JPS60153848A - X線検査装置の検出回路 - Google Patents
X線検査装置の検出回路Info
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- JPS60153848A JPS60153848A JP59010348A JP1034884A JPS60153848A JP S60153848 A JPS60153848 A JP S60153848A JP 59010348 A JP59010348 A JP 59010348A JP 1034884 A JP1034884 A JP 1034884A JP S60153848 A JPS60153848 A JP S60153848A
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の利用分野
本発明は、X線CT装置や手荷物検査装置等のX線検査
装置において被写体を透過した後のX線出力を検出して
N勺変換器へ検出信号を送出する検出回路に関し、特に
積分器における測定振幅を縮少し、高速かつ高精度な計
測を可能とするX線検査装置の検出回路に関する。
装置において被写体を透過した後のX線出力を検出して
N勺変換器へ検出信号を送出する検出回路に関し、特に
積分器における測定振幅を縮少し、高速かつ高精度な計
測を可能とするX線検査装置の検出回路に関する。
従来技術と問題点
第1図に示すX線透視検査装置1や手荷物検査装置は、
X線管2から被写体3に対してX線パルス4を照射し、
上記被写体3を透過した後のX線出力を半導体検出器や
電離箱検出器等の検出器5で検出して検出回路6に送出
し、この検出回路6ではその入力信号を電圧変換して検
出信号として図示外のルΦ変換器に送出し、被写体3に
対するX線の投影データを計測していた。そして、上記
被写体3は、例えば矢印Aで示すように、X線管2と検
出器5とに対し相対的に逐次移動させ、被写体3の各部
位の投影データをとっていた。また、第2図に示すX線
CT装置7においても同様に、X線管2から被写体3に
対してX線パルス4を照射し、検出器5と検出回路6を
介して図示外のルの変換器に検出信号を送出してbた。
X線管2から被写体3に対してX線パルス4を照射し、
上記被写体3を透過した後のX線出力を半導体検出器や
電離箱検出器等の検出器5で検出して検出回路6に送出
し、この検出回路6ではその入力信号を電圧変換して検
出信号として図示外のルΦ変換器に送出し、被写体3に
対するX線の投影データを計測していた。そして、上記
被写体3は、例えば矢印Aで示すように、X線管2と検
出器5とに対し相対的に逐次移動させ、被写体3の各部
位の投影データをとっていた。また、第2図に示すX線
CT装置7においても同様に、X線管2から被写体3に
対してX線パルス4を照射し、検出器5と検出回路6を
介して図示外のルの変換器に検出信号を送出してbた。
そして、上記X線管2と検出器5とは、被写体3を挟ん
で対称の位置にて回転板8に取シ付けられており、この
回転板8を例えば矢印B方向へ適宜の角度ずつ回転して
、被写体3の周囲の全角度からの投影データを計測して
いた。
で対称の位置にて回転板8に取シ付けられており、この
回転板8を例えば矢印B方向へ適宜の角度ずつ回転して
、被写体3の周囲の全角度からの投影データを計測して
いた。
上記第1図及び第2図のいずれの装置の場合も、検出器
5の位置で検出するX線出方は、第3図に示すように、
被写体3が置かれた領域Wにおいて急激に小さくなるが
、上記領域W内のX線出力の大きさはほとんど同じであ
まり変化がない。このようK、X線出力の大きさがあま
り変化しない領域W内の投影データをとるには、第4図
に示すように、検出器5として例えば半導体検出器や電
離箱検出器の電極D1 、 D2− Dnを非常に小さ
いピッチで並べ、検出回路6として電流電圧変換器9と
積分器10とを個々の電極D’ * D2・・・Dn
に直列に接続し、上記側々の電極f)t、f)2・−・
Dn からの入力信号s1 をそれぞれに対応する電流
電圧変換器9と積分器10で各位置に対応する検出信号
S2として取り 出していた。しかしこの場合、各同次
ごとのX線パルス4の照射はほとんど同じ強さでアリ、
被写体3の透過によるX線の減弱も一様で検出器5の位
置におけるX線出力もあまり変化がなく、がつ検出器5
の各電極D11D2・・・Dn の配列ピッチは例えば
0.75〜LCjmと非常に小さいことなどから、検出
回路6から出力される隣り合うチャンネル間の検出信号
S2の出力差又は次回のX線曝射時のX線検出信号との
差はあまシ大きくは出てこない。同様にieg−2図に
示すX線CT装置7における隣シ合うチャンネル間の検
出信号の差および0.5〜1度の回転角度ごとの出力差
もあまり太くきはなかった。
5の位置で検出するX線出方は、第3図に示すように、
被写体3が置かれた領域Wにおいて急激に小さくなるが
、上記領域W内のX線出力の大きさはほとんど同じであ
まり変化がない。このようK、X線出力の大きさがあま
り変化しない領域W内の投影データをとるには、第4図
に示すように、検出器5として例えば半導体検出器や電
離箱検出器の電極D1 、 D2− Dnを非常に小さ
いピッチで並べ、検出回路6として電流電圧変換器9と
積分器10とを個々の電極D’ * D2・・・Dn
に直列に接続し、上記側々の電極f)t、f)2・−・
Dn からの入力信号s1 をそれぞれに対応する電流
電圧変換器9と積分器10で各位置に対応する検出信号
S2として取り 出していた。しかしこの場合、各同次
ごとのX線パルス4の照射はほとんど同じ強さでアリ、
被写体3の透過によるX線の減弱も一様で検出器5の位
置におけるX線出力もあまり変化がなく、がつ検出器5
の各電極D11D2・・・Dn の配列ピッチは例えば
0.75〜LCjmと非常に小さいことなどから、検出
回路6から出力される隣り合うチャンネル間の検出信号
S2の出力差又は次回のX線曝射時のX線検出信号との
差はあまシ大きくは出てこない。同様にieg−2図に
示すX線CT装置7における隣シ合うチャンネル間の検
出信号の差および0.5〜1度の回転角度ごとの出力差
もあまり太くきはなかった。
このような状態において、従来のX線検査装置の検出回
路は、第5図に示すよう忙、オペアンプ11及び抵抗R
1を並列に接続してなる電流放電用スイッチ14を並列
に接続してなる積分器15とからなっていた。そして、
第6図(a)に示すように、適宜の時間間隔でX線管2
から照射されたX線パルス4が被写体3を透過した後の
X線出力を検出器5で検出し、この検出器5から電流i
oで出力された信号を上記電流電圧変換器120入力端
子16で受け、この電流電圧変換器12で上記入力信号
ioを電圧Eoに変換する。このとき、上記電流電圧変
換器12の出力は、第6図(b)に示すように、検出器
5からの入力信号ioの大きさに応じてその電圧値がE
l、E2.E5のように少しずつ変化する。この電圧E
1.E2.E5は抵抗R2で電流iに変換され、積分器
15に入力する。この積分器15では、上記電流iが入
力する直前、すなわち第6図(a)のX線パルス4の照
射の直前毎に放電用スイッチ14がオンとなシ(第6図
<C>参照)、積分コンデンサCを放電して第6図(d
)に示すように積分器15の出力Eをその都度0レベル
に落し、その状態から上記電流電圧変換器12の出力E
1.E2.E3に応じた量の充電がされ、積分用のオペ
アンプ13から検出信号Eが出力される。この検出信号
Eは、マルチプレクサ等の検出チャンネル切換スイッチ
11を介してルΦ変換器18へ送出され、X線検査のデ
ータとして計測される。
路は、第5図に示すよう忙、オペアンプ11及び抵抗R
1を並列に接続してなる電流放電用スイッチ14を並列
に接続してなる積分器15とからなっていた。そして、
第6図(a)に示すように、適宜の時間間隔でX線管2
から照射されたX線パルス4が被写体3を透過した後の
X線出力を検出器5で検出し、この検出器5から電流i
oで出力された信号を上記電流電圧変換器120入力端
子16で受け、この電流電圧変換器12で上記入力信号
ioを電圧Eoに変換する。このとき、上記電流電圧変
換器12の出力は、第6図(b)に示すように、検出器
5からの入力信号ioの大きさに応じてその電圧値がE
l、E2.E5のように少しずつ変化する。この電圧E
1.E2.E5は抵抗R2で電流iに変換され、積分器
15に入力する。この積分器15では、上記電流iが入
力する直前、すなわち第6図(a)のX線パルス4の照
射の直前毎に放電用スイッチ14がオンとなシ(第6図
<C>参照)、積分コンデンサCを放電して第6図(d
)に示すように積分器15の出力Eをその都度0レベル
に落し、その状態から上記電流電圧変換器12の出力E
1.E2.E3に応じた量の充電がされ、積分用のオペ
アンプ13から検出信号Eが出力される。この検出信号
Eは、マルチプレクサ等の検出チャンネル切換スイッチ
11を介してルΦ変換器18へ送出され、X線検査のデ
ータとして計測される。
しかしこの場合、X線パルス4の1@の照射毎に積分器
15の出力Eをその都度θレベルまで落し、再びOから
電流電圧変換器12の出力に応じた量だけ立ち上げるの
で、積分器15の測定振幅は最大の電圧値に立ち上げる
だけ(例えば0〜8v)の大きな幅を有していなければ
ならなかった。したがって、積分器15の各回の立ち下
がシ及び立ち上がシの量が多くなり、アナログ系の静定
時間等を考慮すると検出回路の計測時間の高速化は困難
であった。また、第3図に示すように、被写体3が置か
れた領域W内ではX線出力が急激に小さくなシ、かつそ
の領域W内でのX線出力の大きさがほとんど変らない状
態において、第6図(d)に示すように、X線照射の各
同次又は隣り合うチャンネル間の検出信号Eの大きさを
そのまま比較したのでは、それぞれの検出信号Eの出力
差を精度よく読むことが困難であった。したかりて、高
精度の計測をすることはできず、良好な検査画像も得ら
れないものであった。
15の出力Eをその都度θレベルまで落し、再びOから
電流電圧変換器12の出力に応じた量だけ立ち上げるの
で、積分器15の測定振幅は最大の電圧値に立ち上げる
だけ(例えば0〜8v)の大きな幅を有していなければ
ならなかった。したがって、積分器15の各回の立ち下
がシ及び立ち上がシの量が多くなり、アナログ系の静定
時間等を考慮すると検出回路の計測時間の高速化は困難
であった。また、第3図に示すように、被写体3が置か
れた領域W内ではX線出力が急激に小さくなシ、かつそ
の領域W内でのX線出力の大きさがほとんど変らない状
態において、第6図(d)に示すように、X線照射の各
同次又は隣り合うチャンネル間の検出信号Eの大きさを
そのまま比較したのでは、それぞれの検出信号Eの出力
差を精度よく読むことが困難であった。したかりて、高
精度の計測をすることはできず、良好な検査画像も得ら
れないものであった。
発明の目的
本発明は上記の問題点を解消するためになされたもので
、X線照射の各回毎の検出信号の差だけを取り出すよう
にして、積分器の測定振幅を縮少すると共に高速かつ高
精度な計測を可能とするX線検査装置の検出回路を提供
することを目的とする。
、X線照射の各回毎の検出信号の差だけを取り出すよう
にして、積分器の測定振幅を縮少すると共に高速かつ高
精度な計測を可能とするX線検査装置の検出回路を提供
することを目的とする。
発明の概要
そして上記の目的は本発明によれば、X線管から照射さ
れたX線パルスが被写体を透過した後のX線出力を検出
する検出器からの入力信号を、電流電圧変換器と積分器
とを介して電圧変換して検出信号とじNの変換器へ送出
するX線検査装置の検出回路において、上記電流電圧変
換器と積分器との間に微分器を設け、前回のX線照射時
の検出信号とその次のX線照射時の検出信号との差分出
力を検出するようにしたことを特徴とするX線検査装置
の検出回路を提供するととkよって達成される。
れたX線パルスが被写体を透過した後のX線出力を検出
する検出器からの入力信号を、電流電圧変換器と積分器
とを介して電圧変換して検出信号とじNの変換器へ送出
するX線検査装置の検出回路において、上記電流電圧変
換器と積分器との間に微分器を設け、前回のX線照射時
の検出信号とその次のX線照射時の検出信号との差分出
力を検出するようにしたことを特徴とするX線検査装置
の検出回路を提供するととkよって達成される。
発明の実施例
以下、本発明の実施例を添付図面に基いて詳細に説明す
る。
る。
本発明によるX線検査装置の検出回路は、第7図に示す
ように、電流電圧変換器12と、微分器19と、積分器
15とからなる。上記電流電圧変換器121−1:、X
線出力の検出器5から電流として出力された信号iロ払
力端子16で受けて電圧EOに変換するもので、電流電
圧変換用のオペアンプ11と抵抗R1とを並列に接続し
てなる。上記電流電圧変換器12の出力側には、微分器
19が接続されている。この微分器19は、上記電流電
圧変換器12の出力電圧Eoを入力してその入力信号の
時間微分に比例した出力を与えるもので、電圧を電流に
変換する抵抗R2と、X線パルスの照射間のみオンとな
るアナログスイッチ20と、上記電流電圧変換器12か
らの入力電圧EOが変化したときのみ後述の積分器15
へ電流iを流す微分コンデンサC1とを直列に接続して
なる。ここで、上記アナログスイッチ20のオン、オフ
のタイミングは、第8図(C)に示すように、電流電圧
変換器12の出力電圧EOの立ち上がりよりわずか遅れ
てオンとな9、EOの立ち下がりよりわずか早めにオフ
となるようにされそいる。すなわち、上記出力電圧EO
のパルス幅’6tとし、アナログスイッチ20の導通時
間をt′とするならば、t′〈tとなるように設定され
ている。このようにすると、X線パルスの立ち下り時に
よる微分コンデンサC1への電荷の流入がなく、上記出
力電圧EOが立ち上がるときだけ微分コンデンサC1に
は電流iが流れることとなる(第8図(d)参照)。上
記微分器19の出力側には、積分器15が接続されてい
る。この積分器15は、上記微分器19の出力電流iを
入力して指定された継続時間だけ積分し、入力の積分値
に比例した出力を与えるもので、積分用のオペアンプ1
3と、積分コンデンサC2と、との積分コンデンサC2
の放電用のスイッチ14とを並列に接続してなる。ここ
で、上記放電用のスイッチ14は、第8図(e)に示す
ように、微分器19から入力する一連の信号の取り込み
の直前に一度だけオンとされるようになっている。
ように、電流電圧変換器12と、微分器19と、積分器
15とからなる。上記電流電圧変換器121−1:、X
線出力の検出器5から電流として出力された信号iロ払
力端子16で受けて電圧EOに変換するもので、電流電
圧変換用のオペアンプ11と抵抗R1とを並列に接続し
てなる。上記電流電圧変換器12の出力側には、微分器
19が接続されている。この微分器19は、上記電流電
圧変換器12の出力電圧Eoを入力してその入力信号の
時間微分に比例した出力を与えるもので、電圧を電流に
変換する抵抗R2と、X線パルスの照射間のみオンとな
るアナログスイッチ20と、上記電流電圧変換器12か
らの入力電圧EOが変化したときのみ後述の積分器15
へ電流iを流す微分コンデンサC1とを直列に接続して
なる。ここで、上記アナログスイッチ20のオン、オフ
のタイミングは、第8図(C)に示すように、電流電圧
変換器12の出力電圧EOの立ち上がりよりわずか遅れ
てオンとな9、EOの立ち下がりよりわずか早めにオフ
となるようにされそいる。すなわち、上記出力電圧EO
のパルス幅’6tとし、アナログスイッチ20の導通時
間をt′とするならば、t′〈tとなるように設定され
ている。このようにすると、X線パルスの立ち下り時に
よる微分コンデンサC1への電荷の流入がなく、上記出
力電圧EOが立ち上がるときだけ微分コンデンサC1に
は電流iが流れることとなる(第8図(d)参照)。上
記微分器19の出力側には、積分器15が接続されてい
る。この積分器15は、上記微分器19の出力電流iを
入力して指定された継続時間だけ積分し、入力の積分値
に比例した出力を与えるもので、積分用のオペアンプ1
3と、積分コンデンサC2と、との積分コンデンサC2
の放電用のスイッチ14とを並列に接続してなる。ここ
で、上記放電用のスイッチ14は、第8図(e)に示す
ように、微分器19から入力する一連の信号の取り込み
の直前に一度だけオンとされるようになっている。
次に、本発明による検出回路の動作を第8図に示すタイ
ミング線図を参照して説明する。まず、第8図(a)に
示すように、適宜の時間間隔でX線管2から照射された
X線パルス4が被写体3を透過した後のX線出力を検出
器5で検出し、この検出器5から電流ioで出力された
信号を電流電圧変換器12の入力端子16で受け(第7
図参照)、この電流電圧変換器12で上記入力信号io
を電圧EOに変換する。このとき、上記電流電圧変換器
12の出力は、第8図(b)に示すように、検出器5か
らの入力信号ioの大きさに応じてその電圧値がEl
、E2.p、sのように少しずつ変化する。この電圧E
1.E2.E5は、微分器19の抵抗R2で電流に変換
され、第8図(C)に示すアナログスイッチ20のオン
、オフによって微分コンデンサC1には、第8図(d)
に示すように1電流電圧変換器12の出力電圧EOが立
ち上がるときだけ電流iが流れる。ここで、上記出力電
圧EOにおいて、第2回次のX線パルスの照射による出
力電圧E2が第1回次の出力電圧E1よりも小さいとき
は、上記微分コンデンサC1を流れる電流12はマイナ
ス方向に流れる。また、第3回次の出力電圧Esが第2
回次の出力電圧E2よシも大きいときは、電流i3はプ
ラス方向に流れる。すなわち、前回微分コンデンサC1
にたくわえられた電圧の大きさと比較して、今回の電圧
が大きければ電流iはプラス方向に流れ、今回の電圧が
小さければ電流iはマイナス方向に流れることとなり、
前回のX線出力の検出結果との差を電流iの方向と大き
さで取シ出すことができる。上記微分器19の出力電流
i、は積分器15へ入力するが、この積分器15では積
分コンデンサC2の放電用のスイッチ14が、第8図<
e>に示すように、微分器19から入力する一連の信号
の取シ込みの直前に一度だけオンとされて上記積分コン
デンサC2を放電し、これにより検出回路のイニシャル
データを0とし、その後の計測中はオフに保持される。
ミング線図を参照して説明する。まず、第8図(a)に
示すように、適宜の時間間隔でX線管2から照射された
X線パルス4が被写体3を透過した後のX線出力を検出
器5で検出し、この検出器5から電流ioで出力された
信号を電流電圧変換器12の入力端子16で受け(第7
図参照)、この電流電圧変換器12で上記入力信号io
を電圧EOに変換する。このとき、上記電流電圧変換器
12の出力は、第8図(b)に示すように、検出器5か
らの入力信号ioの大きさに応じてその電圧値がEl
、E2.p、sのように少しずつ変化する。この電圧E
1.E2.E5は、微分器19の抵抗R2で電流に変換
され、第8図(C)に示すアナログスイッチ20のオン
、オフによって微分コンデンサC1には、第8図(d)
に示すように1電流電圧変換器12の出力電圧EOが立
ち上がるときだけ電流iが流れる。ここで、上記出力電
圧EOにおいて、第2回次のX線パルスの照射による出
力電圧E2が第1回次の出力電圧E1よりも小さいとき
は、上記微分コンデンサC1を流れる電流12はマイナ
ス方向に流れる。また、第3回次の出力電圧Esが第2
回次の出力電圧E2よシも大きいときは、電流i3はプ
ラス方向に流れる。すなわち、前回微分コンデンサC1
にたくわえられた電圧の大きさと比較して、今回の電圧
が大きければ電流iはプラス方向に流れ、今回の電圧が
小さければ電流iはマイナス方向に流れることとなり、
前回のX線出力の検出結果との差を電流iの方向と大き
さで取シ出すことができる。上記微分器19の出力電流
i、は積分器15へ入力するが、この積分器15では積
分コンデンサC2の放電用のスイッチ14が、第8図<
e>に示すように、微分器19から入力する一連の信号
の取シ込みの直前に一度だけオンとされて上記積分コン
デンサC2を放電し、これにより検出回路のイニシャル
データを0とし、その後の計測中はオフに保持される。
したがって、積分器15は、最初に0レベルにセットさ
れた後はいちいち0レベルに立ち下がることはない。こ
の最初00レベルの状態から、まず微分器19の出力電
流i1が入力すると、第8図(f)Ic示すように、指
定された継続時間だけ積分して上記電流11の積分値に
比例した電圧を検出信号Eとして出力する。次に、マイ
ナス方向の出力電流12が入力すると、前回の積分値の
ところから負の積分をして第8図(b)に示す電流電圧
変換器12の出力E2とElの差に比例した分だけ低い
積分値を出力する。次に、プラス方向の出力電流i5が
入力すると、前回の積分値のところから正の積分をして
第8図(b)に示す電流電圧変換器12の出力E3とE
2の差に比例した分だけ高い積分値を出力する。このよ
うにして、積分器15は、前回の積分値のところから電
流電圧変換器120出力Ellの差に応じた分だけを積
分して検出信号Eを出力する0したがって、この検出信
号Eは、前回のX線照射時の検出信号とその次のX線照
射時の検出信号との差分出力のみ変化することとなる。
れた後はいちいち0レベルに立ち下がることはない。こ
の最初00レベルの状態から、まず微分器19の出力電
流i1が入力すると、第8図(f)Ic示すように、指
定された継続時間だけ積分して上記電流11の積分値に
比例した電圧を検出信号Eとして出力する。次に、マイ
ナス方向の出力電流12が入力すると、前回の積分値の
ところから負の積分をして第8図(b)に示す電流電圧
変換器12の出力E2とElの差に比例した分だけ低い
積分値を出力する。次に、プラス方向の出力電流i5が
入力すると、前回の積分値のところから正の積分をして
第8図(b)に示す電流電圧変換器12の出力E3とE
2の差に比例した分だけ高い積分値を出力する。このよ
うにして、積分器15は、前回の積分値のところから電
流電圧変換器120出力Ellの差に応じた分だけを積
分して検出信号Eを出力する0したがって、この検出信
号Eは、前回のX線照射時の検出信号とその次のX線照
射時の検出信号との差分出力のみ変化することとなる。
そして、上記検出信号Eは、第7図に示すように、マル
チプレクサ等の検出チャンネル切換スイッチ1Tを介し
てルΦ変換器18へ送出され、X線検査のデータとして
計測される。
チプレクサ等の検出チャンネル切換スイッチ1Tを介し
てルΦ変換器18へ送出され、X線検査のデータとして
計測される。
第9図は本発明による検出回路の変形例を示す回路図で
ある。この変形例においては、微分器1gが抵抗R2と
微分コンデンサC1のみから構成されておシ、X線パル
スではなく連続X線を照射する場合忙適用されるもので
ある。X線CT装置や手荷物検査装置等の特徴として、
X線出力の検出器の電極を非常に小さいピッチで配列し
てそのサンプルピッチが小さく、かつサンプリングレー
トも高いことから、連続X線を照射した場合でも検出器
5からの入力電流i(1は、第10図(a)に示すよう
に、データ的にはほぼ方形波状の変化を示すこととなる
。したがって、微分器1gから出力されて積分器15へ
入力する電流iは、第10図(b)のようKな〕、第8
図(d)の出力波形とあまり変らないものとなる。この
ことから、微分器19′にアナログスイッチ20を設け
なくても、第10図(C)のように、積分器15からは
検出信号Eの差分出力のみの変化として取り出すことが
できる。
ある。この変形例においては、微分器1gが抵抗R2と
微分コンデンサC1のみから構成されておシ、X線パル
スではなく連続X線を照射する場合忙適用されるもので
ある。X線CT装置や手荷物検査装置等の特徴として、
X線出力の検出器の電極を非常に小さいピッチで配列し
てそのサンプルピッチが小さく、かつサンプリングレー
トも高いことから、連続X線を照射した場合でも検出器
5からの入力電流i(1は、第10図(a)に示すよう
に、データ的にはほぼ方形波状の変化を示すこととなる
。したがって、微分器1gから出力されて積分器15へ
入力する電流iは、第10図(b)のようKな〕、第8
図(d)の出力波形とあまり変らないものとなる。この
ことから、微分器19′にアナログスイッチ20を設け
なくても、第10図(C)のように、積分器15からは
検出信号Eの差分出力のみの変化として取り出すことが
できる。
なお、以上の説明においては、主としてX線CT装置の
ように多チヤンネル形の検出器5を有するX線検査装置
について説明したが、本発明はこれに限られず、1チヤ
ンネルの検出器を有するものや、検出器が固定され被写
体が移動して時間的に計測データが変化するようなX線
検査装置の検出回路にも同様に適用できる。
ように多チヤンネル形の検出器5を有するX線検査装置
について説明したが、本発明はこれに限られず、1チヤ
ンネルの検出器を有するものや、検出器が固定され被写
体が移動して時間的に計測データが変化するようなX線
検査装置の検出回路にも同様に適用できる。
発明の効果
本発明は以上説明したように、電流電圧変換器12と積
分器15との間に微分器19を設け、この微分器19に
よって上記電流電圧変換器12の出力電圧Eelの大小
の差に応じてプラス方向又はマイナス方向の電流iを積
分器15に出力すると共に、積分器15では一連の検出
信号の取り込みの直前に一度だけOレベル設定がされて
その後は連続して積分するので、上記積分器15は前回
の積分値のところから電流電圧変換器12の出力電圧E
Oの大小の差に応じた分だけを積分して検出信号Et−
出力することとなる。
分器15との間に微分器19を設け、この微分器19に
よって上記電流電圧変換器12の出力電圧Eelの大小
の差に応じてプラス方向又はマイナス方向の電流iを積
分器15に出力すると共に、積分器15では一連の検出
信号の取り込みの直前に一度だけOレベル設定がされて
その後は連続して積分するので、上記積分器15は前回
の積分値のところから電流電圧変換器12の出力電圧E
Oの大小の差に応じた分だけを積分して検出信号Et−
出力することとなる。
したがって、前回のX線照射時の検出信号とその次のX
線照射時の検出信号との差分出力として検出することが
できる。このことから、積分器15の検出信号Eの立ち
下がり及び立ち上がりの量は、前回とその次の回との検
出信号Eの差の分だけでよく、積分器15の測定振幅を
従来に比し例えば172〜173程度に縮少することが
できると共に、アナログデータとしての検出信号Eの静
定時間を短くすることができる。よって、検出回路の計
測時間を高速化することができる。また、上記のように
測定振幅を縮少できることから、積分器15のゲインを
従来に比し高く設定できるので、検出回路系のシAの向
上及びルΦ変換器の量子化エラーの低減等が可能となシ
、被写体3が置かれた領域W内でX線出力の大きさがほ
とんど変らない状態においても、それぞれの検出信号E
の出力差を精度よく読むことができる。したがって、高
精度の計測をすることができると共に、良好な検査画像
を得ることができる。
線照射時の検出信号との差分出力として検出することが
できる。このことから、積分器15の検出信号Eの立ち
下がり及び立ち上がりの量は、前回とその次の回との検
出信号Eの差の分だけでよく、積分器15の測定振幅を
従来に比し例えば172〜173程度に縮少することが
できると共に、アナログデータとしての検出信号Eの静
定時間を短くすることができる。よって、検出回路の計
測時間を高速化することができる。また、上記のように
測定振幅を縮少できることから、積分器15のゲインを
従来に比し高く設定できるので、検出回路系のシAの向
上及びルΦ変換器の量子化エラーの低減等が可能となシ
、被写体3が置かれた領域W内でX線出力の大きさがほ
とんど変らない状態においても、それぞれの検出信号E
の出力差を精度よく読むことができる。したがって、高
精度の計測をすることができると共に、良好な検査画像
を得ることができる。
第1図tIiX線透視検査装置を示す説明図、第2図は
X線CT装置を示す説明図、第3図は被写体を透過した
X線出力の変化の状態を示すグラフ、第4図は上記X線
検査装置の検出器及び検出回路を示す説明図、第5図は
従来のX線検査装置の検出回路を示す回路図、第6図は
そのタイミング線図、第7図は本発明によるX線検査装
置の検出回路を示す回路図、第8図はそのタイミング線
図、第9図は変形例を示す回路図、第10図はそのタイ
ミング線図である。 2・・・X線管、 3・・・被写体、 4・−・X線パ
ルス、 5・−・検出器、 6・・・検出回路、 12
・・・電流電圧変換器、 13・・・積分用のオペアンプ、 14・・・放電用の
スイッチ、 15・・−積分器、18・・・、し■変換
器、 19、・i g−・・微分器、 20・−・アナ
ログスイッチ、C1・・・微分コンデンサ、C2・・・
積分コンデンサ、 E−・・検出信号、 R1、R2・
・・抵 抗、io・・・入力信号。 出願人 株式会社日立メデイコ
X線CT装置を示す説明図、第3図は被写体を透過した
X線出力の変化の状態を示すグラフ、第4図は上記X線
検査装置の検出器及び検出回路を示す説明図、第5図は
従来のX線検査装置の検出回路を示す回路図、第6図は
そのタイミング線図、第7図は本発明によるX線検査装
置の検出回路を示す回路図、第8図はそのタイミング線
図、第9図は変形例を示す回路図、第10図はそのタイ
ミング線図である。 2・・・X線管、 3・・・被写体、 4・−・X線パ
ルス、 5・−・検出器、 6・・・検出回路、 12
・・・電流電圧変換器、 13・・・積分用のオペアンプ、 14・・・放電用の
スイッチ、 15・・−積分器、18・・・、し■変換
器、 19、・i g−・・微分器、 20・−・アナ
ログスイッチ、C1・・・微分コンデンサ、C2・・・
積分コンデンサ、 E−・・検出信号、 R1、R2・
・・抵 抗、io・・・入力信号。 出願人 株式会社日立メデイコ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、X線管から照射されたX線パルスが被写体を透過し
た後のX線出力を検出する検出器からの入力信号を、電
流電圧変換器と積分器とを介して電圧変換して検出信号
としルΦ変換器へ送出するX線検査装置の検出回路にお
いて、上記電流電圧変換器と積分器との間に微分器を設
け、前回のX線照射時の検出信号とその次のX線照射時
の検出信号との差分出力を検出するようにしたことを特
徴とするX線検査装置の検出回路。 2、上記微分器は、抵抗とアナログスイッチと微分コン
デンサとを直列に接続したものであることを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載のX線検査装置の検出回路。 3゜上記アナログスイッチは、X線パルスノ照射間のみ
オンとなることを特徴とする特許請求の範囲第2項記載
のX線検査装置の検出回路0 4、上記積分器は、オペアンプと積分コンデンサとこの
積分コンデンサの放電用のスイッチとを並列に接続した
ものであることを特徴とする特許請求の範囲電1項記載
のX線検査装置の検出回路。 5、上記放電用のスイッチは、一連の検出信号の取り込
みの直前に一度だけオンとなることを特徴とする特許請
求の範囲第4項記載のX線検査装置の検出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59010348A JPS60153848A (ja) | 1984-01-25 | 1984-01-25 | X線検査装置の検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59010348A JPS60153848A (ja) | 1984-01-25 | 1984-01-25 | X線検査装置の検出回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60153848A true JPS60153848A (ja) | 1985-08-13 |
Family
ID=11747682
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59010348A Pending JPS60153848A (ja) | 1984-01-25 | 1984-01-25 | X線検査装置の検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60153848A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009513220A (ja) * | 2005-10-28 | 2009-04-02 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 分光コンピュータ断層撮影の方法および装置 |
-
1984
- 1984-01-25 JP JP59010348A patent/JPS60153848A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009513220A (ja) * | 2005-10-28 | 2009-04-02 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 分光コンピュータ断層撮影の方法および装置 |
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