JPS60157271A - 高性能,安定Cds−Cu2S太陽電池と、肉厚フィルム方式を用いたその製造方法 - Google Patents
高性能,安定Cds−Cu2S太陽電池と、肉厚フィルム方式を用いたその製造方法Info
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- JPS60157271A JPS60157271A JP59187883A JP18788384A JPS60157271A JP S60157271 A JPS60157271 A JP S60157271A JP 59187883 A JP59187883 A JP 59187883A JP 18788384 A JP18788384 A JP 18788384A JP S60157271 A JPS60157271 A JP S60157271A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、n−IVクラスの高性能、安定太陽電池、
特に、Cd5−Cu2S太陽電池の製造方法、及び、そ
の製造方法によって製造される太陽電池に関するもので
ある。
特に、Cd5−Cu2S太陽電池の製造方法、及び、そ
の製造方法によって製造される太陽電池に関するもので
ある。
従来の技術
周知のように、この種の太陽電池は高性能と安定性を維
持するために、例えば、水分、紫外線の放射等の大気作
用より保護さfLなければならない。
持するために、例えば、水分、紫外線の放射等の大気作
用より保護さfLなければならない。
特にCd5−Cu2S太陽′亀池にこの種の保護を与え
るために、優れた透光性と有効な機械的間隔抵抗を有す
るとともに、高い水蜜性及び気密性を有する被覆材が用
いられている。現在、この種の被覆材としては、ガラス
のみがその要求を満足するものと考えられている。しか
しながら、周知の薄肉フィルム方式により今日1でに製
造されたCd5−Cu2 S太陽電池をガラスによって
被覆した場合そのコストが、絶対的な気密性を必要とし
ない多結晶、無定形のシリコンベースの太陽電池に比べ
て高くなってし1う。周知のように、従来の製造方法に
より、CdS Cu2S太陽電池を製造する場合その安
定性及び生産性に問題があった。そのため、Cd5−C
u2 S太陽電池の被覆に対する厳しい要求に比べて比
較的安価な被覆により例えばほこシ、摩耗、化学汚染等
の大気作用より電池を保護することのみを要するシリコ
ンベース太陽電池に人気が集っている。
るために、優れた透光性と有効な機械的間隔抵抗を有す
るとともに、高い水蜜性及び気密性を有する被覆材が用
いられている。現在、この種の被覆材としては、ガラス
のみがその要求を満足するものと考えられている。しか
しながら、周知の薄肉フィルム方式により今日1でに製
造されたCd5−Cu2 S太陽電池をガラスによって
被覆した場合そのコストが、絶対的な気密性を必要とし
ない多結晶、無定形のシリコンベースの太陽電池に比べ
て高くなってし1う。周知のように、従来の製造方法に
より、CdS Cu2S太陽電池を製造する場合その安
定性及び生産性に問題があった。そのため、Cd5−C
u2 S太陽電池の被覆に対する厳しい要求に比べて比
較的安価な被覆により例えばほこシ、摩耗、化学汚染等
の大気作用より電池を保護することのみを要するシリコ
ンベース太陽電池に人気が集っている。
発明の解決しようとする問題点
本発明の目的は、■−■クラスの半導体ベースの太陽電
池を非常に簡単な装置を用い、且つ、一連の工程により
製造して、ガラス被覆を施した場合でもその生産コスト
’を最も安価なシリコンベースの太陽電池とほぼ同等と
することにある。
池を非常に簡単な装置を用い、且つ、一連の工程により
製造して、ガラス被覆を施した場合でもその生産コスト
’を最も安価なシリコンベースの太陽電池とほぼ同等と
することにある。
本発明のもうひとつの目的は、厚肉フィルム方式による
C d、S −Cu2 S太陽電池の製造方法を提供し
、これにより従来公知の製造方法によって用いられる場
合に比してより容易で、安価で、且つ、迅速に所要のC
dS層とCu23層を形成し得るようにすることにある
。
C d、S −Cu2 S太陽電池の製造方法を提供し
、これにより従来公知の製造方法によって用いられる場
合に比してより容易で、安価で、且つ、迅速に所要のC
dS層とCu23層を形成し得るようにすることにある
。
本発明の、更に、もうひとつの目的は、Cd5−Cu2
S太陽電池に通常節される後処理を施して、電池の寿命
を著しく縮める電解質を形成する水分をほとんど除去す
るようにしたことにある。
S太陽電池に通常節される後処理を施して、電池の寿命
を著しく縮める電解質を形成する水分をほとんど除去す
るようにしたことにある。
又、本発明の他の目的は、改良された製造方法によって
製造される半導体ベースの太陽電池を提供することにあ
る。
製造される半導体ベースの太陽電池を提供することにあ
る。
更に、本発明のもうひとつの他の目的は、厚肉フィルム
方式によシ製造され、その構造内に水分全はとんど含−
1′ないCd5−Cu2S太陽電池を提供することにあ
る。
方式によシ製造され、その構造内に水分全はとんど含−
1′ないCd5−Cu2S太陽電池を提供することにあ
る。
問題点を解決するための手段
上記、及び、その他の目的を達成するために、本発明の
製造方法に於ては、CdSiを基板に塗布、形成する工
程と、CdS層を形成した基板の表面にCuxS層を形
成して所望の太陽電池を製造する方法に、熱処理過程で
生成されるH2S’e吸収し、硫黄分子 Ca Sの形
で保持し、更に電池構造中の水分のほとんどを除去する
に充分なCaOの存在下に於て、電池をH2雰囲気内に
て所定温度で所定時間加熱して熱処理を施す工程を付加
している。
製造方法に於ては、CdSiを基板に塗布、形成する工
程と、CdS層を形成した基板の表面にCuxS層を形
成して所望の太陽電池を製造する方法に、熱処理過程で
生成されるH2S’e吸収し、硫黄分子 Ca Sの形
で保持し、更に電池構造中の水分のほとんどを除去する
に充分なCaOの存在下に於て、電池をH2雰囲気内に
て所定温度で所定時間加熱して熱処理を施す工程を付加
している。
しかして、本発明による高性能、安定Cd5−Cu2S
太陽電池は、 A−精製されたCdS粉末よりCdSスラリーを調製す
る工程と、 B−ZnとCdの連続メッキ層を有する基板に、前記C
dスラリー全厚さ10〜15ミクロンの層に塗布する工
程と、 C−CdSi全形成した基板を乾燥させるとともに熱処
理する工程と、 D−熱処理した基板を加圧する工程と、E−CdS層を
形成され、加圧された基板に前記の熱処理とは別の熱処
理を施してCdSi再結晶させるとともに焼き入れする
工程と、F−熱処理され、CdS層を形成された基板の
表面に、薄いCu2Sバリア層を、不活性雰囲気下に於
て形成しバリア化されたC d S−Cu x S層を
有するアッセンブリを作成する工程と、G−前記のバリ
ア化されたCd5−CuxS層を有するアッセンブリf
Ca Oの存在下に於てN2 ’J−囲気内にて熱処
理する工程と、H−所望の安定Cd5−Cu2 S太陽
電池全完成するために、熱処理されたアッセンブリの上
側面に上部電導層を形成する工程と、及び、I−得られ
た電池をカプセルに封入する工程とより成る厚肉フィル
ム方式を用いた製造方法にてM造さ九る。
太陽電池は、 A−精製されたCdS粉末よりCdSスラリーを調製す
る工程と、 B−ZnとCdの連続メッキ層を有する基板に、前記C
dスラリー全厚さ10〜15ミクロンの層に塗布する工
程と、 C−CdSi全形成した基板を乾燥させるとともに熱処
理する工程と、 D−熱処理した基板を加圧する工程と、E−CdS層を
形成され、加圧された基板に前記の熱処理とは別の熱処
理を施してCdSi再結晶させるとともに焼き入れする
工程と、F−熱処理され、CdS層を形成された基板の
表面に、薄いCu2Sバリア層を、不活性雰囲気下に於
て形成しバリア化されたC d S−Cu x S層を
有するアッセンブリを作成する工程と、G−前記のバリ
ア化されたCd5−CuxS層を有するアッセンブリf
Ca Oの存在下に於てN2 ’J−囲気内にて熱処
理する工程と、H−所望の安定Cd5−Cu2 S太陽
電池全完成するために、熱処理されたアッセンブリの上
側面に上部電導層を形成する工程と、及び、I−得られ
た電池をカプセルに封入する工程とより成る厚肉フィル
ム方式を用いた製造方法にてM造さ九る。
本発明の他の構成によれば、
八−精製されたCdS粉末よ5CdSスラリーを調製す
る工程と、 B−ZnとCdの連続メッキ層を有する基板に、前記C
dSスラリーを厚さ10〜15ミクロンの層に塗布する
工程と、 C−Cd3層全形成した基板を乾燥させるとともに、熱
処理する工程と、 D−熱処理した基板を加圧する工程と、E−Cds層を
形成され、加圧された基板に前記の熱処理とは別の熱処
理を施してCdSi再結晶させるとともに焼き入れする
工程と、F−熱処理され、CdS層を形成された基板の
表面に、薄い0028791層を、不活性雰囲気下に於
て形成しバリア化されたC d S −CuxS層を有
するアッセンブリを作成する工程と、G−前記のバリア
化されたCd5−CuxS層を有するアッセンブリをC
a−0の存在下に於てN2雰囲気内にて熱処理する工程
と、 H−所望の安定Cd5−Cu2S太陽電池を完成するた
めに、熱処理されたアッセンブリの上側面に上部電導層
を形成する工程と、及び■−得られた電池をカプセルに
封入する工程とより成る厚肉フィルム方式を用いた高性
能、安定Cd5−Cu2S太陽電池の製造方法が提供さ
れる。
る工程と、 B−ZnとCdの連続メッキ層を有する基板に、前記C
dSスラリーを厚さ10〜15ミクロンの層に塗布する
工程と、 C−Cd3層全形成した基板を乾燥させるとともに、熱
処理する工程と、 D−熱処理した基板を加圧する工程と、E−Cds層を
形成され、加圧された基板に前記の熱処理とは別の熱処
理を施してCdSi再結晶させるとともに焼き入れする
工程と、F−熱処理され、CdS層を形成された基板の
表面に、薄い0028791層を、不活性雰囲気下に於
て形成しバリア化されたC d S −CuxS層を有
するアッセンブリを作成する工程と、G−前記のバリア
化されたCd5−CuxS層を有するアッセンブリをC
a−0の存在下に於てN2雰囲気内にて熱処理する工程
と、 H−所望の安定Cd5−Cu2S太陽電池を完成するた
めに、熱処理されたアッセンブリの上側面に上部電導層
を形成する工程と、及び■−得られた電池をカプセルに
封入する工程とより成る厚肉フィルム方式を用いた高性
能、安定Cd5−Cu2S太陽電池の製造方法が提供さ
れる。
作用
薄いZnメッキ層を形成する工程を含み、要すれば更に
Cdメッキ層を形成する工程金倉む基板の前処理を除く
全ての工程は、非常に簡単な装置を用いて通常の大気圧
下に於てN2雰囲気内にて行われる。これにより、最小
の処理で内部空間の密閉性を保持し得るように構成され
た4つのセクションに全工程を分割して構成することが
出来る。
Cdメッキ層を形成する工程金倉む基板の前処理を除く
全ての工程は、非常に簡単な装置を用いて通常の大気圧
下に於てN2雰囲気内にて行われる。これにより、最小
の処理で内部空間の密閉性を保持し得るように構成され
た4つのセクションに全工程を分割して構成することが
出来る。
各セクションに配設される簡単な装置の取扱、及び、そ
の装置の補修は、簡単な、適度な町とう性を有するエア
ホースに接続されて適度に空気を循環され、加圧された
プラスチックバックを着用した作業員によって行なうこ
とが出来る。
の装置の補修は、簡単な、適度な町とう性を有するエア
ホースに接続されて適度に空気を循環され、加圧された
プラスチックバックを着用した作業員によって行なうこ
とが出来る。
又、本発明によれば、CdS、Cu2S層の塗布及び他
の中間層の塗布を非常に簡単で、迅速に、且つ安価に行
なうことが出来る。これにより、同様の層をエバポレイ
ジョンによって塗布していた従来の方法を著しく改善す
ることが出来る。本発明による方法に於て行われる厚肉
フィルムの塗布は、スクリーンプリント若しくはドクタ
ープレイディングによって連続的に行なうことが出来る
ので、従来の層の塗布、形成をエバポレイジョンによっ
て行なっていた方法のようにCdx層及び、2178層
を形成するための蒸気圧の困難な制御を要しないものと
なる。更に、単層、又は複層のCuzS層金設けること
によって少数担体によって発生されるフォトンの再結合
を減少又は防止する。更に、又、この種のCu28層が
CuxS層への酸素の侵入に対して拡散バリアとして機
能することが知られてお9、従って、このCu28層に
より電池の寿命を坤ばすことが出来る。更に、本発明の
方法は、一つの炉内に基板を装入し、ポツピングし、蒸
着を行ない、当該炉より処理された基板を取出し、取出
した基板をクリーニングし、他の炉に装入し、ポンピン
グし、蒸着を行ない、再び当該他の炉より取出すために
、長時間を要さず、1だ労力を要しないものとなる。
の中間層の塗布を非常に簡単で、迅速に、且つ安価に行
なうことが出来る。これにより、同様の層をエバポレイ
ジョンによって塗布していた従来の方法を著しく改善す
ることが出来る。本発明による方法に於て行われる厚肉
フィルムの塗布は、スクリーンプリント若しくはドクタ
ープレイディングによって連続的に行なうことが出来る
ので、従来の層の塗布、形成をエバポレイジョンによっ
て行なっていた方法のようにCdx層及び、2178層
を形成するための蒸気圧の困難な制御を要しないものと
なる。更に、単層、又は複層のCuzS層金設けること
によって少数担体によって発生されるフォトンの再結合
を減少又は防止する。更に、又、この種のCu28層が
CuxS層への酸素の侵入に対して拡散バリアとして機
能することが知られてお9、従って、このCu28層に
より電池の寿命を坤ばすことが出来る。更に、本発明の
方法は、一つの炉内に基板を装入し、ポツピングし、蒸
着を行ない、当該炉より処理された基板を取出し、取出
した基板をクリーニングし、他の炉に装入し、ポンピン
グし、蒸着を行ない、再び当該他の炉より取出すために
、長時間を要さず、1だ労力を要しないものとなる。
更に、本発明の要旨はバリアを形成した電池を112雰
囲気下で熱処理して電池構造内の水分を出来るだけ除去
することにある。周知のように、水の状態のH2Oは電
解質として作用して′電池の寿命を短縮させてしまう。
囲気下で熱処理して電池構造内の水分を出来るだけ除去
することにある。周知のように、水の状態のH2Oは電
解質として作用して′電池の寿命を短縮させてしまう。
本発明によれば、最終処理を電池内の水分を除去するた
めに、及びその一部を熱処理過程でCaSに変換し、酸
素を除去することによってCuxS層の表面に所要の単
層又は複層のCu2O層の形成を確実にすることが出来
るように、CaOの存在下で行なうようにしている。
めに、及びその一部を熱処理過程でCaSに変換し、酸
素を除去することによってCuxS層の表面に所要の単
層又は複層のCu2O層の形成を確実にすることが出来
るように、CaOの存在下で行なうようにしている。
更に、単層、又は、複層のCu28層の存在によって少
数担体によって生起されるフォトンの再結合を減少又は
防止して、太陽電池の性能を大きく向上させる。しかも
、このC’u28層は酸素の侵入に対して拡散バリアと
して作用して、電池の寿命を伸ばすことが出来る。
数担体によって生起されるフォトンの再結合を減少又は
防止して、太陽電池の性能を大きく向上させる。しかも
、このC’u28層は酸素の侵入に対して拡散バリアと
して作用して、電池の寿命を伸ばすことが出来る。
この最終熱処理は如何なる種類のCdS、−eu2s太
陽電池にも適用しうるので、本発明は、基板上にCdS
層を塗布、形成し、引続いてCdS層を形成した基板の
表面にCLIXS層を形成して所望の太陽電池を製造す
る方法を改良することが出来る。本発明によれば、製造
された電池を、熱処理中に生成さλするH2Sキャリア
ガス中の硫黄分を吸収し、CaSの状態て保持するとと
もに、電池構造中の水分を除去するのに充分な量の予め
乾燥されたCaOの存在下に於てH2雰囲気内にて15
0〜l 70 ’Oで熱処理を行なうことによって、C
d S −Cu 2 S太陽電池の製造方法が改良され
る。
陽電池にも適用しうるので、本発明は、基板上にCdS
層を塗布、形成し、引続いてCdS層を形成した基板の
表面にCLIXS層を形成して所望の太陽電池を製造す
る方法を改良することが出来る。本発明によれば、製造
された電池を、熱処理中に生成さλするH2Sキャリア
ガス中の硫黄分を吸収し、CaSの状態て保持するとと
もに、電池構造中の水分を除去するのに充分な量の予め
乾燥されたCaOの存在下に於てH2雰囲気内にて15
0〜l 70 ’Oで熱処理を行なうことによって、C
d S −Cu 2 S太陽電池の製造方法が改良され
る。
更に、本発明によれば、ガラスを用い、比較的大きな間
接ギャップを有するIll −Vlクラスの半導体ベー
スの電池に比べ、製造されるCd3Cu2S太陽電池を
全て高い熱伝導率を有するAI、Cu等の金属材料によ
って形成される比較的厚肉の基板によって構成すること
が出来る。これらの電池には、蒸着またはスクリーニン
グによって非常に薄い金属接点が形成される。この要素
は必須であり、電池を流体により効率的に冷却できるよ
うにして、温度上昇による電池の出力低下を防ぐことが
出来る。
接ギャップを有するIll −Vlクラスの半導体ベー
スの電池に比べ、製造されるCd3Cu2S太陽電池を
全て高い熱伝導率を有するAI、Cu等の金属材料によ
って形成される比較的厚肉の基板によって構成すること
が出来る。これらの電池には、蒸着またはスクリーニン
グによって非常に薄い金属接点が形成される。この要素
は必須であり、電池を流体により効率的に冷却できるよ
うにして、温度上昇による電池の出力低下を防ぐことが
出来る。
実施例
本発明の特徴、利点等は、以下に添付図1mを参照しつ
つ説明する実施例より理解されるであろう。
つ説明する実施例より理解されるであろう。
図中、第1図乃至第8図は本発明の方法のフロ−チャー
トを示している。
トを示している。
くステップ A> CdS粉末の精製及びCdSスラリ
ーの調製 本発明の、第1の、基本ステップは、CdS粉末からC
dSスラリーを調製するものである。
ーの調製 本発明の、第1の、基本ステップは、CdS粉末からC
dSスラリーを調製するものである。
CdSベースの太陽電池の光電池変換効率は、主にCd
S半導体層の05〜1Ω/鍜の範囲で設定される抵抗率
に応じて決るので、出発物質として電池を適切に動作さ
せるために所要の抵抗率を得るために、カドミウムの拡
散によって電位ブレイドに精製され、最低76%のCd
を含有するCdS粉末か必要となる。これを行なうため
に、グリープ コーポレイション(GrieveCor
p、)製のVl−37!!!のアルミニウムトレイを6
段縦置にしたステンレス鋼製炉が用いられる。
S半導体層の05〜1Ω/鍜の範囲で設定される抵抗率
に応じて決るので、出発物質として電池を適切に動作さ
せるために所要の抵抗率を得るために、カドミウムの拡
散によって電位ブレイドに精製され、最低76%のCd
を含有するCdS粉末か必要となる。これを行なうため
に、グリープ コーポレイション(GrieveCor
p、)製のVl−37!!!のアルミニウムトレイを6
段縦置にしたステンレス鋼製炉が用いられる。
電位ブレイドのCdS粉末、たとえば、アルファ ヴエ
ントロン(Alfa Vent、ron)製のCdS粉
末は、金属カドミウム棒を精製作業の開始以前に炉の底
部に置いて前回の精製作業中に同一炉内にて精製される
高純度、微粒状σ)カドミウム粒子等量と混合される。
ントロン(Alfa Vent、ron)製のCdS粉
末は、金属カドミウム棒を精製作業の開始以前に炉の底
部に置いて前回の精製作業中に同一炉内にて精製される
高純度、微粒状σ)カドミウム粒子等量と混合される。
実際には、精製過程で用いられる温度800℃の温度に
よって、金属カドミウム棒は蒸発し、炉のドアのガラス
部に高純度、微粒状の粒子の厚い層として付着する。
よって、金属カドミウム棒は蒸発し、炉のドアのガラス
部に高純度、微粒状の粒子の厚い層として付着する。
このようにして刺着したカドミウム粒子は容易に容器内
にかき落すことができ、これを200メツシユのステン
レス鋼製のふるいにかけてCdS粉末と混合する前にカ
ドミウム粒子の最大径を74ミクロンとし、その重量比
をCdS粉末と一対一とする。
にかき落すことができ、これを200メツシユのステン
レス鋼製のふるいにかけてCdS粉末と混合する前にカ
ドミウム粒子の最大径を74ミクロンとし、その重量比
をCdS粉末と一対一とする。
CdS粉末とcd微粒粉末の混合物は、3つのトレイ上
に2〜3cmの厚さの層にして載置される。
に2〜3cmの厚さの層にして載置される。
残りのトレイには、高純度のCaO微粉末が2〜3CT
Lの層状に載置される。CdSを載置したトレイとCa
Oを載置したトレイは炉内に交互に配置される。それぞ
れのトレイ間には少なくとも5cfILの間隔を設け、
最下位のトレイと炉底部間には10CTLの間隔を設け
る。
Lの層状に載置される。CdSを載置したトレイとCa
Oを載置したトレイは炉内に交互に配置される。それぞ
れのトレイ間には少なくとも5cfILの間隔を設け、
最下位のトレイと炉底部間には10CTLの間隔を設け
る。
前記したように、少な(とも2〜31cgの金属カドミ
ウム棒が炉底部全面を覆う浅いアルミニウム容器に載置
されて炉底部に挿入され、次回の作業に於て用(・る高
純度のCd微粉末を調製する。
ウム棒が炉底部全面を覆う浅いアルミニウム容器に載置
されて炉底部に挿入され、次回の作業に於て用(・る高
純度のCd微粉末を調製する。
全てリドレイを炉内に挿入したのち、炉のドアを密閉す
るとともに加熱をはじめる。炉には、機械式ポンプが接
続されており、カドミウム混合物の酸化を阻止するため
に精製過程で雰囲気ガスとして用いるN2ガスの除去を
行なう。
るとともに加熱をはじめる。炉には、機械式ポンプが接
続されており、カドミウム混合物の酸化を阻止するため
に精製過程で雰囲気ガスとして用いるN2ガスの除去を
行なう。
炉内の負圧が最大になった時点で、超高純度のN2ガス
(UHP)を炉の内圧が大気圧となるまで充填される。
(UHP)を炉の内圧が大気圧となるまで充填される。
N2ガスは10分後に除去される。
この処理は、炉内温度が所要温度(300’0 )に達
すると同時に反復される。
すると同時に反復される。
N2ガス圧を僅かに減少させながら、この処理は30〜
40分間継続される。その後、■−I2ガスは除去され
、炉内にはUPHアルゴンか充填される。アルゴンを除
去して炉内の負圧を最大とした後、精製処理を少なくと
も100時間継続して行なう。この処理を終了したのち
、炉内温度を降下させるとともに、炉内の圧力とUPH
の充填により大気圧に昇圧する。炉内を室温に冷却した
後、トレイをひき出し精製されたCdS粉末を捕集し、
これを100メツシユのステンレス製ふルt・にがける
。ふるいにかけた粉末はガラスびんに収容される。
40分間継続される。その後、■−I2ガスは除去され
、炉内にはUPHアルゴンか充填される。アルゴンを除
去して炉内の負圧を最大とした後、精製処理を少なくと
も100時間継続して行なう。この処理を終了したのち
、炉内温度を降下させるとともに、炉内の圧力とUPH
の充填により大気圧に昇圧する。炉内を室温に冷却した
後、トレイをひき出し精製されたCdS粉末を捕集し、
これを100メツシユのステンレス製ふルt・にがける
。ふるいにかけた粉末はガラスびんに収容される。
CdSスラリーを調製するために、本発明の方法の工程
Aに於ては、上記のようにCdS粉末を精製し、ふるい
にかける。CdS粉末は適当なコンバウンド、好ましく
はα−テルピネオー/l/(Cn3 C6J−(8C(
OH)(CH3)2 )と混合される。α−チルビイ、
オールの量及び/又はCdS粉末の后はCdS層の塗布
、形成に適した粘度を得るために変化される。このよう
にして調製されたCdSスラリーも貯蔵される。
Aに於ては、上記のようにCdS粉末を精製し、ふるい
にかける。CdS粉末は適当なコンバウンド、好ましく
はα−テルピネオー/l/(Cn3 C6J−(8C(
OH)(CH3)2 )と混合される。α−チルビイ、
オールの量及び/又はCdS粉末の后はCdS層の塗布
、形成に適した粘度を得るために変化される。このよう
にして調製されたCdSスラリーも貯蔵される。
上記のCdS粉末をふるい分けする粒径は、いかなる大
きさでもよく、太陽電池の光電池変換効率を決定する要
素であるCdS層の結晶の大きさに応じて、ふるいわけ
する粒径な決定するものとする。
きさでもよく、太陽電池の光電池変換効率を決定する要
素であるCdS層の結晶の大きさに応じて、ふるいわけ
する粒径な決定するものとする。
しかして、本発明によれば、従来の負圧エバポレイジョ
ン方式、RF−スパッタリング方式、スプレィ方式では
不可能であった。CdS粉末の粒径の選択を任意に行い
得るものとすることが出来る。
ン方式、RF−スパッタリング方式、スプレィ方式では
不可能であった。CdS粉末の粒径の選択を任意に行い
得るものとすることが出来る。
くステップ B) 基板の調製及びCdSスラリーの塗
布 本発明の方法の、第2の基本ステップは、10〜15ミ
クロンの厚さに、予め調製されたCdSスラリーを、Z
nメッキとCdメッキを画した基板に塗布するものであ
る。
布 本発明の方法の、第2の基本ステップは、10〜15ミ
クロンの厚さに、予め調製されたCdSスラリーを、Z
nメッキとCdメッキを画した基板に塗布するものであ
る。
基板は、Cu、 Fe、Alより成る金属の群より選択
される金属にて形成される。本発明の方法を連続的に実
施しようとする場合には、所望の厚さ、及び幅の帯状に
連続した基板を用いる。
される金属にて形成される。本発明の方法を連続的に実
施しようとする場合には、所望の厚さ、及び幅の帯状に
連続した基板を用いる。
勿論、基板の厚さ及び幅は任意に決められるものである
。発明者の実験に於ては、銅製の帯状基板を、その厚さ
をQ、 5 mmからQ、 l mm間で変化させなが
ら用いた。この銅製の帯状基板の幅は、CdSスラリー
の塗布に用いたスクリーンプリント装置の大きさに応じ
て57儒で一定とした。実際の処、基板の厚さ、プリン
トパラメータ、スクリーンから基板までの距離、スクイ
ージに負荷する圧力等によって決定される。
。発明者の実験に於ては、銅製の帯状基板を、その厚さ
をQ、 5 mmからQ、 l mm間で変化させなが
ら用いた。この銅製の帯状基板の幅は、CdSスラリー
の塗布に用いたスクリーンプリント装置の大きさに応じ
て57儒で一定とした。実際の処、基板の厚さ、プリン
トパラメータ、スクリーンから基板までの距離、スクイ
ージに負荷する圧力等によって決定される。
勿論金属基板は、添付のフローチャートの初めに示した
ように、−又はそれ以上の前処理を施すことが出来る。
ように、−又はそれ以上の前処理を施すことが出来る。
この前処理に於ては、主に、室温にて非イオン化水に浸
漬することによるクリーニング及び油脂分の除去処理と
、浸漬処理に引続く酸性槽内での電解研磨処理と、及び
、上記の浸漬処理に引続いて行われる。H2OとHNO
3の一対一浴液槽内でのエツチング処理を行うものであ
る。このようにして、前処理された基板は、引続いて1
〜2ミクロンの厚さのZnを電気メッキされ、このZn
電気メツキ層の上には、引続いて厚さ1〜2ミクロンの
金属カドミウム層が電気メッキされる。この亜鉛(Zn
)及びカドミウムのメッキ工程は、標準高速フルオロホ
ウ酸槽を用いて室温で行われる。フルオロホウ酸槽内の
組成物及びその調製は、従来より公知であり、従って、
詳細な説明を要さない。
漬することによるクリーニング及び油脂分の除去処理と
、浸漬処理に引続く酸性槽内での電解研磨処理と、及び
、上記の浸漬処理に引続いて行われる。H2OとHNO
3の一対一浴液槽内でのエツチング処理を行うものであ
る。このようにして、前処理された基板は、引続いて1
〜2ミクロンの厚さのZnを電気メッキされ、このZn
電気メツキ層の上には、引続いて厚さ1〜2ミクロンの
金属カドミウム層が電気メッキされる。この亜鉛(Zn
)及びカドミウムのメッキ工程は、標準高速フルオロホ
ウ酸槽を用いて室温で行われる。フルオロホウ酸槽内の
組成物及びその調製は、従来より公知であり、従って、
詳細な説明を要さない。
Zn電気メツキ槽とCd電気メツキ槽の出口に於て、基
板は室温にて非イオン化水に浸漬される。
板は室温にて非イオン化水に浸漬される。
Cdメッキを施され、水洗いされた基板は、金属基板の
前記の処理を行う室とは異なる他の室にlα接移送され
る。この、次の室は乾燥され、最小0.05ミクロンの
フィルターによりほこりを除去した状態に管理されてお
り、大気圧のN2ガスで充たされている。この室内に於
て、予め調製されたCdSスラリーが基板に塗布される
。
前記の処理を行う室とは異なる他の室にlα接移送され
る。この、次の室は乾燥され、最小0.05ミクロンの
フィルターによりほこりを除去した状態に管理されてお
り、大気圧のN2ガスで充たされている。この室内に於
て、予め調製されたCdSスラリーが基板に塗布される
。
Cd、Sスラリーの塗布は、50メツシユのステンレス
スクリーンとウレタン製のスクイージ板を用いて行われ
る。このスクリーンプリントによる塗布では、スラリー
の粘度を適当に調製することにより、スクイージの圧力
をその摩耗をほとんど引起さないので無視することが出
来るため、無調製で50. +10 (1個の電池に塗
布を行うことが出来る。
スクリーンとウレタン製のスクイージ板を用いて行われ
る。このスクリーンプリントによる塗布では、スラリー
の粘度を適当に調製することにより、スクイージの圧力
をその摩耗をほとんど引起さないので無視することが出
来るため、無調製で50. +10 (1個の電池に塗
布を行うことが出来る。
一方、CdSスラリーの塗布は、簡単なドクタープレイ
ド法にて行うことも出来る。このドクタープレイド法は
、基板上に堆積されたCdSスラリーを移動する帯状基
板の上方に所定間隔を存して保持されるステンレス鋼製
のプレイドによりかき取ることによって行われる。
ド法にて行うことも出来る。このドクタープレイド法は
、基板上に堆積されたCdSスラリーを移動する帯状基
板の上方に所定間隔を存して保持されるステンレス鋼製
のプレイドによりかき取ることによって行われる。
発明者によれば、AMI885型スクリーンプリント機
を用いて高速で全自動作業を行って、満足のい(実験結
果を得ている。
を用いて高速で全自動作業を行って、満足のい(実験結
果を得ている。
ウェット状態でのCdSスラリー層の厚さは、製造者の
要求に応じて実験的に決定される。CdS層の所定の処
理を行った後の最終的な厚さは、10〜15ミクロンと
なる。
要求に応じて実験的に決定される。CdS層の所定の処
理を行った後の最終的な厚さは、10〜15ミクロンと
なる。
上記のように、CdSスラリーを塗布するためのN2雰
囲気も0.05メツシユのフィルターによって、ろ過さ
れる。プリティング自体は、大気下で行うことも出来る
が、均一性を得るためには、N2雰囲気下で行うことが
望ましい。
囲気も0.05メツシユのフィルターによって、ろ過さ
れる。プリティング自体は、大気下で行うことも出来る
が、均一性を得るためには、N2雰囲気下で行うことが
望ましい。
くステップ C> CdS層を形成した基板の乾燥及び
熱処理 pめ実験的に選択された、厚いCdSスラリー層(通常
ウェット時1−00〜]50ミクロンの厚さ)にて被物
された連続した帯状の基板は、後の処理を行う前に乾燥
され、熱処理されなければならない。この乾燥、熱処理
工程は、単一の帯状炉の温度分布を調製することにより
、150°Cで3分間乾燥を行なし・、4. OO”0
て5分間熱処理を行なうようにする。
熱処理 pめ実験的に選択された、厚いCdSスラリー層(通常
ウェット時1−00〜]50ミクロンの厚さ)にて被物
された連続した帯状の基板は、後の処理を行う前に乾燥
され、熱処理されなければならない。この乾燥、熱処理
工程は、単一の帯状炉の温度分布を調製することにより
、150°Cで3分間乾燥を行なし・、4. OO”0
て5分間熱処理を行なうようにする。
くステップ D〉 加圧
本発明の、方法の第4のステップは加圧工程である。熱
処理された帯状の基板は、好ましくは、クロムメッキを
施した高強度鋼製の2枚のプレート間にて5〜6 t
/ cttfの圧力で加圧される。
処理された帯状の基板は、好ましくは、クロムメッキを
施した高強度鋼製の2枚のプレート間にて5〜6 t
/ cttfの圧力で加圧される。
勿論、加圧装置は、帯状拐ネ」の幅に応じて選択される
。プレス用鋼板の相互に近接する面の間隔は、最大2
mynなので、これに用いるプレス機の構造及び新雪の
出力は非常に安価となる。実際のところ、ただ一つの重
要な事項は、プレス板の対向′する面が、1ミクロン以
丁に(υ[暦されて(・ることである。発明者が実験を
行ったときには、プレス板表面の研磨はメインテナンス
をぜずども8年間不要であった。従って、CdS層及び
基板は、強固にクロムメッキされたプレス用鋼板にはほ
とんど損傷を与えないものと思われる。
。プレス用鋼板の相互に近接する面の間隔は、最大2
mynなので、これに用いるプレス機の構造及び新雪の
出力は非常に安価となる。実際のところ、ただ一つの重
要な事項は、プレス板の対向′する面が、1ミクロン以
丁に(υ[暦されて(・ることである。発明者が実験を
行ったときには、プレス板表面の研磨はメインテナンス
をぜずども8年間不要であった。従って、CdS層及び
基板は、強固にクロムメッキされたプレス用鋼板にはほ
とんど損傷を与えないものと思われる。
くステップ E〉 加圧された、CdS層を有する基板
の熱処理 本発明の方法の、第5の基板ステップは、所定の炉内に
て、CdS層を形成され、加圧された基板を熱処理する
ものである。この熱処理は、基板を適当な長さに切断し
て、箱型炉を用いて行うか、若しくは、適当な帯状炉を
用いて行う。いずれにおいても、加圧されたCdS層を
有する基板は、不活性雰囲気下にて300°Cで加熱さ
れてCdSを再結晶させる。
の熱処理 本発明の方法の、第5の基板ステップは、所定の炉内に
て、CdS層を形成され、加圧された基板を熱処理する
ものである。この熱処理は、基板を適当な長さに切断し
て、箱型炉を用いて行うか、若しくは、適当な帯状炉を
用いて行う。いずれにおいても、加圧されたCdS層を
有する基板は、不活性雰囲気下にて300°Cで加熱さ
れてCdSを再結晶させる。
箱型炉を用いる場合、CdSの精製工程で用℃・たステ
ンレス製箱型炉を用いることが出来る。この熱処理工程
の間に、CdS層はカドミウムによって精製される。実
際には、加圧された基板は所望の長さく通常は、炉の長
さに応じて50crrLから1m)に切断される。加圧
され、CdS層を形成した基板は、炉内の適当な段に配
置されたトレイに載置される。適当なホルダを用いて基
板を2〜3 mmの間隔を設けて密に炉内に収容すれば
、炉内には数千メートル分の電池を一括して収容するこ
とが出来る。炉を閉塞する前に、1〜2 /cgの金属
カドミウム棒を浅いアルミニウム容器に入れて炉底部に
挿入する。炉を閉塞した後、炉内のN2ガス雰囲気は除
去され、UHPアルゴンに置換される。その後、炉内は
所定温度800 ’Cに達するまで加熱される。しかる
のち、炉内のアルゴンガスは除去される。この状態で、
Cdによる精製が少なくとも24時間行われるとともに
CdSの結晶が起り、完成される。その後、基板は炉よ
り引出され、次のステップに送られる。
ンレス製箱型炉を用いることが出来る。この熱処理工程
の間に、CdS層はカドミウムによって精製される。実
際には、加圧された基板は所望の長さく通常は、炉の長
さに応じて50crrLから1m)に切断される。加圧
され、CdS層を形成した基板は、炉内の適当な段に配
置されたトレイに載置される。適当なホルダを用いて基
板を2〜3 mmの間隔を設けて密に炉内に収容すれば
、炉内には数千メートル分の電池を一括して収容するこ
とが出来る。炉を閉塞する前に、1〜2 /cgの金属
カドミウム棒を浅いアルミニウム容器に入れて炉底部に
挿入する。炉を閉塞した後、炉内のN2ガス雰囲気は除
去され、UHPアルゴンに置換される。その後、炉内は
所定温度800 ’Cに達するまで加熱される。しかる
のち、炉内のアルゴンガスは除去される。この状態で、
Cdによる精製が少なくとも24時間行われるとともに
CdSの結晶が起り、完成される。その後、基板は炉よ
り引出され、次のステップに送られる。
一方、帯状炉を用いる場合には、電気メンキ槽を用いて
実験的に決る金属カドミウム層によってのみ精製される
。この電気メッキは、Cdメッキに用いたフルオロホウ
酸槽を用いて、室温で、流体粘度Q、 l knp/c
tdでCdS層の表面上に0,05〜010ミクロンの
厚さの層が形成される萱での10〜20秒間の間で行わ
れる。その後、基板は、非イオン化水に浸漬され、つい
で、N2又は、アルゴンにて成る不活性雰囲気中で、5
〜15分間熱処理される。この熱処理時間は、選択され
る温度に応じて変化される。普だ、この熱処理は、30
0〜700℃の温度範囲で行われる。
実験的に決る金属カドミウム層によってのみ精製される
。この電気メッキは、Cdメッキに用いたフルオロホウ
酸槽を用いて、室温で、流体粘度Q、 l knp/c
tdでCdS層の表面上に0,05〜010ミクロンの
厚さの層が形成される萱での10〜20秒間の間で行わ
れる。その後、基板は、非イオン化水に浸漬され、つい
で、N2又は、アルゴンにて成る不活性雰囲気中で、5
〜15分間熱処理される。この熱処理時間は、選択され
る温度に応じて変化される。普だ、この熱処理は、30
0〜700℃の温度範囲で行われる。
」二記のいずれの場合にも、Cdの拡散を良くするため
に短時間の熱処理が必要となる。更に、いずれの場合に
も、厚さ0.3〜0.4ミクロンのZn層にて前記によ
り形成したC’dメッキ層全層積被覆ことが望ましい。
に短時間の熱処理が必要となる。更に、いずれの場合に
も、厚さ0.3〜0.4ミクロンのZn層にて前記によ
り形成したC’dメッキ層全層積被覆ことが望ましい。
このZn層は、箱型炉又は帯状炉内にて、不活性雰囲気
下で、熱処理される。
下で、熱処理される。
上記のZn層は、帯状基板にZnのメソギ層を形成する
ために用いたのと同じフルオロホウ酸槽を用いて、電気
メッキにより形成される。Znメッキの所要時間は、実
験的に決定されるが、通常は、流体粘度0. l Am
p/cfA’tl’ l O〜20秒間である。
ために用いたのと同じフルオロホウ酸槽を用いて、電気
メッキにより形成される。Znメッキの所要時間は、実
験的に決定されるが、通常は、流体粘度0. l Am
p/cfA’tl’ l O〜20秒間である。
Zn層を形成した後、基板は乾燥され、再度箱型炉、又
は、帯状炉内に挿入されて、もう−産熱処理を施される
。帯状炉を用いる場合には、大気圧のN2雰囲気又はア
ルゴン雰囲気内にて500〜700℃で5〜15分間行
われる。一方、箱型炉を用いる場合には、上記と同様に
大気圧のN2又はアルゴン雰囲気下で、500〜700
℃で1〜2時間行われる。炉内の加熱が開始されると同
時に、N2ガスはU)(Pアルゴンに交換される。
は、帯状炉内に挿入されて、もう−産熱処理を施される
。帯状炉を用いる場合には、大気圧のN2雰囲気又はア
ルゴン雰囲気内にて500〜700℃で5〜15分間行
われる。一方、箱型炉を用いる場合には、上記と同様に
大気圧のN2又はアルゴン雰囲気下で、500〜700
℃で1〜2時間行われる。炉内の加熱が開始されると同
時に、N2ガスはU)(Pアルゴンに交換される。
少しして(5〜10分後)、アルゴンは排出される。炉
内の温度が350℃に達すると、アルゴンが再封入され
る。
内の温度が350℃に達すると、アルゴンが再封入され
る。
上記のように、箱型炉とそれをもちたい熱処理、及び、
帯状炉及びそれを用いた熱処理は、いずれも上記の熱処
理に適用可能である。炉の種類及び熱処理方法は、製造
工程の自動化をどのように行うかに応じて適宜選択され
る。
帯状炉及びそれを用いた熱処理は、いずれも上記の熱処
理に適用可能である。炉の種類及び熱処理方法は、製造
工程の自動化をどのように行うかに応じて適宜選択され
る。
Cu28層を形成する前に、連続してカドミウム層と亜
鉛層全形成することによって、CdS層とCu28層の
間の接合部に生じる結晶学的不整合を減少させることが
出来る。この不整合は、少数担体の拡散を著しく減少さ
せ、しかして、開回路の短絡電流(Isc)と゛電池電
圧(V o c )の双方を著しく減少させる。周知の
ように、Cdx、Zny(xは約0,85、yは約0.
15 )のような半導体コンパウンドを用いれは、上記
のような不整合全防止できる。従って、′電池の効率は
、これらのCdx層及びZny層を設けることにより、
著しく改良されることになる。また、エバポレイ/ジン
又はスツパソタリングの過程に於て、CdS中にZn(
5含むことによって、同族系のCdx層及びZnyS層
を過大に又は過小に形成してふたつの望でしくない作用
を引起すことが知られている。第1に、CdSとCu2
S間の結晶学的整合全改良するためにZnの増加さぜる
ことによって、電池の直列抵抗が増加する。第2に、C
u28層内にZni含むことによって、電池に不安定に
する。通常のエバポレイジョン又はスパッタl) 7グ
方式を用いて電池全製造する場合、Cdx及びZnyS
構造は、過大に若しくは過小に同族的に形成されること
になる。従って、CdSとCu2Sのへテロ構造間の不
整合を防止するために最も有効とされるように、Z n
f 1〜2ミクロンの厚さのCdS層のみに含有する
ようにすることは、事実上不可能であった。
鉛層全形成することによって、CdS層とCu28層の
間の接合部に生じる結晶学的不整合を減少させることが
出来る。この不整合は、少数担体の拡散を著しく減少さ
せ、しかして、開回路の短絡電流(Isc)と゛電池電
圧(V o c )の双方を著しく減少させる。周知の
ように、Cdx、Zny(xは約0,85、yは約0.
15 )のような半導体コンパウンドを用いれは、上記
のような不整合全防止できる。従って、′電池の効率は
、これらのCdx層及びZny層を設けることにより、
著しく改良されることになる。また、エバポレイ/ジン
又はスツパソタリングの過程に於て、CdS中にZn(
5含むことによって、同族系のCdx層及びZnyS層
を過大に又は過小に形成してふたつの望でしくない作用
を引起すことが知られている。第1に、CdSとCu2
S間の結晶学的整合全改良するためにZnの増加さぜる
ことによって、電池の直列抵抗が増加する。第2に、C
u28層内にZni含むことによって、電池に不安定に
する。通常のエバポレイジョン又はスパッタl) 7グ
方式を用いて電池全製造する場合、Cdx及びZnyS
構造は、過大に若しくは過小に同族的に形成されること
になる。従って、CdSとCu2Sのへテロ構造間の不
整合を防止するために最も有効とされるように、Z n
f 1〜2ミクロンの厚さのCdS層のみに含有する
ようにすることは、事実上不可能であった。
本発明によれば、CdS層の上側1〜2ミクロンの厚さ
の層をcdo、85とZ n 0.15の構造に変換す
るだけのZniメッキすることが出来、しかして、Cu
xS中に過剰なZnを含有することによってもたらされ
る上記の短絡電流の減少及び不安定性全防止出来るもの
とすることが出来る。
の層をcdo、85とZ n 0.15の構造に変換す
るだけのZniメッキすることが出来、しかして、Cu
xS中に過剰なZnを含有することによってもたらされ
る上記の短絡電流の減少及び不安定性全防止出来るもの
とすることが出来る。
くステップ F〉 バリアの形成
本発明の方法の次のステップでは、熱処理されたCdS
層を有する基板の表面に、薄いCuxSのバリア層を形
成してバリア被覆されたCd5−CuxSアッセンブリ
を形成するものである。このCuX5の塗布は、好1し
くけ、N2を充填した、熱処理を行う室とは別で、これ
に隣接した室に熱処理されたCdS層を有する基板を移
送して行う。この室では、適当な装置を用いて、バリア
の形成過程で生成されるおびただしい量の水蒸気全捕集
して、当該室内の雰囲気を常に乾燥状態に保持する。バ
リアの形成はウェット方式、又は、ドライ方式で行われ
る。これらの方式はいずれも公知であり、詳細な説明は
、省略する。
層を有する基板の表面に、薄いCuxSのバリア層を形
成してバリア被覆されたCd5−CuxSアッセンブリ
を形成するものである。このCuX5の塗布は、好1し
くけ、N2を充填した、熱処理を行う室とは別で、これ
に隣接した室に熱処理されたCdS層を有する基板を移
送して行う。この室では、適当な装置を用いて、バリア
の形成過程で生成されるおびただしい量の水蒸気全捕集
して、当該室内の雰囲気を常に乾燥状態に保持する。バ
リアの形成はウェット方式、又は、ドライ方式で行われ
る。これらの方式はいずれも公知であり、詳細な説明は
、省略する。
添付のフローチャートに示したように、Cu2Sのバリ
ア層は、Cd8層全形成した基板をHc110%のエツ
チング溶液に5分間浸漬して行う。
ア層は、Cd8層全形成した基板をHc110%のエツ
チング溶液に5分間浸漬して行う。
エツチング溶液に浸漬した後、95℃の非イオ。
ン化水中に浸漬して水洗する。その後、CdS層を形成
した基板は95℃に保持された第一銅イオン溶液に1〜
5分間浸漬される。こうして形成されたCd5−Cux
Sを形成したアッセンブリは、注意深く乾燥される前に
、室温に保たれた非イオン化水に浸漬される。また、要
すれば、所要の大きさに切断される。このアッセンブリ
は、1ミクロンの粒子のほこりをろ過し、注意深く水分
調整された乾燥したN2雰囲気の次の室に移送される。
した基板は95℃に保持された第一銅イオン溶液に1〜
5分間浸漬される。こうして形成されたCd5−Cux
Sを形成したアッセンブリは、注意深く乾燥される前に
、室温に保たれた非イオン化水に浸漬される。また、要
すれば、所要の大きさに切断される。このアッセンブリ
は、1ミクロンの粒子のほこりをろ過し、注意深く水分
調整された乾燥したN2雰囲気の次の室に移送される。
くステップ G> CaO存在下でH2雰囲気内での熱
処理 本発明によれば、製造される太陽電池の効率を向上し、
安定性を増すために、上記のようにして、若しくは他の
公知の方法で、形成されたバリア化されたCd5−Cu
xS層を有する基板を、CaOの存在下に於て、H2雰
囲気内にて熱処理を施している。
処理 本発明によれば、製造される太陽電池の効率を向上し、
安定性を増すために、上記のようにして、若しくは他の
公知の方法で、形成されたバリア化されたCd5−Cu
xS層を有する基板を、CaOの存在下に於て、H2雰
囲気内にて熱処理を施している。
バリア被覆を施したCd5−CuxS太陽電池を大気中
に於て200℃で数分間熱処理して電池の効率を向上す
ることは、周知である。実際、科学的には、このような
熱処理を酸素の存在下で行うことが、電池の性能を向上
させる上で必須であることは、周知である。更に、これ
に続いて熱処理をH2を減少した雰囲気下で行わなけれ
ばならないことも知られている。このように、H2を減
少した雰囲気下で熱処理を行うのは、CuxS層中の余
分な硫黄分を除去するためである。実際には、この硫黄
分はダイウレライト(diureleite)、グイジ
エナイト(digenite)、コベリン(covel
litelアニライト(anilite)、カルコザイ
ト(cal co c i te)を含む沢山のCux
S層を混合した組成物である。
に於て200℃で数分間熱処理して電池の効率を向上す
ることは、周知である。実際、科学的には、このような
熱処理を酸素の存在下で行うことが、電池の性能を向上
させる上で必須であることは、周知である。更に、これ
に続いて熱処理をH2を減少した雰囲気下で行わなけれ
ばならないことも知られている。このように、H2を減
少した雰囲気下で熱処理を行うのは、CuxS層中の余
分な硫黄分を除去するためである。実際には、この硫黄
分はダイウレライト(diureleite)、グイジ
エナイト(digenite)、コベリン(covel
litelアニライト(anilite)、カルコザイ
ト(cal co c i te)を含む沢山のCux
S層を混合した組成物である。
変換効率を最高とするために、CuxS層は、主に、H
2k減少した雰囲気内にてバリアを施したCd5−Cu
xS太陽電池を熱処理することによってのみえられるC
u1.995Sにて構成される。
2k減少した雰囲気内にてバリアを施したCd5−Cu
xS太陽電池を熱処理することによってのみえられるC
u1.995Sにて構成される。
現在葦て、流れているUHP H2ガスを少なくとも1
−50時間使用する必要があるために、この種の熱処理
は非常に高価なものとなっていた。
−50時間使用する必要があるために、この種の熱処理
は非常に高価なものとなっていた。
これは、Cd5−Cu2S太陽電池の商業的開発が遅れ
ている要因の一つと考えられている。
ている要因の一つと考えられている。
本発明によれば、上記のH2を減少した雰囲気下での熱
処理は、予め乾燥された、熱処理中に生成される硫黄分
を吸収し、硫黄分子 Ca Sの状態で保持し、電池構
造中の水分を除去するのに充分な量のCaOの存在下に
於て170℃よりも低い温度で短時間に行われる。
処理は、予め乾燥された、熱処理中に生成される硫黄分
を吸収し、硫黄分子 Ca Sの状態で保持し、電池構
造中の水分を除去するのに充分な量のCaOの存在下に
於て170℃よりも低い温度で短時間に行われる。
そのために、粒状、粉末状又はつぶ状のCaOは、熱処
理を行う箱型炉内に装入される。装入するCaOの量は
熱処理中に生成される硫黄分を効率的に吸着してCaS
の状態にて保持する(従って、CaOは硫黄分の捕捉剤
として作用している)のに充分な表面積を有する量とさ
れる。
理を行う箱型炉内に装入される。装入するCaOの量は
熱処理中に生成される硫黄分を効率的に吸着してCaS
の状態にて保持する(従って、CaOは硫黄分の捕捉剤
として作用している)のに充分な表面積を有する量とさ
れる。
熱処理の間、酸素は連続的に生成さ九る硫黄分と置換さ
れ、H2ガスと反応してガス状のH2Oを形成する。こ
のガス状のH2OはCuxSと反応して一以上のCu2
Sの単一層積Cu25(輝銅鉱)の表面に形成する。こ
のCu2S単一層は、電池の正しい作用及び長寿命化に
とり必須である。
れ、H2ガスと反応してガス状のH2Oを形成する。こ
のガス状のH2OはCuxSと反応して一以上のCu2
Sの単一層積Cu25(輝銅鉱)の表面に形成する。こ
のCu2S単一層は、電池の正しい作用及び長寿命化に
とり必須である。
しかして、本発明によれば、CaOの存在によつて所要
のCu2S単一層を電池構造の表面に形成するために必
要な酸素を、余分な水分を生成せずに供給し得るものと
なる。このような余分な水分の発生は従来の大気中での
熱処理では不可避であった。
のCu2S単一層を電池構造の表面に形成するために必
要な酸素を、余分な水分を生成せずに供給し得るものと
なる。このような余分な水分の発生は従来の大気中での
熱処理では不可避であった。
勿論、この方法は、箱型炉に装入されるCd5−Cll
X5層を形成したアッセンブリが、熱処理の前に乾燥し
たN2雰囲気内に保持されている場合に限り行うことが
出来名。更に、本発明の方法はCaOが炉内に装入され
る前に注意深く乾燥されている場合にのみ可能となる。
X5層を形成したアッセンブリが、熱処理の前に乾燥し
たN2雰囲気内に保持されている場合に限り行うことが
出来名。更に、本発明の方法はCaOが炉内に装入され
る前に注意深く乾燥されている場合にのみ可能となる。
上記の熱処理は、12時間を1サイクルとして数回反復
される。熱処理の反復回数は、最大の変換効率を得るた
めの榮件に応じて変化される。
される。熱処理の反復回数は、最大の変換効率を得るた
めの榮件に応じて変化される。
しかしながら、各サイクルの熱処理は12時間以上は行
わないものとする。更に、上記の熱処理は、170℃よ
シも低い温度、好1しくけ、150〜170℃の範囲で
行う。実際のところ、170℃を越える温度は製造され
る電池構造に著しい影響を与える。
わないものとする。更に、上記の熱処理は、170℃よ
シも低い温度、好1しくけ、150〜170℃の範囲で
行う。実際のところ、170℃を越える温度は製造され
る電池構造に著しい影響を与える。
くステップ H〉 電池の完成
上記の熱処理の後、所望の安定Cd S−Cu x S
太陽電池を完成するために、熱処理されたアッセンブリ
の上側表面には上側導電体が形成される。
太陽電池を完成するために、熱処理されたアッセンブリ
の上側表面には上側導電体が形成される。
この上側導電体は、導電性金属、好可しくけノルバー又
はニッケル、とエポキシ樹脂を混合して成るアレイ(a
rray) fスクリーンプリントして形成される。こ
の過程に於ては、電池の作用に悪影響を及ぼす水分の混
入を避けるよう注意を払わなければならない。
はニッケル、とエポキシ樹脂を混合して成るアレイ(a
rray) fスクリーンプリントして形成される。こ
の過程に於ては、電池の作用に悪影響を及ぼす水分の混
入を避けるよう注意を払わなければならない。
スクリーンプリントによって上側導電体を形成した後、
電池は乾燥される。好1しくは、この電池の乾燥は、水
分調整をされた、乾燥したN2雰囲気下にて、95℃で
15分間行う。この乾燥は、所要の乾燥した雰囲気条件
を構成するために乾燥したN2 k供給される通常の帯
状炉にて行われる。
電池は乾燥される。好1しくは、この電池の乾燥は、水
分調整をされた、乾燥したN2雰囲気下にて、95℃で
15分間行う。この乾燥は、所要の乾燥した雰囲気条件
を構成するために乾燥したN2 k供給される通常の帯
状炉にて行われる。
乾燥された電池は、再び箱型炉内に装入されて、CaO
とH2ガスの存在下に於てもう一度熱処理が施される。
とH2ガスの存在下に於てもう一度熱処理が施される。
この熱処理は、前記と同様に、12時間を1ザイクルと
して−乃至数回行われて、電池の性能に著しく影響を与
える電池構造中の水分が出来る限り除去される。
して−乃至数回行われて、電池の性能に著しく影響を与
える電池構造中の水分が出来る限り除去される。
くステップ I〉 カプセル被覆
上記の熱処理を完了するとすぐに、最終のカプセル被覆
が行われる。このカプセル被覆工程は、EPOTEC2
01(商標名)等の純粋なエポキシにて電池の表面を被
覆する工程を含んでいる。
が行われる。このカプセル被覆工程は、EPOTEC2
01(商標名)等の純粋なエポキシにて電池の表面を被
覆する工程を含んでいる。
エポキシで表面を被覆された電池は、予め加熱され、切
断されたガラスシート間に挿入さ九る。
断されたガラスシート間に挿入さ九る。
このサンドインチ構造を加圧することによってガラスシ
ートは電池表面に密着する。ガラスシートの温度は、勿
論、条件等に応じて変化される。
ートは電池表面に密着する。ガラスシートの温度は、勿
論、条件等に応じて変化される。
こうして形成された電池は、被膜を95℃で5分間養生
した後使用可能の状態となる。
した後使用可能の状態となる。
勿論、被膜の形成前及び/又は形成後に於て、添付のフ
ローチャートに示すように適当なテストを行うことが出
来る。
ローチャートに示すように適当なテストを行うことが出
来る。
発明の効果
本発明の方法は、特に、簡単な装置によって実施され得
る点で優れている。
る点で優れている。
また、本発明による方法では、各工程に非常に特殊なセ
クションを設けて、高性能、安定Cd5−CuxS太陽
電池を安価に製造できるものとすることが出来る。本発
明に於る種々のメッキ処理及び低温での養生処理は、経
済的な見地から、公知+7) 負EfEエバポレイ/ヨ
ン技術による同種の太陽電池の製造に於る同様の処理と
ほぼ同等のコストとなる。カドミウムと亜鉛の両者の塗
布に用いるフ)Lオロホウ酸槽は、非常に安定しておジ
、特別な取扱又は補修を要しないものである。実際、こ
のフルオロホウ酸槽に於て交換を要するものは、金属イ
オンを供給するためのカドミウム及び亜鉛電極のみであ
る。このフルオロホウ酸槽を用いることによって、種々
の工程に於てメッキされるメッキ層の厚さを1〜2ミク
ロンとすることが出来、又、このメッキ作業を室温で行
い得るので経済的である。更に、これらのメッキ層の塗
布に要する時間が非常に短い(10秒以下)ので、生産
性を向上することが出来る。丁た、更に、CdSスラリ
ーを塗布するために用いるドクターグレイド法及びスク
リーンプリント法も非常に経済的で、安価な方法である
。事実、この種の塗布方法では、従来の負圧エバポレイ
ジョンに於て要求されたような科学者、固体技術の熟練
者等のような高い熟練度を作業員に要求せず、またこれ
に用いる装置は従来より公知のものである。
クションを設けて、高性能、安定Cd5−CuxS太陽
電池を安価に製造できるものとすることが出来る。本発
明に於る種々のメッキ処理及び低温での養生処理は、経
済的な見地から、公知+7) 負EfEエバポレイ/ヨ
ン技術による同種の太陽電池の製造に於る同様の処理と
ほぼ同等のコストとなる。カドミウムと亜鉛の両者の塗
布に用いるフ)Lオロホウ酸槽は、非常に安定しておジ
、特別な取扱又は補修を要しないものである。実際、こ
のフルオロホウ酸槽に於て交換を要するものは、金属イ
オンを供給するためのカドミウム及び亜鉛電極のみであ
る。このフルオロホウ酸槽を用いることによって、種々
の工程に於てメッキされるメッキ層の厚さを1〜2ミク
ロンとすることが出来、又、このメッキ作業を室温で行
い得るので経済的である。更に、これらのメッキ層の塗
布に要する時間が非常に短い(10秒以下)ので、生産
性を向上することが出来る。丁た、更に、CdSスラリ
ーを塗布するために用いるドクターグレイド法及びスク
リーンプリント法も非常に経済的で、安価な方法である
。事実、この種の塗布方法では、従来の負圧エバポレイ
ジョンに於て要求されたような科学者、固体技術の熟練
者等のような高い熟練度を作業員に要求せず、またこれ
に用いる装置は従来より公知のものである。
本発明に於て用いた、CdSスラリーをスクリーンプリ
ンB、用いて基板に塗布する工程は、これ自体新規であ
る。本発明によれば、スクリーンプリントによって、太
陽電池を製造することがpJ能となる。
ンB、用いて基板に塗布する工程は、これ自体新規であ
る。本発明によれば、スクリーンプリントによって、太
陽電池を製造することがpJ能となる。
発明者の行ったテストによれば、本発明によって製造さ
れた太陽電池は、5000オングストロームでV o
c 0 、5 V 、 I s c 20 mMctl
で実質変換効率9係、高い吸収係数を有していた。また
、本発明による電池の収率は、推定で99%に越えるも
のとなった。更に、本発明の方法に用いた要素は、はと
んど補修を要さず、優れた再使用性を有していた。発明
者等は、本発明の開発にあたり、5 cm幅で、種々の
厚さの銅製リボンを用いた。1だ、家庭用として市販さ
れている例えばA I ’c an等のアルミニウムホ
イルをアルミニウム基板として用いる可能性も、検討さ
れた。
れた太陽電池は、5000オングストロームでV o
c 0 、5 V 、 I s c 20 mMctl
で実質変換効率9係、高い吸収係数を有していた。また
、本発明による電池の収率は、推定で99%に越えるも
のとなった。更に、本発明の方法に用いた要素は、はと
んど補修を要さず、優れた再使用性を有していた。発明
者等は、本発明の開発にあたり、5 cm幅で、種々の
厚さの銅製リボンを用いた。1だ、家庭用として市販さ
れている例えばA I ’c an等のアルミニウムホ
イルをアルミニウム基板として用いる可能性も、検討さ
れた。
このアルミニウム製基板を用いて製造した電池は、非常
に一安定しておや、性能の高いものであつた。
に一安定しておや、性能の高いものであつた。
上記の方法は、Cu25−Cd5太陽電池の製造につい
てのみ説明したが、この方法は、同様の■〜■クラスの
半導体ベースの他の種類の太陽電池の製造にも適用でき
るものである。例えは、上記の方法は、発明者によって
、Cd5−CdTe太陽電池の製造にも用いられた。こ
の場合、J]−5ミクロンの厚さの炭素層、例えば、ア
ノヂエソン社(Acheson Co) 製のAqua
dagがZn被膜を施した銅製基板にスクリーンプリン
トされた。この工程に続いて、CdTeスラリーが塗布
された。塗布されたスラリーは、乾燥され、加H−され
、その後、95℃に熱せらオしたPFI3のC5cl槽
にてC−sによって精製された。これに用いる/こめに
、非イオン化水1リットルに対して]−0gのC5cl
(白色)が用いられた。5分間非イオン化水にて洗浄し
たのら、CdTe被膜を形成した基板は、箱型炉内にて
不活i生芽囲気下で300℃で4時間熱処理された。C
dTe層の上側には、」=記の方法によって精製された
CdSが08−1ミクロンの厚さに塗布された。
てのみ説明したが、この方法は、同様の■〜■クラスの
半導体ベースの他の種類の太陽電池の製造にも適用でき
るものである。例えは、上記の方法は、発明者によって
、Cd5−CdTe太陽電池の製造にも用いられた。こ
の場合、J]−5ミクロンの厚さの炭素層、例えば、ア
ノヂエソン社(Acheson Co) 製のAqua
dagがZn被膜を施した銅製基板にスクリーンプリン
トされた。この工程に続いて、CdTeスラリーが塗布
された。塗布されたスラリーは、乾燥され、加H−され
、その後、95℃に熱せらオしたPFI3のC5cl槽
にてC−sによって精製された。これに用いる/こめに
、非イオン化水1リットルに対して]−0gのC5cl
(白色)が用いられた。5分間非イオン化水にて洗浄し
たのら、CdTe被膜を形成した基板は、箱型炉内にて
不活i生芽囲気下で300℃で4時間熱処理された。C
dTe層の上側には、」=記の方法によって精製された
CdSが08−1ミクロンの厚さに塗布された。
その後、上記に説明したと同様にして、熱処理と加圧が
+00℃の不活性雰囲気下にて行わ汎る。
+00℃の不活性雰囲気下にて行わ汎る。
その後、′電池は室温に冷却さil−る。しかして完成
された電池は、ニオビウム−エポキシペーストにて成る
透明導′亀体をスクリーンプリントされる。
された電池は、ニオビウム−エポキシペーストにて成る
透明導′亀体をスクリーンプリントされる。
これを、養生し、熱処理した後、電池は透明なエポキシ
によって、被覆さ九た。このようにして製造された太陽
電池の収率は、99%以上であった。
によって、被覆さ九た。このようにして製造された太陽
電池の収率は、99%以上であった。
葦だ、この電池は、午後1時の直射日光下で、VCoo
、62V、Isc24mA で変換効率は9係以上であ
った。
、62V、Isc24mA で変換効率は9係以上であ
った。
図面は、本発明による高性能、安定Cd5−C112S
太陽電池の製造過程を示すフローチャー1・である。
太陽電池の製造過程を示すフローチャー1・である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)A−精製された粉末状CdSよ、jl)CdSの
スラリーを調製し、 B−ZnとCdの薄いメッキ層を有する基板に、前記C
dSスラリーi10〜15ミクロン厚さに塗布し、 C−Cd5Rf:形成した基板を乾燥させるとともに熱
処理し、 D−熱処理した基板を加圧し、 E−CdS層を形成され、加圧された基板に前記熱処理
とは別の熱処理を施してCdSi再結晶させるとともに
焼き入れし、 F−熱処理され、CdS層を形成された基板の表面に、
薄いCuxSバリア層を、不活性雰囲気下に於いて形成
してバリア被膜を有するCd5−Cu’xS層を有する
アッセンブリを作成し、G−前記のバリア化されたCd
5−CuxS層を有するアッセンブリf Ca Oの存
在下に於いてH2雰囲気内にて熱処理し、 H−所望の安定Cd5−Cu2S太陽電池を完成するた
めに、熱処理されたアッセンブリの上側面に上側導電体
を設け、そして、 ■−得られた電池をカプセルに封入して製造する高性能
、安定Cd S −C’u2 S太陽電池。 (2)A−等量の高純度、微粒子のCd粉末と混合され
た電位CdS粉末を、負圧下に於て、更に引続いてCa
Oの存在下に於てH2雰囲気内にて加熱して得られた精
製されたCdS粉末をα−テルピネオールと混合してC
dSスラリーを調製し、B−銅、鉄、アルミニウムより
成る群より選択され、厚さ1〜2ミクロンのZn層と厚
さ1〜2ミクロンのCd層を連続的に予め電気メッキさ
れた基板に、前記の工程Aにて調製されたCdSスラリ
ーを冷去し、 C−前記の工程BOCdS層を設けた基板を150℃で
8分間乾燥し、更に、400°Cで5分間熱処理し、 D−前記の工程Cにて熱処理された基板を5〜6 to
n/7で瞬間的に加圧する工程と、E−加圧され、Cd
S層を形成された基板を不活性雰囲気下にて300〜7
00”Cで1〜2時間熱処理してC’dSを再結晶させ
るとともに焼き入れし、更に、厚さ05〜0.10ミク
ロンのCd層を形成し、引続いて厚さ0.3〜04ミク
ロンのZn層を熱処理された基板の表面に形成し、F−
熱処理されたCdS層を有する基板に薄いCuxSのバ
リア層を形成してバリア化された、Cd5−CuxS層
を有するアッセンブリを形成し、該アッセンブリを注意
深く乾燥する工程と、G−バリア化されたCd5−Cu
xS層を有するアッセンブリを、熱処理過程で生成され
るI−1,、Sを吸収し、硫黄分をCaSの状態で保持
(〜、電池内の水分を除去するのに充分な計の予め乾燥
されたCaOの存在下におし・てH2雰囲気下におい−
C150〜l 70 ”Oで少なくとも12時間熱処理
し、H−電池のCu28層の表面にペイスト状のリニア
配列のエポキシシルバー又はエポキシニッケルをスクリ
ーンプリントして上側導電層を形成し、塗布されたペイ
ストを乾燥した不活性雰囲気内に於て95°Cで15分
間乾燥し、該乾燥された電池をCaO存在下でH2雰囲
気内にて少なくとも12時間熱処理し、及び、 ■−得られた電池を注意深く水分調整された乾燥した不
活性雰囲気下にてカプセルに封入して形成する高性能、
安定Cd5−Cu2 S太陽電池。 (3)A〜 精製された粉末状CdSよりCdSのスラ
リーを調製する工程と、 B−ZnとCdの薄いメッキ層を有する基板に、前記C
dSスラリーを10〜15ミクロン厚さに塗布する工程
と、 C−CdS層を形成した基板を乾燥させるとともに熱処
理する工程と、 D−熱処理した基板を加圧する工程と、E−CdS層を
形成され、加圧された基板に前記熱処理とは別の熱処理
を施してCdSを出結晶させるとともに焼き入れする工
程と、 F−熱処理され、CdS層を形成された基板の表面に、
薄いCuxSバリア層を、不活性雰囲気下に於て形成し
てバリア化されたCd5−CuxS層を有するアッセン
ブリを作成する工程と、G−前記のバリア化されたCd
5−CuxS層を有するアッセンブリをCaOの存在下
に於て、H2雰囲気下にて熱処理する工程と、 H−所望の安定Cd5−Cu2 S太陽電池を完成する
ために、熱処理されたアッセンブリの上fllll面に
上側導電体を設ける工程と、そして、I−得られた電池
をカプセルに封入する工程とにて成る厚肉ンイルム式を
用いた高性能、安定Cd5−Cu2S太陽電池の製造方
法。 (4)前記の方法は、前記工程Aにて使用する精製され
たCdS粉末を形成するために、所定量のCdS粉末を
等量のCd粉末と負圧下に於て、及び引続℃・てCaO
存在下に於て混合する工程を有する14許請求の範囲第
3項に記載した方法。 (5)前記CdS粉末は電位CdS粉末であり、そシテ
、前記Cd粉末は棒状金属カドミウムのエバポレイジョ
ン及び沈殿によって得られる高純度のCd粉末である特
許請求の範囲第4項に記載した方法。 (6)前記の工程Aは、加熱して形成される精製された
CdS粉末をα〜テルピ坏オールと混合することにより
行われる特許請求の範囲第4項に記載した方法。 (7)前記の方法は、更に、前記の精製されたCdS粉
末を、前記α−テルピネオールと混合する前に所定の粒
径にふるい分けする工程を含む特許請求の範囲第6項に
記載した方法。 (8)前記の工程Bにて使用される基板は、銅、鉄、及
びアルミニウムより選択される金属である特7i′「請
求の範囲第3項に記載した方法。 (9) 前記の基板は標準高速フルオロボウ酸塩メッキ
槽内にて1〜2ミクロン厚のZn層を電気メッキされる
特許請求の範囲第8項に記載した方法。 aO) 前記Zn層を形成された基板は、前記のCdS
スラリー〇塗布前に、標準高速フルオロホウ酸メッキ槽
内にて1〜2ミクロンのCd層を電気メッキされる特許
請求の範囲第9項に記載した方法。 (lυ 前記の工程Bは、スクリーンプリント又は、ド
クタープレイド法によって、0805ミクロン以上の粒
径のほこりをフィルターにより除去した不活性雰囲気下
にて行われる特許請求の範囲第10項に記載した方法。 (12) 前記の工程Cに於る乾燥は、150°Cで8
分間行われる特許請求の範囲第11項に記載した方法。 (13) 前記の工程Cに於る熱処理は400Cで5分
間行われる!特許請求の範囲第12項に記載した方法。 04)前記の工程りの処理は瞬間的に5〜6 ton、
舅の加圧力を負荷する特許請求の範囲第13項に記載し
た方法。 (15) 前記の工程りの加圧はクロムメッキされた二
枚の高強度鉄板間にて行われる特許請求の範囲第14項
に記載した方法。 (16)前記の工程Eの熱処理は不活性雰囲気下に於て
、300〜700 ’Oで1〜2時間行う![、!1′
許請求の範囲第3項に記載した方法。 (17) 前記の工程Eはアルゴンガス封入雰囲気ドに
て箱型炉内にて、金属カドミウムの存在下に於て熱処理
された基板に厚さ05〜0.10 ミクロンのCd層を
メッキ形成するために熱処理を行う特ii’1請求の範
囲第16項に記載した方法。 08)前記の工程Eに於る熱処理は、帯状炉内にて行わ
れ、熱処理された基板は引続いて標準高速フルオロホウ
酸メッキ槽内にて電気メッキされ−(、0.5〜010
ミクロンの厚さのCdメッキ層を形成される特許請求の
範囲第16項に記載した方法。 (19) 前記のCdメッキを施されたCdS層を形成
された基板は、引続いて標準高速フルオロホウ酸塩槽内
にて浸漬され、乾燥され、500〜700℃にて不活性
雰囲気下にて熱処理されて、前記の工程Fにて用いられ
る前に、08〜0.4ミクロンのZn層を電気メッキに
より形成される特許請求の範囲第1−7項に記載した方
法。 (20) 前記のCdS層を有する基板は浸漬され、乾
燥され、不活性雰囲気下にて500〜700°Cにて熱
処理され、しかる後に標準高速フルオロホウ酸塩槽に浸
漬され、乾燥され、不活性雰囲気下にて700 ’Cで
熱処理されて、前記の工程Fにて用いられる前に0.3
〜0.4ミクロンのZn層を電気メッキされる特許請求
の範囲第18項に記載した方法。 (21) 前記の工程Fに於て、Cd S −C11X
S層を有するアッセンブリは乾燥した雰囲気下にて形
成され、該アッセンブリは前記の工程Gにて熱処理する
前に注意深く乾燥される特許請求の範囲第:3項に記載
した方法。 (22) 前記の工程Gに於る熱処理は170Cよりも
低い温度にて24時間よりも短い時間桁われる!特許請
求の範囲第21項に記載した方法。 (23) 前記の工程Gに於る熱処理は、熱処理過程如
於て生成されるH2 Sを吸収し、硫黄分をCaSの状
態にて保持し、電池内に存在する水分を除去するのに充
分な量の予め乾燥されたCaOの存在下に於て150〜
1 ? 0 ’Oで少なくとも12時間行われる特許請
求の範囲第22項に記載した方法。 (24)前記の工程Hは、電池の上側面のCuxS層上
にペイスト状のリニア配列のエポキシメタルをスクリー
ンプリントすることによって行われる特許請求の範囲第
8項に記載した方法。 (25)前記のペイスト状エポキシメタルは、シルバー
、ニッケルにて形成される群より選択される特許請求の
範囲第24項に記載した方法。 (2G) OfJ記の電池のスクリーンプリントは注意
深く加湿され、乾燥された不活性雰囲気下にて95゛C
で約15分間乾燥される特許請求の範囲第25項に記載
した方法。 (27) 前記の方法は、更に乾燥された電池を水素雰
囲気下にてCaO存在下に於て少なくとも12時間熱処
理する工程を含む特許請求の範囲第26項に記載した方
法。 (囮 前記の基板は連続したリボン状であり、前記の工
程は連続的に行われる特許請求の範囲第:う項に記載し
た方法。 (29) A−等量の高純度、微粒子のCd粉末と混合
された電位CdS粉末を、負圧下に於て、更に引続いて
CaOの存在下に於てH2雰囲気下にて加熱して得られ
た精製されたCdS粉末をα−デルピネオールと混合し
てCdSスラリーを調製する工程と、 B−銅、鉄、アルミニラ13より成る群より選択され、
厚さ1〜2ミクロンのZ n層と厚さ1〜2ミクロンの
Cd層を連続的に予め電気メンキされた基板に、前記の
工程Aにて調製されたCdSスラリーを塗布する工程と
、 C−前記の工程BのCdS層を設けた基板を150”C
で3分間乾燥し、更に、400℃で5分間熱処理する工
程と、 D−前記の工程Cにて熱処理された基板を5〜6 to
n、fnで瞬間的に加圧する工程と、E−加圧され、C
dS層を形成された基板を不活性雰囲気下にて300〜
700 ’0で1〜2時間熱処理してCdSを再結晶さ
せるとともに焼き入れし、更に、厚さ05〜0.10ミ
クロンのCd層を形成し、引続いて厚さ08〜04ミク
ロンのZn層を熱処理された基板の表面に形成する工程
と、F−熱処理されたCdS層を有する基板に薄いCu
xSのバリア層を形成してバリア化された、Cd5−C
uxS層を有するアッセンブリを形成し、該アッセンブ
リを注意深(乾燥する工程と、G−バリア化されたCd
5−CuxS層を有するアッセンブリを、熱処理過程て
生成されるH 2Sを吸収し、硫黄分なCaSの状態で
保持し、電池内の水分を除去するのに充分な耽の予め乾
燥されたCaQの存在下に於てH2雰囲気下に於て15
0〜170 ’Oで少なくとも12時間熱処)jlする
ー「程と、 H−を池のCu28層の表面にベイスト状のエポキシシ
ルバー又はエポキシニッケルにてなるプレイをスクリー
ンプリントして上側導電層を形成し、塗布されたペイス
トを乾燥した不后性雰(1r(気内に於て95゛Cで1
5分間乾燥し、該乾燥された電池をCaO存在下でH2
雰囲気内にて少な(とも12時間熱処理する工程と、及
び、 ■−得られた電池を注意深く水分調整された、乾燥した
不活性雰囲気下にてカプセルに封入する工程とより成る
特許請求の範囲第8項に記載した方法。 (30)CdS層を基板に塗布する工程と、CdS層を
形成した基板の表面にCuxS層を形成して所望の太陽
電池を形成する工程とを含む高性能、安定Cd5−C’
u2S太陽電池の製造方法に於て、熱処理過程で生成さ
れるH2 Sを吸収し、硫黄分子 Ca Sの状態で保
持し、且つ電池構造中の水分を除去するのに充分な量の
CaOの存在下に於て予め乾燥されたH2雰囲気内にて
150〜170℃で少なくとも12時間熱処理すること
を特徴とする高性能、安定Cd5−Cu2 S太陽電池
の製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CA000441034A CA1207421A (en) | 1983-11-14 | 1983-11-14 | High efficiency stable cds cu.sub.2s solar cells manufacturing process using thick film methodology |
CA441034 | 1983-11-14 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60157271A true JPS60157271A (ja) | 1985-08-17 |
Family
ID=4126506
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59187883A Pending JPS60157271A (ja) | 1983-11-14 | 1984-09-07 | 高性能,安定Cds−Cu2S太陽電池と、肉厚フィルム方式を用いたその製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4609567A (ja) |
JP (1) | JPS60157271A (ja) |
CA (1) | CA1207421A (ja) |
GB (1) | GB2149964B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01111380A (ja) * | 1987-10-23 | 1989-04-28 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 光起電力素子及びその製造方法 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3603265A1 (de) * | 1985-02-06 | 1986-08-07 | Sharp K.K., Osaka | Herstellung eines photoelektrischen konversionsfilms und bild-sensor vom kontakt-typ |
US4735909A (en) * | 1986-10-14 | 1988-04-05 | Photon Energy, Inc. | Method for forming a polycrystalline monolayer |
US4950615A (en) * | 1989-02-06 | 1990-08-21 | International Solar Electric Technology, Inc. | Method and making group IIB metal - telluride films and solar cells |
WO2004082036A1 (ja) * | 2003-03-10 | 2004-09-23 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | 固体素子デバイスおよびその製造方法 |
KR100531294B1 (ko) * | 2003-06-23 | 2005-11-28 | 엘지전자 주식회사 | 유기 el 소자 및 그 제조 방법 |
CN102298984B (zh) * | 2010-06-24 | 2013-01-23 | 中国科学院物理研究所 | 用于制备敏化太阳电池中硫化亚铜对电极的浆料及方法 |
US20130108780A1 (en) * | 2011-11-02 | 2013-05-02 | Battelle Memorial Institute | Method of making a thin film |
US20150122316A1 (en) * | 2013-10-16 | 2015-05-07 | OmniPV, Inc. | Photovoltaic cells including halide materials |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3520732A (en) * | 1965-10-22 | 1970-07-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Photovoltaic cell and process of preparation of same |
US4318938A (en) * | 1979-05-29 | 1982-03-09 | The University Of Delaware | Method for the continuous manufacture of thin film solar cells |
IL58003A (en) * | 1979-08-08 | 1982-08-31 | Yeda Res & Dev | Preparation of semiconductor layers for semiconductor containing devices and for photoelectrodes |
US4251286A (en) * | 1979-09-18 | 1981-02-17 | The University Of Delaware | Thin film photovoltaic cells having blocking layers |
US4404734A (en) * | 1980-10-28 | 1983-09-20 | Photon Power, Inc. | Method of making a CdS/Cux S photovoltaic cell |
DE3172382D1 (en) * | 1980-12-12 | 1985-10-24 | Prutec Ltd | Method of manufacturing photo-voltaic devices |
US4411703A (en) * | 1981-01-23 | 1983-10-25 | Solarex Corporation | Composition for applying antireflective coating on solar cell |
US4517047A (en) * | 1981-01-23 | 1985-05-14 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | MBE growth technique for matching superlattices grown on GaAs substrates |
EP0091998A1 (en) * | 1982-03-08 | 1983-10-26 | Prutec Limited | Cadmium sulphide solar cells |
US4493886A (en) * | 1982-05-11 | 1985-01-15 | University Patents, Inc. | Composition and method for forming amorphous chalcogenide films from solution |
US4526809A (en) * | 1983-10-19 | 1985-07-02 | University Of Delaware | Process and apparatus for formation of photovoltaic compounds |
-
1983
- 1983-11-14 CA CA000441034A patent/CA1207421A/en not_active Expired
-
1984
- 1984-09-07 JP JP59187883A patent/JPS60157271A/ja active Pending
- 1984-10-19 US US06/662,834 patent/US4609567A/en not_active Expired - Fee Related
- 1984-11-13 GB GB08428659A patent/GB2149964B/en not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01111380A (ja) * | 1987-10-23 | 1989-04-28 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 光起電力素子及びその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB8428659D0 (en) | 1984-12-19 |
US4609567A (en) | 1986-09-02 |
GB2149964B (en) | 1987-02-25 |
GB2149964A (en) | 1985-06-19 |
CA1207421A (en) | 1986-07-08 |
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