JPS5910188B2 - 培養基を容れたくぼみを検査する方法および装置 - Google Patents

培養基を容れたくぼみを検査する方法および装置

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JPS5910188B2
JPS5910188B2 JP52039373A JP3937377A JPS5910188B2 JP S5910188 B2 JPS5910188 B2 JP S5910188B2 JP 52039373 A JP52039373 A JP 52039373A JP 3937377 A JP3937377 A JP 3937377A JP S5910188 B2 JPS5910188 B2 JP S5910188B2
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card
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ジヨセフ・ランド−ル・ウイ−グナ−
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McDonnell Douglas Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は一般的には微生物の検知に関し、特に微生物を
含んでいるのではないかと思われる被検体を導入された
カードを読取る方法および機械に関する。
被検体内の微生物の存在を検知するためのある方法が近
時開発されているがこの方法は脱水された、高度に選択
能力を有する培養基を詰込まれたくぼみを有するカード
またはキユベツトを利用している。
臨床の被検体が食塩水溶液に希釈され且つかくして形成
された希釈物が前記カードに導入され、このカードで上
記希釈物がくぼみ内の選択性培養基をと混り合つてこれ
を再水和する。各の培養基は、特定の微生物に対し特定
のものである点で選択能力を有しており、また微生物が
上記再水和培養基内で代謝した場合、該培養基は光学的
変化を受ける。この変化は通常濁り度の増加あるいは色
の変更を特徴とし、また再水和媒体を容れたくぼみを通
して投光し且つ上記くぼみを越えた位置で光の強さを測
定することで検知される。抗生物質を上記培養基と混ぜ
ることで、いずれかの抗生物質が有効であれば、正体を
確認された微生物が存在している培養基が初めの光学的
特性を実質上保持するので、各種の抗生物質に対する、
前記微生物の感受性を決定することができる。選択性の
培養基を容れるくぼみのみでなく、各のカードは認識の
目的のしるしを表面上に設けられている。大部分はアラ
ビア数字の形をなしてい/るこのしるしは前記カードを
通して投光することで機械で読取られることができる。
光のビームの遮断はマークの存在を示す。しばしば異物
の微粒子が前記認識部分において前記カード上に蓄積し
、且つこれ等の微粒子が光をある程度阻止し、したがつ
て、間違つた読みを提供するおそれがある。漂遊マーキ
ングもまた間違つた読みを生ずることになる。カードの
くぼみおよびこれ等のくぼみに通じている詰込み用のみ
ぞは取り巻いている雰囲気から絶縁される。
各のカードには内部から空気を抜くことと、抜かれた空
気を希釈された被検体と置きかえることとにより希釈さ
れた被検体が装入される。通常はわずかな量の空気がカ
ード内に残留するがこの封じ込まれた空気は1つまたは
それ以上のくぼみ内に気泡として蓄積するであろう。だ
が、気泡はオートメ化された読取り装置には不透明に見
え、したがつてなにも存在しない場所に代謝活動を表示
するであろう。また、ある種の微生物は代謝させる際に
ガスを生成するがこのガスで、再水化培養基の光透過特
性に関し迷わす読みを与える気泡が生ずるであろう。ま
た、前記くぼみの端部を覆うテープが、高い温度におい
て前記カードが培養のため温められた際に、凸形状をな
して外方に張出することはめずらしくはなく且つかくな
ることで、光が透過投光される柱体の光学特性が変更さ
れ、それにより他の誤差の原因が提供される。
この張出はその」部が温度増加から生ずる膨張のせいで
ありまた一部がある種の微生物の代謝活動から生じた自
然のガス生成のせいである。いずれにしても、張出ある
いはいわゆるレンジング、は約2ないし3時間の間にわ
たり生じ、しかる後には変歪されたテープがほ〜同じ外
形をなしたまkになる。したがつて、上記期間の開始時
に採られた読みは次に続いた読みと正確には比較される
ことができない。本発明の主な目的の1つは微生物を内
部で培養されるカードを正確に検査するための装置と方
法を提供することである。
他の目的はカードのくぼみ内の気泡を無視し且つ前記く
ぼみ内の脱水された培養基の真の光学特性を反映した読
みを提供する能力を有する前記型式の装置および方法を
提供することである。さらに他の目的はテープのたわみ
に起因したくぼみの光学特性の変歪を補正する装置およ
び方法を提供することである。さらに他の目的はカード
上にマークされたしるしの間違つた読みを生成する異物
の微粒子および漂遊マークのおそれを著しく減する上記
型式の装置と方法を提供することである。上記のおよび
その他の目的および利点は以下において明らかとなろう
。本発明は希釈された被検体により水化された培養基を
含んだのぞきくぼみを有しているカードを支持すること
のできる読取りヘツドを含んだ機械内に具体化されてい
る。第1の発光体が前記のぞきくぼみを通して投光する
ように前記読収りヘツド上に装架され、また複数の第1
の光検知器が前記カードの対向側の表面を越えて前記読
取りヘツド上に装架され、またこれ等の検知器は前記発
光体により照明されるように前記発光体と整列される。
本発明はまたのぞきくぼみを貫通して投光する段階と、
各の位置における光の強さを決定するため複数の位置に
おいて前記くぼみを通り抜ける光を検知する段階とを含
んだ方法内に具体化される。本発明はまた部分と、以下
に述べられ且つ特許請求の範囲に記載された部分の配列
および組合わせにある。以下添付図面について本発明を
詳細に説明する。
添付図面において、病源菌分析機A(第1図)が、有害
な微生物を含んでいると思われる被検体を導入されてい
る、キユーベツトまたはカードCを検査する。カードC
は希釈された被検体により再水和される、乾燥された、
選択能力を有する培養基を含んでいる。培養基の1つが
選択能力を有している微生物を前記被検体が含んでいる
ならば、上記微生物が培養中上記培養基内で代謝させて
いる際に特定の再水和培養基の光学特性が変わるであろ
う。機械Aは再水化された培養基を通して投光すること
により再水和された培養基の光透過特性の変化を検知す
る。さらにその上に、読取り機AはカードC土にマーク
されたしるしを検知し且つアラビア記号として書かれた
10個の基本的主要数字を識別することが可能である。
これ等の読みはまたカードCを通して投光することで達
成される。機械AはホールダHと抽出ユニツトE(第5
図)とを含み、また上記抽出ユニツトはカード読取りユ
ニツトRを備えているが上記読取りユニツトRはカード
C上のしるしを読取り且つ再水和された培養基をその光
透過特性の変化に関して検査する。ホールダHはカード
Cの辺縁を整合させて複数のカードCを1列に支持する
。上記1列の中の全てのカードCは同じ向きを有してい
る。抽出ユニツトEは1列の中からカードCを個々に抜
き出し且つ各のカードCは抜き出される際に読取りユニ
ツトRにより検査される。事実、各の再水和された培養
基は別個に且つ周期的間隔で検査される。機械Aはコン
ピユータKにより制御され且つ読取りユニツトRから得
られた上記培養基としるしの読みとは上記コンピユータ
に送くられる。コンピユータKは、特定のカードCの特
定の再水和された培養基から得られた周期的読みが順次
連続して系統立てられるように各種の培養基としるしの
読みとを相関する。かくすることで、特定の再水和され
た培養基の光透過特性の変化が生じたかどうかを決定す
ることが可能にされる。2つの一般的型式のカードが分
析機Aにより取扱われる。
その1つは認識カードCi(第2図)でありまた他の1
つは抗生物質感受性カードCs(第2A図)である。上
記認識カードCiはカード内に導入される被検体内の微
生物を認識するのに使用され、また感受性カードCsは
カードCiで確認された微生物に対する抗生物質の効果
を確かめるのに使用される。両方のカードCiおよびC
sは同一の外形を有し、したがつて大部分に関しては単
にカードCとして述べられる。カードCの主な構成部品
は矩形状の外形を有する透明なプラスチツク板2(第2
図および第3図)である。
できれば、板2は長さが91.2u1で幅が56.9m
mで、厚さが3.2mmであることが好ましい。前方辺
縁の1つに沿つて板2は2つの外方に開口した位置決め
用切欠き4を設けられ、また各の側辺縁に沿つて掴持用
みぞ孔6を設けられている。みぞ孔6は、切欠き4が開
口している前方辺縁にきわめて密接して位置決めされて
いる。前記側辺縁の1つに沿い、板2は上記側辺縁にて
板2に段形状を与える切口8を設けられている。他方の
側辺縁には、エラストマ製の隔壁12をきつく嵌挿され
ている1対の充填孔腔10のみでなく外方に開口した浅
い保持用切欠き9を有している。次で各の孔腔10は別
個な受け容れ室14内へ通じ、またこれ等の室は板2上
の2つの主表面区域の中の上方のものから外方に開口し
ている。さらにまた板2は複数ののぞきくぼみ16を設
けられているがこれ等は板12を完全に貫通している円
形開口である。
各のくぼみ16は多少円錐形をなし且つ板2の下方表面
におけるよりも上方表面においてより大きい横断面積を
有している。くぼみ16は横断方向に延びた、すなわち
、前後の辺縁に平行である4本の列をなして配列されて
いる。各のくぼみ16は前方辺縁に向け放射状に延びた
1対の溢流チヤンネル18を有し、またこれ等のチャン
ネルは同様に板2を完全に貫通して延びている。最初の
3列は、板2の上表面から開口している狭く浅いみぞで
ある充填チヤンネル20により第1の受け入れ室14に
接続されている。チヤンネル20は第1の受け入れ室1
4を越えてわずかな距離を分岐し、しかる後に、別個な
分岐路が各のくぼみ16内へ通じるように再び分岐して
いる。かくすることで、上記の最初の3列のくぼみ16
が相互に絶縁される。最後の列のくぼみ16はさらに多
い充填チャンネル22を介して第2の受け入れ室14に
接続され、また上記チヤンネル22は同様に板2の上表
面から開口し且つ該列の数個のくぼみ16を相互に絶縁
するように配列されている。切口8に隣接して板2はそ
の下面に認識部分24を備えているが上記認識部分はプ
ロツク形のアラビア数字の8に似たきわめて浅いへこみ
である。
したがつて部分24は互いに平行な頂部の檄中間の棒お
よび底部の棒と、これ等の頂部、中間および底部の棒の
端部を連結している4本の側棒とから成つている。部分
24は前記棒の中の任意の1つ上に置かれたインクのマ
ークが一様に容易に付着するように点彩される。部分2
4は10個の基本数字の中の任意のものがマークされる
輪郭を提供する。部分24の前方に、1つまたはそれ以
上のコード部分26が板2に取付けられている。これ等
のコード部分は部分24の上方または下方の側棒あるい
は部分24の頂部、中間または底部の棒と整列する不透
明マークである。コード部分26は特定のカードCが設
計されているテストの種類を確認するのに利用される。
認識カードCiの場合には、1つの位置におけるコード
部分26は特定のカードCiが尿被検体に対し分析を行
うためのものであることを表示し、また他の位置におけ
るコード部分26はカードCiが咽喉被検体のためのも
のであることを表示することができる。コード部分26
の前方に設けられた1連の患者認識部分28はカードC
の側端縁に平行な1列をなして配列されている。各の部
分28はブロツク数字の8に似ている。部分24,26
および28は切口8に平行な1列をなして横置する。大
部分の且つある場合において全てののぞきくノぼみ16
は脱水された培養基を含み、またこれ等の媒体は、該培
養基が特効のある特定の微生物を培養している場合のみ
、再水和された場合にくぼみ16の光学的特性を変える
という意味で、選択的である。
たとえば、1つのくぼみ16はシユードモナスアエルギ
ノーザに特効的である培養基を容れ、他のくぼみ16は
スタフイロコツカスアウレウスに特効的である培養基を
容れることができる。光学的特性の変化は通常、濁り度
の増大あるいは色彩の変化の結果である。制御の目的で
一部のくぼみ16が空のまkにされてもよい。板2の各
の主表面区域は透明テープ30で覆われるが上記テープ
は十分に幅が広く且つ十分に長くて、くぼみ16の端部
および溢流チャンネル18の端部を完全に覆つて延びて
これ等の端部を閉じている。
さらにまた前記上表面区域上のテープは受け入れ室14
および充填チヤンネル20と22を覆つて延びてこれ等
を閉じている。かくしてテープ30は切口12とともに
受け入れ室14と、くぼみ16と、溢流チャンネル18
と、充填チャンネル20および22とを周りの雰囲気か
ら絶縁し且つくぼみ16内への汚染物の進入を防止する
。テープ30は、空気をくぼみ16へ導入する点でわず
かに通気性であるが、上記通気性は水もあるいは微生物
もくぼみ16から逸出できないような通気性である。さ
らにその上に、テープ30は、くぼみ16の内部が少く
とも711.211Hgの真空を加えられ且つその状態
に少くとも3分間保持されるのを許す程に緩徐に空気を
導入する。3M社により市販されているFEP543O
テープがテープ30として適当である。
カードCは装入装置L(第4図)内の希釈された被検体
を装入されるがこの装入装置は平たいベース32と、互
いに平行をなして上記ベースから上向きに突出した短い
チユーブ34および長いチユーブ36と、ベース32と
短いチユーブ34との間に介在された1対の平行案内ウ
エブ38とを含んでいる。
上記ウエブ38の相互間の間隔はカードCの厚さよりわ
ずかに大きく、かくしてカードCが両者の間に嵌合され
るようになつている。チユーブ34および36は中空の
針40および42を有しているがこれ等の中空の針は上
記チユープの下端部から両ウエブ36の相互間の隙間内
へ半径方向に突出している。針40と42との間の間隔
は板2に設けられている孔腔10の相互間の間隔に等し
くまた下方の針42とベース32との間の距離はカード
C上の後端縁と後部充填孔腔10との間の距離に等しい
。したがつて、カードCがその後縁をベース32上に載
せ且つ孔腔10をチユーブ34および36に向けられて
ウエブ36の相互間に挿入された場合、針40と42と
は切口12と整列するであろう。カードCを装入装置L
と結合するため、針40および42が切口12を通して
突出されるまで、カードCがチユーブ34に向けて進め
られる。かくすることで、チユープ34および36の内
部とカードCの内部とが互いに連通される。各のチユー
ブ34および36の上端部は開口し、且つフイルタとし
て役立つ綿46の詰め物を含んだ取外し自在な円筒44
を取付けられている。被検体は0.5%の食塩水(Na
cl)で希釈され且つかくして形成された希釈物が短い
チユーブ34内に容れられる。
既知の容積の純食塩水溶液が長い方のチユーブ36に容
れられ、しかる後に、既の量の希釈物がピベツトにより
短いチユーブ34から抜き取られて長いチユーブ36内
へ容れられ、かくしてさらに希釈される。しかる後に、
円筒体44がチユーブ34および36上に取付けられ且
つ装入装置LとカードCとが真空室に容れられ、この真
空室で圧力が約711.2mmHgまで減ぜられる。か
くすることで、くぼみ16、溢流チヤンネル18、充填
チャンネル20および22、受け入れ室14内の空気が
針40および42を通つてカードCから出されてチユー
プ34および36内の希釈物を通つてあわになつて出さ
れる。真空は約3分間保持され、しかる後に真空が解放
され、正常な大気圧力を前記希釈物の上表面に存在させ
る。かくすることで、上記希釈物は針40および42を
通つてカードCの受け入れ室14に押し込められる。上
記希釈物は充填チャンネル20および22を通してくぼ
み16に流れ続け、上記くぼみにおいてくぼみ16内の
選択性の培養基と混合して再水化する。閉じ込められた
空気は溢流チヤンネル18へ移動するが、上記チャンネ
ルはカードCが装入される場合に上方に向けられている
。感受性カードCBは、くぼみ16の数が少ないことと
、充填チャンネルの配列が多少異なつていノることとを
除いて、認識カードCiにきわめて類似している。
さらにその上に、全ての充填チャンネルは単一の受け入
れ室14と隔壁12へ通じていて、カードCsがたK1
つのチユーブ34と1つの針40のみを有している装入
装置で充満されるようになつている。カードCsがカー
ドCiよりも少ないくぼみ16を有しているが、存在し
ているくぼみ16はカードCiのくぼみ16と全く同じ
である位置を占有する。換言すれば、感受性カードCs
が認識カードCiをおXつて配置された場合、両方のカ
ードのくぼみ16は整合するであろう。また感受性カー
ドCsのくぼみ16内の選択性媒体は抗生物質を含んで
いる。とう然ながら、カードCsのコード部分26はカ
ードCsが抗生物質の感受性テストのためのものである
ことを表示するのみでなく、感受性テストが予定されて
いる微生物の種類を表示するように異つた配列にされて
いる。各種の抗生物質と混合された場合、認識カードC
i内に使用するのに適した培養基は感受性カードCs内
に使用するのに適している。
ホールダHは、カードCの主表面区域を平行に且つ互い
に離隔しまた位置決め用切欠き4と掴持用みぞ孔6を外
方に向けてカードCを1重ねをなして支持する。
1重ねのカードCは抽出ユニツトEに対向して位置決め
される。
ホールダユニツトHは回転自在な回転台48(第5図)
と、上記回転台48上のトレイ50とを含んでいる。
トレイ50はカードCを保持し、また回転台48はトレ
イ50を保持し且つ抽出ユニツトEに対向した読取り位
置へ上記トレイを回転する。各のトレイ50(第1図、
第5図および第11図)は空洞54を取囲む前方フラン
ジ52を有している。空洞54の背面は開口していて、
加熱された空気が空洞54を通して循環できるようにさ
れている。複数のカード受領みぞ孔58を画定するひれ
56(第11図)が空洞54内へ側面から突出している
。これ等のみぞ孔58はカードCを受け入れる大きさに
され且つカードCがみぞ孔58内にある場合、カードC
の主表面区域が互いに平行である。また、互いに隣接し
たカードCの主表面区域は互いにわずかに離隔されてい
る。各のみぞ孔58内へ挿入されたカードCの切口8に
嵌り込む形状にされたキー60(第5図)が各のみぞ孔
58の左側に沿つて配備されている。キー60はカード
Cが1つの向きでのみ、すなわち、認識部分24,26
および28を下方に向け且つ位置決め用切欠き4および
掴持用みぞ孔6を前方フランジ52を越えて外方に突出
させて、みぞ孔58内に挿入されるのを可能にする。端
部にニブを有する弾力性保持突片が各のみぞ孔58の側
面に配備され、且つカードCが完全に挿入された場合に
上記ニブがみぞ孔58内のカードCのための保持用切欠
き9に嵌り込む。ホールダHはさらにヒーターとフアン
ユニツト64を配備され、それにより加熱された空気が
回転台48に導入され、次で上記回転台からトレイ50
内の空洞54の後部へ吐出されるようにされている。
この空気はカードCの相互間の隙間を通つて流れ、且つ
その際にカードCの主表面区域に沿つて流れる。上記の
加熱された空気はカードC内に確立する培養を行うのに
適した温度にカードCを維持する。抽出ユニツトEは読
取り位置にあるトレイ50からカードCを1枚1枚抜き
取り、次で、くぼみ16と認識部分24,26および2
8が読取り構体Rによりのぞかれるように、上記カード
Cを再挿入する。
認識部分24,26および28はカードCが抜取られる
際に観察され、またくぼみ16はカードCが再挿入され
る際に精査される。抽出ユニツトEは不動のものである
主フレーム68(第5図)と、読取り位置にあるホール
ダHのトレイ50内の1重ねのカードCに平行にフレー
ム70上を上下に運動する読取りヘツド70とを含んで
いる。この運動はヘツド70上のナツト76にねじ山で
係合している垂直の駆動ねじ74を回転する直流ステツ
ピングモーター72から得られる。ヘツド70(第6図
)は水平滑り棒80(第9図)を有する主本体またはプ
ロツク78を含んでいる。
これ等の棒80はホールダHに設けられたみぞ孔58に
平行に延び且つ工キズトラクタスライド82(第7図、
第9図および第10図)と、ロケータスライド84とを
支持している。両方のスライドは棒80の方向に運動す
る。さらにまたロケータスライド84はさらにまた工キ
ズトラクタスライド82に対して棒80に平行な方向に
運動することができる。スライド82と84とを互いに
押し離すコイル型圧縮ばね85(第9図)が2つのスラ
イド82と84との間に介在されているが、ロケータス
ライド84は該スライドが工キズトラクタスライド82
から離隔する距離を制限するストツプを有している。ス
ライド82および84は2本の棒80の相互間に位置決
めされた水平の駆動ねじ88を回転する他の直流ステツ
ピングモータ一86により棒80に沿つて動かされる。
上記ねじは工キズトラクタスライド82内のナツト90
にねじ山で係合している。工キズトラクタスライド82
は上方且つ前方に突出した2本の腕92(第7図および
第10図)を有し、またこれ等の腕はそれぞれの端部に
掴持用のつめ94を取付けられている。
掴持用つめ94の大きさとつめ相互間の間隔とは、カー
ドCの上方から降下された場合のつめ94がカードC(
第10図)の掴持用みぞ孔6に嵌り込むように定められ
ている。ロケータスライド84は位置決め用の板96を
ボルトで取付けられ、またこの板は読取りヘツド70上
の主プロツク78の頂部表面を覆つて位置決めされてい
る。位置決め板96は2つの前方に突出した位置決め用
フロック98を有しているが上記フロックは掴持用つめ
94と同じ高さにあり且つカードC内の位置決め用切欠
き4と整列する。ばね85は位置決め用フロック98を
掴持用つめ94に向けて押し付けるように位置決めされ
ている。だが、工キズトラクタスライド82が最前方の
位置すなわち、掴持用つめ94がカードC(第7図、第
9図および第10図)内を掴持用みぞ孔6にある位置に
ある場合、ロケータスライド84は主プロツク78上の
制限表面に押し当るであろう。スライド84が上記のご
とく配置された場合、板94の位置決め用フロック98
はカードC(第10図)上の位置決め用切欠き4内へ完
全に突出することは不可能である。換言すれば、フロッ
ク98は切欠き4かられずかに後退される。ヘツド70
が垂直モーター72で降下されて掴持用つめ94をカー
ドCの掴持用みぞ孔6に持込み、且つしかる後に水平モ
ーター86が付勢されて工キズトラクタスライド82を
引込ませた後には、つめ94がカードCを外方に引張り
且つ切欠き4をロケータスライド84のフロック98と
係合させる。
この点において、フロック98は切欠き4の基底部に底
をつけ、またロケータスライド84はカードCを介して
伝達される駆動力で工キズトラクタスライド82により
後方へ駆動されるであろう。かくしてロケータスライド
84は工キズトラクタスライド82(第11図)と一斉
に運動し且つそうしている際にカードCの前部に作用す
る一定の力を維持する。上記力はばね85により加えら
れる。上記ばね力はカードCを読み取りヘツド70に関
して予定の向きに維持する。読取りヘツド70の主プロ
ツク78は2つの制御棒100および102(第8図お
よび第9図)をスライド82および84より下方で該プ
ロツクに取付けられている。
これ等の棒は切欠き104(第6図および第7図)を前
記棒の上方辺縁に沿つて設けられている。棒100の順
次連続した切欠き104の相互間の間隔はカードC上の
順次連続した認識部分24,26および28の相互間の
間隔に等しく、また棒100の切欠き104の相互間の
間隔はカードC内のくぼみ16の列の相互間の間隔に等
しい。制御棒100は2またの光学的スイツチ106(
第7図および第8図)により監視されるが上記2またス
イツチはロケータスライド84上にあつて、モーター8
6が工キズトラクタスライド82をホールダHから離隔
する際に、すなわち工キズトラクタスライド82がカー
ドCを抽出する場合にモーター86を制御する。2また
スイツチ106の一方の歯は棒100の一方の側に向け
られた発光ダイオードを担持し、また他方の歯は棒10
0の反対側に位置決めされて、上記発光ダイオードに向
けられたホトトランジスタを担持している。
通常は、上記ダイオードとトランジスタとは棒100の
不透明部分に面しているがスイツチ106が動いた場合
、切欠き104の1つが上記ダイオードとトランジスタ
との間に介在するようになり、その時に、上記ダイオー
ドが前記トランジスタを照明し、かくして信号が生成さ
れるであろう。この信号はコンピユータKに導かれ、こ
のコンピユータKが水平モーター86を瞬間的に停止す
る。制御棒102は同様にロケータスライド84上に装
架されている他の光学的スイツチ108(第6図および
第8図)により同様に監視され、また上記スイツチはモ
ーター86がホールダHに向けて工キズトラクタスライ
ド82を戻す際に上記モーター86を制御する。かくし
て、スィツチ108が棒102に設けられている切欠き
104に達するたびごとに、上記スイツチはコンピユー
タ一Kに信号を送り、このコンピユータ一Kはモーター
86を短い持続時間の間停止する。工キズトラクタスラ
イド82は通常スイツチ108を越えたところに位置決
めされているストツプタブ110(第6図)を担持して
いる。
だがカードCが完全挿入位置に接近すると、ロケータス
ライド84とこのスライド上のスイツチ108とは休止
するようになるが工キズトラクタスライド82は、スト
ツブタブ110が前記スイツチ108のダイオードとホ
トトランジスタとの間へ移動して光のビームを遮切るま
で前進し続け、上記光のビームの遡新時に信号がコンピ
ユータKに送くられ、コンピユータKがそれに応じてモ
ーター86と、このモーターにより駆動されている工キ
ズトラクタスライド82とを停止する。主プロツク78
の頂部表面はその大部分が平坦であり、またカードCは
、ホールダHから抜き取られ、しかる後に上記ホールダ
内へ再挿入される際に、この平坦表面(第11図)上を
直接通り越す。
プロツク78はプロツクの前方端壁に隣接して前記平坦
表面から開口した凹所112(第10図)を含んでいる
。読取りユニツトRは読取りヘツド70(第7図および
第10図)により担持され且つホールダHから抜取られ
る際のカードCの各の瞬間休止で互いに異なる認識部分
24,26および28を検査する。
この点に関し、制御棒100とスイツチ106とはカー
ドの抜取りを制御し、またスイツチ106が棒100内
の切欠き104に出会うたびごとに上記抜取りが瞬間的
に休止する。同様に読取りユニツトRはくぼみ16を検
査するがこのことはホールダH内へのカードCの再挿入
の間の各の瞬間的休止ごとに生ずる。光学的スイツチ1
08が制御棒102内の切欠き104に出会うたびごと
にこれ等の瞬間的休止が生ずるがかくすることで、1列
ごとのベースでくぼみ16の検査を進行させることがで
きる。読取りユニツトRは読取りヘツド70上の主プロ
ツク78の凹所112に嵌り込む誘電体の板116と、
保護カバーガラス118(第14図および第15図)と
含んでいる。
上記ガラス118の上表面はプロツク78の平坦な頂部
表面のわずか下方に横置している。板116は7個のデ
ジツトエミツタ120(第12図)を含んでいるがこれ
等のエミツタはエミツタにより発出された光を上方へ導
くように向けられた発光ダイオードである。このように
形成されたアレイは、カードC上の認識部分24,26
および28が、カードCがプロツク78上を通り越す際
に、上記アレイ上を通り越すように位置決めされている
。実際に、カードCの抜取り中のカードC各の瞬間的休
止ごとに、異なつた認識部分24,26、または28が
デジツトエミツタ120のアレイの直ぐ上方に位置決め
されるであろう。かくして、デジツトエミツタ120は
誘電体118の片側に位置決めされた比較的に小さい区
域を占有する。さらにその上に、上記位置決めは、認識
部分24および28の中の任意の1つがエミツタ120
のアレイの直ぐ上方にある場合に、すなわち、抜取り中
の瞬間的休止が生ずる位置において、部分24または2
8の各の棒が異なつたエミツタ120の上方に位置決め
されるように、定められている。表面上に不透明インキ
のマークを有している部分の任意の棒が下方のエミツタ
120をさえ切りかくしてマークを有しない棒にあるエ
ミツタ120のみがカードC上方に見られるようにされ
ている。コード部分26は8の字アレイの頂部、中部、
または底部エミツタ120と、あるいは上記8の字アレ
イの側面に沿つて位置決めされ4個のエミツタ120と
整列する。かくして、カードCが最初のコード部分26
で休止するようになると、部分26の下方に位置決めさ
れたエミツタ120のみがおXいかくされるであろう。
カードCが次のコード部分26をエミツタ120のアレ
イ上になして停止した際にも同じことが云える。デジツ
トエミツタ120の他に、誘電体板116は5個のくぼ
みエミツタ122(第12図)を含んでいるがこれ等の
くぼみエミツタは板116を横切つて1列をなして配列
され且つ上記エミツタにより発出される光が上向きに投
光されるように同様に配向されている。
上記の列はカードCが板116上を移動される方向の横
断方向に延び且つくぼみエミツタ122の相互間の間隔
はカードC内の1列のくぼみ16の個々のくぼみ16の
相互間の間隔に等しい。さらにその上、制御棒102内
の切欠き104に関するエミツタ122の位置はくぼみ
16の1列がくぼみエミツタ122の列の直ぐ上方にな
るたびごとに棒102がカードCを瞬間的に休止させる
。このことが生じた場合に、くぼみエミツタ122は上
記の列のくぼみ16を通して光を投光するが通過する光
の量は多くの例においてくぼみ16内の代謝作用の測度
である。エミツタ120および122は660X10−
9メートルの波長を有する光を発出すべきである。読取
りユニツトRはまた他の誘電体の板124(第6図、第
8図、および第11図)を含んでいる。
この誘電体の板は凹所112を覆つて横置し、またプロ
ツク78の平坦な頂部表面と板124の下面との間の間
隔はカードCの厚さよりわずかに大きく、かくしてホー
ルダHから抜取られたカードCが2枚の誘電体の板11
6と124との間を通り抜けることができるようにされ
ている。誘電体の板124は、上方へ旋動されて凹所1
22およびこの凹所内の板116を露出できるように、
凹所112の後部に位置決めされたヒンジピン126で
主プロツク78に取付けられている。板124が下方位
置あるいは作動位置にある場合、板116を覆つて板1
24を正確に位置決めするように位置決めピン128が
板124を貫通してプロツク78内に嵌入している。板
124は主プロツク76の両側に取付けられているオー
バーセンタークランプ130(第6図)により下方位置
に固定されている。上方の誘電体板124は下方の誘電
体板116のためのカバーガラス118と直接的に対向
して下方に提供されたカバーガラス132(第14図お
よび第15図)を含んでいる。
また2つのカバーガラス118と132との間の間隔は
カードCの厚さよりわずかに大きくされて、両者の間を
1枚のカードCが通過できるようにされている。誘電体
板124は7個のデジツトセンサ134(第13図)と
、光を検知することのできる5個のくぼみセンサ136
とを取付けられ、またこれ等のセンサはコンピユータK
と接続され且つこれ等のセンサ上に入射した光の量に対
応した信号を提供する。デジツトセンサ134はデジツ
トエミツタ120に対向して位置決めされている。すな
わち、各のデジツトセンサ134は互いに異なるデジツ
トエミツタ120に対向して位置決めされて該エミツタ
により照明される。したがつて、デジツトセンサ134
もまたアラビア数字の8の模様をなして配列されている
。くぼみセンサ136は、各のセンサが互いに異なるエ
ミツタ122に対向して位置決めされて該エミツタによ
り照明されるように、くぼみエミツタ122と整列され
ている。したがつて、くぼみセンサ136はカードCが
プロツク78を越えて移動される方向の横断方向に延び
た1列をなして配列されている。デジツトセンサ134
の前方にあるカバーガラス132の部分は不透明の反射
性被覆137(第14図)を備えているが、センサ13
4に対向して透明区域が存在するようにこの被覆は窓1
37aを有している。背後のセンサ134とほ〜同じ大
きさど形状と有している別個な窓137aが各のセンサ
134に対向して存在している。反射性被覆137とそ
の窓137aは各のデジツトエミツタ120の光を対応
したデジツトセンサ134に制限する。かくして、1つ
のデジツトエミツタ120からの光は、たとえセンサ1
34が互いにきわめて接近して位置決めされているとし
ても、隣接のエミツタ120のためのセンサ134を照
明しないであろう。各のデジツトセンサ134は複数の
光検知器138(第14図)から成つているがこれ等の
検知器は、一部の検知器が対応したエミツタ120によ
り投光されたビームの光学的軸線からはみ出されるよう
に1列をなして配列されている。
さらにその上に、各列の向きは下方を通つている(第1
3図)認識部分24,26、または28上の棒の向きに
対応している。たとえば、認識部分24および20の頂
部、中部および底部の棒上に横置しているデジツトセン
サ136のための検知器138の夕1鯰カードCがプロ
ツク78を越えて移動される方向に平行に延びているが
認識部分24および28の側棒上に横置しているデジツ
トセンサ138のための検知器の列はカードCの運動方
向に垂直に延びている。できれば各のデジツトセンサ1
34は3個の検知器138(第14図)の1列から成り
、また各の検知器136は別個なホトトランジスタ、す
なわち、光に敏感で、入射した光の強さに比例した信号
を提供するトランジスタであつてもよい。検知器138
の配列は、任意のセンサ134の検知器138が該セン
サ134に対応したエミツタ120によりてのみ、且つ
カードCの認識部分の1つ24,26または28上の棒
によりおXいかくされない場合のみ照明されるように配
列されている。たとえば、数字の3が不透明のインキで
カードCの認識部分24に書き込まれた場合、頂部、中
部および底部のデジツトセンサ134の検知器138と
、前記アレイの片側に沿つた2つのセンサ134の検知
器138と&ζカードCが認識部分24をデジツトエミ
ツタ120のアレイとデジツトセンサ134との間にな
して位置決めされた場合、それぞれの対応したエミツタ
120からおXいかくされるであろう。カバーガラス1
32上の不透明の反射性被覆137aは1つのエミツタ
からの光がその他のエミツタ120と整列しているセン
サ134上に入射するのを防止する。7個のデジツトセ
ンサ134の各の検知器138はコンピユータKに別個
な読みを提供する。
コンピユータKは、3個の検知器の中の2つが、検査さ
れている認識部分24,26または28の特定の棒が透
明である、すなわち不透明のマークを有していないと考
えられる前に、所定の限界値を横切らねばならないよう
にプログラムされている。かくして、認識部分24,2
6または28の棒の1つ内の漂遊マークあるいはほこり
dの斑点はその他の2つの棒ではなく上記棒のためのセ
ンサ134の検知器138の1つをおXいかくすことが
できまたその他の2つは限界値を横切る信号を提供して
、この特定の棒がマークされていないことを表示する。
このことは、ほこりの斑点あるいは漂遊マークが検知器
から得られた全信号を低下して限界値以下にしかくして
間違つた読みを提供する、単一のエミツタ120により
照明される単一の検知器138とよい対照をなしている
。各のデジツトエミツタ120ごとの多数の検知器13
8の使用はボーテイング技法と呼ばれる。このボーテイ
ング技法は、各のセンサ136がこのセンサ136のた
めのエミツタ122上に集中される複数の検知器140
から成つているので、対応したくぼみエミツタ122お
よびくぼみセンサ136と関連して同様に使用されてい
る。できれば各のセンサ136内に4個の検知器140
が使用され、且つこれ等の検知器が板124の下のカー
ドCのための運動方向の横断方向に延びた共通軸線に沿
い複数の列をなして配列されることが好ましい。したが
つて、1つのセンサのための全ての検知器140は対応
したエミツタ122により投光された光のビームの光学
的軸線からはみ出されている。くぼみセンサ136個々
の検知器140はコンピユータKに接続され且つ照明さ
れた場合にこれ等の検知器に入射した光に比例した信号
をコンピユータKに提供する。とうぜんながら上記光は
くぼみエミツタ122により発出され、且つその強さは
カードC内のくぼみ16を通過する際に減ぜられる。く
ぼみセンサ136の検知器140に関しては、コンピユ
ータKは初校正値からの光の透過のパーセンテツジ減小
を求める。
くぼみ16のための培養基が特効的である微生物をくぼ
み16が含んでいると考えられるに先立つて全ての4つ
の検知器140が横切り越えねばならない限界値が確立
される。この限界値が到達される前に、光の透過の最低
減少を提供する検知器140から得られた読みが記録さ
れ且つその特定の時期におけるくぼみ16のための読み
と考えられる。上記のボーテイング技法によれば、気泡
b(第15図)がくぼみ16内に生じていても、読み取
りユニツトRがそのくぼみ16の重要な観察を提供する
のを可能にされる。
これに関し、実際的な観点から真空装入中にカードCか
ら全ての空気を排出することは不可能であるので気泡が
少くとも一部のくぼみ16内に生成することは異常では
ない。封じ込められた空気の大部分は溢流チヤンネル1
8内に残留している間に、一部の空気がくぼみ16内へ
移動して内部に気泡を生成する。さらにその上に、微生
物の中のあるものは代謝させる際にガスを生成し、かく
して他の気泡発生源となつている。上記気泡bは不透明
に見え、したがつて、上記気泡bによりおXいかくされ
ている検知器140は光の透過率のきわめて高い減小を
記録せしめられる。だが、これ等の気泡が内部に位置し
ているくぼみ16の幅全体を占有しない。したがつて、
上記くぼみを広くしらべる必要があり、このことが全く
ボーテイング技法が達成していることである。上記の性
質の検査は約1時間以上であるべきでノはない周期的間
隔で各のくぼみ16に対して行われる。
くぼみ16に導入された被検体がくぼみ16の培養基が
特効的である微生物を含んでいると仮定して、くぼみ1
6の光透過特性がなんらかの変化を生ずるのに通常約3
時間が必要とされる。したがつて、くぼみ16を監視す
るくぼみセンサ136の検知器140から得られる読み
は実質上一定の光透過を示し、校正値からの光の透過の
減小は限界値以下である。多くの例において、いわゆる
レンジングに起因して、実状はそのとおりではない。レ
ンジングはくぼみ16(第15図)の端部において凸形
状に外方に張出するテープ30の傾向により引き起され
る変歪誤差である。
これは主として、培養中の温度上昇によりカード内に引
き起された液体またはガスの膨張の結果である。くぼみ
16における凸形変歪はくぼみ16のためのエミツタ1
22からの光をその他の場合よりもより多く対応したく
ぼみセンサ136の検知器140上に集中する傾向を有
している。レンジング(レンズ作用)は通常は微生物が
培養基に対し主効果を有する前である最初の2ないし3
時間の間に自ら確立する傾向を有し、その後にはレンジ
ング誤差が実質上一定(第16図)のまXである。かく
して、最初の数個の読みの間、検知器140は光の透過
の増大を記録することができる。微生物が一度び再水和
された培養基に対し効果を有し始めると、光の透過の減
小が生じ始め且つ上記減小をレンジングから生じた増大
値で開始させて進行する。コンピユータKは初めの読み
で生ずる光の透過の増加を記録し、且つこの増加(第1
6図)を補償するように全ての次の読みを調節する、す
なわち、引続いての読みが初めの値からの真の変化を反
映して、歪まされた値からの変化を反映しないように引
続いての読みを調節する。
たとえば、くぼみ検知器140が初めにゼロで記録され
且つ最初の3つの読みがそれぞれ初めの読みから5%、
10%および10%の増加を示した場合、上記レンジン
グにより引き起される変歪が10%であることは明らか
である。第4の読みが前記初めの値から9%減であると
すれば、このことは真の減小が19%(10%+9%)
であることを意味する。コンピユータKは自動的に調節
をなし且つ光の透?? ― 硼 過の真の減小が記録される。
読み取られる各のくぼみ16に関しては、コンピユータ
Kはその記憶バンク内に次の情報を有していなければな
らない。
(1)カード上のくぼみの位置。
(2)カードの患者番号。
(3)カードのため使用された場合検知器140のため
の初めの値。
(4)特定のカード内のくぼみ16の限界値。
(5)レンジングにより引き起される誤差。(6)特定
の検査の時間。作動 考案されるべき被検体の希釈物が装入装置L(第4図)
により適当なカードCに真空装入されるがこの装入中に
上記希釈物は受け入れ室14および充填チヤンネル20
と22を通つてくぼみ16へ流れ、このくぼみ16内で
既に内部にある培養基と混合してこれを再水和する。
捕えられている空気は装入作動中上方に向けられる溢流
チヤンネル18内に集積する。カードCが装入される時
に、患者認識番号が不透明インキを付着することのでき
るマーカーで部分28の適当な棒をマークすることでカ
ードC上に記載される。このマーキングがカードCの底
面に対し行われ、したがつてカードCが裏返えされた場
合に読むことができる。上記数字は部分28の形状のた
めプロツク形で現われる。単一の認識部分24は同一患
者の数枚のカードの判別のため同様にマークされること
ができる。コード部分26はカードCの装入時には既に
カードC上に取付けられている。部分26はこの特定の
カードCが設計されているテストの種類を表示する。カ
ードCが装入され且つマークされた後に、該カードがみ
ぞ孔58(第1図)の1つに装入されることでホールダ
Hのトレイ50内に配置される。
みぞ孔58の左側に沿つてキー60が配備されているこ
とで、カードCが認識部分24,26および28を下方
に面しまた位置決め用切欠き4および掴持用みぞ孔6を
ホールダH(第5図)の前方フランジ52を越えて差し
出されて、唯1つの向きで装入されることを可能にされ
る。多くのカードCを同時にホールダHに装入すること
ができる。これ等のカードCの全ては主カード表面区域
(第5図)上を通り越される加熱された空気の結果とし
て培養を受ける。ホールダH内のカードCは辺縁を整合
されて配列され、かくして形成された積み重ね体が抽出
ユニツトEに向けて差し出される。工キズトラクタユニ
ットEは工キズトラクタスライド82を引込まされて下
方に移動し、またその運動は、そのスライド上の掴持用
つめ94が最初のカードCの直ぐ上方に位置決めされる
まで、継続する。しかる後に、工キズトラクタスライド
82とロケータスライド84はホールダHに向けて運動
する。やがて、ロケータスライド84が主プロック78
上のストツプ表面に押し当るようになり、且つこの押し
当りが生じた時には位置決め用フロック98が最初のカ
ードC内の切欠き4に接近して位置決めされる。だが、
工キズトラクタスライド82は、ストツプタブ110が
光学的スイツチ108内に進入して該スイツチにより発
出されている光を遮断するまで継続して運動し(第6図
)、且っ上記光が遮断された場合に、工キズトラクタス
ライド82が停止し、その掴持用つめ94は掴持用みぞ
孔6の直ぐ上方にある。次で読取りヘツド70が十分に
降下されて、掴持用つめ94を掴持用みぞ孔6に進入せ
しめまた位置決め用フロック98を位置決め用切欠き4
(第10図)と水平方向に整列させる。次で工キズトラ
クタスライド82が引込まされ且つカードCをホールダ
H(第11図)から抜取る。初めの運動の増分中に、カ
ードCの前端部は位置決めフロック98に向け運動し且
つ上記位置決めフロック98はカードC上の位置決め用
切欠き4に進入する。このことが生じた後に、ロケータ
スライド84は工キズトラクタスライド82とともに運
動し且つカードCの前部に力を加える。この力は圧縮さ
れたコイルばね85から得られ且つカードCがプロツク
78を通り越す際に正しい角度と側方配置とでカードC
を正確に配向するのに役立つ。工キズトラクタスライド
82は、ロケータスライド84上の光学スイツチが制御
棒100に設けられている第1の切欠き104に出会う
まで作動し続ける水平のステツピングモータ一86によ
り推進される。
かくしてモーター86は瞬間的に停止し、且つこの瞬間
停止でカードCのためのプラスチツク材料の透明部分が
デジツトエミツタ120とデジツトセンサ134との間
に位置決めされる。各のデジツトセンサ134の検知器
138はこの点で校正され且つコンピユータK内に限界
値が確立されるが、透明であることを、すなわちデジッ
トセンサ134の検知器138と対応したエミツタ12
0との間にマークのないことを表示するには検知器13
8から得られた読みが上記限界値を通り越さねばならな
いようにされている。校正後に、光学的スィツチ106
が棒100内の次の切欠き104に出会うまでモーター
86が工キズトラクタスライド82を動かす。
かくすることでデジツトエミツタ120とデジツトセン
サ134との間に認識部分24が配置される。再び瞬間
的停止が生じ且つこの瞬間的停止時に認識部分24が読
み取られる。特に、エミツタ120は部分24の7本の
棒に向けられている。いずれかの棒がマークをされてい
ない場合、該棒の直ぐ下方のエミツタ120からの光は
該棒を完全に通り抜けて対応したデジツトセンサ134
の3個の検知器138を照明し、検知器138をして限
界値(第14図)以上の信号を提供させる。ボウテイン
グ技法が使用されているので、部分24の棒の1つ上の
漂遊マークあるいはほこりの斑点は偽の読みを生ぜしめ
ないであろう。それに反して、番号が不透明インキで部
分24内にマークされた結果として故意に不透明にされ
た任意の棒はこれ等の棒に対向して位置決めされたセン
サ134をそれぞれの対応したエミツタ120からおk
いかくすであろう。これ等のセンサ134の検知器13
8は限界値を過ぎた信号を提供せず、したがって、コン
ピュータKは認識部分24上に現われた数字を見分ける
ことができる。認識部分26および28は同様に読取ら
れる。
各の順次連続した部分26および28がデジツトエミツ
タ120とセンサ134との間に来るたびごとにわずか
な停止が行われる。得られた読みはコンピュータKに患
者の認識番号と、検査されているカードの種類とを提供
する。最後の認識部分28がエミツタ120およびセン
サ134(第11図)に到達した後に、モーター86が
逆転され、且つモーター86の制御が制御棒102とそ
の光学的スイツチ108とに移される。したがつて、工
キズトラクタスライド82は反対方向に運動し且つ先に
カードCが抜取られたみぞ孔58にカードCを再挿入し
始める。再挿入中、モーター86は再び瞬間的に停止す
るがこれ等の停止は光学的スイッチ108が制御棒10
2内の切欠き104に出会うたびごとに生ずる。
棒102内の第1の切欠き104はくぼみ16の第1の
列をくぼみエミツタ122およびくぼみセンサ136と
整合させてカードCを停止する。この時に、上記第1の
列内のくぼみ16の光透過特性の減小を決定する読みが
採られる。くぼみ16内の気泡は不透明に現われ且つそ
の背後のくぼみ検知器140をおXいかくすがこの気泡
が存在しているくぼみ16の横断面積の全体をこの気泡
が占有していないので、このくぼみ16を観察するセン
サ136のための検知器140の一部は対応したくぼみ
エミツタ122(第15図)により照明されるであろう
。コンピユータKはきわめて高い光減小のパーセンテツ
ジを示している検知器140が気泡bの背後に位置決め
されていることを認識し、且つ上記検知器140から得
られた読みを無視する。その代りに上記コンピユータは
最低の光減小パーセンテツジを記録した検知器140か
ら得られた読みのみを記録する。モーター86は1列の
くぼみ16がくぼみエミツタ122とくぼみセンサ13
6との間に来るたびごとに瞬間的に停止しながら引続い
て工キズトラクタスライド82を前方に駆動する。
各の瞬間的停止のたびごとに読みが得られる。最後の停
止後に、モーター86はカードCをホールダH(第10
図)内の完全挿入位置までずつと動かす。運動の最後の
増分の間にロケータスライド84は主プロツク78上の
ストツプ表面に押し当つて休止するようになるが工キズ
トラクタスライド82は表面上のストツプタブ110が
ロケータスライド84上の光学的スイツチ108に進入
して光のビームを遮切る(第6図)まで運動しつ〜ける
。これで最初のカードCの取扱いと読み取りとが完了す
る。最初のカードCがホールダH内の完全挿入位置へ戻
された後に、読取リヘツド70が下方へ降下し且つ同様
に抜取られ且つ読み取られる第2のカードCに係合する
ホールダH内の各のカードCに対し同じ手順が行われる
。たとえば1時間である予定の時間間隔後に、カードC
の全積重ね体が再び同様に読取られる。初めの読取りか
ら約13時間が経過するまで、おそらく毎回1時間の、
周期的間隔で上記手順が繰返えされる。かくすることで
各のくぼみ16ごとに1組の読みが提供され且つこれ等
の読みがコンピユータKで系統立てられ、比較され且つ
分析されて、くぼみ16が検知するように設計されてい
る微生物を含んでいるかどうかが決定される。換言すれ
ば、くぼみ16内の培養基が特効的である微生物を被検
査が含んでいる場合には、上記培養基を入れてあるくぼ
み16は光透過特性(第16図)を著しく減ぜられてい
るであろう。微生物は最初の2〜3時間の間は培養基に
対し効果を有しているとしてもわずかであり、したがつ
てこの期間の間に採られた読みは主としてレンジングを
検知し且つその大きさを決定する(第16図)ためのも
のである。
くぼみ16の端部において凸形状をなすテープ30に起
因して光の透過の増加として常にあられれるレンジング
は最初の約2時間後には実質上一定のまXである。コン
ピユータKはレンジングを補正するように全ての引続い
ての読みを調節する。これ等の引続いての読みは特定の
くぼみ16が検知するように設計されている微生物が該
くぼみ16内に存在しているかどうかを決定するための
ものである。くぼみ16を観察している全ての検知器1
40がある限界値を横切つて始めて、微生物が存在して
いると考察される。この限界値はくぼみ16が正である
と断言されるに先立つて容認される光の透過のパーセン
テツジの最小減小を意味し且つこの値はコンピユータの
データバンク内にある。通常抗生物質感受性カードCs
は認識カードCiの分析の結果として微生物の存在が決
定された後に分析される。
感受性カードCsの場合には、分析の範囲にわたり光透
過のパーセンテツジが減小しないかあるいはわずかであ
ることを示しているくぼみ16は認識カードCiで検知
された微生物に対し有効である抗生物質を含んでいる。
コンピユータKにより行われるストップはまた研究所の
専門家により実質上軽度のオートメーシヨンで行われる
ことができる。以上において本発明の実施例を開示した
が本発明の範囲を逸脱することなく各種の変更を施し得
ることはもちろんである。
図画の簡拳な説明 第1図は被検体を含んだカードを読取るための機械の各
部を順次配列して示した斜視図で、力ードをホールダか
ら除去されて示された図、第2図は被検体を導入されて
いる認識カードの平面図、第2A図は抗生物質感受性カ
ードの平面図、第3図は第2図の3−3線に沿つた認識
カードの断面図、第4図はカードのための装入装置の斜
視図で、カードを装入装置に挿入して示した図、第5図
は第1図の5−5線に沿つた断面図で、抽出ユニツトと
ホールダとを側面図で示した図、第6図は抽出ユニツト
の一部を形成する読取りヘツドの側面図、第7図は読取
りヘツドの縦断面図、第8図は第7図の8−8線に沿つ
て断面された読取りヘツドの断面図、第9図は第7図の
9−9線に沿つて断面された読取りヘツドの断面図、第
10図はホールダからカードを抽出する位置における読
取りヘツドの平面図、第11図はカードをホールダから
完全に抽出された読取りヘツドの平面図、第12図は第
6図の12−12線に沿つて断面して矢印方向に見た読
取りユニツトの一部分の立面図で、それぞれ読取りユニ
ツトのデジツトエミツタおよびくぼみエミツタと整列さ
れたカードの認識部分およびくぼみを示した図、第13
図は第6図の13−13線に沿つて矢印方向に見た立面
図で、それぞれ読取りユニツトのデジツトセンサとくぼ
みセンサと整列されたカードの認識部分とくぼみとを示
した図、第14図はエミツタからの光がカードの認識部
分を通つて投光するようにカードを相互間に介在された
デジツトエミツタとデジツトセンサとの1つの断面図、
第15図はくぼみエミツタとそれに対応したくぼみセン
サとの1つにおける読取りユニツトの断面図で、上記エ
ミツタからの光がカード上のくぼみを通り抜けるように
カードを両者間に介在された図、第16図は本機械から
得られた代表的な補正済の読みと、レンジングおよび気
泡の形成により引き起された歪みとを示したグラフであ
る。
A・・・・・・微生物分析機、C・・・・・・カード、
Ci・・・・・・認識カード、Cs・・・・・・抗生物
質感受性カード、E・・・・・・抽出ユニツト、H・・
・・・・ホールダ、K・・・・・・コンピユータ、R・
・・・・・読取りユニツト、14・・・・・・受け入れ
室、16・・・・・・くぼみ、18・・・・・・溢流チ
ヤンネル、20・・・・・・充填チャンネル、24・・
・・・・認識部分、26・・・・・・コード部分。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 培養基を含有するくぼみに生育可能な微生物が存在
    するか否かを決定するために、このくぼみを通して順次
    的時間間隔で光を投光し、投光された光を検知すること
    からなり、そしてこの培養基の希釈物がこの中に生育可
    能な微生物が存在し、そしてこの培養基により保持され
    ている場合に、その光透過特性が変化を受けることがで
    きる能力を有している、培養基含有くぼみの検査方法で
    あつて、光を投光した各時点で、光をくぼみの向こう側
    の隣接する複数の位置で検知し、各位置でこの光の強度
    を実質的に同時に測定し、この際に、上記位置の1部の
    ものがこれらの位置に対する光の強度に影響を与える気
    泡または異物によつてその他の位置よりも光強度がより
    大きく変化するのを記録することができ;ついで選ばれ
    た数の位置が既定の数値をこえる光強度の減少を記録し
    た場合にだけ生育可能な微生物の存在を指示することを
    特徴とする培養基を含有するくぼみの検査方法。 2 上記くぼみがくぼみの一方の端部から他方の端部へ
    延びた光学軸を有し、また光が検知される位置の中の少
    くとも一部のものが上記光学軸からオフセットされてい
    る特許請求の範囲第1項の方法。 3 光が検知される位置がくぼみの光学軸に対して垂直
    である列に位置決めされている特許請求の範囲第2項の
    方法。 4 くぼみの端部が、検知位置により大きい強度で光を
    集束し且つこの位置における強さの読みを変歪する凸形
    外形を採ることのできる、可撓性の透明材料により閉鎖
    されており、そして上記変歪を補正するように検知位置
    にて得られた強さの読みを調節することを特徴とする特
    許請求の範囲第1項の方法。 5 くぼみが表面にしるしをマークされた認識部分を有
    するカード内に設けられ、また表面上のしるしの読取り
    のため前記認識部分に光を当てることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項の方法。 6 カードが透明でありまた認識部分に投光される光が
    それぞれ上記認識部分の異つた部分に向けられた数本の
    異なるビームであり、そして強さを余り減ぜられること
    なく前記カードを通り抜けた光のビームを検知し、かく
    して前記認識部分のマークのはり部分を位置決めするこ
    とをさらに含む特許請求の範囲第5項の方法。 7 ビームの軸線からオフセットされている幾つかの位
    置を含む複数の位置にて各ビームを検知することを特徴
    とする特許請求の範囲第6項の方法。 8 ビームが監視されている選択された数の位置におい
    て認識部分に当てられたビームが予定の強さを記録した
    場合に該部分内のマークの存在を表示することをさらに
    含む特許請求の範囲第7項の方法。 9 カードが初めのくぼみの後に順次連続して配列され
    た複数のくぼみと、順次連続して位置決めされた複数の
    認識部分とを含み;そして前記順次連続したくぼみが前
    記の初めのくぼみに向けられている光と整列するように
    また前記順次連続した認識部分が数本の光のビームと整
    列するように前記カードを動かすことを特徴とする特許
    請求の範囲第6項の方法。 10 初期間隔を全測定時間より短かくして、少なくと
    も1回の読みが全測定時間内に行なわれるようにし;く
    ぼみを越える光の各ビームを検知し、そしてくぼみを通
    過した後のビームの強度に相当する読みを読み取り;次
    いで全測定時間後に誘導される読みについてレンズ中の
    可撓性透明材料の変歪により生じるいずれかの強度の変
    化を補正するようにこれらの読みを調整し、この際これ
    らの読みがくぼみの光透過特性における実際の減少を反
    映しているものである特許請求の範囲第4項の方法。 11 可撓性透明材料の変歪が検知される光のビームの
    強度を増加させるものであり、そして読みをこの増加を
    補正するように調整する特許請求の範囲囲第10項の方
    法。 12 間隔が全測定時間を通して、ビームを複数回くぼ
    みを通して投光できるに十分に短い特許請求の範囲第1
    0項の方法。 13 ビームを投光した後の間隔が周期的であつて、部
    測定時間より短い期間である特許請求の範囲第10項の
    方法。 14 光強度における最も低い減少を記録する検知器の
    みからの信号を読みに変えることからなる特許請求の範
    囲第1項〜第13項のいずれか1つに記載の方法。 15 被検物内に存在するかも知れない微生物の代謝活
    動を検知する目的で、その中に培養基を容れてあつて水
    性被検物を導入するくぼみを有するカードを検査するた
    めの機械であつて、上記カードを支持することのできる
    読み取りヘッドと、発光される光が上記くぼみを通して
    投光されるように前記カードの一表面に対向して前記読
    み取りヘッド上に装架された第1の発光体と第1の光検
    知器とを含み、上記読み取りヘッド70上に装架されて
    いる複数個の第1の光検知器140が相互に隣接して前
    記カードの対向側の表面に向けられており、これらの検
    知器が妨げられない限り発光体により照明されるように
    前記発光体122と整列されていて且つその各々がその
    表面上に投光された光の強さに比例した信号を提供し、
    そしてこれらの複数個の検知器からの信号が時間的に一
    致しておりそれにより、前記くぼみが前記発光体および
    検知器と整列する位置に前記カードが移動された場合に
    、上記検知器が前記くぼみを通り抜けた光の強さを反映
    した同時に生じる信号を提供するようにされている機械
    。 16 検知器140の少くとも一部のものがくぼみ18
    のための軸線の側にオフセットされており、上記くぼみ
    内の気泡を通り過ぎた光が前記のオフセットされている
    検知器を照明することができるようにされている特許請
    求の範囲第15項の機械。 17 読み取りヘッド70上に装架され且つカード上の
    認識部分24、26、28の異つた棒と整列するように
    位置決めされた複数の第2の発光体120と、この第2
    の発光体に対向して位置決めされている光のセンサーと
    を含み、第2の各発光体ごとに別個な光センサーが配備
    されていて、それによりしるしを表面上にマークされた
    棒と整列されたセンサーが表面上にマークを有していな
    い棒と整列されたセンサーよりも弱い強さの光を記録す
    るようにされている特許請求の範囲第15項の機械。 18 各光センサーが複数の光検知器を含み、この検知
    器の各は、上記センサーがそれとともに整列されている
    第2の発光体により照明され、それにより棒上の漂遊マ
    ークあるいは異物が上記センサーのための全ての検知器
    上に投光された光の強ささ減ずるおそれがなくされてい
    る特許請求の範囲第11項の機械。 19 第2の発光体120と、第2の検知器138とが
    アラビア数字の8の模様で配列されている特許請求の範
    囲第17項の機械。 20 センサーの前方に位置決めされているカバーを含
    み、このカバーが第2の発光体がそれぞれの対応したセ
    ンサーを照明することができるようにそこに位置置決め
    されている透明まどを有する特許請求の範囲第17項の
    機械。
JP52039373A 1976-05-03 1977-04-06 培養基を容れたくぼみを検査する方法および装置 Expired JPS5910188B2 (ja)

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