JPS59136480A - 陰極スパツタリング用タ−ゲツト - Google Patents

陰極スパツタリング用タ−ゲツト

Info

Publication number
JPS59136480A
JPS59136480A JP59001418A JP141884A JPS59136480A JP S59136480 A JPS59136480 A JP S59136480A JP 59001418 A JP59001418 A JP 59001418A JP 141884 A JP141884 A JP 141884A JP S59136480 A JPS59136480 A JP S59136480A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
oxide
target
density
pressure
sputtering
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59001418A
Other languages
English (en)
Inventor
ハンス「だぶはい」デイ−トリツヒ・クライン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Merck Patent GmbH
Original Assignee
Merck Patent GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Merck Patent GmbH filed Critical Merck Patent GmbH
Publication of JPS59136480A publication Critical patent/JPS59136480A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
    • C23C14/3414Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/08Oxides
    • C23C14/086Oxides of zinc, germanium, cadmium, indium, tin, thallium or bismuth
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Medicines Containing Plant Substances (AREA)
  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
  • Acyclic And Carbocyclic Compounds In Medicinal Compositions (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、熱間圧造された酸化インジウム/酸化スズ混
合物を基材とし、磁気的に高められた陰極スパッタリン
グに用いられようとする酸化物−セラミック・ターゲッ
トに関する。
このタイプのターゲットは自体知られてお9、またその
ようなターゲットを透明な導電層を製造するために用い
ることも知られている。
加圧下および高められた温度でターゲ゛ットにプレス成
形された金属酸化物は非導電体なので高周波によりター
ゲットをスパッタリングすることが通常行なうことがで
き、それにより非導電体さえも困難を伴うことなくスパ
ッタリングすることができる。しかしながら高周波スパ
ッタリングは本来的に直流電圧スパッタリングが好適と
される大規模な工業的応用にはあまり好適ではないが、
酸化物−セラミック・ターゲットではなく金属ターゲッ
トを主に必要とする。
しかしながら金属ターゲットを用いる場合は、このター
ゲット材料は被覆しようとする狭面に適用されるかまだ
はその後で行なわれるように透明酸化物層の製造では酸
化を起すようにすることが必要である。一般的にこの加
工方法では満足できる層が得られず、また被覆しようと
する全材料に対して可能ですらない。
したがって本発明の目的は、直流電圧ス・ξツタリング
にも好適であり、高出力強度での磁気的に高められた陰
極スパッタリングに使用することができる酸化物−セラ
ミック・ターゲットを見出すことにある。
今般、一方において極めて高い密度を有し他方において
比較的高い導電性が得られる程度に酸素含量を減少させ
たターゲ゛ットをハイパワー直流電圧スパッタリング装
置に極めてう壕〈使用できることを見出した。金属部分
がすでに存在する程度に酸素含量を低下させであるこれ
らのターゲットがそれでもなお層の透明度全阻害する恐
れのある金属封入物を含有しない極めて均質な金属酸化
物層を生じるということは篤くべきことである。
このように本発明は、磁気的に高められた陸棲スパッタ
リングに用いようとすることができ、熱間圧造された酸
化インジウム/酸化スズ混合物を基材とする酸化物−セ
ラミック・ターゲットであって、このターゲットは理論
的密度の少なくとも75%の密度を有し、化学量論的組
成に比較して酸素含量が0.6〜0.1Ω、Cmの比抵
抗に相当する導電性を有する程度まで低下させであるこ
とを特徴とする酸化物−セラミック・ターゲットを提供
する。
本発明のターゲットは、高密度と比較的高い導電性を併
有することから直流電圧を用いるハイパワー・スパッタ
リングに極めて適しているという著しい利点を有する。
酸化物セラミック・ターゲ゛ットを熱間圧造する方法は
自体知られている。その方法では、金属酸化物粉末を焼
結温度(それは一般に絶対融点の約%である)で数百気
圧までの高圧力下に加熱可能なプレスに入れる。得られ
るセラミック体は使用温度、圧力および個々の金属酸化
物の材料に特異的な性質によジ密度が異なる。
酸化インジウムおよび酸化スズを基材とし、そして理論
的密度の約50〜70%の密度を有するターゲットは市
販されている。固体物質の密度の少なくとも75%の密
度を有するターゲットが***国公開特許出願第・3,1
12,104号明細書に記載されているが、これらのタ
ーゲットを得るだめの方法は全く記載されていない。今
般このタイプのターゲットは酸化インジウム/酸化スズ
混合物を還元性雰囲気中である温度において熱間圧造す
ることにより製造できることを見出した。
したがって本発明はまた、酸化インジウム/酸化スズ混
合物を還元性雰囲気中で50〜600Kf、/1yn2
の圧力下に850〜1,000℃の温度においてターゲ
ットの密度が理論的密度の少なくとも75チとなる程度
に圧縮成形することを特徴とする特磁気的に高められた
陰極スパッタリングに用いることができ、熱間圧造酸化
インジウム/酸化スズ混合物を基材とする酸化物−セラ
ミック・ターゲットの製造方法を提供する。
850〜i、ooo℃という加圧温度は、1,910℃
の融点を有する酸化インジウムおよび1,620℃の融
点を有する酸化スズについての前述の経験則から予測さ
れる焼結温度よりもはるかに低い。
実際、圧造材料を顕微鏡検査すると正常な焼結が起こら
ないことが判る。何故ならば、正常な焼結は、極めて機
紐な部分が溶解し比較的大きい粒子が対応する量だけ成
長することから一般に微粒子構造の粗大化によって認知
されるからである。この粗大化は酸化インジウム/酸化
スズターゲットの場合にはみられない。反対に、粒子寸
法は大力において一定したままである。
本発明の方法は還元性雰囲気中、すなわち、好ましくは
出発材料をグラファイト成形型内でプレス成形すること
により行なわれる。−島強力な還元性雰囲気を創製する
ために金属酸化物粉末に石炭または・炭素生成物質を添
加することができる。例えば、金属酸化物粉末と加圧ラ
ムとの間に有機材料、例えばセルロース系材料(例えば
紙)でできたカッ乙一層を用いることが好適であること
が判った。前述の高温度で生起するコーキング過程で生
じる気体により酸化インジウムが部分還元されるものと
思われる。さらに、液体の形態にある生成金属インジウ
ムが酸化物粉末の潤滑剤として働き、その粉末を可成緻
密にするものと思われる。
しかしながらこのような説明に拘束されることなく、本
発明の方法により製造されるターゲットは、可成酸素不
足の状態にあり、これは(亜酸化物または金属含量によ
り灰色に着色した)外観から明らかでさえもある。
したがって使用温度およびプレス時間に応じて、理論的
密度の90〜95%までのターゲットを得ることが可能
である。
過度に高い温度あるいは過度に長いプレス時間を用いる
と、金属酸化物が完全に還元される恐れがあり、生成し
た液状金属がプレス成形型から出てしまう。しかしなが
ら、これらの望ましくない条件は、いくつかの予備実験
によって排除することができる。特に880〜920℃
の温度で極めて良い結果が得られることを見出した。
加熱時間を含めた全プレス時間は約1〜2時間であり、
そのうち長くとも約半時間、好ましくは10分間を最高
温度での加圧にかける。
プレス度、すなわち、固体物質の理論的密度に対するプ
レス過程で得られる密度の比はプレス用ラムの圧縮路を
決め、またそのようにする場合にいうまでもないことで
あるがプレス成形型およびプレス用ラムの熱膨張全語釈
することによって予め決めることができる。プレス度の
圧縮路への依存性は、いかなるプレス成形型およびいか
なるプレス温度についても経験的に容易に決めることが
できる。
成形圧力それ自体は特に臨界的であるということはなく
またグラファイト成形型により生じる圧力として表現し
た場合は高くとも約600 Kg/、2であることがで
きる。しかしながら、良好な結果を得るにはそれ程高い
圧力を必要としないことを見出した。実際、約50 K
g/cm2という著しく低い圧力で非常に良好な結果が
得られる。
したがって約50〜100Kg/crn2の範囲、特に
約70Kg/1fn2で作業するのが好ましい。これら
の低い成形圧は、結果的にプレス全ストレスが低い状態
におき、その寿命を延長する。
本発明の方法は主成分として酸化インジウムを含有する
酸化インジウム/酸化スズ・ターゲットを生成する。酸
化スズ含量は約1〜20重量%にわたって変えることが
できる。それは約9〜11重量%とするのが好捷しい。
ターゲットの密度および組成に関し所定の結果を得るた
めの最適条件は、いくつかの基本的な予備実験によって
定めることができる。この実験作業においては、一般に
、プレス時間が長くなる程、またプレス温度が高くなる
程、より高密度であるばかりでなく酸素不足度が一層高
いターゲットが生成されるものと想定することができる
。酸素不足度が高くなる程、ターゲットの導電性も高く
なる。一般に、諸条件は、約06〜O1Q、t:mの比
抵抗に相当する導電性を有するターゲットが生成するよ
うに選択されることになろう。
ターゲットの導電性は、適切な場合には、金属酸化物粉
末をプレスする前に金属粉末、すなわち2重量%までの
インジウムおよび/またはスズと混合することにより調
節することもできる。
前述のようにハイパワー直流電圧スパッタリングに極め
て適しているほかに、本発明のターゲットは高密度であ
るために機械的に特に安定である。この高い機械的安定
性、および同じく高い熱伝導性(これによってスパッタ
リングの過程で生じる熱を迅速に伝導除去できる)は本
発明のターゲットの他の著しい利点である。
前記ターゲットは有利にも特に、例えば、紙上に導電性
透明層を、あるいはガラス上に透明な熱保護層を製造す
る際、あるいは液晶表示装置に透明電導層を造る際にシ
ート様基体を被覆するのに用いることができる。自体知
られたこれらすべてのプロセスは直流電圧スパッタリン
グに本発明のターゲ゛ツトヲ用いることができる。
これらすべてのプロセスは極めて良好な透明層を生成す
る。これらのプロセスにおける唯一の不可欠な条件は、
スパッタリング雰囲気がある量の酸素を含有することで
ある。個々の場合に必要な酸素含量はいくつかの条件設
定のための予備実験によって容易に決めることができる
酸素含量は一般に約1〜20容量%となろう。
1だ残りの雰囲気は例えば水素およびアルゴンから構成
されていてもよい。
このように、本発明は、ハイパワー・スパッタリング技
術に著しい進歩をもたらすものである。
実施例 1 210咽の内径を有する円筒状グラノアイト成形型に1
,516fの酸化インジウムと1847の酸化スズ(■
V)粉末との混合物1.70017’(9:1のインン
ウム:スズモル比に相当する)を装填し、そしてその混
合物と上側および下側グラファイト加圧ラムとの間にP
紙層を置く。70Kg/cm2の圧力を設定しそしてそ
のユニットを真空にして一定圧力で65分間にわたって
880℃まで加熱する。約700℃で始まる成形材料の
緻密化を加圧ラムの動きを基準に記録する。成形材料が
9.2mmの厚み1で圧縮された時点で直ちに加熱を停
止し、加圧をさらに10分間続は次いで圧力を緩める。
これによって灰色の外観、92胴の厚み、理論的密度の
75%に相当する5、3グ/m5の密度および0.42
g、crnO比抵抗を有するセラミック・プレートが得
られる。
実施例 2 210Mの内径を有する円筒状グラファイト成形型に1
.5165’の酸化インジウムと1841の酸化スズ(
■V)粉末との混合物1.7009を装填し、そして2
枚のp紙層を両側の粉末−グラファイトラム間に挿入す
る。70Kr/z2の圧力を設定し、そしてそのユニッ
トヲ真空にして一定圧力で40分間にわたって900℃
まで加熱する。成形材料が83胴の厚みとなるまでプレ
スされた時点で直ちに加熱を停止し、加圧をさらに10
分間続は次いで圧力を緩める。これによって灰色の外観
、8.3 tahの厚み、理論的密度の82.7%に相
当する5、 9 f 7cm 6の密度および0.38
4=’、crnO比抵抗を有するセラミック・プレート
が得られる。
実施例 6 210順の内径を有する円筒状グラファイト成形型に1
,516グの酸化インジウムと1842の酸゛化スズ(
1■)粉末との混合物1,7DOfを装填し、そして6
枚のP紙層を両側の粉末−グラファイトラム間に挿入す
る。70 K9/1yn2の圧力を設定し、そしてその
ユニットヲ真空にして一定圧力で45分間にわたって9
20℃まで加熱する。成形材料が7.8 mmの厚みと
々るまでプレスされた時点で直ちに加熱を停止し、加圧
をさらに10分間続は次いで圧力を緩める。これにより
灰色の外観、7.8mmの厚み、理論的密度の88.5
%に相当する66グ/m5の密度および0.17 Q、
clnの比抵抗を有するセラミックプレートが得られる
実施例 4 210咽の内径を有する円筒状グラファイト成形型に1
.60111の酸化インジウムと92?の酸化スズ(I
V)との混合物1,700?(95:5のインジウム:
スズモル比に相当する)および347のグラファイト粉
末を装填する。70 h/cm2の圧力を設定しそして
そのユニットヲ真空にして一定圧力でろ5分間にわたっ
て880℃1で加熱する。
成形材料が84胴の厚みとなる徒でプレスされた時点で
加熱を直ちに停止し、加圧をさらに10分間続は次いで
圧力を緩める。これにより灰色の外観、8.5mmの厚
み、理論的密度の80%に相当する5Bit’ 7cm
 ’の密度および0.38Ω、川の比抵抗を有するセラ
ミックプレートが得られる。
実施例 5 210胴の内径を有する円筒状グラファイト成形型に1
,337?の酸化インジウムと3407の酸化スス(工
■)と177のスズ粉末との混合物1,700f(80
:20のインジウム:スズモル比に相当する)を装填す
る。90Kg/α2の圧力を設定しそしてそのユニット
を真空にしそして一定圧力で40分間にわたって900
℃まで加熱する。成形材料が8.5順の厚みとなるまで
プレスされた時点で加熱を直ちに停止し、加圧をさらに
10分間続は次いで圧力を緩める。これにより灰色の外
観、8、5 mmの厚み、理論的密度の80%に相当す
る5、 77 S’ / cm5の密度および0.35
0.crnの比抵抗を有するセラミック・プレートが得
られる。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)磁気的に高められた陰極スパッタリングに用いるこ
    とができ、熱間圧造された酸化インジウム/酸化スズ混
    合物を基材とする酸化物−セラミック・ターゲットであ
    って、このターゲットは理論的密度の少なくとも75%
    の密度を有し、化学量論的組成に比較して酸素含量が0
    .6〜01Ω1口の比抵抗に相当する導電性を有する程
    度まで低下させであることを特徴とする、酸化物−セラ
    ミック・ターゲ゛ット。 2)磁気的に高められた陰極スパッタリングに用いるこ
    とができ、熱間圧造された酸化インジウム/酸化スズ混
    合物を基材とする酸化物−セラミック・ターゲットの製
    造方法であって、酸化インジウム/酸化スズ混合物を還
    元性雰囲気中で50〜600Kq/1yn2の圧力下に
    850〜i、 o o o℃の温度においてターゲット
    の密度が理論的密度の少なくとも75%となる程度に圧
    縮成形することを特徴とする、酸化物−セラミック・タ
    ーゲットの製造方法。 3)900〜920℃の温度および50〜100Kg/
    an2の圧力を保持する特許請求の範囲第2項記載の方
    法。 4)圧縮成形をグラファイト成形型において行う特許請
    求の範囲第2項または第6項に記載の方法。 5)炭素または圧縮成形温度で炭素を生成する有機材料
    が成形プレス内に存在する特許請求の範囲第2項〜第4
    項のいずれか一つに記載の方法。 6)2重量%までのスズおよび/捷たけインジウム粉末
    を圧縮成形前に金属酸化物粉末に添加する特許請求の範
    囲第2項〜第5項のいずれか一つに記載の方法。 7)圧縮成形の温度と時間をターゲットが06〜0.1
    Ω9口の比抵抗に相当する導電性を得るように選択する
    特許請求の範凹第2項〜第6項のいずれか一つに記載の
    方法。 8)直流電圧スパッタリングへの特許請求の範囲第1項
    記載のターゲットの使用。
JP59001418A 1983-01-10 1984-01-10 陰極スパツタリング用タ−ゲツト Pending JPS59136480A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19833300525 DE3300525A1 (de) 1983-01-10 1983-01-10 Targets fuer die kathodenzerstaeubung
DE33005257 1983-01-10

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59136480A true JPS59136480A (ja) 1984-08-06

Family

ID=6187948

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59001418A Pending JPS59136480A (ja) 1983-01-10 1984-01-10 陰極スパツタリング用タ−ゲツト

Country Status (8)

Country Link
US (2) US4647548A (ja)
EP (1) EP0115629B1 (ja)
JP (1) JPS59136480A (ja)
KR (1) KR840007448A (ja)
AT (1) ATE35002T1 (ja)
CA (1) CA1222217A (ja)
DE (2) DE3300525A1 (ja)
FI (1) FI76122C (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6415370A (en) * 1987-07-08 1989-01-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd Dc sputtering method
JPH01290764A (ja) * 1988-05-16 1989-11-22 Tosoh Corp 透明導電膜用スパッタリングターゲット
JPH02297813A (ja) * 1989-02-28 1990-12-10 Tosoh Corp 酸化物焼結体及びその製造方法並びにそれを用いたターゲット
JPH0344464A (ja) * 1989-07-13 1991-02-26 Nippon Mining Co Ltd Ito透明導電膜用スパッタリングターゲット
JPH07310178A (ja) * 1994-04-19 1995-11-28 Leybold Ag 基板コーティング装置
JPH10509479A (ja) * 1994-11-15 1998-09-14 トーソー エスエムディ インク バッキングプレート部材へのターゲットの接着
JP2004190120A (ja) * 2002-12-13 2004-07-08 Sony Corp スパッタターゲットの製造方法及びスパッタターゲット

Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3627775A1 (de) * 1986-08-16 1988-02-18 Demetron Verfahren zur herstellung von targets
US4895592A (en) * 1987-12-14 1990-01-23 Eastman Kodak Company High purity sputtering target material and method for preparing high purity sputtering target materials
US4824481A (en) * 1988-01-11 1989-04-25 Eaastman Kodak Company Sputtering targets for magneto-optic films and a method for making
EP0342537B1 (en) * 1988-05-16 1995-09-06 Tosoh Corporation Process for the manufacture of a sputtering target for producing electroconductive transparent films
US5071800A (en) * 1989-02-28 1991-12-10 Tosoh Corporation Oxide powder, sintered body, process for preparation thereof and targe composed thereof
JPH0772346B2 (ja) * 1989-03-03 1995-08-02 日本真空技術株式会社 低抵抗透明導電膜の製造方法
EP0421015B1 (en) * 1989-10-06 1995-01-18 Nihon Shinku Gijutsu Kabushiki Kaisha Process for producing transparent conductive film
JP2936276B2 (ja) * 1990-02-27 1999-08-23 日本真空技術株式会社 透明導電膜の製造方法およびその製造装置
US5147688A (en) * 1990-04-24 1992-09-15 Cvd, Inc. MOCVD of indium oxide and indium/tin oxide films on substrates
DE4124471C1 (en) * 1991-07-24 1992-06-11 Degussa Ag, 6000 Frankfurt, De Target for cathodic sputtering - produced from partially reduced mixtures of indium oxide and tin oxide by hot pressing in inert protective gas
US5480531A (en) * 1991-07-24 1996-01-02 Degussa Aktiengesellschaft Target for cathode sputtering and method of its production
BE1007067A3 (nl) * 1992-07-15 1995-03-07 Emiel Vanderstraeten Besloten Sputterkathode en werkwijze voor het vervaardigen van deze kathode.
EP0584672B1 (en) * 1992-08-19 1996-06-12 Tosoh Corporation Method of manufacturing an indium oxide powder useful as material of a high-density ITO sintered body
US5433901A (en) * 1993-02-11 1995-07-18 Vesuvius Crucible Company Method of manufacturing an ITO sintered body
DE4407774C1 (de) * 1994-03-09 1995-04-20 Leybold Materials Gmbh Target für die Kathodenzerstäubung zur Herstellung transparenter, leitfähiger Schichten und Verfahren zu seiner Herstellung
DE4413344A1 (de) * 1994-04-18 1995-10-19 Leybold Materials Gmbh Verfahren zur Herstellung teilreduzierter Indiumoxid-Zinnoxid Targets
US5792327A (en) * 1994-07-19 1998-08-11 Corning Incorporated Adhering metal to glass
DE4427060C1 (de) 1994-07-29 1995-11-30 Heraeus Gmbh W C Bauteil aus Indium-Zinn-Oxid und Verfahren für seine Herstellung
US5656216A (en) * 1994-08-25 1997-08-12 Sony Corporation Method for making metal oxide sputtering targets (barrier powder envelope)
US6582641B1 (en) * 1994-08-25 2003-06-24 Praxair S.T. Technology, Inc. Apparatus and method for making metal oxide sputtering targets
DE4438323C1 (de) * 1994-10-27 1995-07-27 Leybold Materials Gmbh Verfahren zum Recyceln von abgesputterten Indiumoxid-Zinnoxid-Targets
US5522535A (en) * 1994-11-15 1996-06-04 Tosoh Smd, Inc. Methods and structural combinations providing for backing plate reuse in sputter target/backing plate assemblies
WO1996015283A1 (en) * 1994-11-15 1996-05-23 Tosoh Smd, Inc. Method of bonding targets to backing plate member
DE19508898A1 (de) * 1995-03-11 1996-09-12 Leybold Materials Gmbh Indiumoxid/Zinnoxid Sputtertarget für die Kathodenzerstäubung
DE19540379C1 (de) * 1995-08-18 1996-09-26 Heraeus Gmbh W C Target für die Kathodenzerstäubung und Verfahren zur Herstellung eines solchen Targets
EP0761838B1 (de) * 1995-08-18 2001-08-08 W.C. Heraeus GmbH & Co. KG Target für die Kathodenzerstäubung und Verfahren zur Herstellung eines solchen Targets
JP3781878B2 (ja) * 1996-10-04 2006-05-31 同和鉱業株式会社 Ito焼結体およびitoスパッタリングターゲット
GB2361245A (en) * 2000-04-14 2001-10-17 Jk Microtechnology Ltd High conductivity indium-tin-oxide films
EP1305595A2 (en) 2000-06-22 2003-05-02 Clinomics Laboratories, Inc. Frozen tissue microarrays and methods for using the same
US6924919B2 (en) * 2000-10-17 2005-08-02 Ppg Industries Ohio, Inc. Polymeric electrochromic devices
EP2278041B1 (en) * 2001-08-02 2012-05-23 Idemitsu Kosan Co., Ltd. Sputtering target and transparent conductive film obtainable by the target
CA2651705C (fr) 2006-05-18 2014-09-30 Hydro-Quebec Procede de preparation de ceramiques, ceramiques ainsi obtenues et leurs utilisations notamment comme cible pour pulverisation cathodique
CA2547091A1 (fr) * 2006-05-18 2007-11-18 Hydro Quebec Procede de preparation de ceramiques, ceramiques ainsi obtenues et leurs utilisations notamment comme cible pour pulverisation cathodique
JP5580972B2 (ja) * 2008-06-06 2014-08-27 デクセリアルズ株式会社 スパッタリング複合ターゲット
CN109972099B (zh) * 2019-05-10 2020-11-27 福建农林大学 一种制备片状氧化铁的方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3438885A (en) * 1967-08-02 1969-04-15 Northern Electric Co Method of making ferrimagnetic films by cathodic sputtering
US3749658A (en) * 1970-01-02 1973-07-31 Rca Corp Method of fabricating transparent conductors
GB1336559A (en) * 1970-05-20 1973-11-07 Triplex Safety Glass Co Metal oxide coatings
US3907660A (en) * 1970-07-31 1975-09-23 Ppg Industries Inc Apparatus for coating glass
US4025339A (en) * 1974-01-18 1977-05-24 Coulter Information Systems, Inc. Electrophotographic film, method of making the same and photoconductive coating used therewith
US4060426A (en) * 1974-07-02 1977-11-29 Polaroid Corporation Tin indium oxide and polyvinylcarbazole layered polarized photovoltaic cell
FR2371009A1 (fr) * 1976-11-15 1978-06-09 Commissariat Energie Atomique Procede de controle du depot de couches par pulverisation reactive et dispositif de mise en oeuvre
US4166784A (en) * 1978-04-28 1979-09-04 Applied Films Lab, Inc. Feedback control for vacuum deposition apparatus
CA1110421A (en) * 1978-11-09 1981-10-13 Horst E. Hirsch Cadmium mercury telluride sputtering targets
US4201649A (en) * 1978-11-29 1980-05-06 Ppg Industries, Inc. Low resistance indium oxide coatings
DE2930373A1 (de) * 1979-07-26 1981-02-19 Siemens Ag Verfahren zum herstellen transparenter, elektrisch leitender indiumoxid (in tief 2 o tief 3 )-schichten
DE3112104A1 (de) * 1981-03-27 1982-10-07 Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln Verfahren und vorrichtung zum herstellen von elektrisch leitfaehigen transparenten oxidschichten

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6415370A (en) * 1987-07-08 1989-01-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd Dc sputtering method
JPH01290764A (ja) * 1988-05-16 1989-11-22 Tosoh Corp 透明導電膜用スパッタリングターゲット
JPH02297813A (ja) * 1989-02-28 1990-12-10 Tosoh Corp 酸化物焼結体及びその製造方法並びにそれを用いたターゲット
JPH0344464A (ja) * 1989-07-13 1991-02-26 Nippon Mining Co Ltd Ito透明導電膜用スパッタリングターゲット
JPH07310178A (ja) * 1994-04-19 1995-11-28 Leybold Ag 基板コーティング装置
JPH10509479A (ja) * 1994-11-15 1998-09-14 トーソー エスエムディ インク バッキングプレート部材へのターゲットの接着
JP2004190120A (ja) * 2002-12-13 2004-07-08 Sony Corp スパッタターゲットの製造方法及びスパッタターゲット

Also Published As

Publication number Publication date
DE3300525A1 (de) 1984-07-12
CA1222217A (en) 1987-05-26
US4690745A (en) 1987-09-01
FI76122B (fi) 1988-05-31
DE3376986D1 (en) 1988-07-14
EP0115629A3 (en) 1985-12-04
KR840007448A (ko) 1984-12-07
FI840072A0 (fi) 1984-01-09
EP0115629A2 (de) 1984-08-15
FI76122C (fi) 1988-09-09
ATE35002T1 (de) 1988-06-15
US4647548A (en) 1987-03-03
FI840072A (fi) 1984-07-11
EP0115629B1 (de) 1988-06-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS59136480A (ja) 陰極スパツタリング用タ−ゲツト
US5480532A (en) Sputter target for cathodic atomization to produce transparent, conductive layers
CA1325899C (en) Method for making tungsten-titanium sputtering targets
JPH09170076A (ja) 陰極スパッタ用ターゲットおよびかかるターゲットの製造方法
US4528120A (en) Refractory, electrically conductive, mixed materials containing boron nitride and process for their manufacture
JPS6229388B2 (ja)
US5480531A (en) Target for cathode sputtering and method of its production
US5531948A (en) Process for the production of partially reduced indium oxide-tin oxide targets
CN104973864B (zh) 一种氧化铌平面靶材的制备方法及氧化铌平面靶材
US6562418B2 (en) Microwave processing of pressed boron powders for use as cathodes in vacuum arc sources
US3892644A (en) Method of making cermet powders
CN113881922B (zh) 一种低温制备高致密度W-Ti合金溅射靶材的方法
JPH03208865A (ja) 耐火物複合物品の製造方法
JP2693599B2 (ja) ターゲットとその製造方法
US6187253B1 (en) Method of preparing indium oxide/tin oxide target for cathodic sputtering
JPH0794345B2 (ja) 酸化インジウム‐酸化錫焼結体及びその製造方法
KR101135732B1 (ko) 불소 함유 인듐-주석 산화물 소결체 및 그의 제조 방법
JPH02115326A (ja) 良導電性インジウムースズ酸化物焼結体の製造法
JP3127824B2 (ja) 強誘電体膜形成用スパッタリングターゲットおよびその製造方法
JPH05339721A (ja) 酸化インジウム−酸化錫スパッタリングターゲットの製造法
EP0338556B1 (en) Target of superconductive oxide having low resistivity
JP2523251B2 (ja) Ito焼結体の製造方法
JPH0813140A (ja) インジウム酸化物系スパッタリング用ターゲットおよびその製造方法ならびにインジウム酸化物系膜およびインジウム酸化物系膜の製造方法
JP3381328B2 (ja) Ito焼結体の製造方法
RU1787685C (ru) Способ изготовлени мишеней дл установок вакуумного распылени