JPS59197810A - 光センサの検出光の背景光からの分離方法 - Google Patents

光センサの検出光の背景光からの分離方法

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Publication number
JPS59197810A
JPS59197810A JP7331583A JP7331583A JPS59197810A JP S59197810 A JPS59197810 A JP S59197810A JP 7331583 A JP7331583 A JP 7331583A JP 7331583 A JP7331583 A JP 7331583A JP S59197810 A JPS59197810 A JP S59197810A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
detecting light
circuit
state
detection light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7331583A
Other languages
English (en)
Inventor
Morihiko Kawabe
川辺 守彦
Masaru Morita
勝 森田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
OMUNIPATSUKU KK
IHI Corp
Original Assignee
OMUNIPATSUKU KK
IHI Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by OMUNIPATSUKU KK, IHI Corp filed Critical OMUNIPATSUKU KK
Priority to JP7331583A priority Critical patent/JPS59197810A/ja
Publication of JPS59197810A publication Critical patent/JPS59197810A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/024Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 オ(発明は非接触式センサである光センサの検出光の背
景光からの分離方法に関する。
非接触式センサーである光センサを用いる場合、利点も
あるが欠点も多い。その欠点の1つに次のことか考えら
れる。
一般に屋内の照明灯、屋外の太陽光等背爾光か存在し、
この背景光が検出光に比して強い場合(ま、検出光を背
景光から分離するのが難しく使用不可能な場合が多い。
更に、光センサのうちスリッ1−光を被測定物に照射し
、被測定物の形状を測定り−る光切断法等にあっては特
に背景光から検出光を正確に分離することが要求され、
測定精度はこの分離の如何に大きく左右される。
本発明は斯かる実情に鑑みなしたものであり、検出光を
被測定物に間欠的に照則し、被測定物の検出光照射時の
状態と非照射時の状態とを比較し、検出光の背景光から
の分離を行う様にしたものである。
以下図面を参照しつつ本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明を光切断;去に係る光センサに実施した
場合である。
図中1はテレビカメラであり、テレビカメラ1で得られ
た検出光のイ言号はA/D変換器3でデジタル化され、
記憶器4に入力される。
5は検出光2の光源であり、発光体6はレーザダイオー
ド等高速スイッチングが可能な′bのが用いられ、該発
光体6は駆動回路7によって駆動される。
駆動回路7及び前記記憶器4はそれぞれコンピュータ8
に接続され、該コンピュータ8は駆動回路7を間欠的に
作動させて光源5から検出光2を照射する様にすると共
に駆動回路7の作φ)>と同IV1シて記便、器4より
データを取込み所要の処理をす゛る様になっている。
尚、図中10はテレビカメラ1のレンス゛ユニット9(
こ組込んだバンドパスフィルタで′あり、11は光源5
の光学ユニットである。
テレビカメラ1による撮像は多数の走M線の明度差の集
合体であり、各走査線の明度差しよデジタル信号としC
記憶器4に入力されて一時点の一画面分の撮像が記1意
器4にスl〜アされる。
更に光源5は間欠的に検出光2を投射して17)るので
、テレビカメラ1は被測定物に検出光2が照射している
状態と照射していない状態とを1最(象する。
次に、第2図(イ)が1最像画面で12か検出光2の像
であるとし、任意の位置の走査線nの明度信舅を示ずと
同図(ロ)(ハ)(ニ)で示される。
第2図(ロ)は背景光が全くない状態であり、検出光2
に該当づ”る部分のみの明度が上るが、実際は同図(ハ
)に示される様に背景光に検出光シが上載せした状態と
なる。又、第2図〈二)は検出光2が投射されでいない
状態走査線nの明度信号であり、検出光の間欠グイタル
を一画面(走査線−巡の画面)毎に行えば、(ハ)で示
される背景光と(ニ)で示される背景光とは殆んど一致
し、(ハ)の明度信号と(ニ)の明度信号とを比較して
差を求めれば(ホ)で示づ一様な検出光のみの信号が得
られる。これを全走査線についで行えば背景光から分離
した検出光の像を得ることができる。
即ち、検出光2照射状態で1画面分の信号を記憶器4に
取込み、次に検出光2の非照射状態(背景光のみ)で1
画面分の信号を記憶器41こ取込み、両画面の信号を比
較して異なった部分を抽出する。
又、検出光2の波長を背景光の波長と異なったものを選
択し、バンドパスフィルタ10を該検出光2に見合った
ものとすればより精度よく検出光2の会頭1かでさ″る
更に、光jl!:j Jを第3図に示す様に1走査線毎
に段用−非投射をくり返して1最1象すると第4図(イ
)に示り拝な画面を1qる(第3図中1ト]は1走査線
分の信号を示す)。
この両面では、隣り合う走査線は検出光投射時〈第4図
(ロ)〉か非投射時(第4図(ハ))である以外は非常
に似かよった情報を持っている。
そこで隣り合う走査線同志のデータを比較して大キクS
¥なる部分を抽出すれば、スリット光と背雨光を会頭し
たことになる(第4図(ニ)入この方法によれば、デー
タ取得に際して1画面のみ11ル像すれば良いので、計
測時間の短縮とメモリの1ii)約が行える。
尚、−1−、一実施例は撮像装置としてテレビカメラを
用いたが、半導体素子を用いた撮像装置でdうってもJ
ζい。又、本発明は光切断法以外の光センサに実施でき
ることは言うまでもなく、検出光のty、4川状態、非
照射状態のいずれの1iiB i象を先に記憶装置に取
込んでもよい。
以上述べた如く本発明によれば、撮像の図形分析を行う
必要がなく、単に比較操作だけで検出光を背景光から分
離し得るので処理手順が簡単で高速化が可能であり、回
路装置を簡潔にでき、検出光の分離精度も向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す概略図、第2図(イ)
(ロ)(ハ)(ニ)(ホ)は同実施例に於ける検出光の
分離手順を説明する説明図、第3図は他の実流例のタイ
ミングチャート、第4図(イ)(ロ)(ハ) (二〉は
同実施例に於ける検出光の分離手順を説明する説明図で
ある。 1はテレビカメラ、2は検出光、3はA/D変換器、4
は記憶器、5は光源、7は駆動回路、8はコンピュータ
を示す。 第2図 12 手  続  補  正  、8(方式)+、 ’li 
f隼の表示 昭和58年 特 許 願 第73315号2発明の名称 光センサの検出光の背景光からの分解方法;3手続をす
る者 特d′[出願人 東京都千代田区大手町二丁目2番1七 東京都千代田区内神田三丁目5番3号矢萩第二ビル昭和
58年7月6日 (発送日58・7・26)6補正の対
象 明よII+ ’!tの図面の節、qi Q :jp明の
欄、図面7鉤11正の内容 第6頁第8行乃至同第13行に於ける 「 第1図は・・である。」 を下記の如く補正する。 「 第1図は本発明の一実施例を示す概略図であり、第
2図(イ)(ロ)(ハ)(ニ)(ホ)は同実施例に於け
る検出光の/A離手順を説明する説明図にして第2図(
イ)は撮像画1nj、第2図(ロ)(ハ)に)は任意の
位置に於ける走査線の明度信号を夫々示すものであり、
第2図(ロ)は背景光が全くないと仮定した状態、第2
は131)は背景光がある状態、第2図←)は検出光か
投射されていない状態を夫々示し、第2図(ホ)は第2
図(ハ)と(ニ)とに示す明度信号の差を示すものであ
る。又第3図は本発明の他の実施例のタイミングチャー
トであり、第4図(イ)(ロ)(ハ)(ニ)は同実施例
Sこ於ける検出光の分解手順を説明する説明図にして第
4図@)は1走査線毎に投射−非投射をくり返して撮像
した画商、第4図(ロ)は検出光投射時、第4図(ハ)
は検出光非投射時、第4図(ニ)はスリフト光と背、1
;:尤を分離した状!四を夫々示すものである。−1 (11)図面の補正 第2図(イ) (o) H(こ)(ポ)を、添イ」図面
の如く補正する。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. l) 検出光を被測定物に間欠的に照射し、照射時と非
    照射時とのflfl像を比較して検出光を抽出Jること
    を特徴とする光センサの検出光の背景光からの分離方法
JP7331583A 1983-04-26 1983-04-26 光センサの検出光の背景光からの分離方法 Pending JPS59197810A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7331583A JPS59197810A (ja) 1983-04-26 1983-04-26 光センサの検出光の背景光からの分離方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7331583A JPS59197810A (ja) 1983-04-26 1983-04-26 光センサの検出光の背景光からの分離方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59197810A true JPS59197810A (ja) 1984-11-09

Family

ID=13514612

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7331583A Pending JPS59197810A (ja) 1983-04-26 1983-04-26 光センサの検出光の背景光からの分離方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59197810A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63163102A (ja) * 1986-12-25 1988-07-06 Toshiba Corp 位置検出方法
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JP2018524066A (ja) * 2015-06-12 2018-08-30 アキュレイ インコーポレイテッド 画素単位減衰因子を導き出すために色空間情報を用いる周囲光抑制

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