JPS60194337A - ビン検査装置 - Google Patents
ビン検査装置Info
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- JPS60194337A JPS60194337A JP5162184A JP5162184A JPS60194337A JP S60194337 A JPS60194337 A JP S60194337A JP 5162184 A JP5162184 A JP 5162184A JP 5162184 A JP5162184 A JP 5162184A JP S60194337 A JPS60194337 A JP S60194337A
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- photoelectric converter
- light
- bottle mouth
- mouth part
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
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- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、ビン検査装置に係シ、特に１コンベア上を
移動中のガラスピン等のビン口部の割れ。
移動中のガラスピン等のビン口部の割れ。
欠け、汚れ等の各種の欠陥を検出する装置に関するもの
である。
である。
従来この種のビン検査装置としては、第１図に示すもの
があった。第１図は従来のビン検査装置を示す概略構成
図である。図において、１はガ２ヌビン等のビン、１１
はビン１の天面部、１２はビンｌのビン口部、ｌａはビ
ン口ｓ１２に付いた欠陥、２は帯状の光源であり、この
光源２はビン１の進行方向に沿って両側に設けられてい
る。３は光電変換器、３１０は集光レンズ、３２０は、
光電変換器３内に設けられ、自己走査機能を有するホト
ダイオード・アレイより成る光電変換素子、４は二値化
回路、５は良否判定回路、７はビン回転駆動ベルト、８
はビン搬送コンベア、７０はビン回転駆動ベルト７とビ
ン搬送コンペア８とから構成され、ビン１を回転させな
がら搬送するビン搬送手段である。
があった。第１図は従来のビン検査装置を示す概略構成
図である。図において、１はガ２ヌビン等のビン、１１
はビン１の天面部、１２はビンｌのビン口部、ｌａはビ
ン口ｓ１２に付いた欠陥、２は帯状の光源であり、この
光源２はビン１の進行方向に沿って両側に設けられてい
る。３は光電変換器、３１０は集光レンズ、３２０は、
光電変換器３内に設けられ、自己走査機能を有するホト
ダイオード・アレイより成る光電変換素子、４は二値化
回路、５は良否判定回路、７はビン回転駆動ベルト、８
はビン搬送コンベア、７０はビン回転駆動ベルト７とビ
ン搬送コンペア８とから構成され、ビン１を回転させな
がら搬送するビン搬送手段である。
次に、上記第１図に示す従来のビン検査装置の動作につ
いて説明する。ビン１はビン回転駆動ベルト７によシ回
転されながらビン搬送コンベア８上ａｒ動ｔ、て行く。
いて説明する。ビン１はビン回転駆動ベルト７によシ回
転されながらビン搬送コンベア８上ａｒ動ｔ、て行く。
この時、ビン搬送コンベア８の左右に設置された２つの
帯状の光源２によシ、ビン１のビン口部１２及び天面部
１１に光が照射される。光電変換素子３２０ ｅ内蔵し
た光電変換器３は、ビン搬送コンベア８０走行方向に沿
って細長い視野を持つ様に設置されておシ、これによシ
、回転されながら移動してくるビン１が１／２回転する
間、光電変換器３はビンｌｔ−監視している。このため
、ビン１のビン口部１２に欠陥１ａがあった場合には、
この欠陥１ａにより光が散乱され、この散乱光の一部は
ビン搬送コンベア８の上方向に向って進み光電変換器３
に入る。ここで、光は光電変換器３によシ光電変換され
た後に、二値化回路４において適当な設定値で二値化さ
れ、この二値化された出力信号は良否判定回路５に入力
される。ところが、ビン１のビン口部１２にネジが切ら
れたビンである場合には、ネジの始まシ部、すなわち天
面部１１に近い方のネジの切り始めの部分からも上記欠
陥１ａと同様に光が散乱され、この散乱光がビン搬送コ
ンベア８の上方向に向って進み光電変換器３に入力する
ことがある。したがって、二値化回路４から出力される
信号には、欠陥１ａからの信号とビン１のネジの始まシ
部からの信号とが混在している。そして、良否判定回路
５では、異常部分の面積に相当する量を計測し、この量
がある設定値を超えたものを欠陥であるとしておシ、こ
れによシ、欠陥１ａからの信号とビン１のネジの始まシ
部からの信号とを分離する様にしている。
帯状の光源２によシ、ビン１のビン口部１２及び天面部
１１に光が照射される。光電変換素子３２０ ｅ内蔵し
た光電変換器３は、ビン搬送コンベア８０走行方向に沿
って細長い視野を持つ様に設置されておシ、これによシ
、回転されながら移動してくるビン１が１／２回転する
間、光電変換器３はビンｌｔ−監視している。このため
、ビン１のビン口部１２に欠陥１ａがあった場合には、
この欠陥１ａにより光が散乱され、この散乱光の一部は
ビン搬送コンベア８の上方向に向って進み光電変換器３
に入る。ここで、光は光電変換器３によシ光電変換され
た後に、二値化回路４において適当な設定値で二値化さ
れ、この二値化された出力信号は良否判定回路５に入力
される。ところが、ビン１のビン口部１２にネジが切ら
れたビンである場合には、ネジの始まシ部、すなわち天
面部１１に近い方のネジの切り始めの部分からも上記欠
陥１ａと同様に光が散乱され、この散乱光がビン搬送コ
ンベア８の上方向に向って進み光電変換器３に入力する
ことがある。したがって、二値化回路４から出力される
信号には、欠陥１ａからの信号とビン１のネジの始まシ
部からの信号とが混在している。そして、良否判定回路
５では、異常部分の面積に相当する量を計測し、この量
がある設定値を超えたものを欠陥であるとしておシ、こ
れによシ、欠陥１ａからの信号とビン１のネジの始まシ
部からの信号とを分離する様にしている。
従来のビン検査装置は以上の様に構成されているので、
良否判定回路５によって欠陥１ａからの信号とビン１の
ネジの始まり部からの信号と全分離する過程で、小さな
欠陥を見逃すことがあシ、特に、ビン１の密閉度に直接
密接に関係する天面部１１に付いた欠陥に対して、充分
に満足できる欠陥検査能力が得られないという欠点があ
った。
良否判定回路５によって欠陥１ａからの信号とビン１の
ネジの始まり部からの信号と全分離する過程で、小さな
欠陥を見逃すことがあシ、特に、ビン１の密閉度に直接
密接に関係する天面部１１に付いた欠陥に対して、充分
に満足できる欠陥検査能力が得られないという欠点があ
った。
この発明は、上記の様な従来のものの欠点を改善する目
的でなされたもので、回転させながら搬送するビンのビ
ン口部に光を照射し、このビン口部に付いた欠陥よシの
散乱先金光電変換する第１の光電変換器以外に、ビン口
部よシの正反射先金光電変換する第２の光電変換器を設
け、この第２の光電変換器によりビンの天面部の位置を
割シ出すことによって、ビン口部に付いた欠陥と天面部
に付いた欠陥とを分離して取）出す様にして成る、高い
欠陥検査能力を有するビン検査装置を提供するものであ
る。
的でなされたもので、回転させながら搬送するビンのビ
ン口部に光を照射し、このビン口部に付いた欠陥よシの
散乱先金光電変換する第１の光電変換器以外に、ビン口
部よシの正反射先金光電変換する第２の光電変換器を設
け、この第２の光電変換器によりビンの天面部の位置を
割シ出すことによって、ビン口部に付いた欠陥と天面部
に付いた欠陥とを分離して取）出す様にして成る、高い
欠陥検査能力を有するビン検査装置を提供するものであ
る。
以下、この発明の実施例を図について説明する。
第２図はこの発明の一実施例であるビン検査装置を示す
概略構成図である。図において、１はガラスビン等のビ
ン、１１はビン１の天面部、１２はビン１のビン口部、
１ａはビン口部１２に付いた欠陥、１３はビン１のビン
回転方向、２はビン１を搬送するビン搬送コンベア８の
左、右両側に設置された１対の帯状の光源であり、第２
図では、ビン１の後方側の片方だけが示されておシ、ビ
ン１の手前側に設置されている同一構成の光源２は図示
を省略しである。７はビン回転駆動ベルト、８ａはビン
搬送コンベア８によるビン走行方向、９は、例えば入射
光の約５０％ｆｉ：透過し、約５０ｉｔ反射するハーフ
ミ？−１３１は自己走査機能を有するホトダイオード・
アレイよ構成る光電変換素子３２１ヲ使用した第１０光
電変換器、３２は自己走査機能を有するホトダイオード
・アレイよ構成る光電変換素子３２２ヲ使用した第２の
光電変換器、３１１ 、３１２紘それぞれ集光レンズ、
４１゜４２はそれぞれ二値化回路、５１ ｅ ５２はそ
れぞれ良否判定回路、７１は遅延回路、８１はビン中央
検出回路、８２は天面信号発生回路である。二値化回路
４１と遅延回路７１とにより欠陥検出手段６０を構成し
、二値化回路４２．ビン中央検出回路８１及び天面信号
発生回路８２とにより天面割り出し手段８０全構成して
いる。１００はＡＮＤ回路であり、良否判定回路５２と
ＡＮＤ回路１００とによシ第２の良否判定手段９０ｉ構
成し、良否判定回路５１は単独で第１の良否判定手段を
構成している。
概略構成図である。図において、１はガラスビン等のビ
ン、１１はビン１の天面部、１２はビン１のビン口部、
１ａはビン口部１２に付いた欠陥、１３はビン１のビン
回転方向、２はビン１を搬送するビン搬送コンベア８の
左、右両側に設置された１対の帯状の光源であり、第２
図では、ビン１の後方側の片方だけが示されておシ、ビ
ン１の手前側に設置されている同一構成の光源２は図示
を省略しである。７はビン回転駆動ベルト、８ａはビン
搬送コンベア８によるビン走行方向、９は、例えば入射
光の約５０％ｆｉ：透過し、約５０ｉｔ反射するハーフ
ミ？−１３１は自己走査機能を有するホトダイオード・
アレイよ構成る光電変換素子３２１ヲ使用した第１０光
電変換器、３２は自己走査機能を有するホトダイオード
・アレイよ構成る光電変換素子３２２ヲ使用した第２の
光電変換器、３１１ 、３１２紘それぞれ集光レンズ、
４１゜４２はそれぞれ二値化回路、５１ ｅ ５２はそ
れぞれ良否判定回路、７１は遅延回路、８１はビン中央
検出回路、８２は天面信号発生回路である。二値化回路
４１と遅延回路７１とにより欠陥検出手段６０を構成し
、二値化回路４２．ビン中央検出回路８１及び天面信号
発生回路８２とにより天面割り出し手段８０全構成して
いる。１００はＡＮＤ回路であり、良否判定回路５２と
ＡＮＤ回路１００とによシ第２の良否判定手段９０ｉ構
成し、良否判定回路５１は単独で第１の良否判定手段を
構成している。
第３図及び第４図は、それぞれ第２図のビン検査装置に
おいて、見る角度を９０’変えて示す要部の部分正面図
、及び各光電変換器の視野の位置を示す図である。第４
図において、３３１は第１の光電変換器３１の視野ｔ”
ｔ ３３２は第２の光電変換器３２の視野全それぞれ示
している。
おいて、見る角度を９０’変えて示す要部の部分正面図
、及び各光電変換器の視野の位置を示す図である。第４
図において、３３１は第１の光電変換器３１の視野ｔ”
ｔ ３３２は第２の光電変換器３２の視野全それぞれ示
している。
次に、上記第２図に示すこの発明の一実施例であるビン
検査装置の動作について説明する。ビン搬送コンベア８
によシ検査ステージまで搬送されテキたビンｌは、ここ
で、ビン回転駆動ベルト７によ多回転されながらビン搬
送コンベア８上を移動して行く。この時、ｇ３図に示さ
れている様に、ビン搬送コンベア８の左、右の両側に設
置された１対の帯状の光源２によシ、ビンｌのビン口部
１２及び天面部１１に光が照射される。ビン１のビン口
部１２に付いた欠陥１ａによシ散乱されて上方向に向っ
た西の一部は、ハーフミラ−９を透過し、集光レンズ３
１１により第１の光電変換器３１の光電変換素子３２１
上に結像される。ここで、Ｍｌの光電変換器３１の出力
信号は１、二値化回路４１において適当な設定値で二値
化され、この二値化された出力信号は遅延回路７１によ
り光電変換素子３２１の一走査分の時間だけ遅延される
。この遅延された信号は良否判定回路５１に送られ、こ
こでは、異常部分の面積に相当する量を計測し、この面
積がある設定値以上になったこと全認識すると同時に不
良検出信号を出力する。
検査装置の動作について説明する。ビン搬送コンベア８
によシ検査ステージまで搬送されテキたビンｌは、ここ
で、ビン回転駆動ベルト７によ多回転されながらビン搬
送コンベア８上を移動して行く。この時、ｇ３図に示さ
れている様に、ビン搬送コンベア８の左、右の両側に設
置された１対の帯状の光源２によシ、ビンｌのビン口部
１２及び天面部１１に光が照射される。ビン１のビン口
部１２に付いた欠陥１ａによシ散乱されて上方向に向っ
た西の一部は、ハーフミラ−９を透過し、集光レンズ３
１１により第１の光電変換器３１の光電変換素子３２１
上に結像される。ここで、Ｍｌの光電変換器３１の出力
信号は１、二値化回路４１において適当な設定値で二値
化され、この二値化された出力信号は遅延回路７１によ
り光電変換素子３２１の一走査分の時間だけ遅延される
。この遅延された信号は良否判定回路５１に送られ、こ
こでは、異常部分の面積に相当する量を計測し、この面
積がある設定値以上になったこと全認識すると同時に不
良検出信号を出力する。
一方、第４図に示されている様に、第１の光電変換器３
１の視野３３１が、ビン搬送コンベア８によるビン走行
方向８ａと一致したビン１の直径軸上にとられているの
に対して、第２の光電変換器３２の視野３３２は、第１
の光電変換器３１の視野３３１ヲ平行移動させたとンロ
部１２の周辺部にとられている。このため、ビン１のビ
ン口部１２で正反射されて上方向に向う光の一部はハー
フミラ−９で反射され、集光レンズ３１２により光電変
換素子３２２上忙結像される。ここで、第２０光電変換
器３２の出力信号は、二値化回路４２において適当な設
定値で二値化され、この二値化された出力信号はビン中
央検出回路８１に入力され、ここで、信号の立ち上シ及
び立ち下りのセンターをめることによシ、ビン口部１２
の中心がビン搬送コンベア８上のどの位置にあるかを検
出する。天面信号発生回路８２では、ビン中央検出回路
８１の出力信号を受けて、ビン１に固有な幅の天面部１
１の存在−する範囲を示すゲート信号を発生する。
１の視野３３１が、ビン搬送コンベア８によるビン走行
方向８ａと一致したビン１の直径軸上にとられているの
に対して、第２の光電変換器３２の視野３３２は、第１
の光電変換器３１の視野３３１ヲ平行移動させたとンロ
部１２の周辺部にとられている。このため、ビン１のビ
ン口部１２で正反射されて上方向に向う光の一部はハー
フミラ−９で反射され、集光レンズ３１２により光電変
換素子３２２上忙結像される。ここで、第２０光電変換
器３２の出力信号は、二値化回路４２において適当な設
定値で二値化され、この二値化された出力信号はビン中
央検出回路８１に入力され、ここで、信号の立ち上シ及
び立ち下りのセンターをめることによシ、ビン口部１２
の中心がビン搬送コンベア８上のどの位置にあるかを検
出する。天面信号発生回路８２では、ビン中央検出回路
８１の出力信号を受けて、ビン１に固有な幅の天面部１
１の存在−する範囲を示すゲート信号を発生する。
このゲート信号の中心がビン口部１２の中心位置と一致
していることは云うまでもない。天面信号発生回路８２
の出力信号とビン口部１２の欠陥１ａによる二値化信号
を遅延回路７１で遅延した信号とｔ’、ＡＮＤ回路１０
０に入力する。このＡＮＤ回路１００の出力信号は良否
判定回路５２に送られ、ここで、異常部分の面積に相当
する量を計測し、この面積がある設定値以上になったこ
とを認識すると同時に不良検出信号を出力する一 部５図は、第２図のビン検出装置における各部の出力信
号を示す波形図である。第５図（ａ）は第１の光電変換
器３１の出力信号を、同図（ｂ）は二値化回路４１の出
力信号を、同図（Ｃ１は遅延回路７１の出力信号をそれ
ぞれ示している。また、同図（ｄ）は第２の光電変換器
３２の出力信号を、同図（ｅ）は二値化回路４２の出力
信号を、同図げ）は天面信号発生回路８２の出力信号を
、同図（ｇ）はＡＮＤ回路１００の出力信号をそれぞれ
示している。そして、上記第５図（ｅ）の出力信号には
、ビン口部１２及び天面部１１の両方に付いた欠陥から
の信号が含まれているが、第５図（ｇ）の出力信号では
、同図（ｃ）の出力信号と天面部１１の存在位置を示す
天面信号発生回路８２の出力信号である同図（ｆ）の出
力信号とのＡＮＤ回路１００によるＡＮＤ （ｔｉｌｔ
理積）により、天面部ｌｌＫ付いた欠陥からの信号だけ
であり、この信号が外部に取シ出されることになる。
していることは云うまでもない。天面信号発生回路８２
の出力信号とビン口部１２の欠陥１ａによる二値化信号
を遅延回路７１で遅延した信号とｔ’、ＡＮＤ回路１０
０に入力する。このＡＮＤ回路１００の出力信号は良否
判定回路５２に送られ、ここで、異常部分の面積に相当
する量を計測し、この面積がある設定値以上になったこ
とを認識すると同時に不良検出信号を出力する一 部５図は、第２図のビン検出装置における各部の出力信
号を示す波形図である。第５図（ａ）は第１の光電変換
器３１の出力信号を、同図（ｂ）は二値化回路４１の出
力信号を、同図（Ｃ１は遅延回路７１の出力信号をそれ
ぞれ示している。また、同図（ｄ）は第２の光電変換器
３２の出力信号を、同図（ｅ）は二値化回路４２の出力
信号を、同図げ）は天面信号発生回路８２の出力信号を
、同図（ｇ）はＡＮＤ回路１００の出力信号をそれぞれ
示している。そして、上記第５図（ｅ）の出力信号には
、ビン口部１２及び天面部１１の両方に付いた欠陥から
の信号が含まれているが、第５図（ｇ）の出力信号では
、同図（ｃ）の出力信号と天面部１１の存在位置を示す
天面信号発生回路８２の出力信号である同図（ｆ）の出
力信号とのＡＮＤ回路１００によるＡＮＤ （ｔｉｌｔ
理積）により、天面部ｌｌＫ付いた欠陥からの信号だけ
であり、この信号が外部に取シ出されることになる。
以上述べた様に構成することにより、ビン１を１／２回
転する間にモニタすることによって、ビン１の全周にわ
たって、良否判定回路５１では、ビン口部１２及び天面
部１１を合わせた部分に対する欠陥検出基準に基いて欠
陥を検出すると同時に、良否判定回路５２では、天面部
１１のみに限定した欠陥検出基準に基き、上記良否判定
回路５１とは異なる判断基準にて欠陥全検出することが
できる。
転する間にモニタすることによって、ビン１の全周にわ
たって、良否判定回路５１では、ビン口部１２及び天面
部１１を合わせた部分に対する欠陥検出基準に基いて欠
陥を検出すると同時に、良否判定回路５２では、天面部
１１のみに限定した欠陥検出基準に基き、上記良否判定
回路５１とは異なる判断基準にて欠陥全検出することが
できる。
なお、上記実施例では、第１及び第２の２つの光電変換
器３１．３２に光を分けるフィルタとして、ハーフミラ
−９ｆｔ使用した場合について説明したが、これは、コ
ールド・ミ２−やダイクロインク・ミラー等で置き換え
ることも可能である。
器３１．３２に光を分けるフィルタとして、ハーフミラ
−９ｆｔ使用した場合について説明したが、これは、コ
ールド・ミ２−やダイクロインク・ミラー等で置き換え
ることも可能である。
また、上記実施例では、各光電変換器３１．３２に自己
走査機能を有するホトダイオード・アレイよ構成る光電
変換素子３２１ 、３２２ Ｔｈ使用した場合について
説明したが、これには、イメージ・ディセクタ管等の一
次元走査が可能な撮像素子を用いても良い。
走査機能を有するホトダイオード・アレイよ構成る光電
変換素子３２１ 、３２２ Ｔｈ使用した場合について
説明したが、これには、イメージ・ディセクタ管等の一
次元走査が可能な撮像素子を用いても良い。
この発明は以上説明した様に、ビン検査装置において、
回転させながら搬送するビンのビン口部に光を照射し、
このビン口部に付いた欠陥よシの散乱光を光電変換する
第１の光電変換器以外に、ビン口部よりの正反射光を光
電変換する第２の光電変換器を設け、この第２０光電変
換器によシビンの天面部の位置を割シ出すことによって
、ビン口部に付いた欠陥と天面部に付いた欠陥とを分離
して取シ出す様に構成したので、この種の従来例のもの
に比べて、ビンにキャンプをした時に、そのビンの密閉
度に直接密接に関係する天面部に付いた欠陥に対する厳
しい判断基準にも容易に適合できて、よシ一層欠陥検出
能力が高いビン検査装置が得られるという優れた効果を
奏するものである。
回転させながら搬送するビンのビン口部に光を照射し、
このビン口部に付いた欠陥よシの散乱光を光電変換する
第１の光電変換器以外に、ビン口部よりの正反射光を光
電変換する第２の光電変換器を設け、この第２０光電変
換器によシビンの天面部の位置を割シ出すことによって
、ビン口部に付いた欠陥と天面部に付いた欠陥とを分離
して取シ出す様に構成したので、この種の従来例のもの
に比べて、ビンにキャンプをした時に、そのビンの密閉
度に直接密接に関係する天面部に付いた欠陥に対する厳
しい判断基準にも容易に適合できて、よシ一層欠陥検出
能力が高いビン検査装置が得られるという優れた効果を
奏するものである。
第１図は従来のビン検査装置を示す概略構成図、第２図
はこの発明の一実施例であるビン検査装置を示す概略構
成図、第３図及び第４図は、それぞれ第２図のビン検査
装置において、見る角度ヲ９０゜変えて示す要部の部分
正面図、及び各光電変換器の視野の位置を示す図、第５
図は、第２図のビン検査装置における各部の出力信号を
示す波形図である。 図において、１・・・ビン、１ａ ・欠陥、２・・・光
源、３．３１，３２・・・光電変換器、４，４１．４２
・・・二値化回路、５，５１．５２・・・良否判定回路
、７・・・ビン回転駆動ベルト、８・・・ビン搬送コン
ベア、８ａ・・・ビン走行方向、９・・ハーフミラ−１
１１・・・天面部、１２・・・ビン口部、１３・・ビン
回転方向、６０・・・欠陥検出手段、７０・・・ビン搬
送手段、７１９０．遅延回路、８０・・天面部９出し手
段、８１、・・・ビン中央検出回路、８２・・・天面信
号発生回路、９０・・・良否判定手段、１００・・・Ａ
ＮＤ回路、３１０．３１１゜３１２・・・集光レンズ、
３２０ 、３２１ 、３２２・・・光電変換素子、３３
１ 、３３２・・・視野である。 なお、各図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大岩増雄 第１図 ７（ 第３図 第４図
はこの発明の一実施例であるビン検査装置を示す概略構
成図、第３図及び第４図は、それぞれ第２図のビン検査
装置において、見る角度ヲ９０゜変えて示す要部の部分
正面図、及び各光電変換器の視野の位置を示す図、第５
図は、第２図のビン検査装置における各部の出力信号を
示す波形図である。 図において、１・・・ビン、１ａ ・欠陥、２・・・光
源、３．３１，３２・・・光電変換器、４，４１．４２
・・・二値化回路、５，５１．５２・・・良否判定回路
、７・・・ビン回転駆動ベルト、８・・・ビン搬送コン
ベア、８ａ・・・ビン走行方向、９・・ハーフミラ−１
１１・・・天面部、１２・・・ビン口部、１３・・ビン
回転方向、６０・・・欠陥検出手段、７０・・・ビン搬
送手段、７１９０．遅延回路、８０・・天面部９出し手
段、８１、・・・ビン中央検出回路、８２・・・天面信
号発生回路、９０・・・良否判定手段、１００・・・Ａ
ＮＤ回路、３１０．３１１゜３１２・・・集光レンズ、
３２０ 、３２１ 、３２２・・・光電変換素子、３３
１ 、３３２・・・視野である。 なお、各図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大岩増雄 第１図 ７（ 第３図 第４図
Claims (1)
- ビンを回転させながら搬送するビン搬送手段と、ビン口
部に光を照射する光源と、この光源からの光の照射によ
って前記ビン口部に付いた欠陥よシの散乱光を光電変換
する第１の光電変換器と、前記光源からの光の照射によ
って前記ビン口部よシの正反射元金光電変換する第２の
光電変換器と、前記第１０光電変換器の出力信号によシ
前記ピンロ部の欠陥を検出する欠陥検出手段と、前記第
２の光電変換器の出力信号によシ前記ビンの天面部の位
置を割９出す天面割り出し手段と、前記欠陥検出手段の
出力信号によシ良否判定する第１の良否判定手段と、前
記欠陥検出手段の出力信号と前記天面側シ出し手段の出
力信号との両方よシ良否判定する第２の良否判定手段と
を備えていることを特徴とするビン検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5162184A JPS60194337A (ja) | 1984-03-15 | 1984-03-15 | ビン検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5162184A JPS60194337A (ja) | 1984-03-15 | 1984-03-15 | ビン検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60194337A true JPS60194337A (ja) | 1985-10-02 |
| JPH0423745B2 JPH0423745B2 (ja) | 1992-04-23 |
Family
ID=12891942
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5162184A Granted JPS60194337A (ja) | 1984-03-15 | 1984-03-15 | ビン検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60194337A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05161917A (ja) * | 1991-12-13 | 1993-06-29 | Nippon Steel Corp | 熱間圧延鋼板の巻取り装置 |
| JP2011038789A (ja) * | 2009-08-06 | 2011-02-24 | Toyo Glass Co Ltd | ガラスびん口部検査方法及び装置 |
| CN112881289A (zh) * | 2021-01-20 | 2021-06-01 | 成都泓睿科技有限责任公司 | 输液瓶瓶口破裂的检测装置及方法 |
| CN117007000A (zh) * | 2023-10-07 | 2023-11-07 | 聊城好佳一生物乳业有限公司 | 一种饮料瓶瓶口平整度检测装置 |
-
1984
- 1984-03-15 JP JP5162184A patent/JPS60194337A/ja active Granted
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05161917A (ja) * | 1991-12-13 | 1993-06-29 | Nippon Steel Corp | 熱間圧延鋼板の巻取り装置 |
| JP2011038789A (ja) * | 2009-08-06 | 2011-02-24 | Toyo Glass Co Ltd | ガラスびん口部検査方法及び装置 |
| CN112881289A (zh) * | 2021-01-20 | 2021-06-01 | 成都泓睿科技有限责任公司 | 输液瓶瓶口破裂的检测装置及方法 |
| CN112881289B (zh) * | 2021-01-20 | 2022-11-29 | 成都泓睿科技有限责任公司 | 输液瓶瓶口破裂的检测装置及方法 |
| CN117007000A (zh) * | 2023-10-07 | 2023-11-07 | 聊城好佳一生物乳业有限公司 | 一种饮料瓶瓶口平整度检测装置 |
| CN117007000B (zh) * | 2023-10-07 | 2023-12-08 | 聊城好佳一生物乳业有限公司 | 一种饮料瓶瓶口平整度检测装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0423745B2 (ja) | 1992-04-23 |
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