JPS59146008A - 合焦検出装置 - Google Patents
合焦検出装置Info
- Publication number
- JPS59146008A JPS59146008A JP58019591A JP1959183A JPS59146008A JP S59146008 A JPS59146008 A JP S59146008A JP 58019591 A JP58019591 A JP 58019591A JP 1959183 A JP1959183 A JP 1959183A JP S59146008 A JPS59146008 A JP S59146008A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- center
- receiving element
- array
- luminous flux
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B3/00—Focusing arrangements of general interest for cameras, projectors or printers
- G03B3/10—Power-operated focusing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Focusing (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は、カメラ、顎微ぜ5等の光学装ji?i に用
いられる横ずれ像検出方式を用いた合焦検1(冒−」6
に関するものである。 第1図は従来の横ずね像検出方式を用いた合焦検110
8置の基本的構成を示す線図である。この従来例Oこお
いては、結像レンズ1σ〕射出瞳を分割す2)複数の微
小な射出tf+?分割ン分割系0学系 1. <、 k
りn )カC]l、t Z)ii’+I ’l’ i
l、 (’i! @ ’IE手段2ど、nil 記射出
11i 分Wjl″7(′、学糸2)、Gこより分’(
11された前3(1、結像レンズlσ)各射出瞳からの
光中の少なくとも−r71<を選択的C・て受光できる
ようGこ前記の1liil、分割光学系2にのそれぞれ
に対し、対を7(ずように配置されているn対の受光素
子3に−A、 、 3に−B (1<l(<−11)か
ら成る・ヅ光米子列3とから構成されている。また受光
素子列3は、結像レンズ1の予定焦平面又はその1ri
iと共役な若しくはそれらの面の近傍ILl配置さねで
いる。このように構成することに3しり 、V:光重(
子列3の奇数第1の萼・光り(子肛31−A、3□−A
l −−−13n−Aからなる第1の受光素子列と、
偶数番目の受光素子17131−B + 32−B +
−−−+ 3r+−Bから4rる第2の受光素子列に
はへ11ハ1−1結像レンズ1の非合焦状態!・こ応じ
て相斤に逆方向(こず11. z、 gl・(出(1へ
分割像が各列に投影されることになるので、これらの描
ずオ)像を前記第1の受y(:素子列と第2の受光4(
子列とによって光11L変押し、?■らオ」るI(:1
v1.変換出力G・二基き結像l・ンズ]の合用状卯力
’ iff (+ll+ l t+、 7)。 上記fflft戊例6・−おいてけイ゛〃イずわ像発生
手段である射出瞳分割ゲC:学系どしてストライ−・”
マスタべ用い、このストライブマスクの各J(: ;%
; if、’Ar11((こ欠1して・1C・ンU零「
・列3σ)名Xl (7) −”:’> yr、 ;4
7子3j−A 、 3j−B ’G:ソi”Lぞね対応
するイル1置G・二配列し、こねにより隣接関係Gこあ
る奇数番目の心・尤\七子と(,11数番1]の受光素
子とが結N+レシズlの1/、!、 lxろ領語を通過
する射出1111分割ン’(’; 中ヲ各lJ5’l
L ’=jy ン1c7−4− ルjうM f(¥ I
t’d:さねテいる。 j″Jて、各・ツソC,木□−/’ 71’ G: r
f’i戊する受光素子3・−Aと3−BC,−は結イや
レンズ1g)llQ’+4・相=r t、 <分割しコ たゲ(、中をパ、ン足ずろことが望ましい。 1−7かl−、、η〜2F・4に示′4゛よ−)Gこ横
ずね像発生手段2 Tあるストライブマスクと・妥ゲr
:1子列3どを直線状G、−配列4るtiI’f成−(
゛は、y(:IIべIt近傍に醒1i′、+さゎている
へf・ソl’;−’8子四3−八と37−Bには相宿し
いソ(′、東が入射されるが、’/f: ill+ 、
j:りずれたイ(1ir□Hc:=配j+”iさノ1で
いる愛ソj′、型子4j3.−Aと;3nl−Bに67
1、+ ;h + ワの素工に6入射イ゛るソC,市が
大lI府Gこ相3Aシでしまう。 このたM)合焦11、′jてあ1〕でも第1列と第2列
q)寝ンc、累イ間6、−おいてソc1屯出勾が不平P
軒Gこη〔る不↓L合が生し、正し7い合焦検出が困♂
!(tGこ4〔ってしまう。 こσ)欠点を解消−4る方法として、第3図に示Jよう
CJl結像レンズ1とストライブマスクよりなる横ずf
11徴生手段2との11!1に補i)二し/ンズ4、を
介挿し、古畳*、す了4.−: %t−,−なンC4東
に〒入射さするノj法が提案されている。し′fJNシ
、この方iムでは交換レンズを装着した場合にj13:
I:’3な補市バ17−が変化し2でしまう欠点がある
ばかりでなく 、i’ilζ品点数ノぐび1’1M整箇
所も増加し、史には実!j、+、lスベ・−スが増加4
る欠点も牛する。 本発明の目的は、トー述のjtoきili 、lニレシ
ス°を用いることなく、簡?)1なl′lII?成iJ
−より各2−1の愛ゲr、ノそ子GJ均一なyc、 r
+jを入射さ」→るこト:’lr ?’ N1.1:
’J IE 471?7:?金片検出を一行なうことが
でざる含イI・検出8す1?°7肴・4!−イ11vる
ことにある1、 本分111目;1、横ず第1像発生手段と・ツ光17f
−列とを結イ(ルシズのt 1tQI−4中心と1”
Z)l’(L’、1−1佳−配置i”i’−14)こと
4Y J:り各外Iのヘン光宋二fc、二均−なソ(:
1.jを入44させる(ことを1.5徴としている。 以−ト同曲をか照し5て不発、明を1ic細に説明J−
る。 まず、横ずれ像が発生ずる原理についで、1(δ明する
。第−i= l¥1は、光軸上の点ン(: iG41o
oより4(シム−光線が結像レンズ11の開IIIを
it?!〆1′10.てヴ・光シK T13] −A
、1.33”” Hに受光されるirt跡を示している
。 光線がHi+i渦4ろl−ンズ開口」−の位)1・昌こ
より受光素子に対重−る入射角が相違するため、受光素
子13j−4cこけ結像レンズ11の上半分であるA
fi+’i域を)1a渦する光束が主に受光され、孝子
]−3j−Bには十゛半分’CAsるB領Mをiil過
するンに束が主に受光さ′Aiル(、今’y ンスKM
D +c、ニー16 イーC光l!l+ 211Q7
1J受光素子の配列方向と同一方向をx 1lO11と
し、このx +i+ −1の点をil’lフイ:jS
t、、て苅を形成している受光4(子18j−Aと13
j−Bにや・光される全慴・光量に対する各孝子σ、
、−3,y(:FIlσ)割合を受光率とする。第5図
はレンズ開D −IT、、 i・二お目る上記X軸上の
点のソ(: +161+中心からのW↑+皿Xと各入子
の受光率とのW)係を示してい7〕。 こ(−〇横1!η1(は結像レンズ11−の光1(η1
1中心Oがらの距離、糸iX’hi+は受ソロ率?示し
、実線GA受’/C累子13j−Aの受光率を、破線は
受光素子13j”’ Bの・受ソ
いられる横ずれ像検出方式を用いた合焦検1(冒−」6
に関するものである。 第1図は従来の横ずね像検出方式を用いた合焦検110
8置の基本的構成を示す線図である。この従来例Oこお
いては、結像レンズ1σ〕射出瞳を分割す2)複数の微
小な射出tf+?分割ン分割系0学系 1. <、 k
りn )カC]l、t Z)ii’+I ’l’ i
l、 (’i! @ ’IE手段2ど、nil 記射出
11i 分Wjl″7(′、学糸2)、Gこより分’(
11された前3(1、結像レンズlσ)各射出瞳からの
光中の少なくとも−r71<を選択的C・て受光できる
ようGこ前記の1liil、分割光学系2にのそれぞれ
に対し、対を7(ずように配置されているn対の受光素
子3に−A、 、 3に−B (1<l(<−11)か
ら成る・ヅ光米子列3とから構成されている。また受光
素子列3は、結像レンズ1の予定焦平面又はその1ri
iと共役な若しくはそれらの面の近傍ILl配置さねで
いる。このように構成することに3しり 、V:光重(
子列3の奇数第1の萼・光り(子肛31−A、3□−A
l −−−13n−Aからなる第1の受光素子列と、
偶数番目の受光素子17131−B + 32−B +
−−−+ 3r+−Bから4rる第2の受光素子列に
はへ11ハ1−1結像レンズ1の非合焦状態!・こ応じ
て相斤に逆方向(こず11. z、 gl・(出(1へ
分割像が各列に投影されることになるので、これらの描
ずオ)像を前記第1の受y(:素子列と第2の受光4(
子列とによって光11L変押し、?■らオ」るI(:1
v1.変換出力G・二基き結像l・ンズ]の合用状卯力
’ iff (+ll+ l t+、 7)。 上記fflft戊例6・−おいてけイ゛〃イずわ像発生
手段である射出瞳分割ゲC:学系どしてストライ−・”
マスタべ用い、このストライブマスクの各J(: ;%
; if、’Ar11((こ欠1して・1C・ンU零「
・列3σ)名Xl (7) −”:’> yr、 ;4
7子3j−A 、 3j−B ’G:ソi”Lぞね対応
するイル1置G・二配列し、こねにより隣接関係Gこあ
る奇数番目の心・尤\七子と(,11数番1]の受光素
子とが結N+レシズlの1/、!、 lxろ領語を通過
する射出1111分割ン’(’; 中ヲ各lJ5’l
L ’=jy ン1c7−4− ルjうM f(¥ I
t’d:さねテいる。 j″Jて、各・ツソC,木□−/’ 71’ G: r
f’i戊する受光素子3・−Aと3−BC,−は結イや
レンズ1g)llQ’+4・相=r t、 <分割しコ たゲ(、中をパ、ン足ずろことが望ましい。 1−7かl−、、η〜2F・4に示′4゛よ−)Gこ横
ずね像発生手段2 Tあるストライブマスクと・妥ゲr
:1子列3どを直線状G、−配列4るtiI’f成−(
゛は、y(:IIべIt近傍に醒1i′、+さゎている
へf・ソl’;−’8子四3−八と37−Bには相宿し
いソ(′、東が入射されるが、’/f: ill+ 、
j:りずれたイ(1ir□Hc:=配j+”iさノ1で
いる愛ソj′、型子4j3.−Aと;3nl−Bに67
1、+ ;h + ワの素工に6入射イ゛るソC,市が
大lI府Gこ相3Aシでしまう。 このたM)合焦11、′jてあ1〕でも第1列と第2列
q)寝ンc、累イ間6、−おいてソc1屯出勾が不平P
軒Gこη〔る不↓L合が生し、正し7い合焦検出が困♂
!(tGこ4〔ってしまう。 こσ)欠点を解消−4る方法として、第3図に示Jよう
CJl結像レンズ1とストライブマスクよりなる横ずf
11徴生手段2との11!1に補i)二し/ンズ4、を
介挿し、古畳*、す了4.−: %t−,−なンC4東
に〒入射さするノj法が提案されている。し′fJNシ
、この方iムでは交換レンズを装着した場合にj13:
I:’3な補市バ17−が変化し2でしまう欠点がある
ばかりでなく 、i’ilζ品点数ノぐび1’1M整箇
所も増加し、史には実!j、+、lスベ・−スが増加4
る欠点も牛する。 本発明の目的は、トー述のjtoきili 、lニレシ
ス°を用いることなく、簡?)1なl′lII?成iJ
−より各2−1の愛ゲr、ノそ子GJ均一なyc、 r
+jを入射さ」→るこト:’lr ?’ N1.1:
’J IE 471?7:?金片検出を一行なうことが
でざる含イI・検出8す1?°7肴・4!−イ11vる
ことにある1、 本分111目;1、横ず第1像発生手段と・ツ光17f
−列とを結イ(ルシズのt 1tQI−4中心と1”
Z)l’(L’、1−1佳−配置i”i’−14)こと
4Y J:り各外Iのヘン光宋二fc、二均−なソ(:
1.jを入44させる(ことを1.5徴としている。 以−ト同曲をか照し5て不発、明を1ic細に説明J−
る。 まず、横ずれ像が発生ずる原理についで、1(δ明する
。第−i= l¥1は、光軸上の点ン(: iG41o
oより4(シム−光線が結像レンズ11の開IIIを
it?!〆1′10.てヴ・光シK T13] −A
、1.33”” Hに受光されるirt跡を示している
。 光線がHi+i渦4ろl−ンズ開口」−の位)1・昌こ
より受光素子に対重−る入射角が相違するため、受光素
子13j−4cこけ結像レンズ11の上半分であるA
fi+’i域を)1a渦する光束が主に受光され、孝子
]−3j−Bには十゛半分’CAsるB領Mをiil過
するンに束が主に受光さ′Aiル(、今’y ンスKM
D +c、ニー16 イーC光l!l+ 211Q7
1J受光素子の配列方向と同一方向をx 1lO11と
し、このx +i+ −1の点をil’lフイ:jS
t、、て苅を形成している受光4(子18j−Aと13
j−Bにや・光される全慴・光量に対する各孝子σ、
、−3,y(:FIlσ)割合を受光率とする。第5図
はレンズ開D −IT、、 i・二お目る上記X軸上の
点のソ(: +161+中心からのW↑+皿Xと各入子
の受光率とのW)係を示してい7〕。 こ(−〇横1!η1(は結像レンズ11−の光1(η1
1中心Oがらの距離、糸iX’hi+は受ソロ率?示し
、実線GA受’/C累子13j−Aの受光率を、破線は
受光素子13j”’ Bの・受ソ
【7率を姑しでいる。
受光素子13 j”−Aの受yC:率はレンズ開[i上
の端filXであるX=lで最大となり、1斬次11線
的に減少し開[−1の他!Mij X = −1で最小
になる。−・方、受光素子13] ”−Bの受′/6率
はX−=−1て最大となり、直P’p mJ C(Z
hQ少17、X = l ’T’ Q’r%小トする。 そして、受y〔′7米子3j−Aと3j −Bの心?・
光字Cat対称の関係にある。ここで、−杵な入θ・l
yにを与λ1:場合Gこ各受光素子が開[−11−の
位j(j X = −1が「)X−1までの間で受ソc
する光量を全ヤ)にhlとし、x=を及ヒx = −t
、 ipらft’! n シT f 9 )’/; (
、X)j、4 t、コなるX屯11上σ〕2つのイI装
置を重心q−A、クーBとする。そして、これらの重心
をiin過する屯心光糾、(は各受光素子で受光さ才す
る光重の特11/1を表わしている。 第61゛4 ?J光軸上の点光源1o(1がら発した、
光中のうち受光会ダ子1.3j−,Aと1.3j−8に
より受光される重心光線102・−A 、 1(12−
Bの軌跡を表わしコJ でおり、i’lυ103 、1 (14,、105i;
i 1iil Lj’ ン(l’/ it”i: %合
焦位置1り、後ビン位置をそれぞ第1示している。第7
図は第〔5図に示ずnilビン位ii/l、’ 1.
C13、合焦位置104、及び後ビン位fi”(105
に寝・光素子列を配置した場合にA列及びB列の受光素
子tjYにょリイuら才する像バ9−ン]−03−A
、103−B t 104−A +104、−B 、1
05−A 、105−1”lを示したものである。この
ように非合焦位防′]o8及び105においてはA列及
びB列にそれぞれ横ずれした被写体像が形成され、合焦
位1i”7104においてはA列及び8例の被写体像は
一致する。このようGこやに′rメ体像の描ずれ64八
列とB列の重心y1−柘1101j〜Aと101−Bど
が結像し〉ズ11の予定焦平面上て一致しないときに生
ずる。 [7かし々′から前述した如く、従来の合焦検出1置G
こt3いて(4光4*よりずオ]たイ\γ1トtにある
受)’I’+ fR:f−において対を形成するヴーゲ
C素子に均一&、ニア1.i7が入射されt「いた入)
)正補′な合ヂ、ハ検出ケし?!jないf:1合を生じ
て[2,まっ。 第8図Gt本発明を−・眼レフカメラC4l、zl”’
3川し人−f′−11合の・例を示t j:’j戊図で
ある。撮影レンズ11を1IIj堝したソに Ily
T:1クイツクリターンミラー ]7のほぼ中央M、
Hト;成されているハーフミラ−川8により二分1リリ
され、ハーフミラ−18で反射された光中は子方に配J
Y、lされているファインダー系にうNが才]ると共c
コ、ハーフミラ−18を透過した光はクイックリターン
ミラー 17の後方に配置した全反射ミラ〜 19を介
してゼ:)):ビレンス11の九ill+を中心とし2
て円内上01−配設した横ずれ像発生手段であるストラ
イブマスク12及び−5光求千列13に導1))れる。 Ci7−’l J:、 ’) ニ構ずれ発生手段である
ストライプマスク12及び受ゲI′:赤子列13を光l
l1111を中心とする円周−ヒに配置することGこよ
り>’Cけ11力1「)各ヴ・光、4f:子への距離が
等し、くなり各受ソに $ 、lf−b、=は被写体が
ら発した光(PがJ!’=+ −c、−人射し、前述し
た不具合点が解消され、iE @、 it合焦検出が可
能に乙「る。尚、第8図Gこむいて司り20は撮影フィ
ルムを示しでいる。 第11図に本発明に係るストライプマスh1−2 上受
光素子列18g’ i!Y’ a(なfi”f ht、
を承す3、第!1 図a lt本例の構成を示す平面図
であり、第1J図すは第9図aのI−i線で切った断面
図である。、受ソr零子列]3は2j個σ)侃r yr
、ぶ丁・がそれぞれ一定の間IQ、秀で円環状に塙板1
.3 a上6JZ配列さJlでいる。ぞして配列方向G
こ対して奇数番目の受ソ(、素子pop l 3− A
ど偶数番目の受光麻ヂ・群]3−Bを(、”It成する
と共に、ぞねぞ才■19!J p9するぶ子をもつで・
ツ・ソr、侶子対13−A 、 13−B、 −−−1
3−A、 )3□1−BHi’々成する。 i n ストライブマスク−、2[:tガラス、高分子7 イ)
)/ l\等のyQ [ili :IにイIi 12
a )、 Gこ円環状にNi jiff Fl−yl
−Cn 個0)ストライブマスク12〜12nを蒸譜、
印刷Mに】 より形1芭し、そ才1ぞ11の7スク17Hにζ” p
t>け玉しンス。 11を: int渦した光1fを1秀が′6する円1?
(状の閏に−112bを月ソ成1する。干して各マスク
は対応するへF−:l(: 塁子欠1の一部を(HC<
ン’+’;−4るよう円環状Gこ配列する。 ン5(cごトご已円甲゛1幻ストラーイフ′マスク12
1!lひ・y yC。 JE千何列13用いた場合θ)i、lliず′i1、像
7)発理原理Cごついて11(ス1llI4′る。第1
0図に示すようG、−田作1状0.7:lNt’、 列
F、、 t”t T: イロ”% ’)(: 、仕−1
:”列1.20+ 円内す嘗1(、SICrT、l−A
、1:う1−Fl 、 13j−A 、 13j−1
t 、 13に−A 。 1 :(k−B 、 1− :31−A及D 1.37
− B 8C%r −4’ Z)レンス開[−11−の
小心位1ど1101・−A 、 101−B 、 1
o 1J−A。 −1 10J−B 、1(11に−A 、101に−B 、1
01.−A 。 101□−B及び各受yCニジ((f・の愛ソに率の+
11略を21゛暑(1図b−eに示す。第10図b〜e
cこおけ/:)濃1すはA列側箇′やI6オ(子の受光
率を示し、戸jU、が高いことIt、 A列の素子の受
光率が高くB列の下r・の・平光率が低いことを表わし
ている。対の関係もこJ)るA列とB列σ)、71.’
、−:lr、X+で子(y)ffi心付置は常に光軸に
対して対称なイI’装置にあり、同列のぐ・Y(: :
M手間においては配列位若に?:r:い対応する重心位
置も円(yd方向Gご移動している。従って、各・ツ・
>r、 :J、C子I:t、 iII r、is 、、
l・の位置G、二対応し′C接糾一方向に16′1丁ね
した像をj受尾し、全体として円内方向(にずれたr蒙
≧1・検出(ることC1二なる。即ち、A列及こrB列
σ)末子G、−よりイ11「)ね、7.、イ9Iバ々−
ンは非合1イ”IJSQR+こLi;、t−C+++旨
11方向又i;t J’j時fil’−h向+= 横ず
わを/4−ニー4’ることt(L 1:(る。第111
:IBV fil’i−j”才+ rT t+=、 T
、 r<、>とパ8・ン(、4r了、、L−5−直線状
6.Th配列しブ1:とぎtr+伸バ々−ンと円1.’
il [に配列したときの各イρ1バクーンを示す。従
来のよう6・(l′l終イ状に−配列した」1〜合には
合イf・時c5−おいてctA列とB列σ)イφバタ−
シが一゛牧し、j’lilヒ゛ンノi rFイ号ヒ′ン
11.’rLJI +、11白線r白4.’、−。 ノ)向に描−イ゛才lを牛A′る。一方、ソ(、ill
+を中心G、−シて円内IC5二配5111.た場合(
、−は合(flll、1rTJ A列と13列内像パタ
ーンが一致し、+’11ビン4及び倍ビンの1情には’
lf: 4;I+を中心(、−ニして時d1方向又6,
1反tL’(ri1方向’ l&+ ’1”れを発生す
る。尚、r・“1ず才1像発生手段及びゃ−J(:素子
は必1′しも全円1fil←−目り配列する必苛けなく
、lJ) フ、Cくとも−・対の・υ・光米子とイシ′
什4′1]像発11゛手段とを円周−にに配列ずれば同
様(こイ苗ず才1像を発生しイJ 。 合焦検出がII″i能で3−>る。 第12[ツ!a及びb(・4本発明の他の実絶倒を示す
ものであり、描ずれ像発生手段としてへ◇小角臨界ブリ
ズトアレイ14を用い 6j(小角臨界ブリズムアI−
イ14・と・ヅ光二(〈子列]3とを光軸を中心にして
円1it、、I J−に配列I7たものである。微小角
臨界プリズノ・アレイを用いて結像レンズの■?・1を
分割し、横−4’ 11像を発生させ合焦状卯を評価す
るjll、合であっても1’“1″1ず才〕像発生手段
と受光素子列を直線状Gこ配列するど’jC;軸よりず
れた位iどに配置″さねている受>”(: ff1c
F N G−二け1)(1述しブとように隣接し対をな
しているヴ・光〒に子ζこ入射する光コー東が不均一も
・二4cり望ましく乙「い。この欠点を解消するだめの
微小角):〜冗ブリズ1h−7”I、 −f’ 14・
と寝′光素子列13とを光中(iを中心GJ−1,テ円
1i’dJ= c、=配列し、客受3’e 累−r−M
J’=J −4’−光中を人射さぜるようGこした右
のCある。尚、第12図(こおいてはプリズムアレイ1
4.とや・)に=ir ’p列13どを全円周のしiに
百1)で配列したが、全円1−1に亘り配列したものと
同一の(メ;“、能力?びグ+ IIF: 1: 1■
(tことはいうまでもない。 第13 Ffi a及U b Vatイi’n l’ね
像発生手↓−(シとl、 7 フライレンズアレイ1!
′iを使JI−I L、たにl’j、合σ)実艙例を・
示している。フライI・ンズア1ノーfを・川し)るす
11.合Cにも直線状(4−配列すると対を3”i 1
3t、する受光ス(子tJ−入射する光束が不均一・c
= i:cり正($ fc合焦検出がYj]Cわ才1に
<<ムる。よって、フライ1/ンズ共レ・イ]5と受光
翠子列13とを)′1)軸を中・い、ニジて円内−トG
こ配列することにより被写体か「)の光Mfを各・W・
光y 子4J、均−cコ入射1−ルよ−) c=しk
+: (1)−C庚、z+。 尚、フライレンズアレイ15を用いろlI、% Q I
Jlj、 7ライレンズアレイ15を結像し・ンズ()
)予シ+を用事ilI’i又はこの近傍むこ配置Ff’
、 L、受1)’?; ”4E r←1フライL−シ・
ズ了しイ15の予r、+−を用事面又(1こT7)jl
r f:師こ一配置ン′置ツなければなら1Cい。第1
−1.図とキ、15t’4Cま微小面1界角ブリズJ、
−7”レイ14・及(JSフンイレンズアレイI5を各
々yC;IIIIIる已・中心にし1円[1[1・(、
ニー配列tツたjlj。 合に被%i体からの光わ4がτ「n過才/)L−ンズ開
[1[−の位置と一久1の受光素子13j−A、 、
1.8j−Bの尚ソf;率とθ) I’、! 係を示し
ている。プリズム、フライ1/ンズ共(・−八−ダ1」
の−!’、 ’J−1,;(] −A ’こけほぼjI
′it廿モレニ、・ス”[1+’J r−1、−、にの
例λば十半分をil渦するソロ束σ)みフッ(受)cさ
′11、B列σ)孝子13・−13には下半分σ)領域
を171−i過1−るコ JC:東のみが受光されている。こυ−)点ストライフ
°マスク2用イ、l’、 f4% 合4C什1べ1If
i’+分シ:11がより汀’、 1iift T、’
;E+4゜ことを表わしている。り貝、−プリズム−r
レイ及Cyフライレンズアレ・イを用いる場合共に’−
N+!、 列i(11tt49ニセ、Iワ”) −4’
7f ? 形成t ルA 列及(J B 列(7)
”:” ’Ic、 ”6 ’F ’ tH’、Ij”
t/い/f′;束が條・光されでいる。 第16図は配列とB列の受光孝子群13 j−A +]
3・−B5hいGこ接近する一?!fcる円周上Gこ配
列しコ た−F絶倒を示すものである。各受光孝子σ) ’gL
f質+’+j+な受光面1t1を同一に4゛れば配列及
びB列σ)受光]ダ子0こ相等しい10束を入射さ−け
ることができ、ま−、ニスドライブマスク12は対応す
る受光素子をソ】ノ(−する、Lうに構成することによ
り横ずれイ(仝を正^またG、I発生させることができ
る6、 次Gこ本発明にかかる合焦検出判′ir!方法G・−Z
)I、\てWR7明する、たと文は、受s’r、素子列
13−Aの受光孝子群Aの出力をAn、受光シ(子列1
:3− Bσ〕′受ゲ(、素二r・群Bの出力をBn
とし、受ソロ ”’F=千列(〕)(ヤσ)4fi’i
J’ Rを表わす訂価門数Fとして、たとえ(J゛、
F−Σ(lAn+1−Bn−1l )−ClA11−B
n+1. ”を用いる。この場合において合焦位ii(
’iて゛(ま横”す′才]。 を生じないので零の値とffす、合焦位置か0外i]る
と横ずれを生じ、第17図(こ示−4−、J:うG、1
非合焦の方向に応じて正負の符−叶が反転する曲線h’
1人4 「)ねる。従って上記の肛価門数FをlIj
f tK bて合f!1 ’l’1J7ifをイイなえ
ば、極めて広い結像光、学系σ)渭< ltH範囲ζこ
わたって、合焦状態を検1(臂(−イ)ことがiif
(f’:とl、rす、しかも、昌い検出精fQ’ 9も
って合焦状態を検出することかできる。 以上説明したように本発明Cごよ才1ば、横ず才]像発
生手段及び受光素子を光軸を−・中心とする円周、J−
:むこ配列しているから被写体からのソC1中を各受光
素子に均一に入射させることが川−能になり、合焦検出
の精度を一層昌めK)ことができる。また、(j’J写
体十Gこ:1ントラストの強い境界イ゛;1がをイロる
場合又は?>写体が光学的1771期性をイ11−2て
いる場合G、m tζいて6.t、労y(−に子が直線
状0・−配列さハ、ている受光素子σ)配列方向き境界
拓1の方向とか一致ずろことが多く、コントラストの強
い1イχ界ρ;I及び被写体の周110ヴ(様を検出で
きない場合を生ずるが、本発明のように受)+6素子を
円周+6こ配列すわけコントラストの強い境界斬!及び
被写体のf’s(11JI枠様をともGに検出てき、合
焦検出の’l’+’i度を−・層高めることがてき′る
。4”だ、受ソC:夫千を円環状に配列している1J)
「)、受光1モ子の配列がNi< 1!eし、10線状
に配列したt(1・^成のよ)Gこf111部の受光孝
子が有効に0作刺しtrくなるようなことにはならず、
全ての受光素f・を有効(GJ−利用することができる
。一般c= %、=;写体を広い1lil″i囲に1(
り検出するG、二は受光素子列が長いことが望まし2い
。よって−21r数の受光素子を用いて検出するt4%
合には本発明のようGこ素子を円1;′J状Gこ配列才
る方が直線状Gこ配列する場合に比べ広い中i]、囲に
ぼり検出することができる。更にストライブマスクが)
[ニ成さ71.7いる刃板と受光素子が配列されている
11シ板との::Pt III′ig 1.Il率が相
異し−r イ’り ト”;+ #’、’j 7j、1)
度変化によりストライブマスクの配列ピッチと受光公子
θ)配列ビッグとがずれてしN・い合焦伸出σ〕精度が
低下してしまうが、本発明0)ようにストラ、イブマス
クと受光率に子とを円環状iJ1配置列−ti’tば基
板は中心部より放射状Gこ伸@1:するたλりピッチの
−411゜を生ぜず、温I9変化Gこ弾い合焦検出装置
を47.(供することができる。 4[て曲のF/li屯な説明 第1図61従来の描ずわ検出方式に、rろ合弘検出装V
tの基本構成図、 第2図G;を受)l(、素子ノグびストライブマスクを
的わ11状に配列した場合の受光yC: <LLのi!
iI[、跡を示−4糾j図、N’、 3 [’lは補正
レンズを用いた揚台の傳・y51: !’:を示ず線1
゛4、 第4図ζ・41h心光線の軌跡を示すe’J t)6・
第51¥l i・;を受光光束が通1lll′hするl
/レンズ開1”T十〇)イ\゛lWeと受光率との関係
を示す線図、 第6図は重心yC,1ibpの軌跡荀示ず線(・4、第
7図G:を各焦点状態に:I−5はる像パターンを示4
線図、 第8図は本発明を−IIN l〜フカメラC,ニー適1
11シスー場合の構成図、 第9[¥laけ本発明に係るストライブマスクと受光素
子列の構成図、第9図すは第9図aのI−T断面図、 第10 i¥l a〜eけ各位置の受光素子に苅する重
心位li″I及び受う′6率の概略を示す線図、第11
図aけ横゛4′れ像発生手段及び受光素子列を直線状G
3−配置したときの各焦点状態における像パターンを表
わす線IA1第11Sol bは円周上に配列したとぎ
の各焦点状態6.mお(」る像パターンを表わず線図、 第12図aは横ずれ像発生手段と1.て+’=$小1:
タ界角プリズムアレイを用いたときσ)構成を示す平面
図、第12図b Tit第1第12力a−1断面図、第
18図aは横ずれ像発生手段としてフライレンズアレイ
を用いたときの構成を示ず平(61図、第13図すは第
131’l aのI−1断面図、第14図はi吸小臨界
角プリズムアレイを用いたときの対を4ぐず受)+6素
子の受光率と光線がIl:i過するレンズ開[1上σ)
位1;2Iとの関係を示す線図、第]sl¥Il;tフ
ライレンズアレイを用いたときの対をなす受光素子の受
光率とy(:線が111i渦オるt・ンズ開[」上の位
i2+との関係を示す配′!図、第16園はA列とB列
の受y(I孝子!(Yを一1I′I(なる円周トに配置
した実絶倒の構成図、 第1,7図は焦点状態における検出信じ・σ)態様2示
す線図である。 1、]1・・・結像レンズ 2・・・横4′第1像発
生手段8.18・・・受光素子列 4・・・補正レン
ズ12・・・ストライブマスク 14、・・・微小臨W角ブリズノ・アレイ]5・・・フ
ラ・fレンズアレイ 17・・・クイックリターンミラー ■8・・・ハーフミラ−]9・・・全反射ミラー20・
・・フィルム ]00・・・焦光41:還10
1− A・・・A列の素子に対する小心イ+’装置10
1、− B・・・B列の素子Gこ対才る重心イ\’7.
ji”jl−(+ 2− A・・・A列の孝子の重心
光線の11tIl跡102−B・・・B列の孝子の重心
光線σ)軌hrtr第1図 第2図 第8図 第4N 第5閣 第7図 第8問 第10図 (d ) (e ) 第11図 a 第12図 b fラーリ k 第13図 a b 第14図 一ノ Ol −,42’− 第15図 第16図 第17図 手続補正−升 昭fll 541年 5 月 ・1・111、事件の表
示 昭和58年 特 jj’(: l1ili第t (1
5Gl + ;’2、発明の名称 自焦検出装櫛 3、 i+li止をする者 il(件、lの門イt 特r r i(I 1頭人(0
37)副リンバス光学上業株式会社σ)け?t r(r
な説明J )(+F(1)、= ヨ(J ]゛41r1
i7、補正ノ内容(’l1lt’l:c)iln +υ
(1)明f’lll I’シバ合2 に”j >’I’
S 9 ’(JのF奇蜀第、11」を[−奇数番・1−
I」にril’ 、il(’Jる。 (2)同第7(゛1第5行〜6行の(−1o 1.1−
Aと101j−BJをl−102−Aど1.02j−B
jにイI11:する。 、J (3)同・第91.j第5イJσ)1円環状」を削除し
7、同均第9rJ:の「発1411原理」を「発生原理
]にJl’ 、+E ’−・1 同白第10竹σ)[第1 (191−1を1第1O図a
]に、(丁[ピする。 (4)同第11頁第1行〜3?−J″の[少なくとも一
一一一一・・l′i1能である。1をL全円周の一部O
こ配列し7てもかまわない、3」に4i正する3、 (5)同第130第11?−f〜18行を削除する1、
(6)同第1ag、lI口?■の1−Ajをr Aj−
Jに1イ]’ jE l、、同白第2 ?Jのf−B、
lをf−BJlに#l’ iI−’几、同し′−↓第4
行の式を次のとおり6.二訂正する。 [F−9Σ(lAj+x−13j−x l −IAj−
Bj+、l ) JJ=1 (ア)1司i丁S 14 B、j *\18イーJ−第
15]j第811の[8トか、被写体十に一一一一一−
・層高めることかで% りy。1を次のとおりに、訂正
する。 [まだ被写体十にコントラストの強い境’/l’ #l
Jj!が存在する場合に、受y/、素子’r iE<、
k・−j状に配列]すると、受九素子の配列方向が、
コンl−ラスト0)91iい境界r1(に対して内角を
なずjJ)合には、↑t’j l朋よく合馬検出を行な
う事ができるが、配列−17i向と境界線が平行な場合
には、精度よく合焦検出を行X[う11)ができない3
、こね(こ対して、受ソrし)ぞ子を円甲状に配列し、
た174合には、土、iJ W線の方向C3−よらず?
’+’を度よく合ヱ(1(・〕出を?−J’ It ’
iことかでき≧−)3、tた、r支”j 体カニ5’C
”?−的L(−1f’il R11+:1g ヲ+t
シ(−イルjM合、受J(H−11子を偵ホ゛d状に配
列した場合G、二は、結像y0学系の駆動と共(こ何面
1す「かで合焦表示がなさねるが、受ソ(:、 :R<
f・を円)gl状Gこ配’、il した場合4J二は
、被″I体1−のヤン′t″、水子と(11野の円周1
−に沿−二)てj古]其JJ M: ’&・fJ’ L
、てしハるJ)4 、%をト′亡イて、(−(7) 4
;Q /j lj’;j動作を起さない利点がある。」 (8)回り1へ15〔J汀)127丁〜17了Jσ)
L−、−・メj受゛に−−一−−イ・Q出することが゛
てきる。−1を削1;“i7する。 (g)同”IN 1.、8 、’j“、(・1\4イ1
〜5行を削除し、1+−iJ j::’j i’(’、
f3行rt) l’ iQ、171vlJ =* r
iii 161*1 Jに、r1′lT:する。 (10)図冊中、第8図、第5図、’T” l”’1
% 第9図a。 b、第10図(b) 、 (C) 、 ((i) 、
(+3) 、第1214b、第18図すを別イ、i(訂
止1ン[のとおりに8J正し、t= ヨrJ ;N 1
7図を第161¥l 6’l irI正する。 (訂止図 第10図 (b) (e) 第12図 第13図 第16図
の端filXであるX=lで最大となり、1斬次11線
的に減少し開[−1の他!Mij X = −1で最小
になる。−・方、受光素子13] ”−Bの受′/6率
はX−=−1て最大となり、直P’p mJ C(Z
hQ少17、X = l ’T’ Q’r%小トする。 そして、受y〔′7米子3j−Aと3j −Bの心?・
光字Cat対称の関係にある。ここで、−杵な入θ・l
yにを与λ1:場合Gこ各受光素子が開[−11−の
位j(j X = −1が「)X−1までの間で受ソc
する光量を全ヤ)にhlとし、x=を及ヒx = −t
、 ipらft’! n シT f 9 )’/; (
、X)j、4 t、コなるX屯11上σ〕2つのイI装
置を重心q−A、クーBとする。そして、これらの重心
をiin過する屯心光糾、(は各受光素子で受光さ才す
る光重の特11/1を表わしている。 第61゛4 ?J光軸上の点光源1o(1がら発した、
光中のうち受光会ダ子1.3j−,Aと1.3j−8に
より受光される重心光線102・−A 、 1(12−
Bの軌跡を表わしコJ でおり、i’lυ103 、1 (14,、105i;
i 1iil Lj’ ン(l’/ it”i: %合
焦位置1り、後ビン位置をそれぞ第1示している。第7
図は第〔5図に示ずnilビン位ii/l、’ 1.
C13、合焦位置104、及び後ビン位fi”(105
に寝・光素子列を配置した場合にA列及びB列の受光素
子tjYにょリイuら才する像バ9−ン]−03−A
、103−B t 104−A +104、−B 、1
05−A 、105−1”lを示したものである。この
ように非合焦位防′]o8及び105においてはA列及
びB列にそれぞれ横ずれした被写体像が形成され、合焦
位1i”7104においてはA列及び8例の被写体像は
一致する。このようGこやに′rメ体像の描ずれ64八
列とB列の重心y1−柘1101j〜Aと101−Bど
が結像し〉ズ11の予定焦平面上て一致しないときに生
ずる。 [7かし々′から前述した如く、従来の合焦検出1置G
こt3いて(4光4*よりずオ]たイ\γ1トtにある
受)’I’+ fR:f−において対を形成するヴーゲ
C素子に均一&、ニア1.i7が入射されt「いた入)
)正補′な合ヂ、ハ検出ケし?!jないf:1合を生じ
て[2,まっ。 第8図Gt本発明を−・眼レフカメラC4l、zl”’
3川し人−f′−11合の・例を示t j:’j戊図で
ある。撮影レンズ11を1IIj堝したソに Ily
T:1クイツクリターンミラー ]7のほぼ中央M、
Hト;成されているハーフミラ−川8により二分1リリ
され、ハーフミラ−18で反射された光中は子方に配J
Y、lされているファインダー系にうNが才]ると共c
コ、ハーフミラ−18を透過した光はクイックリターン
ミラー 17の後方に配置した全反射ミラ〜 19を介
してゼ:)):ビレンス11の九ill+を中心とし2
て円内上01−配設した横ずれ像発生手段であるストラ
イブマスク12及び−5光求千列13に導1))れる。 Ci7−’l J:、 ’) ニ構ずれ発生手段である
ストライプマスク12及び受ゲI′:赤子列13を光l
l1111を中心とする円周−ヒに配置することGこよ
り>’Cけ11力1「)各ヴ・光、4f:子への距離が
等し、くなり各受ソに $ 、lf−b、=は被写体が
ら発した光(PがJ!’=+ −c、−人射し、前述し
た不具合点が解消され、iE @、 it合焦検出が可
能に乙「る。尚、第8図Gこむいて司り20は撮影フィ
ルムを示しでいる。 第11図に本発明に係るストライプマスh1−2 上受
光素子列18g’ i!Y’ a(なfi”f ht、
を承す3、第!1 図a lt本例の構成を示す平面図
であり、第1J図すは第9図aのI−i線で切った断面
図である。、受ソr零子列]3は2j個σ)侃r yr
、ぶ丁・がそれぞれ一定の間IQ、秀で円環状に塙板1
.3 a上6JZ配列さJlでいる。ぞして配列方向G
こ対して奇数番目の受ソ(、素子pop l 3− A
ど偶数番目の受光麻ヂ・群]3−Bを(、”It成する
と共に、ぞねぞ才■19!J p9するぶ子をもつで・
ツ・ソr、侶子対13−A 、 13−B、 −−−1
3−A、 )3□1−BHi’々成する。 i n ストライブマスク−、2[:tガラス、高分子7 イ)
)/ l\等のyQ [ili :IにイIi 12
a )、 Gこ円環状にNi jiff Fl−yl
−Cn 個0)ストライブマスク12〜12nを蒸譜、
印刷Mに】 より形1芭し、そ才1ぞ11の7スク17Hにζ” p
t>け玉しンス。 11を: int渦した光1fを1秀が′6する円1?
(状の閏に−112bを月ソ成1する。干して各マスク
は対応するへF−:l(: 塁子欠1の一部を(HC<
ン’+’;−4るよう円環状Gこ配列する。 ン5(cごトご已円甲゛1幻ストラーイフ′マスク12
1!lひ・y yC。 JE千何列13用いた場合θ)i、lliず′i1、像
7)発理原理Cごついて11(ス1llI4′る。第1
0図に示すようG、−田作1状0.7:lNt’、 列
F、、 t”t T: イロ”% ’)(: 、仕−1
:”列1.20+ 円内す嘗1(、SICrT、l−A
、1:う1−Fl 、 13j−A 、 13j−1
t 、 13に−A 。 1 :(k−B 、 1− :31−A及D 1.37
− B 8C%r −4’ Z)レンス開[−11−の
小心位1ど1101・−A 、 101−B 、 1
o 1J−A。 −1 10J−B 、1(11に−A 、101に−B 、1
01.−A 。 101□−B及び各受yCニジ((f・の愛ソに率の+
11略を21゛暑(1図b−eに示す。第10図b〜e
cこおけ/:)濃1すはA列側箇′やI6オ(子の受光
率を示し、戸jU、が高いことIt、 A列の素子の受
光率が高くB列の下r・の・平光率が低いことを表わし
ている。対の関係もこJ)るA列とB列σ)、71.’
、−:lr、X+で子(y)ffi心付置は常に光軸に
対して対称なイI’装置にあり、同列のぐ・Y(: :
M手間においては配列位若に?:r:い対応する重心位
置も円(yd方向Gご移動している。従って、各・ツ・
>r、 :J、C子I:t、 iII r、is 、、
l・の位置G、二対応し′C接糾一方向に16′1丁ね
した像をj受尾し、全体として円内方向(にずれたr蒙
≧1・検出(ることC1二なる。即ち、A列及こrB列
σ)末子G、−よりイ11「)ね、7.、イ9Iバ々−
ンは非合1イ”IJSQR+こLi;、t−C+++旨
11方向又i;t J’j時fil’−h向+= 横ず
わを/4−ニー4’ることt(L 1:(る。第111
:IBV fil’i−j”才+ rT t+=、 T
、 r<、>とパ8・ン(、4r了、、L−5−直線状
6.Th配列しブ1:とぎtr+伸バ々−ンと円1.’
il [に配列したときの各イρ1バクーンを示す。従
来のよう6・(l′l終イ状に−配列した」1〜合には
合イf・時c5−おいてctA列とB列σ)イφバタ−
シが一゛牧し、j’lilヒ゛ンノi rFイ号ヒ′ン
11.’rLJI +、11白線r白4.’、−。 ノ)向に描−イ゛才lを牛A′る。一方、ソ(、ill
+を中心G、−シて円内IC5二配5111.た場合(
、−は合(flll、1rTJ A列と13列内像パタ
ーンが一致し、+’11ビン4及び倍ビンの1情には’
lf: 4;I+を中心(、−ニして時d1方向又6,
1反tL’(ri1方向’ l&+ ’1”れを発生す
る。尚、r・“1ず才1像発生手段及びゃ−J(:素子
は必1′しも全円1fil←−目り配列する必苛けなく
、lJ) フ、Cくとも−・対の・υ・光米子とイシ′
什4′1]像発11゛手段とを円周−にに配列ずれば同
様(こイ苗ず才1像を発生しイJ 。 合焦検出がII″i能で3−>る。 第12[ツ!a及びb(・4本発明の他の実絶倒を示す
ものであり、描ずれ像発生手段としてへ◇小角臨界ブリ
ズトアレイ14を用い 6j(小角臨界ブリズムアI−
イ14・と・ヅ光二(〈子列]3とを光軸を中心にして
円1it、、I J−に配列I7たものである。微小角
臨界プリズノ・アレイを用いて結像レンズの■?・1を
分割し、横−4’ 11像を発生させ合焦状卯を評価す
るjll、合であっても1’“1″1ず才〕像発生手段
と受光素子列を直線状Gこ配列するど’jC;軸よりず
れた位iどに配置″さねている受>”(: ff1c
F N G−二け1)(1述しブとように隣接し対をな
しているヴ・光〒に子ζこ入射する光コー東が不均一も
・二4cり望ましく乙「い。この欠点を解消するだめの
微小角):〜冗ブリズ1h−7”I、 −f’ 14・
と寝′光素子列13とを光中(iを中心GJ−1,テ円
1i’dJ= c、=配列し、客受3’e 累−r−M
J’=J −4’−光中を人射さぜるようGこした右
のCある。尚、第12図(こおいてはプリズムアレイ1
4.とや・)に=ir ’p列13どを全円周のしiに
百1)で配列したが、全円1−1に亘り配列したものと
同一の(メ;“、能力?びグ+ IIF: 1: 1■
(tことはいうまでもない。 第13 Ffi a及U b Vatイi’n l’ね
像発生手↓−(シとl、 7 フライレンズアレイ1!
′iを使JI−I L、たにl’j、合σ)実艙例を・
示している。フライI・ンズア1ノーfを・川し)るす
11.合Cにも直線状(4−配列すると対を3”i 1
3t、する受光ス(子tJ−入射する光束が不均一・c
= i:cり正($ fc合焦検出がYj]Cわ才1に
<<ムる。よって、フライ1/ンズ共レ・イ]5と受光
翠子列13とを)′1)軸を中・い、ニジて円内−トG
こ配列することにより被写体か「)の光Mfを各・W・
光y 子4J、均−cコ入射1−ルよ−) c=しk
+: (1)−C庚、z+。 尚、フライレンズアレイ15を用いろlI、% Q I
Jlj、 7ライレンズアレイ15を結像し・ンズ()
)予シ+を用事ilI’i又はこの近傍むこ配置Ff’
、 L、受1)’?; ”4E r←1フライL−シ・
ズ了しイ15の予r、+−を用事面又(1こT7)jl
r f:師こ一配置ン′置ツなければなら1Cい。第1
−1.図とキ、15t’4Cま微小面1界角ブリズJ、
−7”レイ14・及(JSフンイレンズアレイI5を各
々yC;IIIIIる已・中心にし1円[1[1・(、
ニー配列tツたjlj。 合に被%i体からの光わ4がτ「n過才/)L−ンズ開
[1[−の位置と一久1の受光素子13j−A、 、
1.8j−Bの尚ソf;率とθ) I’、! 係を示し
ている。プリズム、フライ1/ンズ共(・−八−ダ1」
の−!’、 ’J−1,;(] −A ’こけほぼjI
′it廿モレニ、・ス”[1+’J r−1、−、にの
例λば十半分をil渦するソロ束σ)みフッ(受)cさ
′11、B列σ)孝子13・−13には下半分σ)領域
を171−i過1−るコ JC:東のみが受光されている。こυ−)点ストライフ
°マスク2用イ、l’、 f4% 合4C什1べ1If
i’+分シ:11がより汀’、 1iift T、’
;E+4゜ことを表わしている。り貝、−プリズム−r
レイ及Cyフライレンズアレ・イを用いる場合共に’−
N+!、 列i(11tt49ニセ、Iワ”) −4’
7f ? 形成t ルA 列及(J B 列(7)
”:” ’Ic、 ”6 ’F ’ tH’、Ij”
t/い/f′;束が條・光されでいる。 第16図は配列とB列の受光孝子群13 j−A +]
3・−B5hいGこ接近する一?!fcる円周上Gこ配
列しコ た−F絶倒を示すものである。各受光孝子σ) ’gL
f質+’+j+な受光面1t1を同一に4゛れば配列及
びB列σ)受光]ダ子0こ相等しい10束を入射さ−け
ることができ、ま−、ニスドライブマスク12は対応す
る受光素子をソ】ノ(−する、Lうに構成することによ
り横ずれイ(仝を正^またG、I発生させることができ
る6、 次Gこ本発明にかかる合焦検出判′ir!方法G・−Z
)I、\てWR7明する、たと文は、受s’r、素子列
13−Aの受光孝子群Aの出力をAn、受光シ(子列1
:3− Bσ〕′受ゲ(、素二r・群Bの出力をBn
とし、受ソロ ”’F=千列(〕)(ヤσ)4fi’i
J’ Rを表わす訂価門数Fとして、たとえ(J゛、
F−Σ(lAn+1−Bn−1l )−ClA11−B
n+1. ”を用いる。この場合において合焦位ii(
’iて゛(ま横”す′才]。 を生じないので零の値とffす、合焦位置か0外i]る
と横ずれを生じ、第17図(こ示−4−、J:うG、1
非合焦の方向に応じて正負の符−叶が反転する曲線h’
1人4 「)ねる。従って上記の肛価門数FをlIj
f tK bて合f!1 ’l’1J7ifをイイなえ
ば、極めて広い結像光、学系σ)渭< ltH範囲ζこ
わたって、合焦状態を検1(臂(−イ)ことがiif
(f’:とl、rす、しかも、昌い検出精fQ’ 9も
って合焦状態を検出することかできる。 以上説明したように本発明Cごよ才1ば、横ず才]像発
生手段及び受光素子を光軸を−・中心とする円周、J−
:むこ配列しているから被写体からのソC1中を各受光
素子に均一に入射させることが川−能になり、合焦検出
の精度を一層昌めK)ことができる。また、(j’J写
体十Gこ:1ントラストの強い境界イ゛;1がをイロる
場合又は?>写体が光学的1771期性をイ11−2て
いる場合G、m tζいて6.t、労y(−に子が直線
状0・−配列さハ、ている受光素子σ)配列方向き境界
拓1の方向とか一致ずろことが多く、コントラストの強
い1イχ界ρ;I及び被写体の周110ヴ(様を検出で
きない場合を生ずるが、本発明のように受)+6素子を
円周+6こ配列すわけコントラストの強い境界斬!及び
被写体のf’s(11JI枠様をともGに検出てき、合
焦検出の’l’+’i度を−・層高めることがてき′る
。4”だ、受ソC:夫千を円環状に配列している1J)
「)、受光1モ子の配列がNi< 1!eし、10線状
に配列したt(1・^成のよ)Gこf111部の受光孝
子が有効に0作刺しtrくなるようなことにはならず、
全ての受光素f・を有効(GJ−利用することができる
。一般c= %、=;写体を広い1lil″i囲に1(
り検出するG、二は受光素子列が長いことが望まし2い
。よって−21r数の受光素子を用いて検出するt4%
合には本発明のようGこ素子を円1;′J状Gこ配列才
る方が直線状Gこ配列する場合に比べ広い中i]、囲に
ぼり検出することができる。更にストライブマスクが)
[ニ成さ71.7いる刃板と受光素子が配列されている
11シ板との::Pt III′ig 1.Il率が相
異し−r イ’り ト”;+ #’、’j 7j、1)
度変化によりストライブマスクの配列ピッチと受光公子
θ)配列ビッグとがずれてしN・い合焦伸出σ〕精度が
低下してしまうが、本発明0)ようにストラ、イブマス
クと受光率に子とを円環状iJ1配置列−ti’tば基
板は中心部より放射状Gこ伸@1:するたλりピッチの
−411゜を生ぜず、温I9変化Gこ弾い合焦検出装置
を47.(供することができる。 4[て曲のF/li屯な説明 第1図61従来の描ずわ検出方式に、rろ合弘検出装V
tの基本構成図、 第2図G;を受)l(、素子ノグびストライブマスクを
的わ11状に配列した場合の受光yC: <LLのi!
iI[、跡を示−4糾j図、N’、 3 [’lは補正
レンズを用いた揚台の傳・y51: !’:を示ず線1
゛4、 第4図ζ・41h心光線の軌跡を示すe’J t)6・
第51¥l i・;を受光光束が通1lll′hするl
/レンズ開1”T十〇)イ\゛lWeと受光率との関係
を示す線図、 第6図は重心yC,1ibpの軌跡荀示ず線(・4、第
7図G:を各焦点状態に:I−5はる像パターンを示4
線図、 第8図は本発明を−IIN l〜フカメラC,ニー適1
11シスー場合の構成図、 第9[¥laけ本発明に係るストライブマスクと受光素
子列の構成図、第9図すは第9図aのI−T断面図、 第10 i¥l a〜eけ各位置の受光素子に苅する重
心位li″I及び受う′6率の概略を示す線図、第11
図aけ横゛4′れ像発生手段及び受光素子列を直線状G
3−配置したときの各焦点状態における像パターンを表
わす線IA1第11Sol bは円周上に配列したとぎ
の各焦点状態6.mお(」る像パターンを表わず線図、 第12図aは横ずれ像発生手段と1.て+’=$小1:
タ界角プリズムアレイを用いたときσ)構成を示す平面
図、第12図b Tit第1第12力a−1断面図、第
18図aは横ずれ像発生手段としてフライレンズアレイ
を用いたときの構成を示ず平(61図、第13図すは第
131’l aのI−1断面図、第14図はi吸小臨界
角プリズムアレイを用いたときの対を4ぐず受)+6素
子の受光率と光線がIl:i過するレンズ開[1上σ)
位1;2Iとの関係を示す線図、第]sl¥Il;tフ
ライレンズアレイを用いたときの対をなす受光素子の受
光率とy(:線が111i渦オるt・ンズ開[」上の位
i2+との関係を示す配′!図、第16園はA列とB列
の受y(I孝子!(Yを一1I′I(なる円周トに配置
した実絶倒の構成図、 第1,7図は焦点状態における検出信じ・σ)態様2示
す線図である。 1、]1・・・結像レンズ 2・・・横4′第1像発
生手段8.18・・・受光素子列 4・・・補正レン
ズ12・・・ストライブマスク 14、・・・微小臨W角ブリズノ・アレイ]5・・・フ
ラ・fレンズアレイ 17・・・クイックリターンミラー ■8・・・ハーフミラ−]9・・・全反射ミラー20・
・・フィルム ]00・・・焦光41:還10
1− A・・・A列の素子に対する小心イ+’装置10
1、− B・・・B列の素子Gこ対才る重心イ\’7.
ji”jl−(+ 2− A・・・A列の孝子の重心
光線の11tIl跡102−B・・・B列の孝子の重心
光線σ)軌hrtr第1図 第2図 第8図 第4N 第5閣 第7図 第8問 第10図 (d ) (e ) 第11図 a 第12図 b fラーリ k 第13図 a b 第14図 一ノ Ol −,42’− 第15図 第16図 第17図 手続補正−升 昭fll 541年 5 月 ・1・111、事件の表
示 昭和58年 特 jj’(: l1ili第t (1
5Gl + ;’2、発明の名称 自焦検出装櫛 3、 i+li止をする者 il(件、lの門イt 特r r i(I 1頭人(0
37)副リンバス光学上業株式会社σ)け?t r(r
な説明J )(+F(1)、= ヨ(J ]゛41r1
i7、補正ノ内容(’l1lt’l:c)iln +υ
(1)明f’lll I’シバ合2 に”j >’I’
S 9 ’(JのF奇蜀第、11」を[−奇数番・1−
I」にril’ 、il(’Jる。 (2)同第7(゛1第5行〜6行の(−1o 1.1−
Aと101j−BJをl−102−Aど1.02j−B
jにイI11:する。 、J (3)同・第91.j第5イJσ)1円環状」を削除し
7、同均第9rJ:の「発1411原理」を「発生原理
]にJl’ 、+E ’−・1 同白第10竹σ)[第1 (191−1を1第1O図a
]に、(丁[ピする。 (4)同第11頁第1行〜3?−J″の[少なくとも一
一一一一・・l′i1能である。1をL全円周の一部O
こ配列し7てもかまわない、3」に4i正する3、 (5)同第130第11?−f〜18行を削除する1、
(6)同第1ag、lI口?■の1−Ajをr Aj−
Jに1イ]’ jE l、、同白第2 ?Jのf−B、
lをf−BJlに#l’ iI−’几、同し′−↓第4
行の式を次のとおり6.二訂正する。 [F−9Σ(lAj+x−13j−x l −IAj−
Bj+、l ) JJ=1 (ア)1司i丁S 14 B、j *\18イーJ−第
15]j第811の[8トか、被写体十に一一一一一−
・層高めることかで% りy。1を次のとおりに、訂正
する。 [まだ被写体十にコントラストの強い境’/l’ #l
Jj!が存在する場合に、受y/、素子’r iE<、
k・−j状に配列]すると、受九素子の配列方向が、
コンl−ラスト0)91iい境界r1(に対して内角を
なずjJ)合には、↑t’j l朋よく合馬検出を行な
う事ができるが、配列−17i向と境界線が平行な場合
には、精度よく合焦検出を行X[う11)ができない3
、こね(こ対して、受ソrし)ぞ子を円甲状に配列し、
た174合には、土、iJ W線の方向C3−よらず?
’+’を度よく合ヱ(1(・〕出を?−J’ It ’
iことかでき≧−)3、tた、r支”j 体カニ5’C
”?−的L(−1f’il R11+:1g ヲ+t
シ(−イルjM合、受J(H−11子を偵ホ゛d状に配
列した場合G、二は、結像y0学系の駆動と共(こ何面
1す「かで合焦表示がなさねるが、受ソ(:、 :R<
f・を円)gl状Gこ配’、il した場合4J二は
、被″I体1−のヤン′t″、水子と(11野の円周1
−に沿−二)てj古]其JJ M: ’&・fJ’ L
、てしハるJ)4 、%をト′亡イて、(−(7) 4
;Q /j lj’;j動作を起さない利点がある。」 (8)回り1へ15〔J汀)127丁〜17了Jσ)
L−、−・メj受゛に−−一−−イ・Q出することが゛
てきる。−1を削1;“i7する。 (g)同”IN 1.、8 、’j“、(・1\4イ1
〜5行を削除し、1+−iJ j::’j i’(’、
f3行rt) l’ iQ、171vlJ =* r
iii 161*1 Jに、r1′lT:する。 (10)図冊中、第8図、第5図、’T” l”’1
% 第9図a。 b、第10図(b) 、 (C) 、 ((i) 、
(+3) 、第1214b、第18図すを別イ、i(訂
止1ン[のとおりに8J正し、t= ヨrJ ;N 1
7図を第161¥l 6’l irI正する。 (訂止図 第10図 (b) (e) 第12図 第13図 第16図
Claims (1)
- 1 結像光学系の非合焦状部に応じて像の横ずれを発生
させる手段と、該横ずれした像を検出する複数の受光素
子とを具える合焦検出装置?°1において、前記横ずれ
を発生させる手段と受光素子とを[111記結像光学系
のソC軸を中心として円j、Tjl−トに配置斤したこ
とを特徴とする合焦検出装置ど7゜
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58019591A JPS59146008A (ja) | 1983-02-10 | 1983-02-10 | 合焦検出装置 |
US06/576,577 US4580043A (en) | 1983-02-10 | 1984-02-03 | Apparatus for detecting focus condition of imaging lens having a circular detecting array |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58019591A JPS59146008A (ja) | 1983-02-10 | 1983-02-10 | 合焦検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59146008A true JPS59146008A (ja) | 1984-08-21 |
Family
ID=12003488
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58019591A Pending JPS59146008A (ja) | 1983-02-10 | 1983-02-10 | 合焦検出装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4580043A (ja) |
JP (1) | JPS59146008A (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6347711A (ja) * | 1986-08-18 | 1988-02-29 | Minolta Camera Co Ltd | 焦点検出装置 |
US4959677A (en) * | 1986-10-01 | 1990-09-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Device for detecting the focus adjusted state of an objecting lens |
JP5034556B2 (ja) * | 2007-02-27 | 2012-09-26 | 株式会社ニコン | 焦点検出装置および撮像装置 |
JP2008209761A (ja) * | 2007-02-27 | 2008-09-11 | Nikon Corp | 焦点検出装置および撮像装置 |
KR101137615B1 (ko) * | 2010-01-12 | 2012-04-19 | 삼성전자주식회사 | 디지털 카메라의 자동 초점 조정 방법 및 장치 |
WO2019002656A2 (es) * | 2017-06-28 | 2019-01-03 | Consejo Superior De Investigaciones Científicas | Aparato para determinar la potencia óptica de lentes y método de medida |
CA3146861A1 (en) * | 2019-07-26 | 2021-02-04 | Ours Technology, Llc | Focal plane array system for fmcw lidar |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4246476A (en) * | 1979-04-12 | 1981-01-20 | Honeywell Inc. | Automatic focusing apparatus for use with a plurality of lenses |
-
1983
- 1983-02-10 JP JP58019591A patent/JPS59146008A/ja active Pending
-
1984
- 1984-02-03 US US06/576,577 patent/US4580043A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4580043A (en) | 1986-04-01 |
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