JPS59228148A - 画像の粒状性測定装置 - Google Patents
画像の粒状性測定装置Info
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- JPS59228148A JPS59228148A JP10306883A JP10306883A JPS59228148A JP S59228148 A JPS59228148 A JP S59228148A JP 10306883 A JP10306883 A JP 10306883A JP 10306883 A JP10306883 A JP 10306883A JP S59228148 A JPS59228148 A JP S59228148A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は放射線画像等の画像の粒状性を測定する装置に
関するものであり、特に、粒状性を比較的短時間に容易
に測定できる装置に関するものである。
関するものであり、特に、粒状性を比較的短時間に容易
に測定できる装置に関するものである。
従来、粒状性の測定にはウィナ−スペクト／ｌ／ （Ｗ
ｉｅｎｅｒ−８ｐｅｃｔｒｕｍ ）法と呼ばれる方法が
よく用いられてきた。この方法は、画像上において、注
目エリアを設定し、この注目エリ゛ア内の濃度を、例え
ばＮ個のスリットを有する集光針を用（・て濃度計によ
り測定し、これをＮ個の濃度情報として数値変換して記
録する。（例えば、第１図に示すように、Ｎ個の濃度情
報を読み取シ記録する。）次に、この数値変換された濃
度情報をフーリエ変換し、第２図に示すように周波数分
析し、画像のむら（例えは、塗布むら、現像むら）等の
影響を除くため、画像のむらによって生じる周波数成分
に相当する低周波成分（第２図におし・て、周波数ｆｃ
以下の成分）をカットし、残シの周波数成分から粒状値
を算・出するもので、粒状値をＲとすると として求められる。なお、ｘ （ｆｌは周波数ｆでの濃
度振幅の大きさを示す。
ｉｅｎｅｒ−８ｐｅｃｔｒｕｍ ）法と呼ばれる方法が
よく用いられてきた。この方法は、画像上において、注
目エリアを設定し、この注目エリ゛ア内の濃度を、例え
ばＮ個のスリットを有する集光針を用（・て濃度計によ
り測定し、これをＮ個の濃度情報として数値変換して記
録する。（例えば、第１図に示すように、Ｎ個の濃度情
報を読み取シ記録する。）次に、この数値変換された濃
度情報をフーリエ変換し、第２図に示すように周波数分
析し、画像のむら（例えは、塗布むら、現像むら）等の
影響を除くため、画像のむらによって生じる周波数成分
に相当する低周波成分（第２図におし・て、周波数ｆｃ
以下の成分）をカットし、残シの周波数成分から粒状値
を算・出するもので、粒状値をＲとすると として求められる。なお、ｘ （ｆｌは周波数ｆでの濃
度振幅の大きさを示す。
このウィナ−スペクトル法は、粒状性測定（画質の評価
）法として、ごく一般的に用いられている。
）法として、ごく一般的に用いられている。
この場合、粒状性を正確に把握するには注目エリアを大
きくして濃度測定をする数（Ｎｌを増せばよいが、Ｎを
増すとフーリエ変換に要する手間（通常フーリエ変換は
コンピュータにより行なうのであるがこのコンピュータ
による計算時間）はＮの増加に対して累乗的に大きくな
り、このため大型コンピュータを必要とし、計算処理時
間も加速度的に長く力るという問題がある。
きくして濃度測定をする数（Ｎｌを増せばよいが、Ｎを
増すとフーリエ変換に要する手間（通常フーリエ変換は
コンピュータにより行なうのであるがこのコンピュータ
による計算時間）はＮの増加に対して累乗的に大きくな
り、このため大型コンピュータを必要とし、計算処理時
間も加速度的に長く力るという問題がある。
本発明は上記の問題に鑑み、フーリエ変換を用いずに簡
単な計算で粒状値を算出できるような手段を有し、短時
間で粒状値を求めることのできる粒状性測定装置を提供
することを目的とするものである。
単な計算で粒状値を算出できるような手段を有し、短時
間で粒状値を求めることのできる粒状性測定装置を提供
することを目的とするものである。
本発明の粒状性測定装置は、画像上に粒状性を測定する
注目エリアを設定し、この注目エリア内で注目エリアよ
り小さい面積の局所エリアを走査して、この走査に応じ
た局所エリア毎に局所エリアの代表面素を含む全画素の
濃度を濃度読取手段によって読み取シ、この濃度読取手
段によって読み取った各画素の濃度情報を濃度変換手段
によって濃度信号に変換し、低周波成分算出手段によシ
上記局所エリア毎に上記局所エリアの全画素の濃度信号
の平均値を算出し、粒状値検出手段によシ局所エリアの
代表面素の濃度信号からこの代表面素を含む局所エリア
での上記平均値を減じた値を、注目エリア内の全局所エ
リアについて二乗平均し１粒状値を求めるように構成さ
れていることを特徴とするものである。
注目エリアを設定し、この注目エリア内で注目エリアよ
り小さい面積の局所エリアを走査して、この走査に応じ
た局所エリア毎に局所エリアの代表面素を含む全画素の
濃度を濃度読取手段によって読み取シ、この濃度読取手
段によって読み取った各画素の濃度情報を濃度変換手段
によって濃度信号に変換し、低周波成分算出手段によシ
上記局所エリア毎に上記局所エリアの全画素の濃度信号
の平均値を算出し、粒状値検出手段によシ局所エリアの
代表面素の濃度信号からこの代表面素を含む局所エリア
での上記平均値を減じた値を、注目エリア内の全局所エ
リアについて二乗平均し１粒状値を求めるように構成さ
れていることを特徴とするものである。
本発明によれば、フーリエ変換を用いる代わシに局所エ
リアでの平均（一般に、ボケマスク、移動平均を利用す
る）を用し・て低周波成分を算出し、これを局所エリア
の代表面素（通常は局所エリアの中央の画素）の濃度信
号から減じたものの二乗平均値を算出して粒状値を算出
するので、計算が簡単であシ計算処理時間も短くなると
いう利点がある。
リアでの平均（一般に、ボケマスク、移動平均を利用す
る）を用し・て低周波成分を算出し、これを局所エリア
の代表面素（通常は局所エリアの中央の画素）の濃度信
号から減じたものの二乗平均値を算出して粒状値を算出
するので、計算が簡単であシ計算処理時間も短くなると
いう利点がある。
以下、図面によって本発明の実施例につ（・て説明する
。
。
第３図は本発明による粒状性測定装置を示す概略図であ
る。画像が記録されたフィルム１上に粒状性測定のため
の注目エリア２を設定し、この注目エリア２内で局所エ
リア３を走査する。この走査に応じた各局所工１ノア３
内の全画素の濃度を濃度読取手段４によって測定する。
る。画像が記録されたフィルム１上に粒状性測定のため
の注目エリア２を設定し、この注目エリア２内で局所エ
リア３を走査する。この走査に応じた各局所工１ノア３
内の全画素の濃度を濃度読取手段４によって測定する。
具体的な例として、注目エリア２は２５６画素×１００
画素とし、局所エリア３は１５画素×１５画素（２次元
エリア）もしくは１５画素（１次元エリア）として設定
し、局所エリア３の中心の画素を代表面素とするものが
ある。濃度読取手段４によって得られた各画素の濃度情
報はライン４２′ｆｆ：通って濃度変換手段５に送られ
、ここで濃度情報がデジタル信号である濃度信号に変換
される。
画素とし、局所エリア３は１５画素×１５画素（２次元
エリア）もしくは１５画素（１次元エリア）として設定
し、局所エリア３の中心の画素を代表面素とするものが
ある。濃度読取手段４によって得られた各画素の濃度情
報はライン４２′ｆｆ：通って濃度変換手段５に送られ
、ここで濃度情報がデジタル信号である濃度信号に変換
される。
この濃度信号はライン５ａにより低周波成分算出手段６
に送られ、ここで各局所エリア３毎に局所エリア３内の
全画素（ｌｘｍ個）の濃度信号の平均値Ｂ； が算出さ
れる。次に、この濃度信号の平均値Ｄ１ｍおよび代表面
素の濃度信号がライン６ａにより粒状値検出手段７に搭
られ、ここで各局所エリア３毎の代表面素の濃度信号Ｄ
１．からこの代表面素を代表とする局所エリアでの濃度
信号の平均値Ｄ１ｍを減じてＣＤ、 、 −周器）を求
め、これを注目エリア内の全ての局所エリアについて二
乗平均する。すなわち、ｉ ＝Ｏ−ｎｌ、 ｊ ＝０〜
ｎ２としＮ二ｎＩＸ ｎ’２とすると、二乗平均値Ｒは
となシ、この二乗平均値Ｒが粒状値であシ、画像の粒状
性を表わす。
に送られ、ここで各局所エリア３毎に局所エリア３内の
全画素（ｌｘｍ個）の濃度信号の平均値Ｂ； が算出さ
れる。次に、この濃度信号の平均値Ｄ１ｍおよび代表面
素の濃度信号がライン６ａにより粒状値検出手段７に搭
られ、ここで各局所エリア３毎の代表面素の濃度信号Ｄ
１．からこの代表面素を代表とする局所エリアでの濃度
信号の平均値Ｄ１ｍを減じてＣＤ、 、 −周器）を求
め、これを注目エリア内の全ての局所エリアについて二
乗平均する。すなわち、ｉ ＝Ｏ−ｎｌ、 ｊ ＝０〜
ｎ２としＮ二ｎＩＸ ｎ’２とすると、二乗平均値Ｒは
となシ、この二乗平均値Ｒが粒状値であシ、画像の粒状
性を表わす。
このようにして、画像の粒状性を評価することができる
のであるが、フィルムのむら等による粒状性に関与しな
い信号である低周波成分は局所エリアでの信号の平均値
により算出して（・るので、局所エリアを大きくすると
より低周波の成分のみを除去し、局所エリアを小さくす
ると周波数の高い部分の成分まで除去することになる。
のであるが、フィルムのむら等による粒状性に関与しな
い信号である低周波成分は局所エリアでの信号の平均値
により算出して（・るので、局所エリアを大きくすると
より低周波の成分のみを除去し、局所エリアを小さくす
ると周波数の高い部分の成分まで除去することになる。
このため、局所エリアの大きさを適切に設定すれは、フ
ーリエ変換して粒状値■（を求めた時とほとんど変わら
ない正確な粒状値を求めることができる。しかも、上記
の場合、計算は簡単であり、コンピュータによって粒状
値を算出する場合でも、フーリエ変換する場合に比ベプ
ログラムが簡略化でき計算時間も短縮させることができ
る。
ーリエ変換して粒状値■（を求めた時とほとんど変わら
ない正確な粒状値を求めることができる。しかも、上記
の場合、計算は簡単であり、コンピュータによって粒状
値を算出する場合でも、フーリエ変換する場合に比ベプ
ログラムが簡略化でき計算時間も短縮させることができ
る。
次に本発明の装置の一適用例について説明する。
たとえば最近になって、蓄積性螢光体シートに放射線画
像情報を蓄積記録し、次（・でこれに励起光を照射し、
蓄積記録された画像情報に応じて輝尽発光する光を検出
して画像情報を読み取り電気信号に変換した後に、この
読み取った画像情報を可視像に変換して再生する放射線
画像情報読取記録装置が提案されている（例えば、特開
昭５５−１２４２９号９％開昭５６−１１３９５号等）
。この場合には、最終的に得られる画像の粒状性は、こ
の画像が得られるフィルム自体の粒状性だけでなく、蓄
積性螢光体シートの粒状性や画像情報の読み取りおよび
再生時の装置的な乱れによっても左右される。本発明の
装置は、これらの各種要因に基づく最終的な粒状性を測
定することができる。このことに関し、第４図の放射線
画像情報読取記録装置の概略図を用いて説明する。
像情報を蓄積記録し、次（・でこれに励起光を照射し、
蓄積記録された画像情報に応じて輝尽発光する光を検出
して画像情報を読み取り電気信号に変換した後に、この
読み取った画像情報を可視像に変換して再生する放射線
画像情報読取記録装置が提案されている（例えば、特開
昭５５−１２４２９号９％開昭５６−１１３９５号等）
。この場合には、最終的に得られる画像の粒状性は、こ
の画像が得られるフィルム自体の粒状性だけでなく、蓄
積性螢光体シートの粒状性や画像情報の読み取りおよび
再生時の装置的な乱れによっても左右される。本発明の
装置は、これらの各種要因に基づく最終的な粒状性を測
定することができる。このことに関し、第４図の放射線
画像情報読取記録装置の概略図を用いて説明する。
第４図において、レーザ光源１１からの励起光はミラー
１２によって反射されガルバノメータミラー等の振動ミ
ラー１３に入射し、この振動ミラー１３の振動に応じて
振動ミラー１３の下方に置かれた蓄積性螢光体シート１
４（以下、単に「シート」と称す）上を走査する。この
時、振動ミラー１３は励起光がシート１４上を図面に対
して垂直な方向に主走査するように振動する。シート１
４はエンドレスベルト装置１５にまり、上記励起光の主
走査方向に対して直角な方向に一定速度で搬送され、こ
の搬送による副走査と上記主走査によってシート１４の
全面にわたる励起光による走査がなされる。この励起光
の走査に応Ｖてシート１４上の励起光が当たった個所（
画素）からは輝尽発光光が発ぜられ、この輝尽発光光を
集光体１６によりフォトマル１７に集めフォトマル１７
によって電気信号に変換された後、この電気信号は制御
装置１８に送られる。この制御装置１８において上記電
気信号が診断目的に応じた画像処理をなされて、画像再
生のためレーザ光源１９からのレーザ光強度を制御する
光変調器２ｏに入力される。また制御装置１８において
画素毎の濃度情報（輝度情報）に基（・て、前述のよう
なシートの粒状性の計算もされる。光変調器２゜は制御
装置１８からの信号に基づいてレーザ光強度を制御し、
このレーザ光は振動ミラー２１によって、振動ミラー２
１の側方に飯カれたフィルム２２上を図面に対して垂直
な方向に主走査される。さらにフィルム２２はドラム２
３によって一定速度で搬送されているため、上述のシー
ト１４がら読み取った画像情報がフィルム２２土に記録
される。、この後、フィルム２２を現像すれば放射線画
像を再生することができる。
１２によって反射されガルバノメータミラー等の振動ミ
ラー１３に入射し、この振動ミラー１３の振動に応じて
振動ミラー１３の下方に置かれた蓄積性螢光体シート１
４（以下、単に「シート」と称す）上を走査する。この
時、振動ミラー１３は励起光がシート１４上を図面に対
して垂直な方向に主走査するように振動する。シート１
４はエンドレスベルト装置１５にまり、上記励起光の主
走査方向に対して直角な方向に一定速度で搬送され、こ
の搬送による副走査と上記主走査によってシート１４の
全面にわたる励起光による走査がなされる。この励起光
の走査に応Ｖてシート１４上の励起光が当たった個所（
画素）からは輝尽発光光が発ぜられ、この輝尽発光光を
集光体１６によりフォトマル１７に集めフォトマル１７
によって電気信号に変換された後、この電気信号は制御
装置１８に送られる。この制御装置１８において上記電
気信号が診断目的に応じた画像処理をなされて、画像再
生のためレーザ光源１９からのレーザ光強度を制御する
光変調器２ｏに入力される。また制御装置１８において
画素毎の濃度情報（輝度情報）に基（・て、前述のよう
なシートの粒状性の計算もされる。光変調器２゜は制御
装置１８からの信号に基づいてレーザ光強度を制御し、
このレーザ光は振動ミラー２１によって、振動ミラー２
１の側方に飯カれたフィルム２２上を図面に対して垂直
な方向に主走査される。さらにフィルム２２はドラム２
３によって一定速度で搬送されているため、上述のシー
ト１４がら読み取った画像情報がフィルム２２土に記録
される。、この後、フィルム２２を現像すれば放射線画
像を再生することができる。
この場合、フィルム２２に再生された画像の粒状性は、
フィルム２２自体の粒状性だけでなく、シート１４の粒
状性によっても影響され、さらに読取時における振動ミ
ラー１３およびエンドレスベルト装置１５による走査の
乱れや再生時における振動ミラー２１およびドラム２３
による走査の乱れによっても影響されるものである。し
たがって、本発明の装置を用いてフィルム２２に再生さ
れた画像の粒状性を測定することによシ上記放射線画像
情報読取記録装置で得られる最終的な粒状性を測定する
ことができる。
フィルム２２自体の粒状性だけでなく、シート１４の粒
状性によっても影響され、さらに読取時における振動ミ
ラー１３およびエンドレスベルト装置１５による走査の
乱れや再生時における振動ミラー２１およびドラム２３
による走査の乱れによっても影響されるものである。し
たがって、本発明の装置を用いてフィルム２２に再生さ
れた画像の粒状性を測定することによシ上記放射線画像
情報読取記録装置で得られる最終的な粒状性を測定する
ことができる。
また注目エリア内において局所エリアを走査して粒状性
を評価する際、局所エリアを一次元にと９、上記局所エ
リアの走査に伴なう粒状値の変化を見ることにより、−
次元局所エリアを設定した方向へのレーザ光の走査の乱
れあるいは副走査の乱れを評価することもできる。例え
ば、シート１４の粒状性を測定する場合、−次元局所エ
リアをシート１４のエンドレスベルト装置１５の搬送方
向に設定すれば、エンドレスベルト装置１５の送９むら
を評価することができる。
を評価する際、局所エリアを一次元にと９、上記局所エ
リアの走査に伴なう粒状値の変化を見ることにより、−
次元局所エリアを設定した方向へのレーザ光の走査の乱
れあるいは副走査の乱れを評価することもできる。例え
ば、シート１４の粒状性を測定する場合、−次元局所エ
リアをシート１４のエンドレスベルト装置１５の搬送方
向に設定すれば、エンドレスベルト装置１５の送９むら
を評価することができる。
以上詳細に説明したように、従来のフーリエ変換による
粒状値の算出方法では、計算処理時間が長く、また注目
エリア内の粒状値が得られるだけであるのに対し、本発
明による粒状性測定装置によれば、注目エリア内の粒状
値が短い計算処理時間で簡単に得られるだけでなく、た
とえば放射線画像情報読取記録装置等における装置的々
乱れの評価も行なうことができる。
粒状値の算出方法では、計算処理時間が長く、また注目
エリア内の粒状値が得られるだけであるのに対し、本発
明による粒状性測定装置によれば、注目エリア内の粒状
値が短い計算処理時間で簡単に得られるだけでなく、た
とえば放射線画像情報読取記録装置等における装置的々
乱れの評価も行なうことができる。
第１図は縦軸に濃度を、横軸にスリットの位置を取り注
目エリア内の濃度分布の１例を示したグラフ、 第２図は縦軸にｌＸ１２を、横軸に周波数を取シ、フー
リエ変換後の第１図に示す濃度の各周波数成分を示した
グラフ、 第３図は本発明による粒状性測定装置の１例を示す概略
図、 第４図は放射線画像情報読取記録装置の１例を示す概略
図である。 ｌ ・・・ フ イ ル ム ２ ・
・ 注 目 エ リ ア３・・・局所エリ ア
４・・・濃度読取手段５・・・濃度変換手段 ６
・・・低周波成分算出手段７・・・粒状値検出手段 第１図 第２図 第３図
目エリア内の濃度分布の１例を示したグラフ、 第２図は縦軸にｌＸ１２を、横軸に周波数を取シ、フー
リエ変換後の第１図に示す濃度の各周波数成分を示した
グラフ、 第３図は本発明による粒状性測定装置の１例を示す概略
図、 第４図は放射線画像情報読取記録装置の１例を示す概略
図である。 ｌ ・・・ フ イ ル ム ２ ・
・ 注 目 エ リ ア３・・・局所エリ ア
４・・・濃度読取手段５・・・濃度変換手段 ６
・・・低周波成分算出手段７・・・粒状値検出手段 第１図 第２図 第３図
Claims (1)
- 画像の粒状性を測定しようとする注目エリア内でこの注
目エリアよシ小さい面積の局所エリアを走査して、この
局所エリアの代表面素を含む全画素の濃度を上記局所エ
リア毎に測定する濃度読取手段と、この濃度読取手段に
よつＣ読み取った上記画素の濃度情報を濃度信号に変換
する濃度変換手段と、上記局所エリア毎に上記局所エリ
アの全画素の濃度信号の平均値を算出する低周波成分算
出手段と、上記局所エリアの代表面素の濃度信号からこ
の代表面素を含む局所エリアでの上記平均値を減じた値
を上記注目エリア内の全局所エリアについて二乗平均し
粒状値を求める粒状値検出手段とからなることを特徴と
する画像の粒状性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10306883A JPS59228148A (ja) | 1983-06-09 | 1983-06-09 | 画像の粒状性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10306883A JPS59228148A (ja) | 1983-06-09 | 1983-06-09 | 画像の粒状性測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59228148A true JPS59228148A (ja) | 1984-12-21 |
Family
ID=14344339
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10306883A Pending JPS59228148A (ja) | 1983-06-09 | 1983-06-09 | 画像の粒状性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59228148A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0295932A (ja) * | 1988-04-22 | 1990-04-06 | Honda Motor Co Ltd | 車両の駆動輪トルク制御装置 |
-
1983
- 1983-06-09 JP JP10306883A patent/JPS59228148A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0295932A (ja) * | 1988-04-22 | 1990-04-06 | Honda Motor Co Ltd | 車両の駆動輪トルク制御装置 |
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