JPS5924384A - 特徴点検査回路 - Google Patents
特徴点検査回路Info
- Publication number
- JPS5924384A JPS5924384A JP57133230A JP13323082A JPS5924384A JP S5924384 A JPS5924384 A JP S5924384A JP 57133230 A JP57133230 A JP 57133230A JP 13323082 A JP13323082 A JP 13323082A JP S5924384 A JPS5924384 A JP S5924384A
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- Japan
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- points
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V40/00—Recognition of biometric, human-related or animal-related patterns in image or video data
- G06V40/10—Human or animal bodies, e.g. vehicle occupants or pedestrians; Body parts, e.g. hands
- G06V40/12—Fingerprints or palmprints
- G06V40/1347—Preprocessing; Feature extraction
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Collating Specific Patterns (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
不発明は指紋等の縞状のパターンをその％徴を用いて照
合する装置に関するものである。
合する装置に関するものである。
従来、指紋照合をパターン認識技術を用いて行なう方式
は、その紋様の特徴点を用いる方式が偉業されている。
は、その紋様の特徴点を用いる方式が偉業されている。
即ち、第１図を参照しで、押捺印象画０１に現れた指紋
紋様を構成する隆線０２ の端点０３及び分岐点ｏ４を
特徴点とする０ 各特徴点Ｍ７は、押捺印象画成は紋様
にょっ゛Ｃ固有１こ定義された座標系によって、その位
［（Ｘｆ、Ｙ７）、方向Ｄｆ７Ｊびその他の特徴組によ
って記述される。
紋様を構成する隆線０２ の端点０３及び分岐点ｏ４を
特徴点とする０ 各特徴点Ｍ７は、押捺印象画成は紋様
にょっ゛Ｃ固有１こ定義された座標系によって、その位
［（Ｘｆ、Ｙ７）、方向Ｄｆ７Ｊびその他の特徴組によ
って記述される。
照合原理は、上記’ｒｉＪ債点の配置の合同性によって
行われるものである。
行われるものである。
特徴の抽出手段は特組昭５４−３９６４８号明細書（特
開昭５６−１３８１７４号公報）、また特徴？ζよる照
合手段？こついては特願昭５４−９８９６６号明細書（
特開昭５６−２４６７５号公叩）等でその実現が示され
ている。♂ころで、照合の過程に於いて照合Ｊべき探索
指紋と照合されるべきファイルとし−Ｃ蓄積されている
ファイル指紋の１つとを照合する場合に、その基本とな
るのは、対応する特徴点「対」を検出し、その過不足が
ないことを検査することである。この特徴点「対」の検
出に於いては、その位置、方向の一致性を検査する前に
、各特徴点「対」候補に対して、それぞれの特徴点即ち
探索指紋の特徴点Ｍｆ（、？’＝１〜Ｆ）とファイル指
紋の特徴点Ｍ６（ｓ＝１〜Ｓ）の互の近傍の特徴点の配
位関係を検査することが非常に重要である。
開昭５６−１３８１７４号公報）、また特徴？ζよる照
合手段？こついては特願昭５４−９８９６６号明細書（
特開昭５６−２４６７５号公叩）等でその実現が示され
ている。♂ころで、照合の過程に於いて照合Ｊべき探索
指紋と照合されるべきファイルとし−Ｃ蓄積されている
ファイル指紋の１つとを照合する場合に、その基本とな
るのは、対応する特徴点「対」を検出し、その過不足が
ないことを検査することである。この特徴点「対」の検
出に於いては、その位置、方向の一致性を検査する前に
、各特徴点「対」候補に対して、それぞれの特徴点即ち
探索指紋の特徴点Ｍｆ（、？’＝１〜Ｆ）とファイル指
紋の特徴点Ｍ６（ｓ＝１〜Ｓ）の互の近傍の特徴点の配
位関係を検査することが非常に重要である。
ところが第２図（ａｌ 、 （ｂ）を参照して同図（８
）に示される端点及び同図（ｂ）に示される分岐点のよ
うに、押捺のインク濃度や、印象の光電変換走査時の性
能に起因して点線で示す如く、特徴点の検出位置の安定
性は隆線の方向に不安定であり、隆線方向と直角方向に
は比較的安定である事実がある。
）に示される端点及び同図（ｂ）に示される分岐点のよ
うに、押捺のインク濃度や、印象の光電変換走査時の性
能に起因して点線で示す如く、特徴点の検出位置の安定
性は隆線の方向に不安定であり、隆線方向と直角方向に
は比較的安定である事実がある。
本発明の目的は、指紋の特徴点「対」検査の際近傍特徴
点配位を検査するための特徴点抽出時の特性を考慮した
より精密な検査方法を提供することにある。
点配位を検査するための特徴点抽出時の特性を考慮した
より精密な検査方法を提供することにある。
本発明によれば、これまでの検出手段に僅かな変更を付
加するのみで特徴点抽出時の抽出位置変位を効果的に解
決することができる。
加するのみで特徴点抽出時の抽出位置変位を効果的に解
決することができる。
次に図面を参照しながら、本ｆ６ＥｔｌＪの一実施例屹
ついて詳細に説明する。
ついて詳細に説明する。
第３図は、本発明になる回路の一実施例を示すブロック
図であって、探索指紋の特徴点ＭＳ（ｓ＝１〜Ｓ）を格
能するメモリｌｏ１ ファイル指紋の特徴点Ｍｆ（ｆ＝
ｘ＝Ｆ）を格納するメモ１Ｊ２０．座標変換回路３０．
４０、検査回路５Ｑ、及び制御部６ｏから構成される。
図であって、探索指紋の特徴点ＭＳ（ｓ＝１〜Ｓ）を格
能するメモリｌｏ１ ファイル指紋の特徴点Ｍｆ（ｆ＝
ｘ＝Ｆ）を格納するメモ１Ｊ２０．座標変換回路３０．
４０、検査回路５Ｑ、及び制御部６ｏから構成される。
メモリ川、 ２０は制御部からの特徴点番号Ｓ及びｆを
アドレス信号６０１．６０２ｉＣよｔ）％像点Ｍｓ、Ｍ
ｆのデータ（Ｘｓ、 Ｙｓ、Ｄｓ）及び（Ｘｆ。
アドレス信号６０１．６０２ｉＣよｔ）％像点Ｍｓ、Ｍ
ｆのデータ（Ｘｓ、 Ｙｓ、Ｄｓ）及び（Ｘｆ。
Ｙ７． Ｄｌ ）それぞれ出力信号０１０ｘ、、、（１
及び２００Ｘ＊ ｐ＋ ｄに出力する通常の記憶回路で
ある。
及び２００Ｘ＊ ｐ＋ ｄに出力する通常の記憶回路で
ある。
才な座標変換回路３０．４０は同−構造である。
第４図は座標変換回路３ｏの詳細を示すブロック図であ
る。同図に於いて、座標変換回路３ｏはレジスタ３１ｚ
＊ ｙ ＊ ａ ｓ ＊ Ｎ器３２Ｘ＋７＋ｄ１ 三
角定数ＲＯＭ３３、乗算器３４．３５．３６１３７及び
加算器３３ｘ１減算器３３．によって構成される。先に
メモリＩＯから読出されたデータ（Ｘｓ＋ Ｙｓ＋ Ｄ
ｓ）は、制御部６０からのセット信号６０３によってレ
ジスタ３１ｘ、ｙ、ｄ７こ保持される。 次に％像点Ｍ
３の近傍特徴点Ｍ ｓ ’が、制御部６０のアドレス信
号６０１によってメモリ１０から出力１００ｘ、ｙ、ｄ
ζこ出力されるさ、座標変換回路３０はレジスタ３１ｘ
。
る。同図に於いて、座標変換回路３ｏはレジスタ３１ｚ
＊ ｙ ＊ ａ ｓ ＊ Ｎ器３２Ｘ＋７＋ｄ１ 三
角定数ＲＯＭ３３、乗算器３４．３５．３６１３７及び
加算器３３ｘ１減算器３３．によって構成される。先に
メモリＩＯから読出されたデータ（Ｘｓ＋ Ｙｓ＋ Ｄ
ｓ）は、制御部６０からのセット信号６０３によってレ
ジスタ３１ｘ、ｙ、ｄ７こ保持される。 次に％像点Ｍ
３の近傍特徴点Ｍ ｓ ’が、制御部６０のアドレス信
号６０１によってメモリ１０から出力１００ｘ、ｙ、ｄ
ζこ出力されるさ、座標変換回路３０はレジスタ３１ｘ
。
ｙＩｄ に保持されている（Ｘ、、Ｙ、、ＤＢ ）と
減算器３２Ｘ、ｙＩｄで減算を行うとともに、Ｄ、が三
角定数ＲＯＭ３Ｂ：に供給されμｓＤｓ及びｓｉｎ ｌ
） ｓの値が信号３３ｃ＋ ３３ｓに出力され、３４．
３５．３６．３７の乗算器と加減算器３８ｘ、３８ｙに
よってＸｓ’ ：＝（Ｘｓ’−Ｘｓ ）ａｓＤｓ＋（Ｙ
ｓ’＋） ｓ ）Ｓｉｎｌ）ｓ△。
減算器３２Ｘ、ｙＩｄで減算を行うとともに、Ｄ、が三
角定数ＲＯＭ３Ｂ：に供給されμｓＤｓ及びｓｉｎ ｌ
） ｓの値が信号３３ｃ＋ ３３ｓに出力され、３４．
３５．３６．３７の乗算器と加減算器３８ｘ、３８ｙに
よってＸｓ’ ：＝（Ｘｓ’−Ｘｓ ）ａｓＤｓ＋（Ｙ
ｓ’＋） ｓ ）Ｓｉｎｌ）ｓ△。
ＹｓＡ＝（Ｙｓ′−Ｙｓ ）ｅｏｓｌ）ｓ−（Ｘｓ’−
Ｘｓ ）ｓｌｎＤｓなる出力Ｘ ｓ ＊ ’ｊ ｓ’が
３００ｘ、 ３００ｙ に出力される。一方３００ｄ
ζこは Ｄ ｓ ＝Ｄ ｓ −Ｉ） ｓ となり、（Ｘｓ＊ ＹｓｓＤｓ）を原点とする（Ｘｓ’
。
Ｘｓ ）ｓｌｎＤｓなる出力Ｘ ｓ ＊ ’ｊ ｓ’が
３００ｘ、 ３００ｙ に出力される。一方３００ｄ
ζこは Ｄ ｓ ＝Ｄ ｓ −Ｉ） ｓ となり、（Ｘｓ＊ ＹｓｓＤｓ）を原点とする（Ｘｓ’
。
Ｙ？、Ｄｓ’）の局所座標変換が行われる０座標変換回
路４０の動作は同様であるので説明を省略する。
路４０の動作は同様であるので説明を省略する。
このようにして探索指紋特徴点Ｍｓの近傍特徴点Ｍ、′
と、ファイル指紋特徴点Ｍｆの近傍特徴点Ｍ ｆｔとが
、それぞれ特徴点Ｍｓ、Ｍ１を原点さする局所△ Ｄｓ’ ）及び＜ ｘ、′、 ｙ ７ 、 ｎ 、／
）がそれぞれ３００ｘ。
と、ファイル指紋特徴点Ｍｆの近傍特徴点Ｍ ｆｔとが
、それぞれ特徴点Ｍｓ、Ｍ１を原点さする局所△ Ｄｓ’ ）及び＜ ｘ、′、 ｙ ７ 、 ｎ 、／
）がそれぞれ３００ｘ。
ｙＩｄ及び４００ｘ＋３’ｅｄに出力されると、これら
を入力として検査回路５０は次のような検査処理を行な
う。
を入力として検査回路５０は次のような検査処理を行な
う。
第５図は検査回路５０の詳細を示すブロック図である。
絶対１■減算回路５１ｘ、 ７＊ ｄ ％閾値発生器５
３、比較器”’Ｘ＋７ｅ！ 及びＡＮＤゲート５５から
構成される。検査回路５０の動作は、信号４００ｘ、
ｙ、 、３と３００ｘ、、、ｄ とを絶対値減算を行い
、その出力と、閾値発生器５３の出力ｓａｘ、 ｙｅ
ｄによる閾値（Ｔｘ、Ｔｙ＋Ｔｄ）ｌごよって比較器”
’Ｘ＋ｙ＋ｄによって △、△、 △７△ ｌＸ５−Ｘｆｌ≦Ｔｘ、 ＩＹｓ−Ｙ７１５Ｔｙ１１１
）ｓ ＤｆＩ≦Ｔｄなる判定を行う０３つの判定が全て
真であるときＡＮＤゲート５５は、一致信号５００を制
御部６０に出力するこさとなる。
３、比較器”’Ｘ＋７ｅ！ 及びＡＮＤゲート５５から
構成される。検査回路５０の動作は、信号４００ｘ、
ｙ、 、３と３００ｘ、、、ｄ とを絶対値減算を行い
、その出力と、閾値発生器５３の出力ｓａｘ、 ｙｅ
ｄによる閾値（Ｔｘ、Ｔｙ＋Ｔｄ）ｌごよって比較器”
’Ｘ＋ｙ＋ｄによって △、△、 △７△ ｌＸ５−Ｘｆｌ≦Ｔｘ、 ＩＹｓ−Ｙ７１５Ｔｙ１１１
）ｓ ＤｆＩ≦Ｔｄなる判定を行う０３つの判定が全て
真であるときＡＮＤゲート５５は、一致信号５００を制
御部６０に出力するこさとなる。
ここで理解を助けるために、上記動作を指紋特徴上で第
６図（ａ）、（ｂ）、 （Ｃ）を用いて説明しよう。探
索指紋特徴点Ｍｓと近傍％像点Ｍｓ’は（ａ）、ファイ
ル指紋ＩＰｉｊ像点Ｍｆと近傍特徴点Ｍｆ′は（ｂ）に
それぞれ図のように配位しているとする０ 座標変換回路３０及び４０によって局所座標変換を行っ
たのは図の局所座標７１．７２によっそそれぞれ近傍％
像点Ｍｓ’、Ｍ７’を表現することになる。
６図（ａ）、（ｂ）、 （Ｃ）を用いて説明しよう。探
索指紋特徴点Ｍｓと近傍％像点Ｍｓ’は（ａ）、ファイ
ル指紋ＩＰｉｊ像点Ｍｆと近傍特徴点Ｍｆ′は（ｂ）に
それぞれ図のように配位しているとする０ 座標変換回路３０及び４０によって局所座標変換を行っ
たのは図の局所座標７１．７２によっそそれぞれ近傍％
像点Ｍｓ’、Ｍ７’を表現することになる。
これらを相対関係を杉・肴回路５０で検査するこ吉は、
第６図（ｃ）で示した局所座標系７３によって近傍特徴
点λｉｓ１Ｍｆを調べるととＪこなる０ このきき、隆
線方向は、特徴点Ｍｓ及びＭ７の方向り、。
第６図（ｃ）で示した局所座標系７３によって近傍特徴
点λｉｓ１Ｍｆを調べるととＪこなる０ このきき、隆
線方向は、特徴点Ｍｓ及びＭ７の方向り、。
Ｄｆによって局所座標７１．７２が定められているので
第６図（Ｃ）に於いては局所座標７３のｙ方向に他なら
ない。したがって％微志抽出時の特徴点変位が隆線方向
に起きやすいことを考慮するためには閾値Ｔｘｓ Ｔｙ
は７４のような一般的な等しい閾値でなく７５のような
１′（ｌ１ｌｙとすることによって可能になる０このこ
とは第５図のもβ値発生器５３Ｔｘ、ＴｙをＴｘ’）ｌ
’ｙと設定づ−ることにより容易に実現できる０ 以上で、本発明の一実施例について説ψｊを終えた。制
御部６０については既述の動作説明によりこれを構成Ｊ
ることは当業者には容易になし得るもので説明を要しな
い０また実施例で示した各回路は、その機能を実現でき
ることを示した一実施例であって、マイクロプロセッサ
等によっても実現出来るものであって、Ｃれに１我るも
のではない。
第６図（Ｃ）に於いては局所座標７３のｙ方向に他なら
ない。したがって％微志抽出時の特徴点変位が隆線方向
に起きやすいことを考慮するためには閾値Ｔｘｓ Ｔｙ
は７４のような一般的な等しい閾値でなく７５のような
１′（ｌ１ｌｙとすることによって可能になる０このこ
とは第５図のもβ値発生器５３Ｔｘ、ＴｙをＴｘ’）ｌ
’ｙと設定づ−ることにより容易に実現できる０ 以上で、本発明の一実施例について説ψｊを終えた。制
御部６０については既述の動作説明によりこれを構成Ｊ
ることは当業者には容易になし得るもので説明を要しな
い０また実施例で示した各回路は、その機能を実現でき
ることを示した一実施例であって、マイクロプロセッサ
等によっても実現出来るものであって、Ｃれに１我るも
のではない。
第１図は指紋紋様の構成と骨撃点を説明する図、第２図
（ａｔ、（１））は’Ｆ１点抽出時の変位を説明する図
、第３図は本発明になる％像点検査回路の一実施例を示
すフロ・ツク図、第４図は座標変換回路３０．４０の一
実施９１１を示１ブロック図、第５図は扶育回路５０の
一実施例を示すブロック図、第６図（ａ） ＋ （ｂ）
＊（ｃｌは本発明の機能動作を説明するための図であ
る。 図１ｃ於いて、探索指紋の特徴点メモリ川、ファイル指
紋の特徴点メモリ２０、座標変換回路３０．４０、検査
回路５０、及び制御部６０をそれぞれ示すものである。 第 １ 図 ＄Ｚ図 （（Ｊ） （ｂ）郷３
図 罎４図 第５回 ５Ｕυ
（ａｔ、（１））は’Ｆ１点抽出時の変位を説明する図
、第３図は本発明になる％像点検査回路の一実施例を示
すフロ・ツク図、第４図は座標変換回路３０．４０の一
実施９１１を示１ブロック図、第５図は扶育回路５０の
一実施例を示すブロック図、第６図（ａ） ＋ （ｂ）
＊（ｃｌは本発明の機能動作を説明するための図であ
る。 図１ｃ於いて、探索指紋の特徴点メモリ川、ファイル指
紋の特徴点メモリ２０、座標変換回路３０．４０、検査
回路５０、及び制御部６０をそれぞれ示すものである。 第 １ 図 ＄Ｚ図 （（Ｊ） （ｂ）郷３
図 罎４図 第５回 ５Ｕυ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 指紋等の縞状パターンをその％像点で照合する番 装置に於いて、照合すべき２つのパターンの特徴点群を
保持する２組のメモリと、その出力である特徴点データ
を座標変換するための座標変換回路と、閾値検査をする
ための横書回路及び制御部とからなり、上記２組のメモ
リから読出され、た特徴点「対」に対して該叫像点「対
」の各々の近傍特徴点を前記特徴点「対」を原点とする
局Ｄ［座標に変換した後、前記近傍特徴府の配置を検査
する際、前記特徴点「対」の降り方向を前記検査の閾値
に反映させることにより、前記縞パターンでの特徴点の
抽出時に発生し易い位置変位に対して効果的に対処する
ことを特徴とする特徴点検査回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57133230A JPS5924384A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | 特徴点検査回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57133230A JPS5924384A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | 特徴点検査回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5924384A true JPS5924384A (ja) | 1984-02-08 |
Family
ID=15099762
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57133230A Pending JPS5924384A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | 特徴点検査回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5924384A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6255776A (ja) * | 1985-09-04 | 1987-03-11 | Hitachi Ltd | 指紋による個人識別方法 |
| US4896363A (en) * | 1987-05-28 | 1990-01-23 | Thumbscan, Inc. | Apparatus and method for matching image characteristics such as fingerprint minutiae |
| US5366898A (en) * | 1992-03-27 | 1994-11-22 | Dexsil Corporation | Method for quantitative determination of total base or acid number of oil |
| US7043083B2 (en) | 2001-03-28 | 2006-05-09 | Nec Corporation | Pattern-collating device, pattern-collating method and pattern-collating program |
| GB2487377B (en) * | 2011-01-18 | 2018-02-14 | Aptina Imaging Corp | Matching interest points |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5624675A (en) * | 1979-08-02 | 1981-03-09 | Nec Corp | Fingerprint reference device |
-
1982
- 1982-07-30 JP JP57133230A patent/JPS5924384A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5624675A (en) * | 1979-08-02 | 1981-03-09 | Nec Corp | Fingerprint reference device |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6255776A (ja) * | 1985-09-04 | 1987-03-11 | Hitachi Ltd | 指紋による個人識別方法 |
| US4896363A (en) * | 1987-05-28 | 1990-01-23 | Thumbscan, Inc. | Apparatus and method for matching image characteristics such as fingerprint minutiae |
| US5366898A (en) * | 1992-03-27 | 1994-11-22 | Dexsil Corporation | Method for quantitative determination of total base or acid number of oil |
| US7043083B2 (en) | 2001-03-28 | 2006-05-09 | Nec Corporation | Pattern-collating device, pattern-collating method and pattern-collating program |
| GB2487377B (en) * | 2011-01-18 | 2018-02-14 | Aptina Imaging Corp | Matching interest points |
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