JPS5965437A - 樹脂封止型半導体装置の製造方法 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置の製造方法

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JPS5965437A
JPS5965437A JP17595782A JP17595782A JPS5965437A JP S5965437 A JPS5965437 A JP S5965437A JP 17595782 A JP17595782 A JP 17595782A JP 17595782 A JP17595782 A JP 17595782A JP S5965437 A JPS5965437 A JP S5965437A
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JP
Japan
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external
semiconductor device
resin
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JP17595782A
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Hidetaka Ikuma
井熊 英隆
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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    • H01L21/565Moulds
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    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は例えば外部放熱板に密着させ取り付けて使用さ
れるに好適な樹脂封止型電力用半導体装置の製法に関す
るものである。
パワートランジスタ、サイリスタ、パワーIC等の樹脂
封止型電力用半導体装置は、第1図で示す一様に、半導
体素子10発生する熱を外部へ効率よく放熱するために
、放熱板2が封止樹脂5の外ぺ露出しており、放熱板2
を外部放熱器と密着させ使用するのが一般的である。こ
の場合、効率的に熱を逃がすために、半導体素子1は銅
等熱伝導率のよい放熱板2に固定し、放熱板2の素子固
定面の反対面を外部放熱器と密着させる。従って、外部
放熱器も熱伝導率のよい安価なAt等の金属が使われる
のが普通である。又、電力用半導体装置の放熱板2は、
該装置の外部電極の一つになっているため、外部放熱器
に熱だけを逃がしたい場合は、装置の放熱板と外部放熱
器の間にマイカ等絶縁板をはさむのが一般的な使い方で
ある。しかし、前述の如く、熱を効率よく逃がすために
、この絶縁板との密着をよくすることが肝心であり、一
般的には熱伝導のよいシリコングリースを:塗布し。
半導体装置と絶縁板、絶縁板と外部放熱器を結合させる
この様に、取り付は工数をかけ、グリースを塗布して取
シ付けても、半導体装置を取り付けるビスや押さえ治具
が不均一な押さえ方をすると、電力用半導体装置が傾い
たまま取り付けられ、素子の放熱にアンバランスが生ず
る欠点が生じる。さらに、グリースの塗布を均一にしな
いと、グリースに泡などが入り熱伝導の均一性を損なう
欠点がある。この様に、熱伝導を阻害する欠点をもった
電力用半導体装置は、その能カ一杯の負荷をかけた場合
、熱伝導の不具合に起因して素子の破壊に至る欠点があ
った。この欠点をなくすためには。
放熱板の半導体素子固定面とは反対の面を均一で薄い熱
伝導性のよい絶縁樹脂で稜い、半導体装置と一体化させ
た構造の電力用半導体装置を作ればよい。
一般に、電力用半導体装置は自己の発熱した熱を放熱板
を通して外部へ放熱する構造となっており、従って、放
熱板は錐等の熱伝導率のよい金属が用いられている。又
、外部リード部3も、他の外付は回路に半田付をして用
いることが多く、そのため、金属を用いる。従って、一
般的にはり一ド3.放熱板2は同一金属板を用いるのが
半導体装置を安価に作る製法であシ構造である。この様
に、同一金属材料で作られたリードフレームは初期には
所望する寸法、形状を有していても、半導体素子1をマ
ウントする工程やボ/ディ/グ工程等、熱を加えたり機
械的振動を加えたりする工程を経るごとに、リードと放
熱板にわずかのソリやタワミが部分的に生じるのが常で
ある。このようなソリやタワミの入ったリードフレーム
を樹脂封止した場合、一般の成形金型は圧入樹脂が外部
にもれないようリード部を密着させるだけの構造になっ
ているため、ソリ、タワミの生じた放熱板は封止用下金
型の内壁に接触することがしばしば起る。この場合得ら
れた半導体装置は放熱板が一部露出したシ、不均一の樹
脂層で覆われたシした半導体装置となり前述の不具合発
生の原因となる。
本発明の目的は、熱伝導を阻害することなく、電気的絶
縁を保ちながら外部放熱器に容易に取付は可能とした樹
脂封止型の電力用半導体装置を、容易安価に製造するた
めの製造方法を提供するにある。
本発明方法は、複数の外部リードのうちの一つの外部リ
ードが放熱板と一体に形成され、かつ、前記複数の外部
リードは前記放熱板に対し一方向のみに引き出されてい
るリードフレームの前記放熱板に半導体素子を固着後、
封止金型の上型と下型の開に前記複数の外部リードをは
さみ、前記放熱板側を前記金型内に入れて封止用樹脂を
注入するに際し、前記封止金型の前記放熱板と・一体の
外部リードをはさむ密着部には前記放熱板を持ち上げる
方向にテーパー付けされており、このテーパーにより持
ち上げられた放熱板を位置ピ/によシ前記封止金型の内
部底面に対し所定の間隔に固定後、前記金型内Vcw脂
を注入する工程を含むものである。
本発明方法によシ製造された半導体装置は、放熱板の半
導体素子固定面とは反対の面が均一で薄い熱伝導性のよ
い絶縁樹脂で覆われているので。
熱伝導性を阻害する仁となく、電気的絶縁を保持して容
易に放熱器に取付けることができる。
つぎに本発明を実施例により説明する。
まず第2図(alの断面図に示すように、3本の外部リ
ード(手前の一本3aだけが図に見える)が放熱板2の
左側方向のみに引き出されており、がっ、中央の外部リ
ード3b(付は根部分だけ図示)が放熱板2と一体に形
成されているリードフレームの放熱板2に、半導体素子
1を固着する。それから外部リードと半導体素子1の間
を金属細線4の外部リードを、封止用金型6の上型6a
と下型6bの重ね合せの側壁の間にはさむようにして、
放熱板・2の方を金型6の中に入れる。金型6の外部リ
ードをはさんだ密着部では、中央の外部り−ド3bをは
さむ部分には、外部リード3bと一体の放熱板2を上方
へ持ち上げるようなテーパー8が付けられている。した
がって、半導体素子1を搭載した放熱板2はテーパー8
のため釦持ち上げられ、特に外部リード側では、下型6
bの1内部底面に対し狭い間隔を隔てて位置付けされ、
放熱板の右端側・コでは、上型6aから位置固定ヒ/9
が下りて来て放熱板2に接触し、放熱板2?i?下型6
bの内部底面に対し所定の狭い間隔を隔でて位置付けさ
れる。つぎに上型6aと下型5 b 57含む金型6の
内部に封止樹脂を注入し、同化後金型6を取り除いて、
第2図(cl K示す樹脂封止型半導体装置が製造され
る。
このような本発明方法によりff造された電力用半導体
装置を使用する場合、すでに電気的絶縁のための樹脂層
が、放熱板の下面にあるため、マイカ等の絶縁板を使用
せずにビスで圧着するたけて十分な放熱ができ、取付工
数を大巾に簡略できる。
さらに、従来のマイカ等を用いンリコ/・グリースを塗
布して取付ける場合に生じた不都合、すなわち、グリー
スに泡が入ったり、グリースが偏ったりして取付は半導
体装置が傾いた状態で取付けられ、熱源と放熱器との距
離が等距離にならず熱伝導のア/バランスが生じ、熱に
よる該半導体装置を破壊に至らしめるようなことが回避
される。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の樹脂封止型半導体装置の断面図。 第2図(al 、 (bl 、 (clは本発明の一実
施例にかかる製造工程順の断面図である。 1・・・・・・半導体素子、2・・・・・・放熱板、3
a・・・・・・外部リード、3b・・・・・・放熱板と
一体の外部リード。 4・・・・・・金属細線% 5・・・・・・封止樹脂、
6・・・・・・金型、6a・・・・・・上金型、6b・
・・・・・下金型、8・・・・・・テーノく一部、9・
・・・・・位置固定ピン。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数の外部リードのうちの一つの外部リードが放熱板と
    一体に形成され、かつ、前記複数の外部リードは前記放
    熱板に対し一方向のみに引出されているリードフレーム
    の前記放熱板に半導体素子を固着後、封止金型の上型と
    下型の間に前記複数の外部リードをはさみ、前記放熱板
    側を前記金型内に入れて封止用樹脂を注入するに際し、
    前記封止金型の前記放熱板と一体の外部リードをはさむ
    密着部には前記放熱板を持上げる方向にテーパー付けさ
    れておシ、このテーパーによシ持ち上げられた放熱板を
    位置ビンによシ前記封止金型の内部底面に対し所定の間
    隔に固定後、前記金型内に封止用樹脂を注入する工程を
    含むことを特徴とす石樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP17595782A 1982-10-06 1982-10-06 樹脂封止型半導体装置の製造方法 Pending JPS5965437A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4888307A (en) * 1986-08-27 1989-12-19 Sgs Microelettronica S.P.A. Method for manufacturing plastic encapsulated semiconductor devices
US5091341A (en) * 1989-05-22 1992-02-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Method of sealing semiconductor device with resin by pressing a lead frame to a heat sink using an upper mold pressure member
JPH09129783A (ja) * 1995-10-31 1997-05-16 Nec Corp 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5091341A (en) * 1989-05-22 1992-02-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Method of sealing semiconductor device with resin by pressing a lead frame to a heat sink using an upper mold pressure member
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