JPS593269A - プリント基板の検査方法及び装置 - Google Patents
プリント基板の検査方法及び装置Info
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- JPS593269A JPS593269A JP57111496A JP11149682A JPS593269A JP S593269 A JPS593269 A JP S593269A JP 57111496 A JP57111496 A JP 57111496A JP 11149682 A JP11149682 A JP 11149682A JP S593269 A JPS593269 A JP S593269A
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- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
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- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2805—Bare printed circuit boards
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はプリント基板の検査方法及び装置に関するもの
である。
である。
一般にプリント基板に2(・では、これにトランジスタ
、夛゛イオード、抵抗等の機能素子が組込まれる前圧、
所期のパターンのリードが形成されているか否かン検査
することか必要である。この検査は、プリント基板に形
成された、機能素子が差込まれる孔即ちスルーホールの
まわりに形成された導電部(以下「スルーホール部」と
いう。)の相互間の導通状態の有無を調べることによっ
て行われる。
、夛゛イオード、抵抗等の機能素子が組込まれる前圧、
所期のパターンのリードが形成されているか否かン検査
することか必要である。この検査は、プリント基板に形
成された、機能素子が差込まれる孔即ちスルーホールの
まわりに形成された導電部(以下「スルーホール部」と
いう。)の相互間の導通状態の有無を調べることによっ
て行われる。
従来に8けるこの検査方法の一例に?いては、例えば、
第1図忙示すように、絶縁性の端子保持板1における、
検査子べさプリント基板4のスルーホール部5の配列パ
ターンに対応し定位置において、例えば金メッキしたピ
ンより成る検査用端(3) 子2を、各々進退自在に挿通して設けると共にその先端
部21が端子保持板lの表面より相当の距離突出された
状態となるよう、検査用端子2の各々にスプリング10
0Y設けて成る検査装置jJtw用い、各検査用端子2
をコンピユータン有する測定器6に接続し、前記端子保
持板1ンプリント基板4に重ねて抑圧することによって
各検査用端子2乞スルーホール都5に当接せしめて電気
的に接続させ、この状態でスルーホール部5の相互間の
導通状態の有無を調べるようにしている。ここに上述の
検査装置において検査用端子2を可動型とし且つスプリ
ング100を設けた理由は、反りがあって及Wまたは表
面に凹凸があって完全に平板状ではないプリント基板4
に対しても検査用端子2の各々を対応するスルーホール
部5に接触させるためである。
第1図忙示すように、絶縁性の端子保持板1における、
検査子べさプリント基板4のスルーホール部5の配列パ
ターンに対応し定位置において、例えば金メッキしたピ
ンより成る検査用端(3) 子2を、各々進退自在に挿通して設けると共にその先端
部21が端子保持板lの表面より相当の距離突出された
状態となるよう、検査用端子2の各々にスプリング10
0Y設けて成る検査装置jJtw用い、各検査用端子2
をコンピユータン有する測定器6に接続し、前記端子保
持板1ンプリント基板4に重ねて抑圧することによって
各検査用端子2乞スルーホール都5に当接せしめて電気
的に接続させ、この状態でスルーホール部5の相互間の
導通状態の有無を調べるようにしている。ここに上述の
検査装置において検査用端子2を可動型とし且つスプリ
ング100を設けた理由は、反りがあって及Wまたは表
面に凹凸があって完全に平板状ではないプリント基板4
に対しても検査用端子2の各々を対応するスルーホール
部5に接触させるためである。
しかしながらこのような検査装置に8いては、各検査用
端子2を可動型にし且つ各検査用端子2毎にスプリング
100ン設ける必要がある定め、その製作に要するコス
トが大さり、シかも検査用端子2の数は通常相当数に上
ること、各検査用端子2に金メッキ欠施丁ことが実際上
必要なこと、及ヒスルーホール都5の配列パターンが異
なるプリント基板4についてはそのまま適用することか
でざな(・、いわば特定のプリント基板4に対しての専
用のものであることから当該検査装置の製造コストが非
常KKいものとなる欠点がある。
端子2を可動型にし且つ各検査用端子2毎にスプリング
100ン設ける必要がある定め、その製作に要するコス
トが大さり、シかも検査用端子2の数は通常相当数に上
ること、各検査用端子2に金メッキ欠施丁ことが実際上
必要なこと、及ヒスルーホール都5の配列パターンが異
なるプリント基板4についてはそのまま適用することか
でざな(・、いわば特定のプリント基板4に対しての専
用のものであることから当該検査装置の製造コストが非
常KKいものとなる欠点がある。
また斯かる検査装置によって検査馨行うにあたっては、
検査用端子2の各々とスルーホール部5との電気的接触
を確実なものとすることか必要であるが、そのためには
検査用端子2の1個につぎ100〜200 gもの荷重
を加えなければならず、従って例えば検査用端子2の数
が1000個であるならば全体として100kgもの大
さな荷重を必要としていた。このためスルーホール部5
が過度の押圧力を受けて損傷されるおそれが大きい欠点
がある。
検査用端子2の各々とスルーホール部5との電気的接触
を確実なものとすることか必要であるが、そのためには
検査用端子2の1個につぎ100〜200 gもの荷重
を加えなければならず、従って例えば検査用端子2の数
が1000個であるならば全体として100kgもの大
さな荷重を必要としていた。このためスルーホール部5
が過度の押圧力を受けて損傷されるおそれが大きい欠点
がある。
一方プリント基板4のスルーホール部5は規格g tl
、 y、:基盤目状に位置されるよう規定されているこ
とから検査用端子2ン基盤目状に、即ちスルーホール部
5の形成される可能性のある位置に対応(5) する丁べての位置に設けたユニバーサル型と称される検
査装置もある。この検査装置はあらゆるスルーホール部
5の配列のプリント基板4に適用できるいわば汎用型の
装置という点で有利なものではあるが、プリント基板4
におけるスルーホール部5の形成されてり・ない部分に
も検査用端子2が接触することとなり、しかも先述のよ
うに1本の検査用端子2に加えられる荷重が大さく・こ
とからプリント配線部を損傷する8それが大さい欠点が
ある。
、 y、:基盤目状に位置されるよう規定されているこ
とから検査用端子2ン基盤目状に、即ちスルーホール部
5の形成される可能性のある位置に対応(5) する丁べての位置に設けたユニバーサル型と称される検
査装置もある。この検査装置はあらゆるスルーホール部
5の配列のプリント基板4に適用できるいわば汎用型の
装置という点で有利なものではあるが、プリント基板4
におけるスルーホール部5の形成されてり・ない部分に
も検査用端子2が接触することとなり、しかも先述のよ
うに1本の検査用端子2に加えられる荷重が大さく・こ
とからプリント配線部を損傷する8それが大さい欠点が
ある。
本発明はこのような背景のもとになされたものであって
その目的は、極めて簡単な手段によって確実にプリント
基板の導電部との電気的接触娑得ることがでさて確実な
検査2行うことがでさるプリント基板の検査方法を提供
することにある。
その目的は、極めて簡単な手段によって確実にプリント
基板の導電部との電気的接触娑得ることがでさて確実な
検査2行うことがでさるプリント基板の検査方法を提供
することにある。
本発明の他の目的は、上述の方法を実施する上で好適に
用(・られ、構造が簡単であってコストの低いプリント
基板の検査装置ケ提供することにある。
用(・られ、構造が簡単であってコストの低いプリント
基板の検査装置ケ提供することにある。
本発明に係るプリント基板の検査方法の特徴と(6)
するところは、その厚さ方向罠圧力が加えられた部分が
導覧牡状態となる感圧導電性の弾性板の一面を検査子べ
ざプリント基板上に重ね、前記プリント基板の導電部上
に位置する前記弾性板の部分を検査用端子により押圧し
、以って前記検査用端子と前記プリント基板の導電部と
を電気的に接続させる工程を含む点にある。
導覧牡状態となる感圧導電性の弾性板の一面を検査子べ
ざプリント基板上に重ね、前記プリント基板の導電部上
に位置する前記弾性板の部分を検査用端子により押圧し
、以って前記検査用端子と前記プリント基板の導電部と
を電気的に接続させる工程を含む点にある。
本発明に係るプリント基板の検査装置の特徴とするとこ
ろは、その−面が検査子べさプリント基板に重ねられる
、その厚さ方向に圧力が加えられた部分が浜柾状態とな
る感圧導電性の弾性板と、この弾性板の他面と間vjw
介して対向して設けた絶縁性の端子保持板と、この端子
保持板に保持せしめた、当該端子保持板の表面から前記
間隙内に突出する複数の検査用端子と2具えて成り、前
記複数の検査用端子は、検査子ぺざプリント基板の導電
部の配列パターンに対応して配列された検査用端子の群
を含み、前記端子保持板は前記プリント基板と接近する
方向に相対的に押圧されるものである点にある。
ろは、その−面が検査子べさプリント基板に重ねられる
、その厚さ方向に圧力が加えられた部分が浜柾状態とな
る感圧導電性の弾性板と、この弾性板の他面と間vjw
介して対向して設けた絶縁性の端子保持板と、この端子
保持板に保持せしめた、当該端子保持板の表面から前記
間隙内に突出する複数の検査用端子と2具えて成り、前
記複数の検査用端子は、検査子ぺざプリント基板の導電
部の配列パターンに対応して配列された検査用端子の群
を含み、前記端子保持板は前記プリント基板と接近する
方向に相対的に押圧されるものである点にある。
(7)
以下図面により本発明ン説明する。
本発明方法に3いては、第2図(イ)、(ロ)に示すよ
うにその厚さ方向に圧力が加えられたとぎその部分が厚
さ方向に導電性状態となる感圧導電性の弾性板3の一面
を検査子べぎプリント基板4の一面に亘ねる一方、プリ
ント基板4の他面上にスポンジ等より成る緩衝材188
1ン介して受は板8を重ね、前記プリント基板4のスル
ーホール部5のうちハ)ら任意の一対のスルーホール部
ケ選び、その一方のスルーポール部上に位置する前記弾
性板3の部分?、コンピュータを含む測定器6に接続さ
れた検査用端子2の先端部21により弾性板3の他面側
から押圧して受は板8との間で挾圧し、こねにより弾性
板3においてプリント基板4の前記一方のスルーホール
部のエツジ部とそれに対応した各検査用端子2との間の
部分を破線で示すように導電性状態として前記検査用端
子2と前記一方のスルーボール部とン電気的に接続する
と共に、同時に前記一対のスルーホール部に8ける他方
のスルーホール部上に位置する弾性板30部分について
もこれを同様に他の検査用端子2により押圧し、これに
よって前記一方のスルーホール部と前記他方のスルーホ
ール部との間の導通状態の有無乞検査し、以ってプリン
ト基板4の検査を行う。
うにその厚さ方向に圧力が加えられたとぎその部分が厚
さ方向に導電性状態となる感圧導電性の弾性板3の一面
を検査子べぎプリント基板4の一面に亘ねる一方、プリ
ント基板4の他面上にスポンジ等より成る緩衝材188
1ン介して受は板8を重ね、前記プリント基板4のスル
ーホール部5のうちハ)ら任意の一対のスルーホール部
ケ選び、その一方のスルーポール部上に位置する前記弾
性板3の部分?、コンピュータを含む測定器6に接続さ
れた検査用端子2の先端部21により弾性板3の他面側
から押圧して受は板8との間で挾圧し、こねにより弾性
板3においてプリント基板4の前記一方のスルーホール
部のエツジ部とそれに対応した各検査用端子2との間の
部分を破線で示すように導電性状態として前記検査用端
子2と前記一方のスルーボール部とン電気的に接続する
と共に、同時に前記一対のスルーホール部に8ける他方
のスルーホール部上に位置する弾性板30部分について
もこれを同様に他の検査用端子2により押圧し、これに
よって前記一方のスルーホール部と前記他方のスルーホ
ール部との間の導通状態の有無乞検査し、以ってプリン
ト基板4の検査を行う。
本発明は以上のようにしてプリント基板4を検査するた
め、プリント基板4の光面に対接されるものが弾性板3
であるので検査用端子2が当該弾性板3の他面側から押
圧されたとぎにも当該プリント基板4には局所的に過大
な力が加えられないから、プリント基板4が損傷される
おそれが全(なくてプリント基板4はいわば保護された
状態で検査され、しかも検査用端子2に加えられる力は
弾性板3乞挾圧して変形せしめその部分が導電性となる
に十分な太ささでよ(・から非常に小さな力でよ(、ま
た検査用端子2は特別な構a:ヲ必要とせず弾性板3ン
挾圧するに足る剛性を具えた導電体であればよ(・ので
そのコストが非常に低い等の利益が得られる。そしてプ
リント基板4が反って(・たり及び/または表面に凹凸
があってこれの一面が平坦でない場合にも弾性板3の一
面は検査用(9) 端子2の抑圧によりプリント基板4の一面に追従してf
fi!’gれるから、丁べてのスルーホール部5につし
・てこれと検査用端子2との間の電気的な接続ケ確実な
ものとすることかでさ、従って極めて簡単な手段により
所期の検査を確実に行うことかでざる。
め、プリント基板4の光面に対接されるものが弾性板3
であるので検査用端子2が当該弾性板3の他面側から押
圧されたとぎにも当該プリント基板4には局所的に過大
な力が加えられないから、プリント基板4が損傷される
おそれが全(なくてプリント基板4はいわば保護された
状態で検査され、しかも検査用端子2に加えられる力は
弾性板3乞挾圧して変形せしめその部分が導電性となる
に十分な太ささでよ(・から非常に小さな力でよ(、ま
た検査用端子2は特別な構a:ヲ必要とせず弾性板3ン
挾圧するに足る剛性を具えた導電体であればよ(・ので
そのコストが非常に低い等の利益が得られる。そしてプ
リント基板4が反って(・たり及び/または表面に凹凸
があってこれの一面が平坦でない場合にも弾性板3の一
面は検査用(9) 端子2の抑圧によりプリント基板4の一面に追従してf
fi!’gれるから、丁べてのスルーホール部5につし
・てこれと検査用端子2との間の電気的な接続ケ確実な
ものとすることかでさ、従って極めて簡単な手段により
所期の検査を確実に行うことかでざる。
第3図は本発明方法を実施するために好適に用いること
のでさる本発明プリント基板の検査装置の一例を示し、
この例においては、その厚さ方向に圧力が加えられたと
ぎその部分が厚さ方向に導電性状態となる感圧導電性の
弾性板3に、当該弾性の端子保持板1を対向して設け、
この端子保持板1には、検査子べざプリント基板のスル
ーホール部の配列パターンに対応した位置において、各
々がコンピュータを含む測定器6に接続された検査用端
子2を固定して設けてその先端部21を前記端子保持板
10)表面より前記間隙S内に突出させ、この端子保持
板1を例えばその検査用端子2の先(10) 端g21の頂面が前記弾性板3の他面に当接するよう配
置した状態で前記弾性板3と前記端子保持板1とを、前
記端子保持板lが弾性板3に向かって移動し得るよう、
それらの周縁部にj6L・て結合部材7により互に結合
し、以ってプリント基板の検査装置を構55j、する。
のでさる本発明プリント基板の検査装置の一例を示し、
この例においては、その厚さ方向に圧力が加えられたと
ぎその部分が厚さ方向に導電性状態となる感圧導電性の
弾性板3に、当該弾性の端子保持板1を対向して設け、
この端子保持板1には、検査子べざプリント基板のスル
ーホール部の配列パターンに対応した位置において、各
々がコンピュータを含む測定器6に接続された検査用端
子2を固定して設けてその先端部21を前記端子保持板
10)表面より前記間隙S内に突出させ、この端子保持
板1を例えばその検査用端子2の先(10) 端g21の頂面が前記弾性板3の他面に当接するよう配
置した状態で前記弾性板3と前記端子保持板1とを、前
記端子保持板lが弾性板3に向かって移動し得るよう、
それらの周縁部にj6L・て結合部材7により互に結合
し、以ってプリント基板の検査装置を構55j、する。
この検査装置によればプリント基板の検査は次のように
して行われる。即ち第4図(イ)に示すように弾性板3
の一面上に検査子べさプリント基板4を重ねる一方、プ
リント基板4の他面に緩衝材層81ぞ介して受は板8′
(I−重ね、この受は板8馨固定して−J6t、・て第
4図(ロ)に示すように端子保持板lを抑圧機構(図示
せず)により間隙Sが消失するまでプリント基板4に対
して押圧し、これにより弾性板3にだいてプリント基板
4の各スルーホール部5のエツジ部とそれに対応した各
検査用端子2との間の部分を破線で示すように導電+1
!状態としてスルーホール部5と検査用端子2との間を
弾性板3ン介して電気的に接続せしめ、この状態でスル
ーホール1flS5の相互間の導通状態の有無を検査す
る。
して行われる。即ち第4図(イ)に示すように弾性板3
の一面上に検査子べさプリント基板4を重ねる一方、プ
リント基板4の他面に緩衝材層81ぞ介して受は板8′
(I−重ね、この受は板8馨固定して−J6t、・て第
4図(ロ)に示すように端子保持板lを抑圧機構(図示
せず)により間隙Sが消失するまでプリント基板4に対
して押圧し、これにより弾性板3にだいてプリント基板
4の各スルーホール部5のエツジ部とそれに対応した各
検査用端子2との間の部分を破線で示すように導電+1
!状態としてスルーホール部5と検査用端子2との間を
弾性板3ン介して電気的に接続せしめ、この状態でスル
ーホール1flS5の相互間の導通状態の有無を検査す
る。
(11)
而してこのような構成によれば、プリント基板4の所望
のスルーホール部5の丁べてに対して対応する検査用端
子27弾性板3を介して一斉に電気的に接続せしめろこ
とがでざるので所要の検査を迅速に且つ容易に達H,す
ることがでさると共に、端子保持板IKxける検査用端
子2は固定して8けばよいので可動型とすること或いは
更にスプリングを設け%Ym要がないことからその構成
が簡単で小型化すね、その結果弾性板3をも含めた全体
のコストヲ従来のものより大幅に低下せしめることがで
きる。更に実施例のように弾性板3と端子保持板lとを
一体に結合して左げば操作上便利である。
のスルーホール部5の丁べてに対して対応する検査用端
子27弾性板3を介して一斉に電気的に接続せしめろこ
とがでざるので所要の検査を迅速に且つ容易に達H,す
ることがでさると共に、端子保持板IKxける検査用端
子2は固定して8けばよいので可動型とすること或いは
更にスプリングを設け%Ym要がないことからその構成
が簡単で小型化すね、その結果弾性板3をも含めた全体
のコストヲ従来のものより大幅に低下せしめることがで
きる。更に実施例のように弾性板3と端子保持板lとを
一体に結合して左げば操作上便利である。
また上述の例におけるように端子保持板lの押圧により
端子保持板1の表面が弾性板3の表面に密接’i!′i
lるようにしておくことにより、端子保持板10弄而に
よりプリント基板4のスルーホール都5以外の部分が押
圧されるため、プリント基板4の反りが矯正された状態
で検査ン行うことかでさ、従って弾性板3のいずれの個
所に8いても検査用端子2により受ける挟圧力が均一な
ものどなるので信頼性の高い結果を得ることかでざる。
端子保持板1の表面が弾性板3の表面に密接’i!′i
lるようにしておくことにより、端子保持板10弄而に
よりプリント基板4のスルーホール都5以外の部分が押
圧されるため、プリント基板4の反りが矯正された状態
で検査ン行うことかでさ、従って弾性板3のいずれの個
所に8いても検査用端子2により受ける挟圧力が均一な
ものどなるので信頼性の高い結果を得ることかでざる。
本発明にだいては、プリント基板4のスルーホール部5
の形成される可能性のある位置に対応する丁べての位置
に検査用端子2を設けたユニバーザル型として検査装置
’ir構成してもよ(、このような構成の装置において
も何れのパターンのプリント基板4に対しても上記と全
く同様の効果を得ることがでさ、L71))も検査に係
るプリント基板4の表面と検査用端子2との間には弾性
板3が介在しているため、これが保護層となるためプリ
ント配線部を損傷する2それもない。
の形成される可能性のある位置に対応する丁べての位置
に検査用端子2を設けたユニバーザル型として検査装置
’ir構成してもよ(、このような構成の装置において
も何れのパターンのプリント基板4に対しても上記と全
く同様の効果を得ることがでさ、L71))も検査に係
るプリント基板4の表面と検査用端子2との間には弾性
板3が介在しているため、これが保護層となるためプリ
ント配線部を損傷する2それもない。
本発明に2いて用いる検査用端子2としては、その先端
部21ン球面状に形成丁ればよいが、平坦面状に形成し
てもよい。
部21ン球面状に形成丁ればよいが、平坦面状に形成し
てもよい。
以上に3いて本発明に用いられる弾性板3としては、例
えば導電性粒子と絶縁性高分子弾性体とを生成分とする
異方性感圧導電性ゴムシート[JSRPCFLJ (日
本合成ゴム株式会社製)を用いることかでざる。また弾
性板3の厚さ、検査用(13) 端子2の端子保持板1よりの突出高さの具体的−例ヶあ
げると、弾性板3の厚さが1鰭、検査用端子2の突出高
さが0.1〜0.41ET++であり、この例にお(・
ては、検査用端子201個当りに対し約1(lの荷重ン
印加して変形せしめれば導電性となる。
えば導電性粒子と絶縁性高分子弾性体とを生成分とする
異方性感圧導電性ゴムシート[JSRPCFLJ (日
本合成ゴム株式会社製)を用いることかでざる。また弾
性板3の厚さ、検査用(13) 端子2の端子保持板1よりの突出高さの具体的−例ヶあ
げると、弾性板3の厚さが1鰭、検査用端子2の突出高
さが0.1〜0.41ET++であり、この例にお(・
ては、検査用端子201個当りに対し約1(lの荷重ン
印加して変形せしめれば導電性となる。
尚検査用端子2を弾性板3ン介してプリント基板4に押
圧するにあたっては、検査用端子2側若しくはプリント
基板4flllのどちらから抑圧を加えてもよく、そし
て押圧するための機構としては従来使用されているもの
をそのまま適用することかでざる。まK、具体的装置に
おいては、緩衝材層、受は板等娑弾性板、端子保持板と
一体的に開閉自在に設けることもでざる。
圧するにあたっては、検査用端子2側若しくはプリント
基板4flllのどちらから抑圧を加えてもよく、そし
て押圧するための機構としては従来使用されているもの
をそのまま適用することかでざる。まK、具体的装置に
おいては、緩衝材層、受は板等娑弾性板、端子保持板と
一体的に開閉自在に設けることもでざる。
本発明においては、プリント基板のスルー71ニール都
の検査に適用することに限定されるものではなく、それ
以外の導電部相互間の導通状態の検査に適用することが
できる。
の検査に適用することに限定されるものではなく、それ
以外の導電部相互間の導通状態の検査に適用することが
できる。
また本発明に3いては、検査丁べざプリント基板がその
両面に導電部を有するものである場合には、当該プリン
ト基板の両面に弾性板を配設して(14) プリント基板を挾んだ状態として検査用端子を作用させ
るようにしてもよ(、このような検査方法によれば、当
該プリント基板の両面につ(・て所要の検査を同時に達
成することかでさ、或いは更に表面の導電部と裏面の導
11!部との間の電気的接続状態の検査をも容易に行う
ことかでざる。
両面に導電部を有するものである場合には、当該プリン
ト基板の両面に弾性板を配設して(14) プリント基板を挾んだ状態として検査用端子を作用させ
るようにしてもよ(、このような検査方法によれば、当
該プリント基板の両面につ(・て所要の検査を同時に達
成することかでさ、或いは更に表面の導電部と裏面の導
11!部との間の電気的接続状態の検査をも容易に行う
ことかでざる。
以上のように本発明によれば、極めて簡単な手段によっ
て確実にプリント基板の導電部との電気的接触ン得るこ
とがでさて確実な検査を行うことがでさるプリント基板
の検査方法を提供することができると共に、そのような
方法を実施する上で好適に用いられ、構造が簡単であっ
てコストの低いプリント基板の検査装置を提供すること
かでざる。
て確実にプリント基板の導電部との電気的接触ン得るこ
とがでさて確実な検査を行うことがでさるプリント基板
の検査方法を提供することができると共に、そのような
方法を実施する上で好適に用いられ、構造が簡単であっ
てコストの低いプリント基板の検査装置を提供すること
かでざる。
第1図は従来のプリント基板の検査装置を示す縦断側面
図、第2図(イ)、(ロ)は、本発明に係るプリント基
板の検査方法を段階的に示す説明図、第3図は本発明に
係るプリント基板の検査装置を示す縦断側面図、第4図
(イ)、(ロ)は、第3図に示しに装(I5) 置によるプリント基板の検査の実施を段階的に示1゛説
明図である。 I・・・端子保持板 2・・・検査用端子3・・・
弾性板 4・・・プリント基板5・・・スルー
ホール都 6・・・測定器7・・・結上部材 8
・・・受は板8I・・・緩衝材層 第1図 第2図(イ) 第2図(ロ) 第3区
図、第2図(イ)、(ロ)は、本発明に係るプリント基
板の検査方法を段階的に示す説明図、第3図は本発明に
係るプリント基板の検査装置を示す縦断側面図、第4図
(イ)、(ロ)は、第3図に示しに装(I5) 置によるプリント基板の検査の実施を段階的に示1゛説
明図である。 I・・・端子保持板 2・・・検査用端子3・・・
弾性板 4・・・プリント基板5・・・スルー
ホール都 6・・・測定器7・・・結上部材 8
・・・受は板8I・・・緩衝材層 第1図 第2図(イ) 第2図(ロ) 第3区
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 l)その厚さ方向に圧力が加えられた部分が導電性状態
となる感圧導電性の弾性板の一面ン検査丁べざプリント
基板上に重ね、前記プリント基板の導電部上に位R−s
−る前記弾性板の部分を検査用端子により押圧し、以っ
て前記検査用端子と前記プリント基板の導電部とを電気
的に接続させろ工程を含むことw%徴とするプリント基
板の検査方法。 2)その−面が検査子べざプリント基板に重ねられる、
その厚さ方向に圧力が加えられた部分か導電性状態とな
る感圧導電性の弾性板と、この弾性板の他面と間隙を介
して対向して設けた絶縁性の端子保持板と、この端子保
持板に保持せしめた、当該端子保持板の表面から前記間
隙内に突出する複数の検査用端子とを具えて成り、前記
複数の検査用端子は、検査子べさプリント基板の導電部
の配列パターンに対応して配列さ2″した検査用端子の
(2) 群を含み、前記端子保持板は前記プリント基板と接近す
る方向に相対的に押圧されるものであることを特徴とす
るプリント基板の検査装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57111496A JPS593269A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | プリント基板の検査方法及び装置 |
US06/506,617 US4571542A (en) | 1982-06-30 | 1983-06-22 | Method and unit for inspecting printed wiring boards |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57111496A JPS593269A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | プリント基板の検査方法及び装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS593269A true JPS593269A (ja) | 1984-01-09 |
Family
ID=14562751
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57111496A Pending JPS593269A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | プリント基板の検査方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS593269A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04186173A (ja) * | 1990-11-21 | 1992-07-02 | Nisshin Koki Kk | 電子部品検査用具 |
US6849335B2 (en) | 2000-08-09 | 2005-02-01 | Jsr Corporation | Anisotropic conductive sheet |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP57111496A patent/JPS593269A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04186173A (ja) * | 1990-11-21 | 1992-07-02 | Nisshin Koki Kk | 電子部品検査用具 |
US6849335B2 (en) | 2000-08-09 | 2005-02-01 | Jsr Corporation | Anisotropic conductive sheet |
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