JPS59214815A - Focus detector of lens interchangeable type camera - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To detect the focus of even a low-brightness subject with high precision by preventing projection light from behind a photographic lens from being measured even if the projection light is reflected by a lens surface. CONSTITUTION:Light from a light source LED is collimated by a collimator lens CL into parallel luminous flux, which is reflected by a reflecting prism RP; and only infrared light is made incident to a pentagonal prism PP by a composition surface. The infrared parallel light beam is transmitted through the pentagonal prism PP and a focal plate FP to strike a main mirror MM. Only the S-wave component is projected on the photographic lens TL. The P-wave component is transmitted through the main mirror MM and the absorbed by a light shield member. The S-wave component of the infrared parallel light beam projected from the photographic lens TL upon a subject is reflected and scattered by the subject to obtain the mixed light of both S and P wave components, which reaches the main mirror MM again through the photographic lens TL. The S- wave component is reflected by the main mirror MM and never reaches a focusing detection part FD.

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、−眼レフレックスカメラなどレンズ交換式カ
メラに用いられる焦点検出装置に関する。TECHNICAL FIELD The present invention relates to a focus detection device used in an interchangeable lens camera such as a -eye reflex camera.

従来技術 従来、カメラボディに装着された撮影レンズを透過した
被写体光を測光して該撮影レンズの焦点検出を行う装置
は種々知られている。しかしながら、このような装置に
おいては、被写体が低輝度の場合には上記測光に供され
る光量が不足し正確な焦点検出がなされないという欠点
がある。この欠点を解消する為に、装置側から被写体を
照明する光束を投射することが考えられるが、種々のレ
ンズが交換使用されるレンズ交換式カメラにおいては装
着されたレンズを介して上記光束を投射する方式が、撮
影レンズと焦点検出装置とのバララックスがなくて良い
。ところが、装着された撮影レンズの後方から該レンズ
を介して被写体に光束を投射する場合、撮影レンズの各
レンズ面によって投射光が被写体に到達することなく反
射され、更に、いったん反射された光が複数のレンズ面
で多数回反射されて、焦点検出に有害なベーリンググレ
ヤー光となる。このベーリンググレヤー光は、被写体か
ら反射されてくるシグナル光に比べて圧倒的に強いので
、焦点検出用受光器がこのベーリンググレヤー光を受光
すると、検出精度が悪化したり検出不可能となったりす
る。BACKGROUND OF THE INVENTION Conventionally, various devices have been known that detect the focus of a photographic lens by measuring light from an object that has passed through a photographic lens attached to a camera body. However, such an apparatus has the disadvantage that when the subject has low luminance, the amount of light provided for the photometry is insufficient and accurate focus detection cannot be performed. In order to overcome this drawback, it is possible to project a light flux that illuminates the subject from the device side, but in interchangeable lens cameras in which various lenses are used interchangeably, the light flux is projected through the attached lens. This method does not require any variation between the photographic lens and the focus detection device. However, when projecting a beam of light onto a subject from behind an attached photographic lens through the lens, the projected light is reflected by each lens surface of the photographic lens without reaching the subject, and furthermore, the reflected light is The light is reflected many times by multiple lens surfaces and becomes Bering glare light, which is harmful to focus detection. This Bering glare light is overwhelmingly stronger than the signal light reflected from the subject, so if the focus detection receiver receives this Bering glare light, detection accuracy may deteriorate or detection may become impossible. or

目　　　　的 本発明は上述の如き点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的は、上記ベーリンググレヤー光による焦点検出精
度の悪化もしくは焦点検出が不可能となることがなく、
低輝度の被写体に対しても高精度の焦点検出が可能な装
置を提供することを目的とするものである。Purpose The present invention has been made in view of the above-mentioned points, and its purpose is to prevent focus detection accuracy from deteriorating or becoming impossible due to the Bering glare light, and to prevent focus detection from becoming impossible.
It is an object of the present invention to provide a device capable of highly accurate focus detection even for low-luminance objects.

発明の要旨 上記目的を達成する為に、本発明は、光の偏光特性を利
用して、撮影レンズ後方からの投射光がレンズ面によっ
て反射されてもそれが測光され−ることのないように構
成することを特徴とするものである。SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention utilizes the polarization characteristics of light to prevent the projected light from the rear of the photographic lens from being photometered even if it is reflected by the lens surface. It is characterized by configuring.

実施例 以下、図面に基づいて本発明の実施例を詳細に説明する
。＠１図は本発明一実施例を示す図であ号について解説
しておく。一般的に入射光および反射面の垂線を含む面
（入射面）とこの面に垂直な面を考え、入射面内の偏光
成分をＰ波と、そして入射面に垂直な面での偏光成分を
Ｓ波と呼ぶ。Embodiments Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail based on the drawings. @1 Figure shows one embodiment of the present invention, and the numbers will be explained below. Generally, we consider a plane containing the perpendicular to the incident light and the reflecting surface (incident plane) and a plane perpendicular to this plane, and the polarized light component in the incident plane is called the P wave, and the polarized light component in the plane perpendicular to the incident plane is defined as the P wave. It's called an S wave.

従ってこの一般的呼称を用い、Ｐ波には→と−を用い、
→は光源から被写体へ向って投射されていく場合のＰ波
を、そして←は被写体に投射され、その被写体面上で反
射されて戻ってくる光線のＰ波を表わすこととする。同
時に、Ｓ波には・と〇を用い、―は光源から被写体へ向
って投射されていく場合のＳ波を、そして。は被写体或
いはレンズ表面等で反射した光線のＳ波をそれぞれ表わ
すこととする。Therefore, we use this general name and use → and - for P waves,
→ represents the P wave when projected from the light source toward the subject, and ← represents the P wave of the light beam that is projected onto the subject and returns after being reflected on the subject's surface. At the same time, use . and ○ for S waves, - indicates S waves that are projected from the light source toward the subject, and. Let each represent an S wave of a light beam reflected from an object, a lens surface, etc.

第１図において、光源（ＬＥＤ）は偏光性のない光線を
放射し、該光線はコリメーターレンズ（ＣＬ　）によっ
て平行ビーム（−ＰＢ）となされる。焦点板（、ＦＰ）
はこのビームの径よりいく分厚い目の厚さヲ有し、上面
は焦点面（Ｆ　Ｓ、　）として撮影レンズ（ＴＬ）の結
像状態が観察可能となっている。焦点板（ＦＰ）の中央
部には平行ビーム（Ｐ　Ｂ’）の軸を撮影レンズ（ＴＬ
）の光軸に合致させるような偏向ミラー（ＲＭ）が上記
焦点面（ｐｓ）に対し約４５°の角度で設けられている
。In FIG. 1, a light source (LED) emits a non-polarized light beam, which is formed into a parallel beam (-PB) by a collimating lens (CL). Focus plate (,FP)
has an eye thickness that is somewhat thicker than the diameter of this beam, and the upper surface serves as a focal plane (FS, ), making it possible to observe the image formation state of the photographing lens (TL). At the center of the focusing plate (FP), the axis of the parallel beam (P B') is connected to the photographing lens (TL
) is provided at an angle of about 45° with respect to the focal plane (ps).

偏向ミラー（、Ｉｊ４）は第２図ｆａｌに概念的に示さ
れているように、波長７００ｎｍ以下の光はほとんど反
射しないとともに波長７６ｇｎｍ以上の光はほとんど反
射する分光反射率特性を有している。従って、偏向ミラ
ー（ＲＭ）に入射する平行ビーム（’ＰＢ）のうち波長
７００　ｎ　ｍ以上の赤外光のみが反射されて主ミラー
（ＭＭ）に向けられる。ここで、第２図ｆａｔから明ら
かなように、偏向ミラー（ＲＭ）は赤外領域の光のみを
反射し可視光はほとんど反射しないような特性であるの
で、可視光（約４００〜７００ｎｍ　）によって結像さ
せられる焦点面（ＦＳ）上の像は何ら支障なく観察可能
である。As conceptually shown in Figure 2 fal, the deflection mirror (Ij4) has a spectral reflectance characteristic that hardly reflects any light with a wavelength of 700 nm or less, and reflects almost all light with a wavelength of 76 gn or more. . Therefore, of the parallel beam ('PB) incident on the deflection mirror (RM), only infrared light with a wavelength of 700 nm or more is reflected and directed toward the main mirror (MM). Here, as is clear from Figure 2 fat, the deflection mirror (RM) has a characteristic of reflecting only light in the infrared region and almost no visible light, so visible light (approximately 400 to 700 nm) The image formed on the focal plane (FS) can be observed without any problem.

従って、主ミラー（ＭＭ）にはＰ波成分とＳ波成分とが
混在する波長７００ｎｍ以上の赤外平行光ビーム（ＰＢ
）が入射される。ここで、主ミラー（ＭＭ）の分光反射
率特性を第３図に示すが、第３図において、（Ｐｉは入
射光のＰ波成分に対する分光反射率を、ｆｓ］は入射光
のＳ波成分に対する分光反射率をそれぞれ示し、実線は
エネルギー量での分光反射率を示している。＄３薗から
明らかなように、主ミラー（ＭＭ）は、波長７００ｎｍ
以上のＰ波成分についてはほとんど反射しないのに対し
、波長７００ｎｍ〜９００ｎｍ程度のＳ波成分について
は良好に反射する特性を有しているので、入射される赤
外平行光ビーム（ＰＢ）のうちＳ波成分（命）のみが主
ミラー（ＭＭ）によって反射されて撮影レンズ（ＴＬ）
に向けられる。故に、撮影レンズ（ＴＬ）にはＳ波成分
の赤外平行光ビームか投射されるのである。一方、Ｐ波
成分（−１は、主ミラー（ＭＭ）を透過して遮光部材（
ＬＳ）に達し、そこで吸収さ２’Ｌるため信号とはなら
ないが、又ノイズとして焦点検出に用いられるべき信号
を邪魔することもない。第４図で示すような分光反射特
性を備える主ミラー（ＭＭ）としては、例えばＭＩＬ−
スタンダードハンドブック（光学デザイン版）２０−４
．９に示されるような構成のミラーが在り、このミラー
を用いれは上述の分光反射率特性が得られる。尚、偏向
ミラー（ＲＭ）として第３図（ｂｌのように赤外光のＳ
波成分のみ反射する分光７反射率特性をもつものにして
も良い。Therefore, the main mirror (MM) has an infrared parallel light beam (PB) with a wavelength of 700 nm or more containing a mixture of P wave components and S wave components
) is incident. Here, the spectral reflectance characteristics of the main mirror (MM) are shown in Figure 3. In Figure 3, (Pi is the spectral reflectance for the P-wave component of the incident light, fs] is the S-wave component of the incident light. The solid line shows the spectral reflectance for each energy amount.As is clear from $3, the main mirror (MM) has a wavelength of 700 nm.
While the P-wave components mentioned above are hardly reflected, the S-wave components with a wavelength of about 700 nm to 900 nm are well reflected. Only the S wave component (life) is reflected by the main mirror (MM) and sent to the photographing lens (TL).
directed towards. Therefore, an infrared parallel light beam of the S wave component is projected onto the photographing lens (TL). On the other hand, the P wave component (-1) passes through the main mirror (MM) and passes through the light shielding member (
LS) and is absorbed there by 2'L, so it does not become a signal, but it also does not interfere with the signal to be used for focus detection as noise. As a main mirror (MM) having spectral reflection characteristics as shown in FIG. 4, for example, MIL-
Standard Handbook (Optical Design Edition) 20-4
．． There is a mirror having a configuration as shown in Fig. 9, and by using this mirror, the above-mentioned spectral reflectance characteristics can be obtained. In addition, as a deflection mirror (RM), as shown in Figure 3 (bl), infrared light S
It may have a spectral 7 reflectance characteristic that reflects only wave components.

被写体へ投射されたビ、−ム光線は第１図で・で示され
る゛ようにＳ波成分であるが、被写体上の反射で散乱し
、Ｐ波・Ｓ波（（−＋、Ｏ）の混在した光線となって再
び撮影レンズ（ＴＬ）を通過してカメラ本体に戻ってく
る。゛そうして主ミラー（ＭＭ）によって再度偏向され
るが、同ミラー（ＭＭ）の分光反射率−特性に従ってＰ
波←）のみが該主ミラー（ＭＭ）を通過し、Ｓ波（０）
は投射時と同じ光路をたどって光源（ＬＥＤ）へと戻っ
て行く。主ミラー（ＭＭ）を通ったＰ波Ｈは副ミラー（
ＳＭ）でカメラ下方／＼偏向されて遮光板（ＬＳ’）に
設けられた開口部（ＡＰ　）を通してフィルム面と等価
な位置にある焦点検出器（ＦＤ）へと入射する。焦点検
出器（ＦＤ）は撮影レンズ（ＴＬ　）に投射される赤外
平行光ビーム（ＰＢ）の断面と等しい形状の受光面を有
し、光軸（Ｘｌを中心として配置されている。副ミラー
（ＳＭ）の反射面を赤外線（８００ｎｍ近傍）のみを反
射するようにしておくと、主ミラー（Ｍ　Ｍ’）による
偏光特性を用遁 いた光姻別とともに更により厳密な波長による選択が可
能となる６レンズ内部での面間反射光や、ミラー、レン
ズ表面における反射光はレンズ表面が滑らかな鏡面の誘
電体であるため偏光性は不変に留り常に０で示すような
Ｓ波として反射されるので、この光は主ミラー（ＭＭ）
によって反射され、主ミラー（ＭＭ）を通して合焦検出
部（ＦＤ）の方に入射することはない。The beam projected onto the subject is an S wave component, as shown in Figure 1, but it is scattered by reflection on the subject, and P waves and S waves ((-+, O) The mixed light rays pass through the photographic lens (TL) again and return to the camera body. Then, they are deflected again by the main mirror (MM), but the spectral reflectance-characteristics of the mirror (MM) According to P
Only the wave ←) passes through the main mirror (MM), and the S wave (0)
The light returns to the light source (LED) following the same optical path as during projection. The P wave H that has passed through the main mirror (MM) is transferred to the secondary mirror (
SM), the light is deflected downward from the camera and enters the focus detector (FD) located at the same position as the film surface through an aperture (AP) provided in the light shielding plate (LS'). The focus detector (FD) has a light-receiving surface with a shape equal to the cross section of the parallel infrared beam (PB) projected onto the photographic lens (TL), and is arranged with the optical axis (Xl as the center). By setting the reflecting surface of the (SM) to reflect only infrared rays (near 800 nm), it is possible to make even more precise wavelength selections as well as optical selection by making use of the polarization characteristics of the main mirror (M M'). Since the lens surface is a smooth mirror dielectric, the polarization remains unchanged and is always reflected as an S wave as shown by 0. Therefore, this light is transmitted to the main mirror (MM).
The light is reflected by the main mirror (MM) and does not enter the focus detection section (FD) through the main mirror (MM).

以上のように、本実施例によれは、赤外平行光ビームの
Ｓ波成分のみを撮影レンズ（ＴＬ）の後方から該撮影レ
ンズ（ＴＬ）に向けて投射し、その被写体による反射光
のＰ波成分のみが合焦検出部番と導かれるように構成さ
れており、投光されるＳ波成分は撮影レンズ（ＴＬ）の
レンズ面などによって反射されてもＳ波成分のままであ
り主ミラー（ＭＭ）によ−って反射されるので、例え上
記Ｓ波成分のべ一すンググリャー光が発生しても焦点検
出精度を保つことができる。更に、上記赤外平行光ビー
ムを被写体に照射しその反射光を受光して焦点検出を行
うので、低輝度の被写体に対しても精度の良い焦点検出
が可能である。更に、本実施例のように、赤外光のみを
反射する偏向ミラー（ＲＭ）を焦点板（ＦＰ）内に設け
ることにより、ファインダによる観察に何ら支障なく光
軸上の被写体に対する焦点検出が可能となり、また、撮
影レンズと焦点検出系とのバララックスも生じない。As described above, according to this embodiment, only the S wave component of the parallel infrared light beam is projected toward the photographic lens (TL) from behind the photographic lens (TL), and the P of the light reflected by the subject is It is configured so that only the wave component is guided to the focus detection part number, and even if the emitted S-wave component is reflected by the lens surface of the photographing lens (TL), it remains the S-wave component and is not reflected by the main mirror. Since it is reflected by (MM), focus detection accuracy can be maintained even if the above-mentioned S wave component based glare light is generated. Furthermore, since focus detection is performed by irradiating the object with the parallel infrared light beam and receiving the reflected light, accurate focus detection is possible even for objects with low brightness. Furthermore, as in this embodiment, by providing a deflection mirror (RM) that reflects only infrared light in the focus plate (FP), it is possible to detect the focus on the subject on the optical axis without any problem in observation with the finder. Therefore, no variation occurs between the photographic lens and the focus detection system.

第４図は、本発明の第２実施例の要部を示す斜視図で、
大略第１図の構成と同じであるが、光源（ＬＥＤ）及び
コリメーターレンズ（ＣＬ）としてそれぞれ２個並べた
ものを用いるとともに、コリメーターレンズ（ＣＬ）と
焦点板（ＦＰ）の側面（ＦＰ’）との間にマスク板（Ｍ
Ｐ）を配置して、断面長方形の平行ビームが焦点板（Ｆ
Ｐ）内の偏向ミラー（ＲＭ）に入射されるようにしたも
のである。ＦＴ＋は被写体を示す。本実施例によれば、
撮影レンズ（ＴＬ）（７）後方から投射される光束の光
量を増し、正確に焦点検出可能な被写体の低輝度限界を
拡げることができる。FIG. 4 is a perspective view showing the main parts of a second embodiment of the present invention.
The configuration is roughly the same as that shown in Figure 1, but two light sources (LEDs) and two collimator lenses (CL) are used, and the collimator lens (CL) and the side surface of the focusing plate (FP) are ') and the mask plate (M
P), and a parallel beam with a rectangular cross section passes through the focus plate (F
The beam is made to be incident on the deflection mirror (RM) in P). FT+ indicates the subject. According to this embodiment,
It is possible to increase the amount of light beam projected from the rear of the photographing lens (TL) (7) and expand the low-luminance limit of a subject whose focus can be accurately detected.

第５図は、第４図を変形した第３実施例を示す斜視図で
、光源（ＬＥＤ）の代わりに半導体レーザー（Ｌｊ）を
用いるとともに、コリメーターレンズ（Ｃ’Ｌ）として
半導体レーザー（、ＬＳ）側から順に、半導体レーザー
（ＬＳ）のジャンクション面に平行な円筒軸を有する凸
のシリンドリカルレンズ（ＣＬｌ）、該ジャンクション
面に垂直な円筒軸を有する凹のシリンドリカルレンズ（
ＣＬ２）を配置するとともに、焦点板（ＦＰ）の側面（
Ｆ’ＰＩ　）に上記ジャンクション面に垂直な円筒軸を
有する凸のシリンドリカル面（ＣＬ３）を形成したこ七
を特徴とするものである。FIG. 5 is a perspective view showing a third embodiment that is a modification of FIG. 4, in which a semiconductor laser (Lj) is used instead of the light source (LED), and a semiconductor laser (, In order from the LS) side, a convex cylindrical lens (CLl) having a cylindrical axis parallel to the junction plane of the semiconductor laser (LS), a concave cylindrical lens (CLl) having a cylindrical axis perpendicular to the junction plane.
CL2) and the side surface of the focus plate (FP) (
F'PI) is characterized by a convex cylindrical surface (CL3) having a cylindrical axis perpendicular to the junction surface.

この半導体レーザー（ＬＳ　）のＰ、Ｎ端子に所定の電
圧を印加すると、ジャンクション面からスリット状の光
線が発光する。そのスリット状の光線はシリンドリカル
レンズ（ＣＬｌ）　（ＣＬ２）とシリンドリカル面（Ｃ
Ｌ　３）とによって構成されるコリメーター実施例さ同
様の作用によって焦点検出に供される。When a predetermined voltage is applied to the P and N terminals of this semiconductor laser (LS), a slit-shaped light beam is emitted from the junction surface. The slit-shaped light beam is connected to the cylindrical lens (CLl) (CL2) and the cylindrical surface (C
The collimator embodiment constituted by L3) is used for focus detection by a similar function.

＠６図は本発明の第４実施例を示すものであり、本実施
例は光源（ＬＥＤ）を焦点検出器（ＦＤ）の近傍に配し
た構成を備えている。光源（ＬＥＤ）からの光線はコリ
メーターレンズ（ＣＬ）によって平行ビーム（ＰＢ）と
なり、焦点検出器（ＦＤ）の上部に設置されたビームス
プリッタ−（ＢＳ）に入射する。このビームスプリッタ
−（ＢＳ）は第７図＋Ｃ＋図示の反射特性を備えたもの
で、Ｓ波成分のみを上方へ反射し、Ｐ波成分は平行ビー
ム（ＰＢ）の入射面と反対側の遮光面（ＬＳＰ）に吸収
される。副ミラー（ＳＭ）は、第７図Ｆｂｌに示すよう
に波長域７００ｒ１ｍ以上の光に対して高反射率を備え
、ビームスプリッタ−（ＢＳ）によって反射された平行
ビーム（ＰＢ）のＳ波成分を主ミラー（ＭＭ）を介して
撮影レンズ（ＴＬ）の方へ投射する。主ミラー（ＭＭ）
の分光反射率特性は弗７図（ａｌに示されており、この
特性は所謂コールドミラーといわれるものである。Ｓ波
成分からなる投射平行ビーム（ＰＢ）は被写体で反射・
散乱されて再びＰ波・Ｓ波間成分となってカメラに戻る
。被写体から戻ってきたビームは再び主ミラー（ＭＭ）
を通過して副ミラー（ＳＭ）によって反射され、ビーム
スプリッタ−（ＢＳ）に到達する。ビームスプリッタ−
（ＢＳ）ではＳ波成分が反射されて光＃（ＬＥＤ）方向
へと戻り、信号に利用するＰ波成分は通過して焦点検出
器（ＦＤ）へ入射する。Figure @6 shows a fourth embodiment of the present invention, and this embodiment has a configuration in which a light source (LED) is arranged near a focus detector (FD). A light beam from a light source (LED) is turned into a parallel beam (PB) by a collimator lens (CL), and enters a beam splitter (BS) installed above a focus detector (FD). This beam splitter (BS) has the reflection characteristics shown in Figure 7+C+, and reflects only the S-wave component upwards, while the P-wave component reflects from the light shielding surface opposite to the incident surface of the parallel beam (PB). (LSP). As shown in Fig. 7 Fbl, the secondary mirror (SM) has a high reflectance for light in the wavelength range of 700r1m or more, and reflects the S-wave component of the parallel beam (PB) reflected by the beam splitter (BS). The image is projected toward the photographic lens (TL) via the main mirror (MM). Main mirror (MM)
The spectral reflectance characteristic of is shown in Figure 7 (al), and this characteristic is what is called a cold mirror.The projected parallel beam (PB) consisting of S-wave components is reflected by the object
It is scattered and returns to the camera as a component between P and S waves. The beam returning from the subject returns to the main mirror (MM)
The beam passes through, is reflected by the sub mirror (SM), and reaches the beam splitter (BS). beam splitter
(BS), the S wave component is reflected and returns to the light # (LED) direction, and the P wave component used for the signal passes through and enters the focus detector (FD).

第８図は第６図のビームスプリッタ−（Ｉ３Ｓ　）　ａ
所謂ダブルビームスプリッタ−（ＷＢＳ）で構成した例
で、Ｐ波のＳ／Ｎ比を更に向上させるために用いられる
。Figure 8 shows the beam splitter (I3S) a in Figure 6.
This is an example configured with a so-called double beam splitter (WBS), and is used to further improve the S/N ratio of P waves.

第９図は本発明の第５実施例を示すものであり、ペンタ
プリズム（ＰＰ）の上類部に反射プリズム（ＲＰ）が接
着されている。そして、反射プリズム（ＲＰ）の反射面
のうち少なくともペンタプリズム（Ｐ　Ｉ）　）との接
合面は可視光を反射するとともに約７００１　ｍ以上の
赤外光は透過させるような膜が施されている。この膜に
よってファインター像の観察は損われず、又投射用赤外
光線は通過可能となる。FIG. 9 shows a fifth embodiment of the present invention, in which a reflective prism (RP) is bonded to the upper part of a pentaprism (PP). Of the reflective surfaces of the reflective prism (RP), at least the joint surface with the pentaprism (PI) is coated with a film that reflects visible light and transmits infrared light over approximately 7001 m. . This film does not impair observation of the finer image and allows the projection infrared light to pass through.

反射プリズムの近傍には光源（ＬＥＤ）とコリメーター
レンズ（ＣＬ）が設けられている。主ミラー（ＭＭ）は
第１実施例と同様の分光反射率特性を有していて、その
特性は具体的には第３図に示されている。A light source (LED) and a collimator lens (CL) are provided near the reflecting prism. The main mirror (MM) has the same spectral reflectance characteristics as in the first embodiment, and the characteristics are specifically shown in FIG.

副ミラー（ＳＭ）も、第１実施例と同様に、第２図図示
の特性を有するものである。The secondary mirror (SM) also has the characteristics shown in FIG. 2, as in the first embodiment.

このような構成によって、光源（ＬＥＤ）から発せられ
た光はコリメーターレンズ（ＣＬ）によって平行光束と
され、反射プリズム（ＲＰ）の反射面で反射されて、上
記接合面により波長７００ｎｍｊ２を上の赤外光のみか
ペンタプリズム（ｐｐ）に入射される。With this configuration, the light emitted from the light source (LED) is made into a parallel beam by the collimator lens (CL), reflected by the reflective surface of the reflective prism (RP), and then reflected by the cemented surface at a wavelength of 700 nmj2 above. Only infrared light is incident on a pentaprism (pp).

コノ赤外平行光ビームは、ペンタプリズム（ｐｐ）及び
焦点板（ＦＰ）を透過して主ミラー（ＭＭ）に入射され
、主ミラー（ＭＭ）によってＳ波成分のみが反射されて
撮影レンズ（ＴＬ）に投射される。Ｐ波成分は主ミラー
（ＭＭ）を透過して第１図図示の遮光部＋Ｊ（ＬＳ）に
よって吸収される。撮影レンズ（ＴＬ）を介して被写体
重こ投射された赤外平行光ビームのＳ波成分は、該被写
体によって反射・散乱されてｓ、ｐ両波成分が混在する
光となり再ひ撮影レンズ（ＴＬ）を透過して主ミラー（
ＭＭ）に到達する。このうちＳ波成分は、被写体に到達
することなく撮影レンズ（ＴＬ）によって反射されたＳ
波成分とともに主ミラー（ＭＭ）によって反射されるの
で合焦検出部（ＦＤ）には到達しない。しかし、Ｐ　７
＆成分は主ミラー（ＭＭ　）を透過し副ミラー（ＳＭ）
によって反射されて合焦検出部（ＦＤ）に入射し、焦点
検出に供される。本実施例においても、撮影レンズ（丁
Ｌ）に回けて投射される赤外平行光ビームのＳ波成分が
該レンズ（ＴＬ）のレンズ面などによって反射されてベ
ーリンググレヤー光となっても、このＳ波成分からなる
ベーリンググレヤー光は主ミラー（ＭＭ）によって反射
されるので、合焦検出部（ＦＤ）には入射せず有害光と
はならない。The infrared parallel light beam passes through a pentaprism (PP) and a focusing plate (FP) and enters the main mirror (MM), where only the S-wave component is reflected and the photographing lens (TL ) is projected to. The P wave component passes through the main mirror (MM) and is absorbed by the light shielding part +J (LS) shown in FIG. The S-wave component of the infrared parallel light beam projected onto the subject through the photographic lens (TL) is reflected and scattered by the subject, becoming light containing both S and P wave components, which is then reflected back onto the photographic lens (TL). ) through the main mirror (
MM) is reached. Among these, the S wave component is the S wave component that is reflected by the photographing lens (TL) without reaching the subject.
Since it is reflected by the main mirror (MM) together with the wave component, it does not reach the focus detection section (FD). However, P7
& component passes through the main mirror (MM) and passes through the secondary mirror (SM)
The light is reflected by the FD and enters the focus detection section (FD), where it is used for focus detection. In this embodiment as well, even if the S-wave component of the infrared parallel light beam that is passed around the photographic lens (L) and projected is reflected by the lens surface of the lens (TL) and becomes Bering glare light, Since this Bering glare light consisting of the S wave component is reflected by the main mirror (MM), it does not enter the focus detection section (FD) and does not become harmful light.

第１Ｏ図ｆａｔ　（ｂｌ　（Ｃ１は本発明の第６実施例
を示すものであり、第１０図（ａｌはその全体を示す図
、第１０図ｆｂｌは焦点板（Ｆ’Ｐ）を示す斜視図、第
１０図（Ｃ１はその変形例を示す図である。本実施例（
とおいては、接眼レンズ（ＯＣ）の左右両側にそれぞれ
光源（ＬＥＤす（ＬＥＤ２）　（（ＬＥＤりは不図示）
とコリメーターレンズ（Ｃｔ、１）　ＣＣＬ２’）　（
（ＣＬ２）は不図示）とが配置されている。両光源（Ｌ
ＥＤＩ）　（ＬＥＤ２）から発せられた光はそわぞれコ
リメーターレンズ（ＣＬＩ）　（ＣＬ２）によって平行
光束とされ、２つの平行光束はそれぞれ別々にペンタプ
リズム（ｐｐ）内で反射されて焦点板（ＦＰ）に到達す
る。但し、ここで、ペンタプリズム（ＰＰ）の反射面に
は、第１１図図示のように可視光のみならず波長９００
　ｒｌ　ｍ以下の赤外光をも反叫する反射膜が形成され
ている。焦点板（ｐｐ）の中央には、第１０図（ｂｌの
ようにファインダ画面の左右方向に対称な一対の光学く
さび（ＯＥ）が形成されており、この光学くさび（ＯＥ
）によって上記２つの平行光束は光軸を中心とする単一
の平行光束とされる。また、光学くさび（ＯＲ）として
、第１０図ｆｃ）のように、スプリットイメージプリズ
ムの如きファインダ画面の上下方向に配置された一対の
くさびを用いても良い。第１０図ｆｃｌの如き光学くさ
び（ＯＥ）は可視光に関してはスプリットイメージプリ
ズムとなり、また、光学くさび（ＯＥ）を素通しとする
ことによってファインダ観察時の焦点検出領域の表示と
して利用できる。主ミラー（ＭＭ）および副ミラー（Ｓ
Ｍ）の分光反射率特性はそれぞれ、第３図及び第７図ｆ
ｂ１図示の特性で良い。Figure 1O fat (bl (C1 shows the sixth embodiment of the present invention, Figure 10 (al shows the whole figure, Figure 10 fbl is a perspective view showing the focus plate (F'P) , FIG. 10 (C1 is a diagram showing a modification thereof. This embodiment (
There are light sources (LED2) on both the left and right sides of the eyepiece (OC) (LEDs not shown).
and collimator lens (Ct, 1) CCL2') (
(CL2) is not shown) are arranged. Both light sources (L
The light emitted from the EDI) (LED2) is collimated by the collimator lens (CLI) (CL2), and each of the two parallel light beams is reflected separately within the pentaprism (PP) and passes through the focusing plate ( FP) is reached. However, as shown in FIG.
A reflective film is formed that reflects infrared light of rl m or less. A pair of optical wedges (OE) symmetrical in the left-right direction of the finder screen are formed in the center of the focusing plate (PP), as shown in Figure 10 (BL).
), the two parallel light beams are made into a single parallel light beam centered on the optical axis. Further, as the optical wedge (OR), a pair of wedges arranged above and below the finder screen, such as a split image prism, may be used, as shown in FIG. 10 fc). An optical wedge (OE) such as the one shown in FIG. 10 fcl serves as a split image prism for visible light, and by making the optical wedge (OE) transparent, it can be used to display a focus detection area during viewfinder observation. Main mirror (MM) and secondary mirror (S
The spectral reflectance characteristics of M) are shown in Figures 3 and 7 f, respectively.
The characteristics shown in b1 are sufficient.

第１２図は第７実施例を示すもので副ミラー（ＳＭ）の
後方に光源（ＬＥＤ）及びコリメーターレンズ（Ｃ，Ｌ
’）を設け、該副ミラー（，５、Ｍ　）の表面（ＳＭｔ
）と裏面（ＳＭりのいずれにも第３図で示すような分光
反射率特性の反射膜が施されている。従って光源（ＬＥ
Ｄ）から放射されコリメーターレンズ（ＣＬ）で平行ビ
ーム（ＰＢ）にされた光線は先ず副ミラー裏面（５Ｍ２
）でＳ波成分が反射されて上方へ偏向させられ、Ｐ波成
分のみが該ミラーの表裏両面（ＳＭｌ　）（５Ｍ２）　
ｆ通過して同副ミラー（ＳＭ）から前方へ射出される。Figure 12 shows the seventh embodiment, in which a light source (LED) and collimator lenses (C, L) are installed behind the sub mirror (SM).
'), and the surface (SMt
) and the back surface (SM) are both coated with a reflective film with spectral reflectance characteristics as shown in Figure 3. Therefore, the light source (LE
The light beam emitted from D) and made into a parallel beam (PB) by the collimator lens (CL) first passes through the back surface of the sub mirror (5M2
), the S-wave component is reflected and deflected upward, and only the P-wave component is reflected on both the front and back surfaces of the mirror (SMl) (5M2).
f and is ejected forward from the secondary mirror (SM).

更にこのＰ波成分は第７図ｆａｔに示すような特性の主
ミラー（ＭＭ）を通過して被写体に投射される。この光
束は被写体によって反射され、被写体上での散乱によっ
て再びＳ波成分とＰ波成分が混在するような光束となっ
て主ミラー（ＭＭ）を通過して副ミラー（ＳＭ）の表面
（ＳＭＩ）に到達する。そうするとその表面（ＳＭｌ）
によってＰ波成分は副ミラー（ＳＭ）内に通過し、Ｓ波
成分のみが合焦検出部（ＦＤ）に到達する。従って他の
実施例とは偏光成分が反転してＳ波成分が焦点検出に用
いられ、ベーリンググレヤー光となりうるＰ波成分は合
焦検出部（ＦＤ）に導かれない。Further, this P wave component passes through a main mirror (MM) having characteristics as shown in FIG. 7 fat, and is projected onto the subject. This light flux is reflected by the subject, becomes a light flux in which S wave components and P wave components are mixed again due to scattering on the subject, passes through the main mirror (MM), and returns to the surface of the sub mirror (SM) (SMI). reach. Then its surface (SMl)
Accordingly, the P-wave component passes into the sub-mirror (SM), and only the S-wave component reaches the focus detection section (FD). Therefore, the polarization component is reversed from the other embodiments, and the S wave component is used for focus detection, and the P wave component, which can become Bering glare light, is not guided to the focus detection section (FD).

第１３図は本発明の第８実施例を示すもので、基本的に
は第１２図の第７実施例と同一の技術思想をベースにし
ており、特徴とする所は、第７実施例のサブミラー（Ｓ
Ｍ）の表裏両面（ＳＭＩＸＳＭ２）に施されていた反射
膜を一つのビームスブリ、ツタＴＢＩのスプリット面に
まとめた点に存る。即ちビームスプリッタ−ｆＢｌのス
プリット面の膜構成を膜厚方向に対称型に構成し、唯一
のビームスプリッタ−（Ｂ）でいずれの面からの入射光
に対しても第３図図示の如き単一の分光反射率特性が得
られる構成にしたものである。第１３図に沿って説明す
ると、光源（ＬＥＤ）の放射光はコリメーターレンズ（
ＣＬ）で平行ビームとなり、ビームスプリッタ−（Ｂｌ
に対して４５°の角度で入射する。そうするとビームス
プリッタ−（Ｂｌでは第３図で示した分光反射特性を有
しているので、Ｓ波成分を上方に反射し、Ｐ波成分は通
過させる。ビームスプリッタ−（Ｂｌを通過したＰ波成
分は主ミラー（ＭＭ）および撮影レンズ（ＴＬ　）を透
過して被写体に向い被写体で反射、散乱してｐ、ｓ波の
両成分を含んだ一光束となって再び撮影レンズ（Ｔ、Ｌ
）、主ミラー（ＭＭ）を通過してビームスプリッタ−（
Ｂｌに到る。撮影レンズ（ＴＬ　）側から入射した光線
についてもビームスブリッタ−（Ｂ）は第３図に示すよ
うな分光反射率特性を有しているので、Ｓ波成分は反射
されて合焦検出部（ＦＤ）へ導かれ、一方Ｐ波成分は通
過して光源の方向へ向かい合焦検出部（ＦＤ）には入射
しない。FIG. 13 shows an eighth embodiment of the present invention, which is basically based on the same technical idea as the seventh embodiment shown in FIG. Sub mirror (S
The main feature lies in that the reflective films applied to both the front and back surfaces of M) (SMIXSM2) are combined into a single beam sublime, ivy TBI split surface. In other words, the film structure of the split surface of the beam splitter fBl is configured symmetrically in the film thickness direction, and only one beam splitter (B) can be used for incident light from any surface with a single beam as shown in Figure 3. The structure is such that the spectral reflectance characteristics of . Explaining according to Fig. 13, the emitted light from the light source (LED) is transmitted through the collimator lens (
CL) becomes a parallel beam, and the beam splitter (Bl
It is incident at an angle of 45° to In this case, the beam splitter (Bl) has the spectral reflection characteristics shown in Figure 3, so it reflects the S wave component upward and allows the P wave component to pass through. passes through the main mirror (MM) and the photographing lens (TL), faces the subject, is reflected and scattered by the subject, becomes a single beam of light containing both p- and s-wave components, and returns to the photographic lens (T, L).
), passes through the main mirror (MM) and beam splitter (
Reach Bl. Since the beam splitter (B) has spectral reflectance characteristics as shown in Fig. 3 for the light beam incident from the photographing lens (TL) side, the S wave component is reflected and sent to the focus detection section (FD). ), while the P-wave component passes through and heads toward the light source and does not enter the focus detection section (FD).

このビームスプリッタ−（川は図示のようなプリズム状
でなくても良く、膜を間に挾んだ平面ガラスであっても
良い。This beam splitter does not have to be prismatic as shown, but may be a flat glass with a film interposed therebetween.

第１４図１び第１５図は本発明の第９実施例を示すもの
であり、本実施例は第６図で示した実施例の変形で第１
３図（ａｌのビームスプリッタ−（、Ｂ　Ｓ　）の拡大
図が第１３図（ｂｌである。拡大図。からも明らかなよ
うにビームスプリッタ−（ＢＳ）は２面のスプリット面
（ＢＳ　ｘ　）　（ＢＳ　２）を有し、両スプリット面
はプリズムの中に挾み込１れている。これは例えハｏ、
ｌｉｉの平面平板ガラスの両面に偏光ビームスプリッタ
−膜をそれぞれ蒸着加工し、その状態で２個の直角三角
形プリズム（ＰＭＩ）　（ＰＭ２）に挾持されるように
固着することによって構成される。更に両偏光ビームス
ブリット面（ＢＳＩ）　（ＢＳ２）は、それぞれ膜厚方
向に対称形の膜構成を有しており表面及び裏面からの入
射について同様な透過及び反射特性を備えている。FIGS. 14-1 and 15 show a ninth embodiment of the present invention, and this embodiment is a modification of the embodiment shown in FIG.
An enlarged view of the beam splitter (BS) in Figure 3 (al) is shown in Figure 13 (bl). As is clear from the figure, the beam splitter (BS) has two split surfaces (BS x ). (BS 2), and both split surfaces are inserted into a prism.
It is constructed by depositing polarizing beam splitter films on both sides of the flat glass plate of lii, respectively, and fixing them in such a state so as to be sandwiched between two right triangular prisms (PMI) (PM2). Furthermore, the bipolarized beam split surface (BSI) (BS2) each has a symmetrical film structure in the film thickness direction, and has similar transmission and reflection characteristics for incidence from the front and back surfaces.

作用について説明すると、光源（ＬＥＤ）から放射され
た光線はｐ、ｓ両偏光成分を含んでおり、コリメーター
レンズ（Ｃ，Ｌ）で平行ビームに絞られて一方のプリズ
ム（ＰＭＩ）に入射する。第１偏光ビームスブリット面
（ＢＳＩ）は、他の実施例と同様、Ｓ波成分を反射しＰ
波成分を通過させる。そして第１偏光ビームスブリット
面（ＢＳｌ、）を通過したＰ波成分は更に第２・偏光ビ
ームスブリット面（ＢＳ２）を通過して遮光面（ＬＳＰ
）に到達し、減衰させられて消滅する。又第１偏光ビー
ムスブリット面（ＢＳｔ）をも通過した（本来は反射さ
れてしまうはずの）Ｓ波成分は第１及び第２偏光ビーム
スブリット面（ＢＳｉ）　（ＢＳ２）の間で反射を繰り
返して最終的には平行平面板から外部へ射出される。こ
れは偏光ビームスブリット面（Ｂ’ＳＩ）、　ＣＢ５２
）が対称形の膜構成になっているので、もし第１偏光ビ
ームスブリット面（ＢＳｌ）を通過したＳ波成分があっ
ても、これは＄２偏光ビーム、スプリット面（ＢＳりの
表面で反射され、そして再び第１偏光ビームスブリット
面　。To explain how it works, the light beam emitted from the light source (LED) contains both p and s polarization components, is focused into a parallel beam by the collimator lens (C, L), and enters one prism (PMI). . The first polarized beam split surface (BSI) reflects the S wave component and P
Allows wave components to pass through. The P wave component that has passed through the first polarized beam split surface (BSl) further passes through the second polarized beam split surface (BS2) and passes through the light shielding surface (LSP).
), it is attenuated and disappears. Furthermore, the S wave component that has also passed through the first polarized beam split surface (BSt) (which should have been reflected) is repeatedly reflected between the first and second polarized beam split surfaces (BSi) (BS2). Finally, it is ejected to the outside from the parallel plane plate. This is the polarized beam split plane (B'SI), CB52
) has a symmetrical film configuration, so even if there is an S-wave component that passes through the first polarized beam split surface (BSl), it will be reflected by the $2 polarized beam and the surface of the split surface (BSl). and again the first polarized beam split plane.

（ＢＳＩ）の裏面で反射され、この反射を繰り返して上
述のように最終的には外部へ射出される。The light is reflected from the back surface of the (BSI), repeats this reflection, and is finally emitted to the outside as described above.

被写体・＼到達したＳ波成分からなる測距用光束は、被
写体で反射・散乱をされ、再びＰ波成分も含むビームと
して戻ってくる。この被写体から戻っテキタヒームは５
／’、ｐ／酸成分して再びプリズム（ＰＭ）の上面より
入射し、第１偏光ビームスブリット面（ＢＳｌ）でＳ′
酸成分反射されて、光源（ＬＥＤ）の方・＼偏向される
。Ｐ′成分は第１及び第２偏光ビームスブリット面（Ｂ
Ｓｌ）　（ＢＳｚ）を通過して合焦検出部（’ＦＤ）に
到達して合焦検出に供される。５／成分の一部分が上記
同様第１偏光ビームスブリット面（ＢＳｌ）　＋通過し
ても第２偏光ビームスブリット面（ＢＳ２）の表面及び
第１偏光ビームスブリット面（ＢＳ　工）の裏面で反射
を繰り返し、最終的には平行平面板の端面から外部へ射
出する。従って合焦検出部（ＦＤ）はＳ及びＳ′酸成分
少ない、即ちノイズの少ないｐ／酸成分みが信号として
受光するので、有効である。The distance-measuring light beam consisting of the S-wave component that has reached the object is reflected and scattered by the object, and returns as a beam that also includes the P-wave component. Tekitahim returned from this subject is 5
/', p/ acid component enters again from the upper surface of the prism (PM) and is S' at the first polarized beam split surface (BSl).
The acid component is reflected and deflected towards the light source (LED). The P' component is the first and second polarized beam split plane (B
Sl) (BSz) and reaches the focus detection section ('FD), where it is subjected to focus detection. 5/ Even if a part of the component passes through the first polarized beam split surface (BSl) as above, it is repeatedly reflected on the surface of the second polarized beam split surface (BS2) and the back surface of the first polarized beam split surface (BS). , and finally ejects to the outside from the end face of the parallel plane plate. Therefore, the focus detection section (FD) is effective because it receives only the p/acid component with less S and S' acid components, that is, the p/acid component with less noise, as a signal.

上述のように本発明にあってはカメラ本体側から撮影レ
ンズ（Ｔ、Ｌ）を介して被写体に投射されるビームはＳ
波成分或いはＰ波成分のみに直線偏光された光線が使用
されている。被写体が通常の拡散を行う物体であれば、
その物体での拡散によってＰ或いはＳ波成分のみの光線
は再びＳ波及びＰ波の両成分を含む光線に変更され、カ
メラ本体に戻ることが可能となる。所が物体の表面が鏡
面のような誘電体の場合には物体面でほぼ正反射され偏
光成分が変更されずにカメラ本体に戻るようになる。そ
うするとカメラ内ではベーリングクレヤー光と同じ偏光
成分であるからやはり反射面で反射されてしまい合焦検
出器（ＦＤ）には光信号か全く到達しないこととなり、
焦点検出が不可能になる問題がある。As mentioned above, in the present invention, the beam projected onto the subject from the camera body side via the photographing lens (T, L) is S.
A linearly polarized light beam is used only for the wave component or P-wave component. If the subject is an object that performs normal diffusion,
Due to the diffusion by the object, the light beam containing only the P or S wave component is changed into a light beam containing both S wave and P wave components again, and it becomes possible to return to the camera body. However, if the surface of the object is a dielectric material such as a mirror surface, the light will be almost specularly reflected from the object surface and will return to the camera body without changing the polarization component. In this case, since it has the same polarization component as the Bering-Kreyer light in the camera, it will be reflected by the reflective surface and the optical signal will not reach the focus detector (FD) at all.
There is a problem that focus detection becomes impossible.

このような問題に対しては撮影レン、（（ＴＬ）の前に
λ／４の平行平面板（以下λ／４フィルターと称す）を
配設すれば解決される。即ち例えば第１図の実施例の場
合主ミラー（ＭＭ）で反射されてレンズ（’ＴＬ）を通
過する平行ビームはＳ波に直線偏光されており、この光
線がλ／４フィルターを通過すると円偏光に変り、鏡面
に近い反射面で反射すると反射光線はやはり円偏光性が
残っている。そしてこの円偏光性を有する光線が再びλ
／４フィルターを通過するとＰ波に直線偏光され、撮影
レンズ（Ｔ　Ｌ）を通過する。このＰ波成分は主ミラー
（ＭＭ）を通過し、副ミラー（ＳＭ）によって偏光され
て合焦検出器（ＦＤ）に到達する。第１２図、第１３図
の実施例に於いては偏光成分が逆になるがやはりλ／４
フィルターによって誘電体の被写体から戻ってくる光線
について所望の偏光性を得ることが可能である。又この
λ／４フィルターは通常の拡散を・　　行う被写体にお
いては、その反射で一旦偏光性のない自然光と同じにな
り、λ／４フィルターを再通過しても同フィルターの影
響を受けずに撮影レンズ（ＴＬ）を通過し、主ミラー（
ＭＭ　）で必要な偏光性が得られるように反射或いは透
過されて合焦検出器（ｍｐ）に到達する。Such a problem can be solved by disposing a λ/4 parallel plane plate (hereinafter referred to as λ/4 filter) in front of the photographing lens ((TL). For example, the implementation shown in FIG. In the example, the parallel beam reflected by the main mirror (MM) and passing through the lens ('TL) is linearly polarized into an S wave, and when this light passes through the λ/4 filter, it changes to circularly polarized light, which is close to a mirror surface. When reflected by a reflective surface, the reflected light still remains circularly polarized.Then, this circularly polarized light ray returns to λ
When the light passes through the /4 filter, it is linearly polarized into P waves and passes through the photographic lens (TL). This P-wave component passes through the main mirror (MM), is polarized by the sub-mirror (SM), and reaches the focus detector (FD). In the embodiments shown in FIGS. 12 and 13, the polarization components are reversed, but they are still λ/4.
The filter makes it possible to obtain the desired polarization of the light beam returning from the dielectric object. In addition, with this λ/4 filter, when photographing a subject that undergoes normal diffusion, the reflection will temporarily become the same as natural light without polarization, and even if it passes through the λ/4 filter again, it will not be affected by the same filter and will be photographed. It passes through the lens (TL) and the main mirror (
The light is reflected or transmitted so as to obtain the necessary polarization at the MM) and reaches the focusing detector (MP).

本発明の説明に当っては焦点検出器（Ｆ、Ｄ）の詳細に
ついて触れなかったが、測距原理は本発明の主旨と無関
係であるので、いずれの原理でも可能である。Although the details of the focus detectors (F, D) have not been mentioned in the explanation of the present invention, the distance measurement principle is irrelevant to the gist of the present invention, so any principle can be used.

光源の種類については発光ダイオード、半導体レーザー
等について述べたが、それらは通電より発光迄の時間特
性や発光輝度が発光体の容積に比較して高く効率上好ま
しい。・しかし発光・測距の時間的遅れが厳しく要求さ
れないならばタングステンランプなどの光源を利用する
ことも出来る。Regarding the types of light sources, light emitting diodes, semiconductor lasers, etc. have been described, but these are preferable in terms of efficiency because they have high time characteristics from energization to light emission and luminance compared to the volume of the light emitter. -However, if the time delay between light emission and distance measurement is not strictly required, a light source such as a tungsten lamp can also be used.

効　　　果 以上のように、本発明は、カメラボディに装着された撮
影レンズを透過した光を受光して該撮影レンズの焦点検
出を行う焦点検出装置において、撮影レンズを介して被
写体に照射されるように、撮影レンズ後方から該撮影レ
ンズに向けて第１の直線偏光成分を有する光束を投射す
る投光手段と、撮影レンズの焦点検出を行うべく被写体
からの反射光を撮影レンズを介して受光するように配置
された受光手段と、上記投光手段から投射された第１の
直線偏光成分と直交する第２の直線偏光成分の光のみが
上記受光手段に入射されるように受光手段への入射光を
選択する選択手段とを有することを特徴とするものであ
り、このように構成することによって、被写体が暗い場
合でも該被写体に対する正確な焦点検出が可能である上
に撮影レンズを介して被写体に向けて光を投射する為に
レンズ交換がなされてもレンズと焦点検出系とのバララ
ックスかなくて正確な焦点検出が可能であり、更に投光
手段から発せられた光が被写体に到達することなく撮影
レンズのレンズ面などによって反射きれてもこの反射光
は第１の直線偏光成分となり、第２の直線偏光成分のみ
を透過する選択手段によってこの第１の直線偏光成分は
受光手段に入射させられないので有害光となることはな
く、正確な焦点検出が可能となる。Effects As described above, the present invention provides a focus detection device that receives light transmitted through a photographic lens attached to a camera body and detects the focus of the photographic lens. a light projection means for projecting a light beam having a first linearly polarized component from behind the photographic lens toward the photographic lens; and a light projector for receiving reflected light from a subject through the photographic lens in order to detect the focus of the photographic lens. a light receiving means arranged such that the light receiving means is arranged to With this configuration, even when the subject is dark, it is possible to accurately detect the focus on the subject, and even when the subject is dark, it is possible to detect the focus of the subject through the photographic lens. Even if the lens is replaced to project light toward the subject, there is no variation between the lens and the focus detection system, allowing accurate focus detection, and furthermore, the light emitted from the projection means reaches the subject. Even if the reflected light is completely reflected by the lens surface of the photographing lens, etc., without any interference, this reflected light becomes the first linearly polarized light component, and this first linearly polarized light component is transmitted to the light receiving means by the selection means that transmits only the second linearly polarized light component. Since the light is not allowed to enter, it does not become harmful light, and accurate focus detection becomes possible.

更に、実施態様のように、投光手段から被写体に向けて
赤外光を投射し、かつ、受光手段も赤外光のみを受光す
るように構成すれば、他の被写体光と投射光とを区別し
て投射光のみを用いた焦点検出ができ精度を向上させる
ことができる。Furthermore, as in the embodiment, if infrared light is projected from the light projecting means toward the subject, and the light receiving means is also configured to receive only the infrared light, it is possible to separate other subject light and the projected light. Focus detection can be performed using only the projected light and accuracy can be improved.

また、−眼レフレックスカメラの主ミラニや副ミラーに
偏光ミラーを用いて上記投光手段の一部及び選択手段と
すれば、構成は著しく簡単で特にスペースを要すること
もない。Furthermore, if polarizing mirrors are used as the main mirror and the sub-mirror of the negative-eye reflex camera and serve as a part of the light projecting means and selection means, the configuration is extremely simple and does not require any particular space.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第１図は本発明第１実施例を示す図、第２図はその偏向
ミラー（ＲＭ）の分光反射率特性を示すグラフ、第３図
は主ミラーＣＭ、Ｍ）の分光反射率特性を示すグラフ、
第４図は本発明第２実施例を示す斜視図、第５図は第３
実施例の要部を示す斜視図、第６図は第４実施例を示す
図、第７図（ａｔはその主ミラー（ＭＭ）の分光反射率
特性を示すグラフ、第７図（ｂｌはその副ミラー（ＳＭ
）の分光反射率特性を示すグラフ、第７図＋ＣＩはその
ビームスプリッタ−（ＢＳ）の分光反射率特性を示すグ
ラフ、第８図は第４実施例の変形例を示す図、第９図は
第５実施例を示す図、第１０図（ａｌは第６実施例を示
す図、第１０図（ｂｌはその焦点板（ＦＰ）’ｉ＝示す
斜視図、第１０図（Ｃ１は焦点板（ＦＰ）の変形例を示
す図、第一１１図Ｇ）ペンタプリズム（ＰＰ）の反射面
の分光反射率特性を示すグラフ、第１２図及び第１３図
はそれぞれ第７．第８実施例を示す図、第１４．１−５
図は第９実施例及びその要部を示す図である。 （ＴＬ）　、、撮影レンズ、（ＬＥＤ）（ＣＬ）（ＲＭ
）（ＭＭ）　、投光手段、（ＭＭ）（ＳＭ）　、選択手
段、（ＦＤ）　、受光手段、（ＬＥＤ）（ＣＬ）（ＢＳ
）（ＳＭ）（ＭＭ）　、投光手段、（ＭＭ）（ＳＭ）（
ＢＳ）　、選択手段、（ＬＥＤ）（ＣＬ）（ＷＢＳ）（
’ＳＭ）（ＭＭ）　ｉ投光手段、（ＭＭ）（ＳＭ）（Ｗ
ＢＳ）　ｉ選択手段、（ＬＥＤ）（ＣＬ）（ＲＰ）（Ｐ
Ｐ）（ＦＰ）（ＭＭ）　’；投光手段、（ＭＭ）（ＳＭ
）；選択手段、（ＬＥＤ）（ＰＰ）（ＯＥ）（ＭＭ）　
；投光手段、（ＭＭ）　（ＳＭ）　、選択手段、（ＬＥ
Ｄ）（ＣＬ）（ＳＭ）（ＭＭ）　、投光手段、（、ＭＭ
）（ＳＭ）　、選択手段、（ＬＥＤ）　（、ＣＬ）　（
Ｂ）（ＭＭ）　ｉ投光手段、（ＭＭ）（Ｂ）　；選択手
段、（ＨＤ）（ｃｔ、）（ａｓ）（ｓＭ）（ＭＭ）　、
投光手段、（ＭＭ）’（ＳＭ）（ＢＳ）　、選択手段。 以上 出願人　　ミノルタカメラ株式会社 第１図 第２図（α） 第　１０　図　（し） ４００　ｔＯＤ　８００　饅　（Ｍ凱）をンＦＤ 第１５図Fig. 1 is a diagram showing the first embodiment of the present invention, Fig. 2 is a graph showing the spectral reflectance characteristics of the deflection mirror (RM), and Fig. 3 is a graph showing the spectral reflectance characteristics of the main mirror CM, M). graph,
FIG. 4 is a perspective view showing the second embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a perspective view showing the third embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a diagram showing the fourth embodiment; FIG. 7 is a graph showing the spectral reflectance characteristics of the main mirror (MM); Secondary mirror (SM
), FIG. 7 +CI is a graph showing the spectral reflectance characteristics of the beam splitter (BS), FIG. 8 is a diagram showing a modification of the fourth embodiment, and FIG. 9 is a graph showing the spectral reflectance characteristics of the beam splitter (BS). Figures showing the fifth embodiment, Figure 10 (al is a diagram showing the sixth embodiment, Figure 10 (bl is a perspective view of its focus plate (FP)'i = Figure 10 (C1 is a perspective view of the focus plate (FP) 11G) A graph showing the spectral reflectance characteristics of the reflecting surface of a pentaprism (PP), and FIGS. 12 and 13 show Examples 7 and 8, respectively. Figure 14.1-5
The figure shows the ninth embodiment and its main parts. (TL) , Photographing lens, (LED) (CL) (RM
) (MM) , Light projecting means, (MM) (SM) , Selection means, (FD) , Light receiving means, (LED) (CL) (BS
)(SM)(MM) , light projecting means, (MM)(SM)(
BS), selection means, (LED) (CL) (WBS) (
'SM) (MM) i Light projecting means, (MM) (SM) (W
BS) i selection means, (LED) (CL) (RP) (P
P) (FP) (MM) '; Light projecting means, (MM) (SM
); Selection means, (LED) (PP) (OE) (MM)
; Light projecting means, (MM) (SM), Selection means, (LE
D) (CL) (SM) (MM) , Light projecting means, (, MM
)(SM), selection means, (LED) (,CL) (
B) (MM) i light projecting means, (MM) (B); selection means, (HD) (ct,) (as) (sM) (MM);
Light projecting means, (MM)' (SM) (BS), selection means. Applicant: Minolta Camera Co., Ltd. Figure 1 Figure 2 (α) Figure 10 (shi) 400 tOD 800 FD Figure 15

Claims (1)

【特許請求の範囲】 １、　カメラボディに装着された撮影レンズを透過した
光を受光して該撮影レンズの焦点検出を行う焦点検出装
置において、 撮影レンズを介して被写体に照射されるように、撮影レ
ンズ後方から該撮影レンズに向けて第１の直線偏光成分
を有する光束を投射する投光手段と、撮影レンズの焦点
検出を行うべく被写体からの反射光を撮影レンズを介し
て受光するように配置された受光手段と、 上記投光手段から投射された第１の直線偏光成分と直交
する第２の直線偏光成分の光のみが上記受光手段に入射
されるように受光手段への入射光を選択する選択手段と
ｙｉＭすることを特徴とするレンズ交換式カメラの焦点
検出装置。 ２　上記投光手段は、第１及び第２の直線偏光成分が混
在する光を発する光源と、その第１の直線偏光成分のみ
を上記撮影レンズに向にする第１の偏光手段とを有する
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の焦点検出
装置。 ３、　上記＄１の偏光手段は、上記光源から発せられた
光のうち一方の直線偏光成分を反射するとともに、それ
と直交する他方の直線偏光成分を透過させる特性を有す
る偏光ミラーからなることを特徴とする特許請求の範囲
第２項記載の焦点検出装置。 ４、上記光源から発せられた光は一眼レフレックスカメ
ラの主ミラーによって反射されて撮影レンズに向けられ
るように構成されているとともに、該主ミラーは上記第
１の直線偏光成分を反射し上記第２の直線偏光成分を透
過する偏光ミラーからなり、第１の偏光手段を構成して
いることを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の焦点
検出装置。 ５、　上記光源から発せられた光は、−眼レフレックス
カメラの主ミラーの後方に配置された副ミラーを透過し
て撮影レンズに向けられるように構成されているととも
に、該副ミラーは上記第１の直線偏光成分を透過し上記
第２の直線偏光成分を反射する偏光ミラーからなり、第
１の偏光手段を構成していることを特徴とする特許請求
の範囲第３項記載の焦点検出装置。 ６、　上記第１の偏光手段は、上記光源から発せられた
光のうち一方の直線偏光成分を反射すると面に設けた偏
光ビームスプリッタからなることを特徴とする特許請求
の範囲第２項記載の焦点検出装置。 ７　上記投光手段は、上記光源から発せられた光を平行
光束にコリ″ノートするコリメーターレンズを有するこ
とを特徴とする特許請求の範囲第２項から第６項までの
いずれかに記載の焦点検出装置。 ａ　上記選択手段は、撮影レンズから射出された光のう
ち上記第２の直線偏光成分を上記受光手段に琳＜第２の
偏光手段からなることを特徴とする特許請求の範囲第１
項から第７項までのいずれかに記載の焦点検出装置。 ゛９．上記第２の偏光手段は、撮影レンズから射出され
た光のうち一方の直線偏光成分を反射するとともに、他
方の直線偏光成分を透過させる特性を有する偏光ミラー
からなることを特徴とする特許請求の範囲第８項記載の
焦点検出装置。 １０、　　上記受光手段は、撮影レンズから射出されて
一眼レフレックスカメラの主ミラーを透過した光を受光
するように構成されており、該主ミラーは上記第１の直
線偏光成分を反射し第２の直線偏光成分を透過す２偏光
ミラーからなり第２の偏光手段を構成していることを特
徴とする特許請求の範囲第９項記載の焦点検出装置。 １１、　　上記第１及び第２の偏光手段は、ともに、第
１の直線偏光成分を反射するとともに第２の直線偏光成
分を透過する偏光ミラーからなる単一の一眼レフレック
スカメラの主ミラーであり、上記光源から発せられ該主
ミラーによって反射された光束が撮影レンズに向けられ
るとともに、撮影レンズから射出され該主ミラーを透過
した光束が上記受光手段に入射されるよう構成されてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第１０項記載の焦点
検出装置。 １２　　上記受光手段は、撮影レンズから射出されて一
眼レフレックスカメラの主ミラーを透過しその後方に配
置された副ミラーによって反射された光を受光するよう
に配置されており、該副ミラーは上記第２の直線偏光成
分を反射し第２の直線偏光成分を透過する偏光ミラーが
らなり第２の偏光子１段を構成していることを特徴とす
る特許請求の範囲第９項記載の焦点検出装置。 １３、　　上記第１及び第２の偏光手段は、ともに、−
眼レフレックスカメラの主ミラーの後方に配置され、第
１の直線偏光成分を透過するとともに第２の直線偏光成
分を反射する偏光ミラーからなる単一の副ミラーからな
り、上記光源から発せられ該副ミラーを透過した光束が
撮影レンズに向けられるとともに、撮影レンズから射出
され上記主ミラーを透過して副ミラーによって反射され
た光束が受光手段に入射されるよう構成されていること
を特徴とする特許請求の範囲第１２項記載の焦点検出装
置。 １４、　　上記投光手段は特定波長域の光を撮影レンズ
に向けて発するように構成されていることを特徴とする
特許請求の範囲第１項から第１３項までのいずれかに記
載の焦点検出装置。 １５、　　上記投光手段は赤外光を撮影レンズに向けて
発するように構成されているとともに上記選択手段は赤
外光のみを上記受光手段に受光させるように構成されて
いることを特徴とする特許請求の範囲第１４項記載の焦
点検出装置。[Claims] 1. A focus detection device that detects the focus of the photographic lens by receiving light transmitted through a photographic lens attached to a camera body, which includes: a light projecting means for projecting a light beam having a first linearly polarized component from behind the photographing lens toward the photographing lens; and a light receiving means arranged so that the light incident on the light receiving means is controlled so that only light of a second linearly polarized light component orthogonal to the first linearly polarized light component projected from the light projecting means is incident on the light receiving means. A focus detection device for an interchangeable lens camera, characterized in that it performs yiM with selection means for selecting. 2. The light projecting means has a light source that emits light in which first and second linearly polarized light components are mixed, and a first polarizing means that directs only the first linearly polarized light component toward the photographing lens. A focus detection device according to claim 1, characterized in that: 3. The polarizing means of $1 above is characterized by comprising a polarizing mirror having a characteristic of reflecting one linearly polarized component of the light emitted from the light source and transmitting the other linearly polarized component orthogonal thereto. A focus detection device according to claim 2. 4. The light emitted from the light source is reflected by a main mirror of the single-lens reflex camera and directed toward the photographic lens, and the main mirror reflects the first linearly polarized component and 4. The focus detection device according to claim 3, wherein the focus detection device comprises a polarizing mirror that transmits two linearly polarized light components, and constitutes the first polarizing means. 5. The light emitted from the light source is configured to pass through a sub-mirror placed behind the main mirror of the eye reflex camera and directed to the photographic lens, and the sub-mirror is directed to the photographic lens. The focus detection device according to claim 3, characterized in that the focus detection device comprises a polarizing mirror that transmits the first linearly polarized light component and reflects the second linearly polarized light component, and constitutes the first polarizing means. . 6. The first polarizing means comprises a polarizing beam splitter provided on a surface to reflect one linearly polarized component of the light emitted from the light source. Focus detection device. 7. The light emitting device according to any one of claims 2 to 6, wherein the light projecting means has a collimator lens that collimates the light emitted from the light source into a parallel beam of light. Focus detection device.a The selection means is configured to transmit the second linearly polarized light component of the light emitted from the photographing lens to the light receiving means. 1
The focus detection device according to any one of Items 7 to 7.゛9. The second polarizing means comprises a polarizing mirror having a characteristic of reflecting one linearly polarized component of the light emitted from the photographic lens and transmitting the other linearly polarized component. The focus detection device according to range item 8. 10. The light receiving means is configured to receive the light emitted from the photographing lens and transmitted through the main mirror of the single-lens reflex camera, and the main mirror reflects the first linearly polarized light component and the second linearly polarized light component. 10. The focus detection device according to claim 9, wherein the second polarizing means is composed of a two-polarizing mirror that transmits a linearly polarized light component. 11. The first and second polarizing means are both main mirrors of a single-lens reflex camera made of a polarizing mirror that reflects the first linearly polarized component and transmits the second linearly polarized component. , characterized in that the light beam emitted from the light source and reflected by the main mirror is directed toward the photographic lens, and the light beam emitted from the photographic lens and transmitted through the main mirror is incident on the light receiving means. A focus detection device according to claim 10. 12 The light receiving means is arranged to receive the light emitted from the photographic lens, transmitted through the main mirror of the single-lens reflex camera, and reflected by the sub-mirror disposed behind it, and the sub-mirror is Focus detection according to claim 9, characterized in that the polarizing mirror that reflects the second linearly polarized light component and transmits the second linearly polarized light component constitutes one stage of the second polarizer. Device. 13. The first and second polarizing means are both -
It consists of a single secondary mirror consisting of a polarizing mirror placed behind the main mirror of the eye reflex camera and transmitting the first linearly polarized light component and reflecting the second linearly polarized light component, which is emitted from the light source and reflects the second linearly polarized light component. The light beam that has passed through the secondary mirror is directed toward the photographic lens, and the beam that has been emitted from the photographic lens, transmitted through the primary mirror, and reflected by the secondary mirror is incident on the light receiving means. A focus detection device according to claim 12. 14. Focus detection according to any one of claims 1 to 13, wherein the light projecting means is configured to emit light in a specific wavelength range toward a photographing lens. Device. 15. The light projecting means is configured to emit infrared light toward the photographing lens, and the selection means is configured to cause the light receiving means to receive only the infrared light. A focus detection device according to claim 14.