JPS5940143A - 防塵マスクのろ材性能試験方法 - Google Patents
防塵マスクのろ材性能試験方法Info
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- JPS5940143A JPS5940143A JP14926182A JP14926182A JPS5940143A JP S5940143 A JPS5940143 A JP S5940143A JP 14926182 A JP14926182 A JP 14926182A JP 14926182 A JP14926182 A JP 14926182A JP S5940143 A JPS5940143 A JP S5940143A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/08—Investigating permeability, pore-volume, or surface area of porous materials
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- Dispersion Chemistry (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、防塵マスクにおけるる材の性能を、大気中の
浮遊微粒子を用いて試験するための方法に関する。
浮遊微粒子を用いて試験するための方法に関する。
防塵、防毒マスクの性能試験方法はJ工Sに規定され、
これに基づいて国家検定基準が定められているが、実際
にマスクの着用者がマスクを使用したときの面体の密着
状態や弁の作動状況、ろ材の性能劣化などによる交換が
正しく行われなければ、その効果は半減する。
これに基づいて国家検定基準が定められているが、実際
にマスクの着用者がマスクを使用したときの面体の密着
状態や弁の作動状況、ろ材の性能劣化などによる交換が
正しく行われなければ、その効果は半減する。
しかし、最近ではマスクマンテスト、フィツトテストと
してマスクの総合的な漏れ率、防護係数などの評価で自
主管理、教育指導が必要とされ、国内においても検討が
進められている。
してマスクの総合的な漏れ率、防護係数などの評価で自
主管理、教育指導が必要とされ、国内においても検討が
進められている。
口こて、防塵マスクに使用されているる材の性能試験用
粒子としては、一般に石英粒子やDOP粒子が用いられ
ているが、DOP粒子は発がん°姓の疑いがあり、試験
用粒子としては好ましくない。
粒子としては、一般に石英粒子やDOP粒子が用いられ
ているが、DOP粒子は発がん°姓の疑いがあり、試験
用粒子としては好ましくない。
ただ、ろ材の性能試験に使用する試験用粒子としては、
I7.QP粉粒子ように、より均一で単分散に近い粒子
を選定することが必要条件といえるが、粒子発生装置な
どが組合わされると試験装置全体が大型となり、現場測
定用としては適用され難し)。
I7.QP粉粒子ように、より均一で単分散に近い粒子
を選定することが必要条件といえるが、粒子発生装置な
どが組合わされると試験装置全体が大型となり、現場測
定用としては適用され難し)。
本発明は上記課題を解決するため、種々の粒径の粒子が
含まれた一般環境中の大気を、ろ材の上側から下側へ通
過させて流し、同一条件で吸引されたろ材の上、下両側
の各大気中から、それぞれ光散乱波高選別方式によって
、試験に必要な粒径の単分散に近い粒子のみを選別測定
し、これら選別された各粒子の粒子数を比較すること番
こより、ろ材の性能を評価しようとするもので、試験装
置の吸引口から吸引させた浮遊微粒子を含む環境中の大
気の一部を、光散乱波高選別測定機構が備えられた一方
の検出器へ、残部を被検体であるろ材を通過させたのち
、上記同一機構を、備えた他方の検出器へそれぞれ等速
で吸引させることGこより、各検出器によって同一特定
粒径の微粒子を選bi1計測させ、これら両検出器によ
り計測された微粒子量を比較することにより、防塵マス
クのる材の性能を試験することを特徴とする。
含まれた一般環境中の大気を、ろ材の上側から下側へ通
過させて流し、同一条件で吸引されたろ材の上、下両側
の各大気中から、それぞれ光散乱波高選別方式によって
、試験に必要な粒径の単分散に近い粒子のみを選別測定
し、これら選別された各粒子の粒子数を比較すること番
こより、ろ材の性能を評価しようとするもので、試験装
置の吸引口から吸引させた浮遊微粒子を含む環境中の大
気の一部を、光散乱波高選別測定機構が備えられた一方
の検出器へ、残部を被検体であるろ材を通過させたのち
、上記同一機構を、備えた他方の検出器へそれぞれ等速
で吸引させることGこより、各検出器によって同一特定
粒径の微粒子を選bi1計測させ、これら両検出器によ
り計測された微粒子量を比較することにより、防塵マス
クのる材の性能を試験することを特徴とする。
別紙図面について、本発明の試験方法を、その試験方法
に使用される装置例と共もこ説明する。
に使用される装置例と共もこ説明する。
第1図において、ろ材1が着脱自在に載置されるロート
状のろ材保持具2は、その下周縁に0リング3が取りつ
けられており、有底円筒状のホルダー4内に気密に嵌入
されると共に、このホルダー4には、有頭円筒状のホル
ダーカバー5が密接に着脱自在に嵌合される。
状のろ材保持具2は、その下周縁に0リング3が取りつ
けられており、有底円筒状のホルダー4内に気密に嵌入
されると共に、このホルダー4には、有頭円筒状のホル
ダーカバー5が密接に着脱自在に嵌合される。
ホルダーカバー5の上面には、環境中の大気を吸引する
ための吸引ノズル6が設けられており、ホルダー4の下
面には、連結管7を介してバックアップフィルター8と
、流量計9と、コントロールバルブ17と、吸引ポンプ
18が上記順序に連結されている。 上記吸
引ノズル6には分11flOが設けられ、バックアップ
フィルター、流量計、吸引ポンプ(図示せず)が内蔵さ
れている上流側検出器11と連結され、ホルダー4とバ
ックアップフィルター8間の連結管7より導出された分
岐管工2は、上流側検出器11と同様の構成からなる下
流側検出器13に連結されている。
ための吸引ノズル6が設けられており、ホルダー4の下
面には、連結管7を介してバックアップフィルター8と
、流量計9と、コントロールバルブ17と、吸引ポンプ
18が上記順序に連結されている。 上記吸
引ノズル6には分11flOが設けられ、バックアップ
フィルター、流量計、吸引ポンプ(図示せず)が内蔵さ
れている上流側検出器11と連結され、ホルダー4とバ
ックアップフィルター8間の連結管7より導出された分
岐管工2は、上流側検出器11と同様の構成からなる下
流側検出器13に連結されている。
ここで、上記両検出器11.13としては、光の散乱が
パルス状電気信号に変換され、そのノくルス波高値が識
別されて粒子の直径が選別され、力)つ”その選別され
た粒子径の任意の粒子が選択できるように、測定粒径選
択レンジ(図示せず)力(備えられた公知の光散乱波高
値選別測定機構を有する検出器が用いられる。
パルス状電気信号に変換され、そのノくルス波高値が識
別されて粒子の直径が選別され、力)つ”その選別され
た粒子径の任意の粒子が選択できるように、測定粒径選
択レンジ(図示せず)力(備えられた公知の光散乱波高
値選別測定機構を有する検出器が用いられる。
上記、上下両検出器11.13の出力側Gま、演算処理
機構14を介して表示器15昏こ連繋され、こ史演算処
理部で上、下両検出器11.13で31湿りされたパル
ス数が比較され、その百分比力く後述のブランク値と共
に演算処理されると共番こ、その処理された値が表示器
15にデジタル表示される。
機構14を介して表示器15昏こ連繋され、こ史演算処
理部で上、下両検出器11.13で31湿りされたパル
ス数が比較され、その百分比力く後述のブランク値と共
に演算処理されると共番こ、その処理された値が表示器
15にデジタル表示される。
図中、16は両分肢管10.1:lこ亘って跨設された
差圧計である。
差圧計である。
本実施例装置を用いて防塵マスクのる材の性!試験を行
うには、まず、ろ材1をろ材保持具2Gこ載せない状態
でろ拐保持具2をホルり−4&こセ゛ノトシ、ホルダー
カバー5を嵌合し、吸弓1ポンプ18を作動させて浮遊
微粒子が含まれてしする環境11の大気を吸引ノズル6
から吸引させ、JIS4こより規定されたマスクろ材の
通気抵抗試験Gこ従って規定の流速に調整する。
うには、まず、ろ材1をろ材保持具2Gこ載せない状態
でろ拐保持具2をホルり−4&こセ゛ノトシ、ホルダー
カバー5を嵌合し、吸弓1ポンプ18を作動させて浮遊
微粒子が含まれてしする環境11の大気を吸引ノズル6
から吸引させ、JIS4こより規定されたマスクろ材の
通気抵抗試験Gこ従って規定の流速に調整する。
つぎに、上流側検出器11および下流側検出器13に内
蔵された吸引ポンプを作動させ、両吸引ポンプの吸引速
度が等速になるように調整して吸引を続け、それぞれの
検出器11.13の測定粒径選択レンジを同一に設定す
ると、各検出器IL13における感度差や流路条件等が
ブランク値として演算処理機構14により演算処理され
る。
蔵された吸引ポンプを作動させ、両吸引ポンプの吸引速
度が等速になるように調整して吸引を続け、それぞれの
検出器11.13の測定粒径選択レンジを同一に設定す
ると、各検出器IL13における感度差や流路条件等が
ブランク値として演算処理機構14により演算処理され
る。
この演算処理機構が備えられていない場合は、各検出器
11.13の計測値を記録しておく。
11.13の計測値を記録しておく。
つぎに、ホルダーカバー5を取りはずし、被試験体のろ
材1をろ材保持具2の上部に載置し、再びホルダーカバ
ー5を嵌合し、上記各吸引ポンプによる吸引を続けさせ
ると、吸引ノズル6から吸入された浮遊微粒子を含む大
気の一部は、分岐管10より上流側検出器11へそのま
まの状態で導入され、大気中の微粒子中、選択レンジで
選択された粒径の微粒子数のみが上流側検出器11で計
測されたのち、県外へ排出される。
材1をろ材保持具2の上部に載置し、再びホルダーカバ
ー5を嵌合し、上記各吸引ポンプによる吸引を続けさせ
ると、吸引ノズル6から吸入された浮遊微粒子を含む大
気の一部は、分岐管10より上流側検出器11へそのま
まの状態で導入され、大気中の微粒子中、選択レンジで
選択された粒径の微粒子数のみが上流側検出器11で計
測されたのち、県外へ排出される。
一方、ホルダー4中のろ材1を通過した大気の残部中の
一部は、分岐管12から下流側検出器13へ導入され、
上流側検出器11と同様に、同一粒径の微粒子数のみが
計数されたのち、該大気も系外へ排出される。
一部は、分岐管12から下流側検出器13へ導入され、
上流側検出器11と同様に、同一粒径の微粒子数のみが
計数されたのち、該大気も系外へ排出される。
下流側検出器13へ吸引されなかった残余の大気は、バ
ックアップフィルター8によりすべての粒子が捕集され
たのち、流量計9、コントロールバルブ17を通って吸
引ポンプ18により系外へ排出される。
ックアップフィルター8によりすべての粒子が捕集され
たのち、流量計9、コントロールバルブ17を通って吸
引ポンプ18により系外へ排出される。
このようにして雨検出器11.13により計数された両
数値は、演算処理機構14により比較され、ブランク値
の補正と同時に上流側検出器11番こよる微粒子のカウ
ント数に対する下流側検出器13&こよる微粒子のカウ
ント数の百分比が、表示1154こデジタル表示され、
ろ材1の性能試験の結果が得られる。
数値は、演算処理機構14により比較され、ブランク値
の補正と同時に上流側検出器11番こよる微粒子のカウ
ント数に対する下流側検出器13&こよる微粒子のカウ
ント数の百分比が、表示1154こデジタル表示され、
ろ材1の性能試験の結果が得られる。
また、演算処理機構14が備えられていなし)場合の測
定後の結果は、次式によって行われる。
定後の結果は、次式によって行われる。
n:集塵効率
D1=環境大気中の特定微粒子のカウント数り、: ろ
材通過後の特定微粒子のカウント数Aニブランク値、ろ
材のないときのDI/D。
材通過後の特定微粒子のカウント数Aニブランク値、ろ
材のないときのDI/D。
(1)式は、下流側検出器131台のみで計測する場合
の計算式であり、はじめにろ材1をろ材保持具2に入れ
ない状態で環境大気中の特定微粒子数り、を計測し、つ
ぎにろ材保持具2にろ材1を入れた状態で特定微粒子数
D2を計測して、両計測値から(1)式により環境大気
中の特定微粒子数に対するる材1通過後の大気中の特定
微粒子数の百分比、すなわちろ材1の性能試験の結果が
得られる。
の計算式であり、はじめにろ材1をろ材保持具2に入れ
ない状態で環境大気中の特定微粒子数り、を計測し、つ
ぎにろ材保持具2にろ材1を入れた状態で特定微粒子数
D2を計測して、両計測値から(1)式により環境大気
中の特定微粒子数に対するる材1通過後の大気中の特定
微粒子数の百分比、すなわちろ材1の性能試験の結果が
得られる。
この場合、操作は簡易であるが、時間的な濃度変動(粒
度変動)が大であると、誤差を生じることになる。
しかしながら、特定微粒子の定性的評価を目的
とした防塵マスクのろ材1の交換確認の検査には充分で
ある。
度変動)が大であると、誤差を生じることになる。
しかしながら、特定微粒子の定性的評価を目的
とした防塵マスクのろ材1の交換確認の検査には充分で
ある。
(2)式は、上流側検出器11と下流側検出器13の2
台の検出器で特定微粒子を定量的に計測する場合の計算
式であり、ろ材1がろ材保持具2に入れられた状態で上
流側検出器11と下流側検出器13により同時に特定微
粒子数へ、烏を計測して、はじめに記録しておいたブラ
ンク値と共に両計測値から(2)式により上記同様にし
て、ろ材1の性能試験の結果が得られる。
台の検出器で特定微粒子を定量的に計測する場合の計算
式であり、ろ材1がろ材保持具2に入れられた状態で上
流側検出器11と下流側検出器13により同時に特定微
粒子数へ、烏を計測して、はじめに記録しておいたブラ
ンク値と共に両計測値から(2)式により上記同様にし
て、ろ材1の性能試験の結果が得られる。
ここで、特に環境大気中の粒子中、特定単分散微粒子を
選択するために、光散乱波高選別測定機構を用いたのは
、たとえば、環境大気中に浮遊する微粒子の粒度分布が
、第2図(A)の状態にあるとすると、光散乱波高選別
の原理に基づき、光信号をパルス状電気信号に変換し、
校正用粒子(ポリスチレンラテックス)による電気信号
との校正を行うと、第2図(B)のような粒子径別の出
力となるから、任意に分離された各レンジの粒径は、第
3図(0)に示すように、(A)の巾広い分布よりシャ
ープになり、たとえば試験に必要な測定レンジを0、2
5〜0.35μm % 0.35〜0.45prn %
0.45〜0.55μmとすると、平均粒径は概略そ
れぞれ0.3μms0.4μm10.5pmの単分散粒
子として測定対象とする粒径の粒子が簡易に選別できる
ためである。
選択するために、光散乱波高選別測定機構を用いたのは
、たとえば、環境大気中に浮遊する微粒子の粒度分布が
、第2図(A)の状態にあるとすると、光散乱波高選別
の原理に基づき、光信号をパルス状電気信号に変換し、
校正用粒子(ポリスチレンラテックス)による電気信号
との校正を行うと、第2図(B)のような粒子径別の出
力となるから、任意に分離された各レンジの粒径は、第
3図(0)に示すように、(A)の巾広い分布よりシャ
ープになり、たとえば試験に必要な測定レンジを0、2
5〜0.35μm % 0.35〜0.45prn %
0.45〜0.55μmとすると、平均粒径は概略そ
れぞれ0.3μms0.4μm10.5pmの単分散粒
子として測定対象とする粒径の粒子が簡易に選別できる
ためである。
本発明は、種々の粒径の粒子が含まれた一般の環境中の
大気を1ろ材の上側から下側へ通過させて流し、同一条
件で吸引されたろ相の」;、下両側の各大気中から、そ
れぞれ光散乱波高選別方式によって、試験に必要な粒径
の単分散に近い粒子のみを選別測定し、これら選別され
た各粒子の粒子数を比較することにより、ろ材の性能を
評価するものであるから、防塵マスクのる材の性能判断
について装着者自身が作業現場で簡単にチェックできる
ばかりでなく、特にマスクマンテストにおいては、従来
のような標準粒子発生チャンバーが不要で、測定機器が
単純化でき、重装備をして被検者がチャンバー内に人っ
て息苦しい思いや有害物に曝露される惧れもない。
大気を1ろ材の上側から下側へ通過させて流し、同一条
件で吸引されたろ相の」;、下両側の各大気中から、そ
れぞれ光散乱波高選別方式によって、試験に必要な粒径
の単分散に近い粒子のみを選別測定し、これら選別され
た各粒子の粒子数を比較することにより、ろ材の性能を
評価するものであるから、防塵マスクのる材の性能判断
について装着者自身が作業現場で簡単にチェックできる
ばかりでなく、特にマスクマンテストにおいては、従来
のような標準粒子発生チャンバーが不要で、測定機器が
単純化でき、重装備をして被検者がチャンバー内に人っ
て息苦しい思いや有害物に曝露される惧れもない。
また、特定の粒径の粒子のみを測定できることにより、
環境大気中の粉塵中、特に人体に有害な吸引性粉塵の有
無や量などのろ材透過状況が確認できるため、防塵マス
クの管理および健康管理に益するところが大である。
環境大気中の粉塵中、特に人体に有害な吸引性粉塵の有
無や量などのろ材透過状況が確認できるため、防塵マス
クの管理および健康管理に益するところが大である。
さらに、ろ材の上流側と下流側に各別に検出器が設けら
れていることにより、同一大気を同一条件で検査できて
、検査結果の精度が保証される効果を併有する。
れていることにより、同一大気を同一条件で検査できて
、検査結果の精度が保証される効果を併有する。
なお、実施例に示されるように、雨検出器により計測さ
れた各微粒子の比較が、演算処理機構とその表示器によ
り行われるものにおいては、試験結果が直ちに判読でき
る利便を有する。
れた各微粒子の比較が、演算処理機構とその表示器によ
り行われるものにおいては、試験結果が直ちに判読でき
る利便を有する。
第1図は本発明方法実施のために使用される装置の一例
を示す説明図、第2図(A)は大気中の粒子の粒度分布
側図、(B)は光散乱波高値選別による粒子の粒度分布
側図、(C)は選別された粒子毎の出力側図である。 1・・・ろ 材 2・・・ろ材保持具4・・・ホ
ルダー 5・・・ホルダーカバー6・0.吸引ノズ
ル io 、12 、、、分岐管11・・・上流側検
出器 13・・・下流側検出器14・・・演算処理機構
15・・・表示器特許出願人 柴田化学器械工業株式会社
を示す説明図、第2図(A)は大気中の粒子の粒度分布
側図、(B)は光散乱波高値選別による粒子の粒度分布
側図、(C)は選別された粒子毎の出力側図である。 1・・・ろ 材 2・・・ろ材保持具4・・・ホ
ルダー 5・・・ホルダーカバー6・0.吸引ノズ
ル io 、12 、、、分岐管11・・・上流側検
出器 13・・・下流側検出器14・・・演算処理機構
15・・・表示器特許出願人 柴田化学器械工業株式会社
Claims (2)
- (1) 試験装置の吸引口から吸引させた浮遊微粒子
を含む環境中の大気の一部を、光散乱波高選別測定機構
が備えられた一方の検出器へ、残部を被検体であるろ材
を通過させたのち、上記同一機構を備えた他方の検出器
へそれぞれ等速で吸引させることにより、各検出器によ
って同一特定粒径の微粒子を選別計測させ、口れら雨検
出器により計測された微粒子量を比較することにより、
防塵マスクのる材の性能を試験することを特徴とする防
塵マスクのる材性能試験方法。 - (2)雨検出器により計測された各微粒子の比較が、演
算処理機構とその表示器により行われる特許請求の範囲
(1)記載の防塵マスクのる材性能試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14926182A JPS5940143A (ja) | 1982-08-30 | 1982-08-30 | 防塵マスクのろ材性能試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14926182A JPS5940143A (ja) | 1982-08-30 | 1982-08-30 | 防塵マスクのろ材性能試験方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5940143A true JPS5940143A (ja) | 1984-03-05 |
Family
ID=15471378
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14926182A Pending JPS5940143A (ja) | 1982-08-30 | 1982-08-30 | 防塵マスクのろ材性能試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5940143A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103837460A (zh) * | 2014-03-17 | 2014-06-04 | 天津三星电机有限公司 | 一种无尘口罩过滤效率的检测评价方法 |
CN106525641A (zh) * | 2016-10-27 | 2017-03-22 | 合肥福瞳光电科技有限公司 | 一种口罩过滤效率积尘量的测量方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5635814U (ja) * | 1979-08-28 | 1981-04-07 |
-
1982
- 1982-08-30 JP JP14926182A patent/JPS5940143A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5635814U (ja) * | 1979-08-28 | 1981-04-07 |
Cited By (2)
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