JPS5950346A - 陽子線像検出装置 - Google Patents
陽子線像検出装置Info
- Publication number
- JPS5950346A JPS5950346A JP57160642A JP16064282A JPS5950346A JP S5950346 A JPS5950346 A JP S5950346A JP 57160642 A JP57160642 A JP 57160642A JP 16064282 A JP16064282 A JP 16064282A JP S5950346 A JPS5950346 A JP S5950346A
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- JP
- Japan
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- proton
- proton beam
- ray
- energy
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/043—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using fluoroscopic examination, with visual observation or video transmission of fluoroscopic images
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、被写体に向かって陽子線を1@射して人体
透視する陽子線像検出装置に関する。
透視する陽子線像検出装置に関する。
陽子線像検出装置は、陽子線源から曝射された一次陽子
線が被写体中を透過した後に、被写体の後方において局
部的に比電離能が大きくなる」象を利用したものである
。第5図を参照しながら、以下にもう少し詳しく説明す
る。すなわち9m色のエネルギーを持った陽子は空気中
あるいは物質中を進むにつれてそのエネルギー従ってそ
の速さを減じ、一定距離走ったところで止まる。このと
き、陽子の飛程の単位長さ当たりにできるイオン対の数
(比屯離能)と飛程との関係を示す曲線をブラッグ曲線
といい、第5図(■])のようになる6図に示すように
比電離能は、陽子の速さが大きいときはtりまり変化せ
ず、小さくなると急激に増加して(P)点において極大
値を示しくこの(P)点をブラッグ・ピークという)、
速さが零となる(C)点において急に零となる。そして
被写体に向かって陽子線を曝射した走きのブラッグ・ピ
ークの位置と大きさとは、透過陽子線のもつエネルギー
によって定まり、陽子線源から放射される一次陽子線の
もつエネルギーが一定のときには、被写(、Fの組織の
関数となる。その状態を第5図(A) (C)に示す。
線が被写体中を透過した後に、被写体の後方において局
部的に比電離能が大きくなる」象を利用したものである
。第5図を参照しながら、以下にもう少し詳しく説明す
る。すなわち9m色のエネルギーを持った陽子は空気中
あるいは物質中を進むにつれてそのエネルギー従ってそ
の速さを減じ、一定距離走ったところで止まる。このと
き、陽子の飛程の単位長さ当たりにできるイオン対の数
(比屯離能)と飛程との関係を示す曲線をブラッグ曲線
といい、第5図(■])のようになる6図に示すように
比電離能は、陽子の速さが大きいときはtりまり変化せ
ず、小さくなると急激に増加して(P)点において極大
値を示しくこの(P)点をブラッグ・ピークという)、
速さが零となる(C)点において急に零となる。そして
被写体に向かって陽子線を曝射した走きのブラッグ・ピ
ークの位置と大きさとは、透過陽子線のもつエネルギー
によって定まり、陽子線源から放射される一次陽子線の
もつエネルギーが一定のときには、被写(、Fの組織の
関数となる。その状態を第5図(A) (C)に示す。
図中、実線は一次陽子線についてのブラッグ曲線(被写
体がない場合)を示し、破線は被写体を通り(友けた透
過陽子線についてのブラッグ曲線を示している。ここで
、(a)の位置に感光板または螢光板を置いた場合には
、この付近tよプラトー領域内にあるため被写体組織の
相違に基づ欠比電離能差は△Iaという小さな値として
しか得られず、わずかな変調しか認められないこととな
る。そして(a)の位置では、被写体の輪郭や硬組織の
輪郭などがエツ、ジ検出されてしまう。一方、Q〕)の
g置に感)“6板または螢光板を置いた場合には、第5
図(c)K示すように被写体組織の相違によりブラッグ
・ピークの位置と大きさが変わるため、/Vbという大
きな比電離能差として検出されることとなる。また(1
))の位置では、陽子の実効エネルギー分布からみて感
光能力も高い。従って、陽子線像検出装置において最も
重要な技術的課題は、感光面または螢光面の近くにブラ
・ソゲ・ピークを発生させるようにすることである。木
宛明けこの技術的課題を解決することを目的としてなさ
れたものである。
体がない場合)を示し、破線は被写体を通り(友けた透
過陽子線についてのブラッグ曲線を示している。ここで
、(a)の位置に感光板または螢光板を置いた場合には
、この付近tよプラトー領域内にあるため被写体組織の
相違に基づ欠比電離能差は△Iaという小さな値として
しか得られず、わずかな変調しか認められないこととな
る。そして(a)の位置では、被写体の輪郭や硬組織の
輪郭などがエツ、ジ検出されてしまう。一方、Q〕)の
g置に感)“6板または螢光板を置いた場合には、第5
図(c)K示すように被写体組織の相違によりブラッグ
・ピークの位置と大きさが変わるため、/Vbという大
きな比電離能差として検出されることとなる。また(1
))の位置では、陽子の実効エネルギー分布からみて感
光能力も高い。従って、陽子線像検出装置において最も
重要な技術的課題は、感光面または螢光面の近くにブラ
・ソゲ・ピークを発生させるようにすることである。木
宛明けこの技術的課題を解決することを目的としてなさ
れたものである。
以1へ第1図ないし第4図を参照しながらこの発明の(
II!成を説明中る。
II!成を説明中る。
陽子線像検出装置は、第1図にその構成の一部を示すよ
うに、被写体に向かって陽子線を曝射する陽子線源+1
11と、被写体を透過した陽子線を受1束する感光面ま
たは螢光面(121とを備えている。ぞしてこの発明は
感光面または螢光面(121の前面に陽子線のもつエネ
ルギーを吸収する厚さ可変の吸収材(1mを配設したこ
七を特徴とする。
うに、被写体に向かって陽子線を曝射する陽子線源+1
11と、被写体を透過した陽子線を受1束する感光面ま
たは螢光面(121とを備えている。ぞしてこの発明は
感光面または螢光面(121の前面に陽子線のもつエネ
ルギーを吸収する厚さ可変の吸収材(1mを配設したこ
七を特徴とする。
この陽子線像検出装置6において、陽子線源(1])か
ら曝射された陽子線は被写体を通り抜ける際にそのエネ
ルギー、従ってその速さを減じる。
ら曝射された陽子線は被写体を通り抜ける際にそのエネ
ルギー、従ってその速さを減じる。
そして被写体を透過した陽子線は吸収材(131によっ
てさらにエネルギーを吸収され、写真フィルムの感光面
あるいはイメージ管の螢光面(図はイメージ管u4)の
螢光面+121の場合を示す)近くにおいてブラッグ・
ピークを示し制動される。この際、ブラッグ・ピークを
示す位置は、−吸収材蒔の厚さを変化させ、その吸収4
1(131によって吸収される陽子線のエネルギー址を
増減させることにより調整される。その状態を第6図に
示す。
てさらにエネルギーを吸収され、写真フィルムの感光面
あるいはイメージ管の螢光面(図はイメージ管u4)の
螢光面+121の場合を示す)近くにおいてブラッグ・
ピークを示し制動される。この際、ブラッグ・ピークを
示す位置は、−吸収材蒔の厚さを変化させ、その吸収4
1(131によって吸収される陽子線のエネルギー址を
増減させることにより調整される。その状態を第6図に
示す。
図中、実線は吸収(シ(13)の厚さが薄い場合、鎖線
Qよ厚い場合にンけるブラッグ曲線を示している。
Qよ厚い場合にンけるブラッグ曲線を示している。
次に吸収材+131の構造について説明する。吸収材0
3+はその厚さを変化させることができるものであれば
よく、その工夫INρ1を第2図会よび第3図に示す。
3+はその厚さを変化させることができるものであれば
よく、その工夫INρ1を第2図会よび第3図に示す。
図示したものは、一対のくさび状片の7911合せから
lり矢印方向に摺動させることによりその厚さを連続的
に変化させることができる。このノ4h合、吸収部分と
して有効に使用できるのは1両くさび状片が重なった■
の範囲である。一対のくさび状片を作製するには、たと
えば第4図に示すように、直方体をii′(!線で示す
而で切ればよい。この他吸収材としては、厚さの異なる
ものを交換的に1印人するような方式のものであっても
よい。また吸収材(13)を第2図および第3図に示す
ようにグリーIド状にすれば。
lり矢印方向に摺動させることによりその厚さを連続的
に変化させることができる。このノ4h合、吸収部分と
して有効に使用できるのは1両くさび状片が重なった■
の範囲である。一対のくさび状片を作製するには、たと
えば第4図に示すように、直方体をii′(!線で示す
而で切ればよい。この他吸収材としては、厚さの異なる
ものを交換的に1印人するような方式のものであっても
よい。また吸収材(13)を第2図および第3図に示す
ようにグリーIド状にすれば。
被写体から発生する散乱線を除去することができる。な
お吸収材(13)は1例えば鉛箔で作られる。
お吸収材(13)は1例えば鉛箔で作られる。
陽子線像検出装置を以上述べたように構成すれfrr、
吸収材の厚さを変化させることによってブワ・lグ・ピ
ークの位置を調節することができるから、影f象のコン
トラストや解像力などの優れた陽子線像を得ることがで
きる。
吸収材の厚さを変化させることによってブワ・lグ・ピ
ークの位置を調節することができるから、影f象のコン
トラストや解像力などの優れた陽子線像を得ることがで
きる。
第1図はこの発明に係る陽子線1象検出装置の構成の一
部を示す概略図、@2図は吸収材の1実施例を示す断面
図、第3図ケ、シ同じく部分拡大斜視図、第4図は吸収
材の製作方法を説明するだめの図である。また第5図は
陽子線1象検出装(i’、jにおける撮像原理を説明す
るための図であり。 第6図は吸収材の厚薄によるブラッグ曲線の変イLの状
態を示す図である。 11・・・陽子線源 12・・・螢光面13・・・吸
収桐 第1図 第2 図 ==ニー: μ 第3(j3 ff14>47°1第
5 図 (A) (B) 碗 程 盛 れ
部を示す概略図、@2図は吸収材の1実施例を示す断面
図、第3図ケ、シ同じく部分拡大斜視図、第4図は吸収
材の製作方法を説明するだめの図である。また第5図は
陽子線1象検出装(i’、jにおける撮像原理を説明す
るための図であり。 第6図は吸収材の厚薄によるブラッグ曲線の変イLの状
態を示す図である。 11・・・陽子線源 12・・・螢光面13・・・吸
収桐 第1図 第2 図 ==ニー: μ 第3(j3 ff14>47°1第
5 図 (A) (B) 碗 程 盛 れ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、 被写体に向かって陽子線を1曝射する陽子線源と
、被写体を透過した陽子線を受像する感光面または螢光
面とを備えてなる陽子線像検出装置において、前記感光
面寸たは螢光面の前面に陽子線のもつエネルギーを吸収
する厚さ可変の吸収Uを配設したことを特徴とする陽子
線像検出装置。 2、吸収材は一対の摺動自在のくさび状片である特許請
求の範囲第1項記載の陽子線像検出装置。 3、吸収材はグリヅド4J−”’ある特許請求の範囲第
1項または第2項記載の陽子線像検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57160642A JPS5950346A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | 陽子線像検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57160642A JPS5950346A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | 陽子線像検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5950346A true JPS5950346A (ja) | 1984-03-23 |
Family
ID=15719343
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57160642A Pending JPS5950346A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | 陽子線像検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5950346A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02249563A (ja) * | 1988-12-06 | 1990-10-05 | Shaikh G M Y Alhamad | 引っ張って展開可能な金属製品 |
JPH0383559U (ja) * | 1989-12-15 | 1991-08-26 |
-
1982
- 1982-09-14 JP JP57160642A patent/JPS5950346A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02249563A (ja) * | 1988-12-06 | 1990-10-05 | Shaikh G M Y Alhamad | 引っ張って展開可能な金属製品 |
JPH0383559U (ja) * | 1989-12-15 | 1991-08-26 |
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