JPS60155912A - 広視野測距装置 - Google Patents
広視野測距装置Info
- Publication number
- JPS60155912A JPS60155912A JP1144484A JP1144484A JPS60155912A JP S60155912 A JPS60155912 A JP S60155912A JP 1144484 A JP1144484 A JP 1144484A JP 1144484 A JP1144484 A JP 1144484A JP S60155912 A JPS60155912 A JP S60155912A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical system
- distance measuring
- wide
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/10—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders using a parallactic triangle with variable angles and a base of fixed length in the observation station, e.g. in the instrument
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は被測定体の比較的広い範囲を測距可能ないわゆ
る広視野測距装置に関するものである。
る広視野測距装置に関するものである。
従来、例えばカメラにおいては被写体までの距離を自動
的に検出するための測距装置が内蔵されたものが知られ
ている０この測距装置として正確な測距が可能な方式に
、被写体に向けて光源からの光束を投射して反射光を受
光素子にて受けて、その反射光の受光角度をめて被写体
までの距、離を検出するいわゆるアクティブ方式がある
。このアクティブ方式によれば夜間や、コントラストの
差のない被写体等にても正確な測距が可能であり島広く
用いられてきている。
的に検出するための測距装置が内蔵されたものが知られ
ている０この測距装置として正確な測距が可能な方式に
、被写体に向けて光源からの光束を投射して反射光を受
光素子にて受けて、その反射光の受光角度をめて被写体
までの距、離を検出するいわゆるアクティブ方式がある
。このアクティブ方式によれば夜間や、コントラストの
差のない被写体等にても正確な測距が可能であり島広く
用いられてきている。
しかしながら、このアクティブ方式の測距装置では光源
からの光束はスポット光となり、撮影画角内の狭い範囲
しか測距させることができず、しかもその測距範囲を通
常社撮影画面のほぼ中央に固定したものであるので、被
写体を必ず画面の中央に収めて撮影しなければならず不
便な面があった０ そこで、本出願人は先に上記従来の問題を解決するため
に、光源からの光束を反射手段により基線長と直交する
方向に広げることにより広視野の測距を可能とした提案
を行なっている。この提案により従来での問題点であっ
た被写体の位置を常に中央に置かなければならない問題
社解決され、測距装置を利用した広範囲な撮影が可能と
なった。
からの光束はスポット光となり、撮影画角内の狭い範囲
しか測距させることができず、しかもその測距範囲を通
常社撮影画面のほぼ中央に固定したものであるので、被
写体を必ず画面の中央に収めて撮影しなければならず不
便な面があった０ そこで、本出願人は先に上記従来の問題を解決するため
に、光源からの光束を反射手段により基線長と直交する
方向に広げることにより広視野の測距を可能とした提案
を行なっている。この提案により従来での問題点であっ
た被写体の位置を常に中央に置かなければならない問題
社解決され、測距装置を利用した広範囲な撮影が可能と
なった。
第１図及び第２図は上述の本出願人よシ提案されている
広視野測距装置の基本的原理を説明する説明図が示され
、この説明図においては広視野測距の為の上記反射手段
としてプリズムを用いている。第１図は基線長りだけ離
して配置された投光光学系と受光光学系とを基線長り方
向に対して垂直方向から見た図である。投光光学系は投
光レンズ１、プリズム６及び発光素子５（例えば高輝度
１、ＦｌｉＤ）とによシ構成され、受光光学系は受光レ
ンズ２、プリズム４及び光点の位置により光電流出力が
変化する半導体装置検出器（以下、ＰＳＤと称す）６に
より構成されている。このような構成において、発光素
子５から被測定体６０に向けて光束１０を投射すると、
その光束１０社反射光１０／とじてＰＳＤ６に入射する
。この場合のＰＳＤ６への入射光点は２位置となるが、
被測定体６０が例えば無限遠にあった場合の入射光点が
Ｘ位置であるので、その入射光点の差異による光電流出
力を演算することによシ被測定体６０の測距が行なえる
ことになる。この測距装置においてプリズム６及び４の
役目について第２図を用いて説明すると、第２図社投光
光学系及び受光光学系を基線長方向Ｄ１すなわちＭ１図
を側面方向から見た図であシ、第２図（ａ）が投光光学
系を示し１第２図（ｂ）が受光光学系を示している。す
なわち、発光素子５から被測定体６０（不図示）に向け
て投射された光束１０はプリズム６の基線長りに対して
直交する方向に形成された反射面６ａ及び６鶏にて反射
されて、被測定体６０に向けて光束１０ 、１０ａ及び
１０ｂが投射される。この光束１０，１０８及び１０ｂ
が被測淀体３０にて反射されて、反射光１０’、１０１
及び１０’ｂが今匿紘プリズム４のって、被測定体３
０の広い範囲の測距ができることになシ、従来の単なる
スポット的な光束による測距に比べて利用価値の高い広
視野測距装置が提供できる。
広視野測距装置の基本的原理を説明する説明図が示され
、この説明図においては広視野測距の為の上記反射手段
としてプリズムを用いている。第１図は基線長りだけ離
して配置された投光光学系と受光光学系とを基線長り方
向に対して垂直方向から見た図である。投光光学系は投
光レンズ１、プリズム６及び発光素子５（例えば高輝度
１、ＦｌｉＤ）とによシ構成され、受光光学系は受光レ
ンズ２、プリズム４及び光点の位置により光電流出力が
変化する半導体装置検出器（以下、ＰＳＤと称す）６に
より構成されている。このような構成において、発光素
子５から被測定体６０に向けて光束１０を投射すると、
その光束１０社反射光１０／とじてＰＳＤ６に入射する
。この場合のＰＳＤ６への入射光点は２位置となるが、
被測定体６０が例えば無限遠にあった場合の入射光点が
Ｘ位置であるので、その入射光点の差異による光電流出
力を演算することによシ被測定体６０の測距が行なえる
ことになる。この測距装置においてプリズム６及び４の
役目について第２図を用いて説明すると、第２図社投光
光学系及び受光光学系を基線長方向Ｄ１すなわちＭ１図
を側面方向から見た図であシ、第２図（ａ）が投光光学
系を示し１第２図（ｂ）が受光光学系を示している。す
なわち、発光素子５から被測定体６０（不図示）に向け
て投射された光束１０はプリズム６の基線長りに対して
直交する方向に形成された反射面６ａ及び６鶏にて反射
されて、被測定体６０に向けて光束１０ 、１０ａ及び
１０ｂが投射される。この光束１０，１０８及び１０ｂ
が被測淀体３０にて反射されて、反射光１０’、１０１
及び１０’ｂが今匿紘プリズム４のって、被測定体３
０の広い範囲の測距ができることになシ、従来の単なる
スポット的な光束による測距に比べて利用価値の高い広
視野測距装置が提供できる。
ところで、上述した測距装置において問題となるの社、
プリズム６及び４での基線長り方向の面の反射光でＩＣ
１第１図においてプリズム６及び４における基線長り方
向の薗５Ｃ，５ｄ、４Ｃ及び４ｄでの投射光もしくはＰ
ＳＤ６への異なる位置へめ入射光点位置を与えることに
なり、正確な測−ができがい問題が生じる０すなわち、
広視野リズムの基線長り方向の面６ｃ 、５ｄ、４ｃ及
び４ｄでの光束の反射は外乱を及ぼす原因となるために
、その面６Ｃ〜４ｄには反射防止処理を行ならとか、反
射しにくい形状にするといった処理を行なう必要があっ
た０ 又、反射手段として上記プリズム以外の構成を用いたと
しても、基線長り方向の不正な光がＰＳＤ６へ入射すれ
ば同様な問題が生じることになる。
プリズム６及び４での基線長り方向の面の反射光でＩＣ
１第１図においてプリズム６及び４における基線長り方
向の薗５Ｃ，５ｄ、４Ｃ及び４ｄでの投射光もしくはＰ
ＳＤ６への異なる位置へめ入射光点位置を与えることに
なり、正確な測−ができがい問題が生じる０すなわち、
広視野リズムの基線長り方向の面６ｃ 、５ｄ、４ｃ及
び４ｄでの光束の反射は外乱を及ぼす原因となるために
、その面６Ｃ〜４ｄには反射防止処理を行ならとか、反
射しにくい形状にするといった処理を行なう必要があっ
た０ 又、反射手段として上記プリズム以外の構成を用いたと
しても、基線長り方向の不正な光がＰＳＤ６へ入射すれ
ば同様な問題が生じることになる。
本発明は上記本出願人の先゛の提案をさらに改良して、
簡単な構成にて基線長と直交する方向以外に広げられた
光による誤測距の問題を解決した広視野測距装置を提供
することを目的とするＯ本発明祉上記目的を達成するた
めに、投光光学系とその反射光を受光するために一定基
線長だけ離して配置され、該反射光にて被測定体までの
距離をめる受光光学系を有する測距装置において、前記
投光光学系から投射される光束を反射手段により少な（
とも基線長と直交する方向に広げると ゛ともに、少な
くとも一方の光学系の光路中に基線長方向と直交する方
向以外は光束の通過を阻止するマスク部材を設けた広視
野測距装置を特徴とする。
簡単な構成にて基線長と直交する方向以外に広げられた
光による誤測距の問題を解決した広視野測距装置を提供
することを目的とするＯ本発明祉上記目的を達成するた
めに、投光光学系とその反射光を受光するために一定基
線長だけ離して配置され、該反射光にて被測定体までの
距離をめる受光光学系を有する測距装置において、前記
投光光学系から投射される光束を反射手段により少な（
とも基線長と直交する方向に広げると ゛ともに、少な
くとも一方の光学系の光路中に基線長方向と直交する方
向以外は光束の通過を阻止するマスク部材を設けた広視
野測距装置を特徴とする。
以下、図面に基づき本発明の詳細な説明する。
第３図は本発明の実施例を示すもので、上述の広視野測
距装置にマスク部材を付設したものが示されている。な
お、こめ第６図において、上述第１図及び第２図と同構
成は同符嬉を用いて説明を省略する。マスク部材７は受
光光学系でのプリズム４とＰＳＤ（５との間に配置され
、基線長り方向に直交するスリット７ａが形成されてい
ることによシ、反射光の基線長り方向に広がった誤測距
を行なわせる光の通過を阻止している。したがって、第
３図での広視野測距装置によれば、プリズム４の基線長
り方向にて反射してＰ８Ｄ５へ入射される光線による外
乱を阻止することができ、正確で且つ広視野での被測定
体６０の測距が可能となる。
距装置にマスク部材を付設したものが示されている。な
お、こめ第６図において、上述第１図及び第２図と同構
成は同符嬉を用いて説明を省略する。マスク部材７は受
光光学系でのプリズム４とＰＳＤ（５との間に配置され
、基線長り方向に直交するスリット７ａが形成されてい
ることによシ、反射光の基線長り方向に広がった誤測距
を行なわせる光の通過を阻止している。したがって、第
３図での広視野測距装置によれば、プリズム４の基線長
り方向にて反射してＰ８Ｄ５へ入射される光線による外
乱を阻止することができ、正確で且つ広視野での被測定
体６０の測距が可能となる。
又、第６図の実施例においてはプリズム６及び４の基線
長り方向の面５ｃ、５ｄ、４ｃ及び４ｄに反射防止処理
や、反射しない形状を為す必要がなく、コスト的にも効
果をあげることができる。
長り方向の面５ｃ、５ｄ、４ｃ及び４ｄに反射防止処理
や、反射しない形状を為す必要がなく、コスト的にも効
果をあげることができる。
なお九本発明に係るマスク部材７の位置は実施例にて示
した位置以外であっても投光及び受光に係る光路中に設
ければ同様な効果が得られる。
した位置以外であっても投光及び受光に係る光路中に設
ければ同様な効果が得られる。
また、本発明に係るマスク部材７祉他の構造例えば液晶
素子によるシャッターにより構成する方式や、プリズム
６．４もしくはレンズ１．２に直接印刷する方式等でも
よい。
素子によるシャッターにより構成する方式や、プリズム
６．４もしくはレンズ１．２に直接印刷する方式等でも
よい。
また、さらに本発明において検光光素子５の投射光を広
げる、及び集光する反射手段としてプリズム６及び４を
実施例にて示したが、無論他の部材、例えば鏡による反
射構成等を用いてもよい。
げる、及び集光する反射手段としてプリズム６及び４を
実施例にて示したが、無論他の部材、例えば鏡による反
射構成等を用いてもよい。
なお、実施例におけるＰＳＤ６の制御回路り本発明の要
旨ではないので説明を省略した。詳しくは本出願人より
先に出願している特開昭 ５８−２１０１５号を参照さ
れたい。
旨ではないので説明を省略した。詳しくは本出願人より
先に出願している特開昭 ５８−２１０１５号を参照さ
れたい。
以上、説明したように本発明は、アクティブ方式の測距
装置において、投光光学系から投射される光束を反射手
段により広げるとともに、少なくとも一方の光学系の光
路中に基線長方向と直交する方向以外は通過を阻止する
マスク部材を設けた広視野測距装置を特徴とする。した
がって１本発明は広視野測距装置での誤測距を低コスト
にて提供することができ、極めて実用的な広視野測距装
置を提供するものである。
装置において、投光光学系から投射される光束を反射手
段により広げるとともに、少なくとも一方の光学系の光
路中に基線長方向と直交する方向以外は通過を阻止する
マスク部材を設けた広視野測距装置を特徴とする。した
がって１本発明は広視野測距装置での誤測距を低コスト
にて提供することができ、極めて実用的な広視野測距装
置を提供するものである。
第１図及び第２図は広視野測距装置の基本原理を示す説
明図。 ） 第６図は本発明実施例としての広視野□測距装置の要部
斜視図。 １・・・投光レンズ ２・・・受光レンズ６．４・・・
プリズム ５・・・発光素子６・・・半導体装置検出器
７・・・マスク部材７ａＯ・スリット Ｄ＠・・基線
長 第２図 （０） （ｂ） ？
明図。 ） 第６図は本発明実施例としての広視野□測距装置の要部
斜視図。 １・・・投光レンズ ２・・・受光レンズ６．４・・・
プリズム ５・・・発光素子６・・・半導体装置検出器
７・・・マスク部材７ａＯ・スリット Ｄ＠・・基線
長 第２図 （０） （ｂ） ？
Claims (2)
- （１）被測定体に向けて光源からの光束を投射する投光
光学系と、その反射光を受光するために一定基線長だけ
離して配置され該反射光にて被測定体までの距離をめる
受光光学系を有する測距装置において、前記投光光学系
から投射される光束を反射手段により少な（とも基線長
と直交する方向に広げるとともに、少なくとも一方の光
学系の光路中に基線長方向と直交する方向以外の光の通
過を阻止するマスク部材を設けたことを特徴とする広視
野測距装置。 - （２） ４ｔ−許錆求の範囲第１項記載において、上記
反射手段としてプリズムを用いた広視野測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1144484A JPS60155912A (ja) | 1984-01-25 | 1984-01-25 | 広視野測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1144484A JPS60155912A (ja) | 1984-01-25 | 1984-01-25 | 広視野測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60155912A true JPS60155912A (ja) | 1985-08-16 |
Family
ID=11778261
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1144484A Pending JPS60155912A (ja) | 1984-01-25 | 1984-01-25 | 広視野測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60155912A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6247508A (ja) * | 1985-08-27 | 1987-03-02 | Fuji Photo Film Co Ltd | 測距用光学装置 |
| DE3709907A1 (de) * | 1986-03-26 | 1987-10-08 | Chinon Ind Inc | Entfernungsmesser |
| JPS62299716A (ja) * | 1986-06-19 | 1987-12-26 | Nikon Corp | 表面変位検出装置 |
-
1984
- 1984-01-25 JP JP1144484A patent/JPS60155912A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6247508A (ja) * | 1985-08-27 | 1987-03-02 | Fuji Photo Film Co Ltd | 測距用光学装置 |
| DE3709907A1 (de) * | 1986-03-26 | 1987-10-08 | Chinon Ind Inc | Entfernungsmesser |
| JPS62299716A (ja) * | 1986-06-19 | 1987-12-26 | Nikon Corp | 表面変位検出装置 |
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