JPS59778A - 指紋照合装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、指紋等の縞状パターンから構成された紋様
の同一性を、その紋様特徴によって照合する装置に関す
るものである。

従来、指紋等の縞状パターンの照合のだめの特徴として
、第１図に示したように紋様を構成する隆線０１の端点
０２及び分岐点０３に於ける位置（４，Ｙρ方向Ｄｆ、
リレーション（Ｍｒ、、Ｒ（ｒ；　ｒ＝　１〜４）及び
集密量Ｃｆを用いることが提案された。これら特徴の抽
出装置は特願昭５４−３９６４８号明細書（特開昭５６
−１３８１７４号公報）に、まだ照合装置については特
願昭５４−９８９６６号明細書（特開昭５６−２４６７
５号公報）に示されている。ここでリレーションとは各
特徴点Ｍ、に対し、これを原点とする局所座標系（ξ、
η）の各象限に於ける最近傍点Ｍｆｒに対し原点Ｍｆと
の隆線数を”ｆｒと定義し、さらに集密量Ｃ４は上記原
点を中心とする一定円領域内に存在する近傍点の集笛性
を定量化したものである。しかしながら、前記特願昭５
４−９８９６６号明細書に示された照合装置では、照合
すべき２つの指紋に於いて、個々の特徴点の対応関係を
厳密に検討していないため、横系ファイルが大量／にな
ると識別能力が十分でない点に大きな問題があった。

本発明の目的は、照合すべき２つの指紋に於いて、その
対応する特蛾点［対」を厳密に評価することにより、よ
り筒性能な指紋照合を可能とする装置を提供することに
ある。

次に図面を参照して本発明について詳細に説、明する。

装置の説明の前に照合すべき指紋Ｅ対」のデータ形式に
ついて定義を行う。探索すべき指紋の特徴は、領域パタ
ーンＰＮ及び特徴点リスＩ−（Ｎｓ；ｓ＝１〜Ｓ）から
な９、探索すべきファイル指紋の特徴は領域パターンＰ
Ｍ及び特徴点リス）（Ｍにｆ＝１〜Ｆ）からなる。両特
徴の形式は相似であってファイル指紋につい−Ｃのみ第
２図（ａ）　、　（ｂ）に示した。

第２図中で特徴点リス）　（ｂ）の内容については第１
図との対応で既に説明した。一方同図（ａ）に示す領域
パターンについては第１図０４で示される紋様押捺領域
を示す２値パターンであって、その抽出方法は例えば特
願昭５１−１５２３７７号明細書（特開昭５３−７５８
２４号公報）に示された装置で実現できる。ここで、特
徴点は領域パターン中“１゛で示される鮮明領域内のみ
で抽出され、６０″で示される不明領域では抽出されな
いことに注意すべきである。

第３図は、本発明になる指紋照合装置の一実施例の構成
を示すブロック図である。制御部１ｏに対し、探索指紋
の特徴を記憶する領域パターンＩＩＮと特徴点リス）１
２Ｎ、ファイル指紋の特徴を記憶する領域パターンＩＩ
Ｍと特徴点リス）　１２Ｍ、対検査回路１５対向検査回
路１６、中間結果情報を記憶する偏差平面１７、対候補
リスト１８、探索指紋及びファイル指紋の対特徴点を保
持する対リス）１９Ｎ、１９Ｍが各入力出力データ信号
線群で結合されている。

また照合システム全体からのインターフェイス信号とし
て探索指紋及びファイル指紋の特徴データを入力する入
力信号１００及び照合結果を出力する出力信号１０１が
備えられている１、また特徴点リスト１２Ｎ、１２Ｍに
、ついては、第２図（ｂ）で示しだようにＸ、Ｙ、Ｄ、
Ｃ，Ｍ、、Ｒ，（ｒ＝　１〜４　）の情報を保持するが
、この内特徴点を表現する座標系に依存するデータＸ、
Ｙ、Ｄに対して、座標変換回路１３Ｎ、１３Ｍが設けら
れている。

第４図は、第３図になる照合装置の動作概要を説明する
フローチャートである。まず照合すべき探索指紋及びフ
ァイル指紋の各特徴である領域パターンと特徴点リスト
を本照合装置内に入力すると、各特徴点リスト内に登録
されている全特徴点を総当り的にそのリレーションで検
査し、対応する可能性のある特徴点対を候補対リストに
記憶する。次に、この候補対に従って最も対応特徴点が
一致する座標整合量を求め、ファイル指紋の特徴点リス
トをこの整合量に従って座標整合する。次いで、座標整
合後の特徴点リストを、その配置で検査し候補対を精選
する。さらに、精選された候補対を基に、リレーション
による対応関係を検査し、各候補対に与えられている候
補対仏を修正する。このようにして得られた候補対リス
トから最終的な対応特徴点を決定する対リストを生成し
た後、再度リレーシコンによる対値の修正、及び領域パ
ターン、対向特徴点の検査集密性の検査等を行って対値
の最終的な値を決定する。対値を集計し、照合特徴点数
で正規化した照合値が本照合装置の最終出力として算出
出力される。尚、座標整合時に適当な整合量が発見され
ない時は、以下の照合過程を省略して不一致照合値をも
って照合値として出力することにより照合速度の向上を
行う。

以降では、上記動作概要の順に、各部の構成及び動作に
ついて詳細に説明する。

第３図を参照して、照合すべき探索指紋の領域パターン
ＰＮ及び特徴点リス）　（Ｎｉｌ　；ｓ＝　１〜Ｓ）が
入力信号１００を介して入力されると制御部は、領域パ
ターンＩＩＮにアドレスｌｌ０Ｎ及び書込み信号１１１
Ｎを介して領域パターンＰＮを書き込み保持する。また
特徴点リストも特徴点リス）１２Ｎにアドレス１２ＯＮ
及び書込み信号１２１Ｎを介して書込み保持する。

次にファイル指紋の領域パターンＰＭ及び特徴点リスト
（Ｍ、；ｆ＝１〜Ｆ）も同様に、領域パターンＩＩＭ、
特徴点リス）１２Ｍにアドレスｌｌ０Ｍ、１２０Ｍ及び
書込み信号１１１Ｍ　、　１２１Ｍを介して書込み保持
する。領域パターン１１Ｍ、　Ｉ　ＩＮは第２図（ｉ）
で示した２次元格子状の２値データを保持する通常のメ
モリでそのアドレスｌｌ０Ｍ、ｌｌ０Ｎは格子−要素を
選択アドレスするものである。また特徴点リス）１２Ｍ
、１２Ｎは第２図（ｂ）に示す特徴点データを保持する
もので、そのアドレス１２０Ｍ、　１２ＯＮが特徴点Ｍ
、、Ｎ、を単位として指定する通常のメモリである。こ
れらのメモリについてはすでに公知のものであり特に説
明を要しないであろう。このようにして照合されるべき
探索指紋とファイル指紋が保持されると実際の照合動作
が開始されるが、その最初の過程は候補対リストの生成
である。

即ち探索指紋の各特徴点Ｎ、（ｓ＝１〜Ｓ）に対し、フ
ァイル指紋の各特徴点Ｍ、（ｆ＝１〜Ｆ）を総当り的に
制御部１０がアドレス１２ＯＮ　、　１２０Ｍを介して
読出す。

特徴点データの自位置（ｘ、　ｙ）及び方向りは座標変
換回路１３Ｎ、１３Ｍを介して信号１３２Ｎ、１３２Ｍ
から読出され、集密量Ｃリレーション（Ｍｒ　ｅ　Ｒｒ
　；ｒ　＝　１〜４　）は信号１２２Ｎ、１２２Ｍから
読出されるが、この場合座標変換量は予じめ信号１３Ｏ
Ｎ、Ｍを介して（ξ＝０．η−００−〇）をセットして
おく。

第５図は座標変換回路１３Ｎ、〆の一実施例を示すブロ
ック図である。なお、１３Ｎ、１３Ｍは同一構造である
。第５図に於いて、座標変換回路は、選択入力付レジス
タ１３４ｘ、ｙ、ｄ、減算器１３５ｘ、ｙ、ｄ　　正余
弦定数ＲＯＭ１３３乗算器１３６ｃ、ｓ、１３７ｃ、ｓ
及び加算器１３８ｘ。

減算器１３８ｙから構成される。座標変換量（ξ、η、
θ）は制御部１０から信号１３０　（１３０Ｍ又は１３
ＯＮ）を介するか、又は特徴点データＸ、Ｙ、Ｄとして
信号１３１ｘ、ｙ。

ｄを介するか、いづれかが制御部の制御信号（複雑にな
るので図示しない）によって選択的にレジスタ１３４ｘ
、　Ｙｐｄにセットされる。また変換動作時では特徴点
データＸ、Ｙ、Ｄが特徴点リス）　１２Ｎ、Ｍから信号
１３１ｘ、ｙ、ｄを介して入力されると減算器１３５ｘ
、ｙ、ｄによって（Ｘ−ξ）、（Ｙ−η）、（Ｄ−〇）
がそれぞれ出力され、信号１３２ｄの（Ｄ−〇）によっ
てアドレスされた正余弦ＲＯＭ１３３は予め記憶しであ
る余弦値ｃｏｓ　（１）−〇）及び正弦値ｓｉｎ　（１
）−〇）を信号１３３０ｃ、ｓに出力する。そし、て乗
算器１３６ｃ、ｓ、１３７Ｃ−及び加減算器１３８ｘ、
ｙによって マ＝（ｘゝξ）ｃ、ｏｏ（Ｄ−θ）＋（Ｙ−η）ｓｉｎ
（Ｄ−θ）マー（Ｙ−η）ｃｏｏ（Ｄ−θ）−（Ｘ−ξ
）ｓｉｎ（１）−θ）が出力信号１３２ｙｒＹに演算出
力される。以上の出力１３２ｘ、ｙ、ｄが第３図１３２
Ｎ、Ｍに相当している。これで座標変換回路の説明を終
えた。

今、座標変換量（ξ＝η＝θ＝０）であったからＸ＝Ｘ
、、　　Ｙ＝Ｙ　　、　　Ｔ）＝Ｄとなり無変換を意味
する。このようにして読出された特徴点Ｎｓ、Ｍ（２組
のＸ、Ｙ、Ｄ及びＣは直ちに対検査回路１５に信号１５
１を介して送られる。

第６図は対検査回路１５の一実施例を示すブロック図で
ある。対検査回路は幾通りかの閾値群を保持する閾値Ｒ
ＯＭ１５３絶対値器１５４ＸＩＹＩＺ、比較器１５５ｘ
、ｙ、ｄ、ｚ及びＡＮＤ１５６から構成されている。

その動作は制御部１０から信号１５１ｘ、ｙ、ｄ、ｚと
１５１．　ｘ　’。

ｙ′、ｄｌ　、！　（第１図１５１に相当）を介して入
力される２つの特徴点データＸ、Ｙ、ＤＢＣに対し各絶
対値を絶対値器１５４ｘ、ｙ、ｄ、ｚで算出し、その結
果を制御部１０から信号１５０によって選択された闇値
群を閾値ＲＯＭ１５３の出力１５３ｘ、ｙ、ｄ、ｚと比
較器１５５ｘ、ｙ、ｄ、ｚで比較する。これは、 ＩＸ［−Ｘ　、１≦Ｔｘ、ＩＹｆ−Ｙ８１≦Ｔ、　、　
ＩＤｆ−Ｄ５１ｆｄ、　ｌＣｆ−Ｃｓ１：５ＩＴｃを意
味する。この比較結果の出力はＡＮＤ１５６で統合され
、すべての上記条件を満足するか否かを検査出力１５２
として制御部１０に返禽す。以上で対検査回路の説明を
終えた。

探索指紋とファイル指紋の特徴点データＸ、Ｙ、Ｄ。

Ｃが上記の対検査回路で検査するときの閾値はＴｃのみ
が厳しく　、Ｔｘ、Ｔｙ、Ｔｄは座標整合前であること
から照合する指紋が互に上下反対になっていないという
程度の容量条件を設定すべきである。このようにして検
査が成功すると、制御部１０は各座標変換回路１３Ｎ、
Ｍの変換量レジスタ（第５図１３４ｘ、ｙ、ｄ）に現在
特徴点リストから読出されているＸ、Ｙ、Ｄを保持する
とともに、リレーション（ＮＳｒ　ｖ　”Ｓｒ　ｐ　ｒ
　＝１〜４　）　ＣＭ、ｔｒ−Ｒｆｒ；　ｒ＝１〜４）
を制御部内部に保持する。そして、各象限ｒ毎に特徴点
リス）１２Ｎ、１２Ｍに対しアドレス１２ＯＮ　、　１
２０Ｍを介してＮ５ｒ９Ｍｆｒを出力し、その特徴点デ
ータＸ、Ｙ、Ｄを信号１３２Ｎ、１３次を介して読出す
。この場合、読出された特徴点データはそれぞれ特徴点
Ｎｓ、Ｍｒの局所座標系に座標変換回路１３Ｎ、１３Ｍ
で変換されている。この変換された特徴点データＸ、Ｙ
、Ｄと予じめ制御部内で保持されていたりレーションＲ
とが対検査回路１５に送られ、その差異が検査される。

即ち 心罐茫、・、醍毘り障９・、醍こ〈触、６・ｈ・−八・
Ｉゞ１・′（たＭｌ、ｌ”ｆ）は特徴虚、％ｌｆの局所
座標変換を意味する）が検査されたこととなる。制御部
１０はこの動作を各象限ｒ＝１〜４について順次行い、
その成功回数を候補対仏Ｗとしその値が所定の数以上な
らば、特徴点Ｎｓに対する候補対特徴点Ｍｆと候補対仏
Ｗとを候補対リスト１８に出力する。

理解を助けるため第７図のようなＮｓ：Ｍｆに対しては
、ｒ＝３即ちＮＳ３：Ｍ（３のみが検査で否定され、こ
の場合候補値はＷ＝３となる。

候補対リスト１８は第８図に示すような内容保持を行う
通常のメモリでよく、第３図に示す如く制御部ｌＯとは
、アドレス１８０が指定するＮ５とｉによって決定され
る記憶単位に、信号１８１，１８２を介して１組のＭ５
ｉ　、Ｗｉを書込み読出しを行うことができる。

上記候補対特徴点Ｍｌ、Ｗの格納に際しては、制御部１
０は上記ＮＳ行に対して読出し書込みを操作して、ＷＳ
１≧Ｗ、≧・・・≧”ｓｉ　−”Ｗｓｉ＋＋≧・・・・
となるように行内容をＷ５．の大きさ順にソートして格
納する。

以上のようにしてＮＳＸＭＦ回の操作によって候補対リ
ストが順次作成されて、これが完成すると、引続き偏差
平面１７を用いた座標系整合過程に入る。

偏差平面は、第１０図で示されるようなアドレス１７０
で量子化した２次元アドレスΔＸ、△Ｙで書込み読出し
の行われる通常のメモリであシ、第９図に示すようにそ
の一部を量子化１次元アドレス△Ｄで使用することもで
きる。

制御部１０は候補対メモリ１８に対しアドレス１８０を
介してＮ、（８＝１−Ｎ、　）及び１（ｉ＝１．２・・
・）を順次発生して、その内容Ｍｓｉ　　Ｗｇｉを読出
すと、ＮＳを特徴点リス）１２Ｎに、Ｍｓｉを特徴点リ
ス）１２Ｍにアドレスｊ２ＯＮ、１２０Ｍを介して供給
し、座標変換回路１３Ｎ、１３Ｍを無変換として、特徴
点の方向■）Ｓ　＋　ＤＳ！を読出し、△Ｄ＝Ｄ、１−
ＤＳに相当する偏差平面の要素にＷｓｒｔ加える。

このような動作を繰返オす事により候補対リストに格納
されている全てのＮＳ：Ｍ５　ｉの候補対に対して偏差
平面が第９図のようになる。この図で黒点はＷ、ｐ大き
さを模式的に示しており、実際には％ｉが却の量子化単
位に累卵されているものである。

もし探索指紋とファイル指紋が同一指紋なら、候補対リ
ストに登録される候補対Ｎｓ：Ｍｓｉはりレーション検
査によυ真の対であることが確率的に高くそのような候
補対の特徴点方向Ｄｓ＋Ｄｓｉは一定の座標偏位、ｒ＆
第９図の如く集中することが予想される。一方候補対リ
スト中には偽の対も存在する可能性は勿論あるがこれら
の偏位浦は統計学的にΔＤ偏差平面上は散在し、集中す
ることはない。制御部１０は偏差平面１７の各要素を読
出し比較することにより、最大の集中部位を偏位ΔＤ米
として、直ちにξ＝Ｏ２η−〇、θ＝ΔＩ）来を座標変
換回路１３Ｍにのみ信号１３０Ｍを介してセットする。

とれにより座標回転についてのみは探索指紋とファイル
指紋は一致したことになる。

制御部１０は偏位ΔＤと同様の処理によりて第１０図に
示すような偏位ΔＸ、ΔＹの集中箇所を偏差平面１７上
に生成し、その集中箇所ΔＸ米、Δｙ％走査決定するこ
とにより、座標整合量ξ−ΔＸ”、η＝ΔＹ来、θ＝Δ
１）来を最終的に座標変換回路１３Ｍにセットする。以
上のようにして座標整合が完成するが、もし偏位△が及
びΔχ来、ΔＹ米を決定する際、その偏差平面の集中部
分の累卵が予じめ設定された閾値より小さいときは、探
索指紋とファイル指紋は同一指紋でないと決定し、負定
数の照合値を出力信号１０１に出力し照合し打切る。ま
た十分な累卵か得られた時は、上記座標整合量（ξ、η
、θ）で、特徴点リスト１２ＭのＸ、Ｙ、Ｄを全て座標
変換することにより特微点りストを座標整合してしまう
。この動作は、制御部１０によってアドレス１２０Ｍ合
Ｍｆ（ｆ＝１〜４）全テ信号１３２Ｍ、１２２Ｍを介し
て一度読出した後、信号１２１Ｍを介して再度書込みす
るだけでよい。

以上で座標整合過程の説明を終えた。

次に、制御部１０は、座標変換回路１３Ｍを無変換状紡
にセットし直した後、候補対リスト１８の全てのＮｓ：
Ｍｓｌを再度読出し、その特徴点データＸ、Ｙ、Ｄを候
補対リスト生成時より厳しい閾値Ｔｘ、Ｔ、　、Ｔｄで
対検査回路１５を用いて検査する。なぜなら、探索指紋
とファイル指紋とは座標整合を完了しているだめ、本来
すでに特徴点は指紋押捺の歪みを除いてその配位は一致
しているはずだからである。この対検査で否定された候
補対Ｎｓ、Ｍｓｉはその候補対仏Ｗｓｉとともに候補対
リストから削除される。これが１Ｆ′に補対の精選過程
である。

さらに精選された候補対リストについてその全ての候補
対Ｎ８：Ｍ７に対して、次のような候補対仏の修飾を行
う。即ち、第１１図を参照して１つの候補対Ｎ、：Ｍｆ
に対して、各ｈＮ、　、　Ｍ（をアト＋ｚｘ１２ＯＮ。

１２０Ｍに供給し、リレーション（Ｎｓｒ　、　Ｍｆｒ
：ｒ＝１〜４）を読出し、候補対リスト１８のＮｓｒ’
ｌＴにＭｒｒｌｊ：登録されているか否かを検査する。

もしＭｆ′−ＭｆＩとして登録されていればその候補対
仏Ｗｂを、基になったＮ５．Ｍｌの候補対仏Ｗａに加え
る。候補対仏の修飾が完了すると、新しい候補対仏の大
きさに従って候補対リストはＮ３行毎にソートされる。

以上で最終的な候補対リストが完成する。この候補対リ
ストを元にして対リス）　１９Ｎ、　１９Ｍが生成され
る。

２つの対リス）　１９Ｎ、　１９Ｍは相似の構造であっ
て、第１２図に示されるようにＮ５（ｓ−１〜ｓ）及び
Ｍｆ（ｆ＝　ｉ〜Ｆ）でアドレス１９ＯＮ　、　１９０
Ｍが指定され、特徴点番号と対仏Ｍｆ、ｖｓ及びＮＳ、
Ｍｆを保持できる２組のメモリである。

対リス）　１９Ｎ、１９Ｍの生成は、当初対仏として負
の定数で初期化された後、候補対リストのＮ、（ｓ−１
〜Ｓ）の順に複数回走査しながら、その最圧端ｉ＝１即
ち最大の候補対仏を有する候補対Ｎｓ：Ｍ５．をその候
補対仏ＷＳ泊身及び第２の候補対仏Ｗ３２．１！：の差
によって、信頼性の高いものから対リス）　１９Ｎ、１
９Ｍにその候補対仏を対仏として移す。対リストに登録
した候補対は全候補対リスト中から抹消される。

全ての候補対リストの内容が対リストに移された時点で
の対Ｎ、：Ｍｆの対仏はυ、＝υｒ＝（Ｎｓ”Ｍｔ　）
の候補対仏となっている。又、候補対仏によって移され
なかった対リスト中の特徴点の対仏は負の初期値がその
ま＼残る。

次に対仏の決定は、対仏の修飾と、非対仏の緩和の２つ
の処理によって成される。

対リス）　１９Ｎ、１９Ｍを順次調べその対仏υが正で
あるときは対仏の修飾を行う。即ち第１３図に示すよう
に、例えば対リス）１９Ｎ中のＮ５の対仏υ５が正であ
るときは、その対特徴点Ｍ（を基にして候補対仏の修飾
と同様に特徴点リス）１２Ｎ、１２Ｍをアクセスしてそ
のリレーション（Ｎｓｒ　、　Ｍｓｒ　”　ｒ”　１〜
４）を読出し、対リストのＮ５ｒの対がＭ、ｒｔｌ’か
つ対仏υｓｒが正であるか否かを検査する。もし正なら
対仏υ５．が対仏υ５に加えられる。相似な処理が対リ
ス）１９Ｍ側でも対リス）１９Ｎ側と独立に行われる。

一方第１４図の如く対リストに正の対仏が格納されてい
ないとき、例えば対リス）１９Ｍに於けるあるＭ（’が
負の対仏υｆ′をもっているときは、このＭｆを信号１
２０Ｍに供給し、Ｍｆ′の特徴点データを信号１３２Ｍ
、　１２２Ｍを介して読出し、その（ＸｒＺ　Ｙｔ’　
）を領域パターンＰＮの２次元アドレスとして信号１１
ＯＮに供給する。その結果出力１１２Ｎから読出された
領域値が“０゛であれば、上記特徴点Ｍｆ′は探索指紋
側の不明領域内であったこととなり対仏υ「′はｄｏｎ
”ｔ　ｃａｒｅを童味する値“ＯＩ′に書換えられる。

一方領域値が“１゛なら対仏υｆ′はそのま＼となる。

逆に対リス）　１９Ｎで上記の処理を行うときは座標変
換回路１３Ｎに逆変換量（ξ−−Δχ才。

η−−△Ｙ来、θ−−ΔＤ＊）をセットし、領域パター
ン１１Ｍを調べる。

対仏υｆ′又はυ５′が負値のま＼保存された特徴点Ｍ
ｆ′又はＮ５′については、次のような検査を行う。例
えばＭｆ’については、そのリレーション（Ｍ’（、：
　；　ｒ　＝　１〜４　）の内Ｒｆ＋’　＝　０となる
ものでその配置が近く、方向が正反対を向いているもの
がないかを対向検査回路１６を用いて探す。もしあれば
その特徴点Ｍｆｒを対リス）　１９Ｍで検査しその対仏
υｆｆ′が負の値であれば、この対仏υｒｒと上記Ｍ（
’ＣＤ対値対仏′をともにｄｏｎｔ　ｃａｙｅとし対仏
“０“に変更する。これは、第１５図に示す如く、対向
する近接特徴点を検査するもので、このような２組の特
徴点は指紋押捺の具合いや機械的な自動特徴点抽出時に
抽出されたりされなかったりする不安定な特徴点である
。

第１６図は対向検査回路１６の一実施例を示すブロック
図である。即ち、差絶対値器１６３ｘ、ｙ、ｄ、補数値
１６３ｃ比較器１６４ｘ山ｄ、方向Ｌ［１Ｍ　１６５差
絶対値器１６６ａ、ｂ、比較器１６７ａ、ｂ　、　ＡＮ
Ｄゲート１６８及び閾値ＲＯＭ１６９から構成される。

１対向］検査されるべき２組の特徴点データ（ｘ。

Ｙ、Ｄ）と（Ｘ’、　Ｙ’、　Ｄうがそれぞれ入力信号
１６１ｘ、ｙｔｄ及び１６１ｘ’、ｙ’、ｄＫ供給され
ると、補数値１６３Ｃで方向Ｄ′のみが方向補数即ち、
πラジアンだけ反転された後差絶対値器１６３ｘ、ｙ＋
ｄで差の絶対値が演算され、閾値ＲＯＭ１６９の出力で
ある閾値と比較器１６４ｘ、ｙ、ｄで比較される。即ち １ｘ−ｘ′ｌ≦Ｔｘ、　１ｙ−ｙ′ｌ≦ｒｙ　、　ＩＤ
−１）’＋ｆ　Ｉ≦Ｔｄが検査され、その出力がＡＮＤ
ゲート１６８に人力される。ここで方向成分ではπラジ
アンが差絶対値器１６３ｄの最上位ピッ）（ＭＳＢ）に
相対する様に接続され、方向演算に於ける周期性に対す
る正しい演算が保蔽される。一方、差絶対値器１６３ｘ
　ｒ　Ｙの差絶対値出力と差符号（減算時の符号）は方
向１１６５にアドレスとして入力され、その指定する方
向ΔＤを出力し差絶対値器１６６ａ、ｂに供給する。即
ちなる△Ｄが近接しているという粂件から比較的小さい
ｘ−ｘ’及びＹ−Ｙ’の全ての組合せを入力として、Ｒ
ＯＭ化されている。−力方向Ｄ−Ｄ’と上記△Ｄは差絶
対値器１６６ａ　、　ｂでその差の絶対値が演算され比
較器１６７ａ　、ｂで閾値ＲＯＭ１６９からの別の予し
め定められた　値と比較され、その結果がＡＮＤゲート
１６８に供給される。ＡＮＤゲート１６８は全での入力
が肯定されたとき［対向」検査肯定信号を出力信号１６
２を介して制御部１０に戻す。

上記の差絶対値器１６６ａ、ｂに於いでは方向りとΔＤ
及びＤ′とΔＤとはπラジアンの差異はＯラジアンに相
当するので減算の最上位ピッ）（ＭＳＢ）は丁となるよ
う配線されている。

以上で、対向検査回路の一例を説明した。

負の対仏を有する対リスト中の検査に於いて、上述の「
対向」特徴点でないときは、最終的にその特徴点の集密
量Ｃを検査し、　値比較でそれが非常に大きいときはや
けシ対仏“０゛又は負の“θ′″に近い値にセットし直
す。以上をまとめて、第１７図に模式的に示したように
非対仏の緩和は、探索指紋とファイル指紋との座標整合
後の領域パターンＰＮ　＊　ＰＭの非共通領域に存在す
る非対特徴点及び共通領域内で点線で示しだ「対向」特
徴点及び集密量の大きい特徴点についてその非対仏をｄ
ｏｎ’ｔｅｌｌｒｅ　又はそれに近い負の対仏に緩和し
ようとするものである。

以上で対リストの対仏が完成すると、制御部１０は対リ
ストを順次読出しながら照合値ｑとしてＸＦ を算出し出力信号１０１を介して出力する。ここに８及
びＦは探索指紋及びファイル指紋の共通領域内の特徴点
数を示す。これらの演算については、一般的な四則演算
回路で実施できるので詳細は省略する。

以上で本発明になる指紋照合装置の一実施例の詳細につ
いて説明を完了したが、制御部】０については、これま
での動作説明によりその構成は当業者には容易に成し得
るもので説明を要しない。また、説明を簡明にするため
、候補対リストの候補対リスト及び対リストの対仏の修
飾に於いてリレーシロンで対応する（Ｎｓｒ　ｌ　Ｎｆ
ｒ　ｔ　ｒ＝　１〜４　）の対応検査についてのみ説明
したが、一般的には指紋の特徴点の配位の歪みから必ず
しも同じｒでＮ　ｓ、＆　Ｍｆｒの対応を期待できるも
のではなく　、ＮＳｒに対し異なるｒ′であるＭｆｒ′
が対応する場合もあるので、（ＮｓｒｒＭｆｒｔｒ＝１
〜４）は象限ｒ単位で比較するのではなく（Ｎｓｒ；「
＝１〜４）と（Ｍｆｒ’　ｔ　ｒ　＝　ｉ〜４）の１６
回総当り的に対応を検査するのが精密である。この場合
の対応検査は各々Ｎ、、Ｍｌを基準とした局所座標系に
よる）鵡焔１・・・・１七ゝ訝１ｓｒ、　、　ｊば声質
１・・４により行われる。これらは座標変換回路１３Ｎ
、１３Ｍ、及び対検査回路１５を用いれば候補対リスト
生成時の処理と同様に可能である。

本発明の実施例については、その動作説明から明らかな
ように製品化されているマイクロコンピュータを用いて
、処理装置で対検査回路、対向検査回路及び制御部を、
又メモリによって領域パターン、特徴点リスト、偏差平
面、候補対リスト及び対リストを割当ることによって等
価な出力を得ることかり能であり、本発明はこのような
ハードウェア的構成上の変更に対して特許請求範囲を制
限されるものではない。

【図面の簡単な説明】

第１図は、指紋特徴を説明する図、 第２図は、指紋特徴を定義する領域パターン及び特徴点
リストを説明する図、 第３図は、本発明になる指紋照合装置の一実施例を示す
ブロック図、 第４図は、本発明の動作を概略示す概要フロー、第５図
は、座標変換回路の一例を示すブロック図、 第６図は、Ｌ対」検査回路の一例を示すブロック図、 第７図は、候補対の検査の内容を説明する図、第８図は
、候補対リストの構造を示す図、第９図は、座標整合に
於ける方向整合を示す偏差平面を示す図、 第１０図は、同上の偏位整合を示す偏差平面を示す図、 第１１図は、候補対リストの候補対リストを説明する図
、 第１２図は、対リストの構造を示す図、第１３図は、対
リストの対仏修飾を説明する図、第１４図は、対リスト
の非対対向特徴点を説明する図、 第１５図は、対向特徴点の指紋上での形体を説明する図
、 第１６図は、１対向」検査回路の一例を示すブロック図
、 第１７図は、非対仏緩和を施す特徴点の例を示す図であ
る。 図において、 制御部１０、探索指紋の領域パターンＩＩＮ、特徴点リ
スト１２Ｎ、ファイル指紋の領域パターン１１Ｍ、特徴
点リスト１２Ｍ、座標変換回路１３Ｎ、１３Ｍ、「対」
検査回路１５、「対向」検査回路１６、偏差平面１７、
候補対リスト１８、及び対リス）１９Ｎ、Ｍをそれぞれ
示す。 し−Ｘ −４９４− Ｎ５と 第　　　ノら　　図 −４９５

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 採取された２つの指紋が、同一指紋であるか否かを、前
   記２つの指紋の紋様特徴によって判別する指紋照合装置
   に於いて、前記２つの紋様特徴を保持する領域パターン
   及び特徴点リスト記憶手段と、紋様特徴の内の特徴点の
   一致性を検査する対検査回路と、該検査回路によって候
   補となった対特徴点群による前記指紋の２次元位置合せ
   のための座標変換量を検出するための偏差平面記憶手段
   と、前記候補となる対特徴点群を管理するだめの候補対
   リスト記憶手段と、候補対から真の対特徴点を選択管理
   する対リスト記憶手段と、非対特徴点の対向特徴点を検
   査する対向検査回路、及び前記各記憶手段及び検査回路
   を統合管理する制御部とから構成され、２つの指紋特徴
   の候補対を選択した後、座標整合を行い、次に候補対か
   ら真の対を決定した後、非対特徴点を検査することによ
   υ得られる対及び非対の各対毎に付された対値と照合有
   効特徴点数とから、２つの指紋の照合値を算出すること
   を特徴とした指紋照合装置。