JPS60203809A - スペクトル・デ−タのしきい値設定方式 - Google Patents
スペクトル・デ−タのしきい値設定方式Info
- Publication number
- JPS60203809A JPS60203809A JP59061981A JP6198184A JPS60203809A JP S60203809 A JPS60203809 A JP S60203809A JP 59061981 A JP59061981 A JP 59061981A JP 6198184 A JP6198184 A JP 6198184A JP S60203809 A JPS60203809 A JP S60203809A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- threshold value
- peak
- threshold
- spectrum
- spectrum data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、スペクトル・データを表示した表示画面上で
該スペクトル・データのベースの形に合わせてしきい値
を設定することによりスペクトル・データのピークの強
度を正しく判定し得るようこしたスペクトル・データの
しきい値設定方式に則するものである。
該スペクトル・データのベースの形に合わせてしきい値
を設定することによりスペクトル・データのピークの強
度を正しく判定し得るようこしたスペクトル・データの
しきい値設定方式に則するものである。
第１図は従来のしきい値設定方式を説明するための図で
ある。
ある。
スペクトロメータで得られたスペクトル・データについ
て、その中からピーク位置を探し、多数のピークのうち
ある程度大きい強度をもつピークを取り出し、そのピー
ク情報を他の例えばライブラリ検索等に使用することが
ある。このとき、ピークの強度を判定する目的でしきい
値が用いられる。例えば第１図ｆａ＋に示すスペクトル
ｓ１に対して、しきい値りを直線で与えると、しきい値
しより大きい強度をもつピークａ、ｂとＣが取り出され
るが、ピークｄとｅは強度が弱いため取り出されない。
て、その中からピーク位置を探し、多数のピークのうち
ある程度大きい強度をもつピークを取り出し、そのピー
ク情報を他の例えばライブラリ検索等に使用することが
ある。このとき、ピークの強度を判定する目的でしきい
値が用いられる。例えば第１図ｆａ＋に示すスペクトル
ｓ１に対して、しきい値りを直線で与えると、しきい値
しより大きい強度をもつピークａ、ｂとＣが取り出され
るが、ピークｄとｅは強度が弱いため取り出されない。
従来、このような処理は、スペクトロメータで得られた
スペクトル・データをディスプレイ画面上に表示し、こ
の表示画面を見ながらしきい値を設定し入力している。
スペクトル・データをディスプレイ画面上に表示し、こ
の表示画面を見ながらしきい値を設定し入力している。
しがし従来のしきい値は１、図示の如く、直線によるレ
ベル設定であるため、例えば第１図ｔｂ＋に示すスペク
トルｓ２の如く、スペクトルのベースが傾いているよう
な場合であっても、第１図＋ａｌに示すスペクトルｓ１
に対して設定する＠〉同様に、直線による一定のレベル
でしきい値りが設定される。そのため、第１図（ｂ）に
示すスペクトルＳ２の場合には、実際には強度の大きい
ピークａが選択されないばがりでなく、逆に強度の小さ
いピークｄとｅ選択されてしまうと云う現象が生じてし
まい、スペクトルのピークの強度判定を正しく行うこと
ができない、と云う問題があった。
ベル設定であるため、例えば第１図ｔｂ＋に示すスペク
トルｓ２の如く、スペクトルのベースが傾いているよう
な場合であっても、第１図＋ａｌに示すスペクトルｓ１
に対して設定する＠〉同様に、直線による一定のレベル
でしきい値りが設定される。そのため、第１図（ｂ）に
示すスペクトルＳ２の場合には、実際には強度の大きい
ピークａが選択されないばがりでなく、逆に強度の小さ
いピークｄとｅ選択されてしまうと云う現象が生じてし
まい、スペクトルのピークの強度判定を正しく行うこと
ができない、と云う問題があった。
本発明は、上記の考察に基づくものであって、スペクト
ルのベースが水平に一直線でない場合であっても、正し
くピークの強度の判定が行えるようなしきい値の設定が
可能なスペクトル・データのしきい値設定方式を提供す
ることを目的とするものである。そしてそのため本発明
のスペクトル・データのしきい値設定方式は、表示装置
と、入力装置と、少なくともスペクトル・データとしき
い値を記憶する記憶装置と、処理装置とを備え、該処理
装置が、上記記憶装置に記憶されたスペクトル・データ
を上記表示装置に送出して表示し、上記入力装置からの
入力情報と指示に基づいてしきい値を設定して上記記憶
装置に記４．ａすると共に、上記スペクトル・データの
ピーク位置をサーチして該ピーク位置のスペクトル・デ
ータの大きさとしきい値とを比較し、しきい値より大き
いピーク情報を抽出する計算機システムにおいて、上記
処理装置は、関数発生手段を有し、上記入力装置がら上
記スペクトル・データが表示された画面に対応する位置
情報と関数情報とによりしきい値の設定が指示された場
合には上記位置情報と関数情報とを基にしきい値を設定
し、該しきい値を上記記憶装置に記憶する処理を行うよ
うに構成されたことを特徴とするものである。
ルのベースが水平に一直線でない場合であっても、正し
くピークの強度の判定が行えるようなしきい値の設定が
可能なスペクトル・データのしきい値設定方式を提供す
ることを目的とするものである。そしてそのため本発明
のスペクトル・データのしきい値設定方式は、表示装置
と、入力装置と、少なくともスペクトル・データとしき
い値を記憶する記憶装置と、処理装置とを備え、該処理
装置が、上記記憶装置に記憶されたスペクトル・データ
を上記表示装置に送出して表示し、上記入力装置からの
入力情報と指示に基づいてしきい値を設定して上記記憶
装置に記４．ａすると共に、上記スペクトル・データの
ピーク位置をサーチして該ピーク位置のスペクトル・デ
ータの大きさとしきい値とを比較し、しきい値より大き
いピーク情報を抽出する計算機システムにおいて、上記
処理装置は、関数発生手段を有し、上記入力装置がら上
記スペクトル・データが表示された画面に対応する位置
情報と関数情報とによりしきい値の設定が指示された場
合には上記位置情報と関数情報とを基にしきい値を設定
し、該しきい値を上記記憶装置に記憶する処理を行うよ
うに構成されたことを特徴とするものである。
以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説明する。
第２図は本発明が適用される計算機システムの１実施例
構成を示す図、第３図は本発明の１実施例を説明する図
、第４図は本発明が適用される処理装置の１実施例構成
を示す図、第５図は本発明が適用されるシステムによる
処理の流れを説明する図である。図において、ｌはＣＰ
Ｕ （中央処理装置）、２はメモリ、３は磁気ディスク
、４は表示装置、５はキーボード、６はインタフェイス
、７はスペクトロメータ、１１は関数発生部′、１２は
ピーク検出部、１３はピーク強度判定部、１４は制御部
、１５は記憶装置、１６は表示装置、１７は入力装置を
それぞれ示している。
構成を示す図、第３図は本発明の１実施例を説明する図
、第４図は本発明が適用される処理装置の１実施例構成
を示す図、第５図は本発明が適用されるシステムによる
処理の流れを説明する図である。図において、ｌはＣＰ
Ｕ （中央処理装置）、２はメモリ、３は磁気ディスク
、４は表示装置、５はキーボード、６はインタフェイス
、７はスペクトロメータ、１１は関数発生部′、１２は
ピーク検出部、１３はピーク強度判定部、１４は制御部
、１５は記憶装置、１６は表示装置、１７は入力装置を
それぞれ示している。
第２図に示す計算機システムにおいて、ＣＰＵ１は、ス
ペクトロメータ７で測定されたスペクトル・データを取
り込み、メモリ２に記憶したり、メモリ２に記憶された
スペクトル・データを表示装置４に送出して表示し、キ
ーボード５より１点又は数点の座標と直線の傾きゃ曲線
の関数等が指定されると、これらの指定に従ってしきい
値を設定してこれをメモリ２に記憶する。そしてメモリ
２に記憶されたスペクトル・データを順次読み出してそ
のピーク位置を探し、探し出したピーク位置の大きさを
しきい値と比較してしきい値より大きいか否かを判定す
る。ピーク位置の大きさがしきい値よりも大きい場合に
は、そのピーク情報を表示語Ｗ４に表示し、そのピーク
情報をオペレータに知らせる。なお、スペクトル・デー
タが多い場合には、外部記憶装置である磁気ディスク３
等を利用して保存される。
ペクトロメータ７で測定されたスペクトル・データを取
り込み、メモリ２に記憶したり、メモリ２に記憶された
スペクトル・データを表示装置４に送出して表示し、キ
ーボード５より１点又は数点の座標と直線の傾きゃ曲線
の関数等が指定されると、これらの指定に従ってしきい
値を設定してこれをメモリ２に記憶する。そしてメモリ
２に記憶されたスペクトル・データを順次読み出してそ
のピーク位置を探し、探し出したピーク位置の大きさを
しきい値と比較してしきい値より大きいか否かを判定す
る。ピーク位置の大きさがしきい値よりも大きい場合に
は、そのピーク情報を表示語Ｗ４に表示し、そのピーク
情報をオペレータに知らせる。なお、スペクトル・デー
タが多い場合には、外部記憶装置である磁気ディスク３
等を利用して保存される。
ベースが傾いているスペクトルのしきい値を設定した本
発明の１実施例を示したのが第３図である。第３図にお
いて、スペクトルＳ、のピークは、強度の大きい順にａ
、ｂ、ｃ、ｄ、ｅとなる。ここでピークａとｂを選択し
ようとする場合には、傾きをもった直線でしきい値りを
設定する。このときのしきい値りの設定方法は、例えば
２点Ｐ。
発明の１実施例を示したのが第３図である。第３図にお
いて、スペクトルＳ、のピークは、強度の大きい順にａ
、ｂ、ｃ、ｄ、ｅとなる。ここでピークａとｂを選択し
ようとする場合には、傾きをもった直線でしきい値りを
設定する。このときのしきい値りの設定方法は、例えば
２点Ｐ。
Ｑを指示することにより行う。また、一方の点Ｐのみを
指示し且つその点Ｐを通る直線の傾きを指示することに
より行ってもよい―このようにして設定したしきい値に
よりスペクトルＳ、のピークの汰きさを各横軸の点で比
較し、ピークａ、！：ｂを選択的に取り出すことができ
る。同様に、ピークａ、ｂ、ｃを取り出したい場合には
、しきい値Ｍよりなる直線を用いればよい。
指示し且つその点Ｐを通る直線の傾きを指示することに
より行ってもよい―このようにして設定したしきい値に
よりスペクトルＳ、のピークの汰きさを各横軸の点で比
較し、ピークａ、！：ｂを選択的に取り出すことができ
る。同様に、ピークａ、ｂ、ｃを取り出したい場合には
、しきい値Ｍよりなる直線を用いればよい。
スペクトルのベースは、上述の如く、単に傾きをもつ場
合だけでなく、うねりをもったり、その他種々の形をも
つ場合がある。そのような場合には、しきい値の設定も
単に傾きをもった直線として設定するのではなく、うね
りに合った折れ線や関数の曲線により設定するとよい。
合だけでなく、うねりをもったり、その他種々の形をも
つ場合がある。そのような場合には、しきい値の設定も
単に傾きをもった直線として設定するのではなく、うね
りに合った折れ線や関数の曲線により設定するとよい。
スペクトルのベースが傾いている場合にそのベースのｔ
ｔｐきに合わせて第３図図示の如くしきい値を設定し得
るようにした本発明の１実施例構成を示したのが第４図
である。第４図において、関数発注部１１は、例えば３
点の座標と直線との指定によって３点を直線で結ぶ折れ
線を描き、或いは３点の座標と円弧との指定によって３
点を結ぶ円弧を描くものであり、その他座標と関数との
指定に基づいて種々の曲線を描くものである。ピーク検
出部１２は、記憶装置１５から順次読み出されたスペク
トル・データのピーク位置を探し出すものであり、ピー
ク強度判定部１３は、ピーク検出部１２によって検出さ
れたピーク位置のスペクトル・データの大きさとしきい
値とを比較し、ピーク強度を判定するものである。記憶
装置１５は、スペクトル・データ及びしきい値を記憶す
るものである。制御部１４は、記憶装置１５からスペク
トル・データを読み出して表示装置１６に送出して表示
したり、また、入力装置１７から表示画面に対応する座
標情報や関数情報が入力され、しきい値の設定が指示さ
れると、しきい値の設定、ピーク検出、ピーク強度判定
等の各処理を行ったりして、ピーク情報を抽出するため
の制御を行うものである。なお、ピーク情報は、表示装
置１６に表示するだけでなく、他の出力装置に出力して
もよい。また、座標情報等の入力に、ライト・ペンやそ
の他のポインティング・デバイスを用いてもよいことは
勿論である。
ｔｐきに合わせて第３図図示の如くしきい値を設定し得
るようにした本発明の１実施例構成を示したのが第４図
である。第４図において、関数発注部１１は、例えば３
点の座標と直線との指定によって３点を直線で結ぶ折れ
線を描き、或いは３点の座標と円弧との指定によって３
点を結ぶ円弧を描くものであり、その他座標と関数との
指定に基づいて種々の曲線を描くものである。ピーク検
出部１２は、記憶装置１５から順次読み出されたスペク
トル・データのピーク位置を探し出すものであり、ピー
ク強度判定部１３は、ピーク検出部１２によって検出さ
れたピーク位置のスペクトル・データの大きさとしきい
値とを比較し、ピーク強度を判定するものである。記憶
装置１５は、スペクトル・データ及びしきい値を記憶す
るものである。制御部１４は、記憶装置１５からスペク
トル・データを読み出して表示装置１６に送出して表示
したり、また、入力装置１７から表示画面に対応する座
標情報や関数情報が入力され、しきい値の設定が指示さ
れると、しきい値の設定、ピーク検出、ピーク強度判定
等の各処理を行ったりして、ピーク情報を抽出するため
の制御を行うものである。なお、ピーク情報は、表示装
置１６に表示するだけでなく、他の出力装置に出力して
もよい。また、座標情報等の入力に、ライト・ペンやそ
の他のポインティング・デバイスを用いてもよいことは
勿論である。
次に、処理の流れを第５図を参照しつつ説明する。
■ スペクトロメータ７で試料の測定を行う。次に■の
処理を行う。
処理を行う。
■ 測定データを取り込み、メモリ２に記憶する。
次に■の処理を行う。
■ メモリ２に記憶した測定データを表示装置４に送出
して表示する。次に■の処理を行う。
して表示する。次に■の処理を行う。
■ 表示画面にメニュー或いはメソセージを表示し、オ
ペレータにスペクトルのベースの形に合ったしきい値を
設定させる。次に■の処理を行う。
ペレータにスペクトルのベースの形に合ったしきい値を
設定させる。次に■の処理を行う。
■ キーボード５からの入力により設定されたしきい値
をメモリ２に記憶する。次に■の処理を行う。
をメモリ２に記憶する。次に■の処理を行う。
■ メモリ２からスペクトル・データを順次読み出す。
次に■の処理を行う。
■ 読み出したデータが最終データか否かを調べる。
Ｙｅｓの場合には処理終了とし、Ｎｏの場合には■の処
理を行う。
理を行う。
■ 読み出したデータからピーク位置を探す。次に■の
処理を行う。
処理を行う。
■ ピーク位置があったか否かを調べる。
Ｙｅｓの場合には［相］の処理を行い、Ｎｏの場合には
■の処理に戻る。
■の処理に戻る。
［相］ 探し出したピーク位置のデータの大きさと先に
■の処理で記憶したしきい値とを比較する。
■の処理で記憶したしきい値とを比較する。
次に■の処理を行う。
■ ピーク位置のデータの大きさがしきい値より大きい
か否かを調べる。
か否かを調べる。
Ｙｅｓの場合には＠の処理を行い、Ｎｏ、の場合には■
の処理に戻る。
の処理に戻る。
＠ ピーク情報を表示装置４に送出して表示し、オペレ
ータに知らせる。そして■の処理に戻る。
ータに知らせる。そして■の処理に戻る。
なお、上記■ないし＠の処理は、第２図図示システムで
はＣＰ Ｕ 、１において行われ、第４図図示システム
では処理装置において行われる。
はＣＰ Ｕ 、１において行われ、第４図図示システム
では処理装置において行われる。
以上の説明からあきらかなように、本発明によれば、し
きい値をスペクトルのベースと同じような形に設定する
ので、スペクトルのピークの強度の判定を正しく行うこ
とができる。また、従来の方式では、ベースの形が複雑
な場合にはベース・ライン補正という別の操作を行った
後にスペクトルのピークの強度の判定を行っていたが、
本発明によれば、このような手間が不要となり処理効率
の向上を図ることができる。
きい値をスペクトルのベースと同じような形に設定する
ので、スペクトルのピークの強度の判定を正しく行うこ
とができる。また、従来の方式では、ベースの形が複雑
な場合にはベース・ライン補正という別の操作を行った
後にスペクトルのピークの強度の判定を行っていたが、
本発明によれば、このような手間が不要となり処理効率
の向上を図ることができる。
第１図は従来のしきい値設定方式を説明するための図、
第２図は本発明が適用される計算機システムの１実施例
構成を示す図、第３図は本発明の１実施例を説明する図
、第４図は本発明が適用される処理装置の１実施例構成
を示す図、第５図は本発明が適用されるシステムによる
処理の流れを説明する図である。 １・・・ＣＰＵ （中央処理装置）、２・・・メモリ、
３・・・磁気ディスク、４・・・表示装置、５・・・キ
ーボード、６・・・インクフェイス、７・・・スペクト
ロメータ、１１・・・関数発生部、１２・・・ピーク検
出部、１３・・・ピーク強度判定部、１４・・・制御部
、１５・・・記憶装置、１６・・・表示装置、１７・・
・入力装置。 特許出願人 日本電子株式会社 代理人弁理士 阿 部 龍 吉 ７１ 図 り 臂 ３ （２） タ ４ １２１
第２図は本発明が適用される計算機システムの１実施例
構成を示す図、第３図は本発明の１実施例を説明する図
、第４図は本発明が適用される処理装置の１実施例構成
を示す図、第５図は本発明が適用されるシステムによる
処理の流れを説明する図である。 １・・・ＣＰＵ （中央処理装置）、２・・・メモリ、
３・・・磁気ディスク、４・・・表示装置、５・・・キ
ーボード、６・・・インクフェイス、７・・・スペクト
ロメータ、１１・・・関数発生部、１２・・・ピーク検
出部、１３・・・ピーク強度判定部、１４・・・制御部
、１５・・・記憶装置、１６・・・表示装置、１７・・
・入力装置。 特許出願人 日本電子株式会社 代理人弁理士 阿 部 龍 吉 ７１ 図 り 臂 ３ （２） タ ４ １２１
Claims (1)
- 表示装置と、入力装置と、少なくともスペクトル・デー
タとしきい値を記憶する記憶装置と、処理装置とを備え
、該処理装置が、上記記憶装置に記憶されたスペクトル
・データを上記表示装置に送出して表示し、上記人力装
置からの人力情報と指示に基づいてしきい値を設定して
上記記憶装置に記憶すると共に、上記スペクトル・デー
タのピーク位置をサーチして該ピーク位置のスペクトル
・データの大きさとしきい値とを比較し、しきい値より
大きいピーク情報を抽出する計算機システムにおいて、
上記処理装置は、関数発生手段を有し、上記入力装置か
ら上記スペクトル・データが表示された画面に対応する
位置情報と関数情報とによりしきい値の設定が指示され
た場合には上記位置情報と関数情報とを基にしきい値を
設定し、該しきい値を上記記憶装置に記憶する処理を行
うように構成されたことを特徴とするスペクトル・デー
タのしきい値設定方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59061981A JPS60203809A (ja) | 1984-03-29 | 1984-03-29 | スペクトル・デ−タのしきい値設定方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59061981A JPS60203809A (ja) | 1984-03-29 | 1984-03-29 | スペクトル・デ−タのしきい値設定方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60203809A true JPS60203809A (ja) | 1985-10-15 |
Family
ID=13186863
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59061981A Pending JPS60203809A (ja) | 1984-03-29 | 1984-03-29 | スペクトル・デ−タのしきい値設定方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60203809A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0264449A (ja) * | 1988-08-31 | 1990-03-05 | Yokogawa Electric Corp | 高周波誘導結合プラズマ質量分析計 |
| WO2018066360A1 (ja) * | 2016-10-07 | 2018-04-12 | パイオニア株式会社 | 検査装置、検査方法、コンピュータプログラム及び記録媒体 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5144435A (ja) * | 1974-09-25 | 1976-04-16 | Nippon Electric Co | |
| JPS5744811A (en) * | 1980-08-29 | 1982-03-13 | Jeol Ltd | Detecting method of areal center position of peak waveform |
| JPS593346A (ja) * | 1982-06-30 | 1984-01-10 | Hitachi Ltd | ピ−クスレツシユホ−ルド決定方式 |
-
1984
- 1984-03-29 JP JP59061981A patent/JPS60203809A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5144435A (ja) * | 1974-09-25 | 1976-04-16 | Nippon Electric Co | |
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| WO2018066360A1 (ja) * | 2016-10-07 | 2018-04-12 | パイオニア株式会社 | 検査装置、検査方法、コンピュータプログラム及び記録媒体 |
| US10801954B2 (en) | 2016-10-07 | 2020-10-13 | Pioneer Corporation | Inspection apparatus, inspection method, computer program and recording medium |
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