JPS59169758A - ウエハの研磨装置 - Google Patents

ウエハの研磨装置

Info

Publication number
JPS59169758A
JPS59169758A JP58042607A JP4260783A JPS59169758A JP S59169758 A JPS59169758 A JP S59169758A JP 58042607 A JP58042607 A JP 58042607A JP 4260783 A JP4260783 A JP 4260783A JP S59169758 A JPS59169758 A JP S59169758A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
wafers
gear
grinding
rotary
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58042607A
Other languages
English (en)
Inventor
Hachiro Hiratsuka
平塚 八郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP58042607A priority Critical patent/JPS59169758A/ja
Publication of JPS59169758A publication Critical patent/JPS59169758A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/04Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、ウェハの研磨装置の改良に関する。
〔発明の技術的背景〕
周知の如く、トランジスタ、IC1及びLSI等の半導
体素子は、一般にシリコンからなる鏡面ウェハから形成
されている。
従来、こうしたウェハを得る研磨装置としては、第1図
に示すものが知られている。図中の1は、上面に研磨布
2が貼布された回転盤である。この回転盤1には、回転
軸3が軸着されておシ、図示しないモータを駆動させる
ことにより該回転軸3を反時計回りに回転し、回転盤1
を同方向に回転する。前記回転盤1の上方には、エアー
シリンダー4・・・により上下動可能な例えば2つのプ
レッシャプレート5・・・が所定距離おいて設けられて
いる。なお、前記エアーシリンダー4・・・の先端部と
プレッシャプレート5・・・間にはボールベアリングが
設けられている。これらプレッシャプレート5・・・は
下面に円形状の凹部6・・・を有し、この凹部6・・・
にウェハ貼布グレート7が固定されて因る。前記プレッ
シャプレート5・・・は、ウェハ貼布プレート7・・・
が回転し得る程度に圧力を与える動きをする。また、前
記回転盤1の上方には、5102やAt205を主成分
とする研磨剤を吐出するノズル8・・・が設けられてい
る。
こうした構造の研磨装置においては、まず各プレッシャ
プレート5・・・を上昇させた状態でウェハ貼布プレー
ト7・・・の下面に夫々熱可塑性の接着剤層9・・・を
介してウェハ10・・・を固定する。
つづいて、シリンダによ)前記プレッシャプレート5・
・・をウェハ10・・の下面が回転盤1上の研磨布2に
達するまで下降する。次いで、ノズル8・・・から研磨
剤を吐出しつつ、回転盤1を反時計回りに回転する。こ
れによシ、ウェハ貼布プレート7・・・はプレッシャプ
レート5・・・によシ圧力を加えられながらウェハ貼付
プレート7が位置する範囲内で反時計回多に回転し、ウ
ェハ10の表面が研磨される。
〔背景技術の問題点〕
しかしながら、前述したウェハの研磨装置によれば以下
に示す欠点を有していう。
(1)  ウェハ10・・・を接着剤層9・・・を介し
て1枚毎にウェハ貼付グレート7・・・に固定しガけれ
ばならないとともに、ウェハ1o・・・の研磨後は1枚
毎にウェハ1o・・を前記ウェハ貼付プレート7・・・
から剥離しなければならな−ため、作業性の低下を招く
(2)  ウェハ10・・・を接着剤層9・・・を介し
てウェハ貼付グレート7・・・に固定するため、ウェハ
10・・・の裏面に接着剤が残存付着する。したがって
、それを取り除くためにトリクロールエチレン、パーク
ロールエチレン、フレオン等の有機溶剤による洗浄工程
が心安である。
(3)  ウェハ10・・・の仕上シ精度ヲ向上させる
目的で接着剤層9・・・の厚さをミクロンオーダーで制
御してウェハ1o・・・を接着剤層厚のバラツキのない
状態でウェハー貼付プレート7に接着しなければならな
いため、ウェハ1o・・・の固定作業に多大な熟練と時
間を要する。
(4) ウェハJO・・・は、研磨時において回転盤1
上方のウェハ貼付プレート7・・・が位置する範囲での
単なる円運動しか行なわないため、回転盤1の上面やウ
ェハ貼付プレート7・・・の下面の平坦度特に接着剤層
の平坦度の影響を受け、仕上り寸法精度が低下する。
〔発明の目的〕
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、ウェハを接
着剤層を使用せずに固定し、ウェハ固定作業を容易にす
るとともに、接着剤層の剥離作業、有機溶剤による洗浄
工程を省いて作業性を向上した加工精度のよいウェハの
研磨装置を提供するものである。
〔発明の概要〕
本発明は、太陽歯車に1個以上の遊星歯車を噛合して設
け、この遊星歯車の表裏に複数のウェハをセットすべき
開孔部を有するウェハガイドをウェハ吸着固定パッドを
介して設け、同遊星歯車の上方に下面に研磨布が貼布さ
れるとともに、上下方向に貫通された研磨剤供給口を有
する回転上盤を前記太陽歯車に対して同心円状に設け、
更に同遊星歯車の下方に上面に研磨布が貼布された回転
下盤を前記太陽歯車に対して同心円状に設りることによ
って、ウェハの着脱5− を容易にして作業性を向上させるとともに、加工精度を
向上させるものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明を第2図及び第3図を参照して説明する。
図中の11はステンレスからなる太陽歯車である。この
太陽歯車11の周囲には、ステンレスからなる環状の外
周歯車12が該太陽歯車に対して同心円状に設けられて
いる。前記太陽歯車11、外周歯車12間には、例えば
ステンレスからなる2つの遊星歯車131.132が夫
夫前記歯車11.12に噛合して設けられている。これ
ら遊星歯車131*132・・・の表裏には、夫々厚さ
1111111前後のウェハ吸着固定・f2ド14、・
・・、142・・・が設けられている。これら/IPッ
ド14・11・・・、142・・・は例えば市販されて
いる人工皮革やゴムの中から厚さむらがなく、表面が均
一で微少な孔を有するものから成る。同遊星歯車131
 .132の表裏には、前記ウェハ吸着固定i4ッド1
4% ・・・、142・・・を介して夫6一 夫複数のウェハをセットすべき開孔部15・・・を有す
るウェハガイド16・・・が設けられている。
このウェハガイド16・・・は強化プラスチックからな
り、その厚みはウェハ仕上シ厚よシ1o。
〜500μm薄い。同遊星歯車131.132の上方に
は、下面に研磨布121を貼布したステンレスからなる
回転上盤18が設けられている。
この回転上盤18は、前記太陽歯車11と同心円状であ
り、図示しないシリンダによって上下動する。このシリ
ンダの先端部と回転上盤18間にはロールベアリングが
設けられている。前記回転上盤18及び研磨布171 
には、上下方向に貫通する研磨剤供給口19・・・が設
けられている。また、前記遊星歯車12・・・の下方に
は、上面に研磨布172を貼布したステンレスからなる
回転下盤20が設けられている。
前記回転下盤20には、第1の円筒状回転軸21の上端
が軸着されている。前記太陽歯車1ノには、前記円筒状
回転軸21に貫通した第2の円筒状回転軸22の上端が
軸着されている。
前記回転上盤18には、前記第2の円筒状回転軸22に
貫通した回転軸23の上端が軸着されている。前記第1
の円筒状回転軸21の下端部にばかさ歯車24、第1の
歯車251が設けられ、かつ第2の円筒状回転軸22、
回転軸23の下端部には夫々第2.第3の歯車252 
253が夫々設けられている。また、前記第1゜第2の
円筒状回転軸21.22間、及び第2の円筒状回転軸2
22回転軸23間の上下部には、夫々軸受261 % 
26+ 、262.262が介在されている。前記回転
下盤2oの下方には、内壁面に前記外周歯車12及びか
さ歯車24と噛合する歯車部を有しかつ底部が開口した
椀型部材(図示せず)が設けられている。更に、前記第
1.第2の円筒状回転軸21.22及び回転軸23の近
くには、これら回転軸21〜23の夫々の歯車251〜
253と別々に噛合する歯車(図示せず)を有した回転
軸(図示せず)が該回転軸21〜23と平行に設けられ
ている。
この回転軸の一端にはウオーム歯車(図示せず)が設け
られ、更にこのウオーム歯車には図示しないモータに取
付けられたウオームが噛合されている。
次に、前述した構造の研磨装置の作用について説明する
まず、シリンダの力を解除して回転上盤18を回転下盤
20の上方に移動した状態で、遊星歯車IJ、132を
持ち上げ、遊星歯車131゜132の裏面側のウェハ吸
着固定・ぐラド142・・・を水で濡らした後、ウェハ
27・・・をウェハガイド16・・・の開孔部15・・
・に収納しつつウェハ27・・・面を濡らした前記・ぐ
ラド142に摺り合わせ、固定する。つづいて、遊星歯
車131 。
132を元の位置に戻した後、上記と同様にしてウェハ
27・・・を遊星歯車131.13zの表面側のウェハ
ガイド16・・・の開孔部15のウェハ吸着固定パッド
141・・・に固定する。つづいて、シリンダを用いて
回転上盤18を遊星歯車131.13□が十分回転し得
る位置まで下降させる。次に、研磨剤供給口19.19
から研9− 磨削を供給しつつ、モータの駆動によりウオーム歯車、
並びに第1〜第3の歯車251〜253及びかさ歯車2
4を介して外周歯車12、回転下盤20.太陽歯車1ノ
を反時計回りにかつ回転上盤18を時計回漫に回転させ
、遊星歯車131.13.を時計回シに回転させて各ウ
ェハ27・・・の表面を研磨した。なお、前記研磨剤と
しては粒径0.5μm以下の5102を主成分とし、水
酸化ナトリウム、水酸化カリウム、アンモニア水等でP
H、を11〜14の間に調整したものを用いた。ウェハ
27・・・の研磨後は、研磨剤の滴下、モータの駆動を
止めた後、シリンダの力を解除して回転上盤18を回転
下盤2oの上方に移動した状態で、ウェハ27・・・面
とウェハ吸着固定パッド14I・・・、142・・・面
間に水を浸透させることにより、ウェハ27・・・をウ
ェハ吸着固定ノやラド141・・・、142・・・から
取り除す。
しかして、本発明によれば以下に示す効果を有する。
(1)  ウェハ27・・・の固定に際して、従来の如
10− 〈接着剤層を用いることがなく、ウェハ吸着固定ハツト
14.・・・、142・・・を水で濡らすだけでウェハ
27・・・を容易に固定できる。また、研磨後はウェハ
27・・・面とウェハ吸着固定ノJ?ッド141・・・
、142・・・面間に水を浸透させることによりウェハ
27・・・を容易に剥離できるとともに、従来の如き接
着剤層の使用に起因する有機溶剤による洗浄工程を省く
ことができる。したがって、従来と比べ作業性を著しく
向上できる。
(2)従来の如く接着剤層を用いないとともに、ウェハ
を単に円運動させながら研磨を行なう構造ではなく、太
陽歯車1ノの外周側面に遊星歯車131 ・・・、13
2・・・を遊星運動するように設け、かつ太陽歯車1ノ
の表裏にウェハ吸着固定パッド14.・・・、142・
・・を介して複数のウェハ27・・・をセットすべき開
孔部15・・・を有するウェハガイド16・・・を設け
た構造となっているだめ、ウェハ27・・・を広い領域
で一様に研磨でき、ウェハ27・・・の仕上シ寸法精度
を向上することができる。
(3)  ウェハ22・・・を遊星歯車131 ・・・
、132・・・の表裏のウェハガイド16・・・にセッ
トすることができるため、従来の片面研磨方式の場合に
比べて単位時間abの加工処理ウェハ枚数は約2倍であ
る。また、上述した機構によシウェハ22・・・の研磨
を行なうとともに、研磨剤として粒径0.5μm以下の
5102が主成分でかつPI(11〜14のものを用い
るため、人工皮革等からなるウェハ吸着固定)ぐラド1
4.・・・、142・・・との作用によシ機械的な作用
と化学的な作用をもった研磨ができ、遊星歯車131.
13gの上側及び下側でのウェハ27・・・の研磨量を
ほぼ均一にできる。
事実、本発明の研磨装置を用いて回転上盤側及び回転下
盤側においたAロットのウェハについて回転上・下盤1
8.20の回転速度60rpm。
研磨時間40分の条件下で研磨した時の研磨量を調べた
ところ、第4図(a) 、 (b)に示すグラフ図が得
られた。なお、同図(a) 、 (b)は夫々回転上盤
側ウェハ、回転下盤側ウェハの場合を示す。同図(a)
 、 (b)により、回転上盤側ウェハの研磨量の平均
値が67.2μmであるのに対し、回転下盤側ウェハの
それは67.6μmであった。また、同装置を用いてB
ロットのウェハについて回転上・下盤18.20の回転
速度60rpm、研磨時間25分の条件下で研磨した時
の研磨量を調べたところ、第5図(a) 、 (b)に
示すグラフ図が得られた。なお、同図(、) 、 (b
)は夫々回転上盤側ウェハ、回転下盤側ウェハの場合を
示す。同図(a) 、 (b)によシ、回転上盤側ウェ
ハの研磨量の平均値が39.6μmであるのに対し、回
転下盤側のウェハのそれは40.2μmであった。これ
らの結果よシ、試験条件を変えたA、B各ロットとも回
転上盤側ウェハ、回転下盤側ウニへ間で研磨量の差がほ
とんどないことが確認できる。
また、従来及び本発明装置を用Aて100調φウエハの
研磨後平行度(50枚加工の平均値)を調べたところ、
従来装置によるウェハの平行度は8.5μmであるのに
対し、本発明装置によるウェハのそれは4.3μmであ
った。これにより、13一 本発明装置が従来装置と比べ、ウェハの研磨後平行度(
平坦度)を約2倍程度向上できることが確認できる。
なお、上記実施例では、太陽歯車、外周歯車の駆動によ
シ遊星歯車を回転させる場合について述べたが、これに
限らず、太陽歯車あるいは外周歯車のいずれか一方の駆
動によシ遊星歯車を回転させてもよい。
また、上記実施例では、回転上盤、回転下盤、太陽歯車
、遊星歯車及び外周歯車の材質としてステンレスを用い
たが、これに限らず、例えばアルミニウム、黄銅あるい
は強化プラスチック等を用いてもよい。
〔発明の効果〕
以上詳述した如く本発明によれば、ウェハの着脱を容易
にして作業性を向上はせるとともに、加工精度を向上し
得るウェハの研磨装置を提供できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のウェハの研磨装置の断面図、14− 除いた平面図、第4図(a) 、 (b)及び第5図(
=) 、 (b)は夫々第2図図示の研磨装置によるA
、B各ロットの回転上盤側ウェハ、回転下盤側ウェハの
研磨量と枚数との関係を示すグラフ図である。 11・・・太陽歯車、12・・・外周歯車、131 。 132・・・遊星歯車、’4++142・・・ウェハ吸
着固定パッド、15・・・開孔部、16・・・ウェハガ
イド、171*172・・・研磨布、18・・・回転上
盤、19・・・研磨剤供給口、20・・・回転下盤、2
1.22・・・円筒状回転軸、23・・・回転軸、24
・・・かさ歯車、251〜253・・・歯車、261゜
262・・・軸受、27・・・ウェハ。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦15− 第1図 ♂<ζギギ ダ7(怪蕃

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 太陽歯車と、この太陽歯車に噛合して設けられた1個以
    上の遊星歯車と、この遊星歯車の表裏にウェハ吸着固定
    ・ぐラドを介して設けられ、沙数のウェハをセットすべ
    き開孔部を有するウェハガイドと、同遊星歯車の上方に
    前記太陽歯車に対して同心円状に設けられ、下面に研磨
    布が貼布されるとともに、上下方向に貫通された研磨剤
    供給口を有する回転上盤と、同遊星歯車の下方に前記太
    陽歯車に対して同心円状に設けられ、上面に研磨布が貼
    布された回転下盤とを具備することを特徴とするウェハ
    の研磨装置。
JP58042607A 1983-03-15 1983-03-15 ウエハの研磨装置 Pending JPS59169758A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58042607A JPS59169758A (ja) 1983-03-15 1983-03-15 ウエハの研磨装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58042607A JPS59169758A (ja) 1983-03-15 1983-03-15 ウエハの研磨装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59169758A true JPS59169758A (ja) 1984-09-25

Family

ID=12640717

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58042607A Pending JPS59169758A (ja) 1983-03-15 1983-03-15 ウエハの研磨装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59169758A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0672470A1 (de) * 1994-03-18 1995-09-20 Sms Schloemann-Siemag Aktiengesellschaft Vorrichtung zum Bearbeiten von Walzen während des Walzvorgangs
DE19626396B4 (de) * 1995-07-03 2006-12-07 Mitsubishi Materials Silicon Corp. Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung und zum Schleifen von Siliziumscheiben

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0672470A1 (de) * 1994-03-18 1995-09-20 Sms Schloemann-Siemag Aktiengesellschaft Vorrichtung zum Bearbeiten von Walzen während des Walzvorgangs
DE19626396B4 (de) * 1995-07-03 2006-12-07 Mitsubishi Materials Silicon Corp. Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung und zum Schleifen von Siliziumscheiben

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3923107B2 (ja) シリコンウェーハの製造方法およびその装置
US20090239456A1 (en) Chemical Mechanical Polishing Pad and Dresser
JPH09270401A (ja) 半導体ウェーハの研磨方法
US8579679B2 (en) Conditioning method and conditioning apparatus for polishing pad for use in double side polishing device
JPH0413568A (ja) バッキングパッド、その精密平面加工方法およびそれを用いた半導体ウェーハの研磨方法
WO2021065102A1 (ja) 研削装置及び研削ヘッド
KR100487589B1 (ko) 평면 피가공물의 폴리싱과 세정방법 및 장치
TWI733943B (zh) 雙面研磨裝置用之載體、雙面研磨裝置及雙面研磨方法
JPS59169758A (ja) ウエハの研磨装置
US6287175B1 (en) Method of mirror-finishing a glass substrate
JP2008023659A (ja) バッキングパッド並びにワークの研磨装置及びワークの研磨方法
JP2004087521A (ja) 片面鏡面ウェーハおよびその製造方法
JP2004356336A (ja) 半導体ウェーハの両面研磨方法
JPH0236066A (ja) 研磨布および研磨装置
JPS61241059A (ja) 研磨装置
JPH10315121A (ja) 平面研磨装置
JP2006035369A (ja) 平面研磨機
JP6846284B2 (ja) シリコンウエーハの加工方法
JPH059229B2 (ja)
JP2558864Y2 (ja) ラッピング砥石定盤
JP2019067964A (ja) 研磨パッド
JPS60228068A (ja) 研磨装置
CN110421479B (zh) 一种电子器件用半导体晶片抛光设备
JPH03198332A (ja) 研磨方法及びその装置
JPS591162A (ja) 両面研磨装置