JPS5932808A - 超音波式検出装置における個体識別方法 - Google Patents
超音波式検出装置における個体識別方法Info
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- JPS5932808A JPS5932808A JP14363982A JP14363982A JPS5932808A JP S5932808 A JPS5932808 A JP S5932808A JP 14363982 A JP14363982 A JP 14363982A JP 14363982 A JP14363982 A JP 14363982A JP S5932808 A JPS5932808 A JP S5932808A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/44—Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/4445—Classification of defects
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/043—Analysing solids in the interior, e.g. by shear waves
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本祐明は此旨波式検出装置i piお・ける個体識別力
法に〃・かり、詳しくは、水申寺の容易に接近できない
JMI)+に設置された株数の物体の存在前音遠隔にて
検出する超行波式検出装置に2いて、I!fJ ife
物体□□□:116]々に識別する個体識別力法に関す
る。
法に〃・かり、詳しくは、水申寺の容易に接近できない
JMI)+に設置された株数の物体の存在前音遠隔にて
検出する超行波式検出装置に2いて、I!fJ ife
物体□□□:116]々に識別する個体識別力法に関す
る。
従来、原子力燃料等ケ複数の容器内に封印し、これらの
容器全水中に沈めて保存することが行わtしている。こ
の場合、容器の小止な開封ケチニックする7′こめのみ
ならす、個々の容器の識別、すなわち個体識別音も必要
とすることが多い。
容器全水中に沈めて保存することが行わtしている。こ
の場合、容器の小止な開封ケチニックする7′こめのみ
ならす、個々の容器の識別、すなわち個体識別音も必要
とすることが多い。
第1図はこの神の従来の個体識別力法に示すもので、図
にJb”いU 10は原子力燃料等を封印した容器等、
識別するべき物体であり、この物体10の」一部両端は
浴按邸11にて夫々同短されている。
にJb”いU 10は原子力燃料等を封印した容器等、
識別するべき物体であり、この物体10の」一部両端は
浴按邸11にて夫々同短されている。
なお物体lOの中央部12はくひれている。この物体音
遠隔地から超呂波にて検出するにわたり、超す波兄11
器からの入射波13は物体10衣而での反射波14と物
体10の底面からの反射波15とに分かれる。この物体
lOか開−!Aさノーシ、例えは中央部12にて折損し
た場合には反射波15かなくなるため、党伯器側でこれ
ケ恨出することにより物体lOの囲側ナエツクを行つ1
いる。
遠隔地から超呂波にて検出するにわたり、超す波兄11
器からの入射波13は物体10衣而での反射波14と物
体10の底面からの反射波15とに分かれる。この物体
lOか開−!Aさノーシ、例えは中央部12にて折損し
た場合には反射波15かなくなるため、党伯器側でこれ
ケ恨出することにより物体lOの囲側ナエツクを行つ1
いる。
”i、yi、物体IOの1面体疏別は、溶接部11に入
射波16i当1て反射波1.7 ′(il−超り波受4
m器にで愛情し、この反射成形を識別することによりb
われている。なお・、この際、識別精度を高める/こめ
に複数の浴接部11からの反射波17が用いられる。
射波16i当1て反射波1.7 ′(il−超り波受4
m器にで愛情し、この反射成形を識別することによりb
われている。なお・、この際、識別精度を高める/こめ
に複数の浴接部11からの反射波17が用いられる。
この反射波形は至って抜雑でろるが、個々の物体によつ
でTh著に異なっており、葦た再机性も少ない/こめに
個体識別力法としてtよ正確かつ有用である。
でTh著に異なっており、葦た再机性も少ない/こめに
個体識別力法としてtよ正確かつ有用である。
しかしなから、この方法では物体10の開封チェックと
個体識別と全作業上、夫々別個に行わ71:け!しはな
らないという欠点がめった。
個体識別と全作業上、夫々別個に行わ71:け!しはな
らないという欠点がめった。
本発明は上記の点に鑑公提案されたもので、その目的は
1回の計測動作によって開封チェックと個体の識別とk
t’J能ならしめ、この神の肘411]作条の能率の
向上を図った超音波式検出装置における個体識別方法付
提供することにめる。
1回の計測動作によって開封チェックと個体の識別とk
t’J能ならしめ、この神の肘411]作条の能率の
向上を図った超音波式検出装置における個体識別方法付
提供することにめる。
以下、図に沿つ1本発明ケ祝明する。
第2図(イノは本発明の一実施例を示すもので、物体1
の超す一波またはその反射波の通路である部分、たとえ
は物体1の中央のくひれだ部分を溶接部2とし、この溶
接部2の浴接によって欠陥3r生ゼしめる。開封のチェ
ックのための超す波を当又ることによって、物体lの底
面からの反射波の存在によって開封のチェックが行なえ
同時に、欠陥3による反射波の乱れによって生じる抜雑
な反射波形ケ識別することで物体1の個体識別もn」能
となる。
の超す一波またはその反射波の通路である部分、たとえ
は物体1の中央のくひれだ部分を溶接部2とし、この溶
接部2の浴接によって欠陥3r生ゼしめる。開封のチェ
ックのための超す波を当又ることによって、物体lの底
面からの反射波の存在によって開封のチェックが行なえ
同時に、欠陥3による反射波の乱れによって生じる抜雑
な反射波形ケ識別することで物体1の個体識別もn」能
となる。
なお、識別鞘度葡尚め6ためQC1第2図(四の如く物
体I K 2ケ/>1の溶接部2 a 、 2 ))お
よび欠陥3 a 、 3 bi設け、欠陥3a 、3b
双力による反射波音it測することも用能でりるか、第
2図0)の如く浴接部2および欠陥3か2りIツfの場
合でも浴接部分の厚さ葡厚くすることで欠陥3の範囲も
拡がり、十分な個体識別hL力にイ↓ノることかできる
。
体I K 2ケ/>1の溶接部2 a 、 2 ))お
よび欠陥3 a 、 3 bi設け、欠陥3a 、3b
双力による反射波音it測することも用能でりるか、第
2図0)の如く浴接部2および欠陥3か2りIツfの場
合でも浴接部分の厚さ葡厚くすることで欠陥3の範囲も
拡がり、十分な個体識別hL力にイ↓ノることかできる
。
■/こ、欠陥は浴接によるものたけでなく、他の方法、
例えはキリ等を用い一〇物体1ンζ穴を開けで形成し王
もよい。このjM台、規則的に形成された穴による欠陥
は反射阪の書現か容易でめり、この点で浴接による場合
に比へて劣るか、反射波のツー−り処理前が容易で識別
能力の向」二に寄与できるオリ点かわる。豆だ、欠陥は
超桶波址たはでの)X射波金乱う−ことのできるI質葡
物体lに混入することなどの方法によって、浴接やキリ
寺による冗と同様の効果全発生芒せることがh」能であ
る。
例えはキリ等を用い一〇物体1ンζ穴を開けで形成し王
もよい。このjM台、規則的に形成された穴による欠陥
は反射阪の書現か容易でめり、この点で浴接による場合
に比へて劣るか、反射波のツー−り処理前が容易で識別
能力の向」二に寄与できるオリ点かわる。豆だ、欠陥は
超桶波址たはでの)X射波金乱う−ことのできるI質葡
物体lに混入することなどの方法によって、浴接やキリ
寺による冗と同様の効果全発生芒せることがh」能であ
る。
なお・、本実施例にあ・いてtよ、欠陥3は超音波の通
路で必9、かつ反射波の通路でもめる物体lの中央のく
ひれの部分に設けたが、女は反射波を乱せはよく、超音
波の進路゛まだほぞの反射波の通路のい丁れか一力ぐ(
欠陥3を設けれは十分である。したかつて物体1の構造
によっては、欠陥3は超音波の通路lたはその反則波の
進路いずれか一力でりっても差支えない。た7こし、本
実施例におけるJjlJ < 、物体1の中央のくひ扛
の部分に欠陥3を設けた場合には、入射ちれた超音波を
欠陥3が反射することにより、反射波の乱れr肪起する
。このことは、開封によって物体の)板部からの反射波
か存在しなくなった場合においでも、欠陥3からの反射
波は返さnるので、開封時に↓・いても個体の識別かl
jJ lじでめ◇というオ・り点會有する。
路で必9、かつ反射波の通路でもめる物体lの中央のく
ひれの部分に設けたが、女は反射波を乱せはよく、超音
波の進路゛まだほぞの反射波の通路のい丁れか一力ぐ(
欠陥3を設けれは十分である。したかつて物体1の構造
によっては、欠陥3は超音波の通路lたはその反則波の
進路いずれか一力でりっても差支えない。た7こし、本
実施例におけるJjlJ < 、物体1の中央のくひ扛
の部分に欠陥3を設けた場合には、入射ちれた超音波を
欠陥3が反射することにより、反射波の乱れr肪起する
。このことは、開封によって物体の)板部からの反射波
か存在しなくなった場合においでも、欠陥3からの反射
波は返さnるので、開封時に↓・いても個体の識別かl
jJ lじでめ◇というオ・り点會有する。
以上述べたように本発明によjLは、識別するべさ物体
の超音波またはその反射波の通路に、反射波を乱すこと
のでさる欠陥金形J戎し、これらの欠陥によって生ずる
反射波の乱fLt測足することにより1個々の物体の回
期ナエノノjパよひ識別を行うようにしたから、1回の
旧611作業により開封のチェックと個体識別か同時か
つ正確に行え、m1’ ftl’1作業に要する手間や
時間ケ人幅に11」減して計測作東の能率葡飛細的に向
上させ得る等の幼朱盆廟する。
の超音波またはその反射波の通路に、反射波を乱すこと
のでさる欠陥金形J戎し、これらの欠陥によって生ずる
反射波の乱fLt測足することにより1個々の物体の回
期ナエノノjパよひ識別を行うようにしたから、1回の
旧611作業により開封のチェックと個体識別か同時か
つ正確に行え、m1’ ftl’1作業に要する手間や
時間ケ人幅に11」減して計測作東の能率葡飛細的に向
上させ得る等の幼朱盆廟する。
【図面の簡単な説明】
第1図は便米例の説明図、第2図げノは木光明の一実施
例の説明図、同図LOJは同1−り他の実施例の説明図
である。 ■ ・・・ ・・・9勿体、 2.2a、2b
・・・浴接り弗、3.3a、3b・・・・・欠陥。 特許出願人 日本電子機器株式会社 −91′+□へ 代理人 弁理士 高 山 道 夫 ・(−1か
1名)1
例の説明図、同図LOJは同1−り他の実施例の説明図
である。 ■ ・・・ ・・・9勿体、 2.2a、2b
・・・浴接り弗、3.3a、3b・・・・・欠陥。 特許出願人 日本電子機器株式会社 −91′+□へ 代理人 弁理士 高 山 道 夫 ・(−1か
1名)1
Claims (1)
- 超旨波忙複数の物体に照射し、ヤの反射涙金受信すゐこ
とによりniJ記物体ケ検出1′る装態に2いて、1i
iJ記物体中の前記超旨波逢たはヤの反射波の通路の一
部分に超汁波逢たはその反射波令:乱丁欠陥を形成し、
これらの欠陥によって生しゐ反射波の乱れを測定するこ
とにより、個々の物体の識別?行うこと全特徴とする超
廿波式検出装負における個体識別力法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14363982A JPS5932808A (ja) | 1982-08-18 | 1982-08-18 | 超音波式検出装置における個体識別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14363982A JPS5932808A (ja) | 1982-08-18 | 1982-08-18 | 超音波式検出装置における個体識別方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5932808A true JPS5932808A (ja) | 1984-02-22 |
Family
ID=15343442
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14363982A Pending JPS5932808A (ja) | 1982-08-18 | 1982-08-18 | 超音波式検出装置における個体識別方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5932808A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5039897A (ja) * | 1973-07-10 | 1975-04-12 | ||
JPS5739346A (en) * | 1980-08-20 | 1982-03-04 | Hitachi Ltd | Identifying device for reflection body by frequency spectra |
-
1982
- 1982-08-18 JP JP14363982A patent/JPS5932808A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5039897A (ja) * | 1973-07-10 | 1975-04-12 | ||
JPS5739346A (en) * | 1980-08-20 | 1982-03-04 | Hitachi Ltd | Identifying device for reflection body by frequency spectra |
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