するために光反射剤が塗
布゛されている。
第２図は多チヤンネル型のフォトダイオード９を示すも
のであり、一枚の半導体基板５上に複数のフォトダイオ
ード素子６が形成され、信号取り出し用の端子７から絶
縁基板８上の印刷配線端子上へワイヤーボンディング（
図示せず）等で電気的に接続されている。
のであり、一枚の半導体基板５上に複数のフォトダイオ
ード素子６が形成され、信号取り出し用の端子７から絶
縁基板８上の印刷配線端子上へワイヤーボンディング（
図示せず）等で電気的に接続されている。
上述したようなシンチレータ素子体３とフォトダイオー
ド９とを透明接着剤（例えばガラス接着剤）を用いて重
合接着すれば、第３図に示すような多チヤンネル型の放
射線検出器のブロック１０を構成することができる。
ド９とを透明接着剤（例えばガラス接着剤）を用いて重
合接着すれば、第３図に示すような多チヤンネル型の放
射線検出器のブロック１０を構成することができる。
このようにして得られたブロック１０を多数円周状に配
置して１台のＣＴ装置の検出器が出き上るが、実装上の
容易さを考慮すると通常ブロック１０間にわずかのクリ
アランスｈを持たせることが必要である。
置して１台のＣＴ装置の検出器が出き上るが、実装上の
容易さを考慮すると通常ブロック１０間にわずかのクリ
アランスｈを持たせることが必要である。
第４図は隣接配置の２個のブロック１０を示すもので、
両者間にクリアランスｈを持たせている。
両者間にクリアランスｈを持たせている。
このような従来の検出器列は、各ブロック１０゜１０の
それぞれの端部に配置されたシンチレータ素子１ａ、ｌ
ａにおける検出感度のＸ線入射角度による変化が、クリ
アランスｈの存在に基因して端部以外の他のシンチレー
タ素子１．１．・・・・・・の場合と異なるという問題
があった。
それぞれの端部に配置されたシンチレータ素子１ａ、ｌ
ａにおける検出感度のＸ線入射角度による変化が、クリ
アランスｈの存在に基因して端部以外の他のシンチレー
タ素子１．１．・・・・・・の場合と異なるという問題
があった。
周知のように第４世代ＣＴ装置においては、検出器に入
射するＸ線は検出器軸に対して様々な角度を持って入射
する。
射するＸ線は検出器軸に対して様々な角度を持って入射
する。
Ｘ線入射角度によって検出器感度が変化することは仕方
がないが、この変化の状態が各シンチレータ素子１間で
一様でないと、収集データの適正な補正が困ｌ１１１１
となる。
がないが、この変化の状態が各シンチレータ素子１間で
一様でないと、収集データの適正な補正が困ｌ１１１１
となる。
一例として、コリメータ板２が厚さ０．１ｗｍの鉛製、
シンチレータ素子１がタングステン酸亜鉛（ｚｎｗ０４
）の場合について計算した結果を第５図に示す。
シンチレータ素子１がタングステン酸亜鉛（ｚｎｗ０４
）の場合について計算した結果を第５図に示す。
同図は、横軸にＸ線入射角度θを、縦軸に相対感度をと
り、端部以外のシンチレータ素子１の相対感度を実線Ｐ
で、端部のシンチレータ素子１ａの相対感度をクリアラ
ンスｈをパラメータとして３種表わしたグラフである。
り、端部以外のシンチレータ素子１の相対感度を実線Ｐ
で、端部のシンチレータ素子１ａの相対感度をクリアラ
ンスｈをパラメータとして３種表わしたグラフである。
同図に示すグラフから、クリアランスｈが大きくなるほ
どシンチレータ素子１ａの相対感度がシンチレータ素子
１より大きくなることが明らかである。この理由は、隣
接チャンネルに入射したＸ線の吸収量が、シンチレータ
素子１と１ａで異なることである。すなわち、シンチレ
ータ素子ＬＫは、隣接シンチレータ１あるいは１ａを通
ったＸ線が入射するのに対しシンチレータ素子１８には
、クリアランスｈ（空気層）を通ったＸ線が入射するか
らシンチレータ１ａでのＸ線吸収量が他より大きくなる
のである。
どシンチレータ素子１ａの相対感度がシンチレータ素子
１より大きくなることが明らかである。この理由は、隣
接チャンネルに入射したＸ線の吸収量が、シンチレータ
素子１と１ａで異なることである。すなわち、シンチレ
ータ素子ＬＫは、隣接シンチレータ１あるいは１ａを通
ったＸ線が入射するのに対しシンチレータ素子１８には
、クリアランスｈ（空気層）を通ったＸ線が入射するか
らシンチレータ１ａでのＸ線吸収量が他より大きくなる
のである。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、全ての
シンチレータ素子のＸ線入射角度による感度の変化が均
一な検出器を具備した第４世代ＣＴ装置を提供すること
を目的とするものである。
シンチレータ素子のＸ線入射角度による感度の変化が均
一な検出器を具備した第４世代ＣＴ装置を提供すること
を目的とするものである。
上記目的を達成するための本発明の棚、敬は、シンチレ
ータ素子と原子番号の大きい元素からなるコリメータ板
とを交互に積層して形成したシンチレータ素子体を多数
円形状に配置して構成した放射線検出器を具備する第４
世代ＣＴ装置において、前記シンチレータ素子体の端部
のコリメータ板の厚さを端部以外のコリメータ板の厚さ
より大きくしたことを特徴とするものである。
ータ素子と原子番号の大きい元素からなるコリメータ板
とを交互に積層して形成したシンチレータ素子体を多数
円形状に配置して構成した放射線検出器を具備する第４
世代ＣＴ装置において、前記シンチレータ素子体の端部
のコリメータ板の厚さを端部以外のコリメータ板の厚さ
より大きくしたことを特徴とするものである。
以下に本発明の実施例を第６図を参照して説明する。尚
、同図に示すＣＴ装置の検出器において第４図に示すも
のと同等の機能を有するものには同一の符号を付し、そ
の詳細な説明は省略する。
、同図に示すＣＴ装置の検出器において第４図に示すも
のと同等の機能を有するものには同一の符号を付し、そ
の詳細な説明は省略する。
この検出器が第４図に示すものと相違する点は、 ゛各
ブロックＩＯＡの端部に配置したコリメータ２ｂの厚さ
を端部以外のコリメータ２の厚さよりも大きくしたこと
である。
ブロックＩＯＡの端部に配置したコリメータ２ｂの厚さ
を端部以外のコリメータ２の厚さよりも大きくしたこと
である。
例えば、コリメータ板２．２８はいずれも鉛製のものを
用いるが、コリメータ２の厚さを０．１（ｍ）、コリメ
ータ２ａの厚さを０．２調の厚さに形成する。
用いるが、コリメータ２の厚さを０．１（ｍ）、コリメ
ータ２ａの厚さを０．２調の厚さに形成する。
上記構成の検出器の作用を、第７図に示すシンチレータ
素子１．１８に対するＸ線入射角度θと相対感度との関
係を示すグラフをも参照して説明する。
素子１．１８に対するＸ線入射角度θと相対感度との関
係を示すグラフをも参照して説明する。
尚、第７図に示すグラフは第５図に示すグラフと同様横
軸にＸ線入射角塵θを、縦軸に相対感度をとって示す。
軸にＸ線入射角塵θを、縦軸に相対感度をとって示す。
第７図に示すグラフと第５図に示すグラフとの比較から
明らかなように、本実施例の検出器は端部のシンチレー
タ素子１ａの相対感度カ他ノシンチレータ素子１の相対
感度Ｐより低下し、かつ、従来の検出器の場合とは逆に
クリアランスｈが大きくなるほどその相対感度は他のシ
ンチレータ素子の相対感度Ｐに接近する。
明らかなように、本実施例の検出器は端部のシンチレー
タ素子１ａの相対感度カ他ノシンチレータ素子１の相対
感度Ｐより低下し、かつ、従来の検出器の場合とは逆に
クリアランスｈが大きくなるほどその相対感度は他のシ
ンチレータ素子の相対感度Ｐに接近する。
これは、端部のコリメータ２ａを従来の場合よりも厚く
したことによって、クリアランスｈを有するブロック１
０Ａ、１０Ａ間の空間からコリメータ２ａを介してシン
チレータ素子１ａＫ入射するＸ線がこのコリメータ２ａ
により大幅に減衰することに基因するものであり、Ｘｔ
Ｊ入射角度θの変化による相対感度の検出素子間の不均
一性を低減することができる。
したことによって、クリアランスｈを有するブロック１
０Ａ、１０Ａ間の空間からコリメータ２ａを介してシン
チレータ素子１ａＫ入射するＸ線がこのコリメータ２ａ
により大幅に減衰することに基因するものであり、Ｘｔ
Ｊ入射角度θの変化による相対感度の検出素子間の不均
一性を低減することができる。
本発明は上述した実施例に限定されるものではなく、そ
の要旨の範囲内で種々の変形が可能である。
の要旨の範囲内で種々の変形が可能である。
例えば、上述した実施例ではコリメータ２の厚さを０．
１（閣）、コリメータ２ａの厚さを０．２（ｔｒａｎ
）とした場合について説明したが、特にこれらの厚さに
限定されるものではない。
１（閣）、コリメータ２ａの厚さを０．２（ｔｒａｎ
）とした場合について説明したが、特にこれらの厚さに
限定されるものではない。
以上詳述した本発明によれば、端部のコリメータの厚さ
を他の部分のコリメータの厚さより大きくすることによ
って、検出感度のＸ線入射角度による変化が均一な検出
器を具備した第４世代ＣＴ装置を提供することができる
。
を他の部分のコリメータの厚さより大きくすることによ
って、検出感度のＸ線入射角度による変化が均一な検出
器を具備した第４世代ＣＴ装置を提供することができる
。
第１図は多チヤンネル型のシンチレータ素子体の従来例
を示す斜視図、第２図は多チヤンネル型のフォトダイオ
ードを示す概略斜視図、第３図は放射線検出器のブロッ
クの従来例を示す斜視図、第４図は第３図に示すブロッ
クを配列した状態を示す概略断面図、第５図は第４図に
示すブロックによるＸ線入射角度と相対感度との関係を
示すグラフ、第６図は本発明の実施例の放射線検出器の
ブロックの配列状態を示すｆ５：略断面図、第７図は第
６図に示すブロックによるＸ線入射角度と相対感度との
関係を示すグラフである。 １．１ａ・・・シンチレータ素子、２．２ａ−・・コリ
メータ板、ｈ・・・クリアランス。
を示す斜視図、第２図は多チヤンネル型のフォトダイオ
ードを示す概略斜視図、第３図は放射線検出器のブロッ
クの従来例を示す斜視図、第４図は第３図に示すブロッ
クを配列した状態を示す概略断面図、第５図は第４図に
示すブロックによるＸ線入射角度と相対感度との関係を
示すグラフ、第６図は本発明の実施例の放射線検出器の
ブロックの配列状態を示すｆ５：略断面図、第７図は第
６図に示すブロックによるＸ線入射角度と相対感度との
関係を示すグラフである。 １．１ａ・・・シンチレータ素子、２．２ａ−・・コリ
メータ板、ｈ・・・クリアランス。
Claims (1)
- シンチレータ素子と原子番号の大きい元素からなるコリ
メータ板とを交互に積層して形成したシンチレータ素子
体を多数円形状に配置して構成した放射線検出器を具備
する第４世代ＣＴ装置において、前記シンチレータ素子
体の端部のコリメータ板の厚さｆｆ端部以外のコリメー
タ板の厚さより大きくしたことを特徴とする第４世代Ｃ
Ｔ装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59094799A JPS60236632A (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | 第４世代ｃｔ装置 |
| US06/730,041 US4725734A (en) | 1984-05-10 | 1985-05-03 | Radiation-detecting device for computed tomography |
| DE19853516934 DE3516934A1 (de) | 1984-05-10 | 1985-05-10 | Strahlungsdetektorvorrichtung fuer die rechnergestuetzte tomographie |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59094799A JPS60236632A (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | 第４世代ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60236632A true JPS60236632A (ja) | 1985-11-25 |
| JPH0332371B2 JPH0332371B2 (ja) | 1991-05-13 |
Family
ID=14120105
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59094799A Granted JPS60236632A (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | 第４世代ｃｔ装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4725734A (ja) |
| JP (1) | JPS60236632A (ja) |
| DE (1) | DE3516934A1 (ja) |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4881251A (en) * | 1986-07-31 | 1989-11-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Computed tomograph apparatus |
| DE3737159A1 (de) * | 1987-11-02 | 1989-05-11 | Steffel Gmbh Spezialmaschbau | Vorrichtung zur allseitigen roentgenpruefung eines drehbar abgestuetzten kraftfahrzeugreifens waehrend einer reifenumdrehung |
| US4982096A (en) * | 1988-01-06 | 1991-01-01 | Hitachi Medical Corporation | Multi-element radiation detector |
| US4951222A (en) * | 1988-06-09 | 1990-08-21 | Bethlehem Steel Corporation | Method and system for dimensional and weight measurements of articles of manufacture by computerized tomography |
| US4870279A (en) * | 1988-06-20 | 1989-09-26 | General Electric Company | High resolution X-ray detector |
| US4918714A (en) * | 1988-08-19 | 1990-04-17 | Varian Associates, Inc. | X-ray tube exposure monitor |
| JP2906504B2 (ja) * | 1990-01-05 | 1999-06-21 | 株式会社日立メディコ | 放射線ｃｔ装置 |
| CA2194942A1 (en) | 1996-01-18 | 1997-07-19 | William P. Novak | Radiation detector with improved response |
| EP0795631A1 (en) | 1996-02-23 | 1997-09-17 | Saint-Gobain/Norton Industrial Ceramics Corporation | Scintillation crystals having reduced afterglow and method of making the same |
| JP3763611B2 (ja) * | 1996-07-12 | 2006-04-05 | 株式会社東芝 | Ｘ線ｃｔスキャナ |
| EP1051643B1 (en) * | 1998-10-28 | 2005-09-14 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of manufacturing a layered scintillation detector |
| US6480563B2 (en) * | 2000-12-19 | 2002-11-12 | Ge Medical Systems Global Technology Co., Llc | System and method of aligning scintillator crystalline structures for computed tomography imaging |
| US6519313B2 (en) * | 2001-05-30 | 2003-02-11 | General Electric Company | High-Z cast reflector compositions and method of manufacture |
| US20050017182A1 (en) * | 2003-07-25 | 2005-01-27 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Registered collimator device for nuclear imaging camera and method of forming the same |
| JP4718949B2 (ja) * | 2005-09-22 | 2011-07-06 | 株式会社東芝 | Ｘ線ｃｔ装置及びｘ線ｃｔ装置製造方法 |
| US9419046B2 (en) * | 2015-01-21 | 2016-08-16 | Terapede Systems Inc. | Integrated scintillator grid with photodiodes |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4005292A (en) * | 1974-01-24 | 1977-01-25 | G. D. Searle & Co. | Mass counting of radioactivity samples |
| GB1564385A (en) * | 1977-03-24 | 1980-04-10 | Emi Ltd | Arrangements for detecting ionising radiation |
| US4180737A (en) * | 1978-02-06 | 1979-12-25 | General Electric Company | X-ray detector |
| DE2840965C2 (de) * | 1978-09-20 | 1982-11-11 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Strahlendiagnostikgerät für die Erzeugung von Schichtbildern eines Aufnahmeobjekts |
| JPS5648560A (en) * | 1979-09-29 | 1981-05-01 | Kagaku Gijutsucho Hoshasen Igaku Sogo Kenkyusho | Position detector for radiant ray |
| US4338521A (en) * | 1980-05-09 | 1982-07-06 | General Electric Company | Modular radiation detector array and module |
| US4414473A (en) * | 1981-02-23 | 1983-11-08 | General Electric Company | Resilient mount for modular detector cell |
| JPS5988676A (ja) * | 1982-11-12 | 1984-05-22 | Toshiba Corp | 多チヤンネル放射線検出器ブロツクの製造方法 |
| US4533489A (en) * | 1983-12-07 | 1985-08-06 | Harshaw/Filtrol Partnership | Formable light reflective compositions |
-
1984
- 1984-05-10 JP JP59094799A patent/JPS60236632A/ja active Granted
-
1985
- 1985-05-03 US US06/730,041 patent/US4725734A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-05-10 DE DE19853516934 patent/DE3516934A1/de active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3516934A1 (de) | 1985-11-14 |
| DE3516934C2 (ja) | 1988-02-11 |
| JPH0332371B2 (ja) | 1991-05-13 |
| US4725734A (en) | 1988-02-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS60236632A (ja) | 第４世代ｃｔ装置 | |
| AU743023B2 (en) | A method and a device for planar beam radiography and a radiation detector | |
| CA1154881A (en) | Apparatus for detecting the location of incident radiation | |
| US6452186B1 (en) | Detector for the detection for electromagnetic radiation | |
| JPH07235652A (ja) | Ｘ線イメージ捕獲エレメントおよびその製造方法 | |
| US6841784B2 (en) | Radiation sensor device | |
| JP2008510131A (ja) | シンチレータおよび抗散乱グリッドの配置 | |
| CA2399007C (en) | A method and a device for radiography and a radiation detector | |
| US6671348B2 (en) | X-ray image detecting apparatus | |
| US6365900B1 (en) | Sensing head and collimator for gamma-camera | |
| AU2001242943A1 (en) | A method and a device for radiography and a radiation detector | |
| JPS6040985A (ja) | 放射線検出器 | |
| JPH0425513B2 (ja) | ||
| JPH042989A (ja) | Ｘ線ｃｔ装置用検出器およびその製造方法 | |
| JP2002207082A (ja) | ２次元放射線検出器とその製造方法 | |
| JPH01191085A (ja) | 多素子放射線検出器及びその製造方法 | |
| JPS6276478A (ja) | ２次元的放射線検出器 | |
| US4418452A (en) | X-Ray detector | |
| JPH08160145A (ja) | Ｘ線検出器 | |
| JPH09127248A (ja) | 放射線検出器 | |
| WO2019097847A1 (ja) | 放射線撮像パネル、放射線撮像装置および放射線撮像システム | |
| JPS58118977A (ja) | 放射線検出器 | |
| JPH07148148A (ja) | Ｘ線ｃｔ装置用の２次元アレイ型放射線検出器 | |
| US20030136913A1 (en) | Radiation detector with a detection field comprising scintillators and photodiodes | |
| JPH03295493A (ja) | Ｘ線ｃｔ用検出器 |