JPS5931425B2 - タンデイツシユレベルの制御方法および装置 - Google Patents
タンデイツシユレベルの制御方法および装置Info
- Publication number
- JPS5931425B2 JPS5931425B2 JP54146823A JP14682379A JPS5931425B2 JP S5931425 B2 JPS5931425 B2 JP S5931425B2 JP 54146823 A JP54146823 A JP 54146823A JP 14682379 A JP14682379 A JP 14682379A JP S5931425 B2 JPS5931425 B2 JP S5931425B2
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- Japan
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は連鋳設備におけるタンディツシュレベルの制御
方法および装置に関し、特にサーボ機構を持たずにロー
タリーノズルやスライディングゲート等の開閉装置を使
用して絞り注入方式のタンティッシュレベル制御を行つ
クンティッシュレベルの制御方法および装置に関するも
のである。
方法および装置に関し、特にサーボ機構を持たずにロー
タリーノズルやスライディングゲート等の開閉装置を使
用して絞り注入方式のタンティッシュレベル制御を行つ
クンティッシュレベルの制御方法および装置に関するも
のである。
一般に、連続鋳造においては、レードルからタンディツ
シュに溶鋼を流し込み、さらにその溶鋼を鋳型に流し込
み、スプレー帯、引き抜きロール等を介して切断装置に
送り込む方式が用いられている。
シュに溶鋼を流し込み、さらにその溶鋼を鋳型に流し込
み、スプレー帯、引き抜きロール等を介して切断装置に
送り込む方式が用いられている。
このような連続鋳造においては、鋳型に供給される溶鋼
を一定量に保持し、鋳片抽出速度等を一定に維持するこ
とが鋳造品の品質を均一にするために重要な要素となっ
ている。
を一定量に保持し、鋳片抽出速度等を一定に維持するこ
とが鋳造品の品質を均一にするために重要な要素となっ
ている。
そのため、タンディツシュのレベル変動にともなう溶鋼
吐出量の変動を極力少くするよう、鋳型内湯面およびタ
ンディツシュ内湯面を監視して常に一定の湯面レベルを
保てるよう供給量の調整を行うことが必要とされる。
吐出量の変動を極力少くするよう、鋳型内湯面およびタ
ンディツシュ内湯面を監視して常に一定の湯面レベルを
保てるよう供給量の調整を行うことが必要とされる。
このようなタンディツシュレベルの制御は鋳片への介在
物の減少に効果があることは明らかとなっても・るが、
レードルからタンディツシュへの溶鋼注入量の0N−O
FF制御は、溶鋼へスラブを巻き込んで介在物を増加さ
せるという欠点がある。
物の減少に効果があることは明らかとなっても・るが、
レードルからタンディツシュへの溶鋼注入量の0N−O
FF制御は、溶鋼へスラブを巻き込んで介在物を増加さ
せるという欠点がある。
そのため、絞り注入方式によるタンディツシュレベルの
制御が求められているが、ロータリーノズルや一部のス
ライディングゲートはサーボ機構が採用できず、絞り注
入方式によるタンディツシュレベルの制御を行うことが
できなかった。
制御が求められているが、ロータリーノズルや一部のス
ライディングゲートはサーボ機構が採用できず、絞り注
入方式によるタンディツシュレベルの制御を行うことが
できなかった。
そこで従来は、第1図に示すように、タンディツシュレ
ベルと設定レベルとの偏差量によりアクチュエータの動
作時間を算出し、それをパルスIJ出力して制御する方
式が試みられている。
ベルと設定レベルとの偏差量によりアクチュエータの動
作時間を算出し、それをパルスIJ出力して制御する方
式が試みられている。
すなわち、第1図の従来例において、符号1はし一ドル
であり、このし−ドル1内の溶鋼はノズル2を経てクン
ディツシュ3に供給される。
であり、このし−ドル1内の溶鋼はノズル2を経てクン
ディツシュ3に供給される。
その場合、レードル1からタンディツシュ3への溶鋼の
供給量はノズル2の途中に設けたロータリーノズルやス
ライディングゲート等の開閉装置4の開度を制御するこ
とにより調整される。
供給量はノズル2の途中に設けたロータリーノズルやス
ライディングゲート等の開閉装置4の開度を制御するこ
とにより調整される。
この開閉装置4はタンディツシュレベルの制御系の一部
を構成するもので、このタンディツシュレベル制御系は
、タンディツシュ3内の湯面の検出を行うタンディツシ
ュレベル検出装置5、このタンディツシュレベル検出装
置5から出力されたタンディツシュレベル信号と設定レ
ベル信号とを比較してレベル調整を行う調節装置6、こ
の調節装置6からの開度信号に基づいてモータよりなる
アクチュエータ8を駆動して前記開閉装置4の開度を制
御する開度制御装置7、開閉装置4の開度を検出する開
度位置検出装置9とからなる。
を構成するもので、このタンディツシュレベル制御系は
、タンディツシュ3内の湯面の検出を行うタンディツシ
ュレベル検出装置5、このタンディツシュレベル検出装
置5から出力されたタンディツシュレベル信号と設定レ
ベル信号とを比較してレベル調整を行う調節装置6、こ
の調節装置6からの開度信号に基づいてモータよりなる
アクチュエータ8を駆動して前記開閉装置4の開度を制
御する開度制御装置7、開閉装置4の開度を検出する開
度位置検出装置9とからなる。
開度位置検出装置9は開閉装置4の開度についての信号
を開度制御装置7に送出する。
を開度制御装置7に送出する。
この従来装置においては、調節装置6によりクンディツ
シュレベルと設定レベルとの偏差をPID演算して設定
開度を求め、この設定開度に基づいて開閉装置4の開度
を制御してタンディツシュレベルの制御を行うわけであ
るが、この従来装置においては、アクチュエータ8の動
作速度のばらつきやし一ドル1内の湯面高さと開閉装置
4を構成するロータリーノズルまたはスライディングゲ
ートの溶損の程度で注入量が異なり、偏差量とアクチュ
エータ8の動作時間に換算する式が決定できず、注入量
と開度が一義的に決定できないという欠点がある。
シュレベルと設定レベルとの偏差をPID演算して設定
開度を求め、この設定開度に基づいて開閉装置4の開度
を制御してタンディツシュレベルの制御を行うわけであ
るが、この従来装置においては、アクチュエータ8の動
作速度のばらつきやし一ドル1内の湯面高さと開閉装置
4を構成するロータリーノズルまたはスライディングゲ
ートの溶損の程度で注入量が異なり、偏差量とアクチュ
エータ8の動作時間に換算する式が決定できず、注入量
と開度が一義的に決定できないという欠点がある。
本発明は前記従来技術の欠点を解消するためになされた
もので、タンティッシュレベルの確実かつ精密な制御を
行うことのできるタンディツシュレベルの制御方法およ
び装置を提供することを目的とするものである。
もので、タンティッシュレベルの確実かつ精密な制御を
行うことのできるタンディツシュレベルの制御方法およ
び装置を提供することを目的とするものである。
この目的を達成するため、本発明によるタンディツシュ
レベルの制御方法および装置は、タンディツシュレベル
の上限値および下限値とタンティッシュレベルの微分値
に基づいてアクチュエータを制御することを特徴とする
もので、サーボ機構を設けなくても、溶鋼の流出中に開
閉装置を開あるいは閉方向へ作動させれば、徐々に作動
方向への制御が行えるようになることを利用してタンデ
ィツシュレベルの制御を行うようにしたものである。
レベルの制御方法および装置は、タンディツシュレベル
の上限値および下限値とタンティッシュレベルの微分値
に基づいてアクチュエータを制御することを特徴とする
もので、サーボ機構を設けなくても、溶鋼の流出中に開
閉装置を開あるいは閉方向へ作動させれば、徐々に作動
方向への制御が行えるようになることを利用してタンデ
ィツシュレベルの制御を行うようにしたものである。
以下、本発明を図面に示す実施例に従ってさらに説明す
る。
る。
第2図は本発明によるタンディツシュレベルの制御装置
の一実施例を示すブロック図である。
の一実施例を示すブロック図である。
第2図において、第1図に示す従来例に対応する部材ま
たは部分には同一の符号を付して重複説明を省略する。
たは部分には同一の符号を付して重複説明を省略する。
本実施例においては、ロータリーノズルまたはスライデ
ィングゲートよりなる開閉装置40制御系は、タンディ
ツシュ3の湯面レベルを検出するタンディツシュレベル
検出装置5、調節装置10、開度制御装置7、モータよ
りなるアクチュエータ8、および位置検出装置9で構成
される。
ィングゲートよりなる開閉装置40制御系は、タンディ
ツシュ3の湯面レベルを検出するタンディツシュレベル
検出装置5、調節装置10、開度制御装置7、モータよ
りなるアクチュエータ8、および位置検出装置9で構成
される。
調節装置10は、第1比較器11を有し、この第1比較
器11にはタンディツシュ3内の湯面レベルをタンディ
ツシュレベル検出装置5で検出したタンディツシュレベ
ル信号が入力されるとともに、上限レベル設定器12か
も湯面レベルの上限設定値が入力される。
器11にはタンディツシュ3内の湯面レベルをタンディ
ツシュレベル検出装置5で検出したタンディツシュレベ
ル信号が入力されるとともに、上限レベル設定器12か
も湯面レベルの上限設定値が入力される。
そして、第1比較器11はこのタンディツシュレベル信
号と上限レベル信号とを比較し、タンディツシュレベル
信号が上限レベル値を越した場合に11−“を出力する
。
号と上限レベル信号とを比較し、タンディツシュレベル
信号が上限レベル値を越した場合に11−“を出力する
。
一方、第2比較器13はタンディツシュレベルの下限を
調節するためのもので、この第2比較器13にはメンテ
ィッシュレベル検出装置5からのタンディツシュレベル
信号と下限レベル設定器14からの下限レベル信号とが
入力され、この第2比較器13はタンティッシュレベル
信号が下限レベル値より小さくなった場合に1“を出力
する。
調節するためのもので、この第2比較器13にはメンテ
ィッシュレベル検出装置5からのタンディツシュレベル
信号と下限レベル設定器14からの下限レベル信号とが
入力され、この第2比較器13はタンティッシュレベル
信号が下限レベル値より小さくなった場合に1“を出力
する。
さらに、タンティッシュレベル信号を微分するための微
分器15が設けられ、この微分器15はタンディツシュ
レベル検出装置5から送られたノンディツシュレベル信
号を微分してその微分値を出力する。
分器15が設けられ、この微分器15はタンディツシュ
レベル検出装置5から送られたノンディツシュレベル信
号を微分してその微分値を出力する。
前記微分器15で得られたタンディツシュレベル信号の
微分値は、第3比較器16に入力され、またこの第3比
較器16には零信号設定器17からの零信号が入力され
る。
微分値は、第3比較器16に入力され、またこの第3比
較器16には零信号設定器17からの零信号が入力され
る。
そして、この第3比較器16は微分器15かも出力され
たタンディツシュレベル信号の微分値を零信号設定器1
7からの零信号と比較し、タンディツシュレベル信号が
零よりも太きいとき、すなわちプラスのときに11″を
出力する。
たタンディツシュレベル信号の微分値を零信号設定器1
7からの零信号と比較し、タンディツシュレベル信号が
零よりも太きいとき、すなわちプラスのときに11″を
出力する。
一方、微分器15からの微分値は第4比較器18にも出
力され、この第4比較器18は微分器15からの微分値
と零信号設定器19かもの零信号とを比較し、タンディ
ツシュレベルの微分値が零よりも小さいとき、すなわち
マイナスのときにはゝ1 “を出力する。
力され、この第4比較器18は微分器15からの微分値
と零信号設定器19かもの零信号とを比較し、タンディ
ツシュレベルの微分値が零よりも小さいとき、すなわち
マイナスのときにはゝ1 “を出力する。
前記第1比較器11からの出力信号と、前記第3比較器
16からの出力信号は第1アンド回路20に出力される
。
16からの出力信号は第1アンド回路20に出力される
。
この第1アンド回路20は第1比較器11からの出力と
第3比較器16の出力とが共にゝJ “の場合にはゝ
1 “を出力する。
第3比較器16の出力とが共にゝJ “の場合にはゝ
1 “を出力する。
それにより、この第1アンド回路20からの出力信号は
開度制御装置7に送られ、この開度制御装置7は第1ア
ンド回路20が11“信号を出力している間だけアクチ
ュエータ8を開閉装置4の閉方向に作動させる。
開度制御装置7に送られ、この開度制御装置7は第1ア
ンド回路20が11“信号を出力している間だけアクチ
ュエータ8を開閉装置4の閉方向に作動させる。
それによりし−ドル1からノズル2を通ってタンディツ
シュ3に送られる溶鋼の注湯量は減少させられ、タンデ
ィツシュ3内の湯面レベルは所定の正常レベルへ戻る。
シュ3に送られる溶鋼の注湯量は減少させられ、タンデ
ィツシュ3内の湯面レベルは所定の正常レベルへ戻る。
一方、下限レベルの制御のために第2アンド回路21が
設けられ、この第2アンド回路21には前記第2比較器
13からの出力信号と前記第4比較器18からの出力信
号が入される。
設けられ、この第2アンド回路21には前記第2比較器
13からの出力信号と前記第4比較器18からの出力信
号が入される。
そして、この第2アンド回路21は第2比較器13から
の出力と第4比較器18との出力がともに11 ″の場
合にゝ 1 “を出力する。
の出力と第4比較器18との出力がともに11 ″の場
合にゝ 1 “を出力する。
それにより、この第2アンド回路21かもの出力は前記
開度制御装置7に送られ、該開度制御装置7は前記第2
アンド回路21が11 “信号を出力している間だけア
クチュエータ8を開閉装置4の開方向に作動させる。
開度制御装置7に送られ、該開度制御装置7は前記第2
アンド回路21が11 “信号を出力している間だけア
クチュエータ8を開閉装置4の開方向に作動させる。
これにより、レードル1からノズル2を経てタンディツ
シュ3に供給される溶鋼の注湯量が増加して、タンディ
ツシュ3内の湯面レベルは所定の正常レベルにまで上昇
する。
シュ3に供給される溶鋼の注湯量が増加して、タンディ
ツシュ3内の湯面レベルは所定の正常レベルにまで上昇
する。
したがって、本実施例においては、タンディツシュ3内
の湯面レベルが上昇または下降しすぎた場合でも調節装
置10等の制御機能により常に所望の湯面レベルに制御
することが可能となり、サーボ機能を必要としない閉ル
ープ制御系を得ることができる。
の湯面レベルが上昇または下降しすぎた場合でも調節装
置10等の制御機能により常に所望の湯面レベルに制御
することが可能となり、サーボ機能を必要としない閉ル
ープ制御系を得ることができる。
本実施例の制御系は、操作量が速度形でかつ十分に遅(
、その従属量がタンディツシュレベルでかつ操作量Mv
と従属量Pvとがまたは の関係があるものについて適用することができる。
、その従属量がタンディツシュレベルでかつ操作量Mv
と従属量Pvとがまたは の関係があるものについて適用することができる。
以上説明したように、本発明によれば、連鋳設備におけ
るタンディツシュの湯面レベルを常に確実に最適な一定
レベルに制御することができ、均一な品質を有する鋳造
品を得ることが可能となる。
るタンディツシュの湯面レベルを常に確実に最適な一定
レベルに制御することができ、均一な品質を有する鋳造
品を得ることが可能となる。
第1図は従来のタンティッシュレベル制御装置の一例を
示す概略ブロック図、第2図は本発明によるタンディツ
シュレベルの制御装置の一失M例を示す概略ブロック図
である。 1・・・・・・し−ドル、3・・・・・・タンティッシ
ュ、4・・・・・・開閉装置、5・・・・・・タンディ
ツシュレベル検出装置、7・・・・・・開度制御装置、
8・・・・・・アクチュエータ、10・・・・・・調節
装置、11・・・・・・第1比較器、12・・・・・・
上限レベル設定器、13・・・・・・第2比較器、14
・・・・・・下限レベル設定器、15・・・・・・微分
器、16・・・・・・第3比較器、17−・・・・・零
信号設定器、18・・・・・・第4比較器、19・・・
・・・零信号設定器、20・・・・・・第1アンド回路
、21・・・・・・第2アンド回路。
示す概略ブロック図、第2図は本発明によるタンディツ
シュレベルの制御装置の一失M例を示す概略ブロック図
である。 1・・・・・・し−ドル、3・・・・・・タンティッシ
ュ、4・・・・・・開閉装置、5・・・・・・タンディ
ツシュレベル検出装置、7・・・・・・開度制御装置、
8・・・・・・アクチュエータ、10・・・・・・調節
装置、11・・・・・・第1比較器、12・・・・・・
上限レベル設定器、13・・・・・・第2比較器、14
・・・・・・下限レベル設定器、15・・・・・・微分
器、16・・・・・・第3比較器、17−・・・・・零
信号設定器、18・・・・・・第4比較器、19・・・
・・・零信号設定器、20・・・・・・第1アンド回路
、21・・・・・・第2アンド回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 連鋳設備におけるし一ドルからタンディツシュへの
注湯量を開閉装置の開度調整により制御するタンディツ
シュレベルの制御方法において、タンディツシュレベル
が上限値以上であるという条件とタンディツシュレベル
の微分値がプラスであるという条件とが共に成立してい
る時間だけ開閉装置作動用のアクチュエータをタンディ
ツシュレベルを減少させるように作動させ、またタンデ
ィツシュレベルが下限値以下であるという条件とタンデ
ィツシュレベルの微分値がマイナスであるという条件が
共に成立している時間だけ前記アクチュエータをタンデ
ィツシュレベルを増加させるよう作動させることを特徴
とするタンティッシュレベルの制御方法。 2 連鋳設備のし一ドルに設けられ、レードルからタン
ティッシュへの注湯量を調整する開閉装置と、この開閉
装置を駆動するアクチュエータと、タンディツシュ内の
湯面レベルを測定するタンディツシュレベル検出装置と
、このタンディツシュレベル検出装置からの出力信号と
上限レベル設定値とを比較してメンディツシュレベルが
上限レベル設定値以上であるときに出力信号を発生ずる
第1比較器と、前記タンティッシュレベル検出装置から
の出力信号と下限レベル設定値を比較してタンディツシ
ュレベルが下限レベル設定値以上であるときに出力信号
を発生する第2比較器と、前記タンディツシュレベル検
出装置からの出力信号を微分する微分器と、この微分器
の微分値と零信号とを比較して微分値が零より太きいと
きに出力信号を発生する第3比較器と、前記微分器の微
分値と零信号とを比較して微分値が零より小さいときに
出力信号を発生する第4比較器と、前記第1および第3
比較器の両方から出力信号が発生されたときに出力信号
を発生する第1アンド回路と、前記第2および第4比較
器の両方から出力信号が発生されたときに出力信号を発
生する第2アンド回路と、前記第1または第2アンド回
路からの出力信号にしたがって前記アクチュエータをタ
ンディツシュレベルを減少または増加させるよう作動さ
せて前記開閉装置の開度を制御する開度制御装置とから
なるタンディツシュレベルの制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP54146823A JPS5931425B2 (ja) | 1979-11-13 | 1979-11-13 | タンデイツシユレベルの制御方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP54146823A JPS5931425B2 (ja) | 1979-11-13 | 1979-11-13 | タンデイツシユレベルの制御方法および装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5671566A JPS5671566A (en) | 1981-06-15 |
JPS5931425B2 true JPS5931425B2 (ja) | 1984-08-02 |
Family
ID=15416327
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP54146823A Expired JPS5931425B2 (ja) | 1979-11-13 | 1979-11-13 | タンデイツシユレベルの制御方法および装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5931425B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0518608B2 (ja) * | 1987-10-07 | 1993-03-12 | Meiwa Industrial Co Ltd |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4944007U (ja) * | 1972-07-20 | 1974-04-18 |
-
1979
- 1979-11-13 JP JP54146823A patent/JPS5931425B2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4944007U (ja) * | 1972-07-20 | 1974-04-18 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0518608B2 (ja) * | 1987-10-07 | 1993-03-12 | Meiwa Industrial Co Ltd |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5671566A (en) | 1981-06-15 |
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