JPS5926906A - アモルフアス炭素材料 - Google Patents
アモルフアス炭素材料Info
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- JPS5926906A JPS5926906A JP57136787A JP13678782A JPS5926906A JP S5926906 A JPS5926906 A JP S5926906A JP 57136787 A JP57136787 A JP 57136787A JP 13678782 A JP13678782 A JP 13678782A JP S5926906 A JPS5926906 A JP S5926906A
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Classifications
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/26—Deposition of carbon only
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/02—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/12—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed
- H01L29/16—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed including, apart from doping materials or other impurities, only elements of Group IV of the Periodic Table
- H01L29/1604—Amorphous materials
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、真空容器内において炭化水素糸物負(例えば
CH=、 C=)i・、C[有]Ho・・・・・などメ
タン系炭化水素あるいはC,H4,C,H=などエチレ
ン系炭化水累、アセチレン系炭化水素)をRF高周波電
界ラジオ周波数)の作用のもとにプラズマ分解析出は)
プラズマCVDという)して得られる発光特性ならびに
半導体特性を有しかつ高硬度なアモルファス炭3Fi:
月料に関するものである。
CH=、 C=)i・、C[有]Ho・・・・・などメ
タン系炭化水素あるいはC,H4,C,H=などエチレ
ン系炭化水累、アセチレン系炭化水素)をRF高周波電
界ラジオ周波数)の作用のもとにプラズマ分解析出は)
プラズマCVDという)して得られる発光特性ならびに
半導体特性を有しかつ高硬度なアモルファス炭3Fi:
月料に関するものである。
プラズマCVD法によって得られたアモルファス炭素材
料は、淡黄色の透明物質で、次の2つの大きな特徴ある
物理的性質を有することが見出された。
料は、淡黄色の透明物質で、次の2つの大きな特徴ある
物理的性質を有することが見出された。
1つは、発光特性ならびに半導体特性を有することで、
水銀ランプの発する365/X7771−紫外線励起に
よって2.6eV に発光ピークを持つ青白色の明る
いフォトルミネッセンスが観察され、かつ3. OeV
の光学ギャップを有する半導体特性を示した。
水銀ランプの発する365/X7771−紫外線励起に
よって2.6eV に発光ピークを持つ青白色の明る
いフォトルミネッセンスが観察され、かつ3. OeV
の光学ギャップを有する半導体特性を示した。
この性質は、実用面からは、青白色の発光ダイオードあ
るいは半導体レーザダイオードとしての可能性を有する
。
るいは半導体レーザダイオードとしての可能性を有する
。
また青白色の螢光ランプへの応用も可能であり、青白色
の透明螢光ランプの実現の可能性もある。
の透明螢光ランプの実現の可能性もある。
さらに大きな光学ギャップを有することから、高効率太
陽電池への可能性も考えられる。
陽電池への可能性も考えられる。
他の価値ある特徴の1つは、ダイヤモンドに匹敵する極
めて高い硬度を有しているということである。
めて高い硬度を有しているということである。
アモルファス炭素材料は、物質の表面に容易に膜状とし
て析出形成できることから、この極めて硬いという性質
を一般の物質に賦与して劇摩耗性の優れたものに改善で
きるという極め″′C有用な応用が考えられる。
て析出形成できることから、この極めて硬いという性質
を一般の物質に賦与して劇摩耗性の優れたものに改善で
きるという極め″′C有用な応用が考えられる。
例えばメガネレンズあるいは、腕時計のカバーガラスな
どはよく傷がつき見苦しくなる場合があるが、アモルフ
ァス炭素材料をこれらの上に析出被着させることによっ
て全く傷のつかないものに改善することは容易である。
どはよく傷がつき見苦しくなる場合があるが、アモルフ
ァス炭素材料をこれらの上に析出被着させることによっ
て全く傷のつかないものに改善することは容易である。
本発明は、このように特異なかつ有用な物理的、機械的
性質を有するアモルファス炭素材料特にアモルファス炭
素薄膜材料に関して基本的かつ実用的に価値ある技術を
提供しようとするものである。
性質を有するアモルファス炭素材料特にアモルファス炭
素薄膜材料に関して基本的かつ実用的に価値ある技術を
提供しようとするものである。
従来、アモルファス炭素材料は油煙(スス)として知ら
れているもので、その応用例は鉛筆の芯、墨汁などの他
、導電材料として摺動子接点制料など、また耐熱性を利
用した炉材などの炭素製品として実用に供されてきてい
る。
れているもので、その応用例は鉛筆の芯、墨汁などの他
、導電材料として摺動子接点制料など、また耐熱性を利
用した炉材などの炭素製品として実用に供されてきてい
る。
しかし、本発明において提供されるアモルファス炭素材
料のように半導体的1機械的にその特異な機能を賦与し
たものでこれまでに実用化された例はまだない。
料のように半導体的1機械的にその特異な機能を賦与し
たものでこれまでに実用化された例はまだない。
アモルファス炭素材料をアセチレンガスのグロー放電分
解゛法により初めて作成し、電気的、光学的性質を倹約
した例としてAnd6rson (英国)の報告がある
。
解゛法により初めて作成し、電気的、光学的性質を倹約
した例としてAnd6rson (英国)の報告がある
。
また、その後アセチレンガスにホスフィン、ジボランな
どのガスを混入してアモルファス炭素材料を作成し、主
にその電気的特性について報告したものにMeyerS
On (英国)がイル。
どのガスを混入してアモルファス炭素材料を作成し、主
にその電気的特性について報告したものにMeyerS
On (英国)がイル。
さらに、■ora(英国)らが、メタンをグロー放電分
解して立方晶の結晶構造を持つ擬ダイヤモンド膜を形成
せしめたとの報告を行なっているのみで、膜の電気的、
光学的性質については述べられていない。
解して立方晶の結晶構造を持つ擬ダイヤモンド膜を形成
せしめたとの報告を行なっているのみで、膜の電気的、
光学的性質については述べられていない。
ごく最近、渡辺らは、エチレンガスのグロー放電分解に
より、析出形成したアモルファス炭素膜の発光特性を報
告したか光学ギャップ2.6eV、発光ピークエネルギ
ー2.OeV程度と小さいものであった。
より、析出形成したアモルファス炭素膜の発光特性を報
告したか光学ギャップ2.6eV、発光ピークエネルギ
ー2.OeV程度と小さいものであった。
さらに、本発明にかかるアモルファス炭素材料と異なる
ものの、同様な発光特性、半導体特性を有するものとし
て大木らによりケイ累ターゲットを用いてプロパンガス
雰囲気で反応性スパッタリングすることによりアモルフ
ァス炭化ケイ素材料を。
ものの、同様な発光特性、半導体特性を有するものとし
て大木らによりケイ累ターゲットを用いてプロパンガス
雰囲気で反応性スパッタリングすることによりアモルフ
ァス炭化ケイ素材料を。
又あるいは、テトラメチルシラン(s t (CH,)
4)をグロー放電分解することによりアモルファス炭
化ケイ素材料を膜状に析出形成した例が報告されている
。
4)をグロー放電分解することによりアモルファス炭
化ケイ素材料を膜状に析出形成した例が報告されている
。
しかし、発光特性はおよそ2.0〜2.3eV であり
光学ギャップは2.5〜2.6eV とそれぞれ小さ
い値であることが報告されている程度に過ぎない。
光学ギャップは2.5〜2.6eV とそれぞれ小さ
い値であることが報告されている程度に過ぎない。
これらの結゛果に対し、本発明にかかるアモルファス炭
素薄膜材料の特徴は、2.6 eV と比較的短波長側
に発光ピークを持ち、さらに3.OeVと極めて大きな
光学ギャップを有すると共に極めて硬いという機械的強
度を伽えた物質であることである。
素薄膜材料の特徴は、2.6 eV と比較的短波長側
に発光ピークを持ち、さらに3.OeVと極めて大きな
光学ギャップを有すると共に極めて硬いという機械的強
度を伽えた物質であることである。
以1に、本発明の効果を検証するため、後述の実施例1
に記載した条件でシリコン基板上ならびにスライドガラ
ス上にプロパンガスのプラズマCVDにより分解析出し
て得られたアモルファス炭素薄膜材料の物理的、光学的
2機械的性負について軸べた結果について述べる。
に記載した条件でシリコン基板上ならびにスライドガラ
ス上にプロパンガスのプラズマCVDにより分解析出し
て得られたアモルファス炭素薄膜材料の物理的、光学的
2機械的性負について軸べた結果について述べる。
プロパンガスのプラズマCVDにより得られたアモルフ
ァス炭素薄膜は、淡黄色の透明材料である。
ァス炭素薄膜は、淡黄色の透明材料である。
スライドガラス基板から剥離した膜の比重は浮遊法(薄
膜状物質の比重測定法の一つである)により測定したと
ころ1.15〜1.16 ycTL” であった。
膜状物質の比重測定法の一つである)により測定したと
ころ1.15〜1.16 ycTL” であった。
ダイヤモンドの比lはa、 51 t7crXであり、
これよりはるかに小さな値であった。
これよりはるかに小さな値であった。
尚、上記浮遊法による比重の測定について述べれ測定に
用いた重液は臭化亜鉛(ZnBrx比k 4.219)
でこれに膜を浮べ希釈液のエタノール(C−)1=OH
比m0.793)を加えながら重液の比重を変えて膜か
丁度沈降開始したときの液比lをもって、その膜の比重
とする。
用いた重液は臭化亜鉛(ZnBrx比k 4.219)
でこれに膜を浮べ希釈液のエタノール(C−)1=OH
比m0.793)を加えながら重液の比重を変えて膜か
丁度沈降開始したときの液比lをもって、その膜の比重
とする。
作製した薄膜材料は、第1図のX線回折の結果よりアモ
ルファス構造であることを確認した。
ルファス構造であることを確認した。
また第2図は、この薄膜の赤外吸収スペクトルを示して
いる。
いる。
この図よりおよそ2900cm−’ 、 1460c
IrL−、’ 。
IrL−、’ 。
1380 cm−’にそれぞれC−H九の伸縮振動、C
−HjC−出の変角振動による強い吸収が観察され、こ
れよりアモルファス炭素薄膜材料には水素が強く結合し
ていることが知られた。
−HjC−出の変角振動による強い吸収が観察され、こ
れよりアモルファス炭素薄膜材料には水素が強く結合し
ていることが知られた。
その証拠として最高600℃まで加熱焼鈍したが、これ
らの特性には何らの変化が認められなかった。
らの特性には何らの変化が認められなかった。
これらの結果よりこのプロパンカスのプラズマCVDに
より形成された薄膜は、主にC,H原子より構成された
アモルファス炭素材料であることが判明した。
より形成された薄膜は、主にC,H原子より構成された
アモルファス炭素材料であることが判明した。
またこの膜の抵抗率yは、10”ΩcrIL程度であっ
た。
た。
以上のような本発明にかかる水素を含有するアモルファ
ス炭素薄膜材料の第1の効果である発光特性についてま
ず詳述する。
ス炭素薄膜材料の第1の効果である発光特性についてま
ず詳述する。
水銀灯365?2mの紫外線励起による発光特性はスラ
イドガラス上に形成されたアモルファス炭素薄膜材料に
よって詭べられた。
イドガラス上に形成されたアモルファス炭素薄膜材料に
よって詭べられた。
この結果は、第3図に示されている。
この図で3つの曲線は、基板温度を室温、100℃。
150℃で作成された材料の発光特性を示している。
室温で作成した材料は発光ピークエネルギーが2.6
eVで青白色の発光が観察された。
eVで青白色の発光が観察された。
また100℃、150℃と作成温度の上昇とともに低エ
ネルギー側に発光ピークがシフトする傾向がみられた。
ネルギー側に発光ピークがシフトする傾向がみられた。
また第4図は、可視吸収スペクトルを示す図で、室温で
作成した膜では吸収端が3.OeVにある。
作成した膜では吸収端が3.OeVにある。
これらの発光ピークエネルギー、光学ギャップは。
現在までに報告されているアモルファスケイ素。
アモルファス炭化ケイ素材料を含めて最大の値であった
。
。
この発光特性および可視吸収スペクトルは、ブラズマC
VDの分解析出の条件により多少変化し、例えは後述の
実施例2による場合には発光ピークが2・3 eV、可
視吸収スペクトルの光学ギャップが2.7eVであった
。
VDの分解析出の条件により多少変化し、例えは後述の
実施例2による場合には発光ピークが2・3 eV、可
視吸収スペクトルの光学ギャップが2.7eVであった
。
このことは、アモルファス炭素薄膜材料の製造条件によ
って光学的、半導体的性質の一部を適消変化させ、うる
ものであることを示唆している。
って光学的、半導体的性質の一部を適消変化させ、うる
ものであることを示唆している。
さて本発明にかかる第2の効果は極めて特異な問題でア
モルファス炭素材料がダイヤモンドに匹敵しつる高硬度
を持っているという材料物性で革命的特性の結果を検証
することである・ 第5図は、各種の材料の硬さをそれぞれ大小関係で示し
た結果である。
モルファス炭素材料がダイヤモンドに匹敵しつる高硬度
を持っているという材料物性で革命的特性の結果を検証
することである・ 第5図は、各種の材料の硬さをそれぞれ大小関係で示し
た結果である。
すなわち本発明によって得られたアモルファス炭素材料
について寺沢式マイクロビッカース硬度計(本硬度u1
は、薄膜用硬度計として使用されているもので、敢低荷
i0,14n高荷重が2001まで測定が可能かもので
ある。)により硬さ測定を次の手順で行なった。
について寺沢式マイクロビッカース硬度計(本硬度u1
は、薄膜用硬度計として使用されているもので、敢低荷
i0,14n高荷重が2001まで測定が可能かもので
ある。)により硬さ測定を次の手順で行なった。
まず、アモルファス炭素材料は薄膜材料であることから
初めに0.11の荷重の下で測定したところダイヤモン
ド圧子の圧痕は全く認められなかったO 次いで荷lを1ノ、5?、10?・・・・と引き続き増
大して硬度測定を行なったが先と同様全くダイヤモンド
圧子の圧痕はつかず1001に至って薄膜材料に十文字
状の亀裂が初めて確認できるにいたった。
初めに0.11の荷重の下で測定したところダイヤモン
ド圧子の圧痕は全く認められなかったO 次いで荷lを1ノ、5?、10?・・・・と引き続き増
大して硬度測定を行なったが先と同様全くダイヤモンド
圧子の圧痕はつかず1001に至って薄膜材料に十文字
状の亀裂が初めて確認できるにいたった。
しかし、なおかつ十文字状亀裂の中心に硬度値を与える
ダイヤモンド圧子の圧痕は確認できなかった。
ダイヤモンド圧子の圧痕は確認できなかった。
この実験結果は、まさに本発明にかかるアモルファス炭
素材料がダイヤモンドに匹敵する尚い硬度値を有してい
ることの証明である。
素材料がダイヤモンドに匹敵する尚い硬度値を有してい
ることの証明である。
さらにこれを実証するためにモース硬度と呼ばれる硬度
測定の方法に従って、他種材料とそれぞれ引っ掻き方法
によって硬さの順位を比較して並べた結果が第5図であ
る。
測定の方法に従って、他種材料とそれぞれ引っ掻き方法
によって硬さの順位を比較して並べた結果が第5図であ
る。
すなわちダイヤモンドとアモルファス炭素材料では互い
に傷をつけ合うことはできないが他の材料に対しては容
易に引っ掻き傷をつけうろことを確認した。
に傷をつけ合うことはできないが他の材料に対しては容
易に引っ掻き傷をつけうろことを確認した。
以上に本発明にかかるアモルファス炭素材料の物理的、
光学的1機械的性質について概略を説明したが以下では
実施例をもって詳細に説明する。
光学的1機械的性質について概略を説明したが以下では
実施例をもって詳細に説明する。
実施例1
銹導結合型のプラズマCVD装置(石英管50醜ψ )
においてまず真空容器を10〜10Torrに真空排気
した後市販のプロパン(純度983%)ガスを4 g
mTorrになるように導入しRFi 3.56 ME
(z、 N力20Wを投入しプラズマCVDによってシ
リコン基板およびスライドガラス基板上にアモルファス
炭素材料を厚さ10.L4?lL程度の膜状に析出形成
させた。
においてまず真空容器を10〜10Torrに真空排気
した後市販のプロパン(純度983%)ガスを4 g
mTorrになるように導入しRFi 3.56 ME
(z、 N力20Wを投入しプラズマCVDによってシ
リコン基板およびスライドガラス基板上にアモルファス
炭素材料を厚さ10.L4?lL程度の膜状に析出形成
させた。
基板温度は室温、100℃、150’Cの3種類で杓う
た。
た。
また堆積速度は100〜zooi−であり堆積速度は基
板温度の上昇とともに若干減少する傾向があった。
板温度の上昇とともに若干減少する傾向があった。
得られた膜の構造は第1図のX線回折の結果からもわか
るように炭素の回折線はみられずアモルファスであるこ
とが@誌された。
るように炭素の回折線はみられずアモルファスであるこ
とが@誌された。
スライドガラス基板上に堆積した膜について水銀灯36
5vrL紫外線励起により発光特性を調べた結果は第3
図に示されている。
5vrL紫外線励起により発光特性を調べた結果は第3
図に示されている。
また可視吸収スペクトルを調べた結果は第4図で示され
ている。
ている。
すなわち塞流で形成されたアモルファス炭素材料は2,
6eVにピークを持つ発光特性を有し、かつ光学ギャッ
プ3.OeV の半導体性負な有する物質であることが
わかる。
6eVにピークを持つ発光特性を有し、かつ光学ギャッ
プ3.OeV の半導体性負な有する物質であることが
わかる。
さらに基板@度の上昇に伴い発光特性、ならびに光学ギ
ャップは低エネルギー側にそれぞれ移動した、 また、その発光強度は、この3つの間で同等であった。
ャップは低エネルギー側にそれぞれ移動した、 また、その発光強度は、この3つの間で同等であった。
なおこの物・債をマイクロビッカース硬度針によって硬
度測定を行なったところダイヤモンド圧子の庄成はみら
れず測定不可能であった。
度測定を行なったところダイヤモンド圧子の庄成はみら
れず測定不可能であった。
この膜で他物質に傷をつけたところ第5図に示すような
硬さの順位が得られた。
硬さの順位が得られた。
すなわちこの膜物質はダイヤモンドと同程度の硬さを有
していることが知られた。
していることが知られた。
これらの膜を200℃、400℃、600℃の各温度で
30分間真空焼鈍して物理的、光学的。
30分間真空焼鈍して物理的、光学的。
機械的緒特性を同様な方法で測定したが焼鈍以前の膜と
比較して何らの変化もみられなかった。
比較して何らの変化もみられなかった。
実施例2
上記の装置において市販のプロパンガスを5簿Torr
となしプラズマCVD法により先と同様分解析出して得
られた膜の発光特性は2.3eVにピークを持ち可視吸
収スペクトルの吸収端は2.7eVであった。
となしプラズマCVD法により先と同様分解析出して得
られた膜の発光特性は2.3eVにピークを持ち可視吸
収スペクトルの吸収端は2.7eVであった。
一方マイクロビッカース硬度計による硬度測定は、先と
同様に不用能であった。
同様に不用能であった。
また・、お互いの引っ掻き偽による相対的硬度比較は第
5図と同じ結果であった。
5図と同じ結果であった。
以上のように本発明にかかるアモルファス炭素材料は、
その発光特性、半導体特性および機械特性などにおいて
従来の物質とは、まったく比肩しえない稀なる特性を有
するものでその応用的価値は極めて犬であるといえる。
その発光特性、半導体特性および機械特性などにおいて
従来の物質とは、まったく比肩しえない稀なる特性を有
するものでその応用的価値は極めて犬であるといえる。
第1図は、アモルファス炭素材料のX線回折を示す図、
第2図は、アモルファス炭素材料の赤外吸収スペクトル
を示す図、第3図は、アモルファス炭素材料の水銀灯励
起による発光特性を示す図、第4図は、アモルファス炭
素材料の可視吸収スペクトルを示す図、第5図は、アモ
ルファス炭素材料の硬さを相対的に比較した図である。 昭和57年8月 5 日 出願人 −ノ 瀬 幸 16雄発明者 下
川 房 男 7/浦 2θ (龜8) 72弗 +vQV@1lullloar 1cln’1】Z
佃 手続補正書(加0 昭和57年124 p B 特許庁長官若杉和夫 殿 1、事件の表示 アモルファス炭素材料 3 補正をする者 事′件との関係 特許出願人 −)瀬 幸 雄 4、代理人 5、補正命令の日付 昭和57年11月12日特願
昭57−136787号手続補正書本願(=関し明細
曹中下記の箇所を補正する。 記 1 第11頁第12行目から第13行目の「第5図は、
・・−・結果である。」とあるを削除する・ 2 第13頁第7行目から第8行目の「引っ掻き方法・
・・・第5図である。」とあるを次のよう菟二補正する
。 [引っ掻き方法(二よって硬さの順位を比較して並べる
と、 タイヤモンドゴアモ乞σメ炭素〉超硬工具〉石英〉ガラ
ス〉軟鋼〉銅となった。」 3 第17頁第6行目から第7行目の「お互いの・・Φ
・結果であった。」とあるを次のように補正する。 「お互いの引っ掻き傷による相対的硬度比較#ま前肝己
の、 タイヤセンド2ア七ηアス炭素〉超硬工具〉石英〉カス
〉軟鋼〉銅と同じ結果であった。」 4 第18頁第3行目から第5行目の「第4図は。 ・・φ・図である。」とあるを次のように補正する。 r*4図は、アモルファス炭素材料の同視吸収スペクト
ルを示す図である。」 5 第16頁第5行目から第6行目の「この膜で・・・
・得られた。」とあるを次のよう(=補正する。 「この膜で他物質4二傷をつけたところ、灯ヤモンド2
)ファス炭素〉超硬工具〉石英〉カス〉軟鋼〉銅のよう
な硬さの順位が得られた。」
第2図は、アモルファス炭素材料の赤外吸収スペクトル
を示す図、第3図は、アモルファス炭素材料の水銀灯励
起による発光特性を示す図、第4図は、アモルファス炭
素材料の可視吸収スペクトルを示す図、第5図は、アモ
ルファス炭素材料の硬さを相対的に比較した図である。 昭和57年8月 5 日 出願人 −ノ 瀬 幸 16雄発明者 下
川 房 男 7/浦 2θ (龜8) 72弗 +vQV@1lullloar 1cln’1】Z
佃 手続補正書(加0 昭和57年124 p B 特許庁長官若杉和夫 殿 1、事件の表示 アモルファス炭素材料 3 補正をする者 事′件との関係 特許出願人 −)瀬 幸 雄 4、代理人 5、補正命令の日付 昭和57年11月12日特願
昭57−136787号手続補正書本願(=関し明細
曹中下記の箇所を補正する。 記 1 第11頁第12行目から第13行目の「第5図は、
・・−・結果である。」とあるを削除する・ 2 第13頁第7行目から第8行目の「引っ掻き方法・
・・・第5図である。」とあるを次のよう菟二補正する
。 [引っ掻き方法(二よって硬さの順位を比較して並べる
と、 タイヤモンドゴアモ乞σメ炭素〉超硬工具〉石英〉ガラ
ス〉軟鋼〉銅となった。」 3 第17頁第6行目から第7行目の「お互いの・・Φ
・結果であった。」とあるを次のように補正する。 「お互いの引っ掻き傷による相対的硬度比較#ま前肝己
の、 タイヤセンド2ア七ηアス炭素〉超硬工具〉石英〉カス
〉軟鋼〉銅と同じ結果であった。」 4 第18頁第3行目から第5行目の「第4図は。 ・・φ・図である。」とあるを次のように補正する。 r*4図は、アモルファス炭素材料の同視吸収スペクト
ルを示す図である。」 5 第16頁第5行目から第6行目の「この膜で・・・
・得られた。」とあるを次のよう(=補正する。 「この膜で他物質4二傷をつけたところ、灯ヤモンド2
)ファス炭素〉超硬工具〉石英〉カス〉軟鋼〉銅のよう
な硬さの順位が得られた。」
Claims (1)
- 真空容器内において炭化水素系物賃をRF高周波電界の
作用によりプラズマ状となし、その作用によって分解、
析出形成せられた発光特性ならびに半導体特性を有し、
かつ高硬度なアモルファス炭素材料。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57136787A JPS5926906A (ja) | 1982-08-05 | 1982-08-05 | アモルフアス炭素材料 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57136787A JPS5926906A (ja) | 1982-08-05 | 1982-08-05 | アモルフアス炭素材料 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5926906A true JPS5926906A (ja) | 1984-02-13 |
Family
ID=15183503
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57136787A Pending JPS5926906A (ja) | 1982-08-05 | 1982-08-05 | アモルフアス炭素材料 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5926906A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62265113A (ja) * | 1986-05-09 | 1987-11-18 | Yasunobu Akimoto | 硬質カ−ボン薄板の製造法 |
GR880100402A (el) * | 1987-08-03 | 1989-05-25 | Siemens Ag | Νεα βασικη υλη ημιαγωγων |
AU614090B2 (en) * | 1987-08-03 | 1991-08-22 | Siemens Aktiengesellschaft | Semiconductor base material |
US5135808A (en) * | 1990-09-27 | 1992-08-04 | Diamonex, Incorporated | Abrasion wear resistant coated substrate product |
US5527596A (en) * | 1990-09-27 | 1996-06-18 | Diamonex, Incorporated | Abrasion wear resistant coated substrate product |
US5637353A (en) * | 1990-09-27 | 1997-06-10 | Monsanto Company | Abrasion wear resistant coated substrate product |
US5643423A (en) * | 1990-09-27 | 1997-07-01 | Monsanto Company | Method for producing an abrasion resistant coated substrate product |
EP0787070A1 (en) * | 1994-08-31 | 1997-08-06 | Mobil Oil Corporation | Protective coating for pressure-activated adhesives |
US5827522A (en) * | 1996-10-30 | 1998-10-27 | Troy Corporation | Microemulsion and method |
-
1982
- 1982-08-05 JP JP57136787A patent/JPS5926906A/ja active Pending
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS62265113A (ja) * | 1986-05-09 | 1987-11-18 | Yasunobu Akimoto | 硬質カ−ボン薄板の製造法 |
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US5635245A (en) * | 1990-09-27 | 1997-06-03 | Monsanto Company | Process of making abrasion wear resistant coated substrate product |
US5527596A (en) * | 1990-09-27 | 1996-06-18 | Diamonex, Incorporated | Abrasion wear resistant coated substrate product |
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EP0787070A4 (en) * | 1994-08-31 | 1998-12-02 | Mobil Oil Corp | PROTECTIVE COATING FOR PRESSURE ACTIVE ADHESIVES |
US5827522A (en) * | 1996-10-30 | 1998-10-27 | Troy Corporation | Microemulsion and method |
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