JPS59231738A - 光ピツクアツプ - Google Patents
光ピツクアツプInfo
- Publication number
- JPS59231738A JPS59231738A JP10603383A JP10603383A JPS59231738A JP S59231738 A JPS59231738 A JP S59231738A JP 10603383 A JP10603383 A JP 10603383A JP 10603383 A JP10603383 A JP 10603383A JP S59231738 A JPS59231738 A JP S59231738A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- disk
- light
- reflected
- fresnel lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は光学式ディスクプレーヤ等における円盤状情
報記録媒体（以下ディスクと称する）に記録された記録
ピットより情報を光学的に読み出し、かつ上記ディスク
上の記録ピットに読出し光をフォーカシングする光ピツ
クアップに関するものである。
報記録媒体（以下ディスクと称する）に記録された記録
ピットより情報を光学的に読み出し、かつ上記ディスク
上の記録ピットに読出し光をフォーカシングする光ピツ
クアップに関するものである。
光学式ディスクプレーヤ等ではディスク上に記録された
記録ピットより、情報信号を読み出すために光学式の光
ピツクアップを用い、情報読取り用のビームを記録ピッ
トが存在するディスク面上にフォーカシングをし、かつ
記録ピットをトラッキングして読取り光を常にディスク
面上の記録ピットに正確に照射し、記録ピットよりの反
射光を受光する必要がある。
記録ピットより、情報信号を読み出すために光学式の光
ピツクアップを用い、情報読取り用のビームを記録ピッ
トが存在するディスク面上にフォーカシングをし、かつ
記録ピットをトラッキングして読取り光を常にディスク
面上の記録ピットに正確に照射し、記録ピットよりの反
射光を受光する必要がある。
光ビームを常に上記ディスク面上忙フォーカシングをす
るため、フォーカシングのズレを検知する方法として非
点収差法が知られている。
るため、フォーカシングのズレを検知する方法として非
点収差法が知られている。
第１図は非点収差法を用いた従来のこの種光ピックアッ
プを示している。
プを示している。
第１図において、レーザ光源（１）を出射するレーザ光
束（２）はコリメータ光学系（３）に入射した後平行光
束に変換されて偏光ビームスプリッタ＋４１． １／４
波長板（５）を透過し、フレネルレンズ（６）に入射す
る。
束（２）はコリメータ光学系（３）に入射した後平行光
束に変換されて偏光ビームスプリッタ＋４１． １／４
波長板（５）を透過し、フレネルレンズ（６）に入射す
る。
ここで上記フレネルレンズは平行平板上に同心円状回折
格子が形成されたものである。上記フレネルレンズ（６
）Ｋ入射した平行光束のうち大半はディスク（７）の面
上の１点Ｐに集光する１次回折光（８）に変換されるが
、そのまま透過する０次回折光（９）も存在する。
格子が形成されたものである。上記フレネルレンズ（６
）Ｋ入射した平行光束のうち大半はディスク（７）の面
上の１点Ｐに集光する１次回折光（８）に変換されるが
、そのまま透過する０次回折光（９）も存在する。
次にディスク（７）の面上の１点Ｐに集光した１次回折
光はここで反射され逆の光路をたどり上記フレネルレン
ズ（６）を透過後半行光束となって１／４波長板（５）
を透過し、偏光ビームスプリッタ（４）で分離され、凸
レンズ０〔とシリンドリカルレンズ０υからなる光束形
状変換光学系ａりを透過して光検出器αＪで受光される
。上記光束形状変換光学系ｏりは平行光束から集束性の
非点光束へ変換するために設けられている。
光はここで反射され逆の光路をたどり上記フレネルレン
ズ（６）を透過後半行光束となって１／４波長板（５）
を透過し、偏光ビームスプリッタ（４）で分離され、凸
レンズ０〔とシリンドリカルレンズ０υからなる光束形
状変換光学系ａりを透過して光検出器αＪで受光される
。上記光束形状変換光学系ｏりは平行光束から集束性の
非点光束へ変換するために設けられている。
一方、０次回折光（９）もディスク（７）で反射され逆
の光路をたどり上記フレネルレンズ（６）へ入射する。
の光路をたどり上記フレネルレンズ（６）へ入射する。
入射光の一部は１次回折光となり集束する光Ｉとなり、
集光点を通過したのちは発散光となり、偏光ビームスプ
リッタ（４）に入射し光路が変換されるが光検出器α湯
にはほとんど入射しない。
集光点を通過したのちは発散光となり、偏光ビームスプ
リッタ（４）に入射し光路が変換されるが光検出器α湯
にはほとんど入射しない。
次に、上記フレネルレンズ（６）への入射光の残りはそ
のまま通過し、平行光束のまま１／４波長板（５）を透
過し、偏光ビームスプリッタ（４）で分離され。
のまま通過し、平行光束のまま１／４波長板（５）を透
過し、偏光ビームスプリッタ（４）で分離され。
光束形状変換光学系α渇を透過したのち光検出器（１３
＋に入射する。すなわち、上記フレネルレンズ（６）に
よってディスク（７）に集光された光の反射光と、平行
光束のままディスク（７）で反射された光とが重畳され
た状態になっている。
＋に入射する。すなわち、上記フレネルレンズ（６）に
よってディスク（７）に集光された光の反射光と、平行
光束のままディスク（７）で反射された光とが重畳され
た状態になっている。
次に上記光束形状変換光学系αりの作用について説明ｆ
る。シリンドリカルレンズ（１１）の軸が仮に図の鉛直
方向を向いており、かつ前記シリンドリカルレンズａυ
は光束を図の紙面に垂直な方向に集束させる性質をもつ
ものとすると、前記光束形状変換光学系（２）に入射し
たレーザ光束は凸レンズ叫によって回転対称性を有する
集束性光束とされ、更にシリンドリカルレンズＯＤによ
って図の紙面に垂直な方向に集束されて９紙面に平行な
第１の焦線Ｑ５ａ）を形成し１次いで光検出器（１３１
がない場合には紙面に垂直な第２の焦線（１５ｂ）を形
成する。
る。シリンドリカルレンズ（１１）の軸が仮に図の鉛直
方向を向いており、かつ前記シリンドリカルレンズａυ
は光束を図の紙面に垂直な方向に集束させる性質をもつ
ものとすると、前記光束形状変換光学系（２）に入射し
たレーザ光束は凸レンズ叫によって回転対称性を有する
集束性光束とされ、更にシリンドリカルレンズＯＤによ
って図の紙面に垂直な方向に集束されて９紙面に平行な
第１の焦線Ｑ５ａ）を形成し１次いで光検出器（１３１
がない場合には紙面に垂直な第２の焦線（１５ｂ）を形
成する。
光検出器（２）はディスク（７）がベストフォーカス位
置にあるときに上記第１の焦線Ｑｓａ）と第２の焦線（
ｊａｂ）の中間にある非点光束の最小錯乱円の位置に配
設される。
置にあるときに上記第１の焦線Ｑｓａ）と第２の焦線（
ｊａｂ）の中間にある非点光束の最小錯乱円の位置に配
設される。
第１図（Ｂ）は光検出器α騰の形状例とベストフォーカ
ス状態にあるときの光検出器上での光束断面形状を示す
図である。光検出器Ｑ３１は直交する直線状、の電気的
絶縁領域によって４分割されている。ベストフォーカス
状態では光束断面（ＩＩは円形であるが、上述のように
上記フレネルレンズ（６）によってディスク（７）に集
光された光の反射光と、平行光束のままディスク（７）
で反射された光とが重畳された状態であり、この２つの
反射光は光検出器（２）上で干渉を起こし、光束断面内
で干渉縞を生じるため不均一な強度分布となる。したが
って１分割された光検出器（１３ａ） （１３ｂ） （
１３ｃ） （１３ｄ）の出力に不均一を生じ差動増幅出
力は零にならずオフセットを生じる。
ス状態にあるときの光検出器上での光束断面形状を示す
図である。光検出器Ｑ３１は直交する直線状、の電気的
絶縁領域によって４分割されている。ベストフォーカス
状態では光束断面（ＩＩは円形であるが、上述のように
上記フレネルレンズ（６）によってディスク（７）に集
光された光の反射光と、平行光束のままディスク（７）
で反射された光とが重畳された状態であり、この２つの
反射光は光検出器（２）上で干渉を起こし、光束断面内
で干渉縞を生じるため不均一な強度分布となる。したが
って１分割された光検出器（１３ａ） （１３ｂ） （
１３ｃ） （１３ｄ）の出力に不均一を生じ差動増幅出
力は零にならずオフセットを生じる。
第１図（Ｑはディスク（７）がベストフォーカス状態よ
りフレネルレンズ（６）側にある場合の光検出器α（至
）と光束断面形状の関係を示す図である。この場合第１
図（４）における餉１の焦線（１５ａ）が光検出器０９
に近づくため、上記フレネルレンズ（６）によってディ
スク（７）に集光された光の反射光による光束断面（１
６１は縦長の形状を示す。しかし、平行光束のままディ
スク（７）で反射された光による光束断面ａ９は円形の
ままであり、また光束断面αＱの中には干渉縞が同様に
存在する。
りフレネルレンズ（６）側にある場合の光検出器α（至
）と光束断面形状の関係を示す図である。この場合第１
図（４）における餉１の焦線（１５ａ）が光検出器０９
に近づくため、上記フレネルレンズ（６）によってディ
スク（７）に集光された光の反射光による光束断面（１
６１は縦長の形状を示す。しかし、平行光束のままディ
スク（７）で反射された光による光束断面ａ９は円形の
ままであり、また光束断面αＱの中には干渉縞が同様に
存在する。
第１図（功はディスク（７）がベストフォーカス状態よ
り遠ざかっている場合の光検出器（１３）と光束断面形
状の関係を示す図である。この場合筒１の焦線（１５ａ
）は光検出器α（至）から遠ざかり第２の焦線（１２ｂ
）が近づくため、光束断面αＱは横長の形状を示す。し
かし、ディスク（７）が近づいた場合と同様に光束断面
αηは円形のままであり、光束断面（ＩＢの中には干渉
縞が存在する。
り遠ざかっている場合の光検出器（１３）と光束断面形
状の関係を示す図である。この場合筒１の焦線（１５ａ
）は光検出器α（至）から遠ざかり第２の焦線（１２ｂ
）が近づくため、光束断面αＱは横長の形状を示す。し
かし、ディスク（７）が近づいた場合と同様に光束断面
αηは円形のままであり、光束断面（ＩＢの中には干渉
縞が存在する。
以上の第１図（Ｂ）（（’ｌ （Ｄ）およびそれらの説
明から分割された光検出器（１５ａ）と（１５ｃ）の出
力の和と、同じ＜、 Ｑｓｂ）と（１５ｄ）の出力の和
を互いに差動増幅することによってフォーカシング誤差
信号が得られることがわかる。
明から分割された光検出器（１５ａ）と（１５ｃ）の出
力の和と、同じ＜、 Ｑｓｂ）と（１５ｄ）の出力の和
を互いに差動増幅することによってフォーカシング誤差
信号が得られることがわかる。
さて、第１図（４）に示した従来の光ピツクアップは平
行平板上に同心円状回折格子を作製したフレネルレンズ
（６）を用いているため、０次回折光の影響を避けるこ
とができず、光検出器上で不要な背景光を生じたり、フ
ォーカス誤差信号を生じる光束と干渉を起こし、不均一
な強度分布を生じさせ。
行平板上に同心円状回折格子を作製したフレネルレンズ
（６）を用いているため、０次回折光の影響を避けるこ
とができず、光検出器上で不要な背景光を生じたり、フ
ォーカス誤差信号を生じる光束と干渉を起こし、不均一
な強度分布を生じさせ。
フォーカス誤差信号の精度を低下させるとともに。
ディスク（７）が傾斜した場合には０次回折光による反
射光の光検出器上での分布が変化するのでフォーカス誤
差信号の精度を低下させるという欠点があった。
射光の光検出器上での分布が変化するのでフォーカス誤
差信号の精度を低下させるという欠点があった。
この発明は平行平板状のフレネルレンズを用いた従来の
光ピツクアップの上述の欠点を解消するためになされた
ものであり、以下図面について説明する。
光ピツクアップの上述の欠点を解消するためになされた
ものであり、以下図面について説明する。
第２図はこの発明の実施例を示す図である。
図において、 （１Ｂは平凹レンズの平面側に同心円状
回折格子を作製したフレネルレンズである。コリメータ
レンズ（３）を出射した平行光束は上記フレネルレンズ
（ＩＢの凹面側に入射するが、ここで発散光に変換され
る。０次回折光（９）はそのまま透過しディスク（７）
に斜に入射し、ディスク面で鏡面反射されて反射光（１
ａ）になる。この反射光は再びフレネルレンズａυに戻
ることはない。また、光軸近傍の０次回折光（９ａ）は
同様にフレネルレンズ（１８）をそのまま透過しディス
ク（７）に斜に入射し、そこで反射されて反射光（ｌａ
ａ）になり、再びフレネルレンズ０樽に入射するが、上
記フレネルレンズ叫の凹面で出射角度が広げられ１発散
する。したがってこの反射光も光検出器側に入射するこ
とはない。
回折格子を作製したフレネルレンズである。コリメータ
レンズ（３）を出射した平行光束は上記フレネルレンズ
（ＩＢの凹面側に入射するが、ここで発散光に変換され
る。０次回折光（９）はそのまま透過しディスク（７）
に斜に入射し、ディスク面で鏡面反射されて反射光（１
ａ）になる。この反射光は再びフレネルレンズａυに戻
ることはない。また、光軸近傍の０次回折光（９ａ）は
同様にフレネルレンズ（１８）をそのまま透過しディス
ク（７）に斜に入射し、そこで反射されて反射光（ｌａ
ａ）になり、再びフレネルレンズ０樽に入射するが、上
記フレネルレンズ叫の凹面で出射角度が広げられ１発散
する。したがってこの反射光も光検出器側に入射するこ
とはない。
次に、１次回折光（８）はディスク（７）の１点に集光
される。集光されたレーザ光束はディスク（７）で反射
されて逆進し、フレネルレンズ叫を透過後半行光束とな
って１／４波長板（５）を透過しビームスプリッタ（４
）で分離され、光束形状変換光学系０αを透過して光検
出器１３で受光される。フォーカス誤差信号は第１図に
ついて説明したようにして得られる。
される。集光されたレーザ光束はディスク（７）で反射
されて逆進し、フレネルレンズ叫を透過後半行光束とな
って１／４波長板（５）を透過しビームスプリッタ（４
）で分離され、光束形状変換光学系０αを透過して光検
出器１３で受光される。フォーカス誤差信号は第１図に
ついて説明したようにして得られる。
ただし、この場合にはＯ次回折光による背景光や干渉縞
が現われることはなく精度の高いフォーカス誤差信号が
得られるとともに、ディスクの傾きによってフォーカス
誤差信号が影響を受けることはない。
が現われることはなく精度の高いフォーカス誤差信号が
得られるとともに、ディスクの傾きによってフォーカス
誤差信号が影響を受けることはない。
第３図はフレネルレンズ叫の形状例を模式的に示すため
の図である。この例では平凹レンズ■の上に屈折率が１
以上の透明物質Ｑυを円環状に付けた位相型フレネルゾ
ーンプレートに類似した形状をなしたものである。平凹
レンズ（４）と透明物質シυが同一の部材であってもよ
い。
の図である。この例では平凹レンズ■の上に屈折率が１
以上の透明物質Ｑυを円環状に付けた位相型フレネルゾ
ーンプレートに類似した形状をなしたものである。平凹
レンズ（４）と透明物質シυが同一の部材であってもよ
い。
第４図はフレネルレンズ叫の他の形状例を模式的に示す
ための図である。この場合平凹レンズ（４）につけた透
明媒質（２１）をブレーズしている。もちろん平凹レン
ズ（イ）と透明物質（２１１が同一の部材であってもよ
い。
ための図である。この場合平凹レンズ（４）につけた透
明媒質（２１）をブレーズしている。もちろん平凹レン
ズ（イ）と透明物質（２１１が同一の部材であってもよ
い。
以上で述べたように、この発明に係る光ピツクアップに
よれば集光用フレネルレンズとして平凹レンズの平面側
に同心円状回折格子を作製したフレネルレンズを使用す
るため０次回折光によるディスク（７）よりの反射光が
光検出器の方へ戻ることはなく、従来の光ピツクアップ
でみられた光検出器上での干渉縞や０次回折光に基づく
背景光を除去することができ精度の高いフォーカス誤差
信号が得られる。さらに、ディスクが傾斜したとしても
０次回折光の影響を受けることはない。
よれば集光用フレネルレンズとして平凹レンズの平面側
に同心円状回折格子を作製したフレネルレンズを使用す
るため０次回折光によるディスク（７）よりの反射光が
光検出器の方へ戻ることはなく、従来の光ピツクアップ
でみられた光検出器上での干渉縞や０次回折光に基づく
背景光を除去することができ精度の高いフォーカス誤差
信号が得られる。さらに、ディスクが傾斜したとしても
０次回折光の影響を受けることはない。
第１図（４）は非点収差法を用いた従来の光ピツクアッ
プの実施例を示す図、第１図（Ｂ）は光検出器の形状例
とベストフォーカス状態での光束断面形状を示す図、第
１図（Ｑはディスクが近づいた場合の光検出器と光束断
面形状の関係を示す図、第１図（Ｄ）はディスクが遠く
にある場合の光検出器と光束断面形状の関係を示す図、
第２図はこの発明の実施例を示す図、第３図はフレネル
レンズの形状例を模式的に示すための図、第４図はフレ
ネルレンズの形状例を模式的に示すための他の図である
。 図中、（１）はレーザ光源、（３）はコリメータ光学系
。 （４）は偏光ビームスプリッタ、（５）は１／４波長板
、（６）はフレネルレンズ、（７）はディスク、（８）
は１次回折光、（９）はＯ次回折光、０２は光束形状変
換光学系。 ０階は光検出器、囮はフレネルレンズ、（４）は平凹レ
ンズである。 なお１図中同一あるいは相当部分には同一符号を付して
示しである。 代理人大岩増雄 第 １ 図 （α） 第２図 第３図 （ａ） 第４図 （ｄ）
プの実施例を示す図、第１図（Ｂ）は光検出器の形状例
とベストフォーカス状態での光束断面形状を示す図、第
１図（Ｑはディスクが近づいた場合の光検出器と光束断
面形状の関係を示す図、第１図（Ｄ）はディスクが遠く
にある場合の光検出器と光束断面形状の関係を示す図、
第２図はこの発明の実施例を示す図、第３図はフレネル
レンズの形状例を模式的に示すための図、第４図はフレ
ネルレンズの形状例を模式的に示すための他の図である
。 図中、（１）はレーザ光源、（３）はコリメータ光学系
。 （４）は偏光ビームスプリッタ、（５）は１／４波長板
、（６）はフレネルレンズ、（７）はディスク、（８）
は１次回折光、（９）はＯ次回折光、０２は光束形状変
換光学系。 ０階は光検出器、囮はフレネルレンズ、（４）は平凹レ
ンズである。 なお１図中同一あるいは相当部分には同一符号を付して
示しである。 代理人大岩増雄 第 １ 図 （α） 第２図 第３図 （ａ） 第４図 （ｄ）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 レーザ光源と、このレーザ光源よりの発散光を平行光束
に変換するコリメータ光学系と、上記平行光束を情報記
録媒体上に集光する集光光学系と。 上記情報記録媒体に上って反射されたレーザ光束が再び
上記集光光学系を透過してできる上記平行光束とは逆行
する平行光束を分離するための偏光ビームスプリッタお
よび１／４波長板と、この偏光ビームスプリッタによっ
て分離された平行光束を所要の光束形状に変換する光束
形状変換光学系と。 形状変化を受けたレーザ光束を受光する光検出器を備え
た光ピツクアップにおいて、上記集光光学系カフレネル
レンズであって、このフレネルレンズは平凹レンズの凹
面側を上記平行光束が入射する側とし、上記平凹レンズ
の平面側に同心円状回折格子が形成されたフレネルレン
ズであることを特徴とする光ピツクアップ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10603383A JPS59231738A (ja) | 1983-06-14 | 1983-06-14 | 光ピツクアツプ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10603383A JPS59231738A (ja) | 1983-06-14 | 1983-06-14 | 光ピツクアツプ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59231738A true JPS59231738A (ja) | 1984-12-26 |
Family
ID=14423321
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10603383A Pending JPS59231738A (ja) | 1983-06-14 | 1983-06-14 | 光ピツクアツプ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59231738A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5198916A (en) * | 1991-05-13 | 1993-03-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical pickup |
| US10174909B2 (en) | 2015-10-09 | 2019-01-08 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Optical member and microlens array |
-
1983
- 1983-06-14 JP JP10603383A patent/JPS59231738A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5198916A (en) * | 1991-05-13 | 1993-03-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical pickup |
| US10174909B2 (en) | 2015-10-09 | 2019-01-08 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Optical member and microlens array |
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