JPS5875070A - 時定数測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （ａ）　　技術分野のｉＩ！明 本発明は、例えば車載電気品の検修設備の中で時定数を
測定する装置に関する。

（ｂ）　　従来技術とその問題点 電気車の車上搭載品は年々半導体化が進み、信頼性が向
上するとともに装置は複雑化し、一度故障が生じた場合
、発見に１１６＆度の技術を要し、短時間での修復は困
難となっている。

従って故障を短時間で発見するための故障探求機能、故
障を未然に防ぐための経年変化による部品の定数変化チ
ェック機能等を有する検修設備が検討されつつある。

コンデンサと抵抗の直列回路により構成されるソフトス
タート回路の時定数は、従来第１図に示すように、試験
装置１の被試験体用電＃Ｉ３からインターフェイス回路
７を経て被試験体ｌＯの被測定回路である抵抗１２とコ
ンデンサ１１の直列回路の両端に電圧ζを印加し、コン
デンサ１１の端子電圧Ｅ。

を試験装置ｌで測定していた。試験装置ｌではあらかじ
め定められた検出レベル（演算制御部−（例えばマイコ
ン）２からインターフェイス回路４へて設定されたディ
ジタル値の設定レベルヲＤ／Ａ変換＠５にてアナロメ値
に変換して、時定数０．６３８、を検出レベルとする）
を比較器６にセットし、インターフェイス回路７からの
信号による為電圧印加から設定レベル０．６３　Ｂ、ま
での時間を比軟器６のオンオフ・レベルに変換する（例
えば残印加時比較器６の出力をオンとし、０．６３ｊｌ
！：、でオフとする）。

この比較器６の出力をカウンター回路８に入力し、オン
期間をカウンター回路８の内部クロックにより計数し、
インターフェイス回路９を経て演算制御部２にて判定を
行ないコンデンサ、抵抗等の定数の変化を測定していた
。

この場合、被試験体用電源３の電圧が規定値でない時の
測定畝り、又は、インターフェイス回路７から被試験体
１０へのｔｄ路インピーダンス醗ζよる電圧降下分の誤
差、及び試験装置ｌ内に被試験体印加用電源３が必要で
あるため、試験装置が大形化し可搬形には無理がある等
の問題があった。

（Ｃ）　　発明の目的 本発明は被試験体内部電源を使用して試験を行なうこと
により上述の欠点を除き、小形、＠麓の測定装置を提供
することを目的とする。

（ｄ）　　発明の概要 この目的を達成するため本発明は、被試験体内の電源の
定常電圧Ｅ０に応じた基準電圧を演算制御部で算出し、
被試験体の電圧がこの基準電圧に違（ｅ）　　発明の構
成 以下、図示した実施例に轟いて本発明を説明する。

１ｇ２図において、試験装置ｌの内部構成は、試験をあ
らかじめ定められた順序で奥行し、演算。

記憶等を行なう制御部２、この演算制御部２からの指令
を被試験体１０及び試験装置ｌ内の機能ブロックに、伝
達するインターフェイス回路４を有する。５はＤ／Ａ変
換器で演算制御部２からの電圧設定レベルをディジタル
値からアナログ値に変換する回路、５鳳はり、／ム変換
器５から比較器６への出力線、比較器６は電圧比較回路
で構成され、インターフェイス回路４の出力［１６を大
−一ト指令としＤ／Ａ変換器５からの出力と、被試験体
出力＠１３とのレベルを比較し、ｌ）／Ａ変換器５の出
力より出力線１３の電圧が高くなると出力４１６ａの信
号が反転する動作をする。

８はカウンター回路であり比較器６からの出力４１６ｍ
のオンオフ波形により、例えばオンレベルの期間を内部
クロックを計数し、時間間隔を一定する。

９はインターフェイス回路であり、カウンター回路８０
針数値を演算制御部２に入力するためのものである。

１７はム／Ｄ変換器であり被試験体１ｏのコンデンサ１
１と抵抗器１２とリレー接点１４の直列回路０電源電圧
４を一定し、アナログ電圧をディジタル電圧に変換する
為の回路である◎ １８はインターフェイス回路であり、ム／Ｄ変換器１７
の出力を演算制御ＩＩ２に入力するためのものである。

１５は被試験体内のリレーコイルであり、リレー接点１
４を投入するための補助リレーである。被試験体は車両
搭噴され、車両内の電源により供給され、賛試験体内の
安定化電源により電圧４がリレー接点１４、抵抗比、コ
ンデンサ１１の直列に印加されている。

（ｆ）　　発明の作用 まず、ム／Ｄ変換器１７により被試験体電圧４を一定し
、インターフェイス回路１８により、演算制御部２に入
力され、ここで被試験体電圧Ｅ、から時定数値に相癲す
る電圧Ｎ　＝　０．６３　ｍｉｎを算定し、Ｅを比較器
６０設定レベルとして演算制御部２から出力し、Ｄ／Ａ
変換器６を介してアナログ値として比較器６の設定値（
基準電圧）とする。次に演算制御部２から時定数指令を
出力し、インターフェイス回路１８を経て出力１ＩＩ１
６により被試験体１ｏのリレーコイル正を励磁し、これ
によりリレー接点１４が投入され抵抗比とコンデンサ１
１の直列回路に電圧が印加される◎この出力線１６を比
較器６に入力し、比較ＳＳをオンさせる。比較器６は被
試験体コンデンサ１１０４１子電圧ＦＳ１を監視し、Ｄ
／Ａ変換器５により設定された値に達するとレベルがオ
ンから、オフに変化する、比較ａ６のオンしている時間
をカウンター回路８により計数し、計数結果を演算制御
部２に入力することにより被試験体の時定数を一定する
。

ＪＩＩ３＃Ａに各部の波形を記述している。

１４１１は、電圧Ｂ、を被試験体に印加する指令信号で
めり１．１３は、被試験体コンデンサ端子間の電圧特性
曲線である。為はコンデンサ抵抗の直列回路電源電圧で
・あり、最終的にコンデンサ端子電圧ｇ。

はＥ、と等しくなる。５１は演算制御部２内で算定する
時定数レベルでありＤ／Ａ変換＠Ｓを通して比較器６を
設定するｌｉｉ　＝　０．６３　Ｍ、０値である。

６鳳は比較器６０出力波形であり１４　ｍが出力されて
からＥ　＝　０．６３　ＭＩａの間だけオンして矩形波
となる。

カウンター回路８によりこのオン期間を測定することに
よりコンデンサ、抵抗の直列回路時定数を測定できる。

この測定値をマイコン内部のメモリ内の規定値と比較し
、被試験体の良否判定を行なうとともに正常、異常値を
プリンタ等に印字することが可能である。

・以上のように被試験体の電源電圧を試験装置内のム／
Ｄ変換器により測定し、時定数電圧設定レベルをム／Ｄ
変換器により測定した電圧から算定し、被試験体Ｏ時定
数を測定することができることに誤差を少なく測定する
ことが可能となる。というのは、被試験体電源は試験装
置内のム／Ｄ変−ダンスはｌ［ＭΩ］以上の高インピー
ダンスであり、電圧降下により測定結果に誤差を生じる
ことはすく、設定レベルについてはマイコンの演算精度
であり、充分に精度を上げる゛ことが可能であり、比較
器は、１〔ＭΩ〕以上の入力インピーダンスにすること
は可能であるためｐＨ０電圧降下等による測定誤差も少
ない。又被試験体内の電源を使用するため試験装置は試
験装置用の電源のみでよく、小形軽量に構成できる。

億）弛Ｏ奥施例 本発明はコンデンサと抵抗の直列回路以外にインダクタ
ンス分を含む回路の時定＃！測測定のなだらかに変化す
るｔｍ＊ｏブロック単位の良否判定を定常電圧を事前に
測定し、比較器の設定レベルをマイコンにて算定し設定
することにより行なうことができる。

（ｂｌ　　ｍ１１合的な効果 上述のごとく、電源電圧変動の大きい電気品の構成部品
の定紋変化を、被試験体のｌＩｃ１ｉ＃ｉを測定するこ
とにより精度よく測定で者、又試験装置も小形軽量な構
成とし可搬形が可能となるとともに安価な試験装置を提
供することができる。

【図面の簡単な説明】

＃Ｉ１図は従来の電車試験装置のブロック図、第２図は
本発ＦＲの電車試験装置Ｏブロック図、第３図は本発明
の動作を＃！明するための図である０ ２・・・演算制御部、 ６・・・比較器、 ８・・・カウンター回路、 ｌＯ・・・被試験体、 １４・・・接点、 １７・・・ム／Ｄ変換器。 （７３１７）　Ｑ人弁理士　則近憲佑（ほか１名）第１
図 第２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被試験体の時定数を測定するものにおいて、上記被試験
   体に定常電圧を印加するスイッチ装置と、上記被試験体
   の定常電圧値に応じて基準電圧を算出する演算制御部と
   、上記被試験体の電圧が上記設定電圧に達したとき出力
   奮発する比較器と、上記定常電圧が印加開始されてから
   上記比較器が出力を発するものでの時間を計数するカウ
   ンタ１路とを備えた時定数測定装置。