JPS60140538A - 媒体欠陥検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は媒体欠陥検出装置に関し、特に熱変位等による
磁気ヘッドの位置ずれに対処するのに好適な媒体欠陥検
出装置に関する。

〔発明の背景〕

一般に磁気ディスク記憶装置の磁気記録媒体（磁気ディ
スク）は、基板上の磁気形成膜のピンホール等の欠陥を
検査する必要がある。この検査は、磁気ヘッドを用いて
欠陥検出用データ、例えば定常サイン波の信号を磁気記
録媒体上の全トラックに記録し、この欠陥検出用データ
を再生して検査することにより行われる。この検査は、
例えば再生信号が、記録した欠陥検出用データのレベル
より低いか否かの比較により行うものである。従来の媒
体欠陥検出装置は、この検出された欠陥の数により被検
査磁気記録媒体の良盃をｒ１１定する。

すなわち、欠陥の数がＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ　Ｃｈｅ　Ｃ
ｋ　！　ｎ　ｉ：　ａ　ＩＩ　ｄ　（”：　Ｏｒ　ｒ　
ｅ　ＣＩ　！　ｎ　ｆ：ｆｅａｔｕｒｅ：エラーチェッ
ク訂正機能）等によって回路的に回復可能な数値以下の
場合に彼検査磁気記＠媒体を合格とし、欠陥の数が回復
不可能な場合に不合格とし、ている。

一方、近年の磁気ディスク記憶装置は、記録密度の向上
のために記録１−ラック幅を狭くする傾向にあり、この
ために、従来問題とさ九なかった程度の微少欠陥が問題
となってきている。すなわち、第１図（ａ）に示す如く
幅の広い記録トラックｌの端部に欠陥２があったとして
も該１−ラック１幅が広いため信号の記録再生時問題と
ならなかった様な欠陥２が、第１図（１））の如く幅の
狭い記録１−ラック１′の場合には１〜ラツク１′内の
欠陥２が占める割合が多くなることにより、相対的に大
きな欠陥になってしまう傾向にある。

他方、第２図（ａ）に示す如く記録トラック１′の端部
に欠陥２が存゛在しており、これを磁気ヘッド１００に
より再生した場合、前記ＥＣＣ等により本来回復可能な
欠陥であっても、検査装置の長時間駆動により第２図（
ｂ’）に示す如く磁気へソ＋：　１ｏ　ｏ、および記録
１−ラック１゛が熱変位等によりずれた場合、回復でき
ない欠陥２として検出してしまう現象が発生する。また
、逆に磁気ヘッド１００が逆方向にずｈた場合、検出す
べき欠陥であってもこの欠陥を検出しないこともある。

このように、従来技術による媒体欠陥検出装置は、記録
１へランクの狭ｆヒにより、媒体欠陥の検出を正確にで
きないという問題がある。

〔発明の目的〕

本発明の目的は、上記の・ような従来技術の欠点を解消
し、狭い１−ランク上の欠陥を正確に検出し得る媒体欠
陥検出装置を提供することにある。

〔発明の（ｌ！要〕

上記目的を達成するため１本発明は、磁気ヘッドを磁気
記録媒体の所望の１−ラックに位置決めし前記１へラッ
クに存する欠陥を検出する媒体欠陥検出装置において、
前記磁気ヘッドを前記トラックに位置決めしその位置に
おいて欠陥検出を行った後、前記磁気ヘッドと前記トラ
ックとの相対位置を前記磁気記録媒体の半径方向に前後
に変位させ、それぞれの位［にて欠陥検出を行うよう制
御する手段を設けたことに秘゛徴がある。

〔発明の実施例〕

以下１本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。

第３図は本発明の一実施例による媒体欠陥検出装置の微
要を示すブロック図である。

本実施例による媒体欠陥検出装置は全体の制御をマイコ
ン３を利用して行っており、マイコン３と制御回路５、
ＨＤＡ　（ヘッド・ディスク・アッセンブリ：磁気ヘッ
ドおよび磁気ディスク並びに磁気ヘッド位置決め機構を
内蔵する組立体）７、検出回路９、メモリｌＯとの間の
借りの伝送はパスライン４を通じて行われる。

制御回路５は、ＨＤＡのヘッド位置決め、磁気記録媒体
に対する信号の書込み、読出しを制御するものであり、
エラードラックフォーマツタ２３は、メモリ】０の欠陥
情報に基づいて欠陥を判定するとともに、媒体上の欠陥
位置を、例えばスキップして情報を記録するようなフォ
ーマノティングを行う回路である。

本装置の動作の概要を第４図の流れ図を参照しつつ説明
する。

まず、マイコン３は欠陥検出を行う旨の信しを制御回路
５、検出回路９に出力する。この信号を受けて、制御回
路５は制御信シロによりＨＤ　Ａ　７の磁気ヘッドを所
定トラック−にに位置決めする（ステップ３０１）。所
定トラック上に位置決めされた磁気ヘッドは、所定１〜
ランク−Ｌに書込まれた欠陥検出用データ８を読出し、
このデータ８を欠陥検出回路９に送る。欠陥検出回路９
は、送られてきた欠陥検出用データ８の出力レベルが一
定のレベル（スライスレベル）に達しているか否かを判
定し、もし一定レベル以下の場合はリードエラーを発生
せしめる欠陥が磁気記録媒体にあるもの判断し、その判
断結果および欠陥位置はメモリ１０に格納される（ステ
ップ３０２）。次に、制御回路５の制御のもとに磁気ヘ
ッドをシータ方向前方に所定量オフセントし、同様の動
作を繰返す（ステップ３０３）。さらに、制御回路５の
制御のもどに磁気ヘラ１くをシータ方向後方に所定量オ
フセラ１−シ、これまでと全く同様の動作を繰返す（ス
テップ３０４）。最後にエラー１−ランクフォーマツタ
２３はメモリ１０から欠陥情報を取出して、１−ラック
フォーマツ１〜を行う（ステップ３０５）。

上述のように、本実施例では、磁気ヘッドを記録媒体で
ある円板の半径方向にオフセットさせることにより、ト
ラック方向の同一位置に対して磁気ヘッドのシータ方向
の３箇所で欠陥（ビットエラー）検出を行い、それぞれ
の欠陥（ビットエラー）情報をメモリＪＯに格納する。

この際、トラック位置決めが熱変位、振動等の要因によ
りずれることがあるが、例えずれていたとしても、上記
３箇所での欠陥検出の結果をエラートラックフォーマツ
タ２３にて判断し、同一ビットに対し２箇所以上の欠陥
検出におい、てピッｌ−工゛ラーと判定されたもののみ
を真のピッ１〜エラーとしてフオーマッートすることが
できる。すなわち、１箇所のみで判定されたビットエラ
ーは、トラック位置決めのずれにより誤認されたビット
エラーだといえる。このように、本実施例は、トラック
位置ずれそのものを補正することなく、ずれたトラック
位置から円板半径方向に所定量だけオフセットして、各
位置における欠陥情報を比較することにより本来の正確
な欠陥情報を得ることができる。しかも、磁気ヘッドの
シータ方向前後へのオフ１〜ラツク量は、リードエラー
を発生させるものとして判断される欠陥の最低の大きさ
に相当する一定量とすればよく、制御が簡単である。

第５図は、エラートラックフォーマツタ２３の構成図で
ある。

図に示したように４つのＡＮＤゲー１−２４と１つの○
Ｒゲー１−を構成することにより、メモリＪＯから得ら
九る３つの欠陥情報源において、２つまたは３つの欠陥
情報源が一致した場合に正確な欠陥情報と判定すること
ができる。

第６図は、欠陥検出口２８９の−ｔｉ成例を示すブロッ
ク図である。

ＨＤΔ７内の磁気記録媒体に予め書込まれた欠陥検出用
の基準クロッ９２丁、Ｌ（フェーズロックドループ）１
１回路に入力する。その出力として、基準クロックの１
０倍周波数を得た後、書込クロック選択回路１３は、書
込クロック選択指示回路１２により任意の位置のパルス
を書込みクロックとして書込パターン発生回路１４に【
扶給する。書込増幅器１５は、書込電流発生回路１６よ
り指示された書込パターンでＨＤＡ７内の被試験磁気記
録媒体へ欠陥検出用データを書込む。

次に、被試験磁気記録媒体に書込まれた欠陥検出用デー
タは再生された後、増幅器１７に読込まれ、その再生信
号はピーク検出器１８とローパスフィルタ１９を経て可
変抵抗器２０へａ（給される。

可変抵抗器２０で任意のスライスレベルに設定された信
号はアナログ・コンパレータ２１の一方の端子へ入力さ
れる。アナログ・コンパレータ１９の他の一方の端子へ
はｎＦｆ記再生信号が直接入力され、ローパスフィルタ
１９の出力と比較さ、Ｉｔ、一定間隔のパルス列として
出力される。このパルス列は、す１−リガブル単安定マ
ルチバイブレータ２２に入力され、これを１−リガする
。この時、欠陥があれば、１個の欠陥ピッ１−に対しパ
ルス列の１個のパルスが欠け、前記リトリガブル！ｌｉ
安定マルチバイブレータ２２は１ヘリガさ才しない状態
となり欠陥と判定する。

このような欠陥検出回路９において、書込クロック選択
回路１３により１０個の位相の異った書込クロックを順
次使用して被試験磁気記録媒体に欠陥検出用データを書
込むことにより、確実にトラック方向の微少欠陥を検出
することができる。

第３図に示した実施例は、制御回路５の指示により磁気
ヘッドを磁気記録媒体の所望トラック−にに位置決めし
、まずその位置で」二に例示したような欠陥検出回路９
を使用して欠陥検出を行い、その後、シータ方向前後に
オフ１−ラノタして同様な欠陥検出を行うものである。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明によれば、狭いトラック幅
の磁気記録媒体を検査する場合においても、トランク上
の欠陥を正確に検出することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図はトラックと欠陥との位置関係の一
例を示す図、第３図は本発明の一実施例による媒体欠陥
検出装置の概略ブロック図、第４図は第２図に示し、た
装置のフローチャート、第５図は第３図に示したエラー
トラックフォ−マツタを示す図、第６図は第３図に示し
た欠陥検出回路の−例を示すブロック図である。 ３：マイコン、゛５：制御回路、７　：　ＨＤＡ、９：
欠陥検出回路、１０：メモリ、２３：エラートラックフ
ォーマツタ。 ’Ｖ、□ 特許出願人　株式会社日立製作所１． １′【： 第　３　図 第　４　図 第５図 ］０

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）磁気ヘッドを磁気記録媒体の所望のトラックに位
   置決めし前記１〜ランクに存する欠陥を検出する媒体欠
   陥検出装置にお′いて、前記磁気ヘラ１へを前記トラッ
   クに位置決めしその位置において欠陥検出を行った後、
   前記′磁気ヘットと前記トラックとの相対位置を前記磁
   気記録媒体の半径方向に前後に変位させ、それぞれの位
   置にて欠陥検出を行うよう制御する手段を設けたことを
   特徴とする媒体欠陥検出装置。