JPS5912626Y2 - input multiplexer - Google Patents
input multiplexerInfo
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- JPS5912626Y2 JPS5912626Y2 JP3062978U JP3062978U JPS5912626Y2 JP S5912626 Y2 JPS5912626 Y2 JP S5912626Y2 JP 3062978 U JP3062978 U JP 3062978U JP 3062978 U JP3062978 U JP 3062978U JP S5912626 Y2 JPS5912626 Y2 JP S5912626Y2
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- switch
- block
- switches
- test
- input
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、多点のアナログ信号をコンピュータシステム
にスイッチを介して時分割的に入力する入カマルチプレ
クサにおける、スイッチの短絡故障の検出手段に関する
。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a means for detecting a short-circuit failure of a switch in an input multiplexer that inputs multiple analog signals to a computer system in a time-sharing manner through switches.
第１図は従来の入力マルチプレクサの一例を示す原理構
或図であり、ｌｌ ａ−ｎ，１２ａ−ｎ，・・・・・・
はアナログ信号を入力する入力端子、２１ ａ − ｎ
，２２ａ−ｎ・・・・・・はチャンネルスイッチ、３
１，３２，・・・・・・はブロックスイッチ、４０は出
力端子、５１，５２，・・・・・・はテスト電圧源、６
１，６２，・・・・・・はテストスイッチである。FIG. 1 is a diagram showing the principle structure of an example of a conventional input multiplexer, ll a-n, 12 a-n, . . .
are input terminals for inputting analog signals, 21 a - n
, 22a-n... are channel switches, 3
1, 32, . . . are block switches, 40 is an output terminal, 51, 52, . . . are test voltage sources, 6
1, 62, . . . are test switches.
入力端子１１ ａ〜１１ ｎは１つのブロックに属し、
各入力端子１１ ａ〜１１ ｎは夫々チャンネルスイッ
チ２１ ａ〜２１ ｎを介してブロックスイッチ３１を
接続されている。Input terminals 11 a to 11 n belong to one block,
Each of the input terminals 11 a to 11 n is connected to a block switch 31 via channel switches 21 a to 21 n, respectively.
他のブロックの入力端子１２ ａ〜１２ ｎも同様に夫
々チャンネルスイッチ２２ ３〜２２ ｎを介してブロ
ックスイッチ３２に接続されている。Input terminals 12 a to 12 n of other blocks are similarly connected to the block switch 32 via channel switches 22 3 to 22 n, respectively.
そして各ブロックスイッチ３１，３２，・・・・・・は
出力端子４０に接続されている。Each block switch 31, 32, . . . is connected to an output terminal 40.
また、各ブロックにはチャンネルスイッチ２１ ａ−ｎ
，２２ａ−ｎ，・・・・・・と同レベルにテストスイッ
チ６１，６２，・・・・・・が１個づつ接続されており
、これらテストスイッチ６１，６２，・・・・・・の入
力側にはテスト電圧源５１，５２，・・・・・・が接続
されている。In addition, each block has channel switches 21 a-n
, 22a-n, . . . are connected one by one to the same level as the test switches 61, 62, . Test voltage sources 51, 52, . . . are connected to the input side.
このような各入力端子がチャンネルスイッチとブロック
スイッチとを介して出力端子に接続されているようなツ
リー状に構或された入力マルチプレクサは、チャンネル
スイッチ２１ａ−ｎ，２２ａ〜ｎ，・・・・・・とブロ
ックスイッチ３１，３２，・・・・・・を選択的にＯＮ
に制御することにより多数の入力端子１１ａ−ｎ，ｌ２
ａ−ｎ，・・・・・・の中の１つの入力端子に入力され
るアナログ信号を選択的に１点の出力端子４０に出力す
るもので゛ある。Such an input multiplexer configured in a tree shape in which each input terminal is connected to an output terminal via a channel switch and a block switch includes channel switches 21a-n, 22a-n, . . . . . . and block switches 31, 32, . . . are selectively turned on.
A large number of input terminals 11a-n, l2
An analog signal inputted to one input terminal among a-n, . . . is selectively outputted to one output terminal 40.
このような入力マルチフ゜レクサにおいて、スイッチの
数が多く故障個所の発見に手間取るチャンネルスイッチ
の故障は、ＯＮのままとなる短絡故障とＯＮとならない
開放故障との２つがある。In such an input multiplexer, there are two types of failures in channel switches that have a large number of switches and require time to find the failure location: a short-circuit failure in which the switch remains ON, and an open failure in which it does not remain ON.
開放故障は故障したチャンネル１点のみの故障で済むが
、短絡故障は１点のみでなく１ブロック内に及び影響が
大きい。An open fault causes only one point of the faulty channel to fail, but a short circuit fault affects not only one point but one block and has a large effect.
しかもこの短絡故障は、通常未知のアナログ信号を入力
しているので入力値そのものの解読によって発見するこ
とが出来ない。Furthermore, since an unknown analog signal is normally input, this short-circuit failure cannot be detected by decoding the input value itself.
そこで第１図従来例においては、通常８又は１６又は３
２チャンネルとなっている１ブロック毎にチャンネルス
イッチと同レベルにテストスイッチ６１，６２，・・・
・・・を設け、このテストスイッチ６１，６２，・・・
・・・の入力側にテスト電圧源５１，５２，・・・・・
・を接続していた。Therefore, in the conventional example shown in FIG.
Test switches 61, 62, . . . are placed at the same level as the channel switch for each block of 2 channels.
... are provided, and these test switches 61, 62, ...
Test voltage sources 51, 52, . . . are connected to the input side of .
・It was connected.
そしてテスト時にはチャンネルスイッチを全てＯＦＦに
制御しテストスイッチ６１，６２，・・・・・・をＯＮ
に制御した状態でブロックスイッチ３１，３２，・・・
・・・を順次選択的にＯＮに制御する。Then, during testing, all channel switches are turned OFF and test switches 61, 62, . . . are turned ON.
The block switches 31, 32, . . .
. . . are sequentially and selectively turned ON.
したがって、テスト時は各テスト電圧源５１，５２，・
・・・・・のテスト電圧が入力されることになる。Therefore, during testing, each test voltage source 51, 52, .
... test voltage will be input.
短絡故障が発生していると短絡故障のチャンネルスイッ
チを含むブロックがブロックスイッチ３１，３２，・・
・・・・により選択された時、出力端子４０にはテスト
電圧以外の値が出力されることになる。When a short-circuit fault occurs, the block containing the short-circuit faulty channel switch is switched to block switches 31, 32,...
When selected by ..., a value other than the test voltage will be output to the output terminal 40.
これによりどのブロックに含まれるチャンネルスイッチ
が短絡故障しているか検出出来る。This makes it possible to detect which block has a short-circuited channel switch.
本考案は、この短絡故障の検出手段をより簡単な構威で
得るようにしたものである。The present invention provides a means for detecting this short-circuit fault with a simpler structure.
第２図は本発明による人カマルチプレクサの一実施例を
示す原理構或図であり、５０はテスト電圧源、６０はテ
ストスイッチ、その他第１図と同一符号は第１図と同一
要素である。FIG. 2 is a diagram showing the principle structure of an embodiment of the human multiplexer according to the present invention, in which 50 is a test voltage source, 60 is a test switch, and the same symbols as in FIG. 1 are the same elements as in FIG. 1. .
この回路はブロックスイッチ３１，３２，・・・・・・
と同一レベルにｌ個のテストスイッチ６０を設け、この
テストスイッチ６０の入力側にテスト電圧源５０を接続
したものである。This circuit consists of block switches 31, 32,...
l test switches 60 are provided at the same level as , and a test voltage source 50 is connected to the input side of the test switches 60.
テスト時には、チャンネルスイッチ２１ａ−ｎ，２２ａ
−ｎ，・・・・・・を全てＯＦＦに制御しテストスイッ
チ６０をＯＮに制御した状態でブロックスイッチ３１，
３２，・・・・・・を順次選択的にＯＮに制御する。During testing, channel switches 21a-n, 22a
-n, . . . are all turned OFF and the test switch 60 is turned ON, the block switch 31,
32, . . . are sequentially selectively turned ON.
したがってテスト時はテスト電圧源５０のテスト電圧が
出力端子４０に連続的に出力させることになる。Therefore, during testing, the test voltage from the test voltage source 50 is continuously output to the output terminal 40.
そしてチャンネルスイッチに短絡故障が発生していると
短絡故障のチャンネルスイッチを含むブロックがブロッ
クスイッチ３１，３２，・・・・・・により選択された
時、出力端子４０にはテスト電圧以外の値が出力される
ことになる。When a short-circuit fault occurs in a channel switch, when a block containing the short-circuit faulty channel switch is selected by block switches 31, 32, . . . , the output terminal 40 receives a value other than the test voltage. It will be output.
これによりどのブロックに含まれるチャンネルスイッチ
が短絡故障しているか検出出来る。This makes it possible to detect which block has a short-circuited channel switch.
なお上記実施例においてはチャンネルスイッチ１段とブ
ロックスイッチ１段との計２段のツリー構戊の入カマル
チプレクサに本考案を適用したが、ブロックスイッチが
２段で計３段等のツリー構戒の入カマルチプレクサにも
本考案は適用出来る。In the above embodiment, the present invention was applied to an input multiplexer with a tree structure of two stages, one stage of channel switches and one stage of block switches. The present invention can also be applied to input multiplexers.
この場合も出力端子側に位置する方のブロックスイッチ
と同レベルにテストスイッチを設ければよい。In this case as well, a test switch may be provided at the same level as the block switch located on the output terminal side.
以上本考案によれば、どのブロックでチャンネルスイッ
チが短絡故障しているかの検出を、簡単な構戒で検出出
来る。According to the present invention, it is possible to detect in which block the channel switch is short-circuited with simple precautions.
第１図は従来の入力マルチプレクサの一例を示す原理構
戊図、第２図は本考案による人力マルチプレクサの一実
施例を示す原理構或図である。
１１ａ−ｎ，１２ａ−ｎ，・・・・・・入力端子、２１
ａ−ｎ２２ａ−ｎ，・・・・・・：チャンネルスイッチ
、３１，３２，・・・・・・：フ゛ロツクスイッチ、４
０：出力端子、５０：テスト電圧源、６０：テストスイ
ッチ。FIG. 1 is a diagram showing the principle structure of an example of a conventional input multiplexer, and FIG. 2 is a diagram showing the principle structure of an embodiment of a human-powered multiplexer according to the present invention. 11a-n, 12a-n, ...input terminal, 21
a-n22a-n,...: Channel switch, 31, 32,...: Lock switch, 4
0: Output terminal, 50: Test voltage source, 60: Test switch.
Claims (1)
とブロックスイッチを介して選択して１点の出力端子に
出力するツリー状に構威された入力マルチプレクサにお
いて、上記出力端子側に位置する上記ブロックスイッチ
と同レベルにテストスイッチを設けこのテストスイッチ
の入力側にテスト電圧源を接続し、テスト時上記チャン
ネルスイッチをＯＦＦに制御し上記テストスイッチをＯ
Ｎに制御した状態で上記ブロックスイッチを選択的にＯ
Ｎに制御する操作を行なうことを特徴とする入力マルチ
フ゜レクサ。In an input multiplexer organized in a tree shape that selects analog signals from multiple input terminals via channel switches and block switches and outputs them to one output terminal, the block switch located on the output terminal side is the same as the above block switch. A test switch is provided on the level, and a test voltage source is connected to the input side of this test switch. During testing, the channel switch is controlled to be OFF, and the test switch is turned OFF.
While the block switch is controlled to N, the block switch is selectively turned to O.
An input multi-flexor characterized in that it performs an operation to control N.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3062978U JPS5912626Y2 (en) | 1978-03-10 | 1978-03-10 | input multiplexer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3062978U JPS5912626Y2 (en) | 1978-03-10 | 1978-03-10 | input multiplexer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54135131U JPS54135131U (en) | 1979-09-19 |
| JPS5912626Y2 true JPS5912626Y2 (en) | 1984-04-16 |
Family
ID=28880642
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3062978U Expired JPS5912626Y2 (en) | 1978-03-10 | 1978-03-10 | input multiplexer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5912626Y2 (en) |
-
1978
- 1978-03-10 JP JP3062978U patent/JPS5912626Y2/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54135131U (en) | 1979-09-19 |
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