JPS60194337A - ビン検査装置 - Google Patents
ビン検査装置Info
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- JPS60194337A JPS60194337A JP5162184A JP5162184A JPS60194337A JP S60194337 A JPS60194337 A JP S60194337A JP 5162184 A JP5162184 A JP 5162184A JP 5162184 A JP5162184 A JP 5162184A JP S60194337 A JPS60194337 A JP S60194337A
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- bottle
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- bottle mouth
- mouth part
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、ビン検査装置に係シ、特に1コンベア上を
移動中のガラスピン等のビン口部の割れ。
移動中のガラスピン等のビン口部の割れ。
欠け、汚れ等の各種の欠陥を検出する装置に関するもの
である。
である。
従来この種のビン検査装置としては、第1図に示すもの
があった。第1図は従来のビン検査装置を示す概略構成
図である。図において、1はガ2ヌビン等のビン、11
はビン1の天面部、12はビンlのビン口部、laはビ
ン口s12に付いた欠陥、2は帯状の光源であり、この
光源2はビン1の進行方向に沿って両側に設けられてい
る。3は光電変換器、310は集光レンズ、320は、
光電変換器3内に設けられ、自己走査機能を有するホト
ダイオード・アレイより成る光電変換素子、4は二値化
回路、5は良否判定回路、7はビン回転駆動ベルト、8
はビン搬送コンベア、70はビン回転駆動ベルト7とビ
ン搬送コンペア8とから構成され、ビン1を回転させな
がら搬送するビン搬送手段である。
があった。第1図は従来のビン検査装置を示す概略構成
図である。図において、1はガ2ヌビン等のビン、11
はビン1の天面部、12はビンlのビン口部、laはビ
ン口s12に付いた欠陥、2は帯状の光源であり、この
光源2はビン1の進行方向に沿って両側に設けられてい
る。3は光電変換器、310は集光レンズ、320は、
光電変換器3内に設けられ、自己走査機能を有するホト
ダイオード・アレイより成る光電変換素子、4は二値化
回路、5は良否判定回路、7はビン回転駆動ベルト、8
はビン搬送コンベア、70はビン回転駆動ベルト7とビ
ン搬送コンペア8とから構成され、ビン1を回転させな
がら搬送するビン搬送手段である。
次に、上記第1図に示す従来のビン検査装置の動作につ
いて説明する。ビン1はビン回転駆動ベルト7によシ回
転されながらビン搬送コンベア8上ar動t、て行く。
いて説明する。ビン1はビン回転駆動ベルト7によシ回
転されながらビン搬送コンベア8上ar動t、て行く。
この時、ビン搬送コンベア8の左右に設置された2つの
帯状の光源2によシ、ビン1のビン口部12及び天面部
11に光が照射される。光電変換素子320 e内蔵し
た光電変換器3は、ビン搬送コンベア80走行方向に沿
って細長い視野を持つ様に設置されておシ、これによシ
、回転されながら移動してくるビン1が1/2回転する
間、光電変換器3はビンlt−監視している。このため
、ビン1のビン口部12に欠陥1aがあった場合には、
この欠陥1aにより光が散乱され、この散乱光の一部は
ビン搬送コンベア8の上方向に向って進み光電変換器3
に入る。ここで、光は光電変換器3によシ光電変換され
た後に、二値化回路4において適当な設定値で二値化さ
れ、この二値化された出力信号は良否判定回路5に入力
される。ところが、ビン1のビン口部12にネジが切ら
れたビンである場合には、ネジの始まシ部、すなわち天
面部11に近い方のネジの切り始めの部分からも上記欠
陥1aと同様に光が散乱され、この散乱光がビン搬送コ
ンベア8の上方向に向って進み光電変換器3に入力する
ことがある。したがって、二値化回路4から出力される
信号には、欠陥1aからの信号とビン1のネジの始まシ
部からの信号とが混在している。そして、良否判定回路
5では、異常部分の面積に相当する量を計測し、この量
がある設定値を超えたものを欠陥であるとしておシ、こ
れによシ、欠陥1aからの信号とビン1のネジの始まシ
部からの信号とを分離する様にしている。
帯状の光源2によシ、ビン1のビン口部12及び天面部
11に光が照射される。光電変換素子320 e内蔵し
た光電変換器3は、ビン搬送コンベア80走行方向に沿
って細長い視野を持つ様に設置されておシ、これによシ
、回転されながら移動してくるビン1が1/2回転する
間、光電変換器3はビンlt−監視している。このため
、ビン1のビン口部12に欠陥1aがあった場合には、
この欠陥1aにより光が散乱され、この散乱光の一部は
ビン搬送コンベア8の上方向に向って進み光電変換器3
に入る。ここで、光は光電変換器3によシ光電変換され
た後に、二値化回路4において適当な設定値で二値化さ
れ、この二値化された出力信号は良否判定回路5に入力
される。ところが、ビン1のビン口部12にネジが切ら
れたビンである場合には、ネジの始まシ部、すなわち天
面部11に近い方のネジの切り始めの部分からも上記欠
陥1aと同様に光が散乱され、この散乱光がビン搬送コ
ンベア8の上方向に向って進み光電変換器3に入力する
ことがある。したがって、二値化回路4から出力される
信号には、欠陥1aからの信号とビン1のネジの始まシ
部からの信号とが混在している。そして、良否判定回路
5では、異常部分の面積に相当する量を計測し、この量
がある設定値を超えたものを欠陥であるとしておシ、こ
れによシ、欠陥1aからの信号とビン1のネジの始まシ
部からの信号とを分離する様にしている。
従来のビン検査装置は以上の様に構成されているので、
良否判定回路5によって欠陥1aからの信号とビン1の
ネジの始まり部からの信号と全分離する過程で、小さな
欠陥を見逃すことがあシ、特に、ビン1の密閉度に直接
密接に関係する天面部11に付いた欠陥に対して、充分
に満足できる欠陥検査能力が得られないという欠点があ
った。
良否判定回路5によって欠陥1aからの信号とビン1の
ネジの始まり部からの信号と全分離する過程で、小さな
欠陥を見逃すことがあシ、特に、ビン1の密閉度に直接
密接に関係する天面部11に付いた欠陥に対して、充分
に満足できる欠陥検査能力が得られないという欠点があ
った。
この発明は、上記の様な従来のものの欠点を改善する目
的でなされたもので、回転させながら搬送するビンのビ
ン口部に光を照射し、このビン口部に付いた欠陥よシの
散乱先金光電変換する第1の光電変換器以外に、ビン口
部よシの正反射先金光電変換する第2の光電変換器を設
け、この第2の光電変換器によりビンの天面部の位置を
割シ出すことによって、ビン口部に付いた欠陥と天面部
に付いた欠陥とを分離して取)出す様にして成る、高い
欠陥検査能力を有するビン検査装置を提供するものであ
る。
的でなされたもので、回転させながら搬送するビンのビ
ン口部に光を照射し、このビン口部に付いた欠陥よシの
散乱先金光電変換する第1の光電変換器以外に、ビン口
部よシの正反射先金光電変換する第2の光電変換器を設
け、この第2の光電変換器によりビンの天面部の位置を
割シ出すことによって、ビン口部に付いた欠陥と天面部
に付いた欠陥とを分離して取)出す様にして成る、高い
欠陥検査能力を有するビン検査装置を提供するものであ
る。
以下、この発明の実施例を図について説明する。
第2図はこの発明の一実施例であるビン検査装置を示す
概略構成図である。図において、1はガラスビン等のビ
ン、11はビン1の天面部、12はビン1のビン口部、
1aはビン口部12に付いた欠陥、13はビン1のビン
回転方向、2はビン1を搬送するビン搬送コンベア8の
左、右両側に設置された1対の帯状の光源であり、第2
図では、ビン1の後方側の片方だけが示されておシ、ビ
ン1の手前側に設置されている同一構成の光源2は図示
を省略しである。7はビン回転駆動ベルト、8aはビン
搬送コンベア8によるビン走行方向、9は、例えば入射
光の約50%fi:透過し、約50it反射するハーフ
ミ?−131は自己走査機能を有するホトダイオード・
アレイよ構成る光電変換素子321ヲ使用した第10光
電変換器、32は自己走査機能を有するホトダイオード
・アレイよ構成る光電変換素子322ヲ使用した第2の
光電変換器、311 、312紘それぞれ集光レンズ、
41゜42はそれぞれ二値化回路、51 e 52はそ
れぞれ良否判定回路、71は遅延回路、81はビン中央
検出回路、82は天面信号発生回路である。二値化回路
41と遅延回路71とにより欠陥検出手段60を構成し
、二値化回路42.ビン中央検出回路81及び天面信号
発生回路82とにより天面割り出し手段80全構成して
いる。100はAND回路であり、良否判定回路52と
AND回路100とによシ第2の良否判定手段90i構
成し、良否判定回路51は単独で第1の良否判定手段を
構成している。
概略構成図である。図において、1はガラスビン等のビ
ン、11はビン1の天面部、12はビン1のビン口部、
1aはビン口部12に付いた欠陥、13はビン1のビン
回転方向、2はビン1を搬送するビン搬送コンベア8の
左、右両側に設置された1対の帯状の光源であり、第2
図では、ビン1の後方側の片方だけが示されておシ、ビ
ン1の手前側に設置されている同一構成の光源2は図示
を省略しである。7はビン回転駆動ベルト、8aはビン
搬送コンベア8によるビン走行方向、9は、例えば入射
光の約50%fi:透過し、約50it反射するハーフ
ミ?−131は自己走査機能を有するホトダイオード・
アレイよ構成る光電変換素子321ヲ使用した第10光
電変換器、32は自己走査機能を有するホトダイオード
・アレイよ構成る光電変換素子322ヲ使用した第2の
光電変換器、311 、312紘それぞれ集光レンズ、
41゜42はそれぞれ二値化回路、51 e 52はそ
れぞれ良否判定回路、71は遅延回路、81はビン中央
検出回路、82は天面信号発生回路である。二値化回路
41と遅延回路71とにより欠陥検出手段60を構成し
、二値化回路42.ビン中央検出回路81及び天面信号
発生回路82とにより天面割り出し手段80全構成して
いる。100はAND回路であり、良否判定回路52と
AND回路100とによシ第2の良否判定手段90i構
成し、良否判定回路51は単独で第1の良否判定手段を
構成している。
第3図及び第4図は、それぞれ第2図のビン検査装置に
おいて、見る角度を90’変えて示す要部の部分正面図
、及び各光電変換器の視野の位置を示す図である。第4
図において、331は第1の光電変換器31の視野t”
t 332は第2の光電変換器32の視野全それぞれ示
している。
おいて、見る角度を90’変えて示す要部の部分正面図
、及び各光電変換器の視野の位置を示す図である。第4
図において、331は第1の光電変換器31の視野t”
t 332は第2の光電変換器32の視野全それぞれ示
している。
次に、上記第2図に示すこの発明の一実施例であるビン
検査装置の動作について説明する。ビン搬送コンベア8
によシ検査ステージまで搬送されテキたビンlは、ここ
で、ビン回転駆動ベルト7によ多回転されながらビン搬
送コンベア8上を移動して行く。この時、g3図に示さ
れている様に、ビン搬送コンベア8の左、右の両側に設
置された1対の帯状の光源2によシ、ビンlのビン口部
12及び天面部11に光が照射される。ビン1のビン口
部12に付いた欠陥1aによシ散乱されて上方向に向っ
た西の一部は、ハーフミラ−9を透過し、集光レンズ3
11により第1の光電変換器31の光電変換素子321
上に結像される。ここで、Mlの光電変換器31の出力
信号は1、二値化回路41において適当な設定値で二値
化され、この二値化された出力信号は遅延回路71によ
り光電変換素子321の一走査分の時間だけ遅延される
。この遅延された信号は良否判定回路51に送られ、こ
こでは、異常部分の面積に相当する量を計測し、この面
積がある設定値以上になったこと全認識すると同時に不
良検出信号を出力する。
検査装置の動作について説明する。ビン搬送コンベア8
によシ検査ステージまで搬送されテキたビンlは、ここ
で、ビン回転駆動ベルト7によ多回転されながらビン搬
送コンベア8上を移動して行く。この時、g3図に示さ
れている様に、ビン搬送コンベア8の左、右の両側に設
置された1対の帯状の光源2によシ、ビンlのビン口部
12及び天面部11に光が照射される。ビン1のビン口
部12に付いた欠陥1aによシ散乱されて上方向に向っ
た西の一部は、ハーフミラ−9を透過し、集光レンズ3
11により第1の光電変換器31の光電変換素子321
上に結像される。ここで、Mlの光電変換器31の出力
信号は1、二値化回路41において適当な設定値で二値
化され、この二値化された出力信号は遅延回路71によ
り光電変換素子321の一走査分の時間だけ遅延される
。この遅延された信号は良否判定回路51に送られ、こ
こでは、異常部分の面積に相当する量を計測し、この面
積がある設定値以上になったこと全認識すると同時に不
良検出信号を出力する。
一方、第4図に示されている様に、第1の光電変換器3
1の視野331が、ビン搬送コンベア8によるビン走行
方向8aと一致したビン1の直径軸上にとられているの
に対して、第2の光電変換器32の視野332は、第1
の光電変換器31の視野331ヲ平行移動させたとンロ
部12の周辺部にとられている。このため、ビン1のビ
ン口部12で正反射されて上方向に向う光の一部はハー
フミラ−9で反射され、集光レンズ312により光電変
換素子322上忙結像される。ここで、第20光電変換
器32の出力信号は、二値化回路42において適当な設
定値で二値化され、この二値化された出力信号はビン中
央検出回路81に入力され、ここで、信号の立ち上シ及
び立ち下りのセンターをめることによシ、ビン口部12
の中心がビン搬送コンベア8上のどの位置にあるかを検
出する。天面信号発生回路82では、ビン中央検出回路
81の出力信号を受けて、ビン1に固有な幅の天面部1
1の存在−する範囲を示すゲート信号を発生する。
1の視野331が、ビン搬送コンベア8によるビン走行
方向8aと一致したビン1の直径軸上にとられているの
に対して、第2の光電変換器32の視野332は、第1
の光電変換器31の視野331ヲ平行移動させたとンロ
部12の周辺部にとられている。このため、ビン1のビ
ン口部12で正反射されて上方向に向う光の一部はハー
フミラ−9で反射され、集光レンズ312により光電変
換素子322上忙結像される。ここで、第20光電変換
器32の出力信号は、二値化回路42において適当な設
定値で二値化され、この二値化された出力信号はビン中
央検出回路81に入力され、ここで、信号の立ち上シ及
び立ち下りのセンターをめることによシ、ビン口部12
の中心がビン搬送コンベア8上のどの位置にあるかを検
出する。天面信号発生回路82では、ビン中央検出回路
81の出力信号を受けて、ビン1に固有な幅の天面部1
1の存在−する範囲を示すゲート信号を発生する。
このゲート信号の中心がビン口部12の中心位置と一致
していることは云うまでもない。天面信号発生回路82
の出力信号とビン口部12の欠陥1aによる二値化信号
を遅延回路71で遅延した信号とt’、AND回路10
0に入力する。このAND回路100の出力信号は良否
判定回路52に送られ、ここで、異常部分の面積に相当
する量を計測し、この面積がある設定値以上になったこ
とを認識すると同時に不良検出信号を出力する一 部5図は、第2図のビン検出装置における各部の出力信
号を示す波形図である。第5図(a)は第1の光電変換
器31の出力信号を、同図(b)は二値化回路41の出
力信号を、同図(C1は遅延回路71の出力信号をそれ
ぞれ示している。また、同図(d)は第2の光電変換器
32の出力信号を、同図(e)は二値化回路42の出力
信号を、同図げ)は天面信号発生回路82の出力信号を
、同図(g)はAND回路100の出力信号をそれぞれ
示している。そして、上記第5図(e)の出力信号には
、ビン口部12及び天面部11の両方に付いた欠陥から
の信号が含まれているが、第5図(g)の出力信号では
、同図(c)の出力信号と天面部11の存在位置を示す
天面信号発生回路82の出力信号である同図(f)の出
力信号とのAND回路100によるAND (tilt
理積)により、天面部llK付いた欠陥からの信号だけ
であり、この信号が外部に取シ出されることになる。
していることは云うまでもない。天面信号発生回路82
の出力信号とビン口部12の欠陥1aによる二値化信号
を遅延回路71で遅延した信号とt’、AND回路10
0に入力する。このAND回路100の出力信号は良否
判定回路52に送られ、ここで、異常部分の面積に相当
する量を計測し、この面積がある設定値以上になったこ
とを認識すると同時に不良検出信号を出力する一 部5図は、第2図のビン検出装置における各部の出力信
号を示す波形図である。第5図(a)は第1の光電変換
器31の出力信号を、同図(b)は二値化回路41の出
力信号を、同図(C1は遅延回路71の出力信号をそれ
ぞれ示している。また、同図(d)は第2の光電変換器
32の出力信号を、同図(e)は二値化回路42の出力
信号を、同図げ)は天面信号発生回路82の出力信号を
、同図(g)はAND回路100の出力信号をそれぞれ
示している。そして、上記第5図(e)の出力信号には
、ビン口部12及び天面部11の両方に付いた欠陥から
の信号が含まれているが、第5図(g)の出力信号では
、同図(c)の出力信号と天面部11の存在位置を示す
天面信号発生回路82の出力信号である同図(f)の出
力信号とのAND回路100によるAND (tilt
理積)により、天面部llK付いた欠陥からの信号だけ
であり、この信号が外部に取シ出されることになる。
以上述べた様に構成することにより、ビン1を1/2回
転する間にモニタすることによって、ビン1の全周にわ
たって、良否判定回路51では、ビン口部12及び天面
部11を合わせた部分に対する欠陥検出基準に基いて欠
陥を検出すると同時に、良否判定回路52では、天面部
11のみに限定した欠陥検出基準に基き、上記良否判定
回路51とは異なる判断基準にて欠陥全検出することが
できる。
転する間にモニタすることによって、ビン1の全周にわ
たって、良否判定回路51では、ビン口部12及び天面
部11を合わせた部分に対する欠陥検出基準に基いて欠
陥を検出すると同時に、良否判定回路52では、天面部
11のみに限定した欠陥検出基準に基き、上記良否判定
回路51とは異なる判断基準にて欠陥全検出することが
できる。
なお、上記実施例では、第1及び第2の2つの光電変換
器31.32に光を分けるフィルタとして、ハーフミラ
−9ft使用した場合について説明したが、これは、コ
ールド・ミ2−やダイクロインク・ミラー等で置き換え
ることも可能である。
器31.32に光を分けるフィルタとして、ハーフミラ
−9ft使用した場合について説明したが、これは、コ
ールド・ミ2−やダイクロインク・ミラー等で置き換え
ることも可能である。
また、上記実施例では、各光電変換器31.32に自己
走査機能を有するホトダイオード・アレイよ構成る光電
変換素子321 、322 Th使用した場合について
説明したが、これには、イメージ・ディセクタ管等の一
次元走査が可能な撮像素子を用いても良い。
走査機能を有するホトダイオード・アレイよ構成る光電
変換素子321 、322 Th使用した場合について
説明したが、これには、イメージ・ディセクタ管等の一
次元走査が可能な撮像素子を用いても良い。
この発明は以上説明した様に、ビン検査装置において、
回転させながら搬送するビンのビン口部に光を照射し、
このビン口部に付いた欠陥よシの散乱光を光電変換する
第1の光電変換器以外に、ビン口部よりの正反射光を光
電変換する第2の光電変換器を設け、この第20光電変
換器によシビンの天面部の位置を割シ出すことによって
、ビン口部に付いた欠陥と天面部に付いた欠陥とを分離
して取シ出す様に構成したので、この種の従来例のもの
に比べて、ビンにキャンプをした時に、そのビンの密閉
度に直接密接に関係する天面部に付いた欠陥に対する厳
しい判断基準にも容易に適合できて、よシ一層欠陥検出
能力が高いビン検査装置が得られるという優れた効果を
奏するものである。
回転させながら搬送するビンのビン口部に光を照射し、
このビン口部に付いた欠陥よシの散乱光を光電変換する
第1の光電変換器以外に、ビン口部よりの正反射光を光
電変換する第2の光電変換器を設け、この第20光電変
換器によシビンの天面部の位置を割シ出すことによって
、ビン口部に付いた欠陥と天面部に付いた欠陥とを分離
して取シ出す様に構成したので、この種の従来例のもの
に比べて、ビンにキャンプをした時に、そのビンの密閉
度に直接密接に関係する天面部に付いた欠陥に対する厳
しい判断基準にも容易に適合できて、よシ一層欠陥検出
能力が高いビン検査装置が得られるという優れた効果を
奏するものである。
第1図は従来のビン検査装置を示す概略構成図、第2図
はこの発明の一実施例であるビン検査装置を示す概略構
成図、第3図及び第4図は、それぞれ第2図のビン検査
装置において、見る角度ヲ90゜変えて示す要部の部分
正面図、及び各光電変換器の視野の位置を示す図、第5
図は、第2図のビン検査装置における各部の出力信号を
示す波形図である。 図において、1・・・ビン、1a ・欠陥、2・・・光
源、3.31,32・・・光電変換器、4,41.42
・・・二値化回路、5,51.52・・・良否判定回路
、7・・・ビン回転駆動ベルト、8・・・ビン搬送コン
ベア、8a・・・ビン走行方向、9・・ハーフミラ−1
11・・・天面部、12・・・ビン口部、13・・ビン
回転方向、60・・・欠陥検出手段、70・・・ビン搬
送手段、7190.遅延回路、80・・天面部9出し手
段、81、・・・ビン中央検出回路、82・・・天面信
号発生回路、90・・・良否判定手段、100・・・A
ND回路、310.311゜312・・・集光レンズ、
320 、321 、322・・・光電変換素子、33
1 、332・・・視野である。 なお、各図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大岩増雄 第1図 7( 第3図 第4図
はこの発明の一実施例であるビン検査装置を示す概略構
成図、第3図及び第4図は、それぞれ第2図のビン検査
装置において、見る角度ヲ90゜変えて示す要部の部分
正面図、及び各光電変換器の視野の位置を示す図、第5
図は、第2図のビン検査装置における各部の出力信号を
示す波形図である。 図において、1・・・ビン、1a ・欠陥、2・・・光
源、3.31,32・・・光電変換器、4,41.42
・・・二値化回路、5,51.52・・・良否判定回路
、7・・・ビン回転駆動ベルト、8・・・ビン搬送コン
ベア、8a・・・ビン走行方向、9・・ハーフミラ−1
11・・・天面部、12・・・ビン口部、13・・ビン
回転方向、60・・・欠陥検出手段、70・・・ビン搬
送手段、7190.遅延回路、80・・天面部9出し手
段、81、・・・ビン中央検出回路、82・・・天面信
号発生回路、90・・・良否判定手段、100・・・A
ND回路、310.311゜312・・・集光レンズ、
320 、321 、322・・・光電変換素子、33
1 、332・・・視野である。 なお、各図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大岩増雄 第1図 7( 第3図 第4図
Claims (1)
- ビンを回転させながら搬送するビン搬送手段と、ビン口
部に光を照射する光源と、この光源からの光の照射によ
って前記ビン口部に付いた欠陥よシの散乱光を光電変換
する第1の光電変換器と、前記光源からの光の照射によ
って前記ビン口部よシの正反射元金光電変換する第2の
光電変換器と、前記第10光電変換器の出力信号によシ
前記ピンロ部の欠陥を検出する欠陥検出手段と、前記第
2の光電変換器の出力信号によシ前記ビンの天面部の位
置を割9出す天面割り出し手段と、前記欠陥検出手段の
出力信号によシ良否判定する第1の良否判定手段と、前
記欠陥検出手段の出力信号と前記天面側シ出し手段の出
力信号との両方よシ良否判定する第2の良否判定手段と
を備えていることを特徴とするビン検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5162184A JPS60194337A (ja) | 1984-03-15 | 1984-03-15 | ビン検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5162184A JPS60194337A (ja) | 1984-03-15 | 1984-03-15 | ビン検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60194337A true JPS60194337A (ja) | 1985-10-02 |
JPH0423745B2 JPH0423745B2 (ja) | 1992-04-23 |
Family
ID=12891942
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5162184A Granted JPS60194337A (ja) | 1984-03-15 | 1984-03-15 | ビン検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60194337A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05161917A (ja) * | 1991-12-13 | 1993-06-29 | Nippon Steel Corp | 熱間圧延鋼板の巻取り装置 |
JP2011038789A (ja) * | 2009-08-06 | 2011-02-24 | Toyo Glass Co Ltd | ガラスびん口部検査方法及び装置 |
CN112881289A (zh) * | 2021-01-20 | 2021-06-01 | 成都泓睿科技有限责任公司 | 输液瓶瓶口破裂的检测装置及方法 |
CN117007000A (zh) * | 2023-10-07 | 2023-11-07 | 聊城好佳一生物乳业有限公司 | 一种饮料瓶瓶口平整度检测装置 |
-
1984
- 1984-03-15 JP JP5162184A patent/JPS60194337A/ja active Granted
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05161917A (ja) * | 1991-12-13 | 1993-06-29 | Nippon Steel Corp | 熱間圧延鋼板の巻取り装置 |
JP2011038789A (ja) * | 2009-08-06 | 2011-02-24 | Toyo Glass Co Ltd | ガラスびん口部検査方法及び装置 |
CN112881289A (zh) * | 2021-01-20 | 2021-06-01 | 成都泓睿科技有限责任公司 | 输液瓶瓶口破裂的检测装置及方法 |
CN112881289B (zh) * | 2021-01-20 | 2022-11-29 | 成都泓睿科技有限责任公司 | 输液瓶瓶口破裂的检测装置及方法 |
CN117007000A (zh) * | 2023-10-07 | 2023-11-07 | 聊城好佳一生物乳业有限公司 | 一种饮料瓶瓶口平整度检测装置 |
CN117007000B (zh) * | 2023-10-07 | 2023-12-08 | 聊城好佳一生物乳业有限公司 | 一种饮料瓶瓶口平整度检测装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0423745B2 (ja) | 1992-04-23 |
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