JPS59132146A - 半導体装置のパツケ−ジング方法 - Google Patents

半導体装置のパツケ−ジング方法

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Publication number
JPS59132146A
JPS59132146A JP58006412A JP641283A JPS59132146A JP S59132146 A JPS59132146 A JP S59132146A JP 58006412 A JP58006412 A JP 58006412A JP 641283 A JP641283 A JP 641283A JP S59132146 A JPS59132146 A JP S59132146A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
melting point
glass
low melting
plate
point glass
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58006412A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuo Suzuki
信雄 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP58006412A priority Critical patent/JPS59132146A/ja
Publication of JPS59132146A publication Critical patent/JPS59132146A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0203Containers; Encapsulations, e.g. encapsulation of photodiodes

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は半導体装置のパッケージング方法の改良に関す
る。
〔光面の技術的背景〕
従来、半導体装置例えば固体イメージセンサのパッケー
ジングは、第1図に示す如く、表面の開口部1の底部に
チップ2をセットしたパッケージ本体3の開口周縁部5
の表面に、該周縁部5に対応する裏面外縁に低融点ガラ
ス6の粉床を塗布したガラス板7を載置するかあるいは
前記パッケージ本体3の開口周縁部5表面に予め低融点
ガラス6の粉床を塗布してガラス板7を載置させた後、
低融点ガラス6の軟化温度以上に加熱して圧着すること
により行なっていた。
〔背景技術の問題点〕
ところで、前述したパッケージングにおいて、低融点ガ
ラス6をガラス板2の裏面あるいはパッケージ本体3の
開口周縁部5表面に塗布するには一般にシルク印刷によ
シ行なっている。しかしながら、印刷時に低融点ガラス
6の粉床が一ガラス板7の裏面中央付近に飛び散ったシ
、パッケージ本体3の開口部1内のチップ2部分に飛び
散ったシしてその部分で固着する事態が生じる。したが
って、ガラス板7やパッケージ本体3が不良品となシ、
歩留りが悪くなる。また、低融点ガラス6め粉床の飛散
を検査するために検査員を要する。このようなことから
、制品のコスト高を招くという欠点があった。
〔発明の目的〕
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、コスト低減
を達成し得る半導体装置のパッケージング方法を提供す
ることを目的とするものである。
〔発明の概要〕
本発明は、表面の開口部底面に半導体素子をセットした
バッケッジ本体と、このパッケージ−本体の開口周縁に
配置される光入射又は、光放射を行なうための透明板と
の間に、表裏に低融点ガラス材料を塗布しかつ外形が前
記開口部よシ大きい枠状板を配置した後、熱圧着を行な
うことによって、従来の如く低融点ガラスの粉床の飛散
に起因する歩留シの低下を阻止し、コスト低減を達成で
きるものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明を第2図(air、 (b)を参照して説
明する。
捷ず、第2図(、)に示す如く、予め表裏全面に低融点
ガラス1ノの粉床の塗布がなされ外形が後記開口部よシ
大きい枠状のセラミックス板(枠状板)i2を用意し、
つづいて表面の開孔部13底部に例えばCCDイメージ
センサのチップ14を有するパッケージ本体15と、外
形が前記セラミックス板12と同じ大きさの光入射ゞ窒
放射を行なうガラ−板(透明板)、6間に前記セラミッ
クス板12を配置した後、これらを同図(b)に示す如
く順次重ね合わせ、反応炉内で低融点ガラスの軟化温度
以上に熱圧着して封止した。
しかして、本発明によれば、低融点ガラス11の粉床を
予め枠状のセラミックス板12の表裏に塗布するため、
従来の如くパッケージ本体の枠状部やガラス板への低融
点ガラスの塗布に伴って低融点ガラスの粉床がチップ部
分やガラス板の裏面中央付近に飛散、固着することを回
避できる。したがって、パッケージ本体15やガラス板
16の歩留シは100チとなる。咬た、本発明の場合セ
ラミックス板の表裏に低融点ガラスを塗布するが、この
塗布に要するコストは従来の場合と比べ数分の1以下と
なる。更に、前述したようにチップ部分やガラス分への
低融点ガラスの粉床の飛散、固着を回避できるため、従
来の如き検査工程が不要である。以上より、コストの低
減化を達成できる。
なお、上記実施例では透明板の材質としてガラスを用い
たが、これに限らず、サファイアまたけ石英を用いても
よい。
上記実施例では枠状板の拐質としてセラミックスを用い
たが、これに限らず金属を用いてもよい。また、上記実
施例では枠状板の表裏全面に低融点ガラスを塗布したが
、これに限らず、枠に沼って断続的に塗布してもよい。
上記実施例では低融点ガラスの加熱に際し反応炉を用い
たが、とれに限らず例えばレーザ光を照射してもよい。
上記実施例では半導体素子としてCCDイメージセンサ
のチップを用いたが、これに限らず、他の固体イメージ
センサのチップにも同様に適用できる。
〔発明の効果〕
以上詳述した如く本発明によれば、低コスト化を達成し
得るCCDイメージセンサ等の半導体装置のパッケージ
ングの方法を提供できるものである。
【図面の簡単な説明】
□  第1図は従来の固体イメージセンサの断面図、第
m本、1゜実イ例、お、、、6□体イ、−。 センサのパッケージング方法を工程順に示す断面図であ
る。 11・・・低融点ガラス、12・・・枠状のセラミック
ス板、(枠状板)、13・・・開口部、14・・・チッ
プ、15・・・パッケージ本体、16・・・ガラス板(
“透明板)。 第1図 i3   14  15 231−

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)表面の開口部底面に半導体素子をセットしたパッ
    ケージ本体と、このパッケージ本体の開口−周縁に配置
    される光入射又は光放射を行なうための透明板との間に
    、表裏に低融点ガラス材料が塗布されかつ外形が前記開
    口部よシ大きい枠状板を配置した後、熱圧着を行なうこ
    とを特徴とする半導体装置のパッケージング方法。
  2. (2)透明板の材料が石英、サファイアまたはガラスで
    あることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導
    体装置のパッケージング方法。
  3. (3)透明板及びこの透明板に接するパッケージ本体部
    分が、金属もしくはセラミックスからなることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載の半導体装置のパッケー
    ジング方法。
JP58006412A 1983-01-18 1983-01-18 半導体装置のパツケ−ジング方法 Pending JPS59132146A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6413736U (ja) * 1987-07-17 1989-01-24
JPH01277068A (ja) * 1988-04-28 1989-11-07 Toppan Printing Co Ltd 固体撮像装置のウインドグラスの接着方法及びそのための接着治具

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6413736U (ja) * 1987-07-17 1989-01-24
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