JPS5942507A - 焦点検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、カメラ等の光学装置の焦点検出装置に係り１
％に焦点検出さ几る主結像光学系により形成さｎた物体
像？一対の再結像光学系に工り夫々対応する一対の受光
装置に再結源し。

各受元装置上の再結像の相対位置関係？検出し主結像光
学系の焦点検出を行う焦点検出装置に関する。

従来のこの種のカメラ用焦点検出装置の光学系？！：第
１図にボす。第１図（Ａｌ及び（川に夫々正面図及び平
面図であり、撮影レンズ１の予定焦点面２又はその近傍
にフィ：ルドレンズ３が配置さｎている。この予定焦点
面２はフィルムと共役な位置又はその近傍位置であり、
一対の再結像レンズ４Ａ、４ＢＩＣ関して上記予定焦点
面２と共役な而５に像位置検出用光″邂装置６Ａ、６Ｂ
が夫々配置さ！’している。上記予定焦点面２には撮影
レンズＩＫＬゐ被写体像が形成さｎ−、上記共役面５に
は再結像レンズ４Ａ、４Ｂに↓るよ起抜写体１象の二次
像が形成さｆＬるので、上記予定焦点面２ヶ一次像面、
共役面５を二次１象而と称する０また。−次１象面２上
の中央部、Ｘ体的には撮影レンズ元軸０ゲ中心とした矩
形領域２人が焦点検出に使用さｎる領域であるので−こ
′ｎ？−次１象面検出領域と呼び、この−次ｒ象面検出
領域２Ａと共役な二次像面５上の領域を二次１象面検出
領域と称する。当然この二次１象面検出領域５Ａ、５Ｂ
は夫々元を装置６Ａ、６Ｂの受光面と一致している０熾
影レンズｌの光軸方向への移動により被写体１象が元軸
０上を移動すると、そｆ’ＬＫ伴い再結ｆＪＩ　Ｌ／　
７　、（４Ａ　、　４　Ｂ　ＶＣよる二次ｆ象は二次１
３！面上で変位する０光電装置６Ａとそｎ上の二次１象
との相対位置と５光電装置６Ｂとそ２’Ｌ上の二次像と
の相対位置ととの検出から撮影レンズ１の焦点調節状態
を判別できる。

しかしながら、この焦点検出装置は１点線で囲んだ焦点
検出光学系７の容積が太きく、カメラボディ内部に収容
することが極めて困難であるという欠点があるＣ そこで、焦点検出光学系７の小型化をビＩる為に、上述
の再結［酸レンズの代りに四面鏡ケ使用した反射型焦点
検出光学系が１例克は特開昭４７−１３２８２、特開昭
５４−１５０１２５に提案さｎている。この種の反射型
焦点検出光学系の原理的ｓｈｙ、を第２図に示す。同図
において、矩形の一次１象面検出領域２Ａの後方であっ
て、撮影レンズ元軸に対してほぼ対称に一対の凹面ｆｉ
８Ａ、８Ｂが並置さｎている。この凹面鏡８Ａ、８Ｂは
、この凹面鏡による二次＋ｓ面検出領域９Ａ、９１３が
一次博面横出領域２人と■［なり合わない様に、凹面＠
８Ａ、８Ｂの光１１１（凹面鏡の面積中心における伝線
を凹面鏡の光軸と足めゐ）が１次１象面検出領域の中心
と凹面ｄ８Ａ、８Ｂのそ７’ＬぞｔＬの面積中心の合点
によって決まる平面に対して夫々下方に角度ψ及び上方
へ角度ψだけ傾けら７’している。この傾斜に工り凹面
ｆｉｓＡの二次１象面検出領域９Ａ及び凹面鏡８Ｂの二
次１象面検出領域９Ｂは夫々−次渾面２Ａの下方及び上
方に形成式社る０もちろんこの二次１＆’■検出領域９
Ａ、９Ｂに１象変位検出用元電装置が配置き扛ている。

この株な構成の反射型焦点検出光学系は小型化さｎるが
、しかしながら、凹面鏡の傾斜の為ＶＣｈ二次像が劣化
する。即ち二次１象と一次鍼との同一性が著しく損なわ
れる恐扛がある。この点ケ以下に詳述する。

一次（氷面検出領域２Ａの中心から凹面鏡８Ａ。

８Ｂの中心に入射し、二次ｆ氷面検出領域９Ａ。

９Ｂの中心に至る光線に関し、凹面鏡への入射光とその
反射光とのなす角度、即ち、凹面鏡への入射角と反射角
との和（以下この和の角度を振ｎ角と称する。）は、上
述の傾斜角ψの２倍即ち２ψである。この振扛角は凹面
鏡の結１象性能に大きな悪影智？及は丁０具体的には、
凹面鏡、のコマ収差は伽ｎ角ψに比例して増大し、非点
収差はψ１に比例して増大する。もちろん、−次隊面検
出領域２人の中心以外の点から凹面鏡の中心に向う光線
の振ｎ角は、後に詳記する様に上記中心からの距離に応
じて大きくなるので、二次像検出領域内ではその端部の
二次１摩が収差的に最も劣化する。

このように反射型焦点検出光学系は凹面鏡の傾きに応じ
てその収差が急増し二次像が劣化しこｎにエリ一対の光
電装置ＶＣＪ、る各二次ｆ家の相対的位置の検出精度が
大幅に低下し、結局＾精の焦点検出が期待でさないとい
った欠点が存在していた。

そこで本発明の目的は凹面鏡の傾きがその二次法に実質
的に悪影響を及は芒ない焦点検出装置を提供することで
ある０ 本発明は、この目的を達成する為に、−次像検出領域の
中心からの光線の、一対の凹面鏡の中心への入射角（ラ
ジアン）が夫々約Ｊ　Ｏ，０４／Ｒ（Ｒげ凹面鏡の最大
径〕以下となる様に、凹面鏡の傾きをその最大径Ｂとの
関係で設定するものである０以下に本発明の焦点検出装
置を一眼レフカメラ用焦点検出装置に適用しに実施例を
図面を参照して説明する。

一眼レフカメラの光学系の概略？示す第３・図において
、撮影レンズ１を通った被写体光は、一部がクイックリ
ターンミラー１１によりファインダの焦点板１２の方へ
反射さｎ、残部はミラー１１全透過してフィルム面１３
の前方にあるサブミラー１４によシミラーボックス下方
へ反射さｎる。ミラーボックスの・底板１５には、矩形
開口１５ａが穿設さｎｌこの底板１５の下には反射型焦
点検出光学ブロック体１６が配設さ扛ている。

このブロック体１６會第４図と第５図？用いて詳述する
。

同図において、屈折率ｎ（ｎ＞１１のカラスやプラスチ
ック等の透明直方体ブロック１６０には、その上面の左
端近傍に平凸のフィールドレンズ１６１が貼付σｎてい
る。このレンズ１６１はブロック１６０との接合面が平
面で。

凸面の頂点にほぼ接する様に開口付過元＆１６２が設け
ら扛ている。この道元＆１６２ｉｌ″Ｉ熾彰レンズ１の
予定焦点面側ｊち一次１象面上又はその近傍に配＃芒ｎ
、その中央部の矩形開口１６２３は一次１象面検出領域
２Ａの寸法よりわずかに大きい寸法に定めら扛、第３図
の底＆１５の開口１５ａの真下に位置する様に足めらｎ
ている。

従ってこの矩形開口１６２ａが一次隊面検出領域２ＡＫ
実質的に相肖すると言うことができる。

もちろん、この迦ブ０板１６２はミラーボックスの底＆
１５で代用すゐこともできる。フィールドレンズ１６１
のＶ：部のブロック１６０の内部ＶＣに反射部材１６３
が約４５°　の角度で斜設芒ｎている０この反射部材１
６３は第５図（（３１に明示する様に中央部にブロック
１６０の長軸方向に沿りて伸びた反射面（ダブルノ・ツ
チング部分］１６３ａと、この反射面の両側に設けらｎ
たう゛Ｃ透過部１６３　ｂｂ　１６３　ｃと、この反射
面と両光透過部以外の光吸収部１６３ｄとから構成さ扛
ている０この反射面１６３８は一次像面検出領域用開ロ
１６２ｇによシ規制さ扛た焦点検出用光束のみを反射す
る大きさに選定さｔ′Ｌ１光吸収部１６３ｄは焦点検出
用光束以外の光束を吸収して迷光を減少させる。同、こ
の様な反射部祠１６３は例えはブロック１６０をこの反
射部材の位置、から二分し、その結果フＩ人出した斜面
上族Ｍ等の手段によって反射膜１６３ａ及び光吸収膜１
６３ｄ’Ｔｈ形成した後、二分ブロックを再び貼付する
ことによｌ）ｒ′Ｉ′Ｊ作′でき＾０ブロック１６０の
右側端面には上下方向に並１〜．さｔた一対の凹面鏡ブ
ロック１６４，１６５が貼付さＩしてお９．こ７ｔらは
焦点検出光学系の仮想的光軸１６６に関して上下方向に
対称となっている。

こＩしらの凹面鏡ブロック１６４，１６５は屈折率ｎの
透明物質から成ジブロック１６０に接合する面が平面で
、他面が凸球面で、この凸球面には反射面１６４ａ、１
６５ａが形成さｎている０凹面鏡として働く各反射面１
６４ａ、１６５ａ叫そｆぞｎによりて形成さｎる二次商
面の検出領域が互に重り合わないことはもちろん、−次
像面検出領域１６２ａとも重り合わない様に。

夫々所定角度だけ傾けらｎている。具体的には。

凹面鏡−１６４，１６５は反射面１６３ａからの光束を
夫々逆方向に反射偏向させ、ブロック１６０の左端面に
所定距離隔てた位置Ｖこ二次像面検出領域９Ａ、９Ｂ’
、夫々形成する。この凹面鏡１６４の形成する二次像面
検出領域９Ａには光電変換装置１６７が、凹面鏡１６５
の二次像面検出領域９Ｂには光電変換装置１６８が夫々
配置さ２１ている。従って光電変換装置１６７の光電面
と一次像面検出領域２人とは凹面鏡１６４に関して、光
電装置１６８の光電面と一次像面検出領、域２人とは凹
面ｖ！Ｊ、１６５に関して夫々共役と彦る０この様な位
置関係であるので凹面鏡１６４は反射面１６３ａからの
入射元金光透過部１６３ｂ金通りて光電装置１６７の受
光面に収束させ、凹面鏡１６５は反射面１６３ａからの
入射光を光透過部１６３ｃｔ通りて光電変換装置１６Ｂ
の受光面に収呆させる０光電変挨装置１６７．１６８は
共に′ｃ−第４図の上下方向に多数の受光貴く子が配列
さｔシた一次元元喧変換素子アレイから成り、各アレイ
は同一半導体基板１６９上に形成さ■ている。この基板
１６９はブロック１６０の左端面に貼例さｎている。

ｆΔｊフ・イールドレンズ１６１は、凹面ｄ１６４゜１
６５の反射！１ｆ１１６４ａ％１６５ａと撮影レンズ１
の射出瞳とが？ｔｌＹ共役となる株ＩＬ、レンズノミワ
ーが選足さｆしていゐ〇 次に上述の傾斜さｎた凹面鏡ブロック１６４゜１６５の
作製の一例をり（６図によジ説明する。

第１次像面から凹面鏡までの距離ｉＬとする０第６図（
ＡＪの様に凸面の曲率半イ１がほぼＬである平凸レンズ
Ｌｒ’ｌ”用意し、その凸面上に第６図（Ｂｌに示す如
くその中心を通る軸１１の左右ｅご反射面Ｍａ、Ｍｂ（
ｚ形成する０この時、各反射面Ｍ　ａ　、　Ｍ　ｂの中
心が上記凸面の中心０１　から互に逆方向に距離り、　
＝ψ・Ｌだけずらす０　その後、軸ｔ１に沿ってレンズ
Ｌｔｋ切断する。こうして作製”ＡＩ％た一対の切断平
凸レンズを、第４図及び第５図に示す如く１ブロツク１
６０の光路の中心軸１６６に関して反射面Ｍａ、Ｍｂが
対称となる様に、ブロック１６０に貼付する０このよう
にする手により凹面鏡の傾斜角ψが自ずから形成され、
又角度の微調整はブロック１６０の端面に反射部の形成
さｔ′した平凸レンズの平面側？端面密着させた形でそ
の固定位置を面内で微調する事により達成さ几る０この
ようにす扛ば凹面鏡自体の角度をふって微調する場合よ
り調整がはるかに要易である０ この様な構成であるので、撮影レンズ１の透過光は被写
体の一次ｆ象を遮光板１６２上又はその前後に形成する
と共に開ロ１６２ａ會通過後、反射面１６３ａで反射さ
ｎ一対の凹面、鋭１６４゜１６５へ入射する。各凹面鏡
１６４．１６５は夫々１片の傾斜角ψに応じて入射光束
を振ｎ角２ψだけ振って１１３１１ち偏向８せて反射し
、凹面鏡１６４の反射光はｙ０透過部１６３ｂを通って
光電変換装置１６７上に二次像を凹面＠１６５の反射光
は光透過部１６３Ｃを通ってう゛０電変換装置１６８に
二次！＃２（ｃ夫々形成する０光電変換装置１６７．１
６８は上記一対の二次像の相対的位置関係を検出しｔ沁
影しンズｌの焦点調節状態を検出する。

ところが、この様な反射型焦点検出九傘系は前述した如
く凹面鏡１６４，１６５の傾斜角、即ちそ扛による光束
の振へ角２ψが大きくなるにつれて、収差が大きくなり
二次像が劣化し上記一対の二次像の相対位置の検出精度
の低下を招来する。そこでこの充分な検出精度を保障で
きる争件会以下に求める。

前述の如く振ｎ角２ψは非点収差に犬きく影？を与える
ので、まずこの振ｎ角と非点収差との関係を考察する０ 第７図において、曲率半径りの仮想球向見。

は座標軸Ｘ　ｅ　ｙ　ａ　ｚの原点０．を曲率中心とす
ゐ。凹面鏡Ｍはこの球面Ｑ１上に形成され、凹面鏡Ｍの
中心Ｏｓは、座標ｉ）Ｑ　ｚから所定１にり、ｎており
、ｙ方向に関してその量はＤである。

原点０１からｙ方向に距離りだけ上方の点Ｐｊからの光
は凹面鏡Ｍの中心０茸に入射角ψ（単位ラジアンフで入
射し当然反射角ψで反射し。

原点０８に関して、ΦＰｉとほぼ対称な位置付近に収束
する。この像は非点収差の為に、サジタルな光線束によ
る結像Ｓがｙ軸上に線状に現わｎ、またタンジェンシャ
ルな光線束による結像Ｔが像Ｓと直交するねじれの位置
に線状に現われる０両像ＳＴの間の距離δ（単位制）は
ψの小さい時以下で表わせる。

δＦ！２　”　Ｌ　（−−ｃ　ｏ　ｓψ）：２Ｌ９”　
　−＝・（１１ＣＯＩＩψ ザジタル像Ｓの大きさＡｓ　（単位間）は、　凹面鏡Ｍ
のｙ軸方向の径Ｒｓ　（単位間）全底辺とし、像Ｔの中
心を頂点とする三角形とｂ作’８’ｃ底辺とし、上記像
中心を頂点とする三角形とが相似であること及びδ（Ｌ
であるから、以下となる。

１″　　　　　　　・　　（２） ｔ、・δ・■ タンジエンンヤル）０”１゛の大きさｔＴは％１象Ｓの
中心を川魚どじ、１ψＴ’ｆ底辺とする三角形と、共通
の枳点ケ弔し、凹１ＪＩＩ鏡ＭのＸ軸方向の径１９ｔｊ
ｋ辺とする三角形とが相似であることから、以−トの如
く表わせる。

ｔ＝δ・丘　　　　　・・・　・（３）　　　　ｂ （２）式、（ｊ）式に夫々（１）式ケ代入すると一６ｓ
≠２１（ｂ・ψ”　　　　　　−・−（−４ｉｔ　≠２
弓Ｔψ１　　　　　　　・・・（５）凹面鏡Ｍの径ロｓ
、Ｒアの大きい方の径を几ｍとすると、この場合の大き
い方の非点収差量ｔｍは（４）式又は（５）式から次式
となる。

ｔｍ＝２・ＩＩＩｎＩＩ９２（６） この式からψを求めると ψ＝：　Ｊ　ｔ１１１／　（２・Ｒｍ）　　　−−−（
７１本発明の焦点検出装置の如く、光’ｉｔｔ装置」二
の二次像の相対位置を検出する方式にあっては、非点収
差量が０．０８＋ｕ程度であれば、相対位置検出が可能
である。そこで、二次ｆ象検出領域の中心での非点収差
量を、はぼ０．０８　ＷＪ以下とするための条件は（方
式から以下の通りとなる。

ψ≦、／１１ゴフ１席　　　　・・・・（８）このよう
に、−次像面検出領域の中心からの光束が凹面鏡の中心
へ入射したときの振ｎ角２ψと凹面鏡の最大径Ｒｍとが
（８）式を満足する様に凹面鏡の傾斜及び最大径を設定
す′ｎば、非点収差を抑えることができ、正しい焦点検
出が可能となる。

また、二次像面検出領域の中心での非点収差量をほぼ０
．０４＋ｕ＋以下とすると、かなり高精度の検出が可能
となるＯこの場合の条件は以下となる。

ψ≦Ｊ０．０２フ−［記　　　　　・・（９）更に、上
記非点収差量をｔｌは０．０２Ｎ月以下とすると極めて
高精度な焦点検出が可能となり。

この場合の条件は以下となる。

ψ＜、’０．０１／几＋ｎ　　　　−（１１１＋同、１
４月り角２ψの下限値は一次像１１ｊ　４’、（ｊｉ出
項域と二？Ｘ、ｉ’タ面検出１す゛（域とを分離さする
為の条注力）ら必然的ＶＣ決定さお２る〇 ′まン−１ｂ以上では非点収差ｆ＝、の最も小さい二次
像検出１・Ｌ１域の中心におりる非点収差と振ｎ角との
ＩＩ；ｌ係ぜ考察したが、検出領域全体についての非点
収差を問題とするｊ場合には以下の如くなる。

凹面鏡の中心に入射する光束のうちｉｎ角が最も大きい
のは、第２図に明宗す小ように一次ｆ３（検出領域２λ
の端部からの光束である。そこで、この’！’１１：６
部からの光束の上ｉ［′、振Ｊ’Ｌ角を２ψｍとすめと
、こ扛と検出領域中心からの光束の振７１、角２ψとに
は次式が成立する。

ψ”＝ψ′＋（１ヱ）′ ｍ　　　　２　Ｌ ｓｖ ここで、■、ｗ　ｉ；ｉニー次像面検出領域の幅、■は
、この検出気１賊の中ノｌノと凹面ｅ−’？＋の中心と
検出・唄域の端Ｂ＋＋とのなｊ−角度でるる□二次像検
出領域の端部における非点収差量ｔｍは（６）式の９３
の代りに上述のψ：ｎを用いることにより求まる。即ち ｔｍ＝２．・Ｒｍ・ψ’　＝２　Ｅｌ、ｍ　（ψ諺モ（
−”）　”）４１υｍ　　　　　　　２Ｌ こうして検出領域の端部における非点収差量ｔｍを検出
領域の中心からの光束の振ｎ角２ψによって表わすこと
ができる。

（１０式ケ変形すめと （ｐ＝　ｔｍ　　（２１（ｍ）　　（Ｌｗ／２Ｌ）　”
　　＝α乃検出領域全体についての非点収差量ヲ約０．
０８ｍａ以下約０．０４１ｕｌ以トー、約０．０２ｖ１
以下とするための振扛角の条件は夫々以下の如くなる〇
ψ≦Ｖ１０．酊フＲｍ　　（Ｌｗ／２４）１　　　・・
（２）ψ≦Ｊ０．０２　８ｍ　　（Ｌｗ／２．Ｌ）！　
　−４４）９’％Ｊ０．０１　　Ｒｍ−（Ｌｗ／２Ｌ）
”　　　・・Ｑ５）きらにこの様な再結像光学系使用の
焦点検出焦点検出光学系に歪曲収差が存す心と一次像面
上の任意の二点間距離とそれに対応する二次像面上の二
点間距離との比、即ち倍率が場所ごとに異なる。これを
具体的に例示すんと、第８図に示すように一次傅面検出
領域２人上の例えば中心点Ｐ１．右端点ＰＩ、左端点Ｐ
、は、凹面鏡１６４により二次像面検出領域９Ａ上の対
応点Ｐ１’ｍ　　Ｐｚ’）　　Ｐｇ’　　姓：夫々結１
球し、同様に、凹面鏡１６５により二次像面検出領域９
Ｂ上の対応点Ｐｌｂ　　Ｐｕｓ　　Ｉ’ｓ　　に夫々結
１殖する。点Ｐ１　　における任意の長さδ１は点Ｐ１
’、　　Ｐｌ　においては夫々異った長さδ１′、　　
δ１′　に写ｆｆｇζオｔ、同様に点Ｐ２、Ｐ、におけ
る長さδ！、　δ１は１点Ｐ鵞′。

Ｐへ及（Ｊ　貯ｋＰ　ｓ’　において夫々異った長さδ
、′、　　δ−１及びδ８′、　　δ−に写１尿さ７’
Ｌる。図倍率が大きくなっている。そこで、この様な歪
曲収差の影響を除去するために、二次職９Ａ。

９Ｂを夫々検出する光電素子アレイの各受光素子のピッ
チをその光電素子の対応検出域の倍率即ち歪曲量に応じ
て変化させ、１次１象面上での両光電変換素子アレイの
空中１象が完全に亜なゐようにすルばよい。この様な光
電素子アレイを第９図に示す。同図において二次像９Ｎ
を検出する光電素子アレイＰ　Ａ、は光電素子、のピッ
チを中心位置の受光素子ｑＯより右方において太きくシ
、二次１１９　Ｂ　？！−検出する受光素子アレイＰＡ
ｍについてはその逆になっている。

ｆＬ＞ｂ４曲収差は、本発明のフィールドレンズを含み
凹面鏡使用の焦点検出装置に限らず、第１図に示した再
結像レンズ使用の焦点検出装置に関しても全く同様に問
題となる。従って上述の光電素子アレイの光電素子のピ
ッチを二次像の局部的倍率に応じて変化させ、１次漣面
上で２つの光電素子アレイの空中１象が完全に重なるよ
うにすることは、第１図の焦・点検出装置にも極めて有
効である０ 次に、フィールドレンズから一対の凹面鏡まで、及び凹
面鏡から光電装置までを屈折率ｎの透明媒質によって充
填したことの利点を第２図の焦点検出光学系との比較に
より説明する。両者の比較を容易とする為に本実施例の
反射型焦点検出光学系の構成を原理的には同一性を保ち
ながら単純化した＄１０図の光学系と第２図の光学系と
を比較する。特開昭４７−１３２８２及び特開昭５４−
１５０２５　？ｔ２載の反射再結像光学系においては第
２図（０１のごとく再結像光学系を用いる時には再結像
光学系がレンズであるが凹面鏡であるかにかかわらず、
１次焦点面近傍にフィールドレンズを向くことは不可欠
の構成要素となるので１４２図（Ａ＋、　（Ｂｌ第１Ｏ
図（Ａ１．　ｔＢｌではフィールドレンズＬ鵞を許めた
形で図示している。

まず第２図の反射光学系の構成を簡単に説明する。第２
図は）及び（Ｂｌは夫々正面図、平面図であシ、再結像
光学系は１次Ｉ＃面近傍に設置されたフィールドレンズ
と１次１ｗ面からＬだけ離れた所に設けらｔした一対の
曲率半径りの凹面鏡８Ａ、８Ｂから成る。１次像面検出
％域２Ａの中心と各凹面鏡の中心と２次ｆ象面検出領賊
９Ａ。

９Ｂの中心とのなす角度即わち振ｎ角が共に２９となる
様に互いに逆方向に傾斜さ１１でいる。

続いて第１０図の反射型光学系の構成を簡単に説明する
０第１０図ＩＡＩ及び第１０図（Ｂｌは夫々正面図、平
面図であ夛、屈折率ｎの直方体状透明ブｏツクＴＢＫは
七の一端面にフィールドレンズＬｍが形成さｔｌこの端
面に対向する端面に一対の曲率半径りの凹面鏡Ｍｃ、Ｍ
ｄが形成さｔている。各凹面鏡Ｍｃ、Ｍｄは、上記実施
例と全く同様に一次録面検出領域２人の中心と各四ｍｊ
鏡の中心と二次像面検出領域９Ａ、９Ｂの中心とのな−
ｒ角度即ち撮扛角が共に２ψとなる様に、互に逆方向に
傾斜さ扛ている。

第２図と第１０図の条件を揃える為に１両図において一
次録面２人とフィールドレンズＬ。

の頂点の接平面とが共にほぼ一致しており、−次像面２
Ａから再結像光学系８Ａ、８Ｂ、Ｍｃ。

Ｍｄまでの距離が共に等しくＬであシ、かつ検出に用い
る光束の広がりも共に等しくσＴ１θＳであるとする。

第１１図に、撮影レンズ１　ｃｔ６）射出画１００と、
その内部の焦点検出に用いる瞳部分１００Ａ、ｌ０ＱＢ
との関係を示す。瞳部分１００Ａτ通過した光束が再結
像光学系８　Ａ　ｂ又はＭ　ｃに入射し、瞳部分１００
Ｂの通過光束がＰ′ｇＡ−δ像光学系８Ｂ％又はＭｄに
入射するｎｃｎらの瞳部分１００Ａ、１００Ｂの明、６
す（Ｆ値Ｊ金、１１竜部分の並びの方向Ｘに虜１してＦ
Ｔとし、その垂直方向ｙに関してＦｓとすると、こ）ｔ
らの明るさｐｒ、Ｆ’ｓ（！：第２図、第１０図の検出
に用いる光束の広がり角度θＴ、Ｉｓとの関係は以下の
通りである。

θＴ＋１／ＦＴ　、　　　θｓ＝ｌ／Ｆｓまた。第２図
（Ａ１、εＲ１０図（５）に７Ｊ’：　７４−ように検
出光束θＴの中心と撮影レンズ１の元軸０とのなす角度
ｔθ０とする〇 以上の如き条件の数回の下で、第２図と第１０図の焦点
検出光学系ＶＣよめ二次（象の良否を検討すゐ〇 再結像光学系８　Ａ　、　８　Ｂ　、　Ｍ　ｃ　、　Ｍ
ｄの球面収差、コマ収差、非点収差Ｖよ、再結像光学系
の有効口径と一次ｆ剰休出領域２Ａの中心とのなす広が
り角θ（θ１θ−１θ♀、θ２）に応じて大きくなり、
具体的Ｖこは１球面収差はθ”に、コマ収差は０３に、
非点収差はθに夫々比例して増大する。また−次像面２
人に対して、可納１象光学系へ元軸が垂直でなく、傾い
でいるので、この傾き角が大きくなるにつｎて、二次像
は劣化する。換盲すると、この傾き角は、そ几ぞ扛開角
θへ　０８に等しいので、開角が大きくなるに伴い二次
１象が劣化する０ そこで、第１図と第１０図とについて広が９００の検出
光束がフィールドレンズＬｖ　ｋ通過して夫々、同一角
度θＴ、θＳ１　θ０−で再結像凹面鏡８Ａ、８Ｂに入
射する。従ってこの峻５合の再結像凹面鏡に関する広が
り角θ譬、θｔはθ）＝θＴ、θｔ＝０８であ）開角θ
′０はθｂ＝００である。他方、第１０図の凹面鏡ブ０
学系ではフィールドレンズＬ、から再結像凹面鏡Ｍｃ、
Ｍｄまでの壁間が屈折率ｎの媒質で充填さ牡ているので
、凹面鏡の入射側の光束の広が９角度は１　／　ｎに減
少し、Ｘ方向及びｙ方向の広がシ角θＴ、θＳ及び、開
角θ０は夫々以下となる。θＴ＝θＴ　／　ｎ　）θ、
＝θｓ’／　ｎ、θ０＝θＵ　／　ｎ　Ｏこのように、
第１０図の再結像光学系は第２図のそｎに比べて広がり
角及び開角が夫々１　／　ｎとなるので、再結像光学系
の結像性能が著しく向上する。更に第１０図の光学系は
光束の広が９が１／ｎに、なるため再結像光学系の容積
も大幅にコンパクト化できると共にフィールドレンズ、
凹面鏡光電装置を透明ブロックに直接固足できる為に位
置合せ精度上又は堅牢さの点でも優ｔしている０更にま
た屈折率りの透明媒質で焦点検出光学系の光路と充填す
ることによシ凹面鏡の寸法ＢＴ、Ｒｓ即ち径を充填しな
いときの径に比べて１　／　ｎ　Ｉ／こ減少できる。詳
述すると、凹面鏡の径１（Ｔ、ｌ（ｓは屈折率ｎの媒質
全充填しな１時、夫°々ＲＴ＝Ｌ・θＴｂ　　＝１（’
Ｆ　　Ｒｓ＝Ｌａθｓ　＝　Ｒ？　であるのに対して、
充填するとＲＴ＝Ｌ・θＴ＝Ｌ・θＴ／　ｎ＝ＢＴ、　
　　Ｒｓ＝Ｌ　　拳　θ　ｓ＝Ｌ＊　　θ　ｓ　／　　
ｎ　　＝ＩＩｓとなる。この様に凹面鏡の径を小さく出
来ることは、（４）式又は（５）式から、非点収差Ｌｓ
ＡＴを小さくできる事を意味し、また（方式からは同一
非点収差量に対して振ル角を大きく定め得る事を意味す
る。

ここで、屈折率ｎの透明媒質で光路を充填した反射型焦
点検出光学系を第３図の如く一眼レフカメラのミラーボ
ックス底部に収容するときの寸法値の一例全以下に示す
。

Ｆｓ＝６、ＦＴ＝８とし、ｎ＝１．８．Ｌ＝４０藺とす
ると凹面鏡の寸°法ＲｓＲＴはＲｓ＝Ｌ／（ｎＦｓ）”
３．７ｍ、ＲＴ＝Ｌ／　（ｎＦＴ）”２、８　ｍとなる
。また振ｎ角２１：２９’＝０．０２５×２ラジアンと
すると、このとき、二次像面検出領域の中心での非点収
差量ＡｍはＬ　ｒｎ　＝’　２・Ｂｍ・ψ”　＝０−０
０４６貼となり極めて小さい。

−次床面検出領域の長さＬ　ｗ　ｆ　Ｔ、　ｗ　＝　４
　ｙｘとしたときのその端部での非点収差ｉｔｍはＬ　
ｍ　＝２・Ｒｍ（ψ８＋（ユニ）”）＝０．０２３Ｉｕ
Ｉと２Ｌ なシ、やはり非常に小さい〇 もしこのように高屈折率媒質を用いず、第２図のように
媒質を空気ｎ　”　ｌとし他の条件Ｆｓ＝６、ＦＴ＝ｇ
、ｎ＝４０顛、ψ＝０．０２５は等しくと季た場合の非
点収差量ｔｍはそ扛ぞ１前のｎ　＝　１．８の例の場合
の１．８倍と大巾に増大する０さらにこの条件で第５図
に相当する光路図を書いてみると、ｎ＝１の場合には光
束の広がシ巾θが広いので、第５図の反射面１６３の位
置では光束が重なシ合って分離できず、実際にはψ’ｉ
０．０２５よりさらに大きな値にとらねばならず、従っ
て収差量はさらに増大することになる０さらにまた振ｎ
角２ψが増大する事は第５図ＩＥＩの２次像面検出領域
（２つの検出光電変換素子アレイ）１６７．１６８の間
隔が離ｎる事になりこ：ｒｔはＩＯチップサイズの増大
を招く事からも好ましくない〇 この様にフィールドレンズから凹面鏡面さら（９）、０
０式及びａｌｐ、　ａ４）、　０５１式を満足するより
よい解を見い出すための重要な条件であ）Ｓこ扛によっ
て収差性能の良いコンパクトな再結像光学系の実現が可
能となる。

次に本発明の第２実施例を説明する。

第１２図において、屈折率ｎの直方体状透明ブロック１
７０には第５図と全く同様にフィールドレンズ１６１が
貼付さｔ″Ｌ１その上に開口付遮光板１６２が配置さ扛
ている。ブロック１７０ノ内部であってフィールドレン
ズ１６１の直下の一部領域には反射部材１７１が斜設さ
扛ている０この様な反射部材１７１０作Ｒは、第１実施
例の反射部材１６３と同様にブロック１７０をこの反射
部材１７１に沿う面で分利してその露出面に反射面を形
成すｎばよい。ブロック１７０の一端面に設置さｎた凹
面鏡ブロック１７２．１７３は、その反射面１７２　ａ
　ｈ　１７３ａがブロック１７０の中ｙ＋Ｊｂｉ７ψに
関して第１２図（０１において左右に対称でおる点及び
反射面の傾斜が凹方狗であるが、ぞの１頃斜の程度が反
射面１７３ａの方が反射面１７２ａよりも大きく設定さ
れている点以外は第５図の凹面鏡ブロックと同一である
０凹面鏡１７２．１７３は上述の如く傾斜しているので
、−次像面検出領域２人から反射部材１７１で反射さｆ
’ｌた光束を振ｎ角を夫々異にするが共に同方向に反射
偏向させて、夫々二次像面検出領域９Ａ、９Ｂ’ｉブロ
ツク１７０の他端に形成する０同一半導体チツブ１７４
上に形成さオＬｔ光電素子アレイ１７５．１７６は、夫
々二次像面検出領域９Ａ、９Ｂに一致する様にブロック
１７０に貼付さ几る０この様な構成であるので、本実施
例は凹面鏡１７３による振ｆ’Ｌ角が凹面鏡１７２によ
る振ｎ角より大きい尺め凹面鏡１７３による収差が悪化
すると共に、両二次像の同一性も低下するという問題が
生ずる反面、光電素子アレイ１７５．１７６を互に近接
して配置できこのためその半導体チップの寸法を小さく
できる利点がある０この第２実施例の変形例を第１３図
により説明する。同図において、開口付遮光板１６２が
ブロック１７０とフィールドレンズ１６１との間に配置
さｎ、フィールドレンズ１６１の頂点近傍に定めら７′
Ｌタ一次像面からの光束はフィールドレンズ１６１（ｉ
−通過し遮光板１６２により一次像面検出領域以外から
の光束を除いた後プルツク１フ０内の反射部材１７１に
入射する０凹面鏡ブロック１７２，１７３は互に逆方向
に傾斜さｔており、二次（張面検出領域９Ａ、９Ｂ全同
−直線上に形成する０光電装置１７５％１７６としては
、二次像面検出領域９Ａ、９Ｂに夫々対応する一対の光
電素子アレイ１７５．１７６を用いても、まｆｃ二二次
面面検出領域９八の光電素子アレイを用いてもよい。本
例では開口付遮光板１６２１’，Ｉフィールドレンズ１
６１とブロック１７０との間に設けらｆｌ．−次像面か
らかなｐｈｌｌ．′ｎｆｃ位置にある０この様に一部１
象面検出領域以外の光束を遮光する遮光板１６２は一部
）［面から少し離して配置することもできるＯ尚、以上
の直方体状透明ブロック１６０又は１７０の長手方向の
長さがカメラ内のスペースとの関係から長ずざる場合に
は、ｉ］、＝！図又は第１５図に示す様に光路と適宜折
りたたんだ構成にすることができる。

以上においては二次像面の結像倍率αが等倍（α＝１）
の場合、即ち二次像が一次像と同一の大きさであり、−
次像面から凹面鏡までの光路長と凹面鏡から二次（像面
までの光路長とが等しい場合であったが、結像倍率αは
ＩＫ限るものでなく、それ以上とすることも以下とする
ことも可能である。特にα〈１即ち縮小倍率にすると、
収差は等倍率に比べて畿分悪化するが、二次像面検出領
域の大きさが一次像面検出領域のα倍となシ縮小さｎる
ので、光電装置の半導体チップサイズケ小さくできる。

更に二次□□□面検出領域の照度が等倍率に比べてｌ／
α１倍も増大するのでｂｓ／Ｎｉ向上できる。

以下にこの様な縮小再結ｆ象光学系？用いた本発明の第
３実施例を説明する。

斜視図を示す第１６図及び正面図、平面図を示す第１７
図において、透明ブロック１８０は複数のプ０７り片１
８０Ａ、１８０Ｂ、１８００．１８０Ｄから成る。直方
体状ブロック片１８０Ａはその一端面に互に逆方向にｔ
Ｍ斜さｎた一対の凹面鏡ブロック１８１，１８２が接着
さ扛、他端面にブロック片１８０Ｂが接着さ几ている。

このブロック片１８０Ｂの上面はブロック片１８０Ａの
上面よシ突出しており、平凸のフィールドレンズ１６１
の平面が汲着さ牡てい６ｏこのフィールドレンズ１６１
の凸面の頂点近傍には開口付遮光板１６２が配置さｎて
いる。この遮光板１６２の開口１６２ａは一次像面検出
領域２Ａと実質的に一致している。プローツク片１８０
Ｂの底面はブロック片１８０Ａの底面に対して傾斜しか
つ突出している。このブロック片１８０Ａの底面にはそ
の中央部に反射面１８３が残部に迷光除去用光吸収面１
８４が夫々形成されている。この反射面１８３の寸法は
一次像面検出領域２Ａ１に辿った検出ブｅ束のみを反射
する大きさに定めら１してｈろ。三角柱状ブロック１８
０Ｃは、ブロック片１８０Ｂｋ挾んでブロック片１８０
Ａの反対ｆｕｌｌに位置する様にブロック片１８０Ｂに
接着さＲ’している。ブロック片１８０Ｃの斜面には中
央部に反射面１８５が、この反射面の両側に夫々光透過
部１８６．１８７がそして残りの部分に迷光除去用光吸
収面１８８が夫々形成さ扛ている。三角柱状ブロック片
１８０Ｄは、斜面がブロック１８０Ｃの斜面に接着され
、凹面鏡１８１，１８２ｆ／（：対向する面に半導体チ
ップ１８９が接着さｉｔている。

このチップ１８９には凹面鏡１８１．１８２の二次像面
検出領域９Ａ、９Ｂ全カバーする様に光電素子アレイ１
９０．１９１が形成さ−ｉしている０ この作用を述べる。

開口１６２ａからの光束は、ブロック片１８０Ｂの底面
の反射面１８３で反射さｊしてブロック１８０Ｃの反射
面１８５で更に反射さｎて凹面鏡１８１．１８２へ向う
。凹面鏡１８１，１８２で反射偏向さ１ｒＬ７′ｃ光束
は光透過部１８６，１８７を通２て二次像面検出領域９
Ａ、９Ｂに縮小二次像を形成する。

この様に、ブロック１８０Ｂの上面上方に一次像面検出
領域２Ａを冗め底面に反射面１８３を形成した。こｎに
より一次像面検出領域からの光束が、凹面鏡１８１，１
８２と光電装置１９０とを結ぶ空間全完全に横切った後
、反射面１８３に入′射することになり、−次像面検出
領域２人から凹面鏡までの光路を長くしている０こうし
て、ブロック１８０の外形形状を余ｐ複雑化することな
く、−次像面検出領、賊から凹面鏡までの光路長ケ、凹
面鏡から二次像面検出領域までの光路長よシも大きくで
きる。また本実施例では、他の実施例に比べて迷光の発
生を極めて効果的に抑制できる利点がある。詳述すると
１例えば、第５図の実施例では反射面１６３ａの周囲に
は光吸収面１６３ｄのみが存在するのではなく光透過部
１６３ｂ、１６３ｃも存在するので、迷光の発生防止は
完全ではない。他方５本実施例ではブロック片１　ｓ　
ｏ　Ｂ（７）底面ｕ反射面１８３以外はすべて光吸収面
１８４であるので、迷光を充分に除去できる。

なお、上述の第１実施例のように透明ブロック１６０，
１７０，１８０の外形状を直方体の如く柱状とし、第３
図に示す様にこの透明ブロックの長手方向が一眼レフカ
メラのフィルム囲１３とほぼ平行になる様に、カメラの
ミラーボックス底部に配置す扛ば、カメラの大型化ケ招
くことがないという利点がある。

以上の実施例はいずｎも一部ｒ段面をフィールドレンズ
の頂点の接平面とほぼ一致させること及びフィールドレ
ンズから凹面鏡までとこの凹面鏡から光電装置までの光
路をすべて屈折率ｎの透明媒質で充填すること、という
２条件を実質的に充足するものであった。しかしながら
。

焦点検出光学系上収容するカメラの如き光学機器との関
係等から反射型焦点検出光学系□が上記２条件を充分に
は満足できない場合があシ得る〇そこで次に上記２条件
の許容量全説明する。

第１８図ｆＡＩは上記２条件を満足した場合の一次像面
検出領域２人と、フィールドレンズＬ。

と、ハツチングを付した屈折率ｎの透明媒質と。

凹面鏡Ｍ　ｅ　、　Ｍ　ｆ及び凹面鏡に関して１次１象
面と共役な二次像面検出領域９Ａ、９Ｂとの位置関係を
示す。第１８図ＩＢＩば、フィールドレンズＬｘから一
次像面検出領域２Ａ″ｆ：距離Δ２だけ前方へ離したも
のである。この距離△Ｚは一眼レフカメラ用の焦点検出
装置であって焦点検出光束の広がυ（第１１図破線の円
〕がＦ４程度ならば結像性能上約８寵以下であることは
必須であシ、約４１１ｘ以下であ扛は、かなりよく、約
２ｕ以下であ扛ば実質上問題はない。第１８図（Ｃ１は
光電変換装置を透明媒質のブロック端面から離さなけｎ
ばならず、この為に、第１８図（Ａｔ又は（Ｂｌの二次
像面検出領域のブロック端由ｉからブロック？長さｔｌ
だけ削除したもので、こｎにより二次像面検出領域９Ａ
、９Ｂはこの新たなブロック端面からｔ、＝ｔ、／ｎ　
　の位置に形成さｊＬること？示している。この場合も
１．が紬程度までは許容でき、約４Ｕ以下であｎばかな
りよく２藺以下であ几ば実質上問題はない。第１８図（
Ｄｌは、媒質ｎの端面から二次像面検出領域９人、９Ｂ
との間に屈折率ｎとは異った屈折率ｎｇの媒質ｎｇｋ充
填した例である。両媒質ｎ、ｎｇの界面から二次１象面
９Ａ、９Ｂ壕での距離ｔ１は　へ＝　ｔ４　Ｘ、ｎ　ｇ
／　ｎ　　（！：なる。この様に媒質ｎｇｋ充填した場
合は、しない駅１合より結１象性能の劣化が少なく、し
ない場合の収差の悪化の程度ゲ１とすると充填した場合
１１およその目安として悪化の程度は（（ｎ’／　ｎｇ
）　”　−１）／（ｎ”−１）に減少する０　逆ｖｃＢ
えば媒質ｎｇで充填する場合としない」Ｉ′１合とで結
１↑性能を同程度とすると、充填した場合の長さｔｌは
しない場合の１１のおよそ（ｎ”　　ｌ］／（（ｎ　／
　ｎｇ）’　−１）倍にできる。第１８図１Ｉｌｉｌｉ
ｌＶよ、第１８図ＩＡＩに示す如く媒質ｎの一部をその
途中から長さ１．にわたりて切り除き、そこに屈折率ｎ
ｇの媒質ヶ充填した例である。このときの媒質ｎｇの長
さｔ；はｔ’ｌ　：　ｔＩ　Ｘ　ｎ　ｇ／　ｎとなる。

この場合は上述と同様に、この媒質ｎｇを空気とした場
合の上述の媒質ｎの切出ｉｔ□は結像性能上駒８ＭＪ１
以下であることが必要であ夛、約２１１ｘ以下であｎば
、実質的に問題はない。

もちろん、この場合も、ｎｇ＞ｌの媒質？用いた場合に
はｎ　ｇ　：　ｌの場合に比べて結像性能の劣化は前述
と同様の程度少ない、 この様に一次像面近傍から一対の凹面鏡を介して二次ｆ
段面に至る光路を充填する屈折率ｎ（ｎ　＞　１　）の
媒質の一部ｆｆ：１屈折率ｎｐ（ｎｇ≧１）の媒質で欣
換できることは、上記媒質で充填した焦点検出光学系の
作製を現実的なものとする。

冑、第１８図は凹面鏡の結像倍率αが１の例であるが５
倍率αが１より小さい場合にも同様である。ただし、乙
の縮小倍率の場合には、その許容量ｔ１は等倍（α＝１
）の場合より小さくなる。

なお特開昭５４−１５０１２５の反射再結像光学系にお
いては凹面鏡部材の形状を半円形としており、本発明に
おいても半円形とする事は可能である。しかし本発明の
説明図において、凹面鏡部材の形を半円形せずに第１１
図に示すととくぞ♀撮影レンズ射出瞳への投影＠　１０
０Ａ、１．００Ｂの各々が左右対称形にしたのはこの方
がボケ味が素直でボケた状態での雨検出素子アレイ上の
像のボケ味がほぼ等しく検出精度の向上につながるから
である。又この片方の射出瞳部分の開口の部分を１その
他？０として決る画形状′（ｉ−表わす関数２ｒ（ｘｂ
ｙ）としてこのｙ方向に関して積分した関数’ｚ　ｆ　
（ｘｌ＝　ｆ′″′ｆ（Ｘｂ＞’）ｄ）’　とする時、
ｆ（ｘｌ金フーリエ変換し几関数Ｆ（ｆｆｘｌ）が大き
なセカンドピークを持たないようにｆ　Ｊｘｉを決める
事はセカンドピークの存在にともなう偽解ｆ’ｌｋ押さ
える事になり焦点検出の誤動作の要因？減少させる事に
つなが／ｂｏその意味でも第１１図図示のような射出瞳
部分形状であ７ｔばｆ　（ｘｉの形は台形となりＦ（ｆ
（ｘｉ）のセカンドピークは抑圧感ｎて都合がよい。こ
の場合ｆ　（ｘｌの形状を台形に近似したとして（台形
の上底）≦（台形の下底）／２であｎはかなりの効果が
認めらｎる。

以上の説明から明らかなように、−次像面検出領域の中
心からの光線の、一対の凹面鏡の中心への入射角が夫々
的、１０．０４／ｌ（以下となる様ニ、凹面鏡の傾きを
定めるので、凹面鏡の傾きに大きく影響を受ける非点収
差全充分に抑えることができ、高精度の焦点検出が可能
となる。

また、凹面鏡の使用によシ、焦点検出光学系号コンパク
ト化できるが、−次像面検出領域近傍から凹面＠を介し
て二次像面検出領域に至る光路を、所定の間隙の存在を
許容して、屈折率ｎ（ｎ＞１）の透明媒質で充填した場
合には、一層コンパクトにできかつ凹面鏡の径も綿小で
き、更に焦点検出光学系の結１象性能を大幅に向上でき
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の再結像レンズ使用の焦点検出光学系の配
置図、第２図は、従来の再結像凹面鏡使用の；憔点元学
糸の配置図、第３図は本発明の一実施例の焦点検出装置
全一眼レフカメラに収納した状態を示す斜視図、第４図
及び第５図（Ａ）、　（Ｂｌ、　（０１，ｉｌ＋ｌ、（
ｇ＋は上記実施例の斜視図、平面図、正面図、底面図、
右側面、左ｌ＃１１１面図、第６図は一対の凹面鏡の作
製法を説明する為の正面図と平面図、第７図は凹面鏡の
非点収差金示す光学図、第８図は二次像面検出領域の歪
曲収差を示す説明図、第９図は上記歪曲状差金考慮した
充電素子アレイの正面図、第１０図Ｑｉ、上記実施例の
光学的特長を示す為に、光学的構成ケ単純化した光学図
、第１１図は撮影レンズの射出瞳と焦点検出光束の通過
・領域との関係を示す図、第１２図（５）、　（Ｂｌ、
　（ＣＩ、（Ｄｉ及び第１３図ｆＡＩ、ＩＢＩ、　（Ｃ
１、（Ｉ））は夫々第２実〃１肘シ１１及びその変形例
の平面図、正面図、右側面図、左側面図、第１４図及び
第１５図は共に透明ブロックの変形例を示す平面図、第
１６図及び第１７図ｔＡ’　ｂ　（Ｂ）は夫々第３実施
例の斜視図、平面図、正面図、第１８図は透明ブロック
に空隙又は他の媒質を設は得ることを説明する光学図で
ある。 １・・・・・撮影レンズ、２・・・・・・予定焦点面２
人・・・・−次像面検出領域、９Ａ、９Ｂ・・・・・二
次像面検出領域％１６４，１６５．１７２％１７３．１
８１．１８２・・・・凹面鏡、１６７．１６８．１７５
．１７６．１９０１１９１・・・　光電素子アレイ 出願人　日本光学工業株式会社 代理人　渡辺隆男 第２閑 矛３図 千４凶 ３６− 矛ｑ区 ″Ａ７１０囚 す１６区 矛１７０ ＝３８− ″Ａ７７８区

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ｔｘｔ　　焦点検出される結１象光学系の予定焦点拘の
   後方に配置さｆ″Ｌ１この結像元学糸によって上記予定
   焦点面上の所定検出領域内に形成σｎた一次１＃ケ再結
   像し、１５＋−の一対の二次源？作成する一対の再結像
   凹面鏡と、上記一対の二次像の相対的位置音検出する）
   ′ｅ観手段とを具備し、上記一対の凹面鏡は上記二次像
   が上記−次像と空間的に重り合わない様に所定角度傾斜
   はれている焦点検出装置において、上記所定検出領域の
   中心からの光線の、上記各凹面鏡の中心への入射角（ラ
   ジアン単位）が。 共に約Ｊ３（Ｒは凹面鏡の最大径で 単位はり）以下となる様に、上記各凹面鏡の傾斜角？定
   めること？特徴と量る焦点検出装置。 （２）　　上記各入射角が共に約Ｊ０．０２／）Ｌ以下
   であること＋Ｉ″ｔ＃徴とする特許請求の範囲第１項に
   記載の焦点検出装置〇 （３）上記各入射角が共に約ｖ１０．０１／Ｒ以下であ
   ることケ特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の焦点
   検出装置。 （４）上記所定検出領域から上記一対の凹面鏡ケ介して
   上記一対の充電装置１での光路ケわずかの間隙ケ許容し
   て、屈折率ｎｕｎ＞１１の透明媒質で充填すること？特
   徴とする特許請求の範囲第１墳、第２Ｉ項又は第３項に
   記載の焦点検出装置。