JPS59152530A - 光学式デイスクのピツクアツプ装置 - Google Patents
光学式デイスクのピツクアツプ装置Info
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- JPS59152530A JPS59152530A JP2621383A JP2621383A JPS59152530A JP S59152530 A JPS59152530 A JP S59152530A JP 2621383 A JP2621383 A JP 2621383A JP 2621383 A JP2621383 A JP 2621383A JP S59152530 A JPS59152530 A JP S59152530A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、ビデオ信号、オーディオ信号等が記録され
ている光ディスクの光学的なピンクアップ装置にかＮわ
り、特にそのスキューサーボに関するものである。
ている光ディスクの光学的なピンクアップ装置にかＮわ
り、特にそのスキューサーボに関するものである。
昨今、円周上に情報を記録した元ディスク再生装置が製
品化され、すでに市販の段階にあるが、かＮる光ディス
クの記録トラックは数μｍと小さく設定されているので
、記録媒体としての光ディスクの製造精度、及びその経
年変化によるディスクの形状変化によっては再生特性等
に問題が発生する。
品化され、すでに市販の段階にあるが、かＮる光ディス
クの記録トラックは数μｍと小さく設定されているので
、記録媒体としての光ディスクの製造精度、及びその経
年変化によるディスクの形状変化によっては再生特性等
に問題が発生する。
例えは、光学的な読みとり装置として使用されているレ
ーザピックアップの光源は、ガスレーザ（Ｈｅ −Ｎｅ
レーザ）から半導体レーザに移行する傾向にあるが、Ｈ
ｅ−Ｎｅレーザ光線の波長λが６２３．８ｎｍであるの
に対し、現在のところ実用化されている半導体レーザの
波長λは７８０ｎｍＭｍ程度と長い。そのため半導体レ
ーザな光源とするピンクアップ装置では対物レンズとし
てＮ Ａ （ＮｕｍｅｒｊｃａｌＡｐｅｒｔｕｒｅ’）
が少な（とも０．５０位の大きいものを使用しないと、
光ディスクに記録されている情報な読みとるに充分なス
ポット径が得られないという状況にある。
ーザピックアップの光源は、ガスレーザ（Ｈｅ −Ｎｅ
レーザ）から半導体レーザに移行する傾向にあるが、Ｈ
ｅ−Ｎｅレーザ光線の波長λが６２３．８ｎｍであるの
に対し、現在のところ実用化されている半導体レーザの
波長λは７８０ｎｍＭｍ程度と長い。そのため半導体レ
ーザな光源とするピンクアップ装置では対物レンズとし
てＮ Ａ （ＮｕｍｅｒｊｃａｌＡｐｅｒｔｕｒｅ’）
が少な（とも０．５０位の大きいものを使用しないと、
光ディスクに記録されている情報な読みとるに充分なス
ポット径が得られないという状況にある。
しかしながら、対物レンズのＮＡが大きくなれはなる程
、光ディスクの傾うきによって発生するス例するといわ
れている）、再生特性が悪化するという問題がある。
、光ディスクの傾うきによって発生するス例するといわ
れている）、再生特性が悪化するという問題がある。
そこで、光ピツクアップ装置に使用されているフォーカ
スサーボ、トラッキンクサーボ等を行う一タ内部にスキ
ュー検出用の１／４λ板（ＱＷＰ）＋偏光ビームスプリ
ッタ（Ｐ Ｂ Ｓ ）、スキ五−検出用デイテクノ等を
設けると、アクチェータ（振動体）の重量が大きくなり
、２軸デバイスとしての応答特性が悪（なるという欠点
がある。
スサーボ、トラッキンクサーボ等を行う一タ内部にスキ
ュー検出用の１／４λ板（ＱＷＰ）＋偏光ビームスプリ
ッタ（Ｐ Ｂ Ｓ ）、スキ五−検出用デイテクノ等を
設けると、アクチェータ（振動体）の重量が大きくなり
、２軸デバイスとしての応答特性が悪（なるという欠点
がある。
この発明は、か匁る実状にかんがみてなされたもので、
光ディスクの傾きを検出する専用の光学手段を設け、そ
の検出値によりピックアップを形成している光学系の姿
勢を制御し、スキューの影響から発生する再生特性の悪
化を防止する光学式ディスクのピックアップ装置を提供
するものである。
光ディスクの傾きを検出する専用の光学手段を設け、そ
の検出値によりピックアップを形成している光学系の姿
勢を制御し、スキューの影響から発生する再生特性の悪
化を防止する光学式ディスクのピックアップ装置を提供
するものである。
この発明は、上記の目的を達成するために、ディスク面
に対して垂直な光軸に沿った光束を対物レンズで収束せ
しめてディスクの記録面、にビームスポットを照射し、
その反射光を受光素子で受光して再生信号を得るように
した光学ピックアップ装置において、前記光軸と平行な
光軸を有し、かつほぼ平行光線とされている光学手段を
設け、該光学手段から照射された平行光線の記録面より
の戻り光束を２ないし４分割されている第２の受光素子
によって受光し、該第２の受光素子で検出した出力によ
ってディスクの傾きを検出するようになし、この検出値
によって光軸の傾きを制御するようにしたものである。
に対して垂直な光軸に沿った光束を対物レンズで収束せ
しめてディスクの記録面、にビームスポットを照射し、
その反射光を受光素子で受光して再生信号を得るように
した光学ピックアップ装置において、前記光軸と平行な
光軸を有し、かつほぼ平行光線とされている光学手段を
設け、該光学手段から照射された平行光線の記録面より
の戻り光束を２ないし４分割されている第２の受光素子
によって受光し、該第２の受光素子で検出した出力によ
ってディスクの傾きを検出するようになし、この検出値
によって光軸の傾きを制御するようにしたものである。
したがって、フォーカス制御、トラッキング制御を行っ
ている振動系の質量を増加することなくスキューサーボ
が行われるので、再生特性が悪化することがない。
ている振動系の質量を増加することなくスキューサーボ
が行われるので、再生特性が悪化することがない。
第１図はこの発明の光学ディスクのビックアンプ装置の
概要を示すもので、Ｄは反射面に情報が記録されている
光ディスク”、ＰＤは前記光ディスクｏｔ反射面にレー
ザ光線を対物レンズＯＬを介して照射し、その反射光か
ら記録情報を絖みとる光学デバイス、ＳＤは前記光学デ
バイスＰＤと一体化して移動し光ディスクＤの傾きを検
出するスキューデバイスを示す。
概要を示すもので、Ｄは反射面に情報が記録されている
光ディスク”、ＰＤは前記光ディスクｏｔ反射面にレー
ザ光線を対物レンズＯＬを介して照射し、その反射光か
ら記録情報を絖みとる光学デバイス、ＳＤは前記光学デ
バイスＰＤと一体化して移動し光ディスクＤの傾きを検
出するスキューデバイスを示す。
このスキューデバイスＳＤの構造の一例は、図示したよ
うに発光源１０．レンズ系１１．ＰＢＳ（Ｐｏ１ａｒｉ
ｚａｔｉｏｎ Ｂｅａｍ ５ｐｌｉｔｔｅｒ ）
１２＋ ＱＷＰ（Ｑｕ、１ｒｔｏｒＷａｖｅ Ｐｌａｔ
ｅ ） Ｉ Ｌ及び受光素子１４からなり、光ディスク
Ｄのスキューを検出するものである。
うに発光源１０．レンズ系１１．ＰＢＳ（Ｐｏ１ａｒｉ
ｚａｔｉｏｎ Ｂｅａｍ ５ｐｌｉｔｔｅｒ ）
１２＋ ＱＷＰ（Ｑｕ、１ｒｔｏｒＷａｖｅ Ｐｌａｔ
ｅ ） Ｉ Ｌ及び受光素子１４からなり、光ディスク
Ｄのスキューを検出するものである。
又、光学デバイスＰＤは、よ（知られているようにフォ
ーカス、及びトラッキング制御を行う２軸駆動部Ｐ２Ｄ
を支持し、光ディスクＤの半径方向に移動する移動機構
（図示せず）Ｋ塔載されている。。
ーカス、及びトラッキング制御を行う２軸駆動部Ｐ２Ｄ
を支持し、光ディスクＤの半径方向に移動する移動機構
（図示せず）Ｋ塔載されている。。
か入る構造からなるピンクアンプ装置は、光ディスクＤ
の回転とともに半径方向に移動し、光学デバイスＰＤは
記録面のトラックを追いながら情報を再生するものであ
るが、同時にスキューデバイスＳＤも移動し光ディスク
Ｄの傾きを検出する。
の回転とともに半径方向に移動し、光学デバイスＰＤは
記録面のトラックを追いながら情報を再生するものであ
るが、同時にスキューデバイスＳＤも移動し光ディスク
Ｄの傾きを検出する。
すなわち、スキューデバイスＳＤに設けた発光源１０（
レーザ光源又は普通の発光ダイオード等の光源）から放
出された光はレンズ系１１によってほぼ平行光線とされ
、ＰＢＳ １２．ＱＷＰ １’３を介して光ディスクＯ
に照射される。そして、光ディスクＤの記録面から反射
された反射光はＱＷＰ１３を経てＰＢＳｉ ２では賃９
０°方向に反射さｎ、受光素子１４によって検出される
。
レーザ光源又は普通の発光ダイオード等の光源）から放
出された光はレンズ系１１によってほぼ平行光線とされ
、ＰＢＳ １２．ＱＷＰ １’３を介して光ディスクＯ
に照射される。そして、光ディスクＤの記録面から反射
された反射光はＱＷＰ１３を経てＰＢＳｉ ２では賃９
０°方向に反射さｎ、受光素子１４によって検出される
。
したがって、光ディスクＤがＸ方向（半径方向）又はＸ
方向（円周方向ンに傾いている時は反射光は入射光と異
なる光路を戻ることになるので受光素子１４のスポット
の位置が変動する。
方向（円周方向ンに傾いている時は反射光は入射光と異
なる光路を戻ることになるので受光素子１４のスポット
の位置が変動する。
そこで、受光素子１４を４分割して、その分割した各受
光面から得られる信号を後述するように演算すると、元
ディスクＤの傾きが検出されることになる。。
光面から得られる信号を後述するように演算すると、元
ディスクＤの傾きが検出されることになる。。
この場合、晃ディスクＤの形状から、スキューは主にラ
ジアル方向（ｙ方向）に生じる場合が多いので、前記受
光素子１４としては２分割したものを使用して光ディス
クＤのラジアル方向のスキュー検出のみを行うようにし
ても実用的な効果が得られる〇 受光素子１４で検出した信号は、後述するように演算回
路、及びドライブ回路等に供給され、小形モータ等によ
ってピンクアップ装置を傾動し、光ディスクＤの面に対
して光軸が直交するようＫ”Ｊ＃−１６，↓ スキュー検出用の光軸と、光ディスクの信号検出用の光
軸の距ＭＫは、できるだけ接近し℃お（方が好ましいが
、ディスク面の傾きは連続性があり、局所的に変動する
ことはほとんどないので、特に問題となることはない。
ジアル方向（ｙ方向）に生じる場合が多いので、前記受
光素子１４としては２分割したものを使用して光ディス
クＤのラジアル方向のスキュー検出のみを行うようにし
ても実用的な効果が得られる〇 受光素子１４で検出した信号は、後述するように演算回
路、及びドライブ回路等に供給され、小形モータ等によ
ってピンクアップ装置を傾動し、光ディスクＤの面に対
して光軸が直交するようＫ”Ｊ＃−１６，↓ スキュー検出用の光軸と、光ディスクの信号検出用の光
軸の距ＭＫは、できるだけ接近し℃お（方が好ましいが
、ディスク面の傾きは連続性があり、局所的に変動する
ことはほとんどないので、特に問題となることはない。
又、距離Ｋが小さい場合は記録情報を検出（−ている光
学デバイスＰＤのビームスポットＳの位置に対しスキュ
ー検出用のスポットＱの位置はどの方向におい′Ｃもよ
いが、図示したようにビームスボッ）Ｓの位置に対して
円周方向で、かつ回転方向に対して前方にあたる位置が
好ましい。
学デバイスＰＤのビームスポットＳの位置に対しスキュ
ー検出用のスポットＱの位置はどの方向におい′Ｃもよ
いが、図示したようにビームスボッ）Ｓの位置に対して
円周方向で、かつ回転方向に対して前方にあたる位置が
好ましい。
スキュー検出用のスポットＱの大きさは、光学デバイス
ＰＤから出力されている信号検出用のビームスボッ）Ｓ
に比較してかなり大きくしてもよいので（約１．８閣φ
）、発光源１０としては通常の発光ダイオード等が使用
でき、レンズ系１１も例えはピンホール穴を使用して平
行光線を出すようにしてもよい。
ＰＤから出力されている信号検出用のビームスボッ）Ｓ
に比較してかなり大きくしてもよいので（約１．８閣φ
）、発光源１０としては通常の発光ダイオード等が使用
でき、レンズ系１１も例えはピンホール穴を使用して平
行光線を出すようにしてもよい。
第２図は受光素子１４が４分割されている場合のこの発
明のスキュー検出回路の一例を示したもて増幅され、こ
の増幅された信号電圧ｅａ ｒ ｅｂ ＊ｅ６ 、’
ｅｄは演算回路１６．１７によって、（ｅａ ＋ｅｂ
） （ｅｃ ＋ｅｄ）＝Ｂａ （ラジアル）（ｅｘ
＋ｅｃ ） （ｅｂ 十ｅｄ）＝、ＢＴ（タンデン
シャル）となる演算がなされるように構成しである。
明のスキュー検出回路の一例を示したもて増幅され、こ
の増幅された信号電圧ｅａ ｒ ｅｂ ＊ｅ６ 、’
ｅｄは演算回路１６．１７によって、（ｅａ ＋ｅｂ
） （ｅｃ ＋ｅｄ）＝Ｂａ （ラジアル）（ｅｘ
＋ｅｃ ） （ｅｂ 十ｅｄ）＝、ＢＴ（タンデン
シャル）となる演算がなされるように構成しである。
したがって、今、光ディスクＤの傾きがない時は受光素
子１４に入射されたスポットは中心にあり、ｅＢ ＝ｅ
ｂ＝＝、 ｅｃ＝＝ ｅｄの出力が得られるからラジア
ル方向のスキュー′胤圧Ｅ、及びクンデンシャル方向の
スキュー電圧ＥＴとも０になる。
子１４に入射されたスポットは中心にあり、ｅＢ ＝ｅ
ｂ＝＝、 ｅｃ＝＝ ｅｄの出力が得られるからラジア
ル方向のスキュー′胤圧Ｅ、及びクンデンシャル方向の
スキュー電圧ＥＴとも０になる。
しかし、光ディスクＤのラジアル方向にスキューがある
場合は、受光素子１４上でスポットがｙ軸方向に移動し
くｅａ ＋ｅｃ ） （ｅｂ ＋ｅｄ）の演算値は０
であるが、（ｅｘ ｅｂ ） ”？Ｆ、 （ｅｃ＋ｅ
ｄ）となってラジアル方向のスキュー電圧Ｅ８か十又は
−値を示す。
場合は、受光素子１４上でスポットがｙ軸方向に移動し
くｅａ ＋ｅｃ ） （ｅｂ ＋ｅｄ）の演算値は０
であるが、（ｅｘ ｅｂ ） ”？Ｆ、 （ｅｃ＋ｅ
ｄ）となってラジアル方向のスキュー電圧Ｅ８か十又は
−値を示す。
又、同様にラジアル方向とともにタンテンシャル方向に
もスキューが発生している場合は、受光素子１４上でス
ポットがＸ軸方向にも移動するので、（ｅ、 ＋ ｅｂ
） Ｓ （ｅｃ十ｅｄ ）とともに（ｅ、＋ｅｃ）＜
（ｅｂ＋ ８６ ）となり、スキュー電圧Ｅｉｚ ｂｔ
とも発生する。
もスキューが発生している場合は、受光素子１４上でス
ポットがＸ軸方向にも移動するので、（ｅ、 ＋ ｅｂ
） Ｓ （ｅｃ十ｅｄ ）とともに（ｅ、＋ｅｃ）＜
（ｅｂ＋ ８６ ）となり、スキュー電圧Ｅｉｚ ｂｔ
とも発生する。
したがって、このスキュー電圧ＥＲ，ＥＴをドライブ回
路を介して小形モータに供給し、スキュー電圧ＢＲ＋Ｅ
Ｔとも０になるようにピックアンプ装置を傾動すれは、
光学デバイスＰＤの光軸はディスク面に対して直交し、
ビームスポットＳのコマ収差ヲナくスルコトカテキ、Ｍ
Ｔ Ｆ （ＭｏｄｕｌａｔｉｏｎＴｒａｎｓｆｅｒ
Ｆｕｎｃｔｉｏｎ ）やＰ Ｔ Ｆ （Ｐｈａｓｅ Ｔ
ｒａｎｓｆｅｒＦｕｎｃｔｉｏｎ ）の劣化を防止する
ことができる。
路を介して小形モータに供給し、スキュー電圧ＢＲ＋Ｅ
Ｔとも０になるようにピックアンプ装置を傾動すれは、
光学デバイスＰＤの光軸はディスク面に対して直交し、
ビームスポットＳのコマ収差ヲナくスルコトカテキ、Ｍ
Ｔ Ｆ （ＭｏｄｕｌａｔｉｏｎＴｒａｎｓｆｅｒ
Ｆｕｎｃｔｉｏｎ ）やＰ Ｔ Ｆ （Ｐｈａｓｅ Ｔ
ｒａｎｓｆｅｒＦｕｎｃｔｉｏｎ ）の劣化を防止する
ことができる。
第３図はこの発明のピンクアンプ装置の外形の一実施例
を分解図で示したもので、ラジアル方向のスキュー補正
ができるようにしたものである。
を分解図で示したもので、ラジアル方向のスキュー補正
ができるようにしたものである。
この図で、２０は光学７ｐツクを示し、その中には前述
したように光ディスクＤのビットを検出するための光学
系と、スキューを検出するための光学系が収納されてい
る。ビット情報を検出するためた必要な光学系のフォー
カスサーボ、及びトラッキングサーボは２軸光学駆動部
２１によって行われ、スキュー検出用の平行光線を出力
する窓孔は２２で示されている。
したように光ディスクＤのビットを検出するための光学
系と、スキューを検出するための光学系が収納されてい
る。ビット情報を検出するためた必要な光学系のフォー
カスサーボ、及びトラッキングサーボは２軸光学駆動部
２１によって行われ、スキュー検出用の平行光線を出力
する窓孔は２２で示されている。
か〜る光学フロック２０は、その全体が例えば軸２３に
よって支持され、光学フロック２０の移動方向に対して
傾動するように構成される。
よって支持され、光学フロック２０の移動方向に対して
傾動するように構成される。
すなわち、光学ブロック２０の底面には傾動ギヤ２４が
形成され、この傾動ギヤ２４が支持台２５に設置しであ
る小形のモーフ２６のウオームギヤ２７に噛み合う如く
、２つの側板２Ｂの軸穴２９に前記軸２３が挿通される
構成となっている。なお、３０．３０は前記支持台２５
をラジアル方向に移動する送りネジである。
形成され、この傾動ギヤ２４が支持台２５に設置しであ
る小形のモーフ２６のウオームギヤ２７に噛み合う如く
、２つの側板２Ｂの軸穴２９に前記軸２３が挿通される
構成となっている。なお、３０．３０は前記支持台２５
をラジアル方向に移動する送りネジである。
この構造では前述したラジアル方向のスキュー電圧ＥＲ
が検出された時、このスキュー電圧Ｅ８によってモーフ
２６を正転又は逆転すれは、光学フロック２０が傾動し
、光軸がティスフ面に対して直角になるように制御する
ことかできる。
が検出された時、このスキュー電圧Ｅ８によってモーフ
２６を正転又は逆転すれは、光学フロック２０が傾動し
、光軸がティスフ面に対して直角になるように制御する
ことかできる。
通常、ディスクのスキューは保管不良等によって浅い皿
状に変形した場合に発生し易いが、チャッキング不良等
によつエディスフ面が傾いてとりつけられる極端な場合
でも、はｙディスクの一回転を周期としてスキュー電圧
（Ｅｌｌ）がなだらかに変動する程度であり、光学ブロ
ック２０をスキュー電圧に追従させて制御する点に困難
性は殆んどなＸ、Ｓ。
状に変形した場合に発生し易いが、チャッキング不良等
によつエディスフ面が傾いてとりつけられる極端な場合
でも、はｙディスクの一回転を周期としてスキュー電圧
（Ｅｌｌ）がなだらかに変動する程度であり、光学ブロ
ック２０をスキュー電圧に追従させて制御する点に困難
性は殆んどなＸ、Ｓ。
なお、必要があればクンデンシャル方向のスキューサー
ボ機構が追加できる。この場合は羅針盤の支持機構に入
られるように直交する２軸によって光学ブロック２０を
支持し、移動方向と直角な方向にも光学ブロック２０を
傾動制御できるようにすればよい。
ボ機構が追加できる。この場合は羅針盤の支持機構に入
られるように直交する２軸によって光学ブロック２０を
支持し、移動方向と直角な方向にも光学ブロック２０を
傾動制御できるようにすればよい。
ディスクの傾きをスキューサーボによって制御する時の
傾動角は、ディスクの大きさ、及びその精度によっても
異なるが、通常±２°位あれば充分である。したがって
、光学ブロック２０の傾動機構はこの実施例に限定され
ることなく、例えばモーフ２６に変えて磁界の吸引反発
力や、圧電素子による伸縮力等を利用することもできる
。
傾動角は、ディスクの大きさ、及びその精度によっても
異なるが、通常±２°位あれば充分である。したがって
、光学ブロック２０の傾動機構はこの実施例に限定され
ることなく、例えばモーフ２６に変えて磁界の吸引反発
力や、圧電素子による伸縮力等を利用することもできる
。
又、傾動機構も軸支構造の外に円弧上の溝で光学ブロッ
ク２０を支持し、回動させる構成としてもよい。
ク２０を支持し、回動させる構成としてもよい。
第４図は記録情報の検出用の光源（レーザ光源）をスキ
ュー検出用の光源と兼用させる場合の一実施例を示すも
ので、レーザ光源４０から放射されたレーザ光は、ＰＢ
Ｓ４１．コリメークレンズ４２を介してハーフミラ４３
に入射させる。こ又で、はＳ″８５ ： １５位の割合
で１部を通過させ、９０゜・ 方向変換したレーザ光を
ＱＷＦ４４．及び対物レンズ４５を介して光ディスクＤ
に照射させる。
ュー検出用の光源と兼用させる場合の一実施例を示すも
ので、レーザ光源４０から放射されたレーザ光は、ＰＢ
Ｓ４１．コリメークレンズ４２を介してハーフミラ４３
に入射させる。こ又で、はＳ″８５ ： １５位の割合
で１部を通過させ、９０゜・ 方向変換したレーザ光を
ＱＷＦ４４．及び対物レンズ４５を介して光ディスクＤ
に照射させる。
光ディスクＤからの反射光は、再びハーフミラ４３によ
って９００区射され入射光の光路を戻り、ＰＢＳ４１か
らシリンドリカルレンズ４６．第１の光検出器４７に入
力され、再生ＲＦ信号を検出するとともに、フォーカス
制御、トラッキング制御等を行う信号の検出も行う。
って９００区射され入射光の光路を戻り、ＰＢＳ４１か
らシリンドリカルレンズ４６．第１の光検出器４７に入
力され、再生ＲＦ信号を検出するとともに、フォーカス
制御、トラッキング制御等を行う信号の検出も行う。
一方、ハーフミラ４３を透過したレーザ光は、レンズ系
５０を介してプリズム５１に入射され９０゜方向に反射
されたのち第２のＰＢ８５２．第２のＱＷＰ ５３を介
して光ディスクＤに照射される。
５０を介してプリズム５１に入射され９０゜方向に反射
されたのち第２のＰＢ８５２．第２のＱＷＰ ５３を介
して光ディスクＤに照射される。
そしてその反射光は前述したように第２の光検出器５４
に入射され、光ディスクＤのスキューを検出するもので
ある。
に入射され、光ディスクＤのスキューを検出するもので
ある。
この実施例の場合は、すでにピックアンプ装置に配置さ
れている光源の一部を利用するようにしていルノで、光
学ブロック系全体を小形にするこ、とができるとともに
、レーザ光がそのま〜使用できるというメリットがある
。
れている光源の一部を利用するようにしていルノで、光
学ブロック系全体を小形にするこ、とができるとともに
、レーザ光がそのま〜使用できるというメリットがある
。
第５図は信号検出用のビームスポットｓと、スキュー検
出用のスポットＱを平行移動させる場合の位置関係を光
ディスクＤの上面からみた図である。この図で、ｍの部
分は信号が記録されていない光ディスクＤのミラ面を示
すことになる。
出用のスポットＱを平行移動させる場合の位置関係を光
ディスクＤの上面からみた図である。この図で、ｍの部
分は信号が記録されていない光ディスクＤのミラ面を示
すことになる。
ところで、スキュー検出用のスポットＱがこのミラ面ｍ
にか反ると、反射光がスキー検出用のスポットＱの半分
の面で強くなり、あたかも光デイスク面にラジアル方向
のスキューが発生したような疑似のスキュー電圧ＥＲが
発生し、スキューサーボが誤動作することが判明した。
にか反ると、反射光がスキー検出用のスポットＱの半分
の面で強くなり、あたかも光デイスク面にラジアル方向
のスキューが発生したような疑似のスキュー電圧ＥＲが
発生し、スキューサーボが誤動作することが判明した。
したがって、信号検出用のビームスポットｓが信号トラ
ンク上にある間は少な（とも前記スキュー検出用のスポ
ットＱはミラｍｍに照射されないようにすることが好ま
しい。
ンク上にある間は少な（とも前記スキュー検出用のスポ
ットＱはミラｍｍに照射されないようにすることが好ま
しい。
この発明の実施例では、か〜る点を解決するために、信
号検出用のビームスポットｓと、スキュー検出用のスポ
ットＱの移動軌跡ＳＬとＱＬ上のずれｌ（以下偏差とい
う）を特定の値にすることＫより、スキュー検出範囲が
広く、かつスキューサーボの誤動作がな（なるようにし
た。
号検出用のビームスポットｓと、スキュー検出用のスポ
ットＱの移動軌跡ＳＬとＱＬ上のずれｌ（以下偏差とい
う）を特定の値にすることＫより、スキュー検出範囲が
広く、かつスキューサーボの誤動作がな（なるようにし
た。
そのため、第５図で示すように前記両スポットＳ、Ｑの
偏差ｌは信号検出用のビームスポットＳが内周側にある
時は、図示したように２′より小さく、外周側に＆る時
はｌ“より長（なるように設定する。
偏差ｌは信号検出用のビームスポットＳが内周側にある
時は、図示したように２′より小さく、外周側に＆る時
はｌ“より長（なるように設定する。
すると、信号検出用のビームスボッ）Ｓか光ディスクＤ
ｔ７）（”号を読みとっている時は、スキュー検出用の
スポットＱもミラ面ｍにかＮることかなくなる。したが
って、信号検出用のビームスポットＳが、光ディスクＤ
の信号記録面から外れると同時にスキューサーボをオフ
にすること如よつ′〔、スキューサーボがミラ面ｍで誤
動作をすることを防止することができる。
ｔ７）（”号を読みとっている時は、スキュー検出用の
スポットＱもミラ面ｍにかＮることかなくなる。したが
って、信号検出用のビームスポットＳが、光ディスクＤ
の信号記録面から外れると同時にスキューサーボをオフ
にすること如よつ′〔、スキューサーボがミラ面ｍで誤
動作をすることを防止することができる。
このｌ′、及びｌ“の値は、光ディスクＤのリードトラ
ンクの内径をｒ、ｌエンドトランクの外径なｒＬ＋移動
軌跡ＳＬ、ＱＬの距離なＬとすると、ｌ′−１゜−Ｖ■
７で一２ｌ″”Ｑ ｎ璽アで計算できる。
ンクの内径をｒ、ｌエンドトランクの外径なｒＬ＋移動
軌跡ＳＬ、ＱＬの距離なＬとすると、ｌ′−１゜−Ｖ■
７で一２ｌ″”Ｑ ｎ璽アで計算できる。
したがって、前記両スポットの偏差ｌはｒｓ−Ｖ〃７隠
〉”’：２ｒ＋、Ｖ７：Ｆになるように選べはよい。
〉”’：２ｒ＋、Ｖ７：Ｆになるように選べはよい。
なお、スキュー検出用のスポットＱの大きさが無視でき
ない場合は、その直径をΦとして、ｒ６−１凶Ｔ丁−±
Φ〉ｌ〉’Ｌ ｒ ＋ ２Φとなるように選ぶことにな
る。
ない場合は、その直径をΦとして、ｒ６−１凶Ｔ丁−±
Φ〉ｌ〉’Ｌ ｒ ＋ ２Φとなるように選ぶことにな
る。
以上説明したように、この発明の光学式ディスクのピッ
クアップ装置は、信号検出用の光軸と平行にはｙ平行光
線とされた光学手段を設け、この光学手段から照射され
た平行光線の記録面からの戻り光束によって、光ディス
クの傾きを検出し、前記信号検出用の光軸を光ディスク
の傾きに応じ℃傾動制御するように構成しているので、
光ディスクの規格がラフな場合、又は光ディスクが経年
変化によってディスク面にスキューが発生している場合
にも再生信号の特性が乱れることなく読みとれるという
利点を有するものである。又、スキューの検出は平均測
光であり、記録情報又はトランクの影響をうげることが
なく、さらにフォーカスサーボ、トラッキングサーボの
逸脱した状態でもスキューサーボは正常な状態で光軸を
コントロールするという効果がある。したがって、フォ
ーカス、及びトラッキングサーボの回復特性も優れたも
のになる。
クアップ装置は、信号検出用の光軸と平行にはｙ平行光
線とされた光学手段を設け、この光学手段から照射され
た平行光線の記録面からの戻り光束によって、光ディス
クの傾きを検出し、前記信号検出用の光軸を光ディスク
の傾きに応じ℃傾動制御するように構成しているので、
光ディスクの規格がラフな場合、又は光ディスクが経年
変化によってディスク面にスキューが発生している場合
にも再生信号の特性が乱れることなく読みとれるという
利点を有するものである。又、スキューの検出は平均測
光であり、記録情報又はトランクの影響をうげることが
なく、さらにフォーカスサーボ、トラッキングサーボの
逸脱した状態でもスキューサーボは正常な状態で光軸を
コントロールするという効果がある。したがって、フォ
ーカス、及びトラッキングサーボの回復特性も優れたも
のになる。
第１図はこの発明のビックアンプの主要部を示す模式図
、第２図はこの発明のスキュー制御電圧を検出するため
の一実施例を示す回路図、第３図はこの発明のスキュー
サーボ機構の一実施例を示す分解斜視図、第４図はこの
発明の他の実施例を示す光学系７′ロツク図、第５図は
スキュー検出位置を示す説明図である。 図中、Ｄは光ディスク、ＰＤは光学デバイス、ＯＬは対
物レンズ、ＳＤはスキューテバイス、１０は発光源、１
１はレンズ系、１２はＰＢＳ、１３はＱＷＰ、１４は喪
光素子を示す。 第１図 第２図 第３図
、第２図はこの発明のスキュー制御電圧を検出するため
の一実施例を示す回路図、第３図はこの発明のスキュー
サーボ機構の一実施例を示す分解斜視図、第４図はこの
発明の他の実施例を示す光学系７′ロツク図、第５図は
スキュー検出位置を示す説明図である。 図中、Ｄは光ディスク、ＰＤは光学デバイス、ＯＬは対
物レンズ、ＳＤはスキューテバイス、１０は発光源、１
１はレンズ系、１２はＰＢＳ、１３はＱＷＰ、１４は喪
光素子を示す。 第１図 第２図 第３図
Claims (1)
- ディスク面に対して垂直な光軸に沿った光束を対物レン
ズで収束せしめてディスクの記録面に照射し、その反射
光を光学素子で受光して再生信号を得る光学式ディスク
のピックアップ装置において、前記光軸と平行で、かつ
ほぼ平行光線とされる光束を発生する光学手段と、前記
光学手段から照射された前記平行光線の記録面よりの戻
り光束を受光し、前記ディスクの傾きを検出する少な（
とも２分割されている第２の受光素子を設け、該第２の
受光素子で検出された検出値で前記光軸の傾きを制御す
ることを特徴とする光学式ディスクのピンクアンプ装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2621383A JPS59152530A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 光学式デイスクのピツクアツプ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2621383A JPS59152530A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 光学式デイスクのピツクアツプ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59152530A true JPS59152530A (ja) | 1984-08-31 |
Family
ID=12187145
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2621383A Pending JPS59152530A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 光学式デイスクのピツクアツプ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59152530A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61104435A (ja) * | 1984-10-25 | 1986-05-22 | Nec Corp | 光ヘツド |
| JPS61104437A (ja) * | 1984-10-25 | 1986-05-22 | Nec Corp | 光ヘツド |
| JPS61198436A (ja) * | 1985-02-28 | 1986-09-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 対物レンズ位置検出装置 |
| JPS632220U (ja) * | 1986-06-19 | 1988-01-08 | ||
| US4812522A (en) * | 1987-12-04 | 1989-03-14 | Shell Oil Company | Molecularly miscible blends of polyketone with polyvinyl phenol |
| JPH02247829A (ja) * | 1989-03-20 | 1990-10-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスクの傾き検出装置 |
| JPH0369026A (ja) * | 1989-08-05 | 1991-03-25 | Mitsubishi Electric Corp | 記録媒体傾斜検出装置及びそれを用いた光ヘッド位置調整装置 |
| NL9201295A (nl) * | 1991-07-23 | 1993-02-16 | Mitsubishi Electric Corp | Optische lees- en schrijfinrichting. |
| EP0709834A3 (en) * | 1994-10-31 | 1997-04-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Tilt sensor, optical plate, and tilt compensation method for performing stable tilt compensation control, and apparatus for using the same |
-
1983
- 1983-02-21 JP JP2621383A patent/JPS59152530A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61104435A (ja) * | 1984-10-25 | 1986-05-22 | Nec Corp | 光ヘツド |
| JPS61104437A (ja) * | 1984-10-25 | 1986-05-22 | Nec Corp | 光ヘツド |
| JPS61198436A (ja) * | 1985-02-28 | 1986-09-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 対物レンズ位置検出装置 |
| JPS632220U (ja) * | 1986-06-19 | 1988-01-08 | ||
| US4812522A (en) * | 1987-12-04 | 1989-03-14 | Shell Oil Company | Molecularly miscible blends of polyketone with polyvinyl phenol |
| JPH02247829A (ja) * | 1989-03-20 | 1990-10-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスクの傾き検出装置 |
| JPH0369026A (ja) * | 1989-08-05 | 1991-03-25 | Mitsubishi Electric Corp | 記録媒体傾斜検出装置及びそれを用いた光ヘッド位置調整装置 |
| NL9201295A (nl) * | 1991-07-23 | 1993-02-16 | Mitsubishi Electric Corp | Optische lees- en schrijfinrichting. |
| EP0709834A3 (en) * | 1994-10-31 | 1997-04-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Tilt sensor, optical plate, and tilt compensation method for performing stable tilt compensation control, and apparatus for using the same |
| US5657303A (en) * | 1994-10-31 | 1997-08-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Tilt sensor, optical disk, and tilt compensating method for performing a stable tilt compensating control, and apparatus utilizing the same |
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