JPH0669384A - 絶縁物封止型半導体装置 - Google Patents

絶縁物封止型半導体装置

Info

Publication number
JPH0669384A
JPH0669384A JP4245777A JP24577792A JPH0669384A JP H0669384 A JPH0669384 A JP H0669384A JP 4245777 A JP4245777 A JP 4245777A JP 24577792 A JP24577792 A JP 24577792A JP H0669384 A JPH0669384 A JP H0669384A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
insulator
chip
heat sink
semiconductor chip
semiconductor device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4245777A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazumi Takahata
和美 高畠
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanken Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanken Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanken Electric Co Ltd filed Critical Sanken Electric Co Ltd
Priority to JP4245777A priority Critical patent/JPH0669384A/ja
Publication of JPH0669384A publication Critical patent/JPH0669384A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体チップの熱を良好に放出することがで
き且つ容易に製造することができる樹脂封止型半導体装
置を提供する。 【構成】 半導体チップ1の支持体2とヒートシンク6
との間にガラス繊維をボロンナイトライド粉末を含むシ
リコーンゴムで被覆したシート状絶縁体7を配置して樹
脂封止体8を設ける。絶縁体7は弾性収縮してチップ支
持体2及びヒートシンク6に密着している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は放熱体(ヒートシンク)
を備えた絶縁物封止型半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】半導体
チップが固着されたリードフレームとヒートシンクとを
組み合せたものを樹脂封止して半導体装置に形成するこ
とは公知である。この種の半導体装置ではリードフレー
ムをヒートシンクから絶縁しなければならない。例え
ば、この絶縁は特開昭61−248538号公報に記載
されているようにリードフレームとヒートシンクとを金
型内に離間配置させ、両者の間に樹脂を注入することで
達成できる。しかしながら、この方法ではヒートシンク
とリードフレームとの間に樹脂が良好に注入されるよう
に両者の間隔を0.5mm以上のように比較的大きく設
定しなければならず、この絶縁層によって放熱効果が良
好に得られないという欠点があった。また、特公平4−
1502号公報に記載されているようにヒートシンクの
上面全体に絶縁層を予め設け、更にこの絶縁層の上に銅
層を設けたものを用意し、銅層にリードフレームを半田
付けして半導体装置を構成する方法がある。この方法に
よれば絶縁層を比較的薄く形成することができる。しか
しながら、銅層にリードフレームを固着するための半田
層はあまり薄くできないし、また半田層中に気泡等が発
生することがあり、やはり十分な放熱効果を得ることが
できない。また、製造工程が複雑になり、且つ絶縁層の
信頼性に問題がある。
【0003】そこで、本発明の目的は比較的簡単に製作
することが可能であり且つ高い信頼性及び良好な放熱性
を有する絶縁物封止型半導体装置を提供することにあ
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明は、半導体チップと、一方の主面に前記半導体
チップが固着された導電性を有するチップ支持体と、前
記半導体チップを外部回路に接続するための外部リード
と、前記半導体チップと前記外部リードとを接続する内
部接続導体と、前記半導体チップの熱を放出するために
前記チップ支持体の他方の主面に対向配置された導電性
を有する放熱体と、前記チップ支持体と前記放熱体との
間に配置された絶縁体と、前記半導体チップと前記チッ
プ支持体と前記外部リードの一部と前記内部接続導体と
前記放熱体と前記絶縁体とを被覆する絶縁物封止体とを
備え、前記絶縁体が前記絶縁物封止体の圧縮率よりも大
きい圧縮率を有するシート状物体から成り、圧縮されて
前記チップ支持体に密着していることを特徴とする半導
体装置に係わるものである。なお、請求項2に示すよう
に、シート状物体にガラス繊維を含めることが望まし
い。
【0005】
【発明の作用及び効果】本発明においては、チップ支持
体と放熱体との間に圧縮率の大きいシート状絶縁体を配
置するので、チップ支持体に良好に密着し、半導体チッ
プの熱を良好に放出することができる。また、シート状
絶縁体の品質チェックを組立前に行うことが可能である
ので、製造歩留りを高めることができる。また、構造が
簡単であるので、容易に製造することができる。請求項
2に示すようにシート状物体にガラス繊維を含めると、
ガラス繊維の太さによって制限された比較的薄い絶縁間
隔を確実に得ることができる。即ち、チップ支持体と放
熱体との間に信頼性の高い絶縁体層を容易に得ることが
できる。
【0006】
【実施例】次に、図1〜図6を参照して本発明の一実施
例に係わる樹脂封止型の電力用半導体装置を説明する。
図1に示す電力用半導体装置は、トランジスタチップ及
びICチップから成る複数個の半導体チップ1と、リー
ドフレームに基づいて得られた金属板からなる複数のチ
ップ支持体2と、外部リード3と、内部接続導体4及び
5と、金属板からなる放熱体即ちヒートシンク6と、シ
ート状絶縁体7と、絶縁物封止体即ち樹脂封止体8とか
ら成る。
【0007】図1の半導体装置を製造するには、まず図
2に示すリードフレーム9を用意する。このリードフレ
ーム9は、複数のチップ支持体2と、支持体2の配列方
向に並置した多数の外部リード3と、板状接続導体5
と、細条10、11、12と、連結部13とを有し、厚
さ約0.5mmの銅板を打抜いて形成される。図2には
リードフレーム9の半導体装置1個分のみが示されてい
るが、実際には複数の半導体装置を得るために図2と同
一のものが複数個長手に連結されている。
【0008】リードフレーム9のチップ支持体2の一方
の主面(表面)には半導体チップ1を半田(図示せず)
で固着し、この半導体チップ1と外部リード3との間及
び半導体チップ1の相互間及び半導体チップ1と接続導
体5との間をワイヤから成る内部接続導体4によって接
続し、チップ・リードフレーム組立体を形成する。
【0009】次に、ヒートシンク(放熱板)6を用意す
る。このヒートシンク6は、厚さ約2mmのアルミニウ
ム板を打抜いたものであり、図3に示す平面パターンを
有する。このヒートシンク6には2つの貫通孔6aが設
けられ、また下面の周縁に段部6bが設けられ、周縁の
厚みが中央部よりも薄くなっている。
【0010】次に、絶縁体7を用意する。この絶縁体7
はシート状又は平板状に形成されており、且つ図4に示
すように網目状に配置されたガラス繊維7aにボロンナ
イトライド粉末を含有するシリコーンゴム7bを塗着し
たものから成る。絶縁体7は図5に示すように平面形状
がヒートシンク6のそれよりも若干大きく、ヒートシン
ク6の孔6aに対応する孔15を有する。シリコーンゴ
ムは弾性を有する絶縁性樹脂であるので、絶縁体7とし
ても弾力性を有し、モールド前には約100μmの厚さ
を有するが、モールドによって厚み方向に圧力が加わる
と5〜10%薄くなる。要するに、シート状絶縁体7の
圧縮率は樹脂封止体8のそれよりも大幅に大きい。この
絶縁体7はモールド前にヒートシンク6の上面に接着材
(図示せず)によって接着する。この時、絶縁体7はこ
の孔15とヒートシンク6の孔6aとが一致するように
位置決めし、且つ絶縁体7の周縁がヒートシンク6の周
縁よりも外側にわずかに突出するように配置する。
【0011】次に、図6に示すように絶縁体7付きのヒ
ートシンク6を絶縁体7を上側にしてトランスファモー
ルド用金型16の成形空所17の底面に密着させて配置
する。成形空所17は形成すべき樹脂封止体の外形に合
致した形状を有し、その一方の側面には樹脂注入用孔1
8を有する。なお、金型16は上型16aと下型16b
に分割されている。続いて、ヒートシンク6に接着され
た絶縁体7の上面に図2に示すリードフレーム9を重ね
て配置する。ヒートシンク6及び絶縁体7は1個分の半
導体装置の支持体2の全部を載置することができる面積
を有する。この時、リードフレーム9の外部リード3と
連結部13とを上下の型16a、16bで挟持し、且つ
リードフレーム9の下面を絶縁体7に密着させる。
【0012】次に、樹脂注入口18から成形空所17内
に流動化した封止用樹脂(例えばエポキシ樹脂)を押圧
注入する。成形空所17内に樹脂が完全に充填される
と、充填された樹脂によってリードフレーム9のチップ
支持体2が絶縁体7に対して押しつけられる。この結
果、絶縁体7が弾性変形で若干薄くなった状態でチップ
支持体2とヒートシンク6で挟持され、これ等に密着す
る。なお、ヒートシンク6の底面の周縁に図1に示すよ
うに段部6bがあり、樹脂封止体8はこの段部6bにも
充填されるので、ヒートシンク6が樹脂封止体8に強固
に一体化され、且つ絶縁体7がチップ支持体2とヒート
シンク6で強く挟持される。成形空所17内の樹脂が硬
化したら、組立体を金型16から取り出し、細条10、
11を切断除去すると共に細条12も連結部13を破断
して除去する。なお、樹脂封止体8は、半導体チップ
1、支持体2、外部リード3の一部、内部接続導体4、
5、ヒートシンク6の下面を除く部分、絶縁体7を被覆
するように形成する。
【0013】本実施例の半導体装置においては、樹脂封
止体8よりも圧縮率の大きいシート状絶縁体7をチップ
支持体2とヒートシンク6との間に配置したので、絶縁
体7がこの圧縮を伴なってチップ支持体2及びヒートシ
ンク6に良好に密着し、半導体チップ1の熱をヒートシ
ンク6に良好に伝導することができる。また、シート状
絶縁体7をチップ支持体2とヒートシンク6との間に介
在させる構成であるので、半導体装置を比較的簡単に製
造することができる。また、チップ支持体2とヒートシ
ンク6との間の絶縁体7は樹脂封止体8によって形成す
るのではなく、成形の前に予め形成しておくので、良品
のみを使用することが可能になり、製造歩留りを高める
ことができる。また、絶縁体7は熱伝導性の良いボロン
ナイトライドを含み、且つガラス繊維を含んで比較的薄
く形成されているので、半導体チップ1の熱をヒートシ
ンク6に良好に伝えることができる。また、ガラス繊維
を含めることによって信頼性が高く且つ薄い絶縁体7を
提供することができる。なお、ガラス繊維は、エポキシ
樹脂等の樹脂封止体8よりは熱伝導性が高いので、熱伝
導をさほど阻害しない。
【0014】
【変形例】本発明は上述の実施例に限定されるものでな
く、変形可能なものである。例えば、絶縁体7をヒート
シンク6に接着させずにヒートシンク6の上に単に配置
した状態で樹脂モールドすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例の半導体装置を示す断面図である。
【図2】図1の半導体装置を構成するための半導体チッ
プとリードフレームとの組立体を示す平面図である。
【図3】図1のヒートシンクの平面図である。
【図4】図1の絶縁体の拡大断面図である。
【図5】図3のヒートシンクの上に絶縁体を配置した状
態を示す平面図である。
【図6】図1の半導体装置を製造するために金型にヒー
トシンクと絶縁体とチップを有するリードフレームとを
装着した状態を示す断面図である。
【符号の説明】
1 半導体チップ 2 チップ支持体 6 ヒートシンク 7 絶縁体

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップと、一方の主面に前記半導
    体チップが固着された導電性を有するチップ支持体と、 前記半導体チップを外部回路に接続するための外部リー
    ドと、 前記半導体チップと前記外部リードとを接続する内部接
    続導体と、 前記半導体チップの熱を放出するために前記チップ支持
    体の他方の主面に対向配置された導電性を有する放熱体
    と、 前記チップ支持体と前記放熱体との間に配置された絶縁
    体と、 前記半導体チップと前記チップ支持体と前記外部リード
    の一部と前記内部接続導体と前記放熱体と前記絶縁体と
    を被覆する絶縁物封止体とを備え、前記絶縁体が前記絶
    縁物封止体の圧縮率よりも大きい圧縮率を有するシート
    状物体から成り、圧縮されて前記チップ支持体に密着し
    ていることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記シート状物体は、網目状に配置され
    たガラス繊維と、前記ガラス繊維を被覆する弾力性を有
    する絶縁性樹脂とから成ることを特徴とする請求項2記
    載の半導体装置。
JP4245777A 1992-08-21 1992-08-21 絶縁物封止型半導体装置 Pending JPH0669384A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4245777A JPH0669384A (ja) 1992-08-21 1992-08-21 絶縁物封止型半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4245777A JPH0669384A (ja) 1992-08-21 1992-08-21 絶縁物封止型半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0669384A true JPH0669384A (ja) 1994-03-11

Family

ID=17138668

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4245777A Pending JPH0669384A (ja) 1992-08-21 1992-08-21 絶縁物封止型半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0669384A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008502159A (ja) * 2004-06-04 2008-01-24 クリー インコーポレイテッド 反射レンズを備えたパワー発光ダイパッケージおよびその作製方法
JP2009111154A (ja) * 2007-10-30 2009-05-21 Mitsubishi Electric Corp 電力半導体モジュール
JP2012094883A (ja) * 2011-12-07 2012-05-17 Mitsubishi Electric Corp 放熱用部材の製造方法および放熱用部材を用いた半導体装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008502159A (ja) * 2004-06-04 2008-01-24 クリー インコーポレイテッド 反射レンズを備えたパワー発光ダイパッケージおよびその作製方法
JP2011176347A (ja) * 2004-06-04 2011-09-08 Cree Inc 反射レンズを備えたパワー発光ダイパッケージ
US8446004B2 (en) 2004-06-04 2013-05-21 Cree, Inc. Power light emitting die package with reflecting lens and the method of making the same
US8932886B2 (en) 2004-06-04 2015-01-13 Cree, Inc. Power light emitting die package with reflecting lens and the method of making the same
JP2009111154A (ja) * 2007-10-30 2009-05-21 Mitsubishi Electric Corp 電力半導体モジュール
JP2012094883A (ja) * 2011-12-07 2012-05-17 Mitsubishi Electric Corp 放熱用部材の製造方法および放熱用部材を用いた半導体装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6566164B1 (en) Exposed copper strap in a semiconductor package
US6330158B1 (en) Semiconductor package having heat sinks and method of fabrication
KR960004562B1 (ko) 반도체 장치 패키지
JP3793628B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
US5262927A (en) Partially-molded, PCB chip carrier package
KR100632459B1 (ko) 열방출형 반도체 패키지 및 그 제조방법
JP4075204B2 (ja) 積層型半導体装置
US3469017A (en) Encapsulated semiconductor device having internal shielding
KR920008256B1 (ko) 반도체 장치 패키지의 제조방법 및 장치
US6064115A (en) Semiconductor device provided with a heat sink
JP2770947B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法
KR880002260A (ko) 열적으로 향상된 대규모 집적회로 패키지 및 집적회로 다이의 장착방법
JP4334335B2 (ja) 混成集積回路装置の製造方法
JPH06151657A (ja) 半導体装置及びその製造方法
CN108417499A (zh) 空腔封装结构及其制造方法
JPH0669384A (ja) 絶縁物封止型半導体装置
JPS62109326A (ja) 半導体装置の製造方法
US20010040300A1 (en) Semiconductor package with heat dissipation opening
JP2845488B2 (ja) 半導体集積回路装置
JP2819282B2 (ja) 半導体パッケージおよびその製造方法
JP3894749B2 (ja) 半導体装置
JP2000150725A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP2772986B2 (ja) 半導体装置
KR100195158B1 (ko) 반도체 리드프레임
JP2626619B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法