JPH0829358A - 画像処理による製品検査方法 - Google Patents
画像処理による製品検査方法Info
- Publication number
- JPH0829358A JPH0829358A JP16656394A JP16656394A JPH0829358A JP H0829358 A JPH0829358 A JP H0829358A JP 16656394 A JP16656394 A JP 16656394A JP 16656394 A JP16656394 A JP 16656394A JP H0829358 A JPH0829358 A JP H0829358A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- product
- inspection
- inspection product
- image
- time
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 １台の単眼カメラにより検査製品を撮影して
得た画像を処理して、検査製品の三次元形状を検出して
三次元欠陥を検出する。 【構成】 ベルトコンベア２により搬送している検査製
品１を１台の単眼カメラ３により撮影する。画像処理部
６では、時刻(t) での画像と時刻(t+1) での画像を処理
することにより、検査製品１の三次元形状を求める。そ
して検査製品１の三次元形状と良品の三次元形状を比較
することにより、検査製品の三次元欠陥を検出する。
得た画像を処理して、検査製品の三次元形状を検出して
三次元欠陥を検出する。 【構成】 ベルトコンベア２により搬送している検査製
品１を１台の単眼カメラ３により撮影する。画像処理部
６では、時刻(t) での画像と時刻(t+1) での画像を処理
することにより、検査製品１の三次元形状を求める。そ
して検査製品１の三次元形状と良品の三次元形状を比較
することにより、検査製品の三次元欠陥を検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は画像処理による製品検査
方法に関し、一台の単眼カメラにより得た画像を処理し
て製品検査を行う方法において、三次元の欠陥を検出で
きるように工夫したものである。
方法に関し、一台の単眼カメラにより得た画像を処理し
て製品検査を行う方法において、三次元の欠陥を検出で
きるように工夫したものである。
【０００２】
【従来の技術】ラインに載って流れてくる製品の検査を
行うために、画像処理装置が利用されている。この画像
処理装置では、カメラにより製品を撮影し、撮影して得
た画像信号をＡ／Ｄコンバータにより量子化し、量子化
した画像情報（デジタル画像情報）をメモリに記憶す
る。そしてコンピュータは、メモリに記憶されているデ
ジタル画像情報を読み出し、信号処理（後述）をして製
品の欠陥検出をする。
行うために、画像処理装置が利用されている。この画像
処理装置では、カメラにより製品を撮影し、撮影して得
た画像信号をＡ／Ｄコンバータにより量子化し、量子化
した画像情報（デジタル画像情報）をメモリに記憶す
る。そしてコンピュータは、メモリに記憶されているデ
ジタル画像情報を読み出し、信号処理（後述）をして製
品の欠陥検出をする。
【０００３】製品の欠陥検出のためコンピュータで行う
信号処理手順は次のようにして行う。なお、ここでは画
像信号は一台の単眼カメラで撮影して得た画像信号であ
る。
信号処理手順は次のようにして行う。なお、ここでは画
像信号は一台の単眼カメラで撮影して得た画像信号であ
る。
【０００４】 まず検査製品を撮影し・デジタル化し
・メモリしたデジタル画像情報から、製品の輪郭（エッ
ジ）を求める。輪郭は、デジタル画像情報に対して、差
分フィルタ処理と閾値処理をすることによって得られ
る。また画像の輪郭を追跡していくことにより、製品に
対応する閉領域が得られる。 予め、正常な製品を撮影し画像処理して得た輪郭
（これを「基準輪郭」と称す）をメモリしておく。この
基準輪郭と、検査製品の輪郭（これを「検査輪郭」と称
す）とのマッチング（比較検査）をとる。 マッチングの結果、基準輪郭と検査輪郭との差が無
ければ合検品と判定し、差があるときには欠陥品と判定
する。
・メモリしたデジタル画像情報から、製品の輪郭（エッ
ジ）を求める。輪郭は、デジタル画像情報に対して、差
分フィルタ処理と閾値処理をすることによって得られ
る。また画像の輪郭を追跡していくことにより、製品に
対応する閉領域が得られる。 予め、正常な製品を撮影し画像処理して得た輪郭
（これを「基準輪郭」と称す）をメモリしておく。この
基準輪郭と、検査製品の輪郭（これを「検査輪郭」と称
す）とのマッチング（比較検査）をとる。 マッチングの結果、基準輪郭と検査輪郭との差が無
ければ合検品と判定し、差があるときには欠陥品と判定
する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで一台の単眼カ
メラで撮影した画像信号を画像処理をすることにより製
品欠陥を検出する従来技術では、基準輪郭と検査輪郭と
のマッチングをとるだけで欠陥検出をしているため、製
品の「へこみ」や「出っぱり」等の三次元の欠陥を検出
することができなかった。
メラで撮影した画像信号を画像処理をすることにより製
品欠陥を検出する従来技術では、基準輪郭と検査輪郭と
のマッチングをとるだけで欠陥検出をしているため、製
品の「へこみ」や「出っぱり」等の三次元の欠陥を検出
することができなかった。
【０００６】本発明は、上記従来技術に鑑み、一台の単
眼カメラで撮影して得た画像信号を画像処理して製品検
査を行う方法において、三次元の欠陥を検出することの
できる画像処理による製品検査方法を提供することを目
的とする。
眼カメラで撮影して得た画像信号を画像処理して製品検
査を行う方法において、三次元の欠陥を検出することの
できる画像処理による製品検査方法を提供することを目
的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明の構成は、一方向に移動している検査製品を、一台の
単眼のカメラで撮影し、撮影して前記カメラの投影面上
に形成された画像を処理することにより検査製品の良否
を判定する画像処理による製品検査方法であって、時刻
(t) における検査製品の投影面上の検査製品画像と、時
刻(t+1) における検査製品の投影面上の検査製品画像と
から求めた動きベクトルと、時刻(t) における検査製品
の三次元座標と、検査製品画像の投影面上での二次元座
標との関係式と、時刻(t) における検査製品の三次元座
標と、時刻(t+1) における検査製品の三次元座標との関
係式と、時刻(t+1) における検査製品の三次元座標と、
検査製品画像の投影面上での二次元座標との関係式とか
ら、検査製品の三次元座標を求め、この求めた三次元座
標の値と、あらかじめ設定した三次元座標値とを比較す
ることにより検査製品の良否を判定することを特徴とす
る。
明の構成は、一方向に移動している検査製品を、一台の
単眼のカメラで撮影し、撮影して前記カメラの投影面上
に形成された画像を処理することにより検査製品の良否
を判定する画像処理による製品検査方法であって、時刻
(t) における検査製品の投影面上の検査製品画像と、時
刻(t+1) における検査製品の投影面上の検査製品画像と
から求めた動きベクトルと、時刻(t) における検査製品
の三次元座標と、検査製品画像の投影面上での二次元座
標との関係式と、時刻(t) における検査製品の三次元座
標と、時刻(t+1) における検査製品の三次元座標との関
係式と、時刻(t+1) における検査製品の三次元座標と、
検査製品画像の投影面上での二次元座標との関係式とか
ら、検査製品の三次元座標を求め、この求めた三次元座
標の値と、あらかじめ設定した三次元座標値とを比較す
ることにより検査製品の良否を判定することを特徴とす
る。
【０００８】また上記課題を解決する本発明の構成は、
水平面内にｘ，ｙを鉛直方向にｚ軸を規定した三次元座
標内で、ｘ軸方向に速度ｖで移動している検査製品を、
前記ｘ，ｙ軸に合わせて水平面内にＸ，Ｙ軸を規定し、
光軸をｚ軸に投影面をＸ，Ｙ軸に合わせた一台の単眼カ
メラで撮影し、撮影した画像を処理することにより検査
製品の良否を判定する画像処理による製品検査装置であ
って、時刻(t) における検査製品の投影面上の検査製品
画像と、時刻(t+1) における検査製品の投影面上の検査
製品画像とから求めた動きベクトルＶm と、時刻(t) に
おける検査製品の三次元座標と、検査製品画像の投影面
上での二次元座標との関係式（１）と、時刻(t) におけ
る検査製品の三次元座標と、時刻(t+1) における検査製
品の三次元座標との関係式（３）（４）（５）と、時刻
(t+1) における検査製品の三次元座標と、検査製品画像
の投影面上での二次元座標との関係式（８）（９）とか
ら、関係式（１０）（１１）（１２）で示す検査製品の
三次元座標ｘi (t) ，ｙi (t) ，ｚi (t) を求め、この
求めた三次元座標の値と、あらかじめ設定した三次元座
標値とを比較することにより検査製品の良否を判定する
ことを特徴とする。
水平面内にｘ，ｙを鉛直方向にｚ軸を規定した三次元座
標内で、ｘ軸方向に速度ｖで移動している検査製品を、
前記ｘ，ｙ軸に合わせて水平面内にＸ，Ｙ軸を規定し、
光軸をｚ軸に投影面をＸ，Ｙ軸に合わせた一台の単眼カ
メラで撮影し、撮影した画像を処理することにより検査
製品の良否を判定する画像処理による製品検査装置であ
って、時刻(t) における検査製品の投影面上の検査製品
画像と、時刻(t+1) における検査製品の投影面上の検査
製品画像とから求めた動きベクトルＶm と、時刻(t) に
おける検査製品の三次元座標と、検査製品画像の投影面
上での二次元座標との関係式（１）と、時刻(t) におけ
る検査製品の三次元座標と、時刻(t+1) における検査製
品の三次元座標との関係式（３）（４）（５）と、時刻
(t+1) における検査製品の三次元座標と、検査製品画像
の投影面上での二次元座標との関係式（８）（９）とか
ら、関係式（１０）（１１）（１２）で示す検査製品の
三次元座標ｘi (t) ，ｙi (t) ，ｚi (t) を求め、この
求めた三次元座標の値と、あらかじめ設定した三次元座
標値とを比較することにより検査製品の良否を判定する
ことを特徴とする。
【数２】
【０００９】
【作用】本発明では１台の単眼カメラで撮影して得た、
時刻(t) の検査製品画像と時刻(t+1) の検査製品画像を
画像処理することにより、検査製品の三次元形状を検出
でき、検査製品の三次元形状と良品の三次元形状を比較
することにより、検査製品の三次元欠陥の検出ができ
る。
時刻(t) の検査製品画像と時刻(t+1) の検査製品画像を
画像処理することにより、検査製品の三次元形状を検出
でき、検査製品の三次元形状と良品の三次元形状を比較
することにより、検査製品の三次元欠陥の検出ができ
る。
【００１０】
【実施例】以下に本発明の実施例を図面に基づき詳細に
説明する。
説明する。
【００１１】図１は本発明の実施例のシステム構成を示
す。同図に示すように検査製品１はベルトコンベア２に
載せられて、矢印Ａ方向に搬送される。単眼の一台のカ
メラ３は、一定速度ｖで動くベルトコンベア２の上方に
配置されており、検査製品１を上方から撮影して画像信
号Ｅを出力する。画像信号Ｅは、Ａ／Ｄコンバータ４に
より量子化されてデジタル画像信号ｅとなり、このデジ
タル画像信号ｅはメモリ５に記憶される。画像信号処理
部６は、記憶されたデジタル画像信号ｅを読み出し、次
に述べる信号処理をして、検査製品１の欠陥（二次元欠
陥のみならず三次元欠陥も含む）を検出する。そして処
理画像はモニタ７に映し出される。
す。同図に示すように検査製品１はベルトコンベア２に
載せられて、矢印Ａ方向に搬送される。単眼の一台のカ
メラ３は、一定速度ｖで動くベルトコンベア２の上方に
配置されており、検査製品１を上方から撮影して画像信
号Ｅを出力する。画像信号Ｅは、Ａ／Ｄコンバータ４に
より量子化されてデジタル画像信号ｅとなり、このデジ
タル画像信号ｅはメモリ５に記憶される。画像信号処理
部６は、記憶されたデジタル画像信号ｅを読み出し、次
に述べる信号処理をして、検査製品１の欠陥（二次元欠
陥のみならず三次元欠陥も含む）を検出する。そして処
理画像はモニタ７に映し出される。
【００１２】なお三次元の座標軸ｘ，ｙ，ｚは、図１中
に示す方向にとった。つまり検査製品１の搬送方向Ａと
ｘ方向とを同じにし、水平面内でｘ方向と直交する方向
をｙ方向とし、カメラ３の光軸方向（鉛直方向）をｚ方
向とした。
に示す方向にとった。つまり検査製品１の搬送方向Ａと
ｘ方向とを同じにし、水平面内でｘ方向と直交する方向
をｙ方向とし、カメラ３の光軸方向（鉛直方向）をｚ方
向とした。
【００１３】次に画像信号処理部６による信号処理手順
を、図２〜図３を参照して説明する。図２及び図３は処
理画像を示し、両図の中で示す投影面（Ｉmage Ｐlan
e）Ｓ I とは図４に示すように、カメラの焦点Ｆから焦
点距離ｆだけ離れた位置にあり、ｘｙ面に対し平行な面
である。なお、三次元の座標軸は小文字のｘ，ｙ，ｚで
示し、投影面ＳI 上の座標軸を大文字のＸ，Ｙで示す。
を、図２〜図３を参照して説明する。図２及び図３は処
理画像を示し、両図の中で示す投影面（Ｉmage Ｐlan
e）Ｓ I とは図４に示すように、カメラの焦点Ｆから焦
点距離ｆだけ離れた位置にあり、ｘｙ面に対し平行な面
である。なお、三次元の座標軸は小文字のｘ，ｙ，ｚで
示し、投影面ＳI 上の座標軸を大文字のＸ，Ｙで示す。
【００１４】図２及び図３において、１(t) は時刻ｔに
おける検査製品、１(t+1) は時刻(t+1) における検査製
品、Ｆはカメラ３の焦点、ｆは焦点距離を、それぞれ示
す。
おける検査製品、１(t+1) は時刻(t+1) における検査製
品、Ｆはカメラ３の焦点、ｆは焦点距離を、それぞれ示
す。
【００１５】画像信号処理部６では、まず、時刻ｔにお
ける画像と、時刻ｔ＋１における画像から動きベクトル
Ｖm を求める。つまり図２に示すように、時刻ｔにおい
て検査製品１(t) の任意の点ｑが投影面ＳI 上に投影さ
れた点をＱ(t) 、時刻ｔ＋１において検査製品１(t+1)
の任意の点ｑが投影面ＳI 上に投影された点をＱ(t+1)
とすると、点Ｑ(t) を始点とし点Ｑ(t+1) を終点とする
ベクトルが動きベクトルＶm となる。この動きベクトル
Ｖm は、時刻ｔでの画像と、時刻ｔ＋１での画像との間
で、対応する多数の各点について求める。
ける画像と、時刻ｔ＋１における画像から動きベクトル
Ｖm を求める。つまり図２に示すように、時刻ｔにおい
て検査製品１(t) の任意の点ｑが投影面ＳI 上に投影さ
れた点をＱ(t) 、時刻ｔ＋１において検査製品１(t+1)
の任意の点ｑが投影面ＳI 上に投影された点をＱ(t+1)
とすると、点Ｑ(t) を始点とし点Ｑ(t+1) を終点とする
ベクトルが動きベクトルＶm となる。この動きベクトル
Ｖm は、時刻ｔでの画像と、時刻ｔ＋１での画像との間
で、対応する多数の各点について求める。
【００１６】次に時刻ｔと時刻ｔ＋１の画像に対し、差
分フィルタ処理と閾値処理をすることにより、検査製品
１(t) , １(t+1) に対応する輪郭を得る。そして検査製
品画像を示す輪郭で囲まれた閉領域からスタートする動
きベクトル（検査製品１の特徴点から得た動きベクト
ル）は残し、この閉領域の外側からスタートする動きベ
クトル（ベルトコンベア２の特徴点から得た動きベクト
ル）を消去する。
分フィルタ処理と閾値処理をすることにより、検査製品
１(t) , １(t+1) に対応する輪郭を得る。そして検査製
品画像を示す輪郭で囲まれた閉領域からスタートする動
きベクトル（検査製品１の特徴点から得た動きベクト
ル）は残し、この閉領域の外側からスタートする動きベ
クトル（ベルトコンベア２の特徴点から得た動きベクト
ル）を消去する。
【００１７】図３に示すように、検査製品１のｘ軸方
向、ｙ軸方向、ｚ軸方向の移動量をＴ x ，Ｔy ，Ｔz と
し、カメラ３の焦点距離をｆとし、時刻ｔにおける検査
製品１(t) 内の特徴点ｑi (t) の三次元座標を（ｘ
i (t) ，ｙi (t) ，ｚi (t) ）とし、点ｑi (t) の投影
面ＳI 上の点Ｑi (t) の座標を（Ｘi (t) ，Ｙi (t) ）
とすると、点ｑi (t) と点Ｑi (t) との間には次式
（１）の関係が成立する。なお特徴点は多数あり、その
１つを代表してｑi (t) で示している。
向、ｙ軸方向、ｚ軸方向の移動量をＴ x ，Ｔy ，Ｔz と
し、カメラ３の焦点距離をｆとし、時刻ｔにおける検査
製品１(t) 内の特徴点ｑi (t) の三次元座標を（ｘ
i (t) ，ｙi (t) ，ｚi (t) ）とし、点ｑi (t) の投影
面ＳI 上の点Ｑi (t) の座標を（Ｘi (t) ，Ｙi (t) ）
とすると、点ｑi (t) と点Ｑi (t) との間には次式
（１）の関係が成立する。なお特徴点は多数あり、その
１つを代表してｑi (t) で示している。
【００１８】
【数３】
【００１９】更に時刻ｔ＋１における検査製品１(t+1)
内の特徴点ｑi (t+1) の三次元座標をｘi (t+1) ，ｙi
(t+1) ，ｚi (t+1) とすると、点ｑi (t) と点ｑi (t+
1) との間には次式（２）の関係が成立する。
内の特徴点ｑi (t+1) の三次元座標をｘi (t+1) ，ｙi
(t+1) ，ｚi (t+1) とすると、点ｑi (t) と点ｑi (t+
1) との間には次式（２）の関係が成立する。
【００２０】
【数４】
【００２１】ベルトコンベア１の移動速度はｖであり、
また図１に示すようにｘ軸，ｙ軸，ｚ軸の方向を決めた
のでＴx ＝ｖ，Ｔy ＝０，Ｔz ＝０となる。したがって
次式（３）〜（５）が成立する。
また図１に示すようにｘ軸，ｙ軸，ｚ軸の方向を決めた
のでＴx ＝ｖ，Ｔy ＝０，Ｔz ＝０となる。したがって
次式（３）〜（５）が成立する。
【００２２】
【数５】
【００２３】上述した式（２）〜（５）から次式（６）
〜（９）で示す連立方程式が得られる。
〜（９）で示す連立方程式が得られる。
【００２４】
【数６】
【００２５】上式（６）〜（９）で示す連立方程式を解
くことによって特徴点ｑi (t) の三次元座標ｘi (t) ，
ｙi (t) ，ｚi (t) を、次式（10）〜（12）で示すよう
に得ることができる。
くことによって特徴点ｑi (t) の三次元座標ｘi (t) ，
ｙi (t) ，ｚi (t) を、次式（10）〜（12）で示すよう
に得ることができる。
【００２６】
【数７】
【００２７】なお式（１０）（１１）（１２）において
Ｘi (t+1) −Ｘi (t) は、前述した動きベクトルＶm で
ある。
Ｘi (t+1) −Ｘi (t) は、前述した動きベクトルＶm で
ある。
【００２８】このようにして検査製品１の各特徴点ｑi
の三次元座標を計算してこれを検査三次元座標とする。
の三次元座標を計算してこれを検査三次元座標とする。
【００２９】一方、欠陥のない正常な検査製品に対して
も、上述した処理をして各特徴点の三次元座標を予め求
めておく。この三次元座標を基準三次元座標として記憶
しておく。
も、上述した処理をして各特徴点の三次元座標を予め求
めておく。この三次元座標を基準三次元座標として記憶
しておく。
【００３０】そして基準三次元座標と検査三次元座標と
を比較し、両者の差がなければ良品であると判定し、両
者に差があるときには欠陥があると判定する。
を比較し、両者の差がなければ良品であると判定し、両
者に差があるときには欠陥があると判定する。
【００３１】
【発明の効果】以上実施例と共に具体的に説明したよう
に本発明によれば、一台の単眼カメラにより得た異なる
時刻の画像を処理して、検査製品の各点の三次元座標を
求めることができるので、検査製品の各点の三次元座標
と、正常な製品の各点の三次元座標を比較することによ
り、検査製品の三次元欠陥も検出することができる。
に本発明によれば、一台の単眼カメラにより得た異なる
時刻の画像を処理して、検査製品の各点の三次元座標を
求めることができるので、検査製品の各点の三次元座標
と、正常な製品の各点の三次元座標を比較することによ
り、検査製品の三次元欠陥も検出することができる。
【図１】本発明の実施例を示すシステム構成図。
【図２】本発明の画像処理状態を示す説明図。
【図３】本発明の画像処理状態を示す説明図。
【図４】実施例の配置状態を示す構成図。
１ 検査製品 ２ ベルトコンベア ３ カメラ ４ Ａ／Ｄコンバータ ５ メモリ ６ 画像信号処理部 ７ モニタ
Claims (2)
- 【請求項１】 一方向に移動している検査製品を、一台
の単眼のカメラで撮影し、撮影して前記カメラの投影面
上に形成された画像を処理することにより検査製品の良
否を判定する画像処理による製品検査方法であって、 時刻(t) における検査製品の投影面上の検査製品画像
と、時刻(t+1) における検査製品の投影面上の検査製品
画像とから求めた動きベクトルと、 時刻(t) における検査製品の三次元座標と、検査製品画
像の投影面上での二次元座標との関係式と、 時刻(t) における検査製品の三次元座標と、時刻(t+1)
における検査製品の三次元座標との関係式と、 時刻(t+1) における検査製品の三次元座標と、検査製品
画像の投影面上での二次元座標との関係式とから、検査
製品の三次元座標を求め、この求めた三次元座標の値
と、あらかじめ設定した三次元座標値とを比較すること
により検査製品の良否を判定することを特徴とする画像
処理による製品検査方法。 - 【請求項２】 水平面内にｘ，ｙを鉛直方向にｚ軸を規
定した三次元座標内で、ｘ軸方向に速度ｖで移動してい
る検査製品を、 前記ｘ，ｙ軸に合わせて水平面内にＸ，Ｙ軸を規定し、
光軸をｚ軸に投影面をＸ，Ｙ軸に合わせた一台の単眼カ
メラで撮影し、 撮影した画像を処理することにより検査製品の良否を判
定する画像処理による製品検査装置であって、 時刻(t) における検査製品の投影面上の検査製品画像
と、時刻(t+1) における検査製品の投影面上の検査製品
画像とから求めた動きベクトルＶm と、 時刻(t) における検査製品の三次元座標と、検査製品画
像の投影面上での二次元座標との関係式（１）と、 時刻(t) における検査製品の三次元座標と、時刻(t+1)
における検査製品の三次元座標との関係式（３）（４）
（５）と、 時刻(t+1) における検査製品の三次元座標と、検査製品
画像の投影面上での二次元座標との関係式（８）（９）
とから、関係式（１０）（１１）（１２）で示す検査製
品の三次元座標ｘi (t) ，ｙi (t) ，ｚi (t) を求め、
この求めた三次元座標の値と、あらかじめ設定した三次
元座標値とを比較することにより検査製品の良否を判定
することを特徴とする画像処理による製品検査方法。 【数１】
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16656394A JPH0829358A (ja) | 1994-07-19 | 1994-07-19 | 画像処理による製品検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16656394A JPH0829358A (ja) | 1994-07-19 | 1994-07-19 | 画像処理による製品検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0829358A true JPH0829358A (ja) | 1996-02-02 |
Family
ID=15833588
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16656394A Withdrawn JPH0829358A (ja) | 1994-07-19 | 1994-07-19 | 画像処理による製品検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0829358A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7021107B2 (en) | 2002-12-17 | 2006-04-04 | Usui Kokusai Sangyo Kaisha Limited | Bending processor of pipe |
| US7104100B2 (en) | 2003-12-15 | 2006-09-12 | Usui Kokusai Sangyo Kaisha Limited | Bending device for tube |
| US9934251B2 (en) | 2008-08-08 | 2018-04-03 | Nikon Corporation | Search supporting system, search supporting method and search supporting program |
| CN112014404A (zh) * | 2020-08-27 | 2020-12-01 | Oppo（重庆）智能科技有限公司 | 组件检测方法、装置、***、电子设备及存储介质 |
-
1994
- 1994-07-19 JP JP16656394A patent/JPH0829358A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7021107B2 (en) | 2002-12-17 | 2006-04-04 | Usui Kokusai Sangyo Kaisha Limited | Bending processor of pipe |
| US7104100B2 (en) | 2003-12-15 | 2006-09-12 | Usui Kokusai Sangyo Kaisha Limited | Bending device for tube |
| US9934251B2 (en) | 2008-08-08 | 2018-04-03 | Nikon Corporation | Search supporting system, search supporting method and search supporting program |
| US10846323B2 (en) | 2008-08-08 | 2020-11-24 | Nikon Corporation | Search supporting system, search supporting method and search supporting program |
| US11615135B2 (en) | 2008-08-08 | 2023-03-28 | Nikon Corporation | Search supporting system, search supporting method and search supporting program |
| CN112014404A (zh) * | 2020-08-27 | 2020-12-01 | Oppo（重庆）智能科技有限公司 | 组件检测方法、装置、***、电子设备及存储介质 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5480914B2 (ja) | 点群データ処理装置、点群データ処理方法、および点群データ処理プログラム | |
| JPH0829358A (ja) | 画像処理による製品検査方法 | |
| JPH0875454A (ja) | 測距装置 | |
| JPS60200141A (ja) | 鏡面物体の表面形状検出方式 | |
| CN108204982A (zh) | 多视角影像撷取装置及多视角影像检测设备 | |
| JPH05141930A (ja) | ３次元形状計測装置 | |
| CN112710662A (zh) | 生成方法及装置、生成***和存储介质 | |
| CA2230197C (en) | Strand orientation sensing | |
| JP2939577B2 (ja) | 物体認識方法及び装置 | |
| JPH0615236A (ja) | メロンの外観品質評価装置 | |
| JPH10208066A (ja) | 被検査物のエッジライン抽出方法及びこの方法を用いた外観検査方法 | |
| WO2022260028A1 (ja) | 外観検査装置、外観検査方法、画像生成装置および画像生成方法 | |
| JP2879357B2 (ja) | 形状判定方法 | |
| JP2787149B2 (ja) | 立体形状認識装置 | |
| JP3415868B2 (ja) | ３次元物体の外形形状検出装置 | |
| JPH0755440A (ja) | 形状認識装置 | |
| JP2986902B2 (ja) | 画像処理装置 | |
| CN116724211A (zh) | 变形计算装置、变形测量装置以及变形计算方法 | |
| JPS6228613A (ja) | ３次元位置入力装置 | |
| JPS62221077A (ja) | パタ−ン検出装置 | |
| JPS61193013A (ja) | 表面の微小変位検出方法 | |
| CN115507761A (zh) | 内螺纹小径测量方法及装置 | |
| JPS5850417A (ja) | 距離測定方式 | |
| JPH10228542A (ja) | 三次元計測方法及びその装置 | |
| JP2000182056A (ja) | 画像処理装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20011002 |