JPS5927791A - 複合材料穴あけ方法 - Google Patents

複合材料穴あけ方法

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JPS5927791A
JPS5927791A JP57136273A JP13627382A JPS5927791A JP S5927791 A JPS5927791 A JP S5927791A JP 57136273 A JP57136273 A JP 57136273A JP 13627382 A JP13627382 A JP 13627382A JP S5927791 A JPS5927791 A JP S5927791A
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layer
drilling
radiant energy
energy beam
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Shinichi Wai
伸一 和井
Shiro Takemura
四郎 竹村
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Hitachi Ltd
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の対象 本発明は、レーザ、 ′Rf、子ビーノビ−11等放射
エネルギービーム複合材料の穴あけ方法に関する。
従来技術 複合材料、たとえば銅層と樹脂層とが交互に析層したプ
リント基板等は、従来ドリルによって機械的に穴あけを
行っていた。最近のプリント基板は、高密度実装化の傾
向によって穴径も小さくなり、レーザ等放射エネルギー
ビームによる穴あけも実施されているが、以下に示す問
題がある。
第1図は、銅層1.樹脂層2および銅層305Mから成
る複合材料の断面図を示す。これを通常のレーザ加工装
置により穴あけを行うと、第2図の同材料断面図に示す
ように均一径の穴、があけられず、銅層1の穴径に比べ
て樹脂1120八径が大きくなりかつ不均一となる。こ
のような穴が形成される理由は、第1K銅層1.5と樹
脂層2を穴あけするに必要なエネルギー量が異なってお
り、同一のエネルギー量で穴あけを行うと、樹脂層2に
対して過剰エネルギーとなるためであり、その結果、そ
の穴径が鋼層1゜3の穴径より大きくなる。第2に銅層
1の穴あけ加工中に熱伝導により樹脂層2が熱エネルギ
ーを受けるためであり、その結果、樹脂層2の穴径は不
均一になる。
発明の目的 本発明の目的は、放射エネルギービームに」゛る複合材
料の八あけ加工にふ・いて、該複合月別に均一径の穴な
あけるために、該材料各1114に最適なエネルギーM
をもつ′〔ビームを照射1−る方法を提供することであ
る。
本発明は、放射エネルギ・−ビームにより複数種類の層
がfl¥層された複合月別に穴あけを−rる方法圧おい
て、各層とと圧放射エネルギービームの最適出力エネル
ギー量を設定し、放射エネルギービームによる穴あけが
異なる層に到達−4−ることを検出し、これに応じ”C
放射エネルギ−ビームの最適出力エネルギー11i、′
fa:前記設定された値になるように制御する方法’a
: ’l’4j <改と′fろ。
この方法によって、複合材料の各層にy(つ−こ均一な
径の穴あけを行うことができる。
本発明の方法には、次のような冥hlu ?、1様があ
る。
(α)放射エネルギービームの複合材料の穴底からの反
射光の変化を検出することK」、す、該放射エネルギー
ビームによる人あけが異なる層に到達したことを検出す
る方法。
(1!11  放射エネルギービームとは別に設けられ
た検出用レーザビームを照射し、該レーザヒ−トの複合
材料穴底からの反射光の変化を検出することにより、該
放射エネルギービームによる穴あけが異なる層に到達し
たことを検出する方法。
(C)  複合材料の各層ととに放射エネルギービーム
の照射時間を測定し、該照射時間の経過によって該放射
エネルギービームによる穴あけが外なる層に到達したこ
とを検出する方法。
発明の実施例 以下本発明の一実施例を第3図〜第9図により説明する
第3図は、本発明の一実施例として使用する複合材料穴
あけ装置の構成を示すブロック図である。第6図におい
て矢印をもった細線はビームおよびその進行方向を示し
、矢印をもった太線は制御の流れを示ず。加工用ビーム
発生装置5は、複合材料4の穴あけを行うための加工用
ビーム7を発生する装置である。加工用ビーノ・7は、
加工用ビーム発生装置5から出力される加工用のレーザ
ビームまたは1tt子ビームである。
加工用ビーム発生装置it5として、7ことえばC″a
2a2レーザGレーザ、ガラスレーザまたは電子ビーム
発生装置など複合材料4に適したものを選択すればよい
。加工用ビーム制御ll型【ルー6は、加工用ビーム発
生装置5に対する117.源装置である。集光レンズ9
は、加工用ヒート7がレーザヒートである場合に、該ビ
ーム集元用1/ンズである。集光レンズ9はまた、後述
−「るように、検出用ビーム12の集光にも用いられる
。加工用ビーム7が電子ビームの場合に(コー、図示し
ていないが、集光レンズ9の他に電子ビームの集束機構
が必要である。このとき集光レンズ9の中心部は、該電
子ビームが通過するに足りるだけの部分が取り除かれて
いる。検1]−冒1]ビーム発生装置11は、検出用ビ
ームを発生するレーザ装置rI′であり、検出用ビーム
12け1、該検出用ヒーJ−発生装置11から出力され
る検出用のレーリ゛ヒートである。たとえば1ie−N
eレーザなどを選択すればよい。検出ビーム注入鏡8は
、加工用ビーム7に検出用ビーム12を重ねるためのも
ので、たとえば第4図に示すようなものである。第4図
は、検出ビーム注入鏡8の断面を示すもので、その中心
部に加工用ビーム7が通過するに足りるだけの部分が取
り除かれており、その周辺部によって検出用ビーム12
が反射され、加工用ビーム7と同じ方向に向けて注入さ
れるようになっている。検出ビーム注入鏡8は、加工用
ビーム7によっては上記例の代りにハーフミラ−を用い
てもよい。検出ビーム反射鏡1oは、加工用ビーム7を
通過させ、複合材料4から反射される検出用ビーム12
を集めるためのもので、たとえば第5図に示すようなも
のである。第5図は、検出ビーム反射鏡10とその周辺
の集光レンズ9゜複合材料4および集光レンズ14との
位置関係を示す断面図である。この例では、検出ビーム
反射鏡10は凹面鏡になっており、その中心部忙加工用
ビーム7および注入される検出用ビーム12が通過する
に足りるだけの部分が取り除かれCいる。またその周辺
部によって初会(73料4から反射される検出用ビーノ
・12が反射されるようになっている。検出ビーム反射
鏡1 [1&:t、加工用ビーl、70種類によっては
−に記例の代りにハーフミラ−を用いてもよい。集光1
7ンズ14は、検出ビーム反射鏡10によって反射され
4)検11.11[jビーム12を集光するためのもの
である。検出器+ 5 t、r−集光レンズ14で集光
さ7する検出用ビーl、12の)1;強度を検出する器
具で、ある。
ここで加工用ビーム7および検出用ビーム12の進行状
況をたどる。加工用ビーム発生装@5から出力される加
工用ビーム7は、検出ビート注入鏡8を通過し、集光レ
ンズ9で集光され・rたは単に通過し、検出ビーム反射
鏡10を通過t2て、複合材料40表面に焦点を結ぶ。
検出用ビーム発生装置11かも出力される検出用ビー1
.12は、検出ビーム注入鏡8によって加工用ビーム・
7と同じ下向きに重ねられ、4ト光レンズ9で4(シ光
され、検出ビーム反射鏡10を通3blロー、て摺合4
(料4の表面近くで焦点ケ結ぶ。複合材料Δで反射した
検出用ビーム12の一部は、検出ビーム反射鏡10で反
射された後、集光レンズ14によって集光され、検出器
15に人力される。なお複合材料4に投入さJまた加工
用ビーム7もその一部は該複合材料4上で反射され、検
出ビーム反射鏡1[]で反射された後、集光レンズ+4
[よって集光され、検出器+31/fi入力される。
ここで検出ビーム反射F 1oとぞの周辺の集光レンズ
9.複合材料4および集光レンズ14との位置関係につ
いて、第5図により補足説明する。
第5図は、各構成要素を断面°C示すものである。
検出ビーム反射鏡1oの凹面鏡の中心な0とし、断面の
両端をM、Nとし、長さAf QをSとする。
また集光レンズ9がら複合材料4までの距離、す1工わ
ち集光レンズ9の焦点1?fi l’if、をfとし、
盾Oと複合材J’) 4との距離をAとする。複合材料
4における加工穴の深さ、すなわち第5図の1) E間
の距離なXとする。また検出ビーム反射鏡10の傾き、
すなわち点0と該凹面鏡の中心C゛とを結ぶ直線の垂直
な直線U l)に対する角度、をαとする。また集光レ
ンズ9に入射される加工用ビーム7または検出用ビート
12のうち犬ぎい方のビーム径をdoとし、点OVcお
けるビート径をdlとする。また加工穴の径をdlどす
る。
まず凹面鏡の幅MNは、点0におけイ)ビート径d1よ
り大きくなげればならないから、2S>dl   ここ
に、d+ −−do  −・=−(イ)f である。次に集光レンズ9と複合拐料4との間に検出ビ
ーム反射鏡1oが挿入されるためには、f > 25 
@sinα ・・・・・・・・山・・旧・・・・・(r
−+1である。最後に加工穴の底Eで反射する検出用ビ
ームが点0の地点でビーム径rt1より広がっていなけ
ればならないから、 でなげればならない。ただし3:Tn(Ir&t、 、
Tの最大値であり、通常の場合、複合拐料4の板Jワに
相当する。上記信1 、 (ul 、(ハ)を満足する
」、うに、集光レンズ9.検出ビーム反射鏡1oおよび
ビーl、径dOを選択することは可能である。
次に第5図のブロック図の説明に戻ると、検出器15は
、検出用ビーム12を分離するためのフィルター、反射
光の強さを電流の大きさに変換する変換器を含むもので
ある。出力制御部15は、入力インタフェース、マイク
ロコンビa −夕等の計31゜機および出力インタフェ
ースで構成される。入力インタフー−スは、検出器15
の出力電圧を1−D(アナログ−ディジクル)変換する
機構を含む。マイクロコンピュータ等の計算機は、後述
するように、複合材料4の各層について最適のエネルギ
ーm′または最適のエネルギー量と所要時間のデータを
記憶しており、このデータに基づいて加工用ビーム制御
電源6を制御する。出力インタフー−スは、加工用ビー
ム制御電源6の供給電圧または電流を変えるものである
。たとえばレーザ加工の場合には、ノくルス・レーザの
パルス幅および/または尖頭出力電圧を変更するために
、放電回路の放電電圧または放電電流を変化させる。外
部信号16は、穴あけ加工を開始させるために外部から
出力制御部15に与える信号である。焦点側ff11部
1/は、複合材料4の加工穴深さに応じて加T用ビーム
7σ〕熱点の位置を移動していく場合に使用ずろもので
あり、出力制御部15によりビーノ・出力制御に合わせ
て、機械的に集光レンズ9を移動させるもので・ちる。
次に本発明の一実施例として使用する複合拐料穴あけ装
置の動作を説明する。まず検出用ビー 1.発生装置1
1から検出用ビーム12を連続発振させている状態で、
出力制御部15は複合I料4からの該検出用ビーム12
の反射光も・検出器15を経由12てとらえろ。外部信
号16から穴あけ加]二開始のヌク−l−信号を受けた
とき、出力制御11シ15は、たとえば第1図に示すプ
リント基板であれば、銅層1に対する最適エネルギーh
1のデータを使って加工用ビーム発生装置5の出力を調
整し、加工用ビーム7を照射する。このとき必要あれば
、焦点制御部17を経由して集光レンズ9の位置を移動
し、加工用ビーム7の焦点の位置を移動させてもよい。
検出器15を経由して検出する検出用ビーム120強度
が急激に減少したときは加工用ビーム7が次の層に到達
したことを意味し、次の層である樹脂層2に対する最適
エネルギー量のデータを使つ【加工用ビーム発生装@、
5の出力を調整し、加工用ビーム7を照射する。以下同
様に最後の層の穴あけが完了するまで上記の穴あげ加工
を進めていく。穴あけ加工が終了すると、次釦外部信号
16からスタート信号を受けるまで出力制御部15は待
機する。
なお出力制御部15は、各穴あけ加工ごとに各層の所要
時間を統計データとして採取してもよい。
また出力制御部15は、あらかじめ決められた制限時間
以内に反射光の急激な変化が得られないとき、穴あけ加
工を停市し、外部に警報する機能をもつことが可能であ
る。
本発明の複合材料穴あけ装置の他の実施例に関連して、
加工用ビーム発生装置5がレーザ発生装置等で加工用ビ
ーム7を利用して検出が可能な場合であれば、検出用ビ
ーム発生装置11を特に設けず、加工用ビーム70反射
光の変化によって加工用ビーム発生装置5の出力制御を
行ってもよい。この場合には、第3図における検出用ビ
ーム発生装置11、検出用ビーム12および検出ビーム
注入鏡8は不要であイ)。
次に複合材料4の各層における反射光の強ju−の変化
の状況を第6図を用いて説明ス゛る。第6図は、第1図
に示すように銅−オ61脂−銅の3層より成るプリント
基板において、検出器15が検出する反射光の強度−と
時刻tとの関係る・示−3工を開始する時点であり、最
大の反射光強度i1こと圧よって、反射光強度は急激に
減少し”〔t2となり、反射光強度の時IVIに対−す
る変化率が急激に変わる。時刻t2からt3までは、4
17(脂層2の穴あけを進めている時間で、加工への中
での反射光の吸収がふえるなどのために反射光強度は漸
減する。時刻t3は、銅TVI3にぶつかった時点であ
り、ここで反射光は急激にふえてL3となり反射光強度
の変化率が急激に変わる。以後反1″光強度は漸減し、
時刻t4で八あけが完了するため反射光強度は急激に減
少する。なお加工用ビーム発生装置5としてレーザを用
い、かつ検出用ビーム発生装W11を用いる場合には、
加工用ビーム7と検出用ビーム120波長の違いから集
光レンズ9を通過する両ビームの焦点距離が異なる。こ
の場合、加工用ビーム7について複合拐料4上に焦点を
合わせると、検出用ビーム12の複合材料4上のビーム
径が広がるから、複合材料4上表面からの反射光が大き
くなる。これを防ぐためには、複合材料4上表面に検出
用ビーム12の吸収層を設けるのがよい。
次に上記反射)を強度の変化圧対する加工用ビーム発生
装置5の出力制御の状況を第7図を用いて説明する。第
7図は、必要な出力エネルギー量Wと時刻tとの関係を
示す図であり、縦軸にエネルギー量Wをとり、横軸に時
刻tをとっている。第7図の時刻t+ 、 t2. i
s 、 I!4はそれぞれ第6図に示す時刻と同じであ
る。図の実線は時刻t1からt2まで一定のエネルギー
量w+を加え、t2からt3まで一定のエネルギーii
、w2を加え、t5からt4まで一定のエネルギー量(
1r5’ly加えることを示している。なおtl−t2
 、 t2−13およびt3− tA各区間で出力エネ
ルギー量は一定にしでおき、焦点制御部17を用いて集
光レンズ9の焦点を移動して行ってもよい。または焦点
制御部17を用いずに集)tレンズ9の焦点は複合材料
40表面に固定しておき、第7図の点線で示すように加
工用ビーム発生装置5の出力エネルギー量を?lfi増
させてもよい。
次に最適エネルギー量と加工用ビーム7の照射時間との
関係について、第8図を用いて説明−「る。第8図は、
縦軸に出力エネルギー171ヲVをとり、横軸に加工用
ビーム7の照射時間tをとっている。第8図は、複合材
料4の各層ごとに以外の領域は、エネルギー不足かまた
はエネルギー過剰であって穴あけには適さ1.cい領域
である。網目の領域Bは、ある層から他の層への熱伝導
の影響をも考慮した最適のエネルギー量を与える領域で
ある。領域lは、領域Bを包含している。ここで領域A
および領域Bの求め方について述べる。領域Aは、複合
材料4の各層一枚について出力エネルギー量wと照射時
間tを変えてみて求めればよい。領域Bは、このような
領域Aの中の点から、熱伝導の影響を考慮して実際の複
合材料4を使って最適のエネルギー量を与える領域であ
る。たとえば第9図に示すような方法によっ′C求める
。第9図は、第1図に示す複合材料の断面図であって、
((Zlは穴あけの行われていプよいもの、(b)は銅
層1にあらかじめ穴あけを行ったもの、(C)は銅層3
1と樹脂層2にあらかじめ穴あけを行ったものである。
銅層1の穴あけについては、該銅M1の領域Aについて
のデータから出力エネルギー量と時間を選び、(alの
複合材料を使って銅Iv11の穴あけを行い、仕上がり
の状態のよい出力エネルギー量と時間を最適エネルギー
量として選択し、銅層1についての領域Bのデータを作
り上げ7;)。
樹脂層2については、該樹脂層2の領域lと(/I)の
複合拐料な使って、同様に例+jqtn2についCの領
域Bのデータを作り上げる二また銅ルク3についても、
該銅層6の領域Aと(C)の複合拐料を使って、同様に
銅層3につい”Cの領域Bのデータを作り上げる。ここ
で得られた領域13のデータは、出力エネルギー館、ま
たは出力エネルギー量と照射時間、とし゛C出力制御部
15のマーfりUコンピュータ等の計W、機に貯えられ
、加工用ビーム7の出力制御のために使用されイ)。
以上本発明の方法に使用される装置の例ふ・よび各層の
最適出力エネルギー量ケ測定−(゛る方法圧ついて述べ
てきたが、ここで本発明のN合月料穴あけ方法の5つの
実11[i例について砦約する。
第1の笑施例は、まず上記した方法に」、す、複合拐料
の各層にづいて領域Bのデ・−タを作成する。次にこの
ようにしCmられたデータのうちから各層の出力エネル
ギーjA−のデータのみを選択し、第6図の出力制御部
15の−r−(クロコンピユータ等の記憶装置に貯える
。この方法に使用する複合材料穴あけ装置は、検出用ビ
ームを使用せず、前記した加工用ビーム発生装置5がレ
ーザ発生装置であり、検出用ビーム発生装置11のない
装置である。また焦点制御部17は必要に応じ使用して
もよい。以下該・レーザビームの複合拐料穴底からの反
射光の変化を検出し、出力制御部15に記憶している各
層の出力エネルギー liのデータを使って、加工用ビ
ーム発生装置5の加工用ビーム制御電源6を制御し、最
適の投入エネルギー条件によって穴あげ加工を行うこと
ができる。
第2の実施例は、まず上記した方法によし、複合材料の
各層について領域Bのデータを作成する。次にこのよう
にして得られたデータのうちから各層の出力エネルギー
油のデータのみン選択し、第5図の出力制御部150マ
イクロコンビ=−夕等の記憶装置に貯える。この方法に
使用する複合材料穴あげ装置は、検出用ビームを使用し
、第5図の構成をもった装置である。ただし焦点制御部
17は必要に応じ使用してもよい。
以下検出用レーザビームの複合拐刺穴底からの反射光の
変化を検出し、出;’J fliU m11部15に記
憶している各層の出力エネルギー量のデータな使って、
加工用ビーム発生装置5の加工用ビート制御電源6を制
御し、最適の投入エネルギー条件によって穴あけ加工を
行うことができる。
第3の実施例は、まず上記した方法により、複合材料の
各層について領域Bのデータを作成する。次にこのよう
にして得られたデータを第6図の出力制御部15のマイ
クロコンビーータ等の記憶装置に貯える。この方法に使
用する複合材料穴あけ装置においては、反射X O)検
出を行わないので、第3図の検出ビート注入鏡8.検出
ビーム反射鏡10.検出用ビーム発生装置11゜検出用
ビーム12.集光レンズ14お」:び検出器15は不要
である。焦点制御部17は必要に応じ使用してもよい。
以下出力側il1部15に記1.(¥している各層につ
いての領域Bのデータを使って加工用ビーム発生製例5
の加工用ビーム制徊1′i′1′τ、曽6を制御し、最
適の投入エネルギー条件によって穴あけ加工を行うこと
ができる。。
lffお上記説明から明らかなように、本発明の方法に
よりば、多層K 7’:cっだ複合材料の最上層から順
に任意の層までの穴あけを行うことも容易に実行できる
発明の効果 本発明によれば、放射エネルギービームIC4る複合材
料の穴あけ加工において、該複合拐料に均一径の穴をあ
けるために、該材料各層に最適yxエネルギー量を照射
する方法を実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は複合材料例の断面図、第2図は従来の方法によ
り穴あけされた複合材料例の断面図、第5図は本発明の
一実施例に使用する複合材料穴あけ装置の構成を示すブ
ロック図、第4図は検出ビーl、注入鏡8(−例)の断
面図、第5図は検出ビーム反射鏡10(−例)およびそ
の周辺の構成ブロックの位置関係を示す断面図、第6図
は第1図に示す複合材料例について反射光の強度と時刻
との関係を示す図、第7図は第6図の特性をもった複合
拐料例につい゛(必v、r; ’1,1出カエネルギー
緻と時刻との関係を示−J゛図、8r4’ 8図は各層
について可能な投下エネルギー1ri(IJI力エネル
ギーX時間)の領域を示す図、ip 9図は第8図の領
域Bを求めるため釦使用する複合月料例の断面図である
。 1・・・銅層、2・・・樹脂層、6・・・銅層、4・・
・複自拐料、5・・・加工用ビーム発生装置、6・・・
加工用ビーム制御電源、7・・・加工用ビート、8・・
・検出ビーム注入鏡、9・・・集光レンズ、10・・・
検出ビーム反射鏡、11・・・検出用ビーム発生装置、
12・・・検出用ビーム、 [・・・検出器、14・・
・集)“(]レンズ、15・・・出力制7j11部 、゛)“ 1 閃 第4−四 オ 5121 第2口 、胃・? 図 ;=?5  口

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 放射エネルギービームにより複数種類の層が積層
    された複合羽料忙穴あけをする方法において、前記各層
    ととに放射エネルギービームの最適−11Fカエネルギ
    ー量を設定し、前記放射エネルギービームによる穴あけ
    が異なる層に到達することを検出し、これに応じて前記
    放射エネルギービームの最適出力エネルギー景を前記設
    定された値になるよう圧制御し、各層に亘って均一な径
    の大あけを行うことを特徴とする複合材料穴あげ方法。 2 前記放射エネルギービームの前記複合材料の大底か
    らの反射光の変化を検出することにより、該放射エネル
    ギービームによる穴あけが異1ぶる層に到達したことを
    検出することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    複合材料穴あげ方法。 5 前記放射エネルギービームとは別に設けられた検出
    用レーザビームを照射し、該レーザビームの前記複合材
    料穴底からの反射)℃の変化を検出すること九より、該
    放射エネルギーヒートによる穴あげが異なる層に到達し
    たことを検出することを特徴とする特許請求の範囲第1
    項記載の複合材料穴あけ方法0 4、 前記複合材料の各層ごとに前記放射エネルギービ
    ームの照射時間を測定し、該照射時間の経過によって該
    5放射エネルギービーl、による八あけが異なる層に到
    達したことを検出することを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載の複合材料穴あけ方法。
JP57136273A 1982-08-06 1982-08-06 複合材料穴あけ方法 Pending JPS5927791A (ja)

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