JPS5987376A - コイル検査装置 - Google Patents

コイル検査装置

Info

Publication number
JPS5987376A
JPS5987376A JP57199347A JP19934782A JPS5987376A JP S5987376 A JPS5987376 A JP S5987376A JP 57199347 A JP57199347 A JP 57199347A JP 19934782 A JP19934782 A JP 19934782A JP S5987376 A JPS5987376 A JP S5987376A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coil
tested
pulse voltage
reflected wave
detected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57199347A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuru Sumi
角 満
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP57199347A priority Critical patent/JPS5987376A/ja
Publication of JPS5987376A publication Critical patent/JPS5987376A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/72Testing of electric windings

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は各種コイルの異常の有無を検査するコイル検
査装置に関するものである。
第1図は従来のコイル検査装置を示す電気結線図である
。l第1図において、第1.第2の被試験コイル(11
、(21はコイルの異常の有無が検査されるものである
。パルス電源(3)ld第1.第2の被試験コイル(1
1、(2にパルス電圧を印加するものである。切換スイ
ッチf4)r/i嬉1.第2の被試験コイル(1) 、
 (2Kパルス電源(3)からのパルス電圧を交互に切
換えて印加するものである。ブラウン管オシロ(5)は
第1.第2の被試験コイル+1) 、 (2)Vcパル
ス電圧ケ印加したときの電圧波形を観測するものである
次に動作について説明する。パルス電源(3)からのパ
ルス電圧は、切換スイッチ(4)Kよって第1、第2の
被試験コイル(υ、(2に交互に切換えて印加される。
この第1.第2の被試験コイル+1) 、 (2)に交
互に切換えて印加されるバlレスIEEEの電圧波形を
ブラウン管オシロ(5)で観測スる。
従って、第1.第2の被試験コイ/L/(11、(2)
が同一のサージインピーダンスであれば、ブラウン管オ
シロ(!5)には一つの波形が観測さ几、異なる場合は
二重の波形が観測される。すなわち、二重の波形を観測
した場合は、何れか一方の小1゜第2の被試験コイル(
11、(2+にレヤーショートなどの異常があることが
判断される。
従来の装置は以上のように構成され、二つの第1.第2
の被試鹸コイv(1) 、 (2)全比較試験しなけ几
ばならず、同一の被試験コイルが2個以上あることが必
要である。また被試験コイルが金属性容器に入っている
場合には、検出感1丈が不足し、レヤーショートなどの
異常が発生していても、検出できない欠点があった。
この発明は上記のような従来のものの欠点を除去するた
めになされたもので、パルス電圧力インピーダンスの変
化点で反射すること分利用して、この反射波を検出する
ことにより被試験コイルが1個の場合でも、また金属性
容器に入つている場合でも、被試験コイルのレヤーショ
ートなどの異′虜を検出できるようにしたコイル検査装
置を提供することを目的としている。
以下この発明の一実施例を図について説明する。第2図
はこの発明に係るコイル検査装置の一実施例を示す電気
結線図である。図中第1図と同一部分には同一符号を付
している。第2図において、ブラウン管オシロもしくハ
シンクロスコープ(5A)はパルス電源(31から被試
験コイル(1)に印加さnたパルス電圧の反射波全検出
するものである。インピーダンス調整回路(6)は彼拭
瞼コイル(1)と直列に接続され、かつこの直列回路が
ブラウン管オシロもしくけジンクロス:l−7”(5A
)’[並列に接続されて、ブラウン管オシロもL<Hシ
ンクロスコープ(5A)r検出された波形を調整するも
のである。
次にこの動作を第3図((転)、(b)を用いて説明す
る。パルヌ電fJj+1)からのバ々ス′電圧を被試験
コイIしく1) K印加し、このパルス電圧をブラウン
管オシロもL<Hシンクロスコープ(5A)で検出して
観測する。この場合、不必要な反射波が発生せず、第3
図(al K示す波形となるようにインピーダンス調整
装置(61’!r 媚搭する。被試験コイzしく1)に
レヤーショートがある場合には、そのVヤーショート部
分で反射波が発生し、第3図(blの点pr示すように
別のピークを持った波形となり、レヤーショートなどの
異常″lr検出することができる。
以上のようにこの発明によ几ば、パルス電圧の反射波を
検出して被試験コイルの異常?検出するようにしている
ため、1個の被試験コイルの場合であっても、また被試
験コイルが金属性容器に入っている場合であっても、容
易にレヤーショート等の異常?検出できる効果を有する
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のコイル検査装置を示す電気結線図、第2
図はこの発F3AK係るコイル検査装置の一実施例を示
す電気結線図、第3図(a) 、 (blはこの発明の
動作説明図である。 図において、(l)は被試験コイル、(3)はパルス(
5) 電M、(5A)はブラウン管オシロモジくニシンクロス
コープ、(6)はインピーダンス調整装置である、なお
各図中同一部分VCは同一符号?付している。 代理人 弁理士 葛  野  信  −(6)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被試験コイ〜にパルス電圧を印加するパルス電源、
    前記被試験コイルからの前記パルス電圧の反射波を検出
    するブラウン管オシロもしくけシンクロスコープ、およ
    び前記ブラウン管オシロもしくけシンクロスコープで検
    出された波形を調整するインピーダンス調整装置を備え
    、前記ブラウン管オシロもしくはシンクロスコープで検
    出された前記反射波の波形から、前記被試験コイルの異
    常を検出するようにしたことを特徴とするコイル検査装
    置。 2、 インピーダンス調整装置は、被試験コイルに直列
    接続されている特許請求の範囲第1項記載のコイル検査
    装置。 3、 ブラウン管オシロ4L<[シンクロスコープは、
    被試験コイ〜とインピーダンス調整装置との直列回路に
    並列接続されている特許請求の範囲第2項記載のコイル
    検査装置。
JP57199347A 1982-11-11 1982-11-11 コイル検査装置 Pending JPS5987376A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57199347A JPS5987376A (ja) 1982-11-11 1982-11-11 コイル検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57199347A JPS5987376A (ja) 1982-11-11 1982-11-11 コイル検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5987376A true JPS5987376A (ja) 1984-05-19

Family

ID=16406251

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57199347A Pending JPS5987376A (ja) 1982-11-11 1982-11-11 コイル検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5987376A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4757869A (en) * 1986-03-19 1988-07-19 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Motor-driven power steering system for a vehicle

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4757869A (en) * 1986-03-19 1988-07-19 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Motor-driven power steering system for a vehicle

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2371636A (en) Means for determining the surface electrical resistance of conducting sheets
JPS5987376A (ja) コイル検査装置
JP4248627B2 (ja) 地絡検査装置
US4074195A (en) Semiconductor tester
US20030030446A1 (en) Method for providing compensation current and test device using the same
JPS5817377A (ja) フラットケ−ブルの導通検査装置
JPH11326441A (ja) 半導体試験装置
JPH04249778A (ja) 電気ケーブル監視装置
JP3241777B2 (ja) インサーキットテスタ用オープンテスト装置
JP3818299B2 (ja) 電子回路検査装置
JPH0637347Y2 (ja) Ic試験用スキャナ
JPH11231022A (ja) 半導体装置の検査方法および検査装置
JP3105897B2 (ja) 配電線路の相判別装置
US3484684A (en) Apparatus for determining circuit transfer characteristics employing three phase displaced signals and three phase sensitive rectifiers applied to crt deflectors
JPH07159475A (ja) 電気回路の反射パルス測定装置
JP2922020B2 (ja) 半導体デバイスの試験方法および半導体デバイスの試験装置
JPH08170975A (ja) 電機機器の部分放電検出回路
JP3436138B2 (ja) 半導体試験装置用バイアス電源回路
JPH0567654A (ja) 半導体試験装置及び半導体集積回路装置の試験方法
US20060076965A1 (en) Contact-free test system for semiconductor device
JPH06160456A (ja) 非接触式回路ルート検査装置
JPH05347335A (ja) プローブカード
US20030132774A1 (en) Analogue signal testing system for integrated circuit
JP2996989B2 (ja) Icテスターのピン電流測定回路及びその基板
SU800904A1 (ru) Устройство дл контрол правильностиМОНТАжА