JPS5950346A - 陽子線像検出装置 - Google Patents
陽子線像検出装置Info
- Publication number
- JPS5950346A JPS5950346A JP57160642A JP16064282A JPS5950346A JP S5950346 A JPS5950346 A JP S5950346A JP 57160642 A JP57160642 A JP 57160642A JP 16064282 A JP16064282 A JP 16064282A JP S5950346 A JPS5950346 A JP S5950346A
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- JP
- Japan
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- proton
- proton beam
- ray
- energy
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/043—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using fluoroscopic examination, with visual observation or video transmission of fluoroscopic images
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、被写体に向かって陽子線を１＠射して人体
透視する陽子線像検出装置に関する。
透視する陽子線像検出装置に関する。
陽子線像検出装置は、陽子線源から曝射された一次陽子
線が被写体中を透過した後に、被写体の後方において局
部的に比電離能が大きくなる」象を利用したものである
。第５図を参照しながら、以下にもう少し詳しく説明す
る。すなわち９ｍ色のエネルギーを持った陽子は空気中
あるいは物質中を進むにつれてそのエネルギー従ってそ
の速さを減じ、一定距離走ったところで止まる。このと
き、陽子の飛程の単位長さ当たりにできるイオン対の数
（比屯離能）と飛程との関係を示す曲線をブラッグ曲線
といい、第５図（■］）のようになる６図に示すように
比電離能は、陽子の速さが大きいときはｔりまり変化せ
ず、小さくなると急激に増加して（Ｐ）点において極大
値を示しくこの（Ｐ）点をブラッグ・ピークという）、
速さが零となる（Ｃ）点において急に零となる。そして
被写体に向かって陽子線を曝射した走きのブラッグ・ピ
ークの位置と大きさとは、透過陽子線のもつエネルギー
によって定まり、陽子線源から放射される一次陽子線の
もつエネルギーが一定のときには、被写（、Ｆの組織の
関数となる。その状態を第５図（Ａ） （Ｃ）に示す。
線が被写体中を透過した後に、被写体の後方において局
部的に比電離能が大きくなる」象を利用したものである
。第５図を参照しながら、以下にもう少し詳しく説明す
る。すなわち９ｍ色のエネルギーを持った陽子は空気中
あるいは物質中を進むにつれてそのエネルギー従ってそ
の速さを減じ、一定距離走ったところで止まる。このと
き、陽子の飛程の単位長さ当たりにできるイオン対の数
（比屯離能）と飛程との関係を示す曲線をブラッグ曲線
といい、第５図（■］）のようになる６図に示すように
比電離能は、陽子の速さが大きいときはｔりまり変化せ
ず、小さくなると急激に増加して（Ｐ）点において極大
値を示しくこの（Ｐ）点をブラッグ・ピークという）、
速さが零となる（Ｃ）点において急に零となる。そして
被写体に向かって陽子線を曝射した走きのブラッグ・ピ
ークの位置と大きさとは、透過陽子線のもつエネルギー
によって定まり、陽子線源から放射される一次陽子線の
もつエネルギーが一定のときには、被写（、Ｆの組織の
関数となる。その状態を第５図（Ａ） （Ｃ）に示す。
図中、実線は一次陽子線についてのブラッグ曲線（被写
体がない場合）を示し、破線は被写体を通り（友けた透
過陽子線についてのブラッグ曲線を示している。ここで
、（ａ）の位置に感光板または螢光板を置いた場合には
、この付近ｔよプラトー領域内にあるため被写体組織の
相違に基づ欠比電離能差は△Ｉａという小さな値として
しか得られず、わずかな変調しか認められないこととな
る。そして（ａ）の位置では、被写体の輪郭や硬組織の
輪郭などがエツ、ジ検出されてしまう。一方、Ｑ〕）の
ｇ置に感）“６板または螢光板を置いた場合には、第５
図（ｃ）Ｋ示すように被写体組織の相違によりブラッグ
・ピークの位置と大きさが変わるため、／Ｖｂという大
きな比電離能差として検出されることとなる。また（１
））の位置では、陽子の実効エネルギー分布からみて感
光能力も高い。従って、陽子線像検出装置において最も
重要な技術的課題は、感光面または螢光面の近くにブラ
・ソゲ・ピークを発生させるようにすることである。木
宛明けこの技術的課題を解決することを目的としてなさ
れたものである。
体がない場合）を示し、破線は被写体を通り（友けた透
過陽子線についてのブラッグ曲線を示している。ここで
、（ａ）の位置に感光板または螢光板を置いた場合には
、この付近ｔよプラトー領域内にあるため被写体組織の
相違に基づ欠比電離能差は△Ｉａという小さな値として
しか得られず、わずかな変調しか認められないこととな
る。そして（ａ）の位置では、被写体の輪郭や硬組織の
輪郭などがエツ、ジ検出されてしまう。一方、Ｑ〕）の
ｇ置に感）“６板または螢光板を置いた場合には、第５
図（ｃ）Ｋ示すように被写体組織の相違によりブラッグ
・ピークの位置と大きさが変わるため、／Ｖｂという大
きな比電離能差として検出されることとなる。また（１
））の位置では、陽子の実効エネルギー分布からみて感
光能力も高い。従って、陽子線像検出装置において最も
重要な技術的課題は、感光面または螢光面の近くにブラ
・ソゲ・ピークを発生させるようにすることである。木
宛明けこの技術的課題を解決することを目的としてなさ
れたものである。
以１へ第１図ないし第４図を参照しながらこの発明の（
ＩＩ！成を説明中る。
ＩＩ！成を説明中る。
陽子線像検出装置は、第１図にその構成の一部を示すよ
うに、被写体に向かって陽子線を曝射する陽子線源＋１
１１と、被写体を透過した陽子線を受１束する感光面ま
たは螢光面（１２１とを備えている。ぞしてこの発明は
感光面または螢光面（１２１の前面に陽子線のもつエネ
ルギーを吸収する厚さ可変の吸収材（１ｍを配設したこ
七を特徴とする。
うに、被写体に向かって陽子線を曝射する陽子線源＋１
１１と、被写体を透過した陽子線を受１束する感光面ま
たは螢光面（１２１とを備えている。ぞしてこの発明は
感光面または螢光面（１２１の前面に陽子線のもつエネ
ルギーを吸収する厚さ可変の吸収材（１ｍを配設したこ
七を特徴とする。
この陽子線像検出装置６において、陽子線源（１］）か
ら曝射された陽子線は被写体を通り抜ける際にそのエネ
ルギー、従ってその速さを減じる。
ら曝射された陽子線は被写体を通り抜ける際にそのエネ
ルギー、従ってその速さを減じる。
そして被写体を透過した陽子線は吸収材（１３１によっ
てさらにエネルギーを吸収され、写真フィルムの感光面
あるいはイメージ管の螢光面（図はイメージ管ｕ４）の
螢光面＋１２１の場合を示す）近くにおいてブラッグ・
ピークを示し制動される。この際、ブラッグ・ピークを
示す位置は、−吸収材蒔の厚さを変化させ、その吸収４
１（１３１によって吸収される陽子線のエネルギー址を
増減させることにより調整される。その状態を第６図に
示す。
てさらにエネルギーを吸収され、写真フィルムの感光面
あるいはイメージ管の螢光面（図はイメージ管ｕ４）の
螢光面＋１２１の場合を示す）近くにおいてブラッグ・
ピークを示し制動される。この際、ブラッグ・ピークを
示す位置は、−吸収材蒔の厚さを変化させ、その吸収４
１（１３１によって吸収される陽子線のエネルギー址を
増減させることにより調整される。その状態を第６図に
示す。
図中、実線は吸収（シ（１３）の厚さが薄い場合、鎖線
Ｑよ厚い場合にンけるブラッグ曲線を示している。
Ｑよ厚い場合にンけるブラッグ曲線を示している。
次に吸収材＋１３１の構造について説明する。吸収材０
３＋はその厚さを変化させることができるものであれば
よく、その工夫ＩＮρ１を第２図会よび第３図に示す。
３＋はその厚さを変化させることができるものであれば
よく、その工夫ＩＮρ１を第２図会よび第３図に示す。
図示したものは、一対のくさび状片の７９１１合せから
ｌり矢印方向に摺動させることによりその厚さを連続的
に変化させることができる。このノ４ｈ合、吸収部分と
して有効に使用できるのは１両くさび状片が重なった■
の範囲である。一対のくさび状片を作製するには、たと
えば第４図に示すように、直方体をｉｉ′（！線で示す
而で切ればよい。この他吸収材としては、厚さの異なる
ものを交換的に１印人するような方式のものであっても
よい。また吸収材（１３）を第２図および第３図に示す
ようにグリーＩド状にすれば。
ｌり矢印方向に摺動させることによりその厚さを連続的
に変化させることができる。このノ４ｈ合、吸収部分と
して有効に使用できるのは１両くさび状片が重なった■
の範囲である。一対のくさび状片を作製するには、たと
えば第４図に示すように、直方体をｉｉ′（！線で示す
而で切ればよい。この他吸収材としては、厚さの異なる
ものを交換的に１印人するような方式のものであっても
よい。また吸収材（１３）を第２図および第３図に示す
ようにグリーＩド状にすれば。
被写体から発生する散乱線を除去することができる。な
お吸収材（１３）は１例えば鉛箔で作られる。
お吸収材（１３）は１例えば鉛箔で作られる。
陽子線像検出装置を以上述べたように構成すれｆｒｒ、
吸収材の厚さを変化させることによってブワ・ｌグ・ピ
ークの位置を調節することができるから、影ｆ象のコン
トラストや解像力などの優れた陽子線像を得ることがで
きる。
吸収材の厚さを変化させることによってブワ・ｌグ・ピ
ークの位置を調節することができるから、影ｆ象のコン
トラストや解像力などの優れた陽子線像を得ることがで
きる。
第１図はこの発明に係る陽子線１象検出装置の構成の一
部を示す概略図、＠２図は吸収材の１実施例を示す断面
図、第３図ケ、シ同じく部分拡大斜視図、第４図は吸収
材の製作方法を説明するだめの図である。また第５図は
陽子線１象検出装（ｉ’、ｊにおける撮像原理を説明す
るための図であり。 第６図は吸収材の厚薄によるブラッグ曲線の変イＬの状
態を示す図である。 １１・・・陽子線源 １２・・・螢光面１３・・・吸
収桐 第１図 第２ 図 ＝＝ニー： μ 第３（ｊ３ ｆｆ１４＞４７°１第
５ 図 （Ａ） （Ｂ） 碗 程 盛 れ
部を示す概略図、＠２図は吸収材の１実施例を示す断面
図、第３図ケ、シ同じく部分拡大斜視図、第４図は吸収
材の製作方法を説明するだめの図である。また第５図は
陽子線１象検出装（ｉ’、ｊにおける撮像原理を説明す
るための図であり。 第６図は吸収材の厚薄によるブラッグ曲線の変イＬの状
態を示す図である。 １１・・・陽子線源 １２・・・螢光面１３・・・吸
収桐 第１図 第２ 図 ＝＝ニー： μ 第３（ｊ３ ｆｆ１４＞４７°１第
５ 図 （Ａ） （Ｂ） 碗 程 盛 れ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 被写体に向かって陽子線を１曝射する陽子線源と
、被写体を透過した陽子線を受像する感光面または螢光
面とを備えてなる陽子線像検出装置において、前記感光
面寸たは螢光面の前面に陽子線のもつエネルギーを吸収
する厚さ可変の吸収Ｕを配設したことを特徴とする陽子
線像検出装置。 ２、吸収材は一対の摺動自在のくさび状片である特許請
求の範囲第１項記載の陽子線像検出装置。 ３、吸収材はグリヅド４Ｊ−”’ある特許請求の範囲第
１項または第２項記載の陽子線像検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57160642A JPS5950346A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | 陽子線像検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57160642A JPS5950346A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | 陽子線像検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5950346A true JPS5950346A (ja) | 1984-03-23 |
Family
ID=15719343
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57160642A Pending JPS5950346A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | 陽子線像検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5950346A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02249563A (ja) * | 1988-12-06 | 1990-10-05 | Shaikh G M Y Alhamad | 引っ張って展開可能な金属製品 |
| JPH0383559U (ja) * | 1989-12-15 | 1991-08-26 |
-
1982
- 1982-09-14 JP JP57160642A patent/JPS5950346A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02249563A (ja) * | 1988-12-06 | 1990-10-05 | Shaikh G M Y Alhamad | 引っ張って展開可能な金属製品 |
| JPH0383559U (ja) * | 1989-12-15 | 1991-08-26 |
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