JPS5975161A - スリツプリング検査装置 - Google Patents

スリツプリング検査装置

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JPS5975161A
JPS5975161A JP57185755A JP18575582A JPS5975161A JP S5975161 A JPS5975161 A JP S5975161A JP 57185755 A JP57185755 A JP 57185755A JP 18575582 A JP18575582 A JP 18575582A JP S5975161 A JPS5975161 A JP S5975161A
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measured
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noise
circuit
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JP57185755A
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Kazuo Sato
和男 佐藤
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/34Testing dynamo-electric machines

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、スリップリング構造物の回転中における接
触抵抗値の測定、及び回転ノイズの迎1定方法の改良に
関するものである。
スリップリングの用途例としては、固定構造物の上部に
設置されて、旋回する1/−ダシステム等の様に、絶え
ず回転している装置と固定部との間で、電気信号の授受
を行なう為の中継装置として用いられる。
まず、被測定物であるスリップリングの構造とその測定
内容について説明する。
第1図は、被測定物filであるスリップリングの外観
図である。
第2図は、被測定物(1)の断面をモデル化して現わし
たものであり、(2)は外筒、(3)は円筒であり。
これらは相対的にどちらか一方が回転する構造となって
いる。(4a)〜(4n)は内部リングであり、導電性
を持ち複数個配置されている。(5a)〜(5n)は内
部リング(4a)−、(+n)に取付けされているリー
ド端子であり、コネクタ(7)の信号をリード線(8)
を経由して個々のリング(4a)〜(4n)に伝えてい
る。
(6a)〜(6b)は絶縁リングであり、複数個の中継
回路を構成する為、内部リング(48)〜(4n)を個
々に絶縁している。(9a)〜(9n)は接触子であり
、バネ構造によって内部リング(4a)〜(4n)に接
触しており、内筒(3)に配置されている個々の内部リ
ング(4a)〜(4n)の信号を、外筒(2)に取付け
られた個々の端子(+Oa)〜(10n)に電気的に接
続する。
被測定物filは上記の構造である為、固定構造物から
回転構造物に、複数個の電気信号を伝えることができる
次に被測定物(1)に対する測定内容について説明する
。被測定物(1)は複数個の電気信号を中継するように
構成されているが9説明の便宜上、内部リング(4a)
と接触子(9a)について説明する。他の中継部も全く
同様に考えることができる。
才ず、接訓抵抗の測定であるが、外筒(2)が回転中に
おいて内部リンク(4a)と接触子(9a、) IHI
の接触部分に生ずる微少抵抗を測定するものであり、す
なわち、接触具合を接触抵抗値として測定するものであ
る。
次に1回転ノイズの測定であるが、内部リング(4a)
への異物の付着、キズ等が生じている場合。
及び外筒(2)と円筒(31の軸の偏心等によって発生
する回転時の信号のとぎれ時間、すなわち、瞬時の信号
遮断時間を回転ノイズとして測定するものである。
これらは、測定において最大許容値が定められている。
さて、従来のこの種の迎1定方法について、第3図によ
って説明する。まず、被測定物(1)の外筒(21は、
この釉の測定を行なう間9回転している為。
接触子(9a)、 (91))の出力は短絡用リード&
!(tla)により短絡し9円筒(3)のコネクタ(7
)に出力する様に配線を加える。次に、試験用モータに
より、被測定物+110外筒(21を規定の回転数で回
転をせる。
セ1/クトスイッチf13t f141により接触抵抗
を測定すべく内部リング(4a)、 (4b)を選択す
る。
接触抵抗値を重圧降下法により求める為、定電圧電源+
12より被測定物filのリング(411,)、 (4
b)に試験電圧を印刀口し、被御1定物f11の接触抵
抗によって生ずる電圧降下VQを、オシロスコープ等で
測定する。又1回転ノイズの測定はこの時、同時に行な
い、オシロスコープ上の電圧波形■oがとぎれないこと
を確認するものである。抵抗Rは、電流制限用に挿入さ
れている。
ところで、従来σ)この柚の測定においては、定電圧電
源O2が用いられており、測定すべく被測定物fl+の
接触抵抗r(Ω)とした時、接触抵抗rによって発生す
る観副市圧VQとrとの関係は、第(11式で表わせる
VO”’ R−4−r・V工        ・・・(
1)但し vo:観測霜′圧 v工:定霜圧電源の出力電圧(一定) R:電流制限抵抗値 r:被測定物の接触抵抗値 ゆえに、■0はr/R−4−rに比例するが、VQとr
は比例せず、よって、観測電圧vOより被測定物(1)
の接触抵抗値を算出するには。換算表が必要となり測定
値の換算及び記録に時間がかかるという欠点があった。
又、電流制限抵抗値Rを大きくすれば、第fi1式の分
母のrは無視され、 voとrは近似的に比例するが、
観11111電圧VOは小さくなり測定精度が悪くなる
という欠点がある。
又、セレクトスイッチ++31 ++41の接恢接触抵
抗が。
観測電圧voに含まれる為、この値を補正する必要があ
るという欠点があった。
次に0回転中に発生する回転ノイズの棋11定において
は、オシロスコープによって、 Q3111重圧波形v
Oを常時観察していなければならず、さらには。
回転ノイズが発生した時にそのノイズ幅を、目視により
瞬時に読みとり、許容値との判定を行う等。
作業者の疲労も太きかった。
又、被測定物(1)1台について9士数個以上の中継部
がある為、測定チャネルの切換、さらには。
くり返えし測定の連続であり9作業者の疲労と共に、?
1111定に時間がかかるという欠点も有していた。
この発明は、このような従来の測定方法による問題点を
解消し、自動的に接触抵抗及び回転ノイズを測定し得る
方法を提案するもので、以下1図を用いて詳述する。
第4図は、この発明の実施例を示すスリップリング検査
装置の接続ブロック図である。
図において、 C51は操作開始を4ド示するキーボー
ド、061は本装置全体の制御及び演算を行なう計讐磯
、 C71は本装置を運転する為の計測プログラムの書
込まれているメモリであり、測定値の記iMKも利用さ
れる。OFjは被測定物(1)の外筒(21を回転させ
る為のモータ、 11g1は回転基準検出器であり、外
筒(2)の回転中における基準位置0°を検出する。0
111は論理積回路であり1回転基準検出器(1匂の出
力信号と計算4M ++61から出力される測定開始信
号(イ)との同期をとる回路であり、その出力信号は、
11111定1ρ1路をリセットする為に用いられる。
f2Zは定電流電源であり1本装置の測定用電源である
。(至)はディジタル電圧計であり、観測電圧VQをA
/D変換する為に用いられる。(241は電磁オシロス
コープであり、電磁オシロ選択スイッチ(5)の選択に
よって。
すなわち、観測電圧VQの波形記録が必要な時。
作動する。(財)は電磁オシロスコープの停止0作動を
制御するドライブ信号である。抵抗Rは測定回路の電流
制限用、R1−Rn は擬似抵抗であり。
接触抵抗測定における判定値、すなわち、最大許容値と
同じ値に定めである。K11〜Kn1及びに12〜xn
2はリレーであり、観測電圧V、)測定ラインに、被測
定物(1)の個々の測定端子又は個々の擬似抵抗を接続
する。K13〜Kn3は同様にリレーであり、  Vo
mll定ラインに、擬似抵抗(R1)〜(Rn)か又は
被測定物+11の測定端子すなわちコネクタ(7a)。
(7b)を接続する。これらリレーの開閉は、リレー制
御ライン(8)を通じ、計算mtt61によってfft
制御される。
(2)は比較器Aであり、被測定物(1)の観枳11電
圧■0と基準電圧発生回路(イ)でつくられる基準電圧
、すなわち、接触抵抗測定時の判定値に相当する電圧と
を比較する。00)はタロツク発生回路であり、比較器
A(fiにおいて、被押1定物(1)の観測電圧vo 
が基準電圧発生回路□□□の出力電圧以上になっている
間のみ、クロックを発生する。C31)はクロックカウ
ンタ回路である。□□□は比較器Bであり、クロックカ
ウンタ回路(31)で計測した時間と基準時間設定回路
(ト)に設定されている回転ノイズ幅の判定値、すなわ
ち、許容ノイズ幅に相当する時間とをディジタル蓋にお
いて比較する。比較の結果、被測定物fi1のノイズ幅
が9判定値より大きい時のみ、クロックカウンタ011
の計測値を保持回路AC151に、又。
判定値以上のノイズ幅を検出したことを知らせる情報を
保持回路BC141にセットする。これらの情報は計算
機+161の制御のもとに処理される。(至)はディレ
ー回路であり9時間遅れをとってクロックカウンタCl
11をリセットする。(ロ)は論理和回路であり。
論理積回路(イ)又は、ディレー回路(至)のいずれの
信号でも、クロックカウンタ(31)のリセットができ
る。
(至)は測定結果を印字する為のプリンター、(39は
これら外部回路と計算機06)を接続する為のインタフ
ェイス回路である。
本発明は2以上の装置より構成されており、接触抵抗及
び回転ノイズの測定用電源に、定電流電源□□□を用い
ることによって、被測定物(11の接触抵抗値を重圧降
下法によって求める。測定すべく被測定物(1)の接触
抵抗値をr(Ω)、定電流電源Q21より流れ出る回路
電流をI(A)とした時、rによって発生する観測電圧
voとの関係は第(21式で表わせる。
VQ=I・r            ・・・(21但
し vo;観測電圧 工:回路電流(一定) r:被測定物の接触抵抗値 したかつて9回路電流■は一定であり、観測′電圧■o
は被測定物(1)の接触抵抗値rに常に比例する。この
為、従来の定電圧電源(12を用いた第(11式に比べ
て、電流制限用抵抗Rの影響を受けない為。
(11) 測定精度がより向上し、又、  VQとrは比例する為
、観測電圧■0 から接触抵抗値rを算出するのが容易
になった。
次に、この発明の6111定手順について説1明する。
キーボードO茄より、測定開始の情報を計算機++6+
に与えると計算機04ilは、メモ1月171にあらか
じめ記憶されている処理プログラノ・に従って、制御を
開始する。まず、モータQIK起動指令を与え、被測定
物(11の外筒(2)を規定回転数で回す。次に計算機
(16(は、最初の測定を行なうべく、リレーに、1及
びに12を閉じ、に13を擬似抵抗:R1@11に世j
す制御信号を出力する。以上の制御が完了したなら、計
算機+161は観測電圧■oのA/D変換値をディジタ
ル′「け圧計(転))より、メモIJ O’nlに記憶
する。この値は、擬似抵抗R1すなわち接触抵抗測定に
おける判定値の電圧降下とリレー接点及び測定回路上の
微少抵抗値の電圧降下の総和を観測電圧■0として鶴用
定する。
矢に、計算機(16)により、IJIノーに13を被迎
1定物(1)仲に倒す信号を出力する。この制御によっ
て観(12) 測定用■0には、被測定物(1)の測定すべく接触抵抗
値の電圧降下とリレー接虚及び測定回路上の微少抵抗値
の電圧降下の総和が出力される。ゆえに。
Ki3をR19411と被測定物(11伸にそれぞれ倒
した時に観測さfLるに111 ”+21 x、3のリ
レー接点及び測定回路上の微少抵抗値の電圧降下分は、
同条件でそれぞれの観測電圧V、)に含まわて測定され
る為、結果として、リレー接点抵抗及び測定回路上の微
少抵抗の補正が不要である。これらの測定が終了すると
計算機061により、2つ観測電圧V(、から判定値に
対する波計1定物f11の接触抵抗値の合否判定及び被
測定物(1)のコネクタ(7a)と(7b叫の接触抵抗
値の真値を算出し、メモIJ 071に記憶しておく。
次に9回転ノイズの測定を行なう。計算機06)より論
理積回路艶に抑1定開始信号c21)を、被測定物+1
1の外筒(21か1回転するに見合う時間出力する。こ
の信号により、論理積回路固において9回転基準検出器
aSが回転の基準点を検出すると同時に、リセット信号
を出力し、クロック力つ二/タ印)、保持回路AC15
1,保持回路BC341をリセットし、そくさに測定に
移る。計算機(161からの測定開始信号(21)が止
まると9回転検出器朋が、以後の回転基準点を検出して
も、リセット信号は出力されず1回転ノイズの測定を続
ける。回転ノイズの測定は、最初に比較器A(支)によ
って行なわれる。基準電圧発生回路−で発生される接触
抵抗値の判定値に相当する基準電圧と被測定物f11に
よって発生する観測電圧VQ  とを比較し、その結果
、基準電圧より観測電圧vOが大きい時のみ、比較器A
cl!81の出力が論理的にHレベルになり9次段のク
ロック発生回路C30)は、このHレベルの間、クロッ
ク発生すなわち。
時間の発振を行なう。クロックの発揚は比較器A■比出
力HからLレベルになると停止する。ゆえに被測定物(
1)に発生した接触抵抗の判定値以上の値をノイズとし
て検出できる。ノイズの発生している間、クロックカウ
ンタCIl+は、計数を続け、その値は9比較器A■出
力がHからLレベルに変化した時点で、比較器BCIZ
に送られ、そくさに基準時間設定回路(2)に設定され
ている時間、すなわち。
ノイズ幅の最太許芥値である判定値と比較される。
比較の結果9判定値を超えるノイズか発生[7た時。
比較器BG3より出力される判定信号によって、保持回
路Bt341にノイズの発生を知らせるデータをセット
すると同時に、保持回路A c151にクロックカウン
タ01)の値を読み込む。
又、比較器Aのの出力がHからLレベルになる時、ディ
レー回路(ト)が働き、保持回路A c151が値を読
み込む時間を待ち合せて、論理和回路(371を介して
クロックカウンタ011はリセットされる。
計算機(16)は、これら回転ノイズの測定の行なわれ
る間1時間待ちを行ない、その後保持回路B C(41
の出力信号を読み取り1回転ノイズの合否1定の処理を
する。判定の結果1合格であるなら、計算機f+61は
リレーに111 K12を開き、被測定物[+1の次の
測定箇所のす1/−を閉じ、同様に、測定を行なう。も
し、不良が発生している場合は、保持回路BCl31に
保持されているノイズ幅に相当する時間をメモIJ a
71に読み込み、不良処理をする。この時。
計算機00は、電磁オシロ選択スイッチ(251の信号
を(15) 読み取り、スイッチが選択されていれは、市′(!Bオ
シロスコープ124)により観測重圧VQの波形を記録
する制御を行なう。すなわち、上記に詩、明したと同様
に、すl/−に++、 K12をIll、、  K13
をR1イl川に倒し、電(IBオシロドライブ信号(イ
)を介して、電磁オシロスコープ(24)を運転し、接
触抵抗σ)fi定価である観6川市゛圧VQの波形を記
録し、続いてに+3ヲ被all 宝物j++ li1ニ
倒し、被測定物(11のW 1llll ’rt、r圧
■。
を記録する。この時1回転基準検出器f11の信号。
すなわち1回転基準点信号も合せて9記録する。
以上によって、ノイズ波形の記録もできる。
この様な制御を計算機(16)によって繰り返し行ない
波計1定物(11の全測定が終了したなら、測定結果す
なわち測定チャンネル、接触抵抗値及びその合否判定1
回転ノイズの合否判定、又、不1隻時のみノイズ幅の値
をそれぞれ、プリンター(2))に印字する。
以上*説明した様に0本発明は、定市流布諒e12+が
用いられている為、測定精度がより同上し、又。
観l1l1軍圧vOと被測定物fllのWill定すべ
く接触抵抗(16) 値が比例関係にある為、接触抵抗の算出が容易である。
又、接触抵抗の判定値である擬似抵抗(R1)〜(Rn
)が測定回路上に組み込1れている為、接触抵抗値の合
否判定レベルを計X機叫、さらには。
電4Bオシロスコープ(財)に容易に入力できる。従っ
て、計n a (161による測定値の判定が容易であ
り。
又、′重砲オシロスコープにおいては、 ian定値の
合否判定が一目瞭然にできる長所がある。
さらには、リレー(K13)〜(Kns)を擬似抵抗側
と被測定物側に世1して測定を行なう為、リレー接璋抵
抗及び測定回路上の微少抵抗の影響は、部側=圧VOに
共通して含捷れて測定される。ゆえに、測定回路上の抵
抗値補正が革装である長所がある。
又1回転ノイズ測定においては、ノイズの出現をスコー
プ等によって、常時観察している必要はなく1回路上に
設けられた比較器A■を始めとする回路によって、ノイ
ズの発生を検出すると同時に、そのノイズ発生が停止す
るまで、ノイズ幅の時間測定を行ない、さらには、ノイ
ズ幅の合否判定値と瞬時に比較する情態等によって、自
動的に回転ノイズのl1111定が付なえる長所がある
又、装置全体の制御及び測定値の処理、さらには、被測
定物fi+の測定箇所を選択するIJ l/−制御。
そして、沖1定結果の印字指令に至る贅で、計算機(1
6)の−貫した制御のもとに行なわれる。従って。
被測定物(]1の接触抵抗及び回転ノイズの泪11定中
は。
人手が全くいらず、さらに検査時間を短靴できる長所が
ある。
【図面の簡単な説明】 第1図は、波計1定物の外観を示す図、第2図は。 被測定物の断面構造を示す図、第3図は、従来の測定力
法を示す図、第4図は、この発明の実施例を示すブロッ
ク図である。 図中、(1)は被測定物、(2)は外筒、(3)は円筒
、(4a)〜(4n)は内部リング、  (5a)〜(
5n)はリード端子、  (6a)〜(6n)は絶縁リ
ング、(7)はコネクタ、(8)はリード線、  (9
a)〜(9n)は接触子、  (1oa)〜(+on)
は端子、  (+1a、) 〜(+tn)は短絡用リー
ドMl ozは定電圧電源、 1:11及び+141は
セレクトスイッチ、口5はギーyy−ト、 ++e+は
計算ae、 +17はメモリ、0槌はモータ。 091は回転基準検出器、@)は論理積回路、Ql)は
測定開始信号、(22(は定電流電源、Eはディジタル
電圧計、C心は電磁オシロスコープ、□□□は電磁オシ
ロ選択スイッチ、  (2Ii+は電磁オシロドライブ
信号、(イ)はリレー制御ライン、(支)1は比較器A
、いは基準重圧発生回路、001はクロック発生回路、
 C(IIはクロックカウンタ、(至)は比較器B、C
’131は基準時間設定回路。 04)は保持回路B、t35)は保持回路A、C161
はディレー回路、 1371は論理和回路、(支)はプ
リンター、 131はインクフェイス回路である。 なお図中、同一あるいは相当部分には同一符号を付して
示しである。 代理人 葛 野 信 − 第1図 第2図 (19) ゛第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 スリップリング構造品の回転時における接触抵抗イ11
    1と回転ノイズ測定を行なうスリップリング検査装置?
    i?において、被測定物を所定の回転数で回転略せる為
    のモータと、被測定物の回転基準位置を検出する為の回
    転基準検出器と、被測定物に試験η1流を流す為の定電
    流電源と、上記試験電流を被測定物の複数の試験箇所に
    加える為の回路切換を行なうす1/−と、被測定物の接
    触抵抗値の合否判定値に相当する抵抗値を持つ複数個の
    抵抗と、上記抵抗及び被測定物によって発生する電圧な
    A/D変換するディジタル電圧計と、被測定物が回転す
    ることによって発生するノイズを検出する比較器と、上
    記比較器の基準電圧に用いるべく接触抵抗値の判定値に
    相当する電圧を発生する基準電圧発生回路と、上記比較
    器の出力を利用してノイズの発生I−ている間のみ動作
    するクロック発生回路と。 上記クロック発生回路のクロックを計測するクロックカ
    ウンタと、上記カウンタで計δ111シたノイズ時間と
    回転ノイズの合否判定値とを比較する為の比較器と、上
    記ノイズの合否判定値を設定しておく基準時間設定回路
    と、上記判定値以上のノイズを検出したことを知らせる
    情報を保持する保持回路と、上記判定値以上のノイズを
    検出した時、上記クロックカウンタの計測値を保持する
    保持回路と、上記クロックカウンタ及び保持回路の値を
    リセットする為に必要な論理積回路及び、ディレー回路
    、そして、論理和回路と、被測定物の接触抵抗値及び回
    転ノイズ波形を記録する商値オシロスコープと、上記オ
    シロスコープの運転要求を計算機に知らせる上記オシロ
    スコープ選択スイッチと。 上記電圧計及び保持回路の測定情報及び一連の計測プロ
    グラムを記憶するメモリーと、上記メモリー内のプログ
    ラムに従って、上記の個々の回路及び装置の制御、そし
    て、測定値の取り込み、さらには、測定値の処理及び測
    定結果の印字指令を行なう計算機と、上記計算機に測定
    開始指令を与えるキーボードと、測定結果を印字するプ
    リンターとを備え、被測定物の回転時における接触抵抗
    値の測定と判定値を超える回転ノイズの検出とを自動的
    に行なえるようにしたことを特徴とするスリップリング
    検査装置。
JP57185755A 1982-10-22 1982-10-22 スリツプリング検査装置 Pending JPS5975161A (ja)

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