CN111123085A - 一种测量方法及电路 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种测量方法及电路，所述方法包括在识别到所述延时继电器的线圈通电时，开始计数操作；在识别到所述延时继电器的触点通电时，停止所述计数操作；获取所述计数操作的计数增量值和所述计数操作的计数频率；根据所述计数增量值和所述计数频率，计算所述延时继电器的延时时长。本发明通过上述步骤实现了对延时继电器通过软硬件结合的方法进行测量，不仅降低了硬件成本，且提高了测量精度和测量效率。

Description

一种测量方法及电路

技术领域

本发明涉及时间测量领域，尤其涉及一种测量方法及电路。

背景技术

目前，延时继电器的主要性能指标是延时时间，即延时继电器工作线圈加电后，继电器触点延时一段规定时间后才能接通；或者延时继电器工作线圈断电后，继电器触点延时一段规定时间后才能断开。

然而，现有技术都是利用纯硬件电路来测量的，测量成本大。

发明内容

为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本发明提供了一种测量方法及电路。

第一方面，本发明提供了一种测量方法，用于测量延时继电器的延时时间，包括：

在识别到所述延时继电器的线圈通电时，开始计数操作；

在识别到所述延时继电器的触点通电时，停止所述计数操作；

获取所述计数操作的计数增量值和所述计数操作的计数频率；

根据所述计数增量值和所述计数频率，计算所述延时继电器的延时时长。

可选地，所述在识别到所述延时继电器的线圈通电时，开始计数操作包括：

获取延时继电器线圈输入端的第一信号；

获取延时继电器触点输出端的第二信号；

根据所述第一信号和第二信号生成用于控制计数操作的门控信号；

检测所述门控信号的跳变情况；

若门控信号由低电平变为高电平，则开始计数操作。

可选地，所述在识别到所述延时继电器的触点通电时，停止所述计数操作包括：

获取延时继电器线圈输入端的第一信号；

获取延时继电器触点输出端的第二信号；

根据所述第一信号和第二信号生成用于控制计数操作的门控信号；

检测所述门控信号的跳变情况；

若门控信号由高电平变为低电平，则停止计数操作。

可选地，所述根据所述第一信号和第二信号生成用于控制计数操作的门控信号包括：

将所述第一信号和第二信号进行异或运算得到所述门控信号。

可选地，所述根据所述第一信号和第二信号生成用于控制计数操作的门控信号包括：

将所述第一信号和第二信号进行异或运算得到所述门控信号。

可选地，所述获取延时继电器线圈输入端的第一信号包括：

采集所述延时继电器线圈输入端的输入电压；

将所述输入电压进行分压以得到TTL(Time To Live，生存时间)电平信号。

可选地，所述获取延时继电器触点输出端的第二信号包括：

采集所述延时继电器触点输出端的输入电压；

将所述输入电压进行分压以得到TTL电平信号。

可选地，所述获取所述计数操作的计数增量值，根据所述计数增量值和所述计数频率，计算所述延时继电器的延时时长包括：

若开始计数操作，则执行第一中断函数，在所述第一中断函数中清零计数器；

若停止所述计数操作，则执行第二中断函数，在所述第二中断函数中获取停止计数时的计数值和所述计数操作的计数频率，将所述计数值作为计数增量值，根据所述计数增量值和所述计数频率，计算所述延时继电器的延时时长。

可选地，所述获取所述计数操作的计数增量值，根据所述计数增量值和所述计数频率，计算所述延时继电器的延时时长包括：

若门控信号发生上升沿跳变，则执行第一中断函数，在所述第一中断函数中获取开始计数时的初始计数值；并配置下一中断函数的触发条件下降沿触发；

若门控信号发生下降沿跳变，则执行第二中断函数，在所述第二中断函数中获取停止计数时的最终计数值和所述计数操作的计数频率，将所述最终计数值和初始计数值的差作为计数增量值，根据所述计数增量值和所述计数频率，计算所述延时继电器的延时时长。

第二方面，本发明提供一种测量电路，用于测量延时继电器的延时时间，包括：处理器和定时器，所述定时器和处理器相连接，

所述定时器用于在识别到所述延时继电器的线圈通电时，开始计数操作；

在识别到所述延时继电器的触点通电时，停止所述计数操作；

所述处理器用于获取所述计数操作的计数增量值和所述计数操作的计数频率；

根据所述计数增量值和所述计数频率，计算所述延时继电器的延时时长。

本发明实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：

本发明实施例提供的该方法，在识别到所述延时继电器的线圈通电时，开始计数操作；在识别到所述延时继电器的触点通电时，停止所述计数操作；获取所述计数操作的计数增量值和所述计数操作的计数频率；根据所述计数增量值和所述计数频率，计算所述延时继电器的延时时长。本发明通过上述步骤实现了对延时继电器通过软硬件结合的方法进行测量，不仅降低了硬件成本，且提高了测量精度和测量效率。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种延时继电器的延时时间测量***的示意图；

图2为本发明一个实施例提供的一种测量方法的流程示意图；

图3为本发明又一个实施例提供的一种测量方法的流程示意图；

图4为本发明又一实施例提供的一种测量方法的流程示意图；

图5为本发明实施例提供的一种测量方法的示例的信令图；

图6为本发明又一实施例提供的一种测量电路中的延时继电器电路的示意图；

图7为本发明实施例提供的一种测量电路的测量时序图；

图8为本发明实施例提供的一种单片机的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本申请实施例提供了一种测量方法，该方法可以应用于延时继电器的延时时间测量***中。如图1所示，该***包括STM32单片机、异或门、延时继电器电路、运算放大电路和程控电源。其中，STM32单片机一方面为延时继电器电路工作提供程控激励控制电压。延时继电器的驱动电压由程控电源提供，程控电源的输出电压受程控激励控制电压控制，输入电压范围0-5V，对应程控电源输出电压0-30V。可变的程控激励控制电压能够测量不同类型的延时继电器。程控电源的输入电压由STM32单片机的DA模拟输出端提供。由于DA模拟输出端输出范围0-3.3V，因此，需要通过运算放大电路进行放大，从而实现0-5V控制电压的输出。延时继电器电路输出两个信号，一个是延时继电器线圈通电时的信号，一个是延时继电器触点断电时的信号。异或门对两个信号进行异或运算后输出一个门控信号给STM32单片机，STM32单片机根据该门控信号进行延时时间的测量计算。

本申请实施例提供了一种测量方法，该方法可以应用于上述测量***中的STM32单片机中，如图2所示，该方法的处理过程可以包括如下步骤：

步骤S201，在识别到延时继电器的线圈通电时，开始计数操作。

可选地，在本实施例中，在识别到延时继电器的线圈通电时，开始计数操作的具体过程可以为：

获取延时继电器线圈输入端的第一信号；获取延时继电器触点输出端的第二信号。

可选地，在本实施例中，获取延时继电器线圈输入端的第一信号可以为：

采集延时继电器线圈输入端的输入电压；

将输入电压进行分压以得到TTL(Time To Live，生存时间)电平信号。

在本实施例中，可以通过串联电阻分压或者通过并联电阻分压，在延时继电器线圈的输入端串联或并联两个电阻，使得输入端的输入电流经过分压电阻分流后，输入电压对应的也就会减小，从而得到TTL电平信号，其中，分压电阻的阻值可以根据输入电压与TTL电平信号的分压比进行设置。

在本实施例中，TTL电平信号规定，正向5V电压信号等价于逻辑"1"，0V等价于逻辑"0"，因此需要将输入电压经过分压后输出为5V或0V。

示例性，如延时继电器的供电电压为30V，那么为了得到数字信号，则将30V电压进行电阻分压后得到5V电压，未供电时，输入电压是0V，经过电阻分压后依然为0V，在TTL电压信号中5V等同于高电平1，0V等同于低电平0。

同样地，获取延时继电器触点输出端的第二信号包括：

采集延时继电器触点输出端的输入电压；

将输入电压进行分压以得到TTL电平信号。

在本实施例中，获取延时继电器触点输出端的第二信号的原理同上述对获取延时继电器线圈输入端的第一信号的原理，在此不再赘述。

根据第一信号和第二信号生成用于控制计数操作的门控信号。检测门控信号的跳变情况。若门控信号由低电平变为高电平，则开始计数操作。

其中，根据第一信号和第二信号生成用于控制计数操作的门控信号的过程可以为：将第一信号和第二信号进行异或运算得到门控信号。

在本实施例中，在延时继电器未供电时，延时继电器线圈输入端的第一信号为低电平0，第二信号也为低电平0，将第一信号和第二信号进行异或运算后输出低电平0，即门控信号是低电平，在给延时继电器初始供电时，延时继电器线圈输入端的第一信号为高电平1，第二信号为低电平0，将第一信号和第二信号进行异或运算后输出高电平1，即门控信号由低电平变为高电平，此时开始计数。

步骤S202，在识别到延时继电器的触点通电时，停止计数操作。

可选地，在本实施例中，在识别到延时继电器的触点通电时，停止计数操作的具体过程可以为：获取延时继电器线圈输入端的第一信号。获取延时继电器触点输出端的第二信号。根据第一信号和第二信号生成用于控制计数操作的门控信号。检测门控信号的跳变情况。若门控信号由高电平变为低电平，则停止计数操作。

其中，根据第一信号和第二信号生成用于控制计数操作的门控信号的过程可以为：将第一信号和第二信号进行异或运算得到门控信号。

在本实施例中，经过一段延时时间后，延时继电器的触点通电，此时延时继电器线圈输入端的第一信号为高电平1，第二信号也变为高电平1，将第一信号和第二信号进行异或运算后输出低电平0，即门控信号由高电平变为低电平，此时停止计数。

在本实施例中，在识别到延时继电器的线圈或触点通电时，到执行开始计数操作或停止计数操作时的时间间隔特别小，可以忽略不计。

步骤S203，获取计数操作的计数增量值和计数操作的计数频率；根据计数增量值和计数频率，计算延时继电器的延时时长。

在本实施例中，通过获取到的计数操作的计数增量值和计数操作的计数频率，将该计数增量值和计数频率相乘，就能够计算得到延时继电器的延时时长。

在本实施例中，计数增量值是指从计数开始的初始计数值到计数结束时的最终计数值之间的计数差值，计数频率可以是***的计时时钟，即相邻两个计数值之间的计数时长，其中，计数时长的单位是时间单位。利用计数增量值和计数频率相乘就能计算得到延时继电器的延时时间，示例性的，假设初始设定计数器是向上计数，从2开始计数，计数到10结束，那么计数增量值就是8，假设计数频率是2微妙，那么计算得到的延时时长就是16微妙，同样，如果是从0开始计数，到10计数结束，那么计数增量值就是10，计数频率依然是2微妙，那么计算得到的延时时长就是20微妙。

在本实施例中，采用STM32单片机中的定时器开始计数操作和停止计数操作，采用单片机中的处理器执行步骤S203。优选地，为了节约成本和精确的测量延时继电器的延时时间，上述单片机可以直接采用待测的延时继电器所在***中的单片机，这样就省却了外部设备，直接利用延时继电器所在***中的单片机内嵌的定时器和处理器就实现了对延时继电器的延时时间的测量，且该延时继电器的延时时间的测量是基于***的时钟进行测量的，相较于利用外部设备中的外部时钟进行测量，其测量结果更加精确，且利用单片机中的程序进行测量，测量效率也相对于纯硬件电路有所提高。

本发明实施例提供的该方法，在识别到延时继电器的线圈通电时，开始计数操作；在识别到延时继电器的触点通电时，停止计数操作；获取计数操作的计数增量值和计数操作的计数频率；根据计数增量值和计数频率，计算延时继电器的延时时长。本发明通过上述步骤实现了对延时继电器通过软硬件结合的方法进行测量，不仅降低了硬件成本，且提高了测量精度和测量效率。

可选地，在本实施例中，如图3所示，获取计数操作的计数增量值，根据计数增量值和计数频率，计算延时继电器的延时时长的具体处理过程可以为：

步骤S301：若开始计数操作，则执行第一中断函数，在第一中断函数中清零计数器。

在本实施例中，通过STM32单片机内部的定时器执行第一中断函数，触发定时器中断的事件包括，上溢计数中断，下溢计数中断，开始计数中断和停止计数中断，本实施例中，将开始计数和停止计数作为定时中断的触发事件，当计数开始时，触发第一中断函数，并在第一中断函数中将定时器中的计数器进行清零，以便从0开始计数。

步骤S302：若停止计数操作，则执行第二中断函数，在第二中断函数中获取停止计数时的计数值和计数操作的计数频率，将计数值作为计数增量值，根据计数增量值和计数频率，计算延时继电器的延时时长。

在本实施例中，第二中断函数也为定时器中断，并且是由计数结束事件触发的定时器中断，在第二中断函数中，获取到停止计数时的计数值，由于在第一中断函数中，计数器清零了，所以技术结束时的计数值就是计数增量值，将计数增量值和计数频率相乘得到延时时长。

在本实施例中，第一中断函数和第二中断函数均为定时器中断，触发定时器中断的事件至少包括，上溢计数中断，下溢计数中断，开始计数中断和停止计数中断，在本实施例中，若开始计数，则触发第一中断函数，若结束计数，则触发第二中断函数。

可选地，如图4所示，在本申请实施例中，获取计数操作的计数增量值，根据计数增量值和计数频率，计算延时继电器的延时时长的另一种实现方式可以为：

步骤S401：若门控信号发生上升沿跳变，则执行第一中断函数，在第一中断函数中获取开始计数时的初始计数值，并配置下一中断函数的触发条件下降沿触发。

在本实施例中，门控信号一方面用来触发定时器的计数模块开始计数，另一方面，用来触发STM32单片机的外部中断，外部中断需要根据信号的上升沿或下降沿跳变来触发，当门控信号发生上升沿跳变时，也就是门控信号由低电平变为高电平的时刻，此时定时器开始计数，在第一中断函数中获取定时器开始计数时的初始计数值，同时通过在第一中断函数中配置下一中断函数的触发条件为下降沿触发。

步骤S402：若门控信号发生下降沿跳变，则执行第二中断函数，在第二中断函数中获取停止计数时的最终计数值和计数操作的计数频率，将最终计数值和初始计数值的差作为计数增量值，根据计数增量值和计数频率，计算延时继电器的延时时长。

在本实施例中，第二中断函数为外部中断，利用定时器的门控信号触发第二中断函数，外部中断需要根据信号的上升沿或下降沿跳变来触发，门控信号发生下降沿跳变时，也就是门控信号由高电平变为低电平，计数结束时，去执行第二中断函数，从而能够在第二中断函数中获取计数结束时的最终计数值和计数操作的计数频率，将最终计数值和初始计数值的差作为计数增量值，将计数增量值和计数频率相乘，计算得到延时继电器的延时时长。

在上述两种实施方式中，获取计数值，是利用定时器的输入捕获功能捕获的计数值。具体地，定时器包括一个捕获寄存器和一个边沿检测器。边沿检测器的输入端输入门控信号，边沿检测器的输出端连接捕获寄存器。捕获寄存器连接定时器中的计数器，如果检测到门控信号的边沿跳变，则利用捕获寄存器捕获此时计数器中的计数值。

本申请实施例还提供了一种测量方法的示例，如图5所示，具体可以包括以下步骤：

S501：STM32单片机进行初始化。

S502：STM32单片机给延时继电器的线圈输入端上电。

S503：延时继电器将线圈输入端的第一信号和触点输出端的第二信号发送给异或门。

其中，此时，第一信号为高电平，第二信号为低电平。

S504：异或门对第一信号和第二信号进行异或运算后输出高电平的门控信号给STM32单片机。

S505：STM32单片机根据高电平门控信号，开始计数，且触发第一中断函数。

在第一中断函数中清零计数器，并配置下一中断函数的触发条件为下降沿触发。

S506：经过延时时间后，延时继电器触点通电，将线圈输入端的第一信号和触点输出端的第二信号发送给异或门。

其中，此时，第一信号为高电平，第二信号为高电平；

S507：异或门对第一信号和第二信号进行异或与暖后输出低电平的门控信号给STM32单片机。

S508：STM32单片机停止计数，且触发第二中断函数。

在第二中断函数中根据停止计数的计数值和计数频率相乘得到延时时间。

基于相同的技术构思，本申请实施例还提供了一种测量电路，用于测量延时继电器的延时时间，包括：处理器和定时器，定时器和处理器相连接，

定时器用于在识别到延时继电器的线圈通电时，开始计数操作；

在识别到延时继电器的触点通电时，停止计数操作；

处理器用于获取计数操作的计数增量值和计数操作的计数频率；

根据计数增量值和计数频率，计算延时继电器的延时时长。

可选地，电路还包括异或门，

异或门的一个输入端连接延时继电器线圈的输入端；另一个输入端连接延时继电器触点的输出端；异或门的输出端连接定时器的门控输入端。

可选地，延时继电器线圈的输入端经由分压电路与异或门的一个输入端连接。

延时继电器触点的输出端经由分压电路与异或门的另一个输入端连接。

如图6所示，为常开的延时继电器电路的示意图，以该示意图为例，对延时继电器的测量原理进行说明。

在该延时继电器电路中，T-Relay(继电器)表示延时继电器，T-StartSwitch(启动开关)信号为延时继电器启动信号，当K1断开时，T-StartSwitch信号为低电平，K1闭合后，继电器线圈输入端输入DC30Vout+电压信号，且延时启动后T-StartSwitch信号变为高电平；延时继电器公共端连接VCC12V电源，常开端连接RelayTimeout(中继时间)信号，当K1断开时RelayTimeout信号为低电平，当延时继电器经过一段规定的延时后，公共端与常开端闭合，即延时结束后，RelayTimeout信号变为高电平。

电阻R1和R2组成延时继电器线圈输入端的分压电路，电阻R3和R4组成延时继电器触点输出端的分压电路。

采用74LS86异或门芯片实现对T-StartSwitch信号和RelayTimeout信号两路信号进行时序监测，两路信号的异或结果T-delayout(延迟输出)信号连接STM32单片机的输出捕获引脚，由STM32内部的定时器和处理器完成T-delayout信号脉宽的计算。

其中，STM32单片机中的定时器的溢出时间为4294秒，计数器计数周期为1us，可实现1us～4294s的脉宽测量。

具体测量步骤：

步骤1：初始化各部分功能电路，包括K1和K2继电器的控制IO、DA输出清零、定时器捕获通道和计数器周期t、配置定时器中断函数等；

步骤2：通过DA(Digital to Analog，数字信号转换为模拟信号)输出端输出模拟电压控制程控电源输出24V控制电压，闭合继电器K1，给延时继电器加电，经过电阻分压后TStartSwitch由低电平变为5V高电平；

步骤3：闭合继电器K2使12V电压与延时继电器公共端闭合；

步骤4：K2闭合后，T-StartSwitch(启动开关)信号与RelayTimeout(中继时间)信号经异或电路输出，产生由低电平到高电平的跳变，定时器开始计数，触发定时器第一次中断，在中断函数中，清零计数器，等待下一次的中断触发；

步骤5：当延时继电器延时一定时间后，触点公共端由常闭端闭合至常开端，RelayTimeout(中继时间)信号由低电平变为高电平，经异或输出后，产生下降沿信号，定时器结束计数，触发第二次中断，在第二次中断函数获取当前计数器的值N，根据计时器的计数频率t，即可计算出延时继电器延时时间Tx＝N*t；

步骤6：控制DA(Digital to Analog，数字信号转换为模拟信号)输出端输出清零，卸载程控电源，复位K1和K2继电器，完成延时继电器时间参数测试。

如图7所示，为TStartSwitch信号、RelayTimeout信号、Tdelayout信号和PWM(Pulse Width Modulation，脉冲宽度调制)捕获信号的时序图，Tx为继电器延时时间，由此可见，计算出Tdelayout信号的脉冲宽度就计算出了延时继电器的延时时间。

T1时刻，延时继电器线圈通电，TStartSwitch信号由低电平变为高电平，触发定时器开始计数，且触发第一中断函数，在第一中断函数中对计时器计数清零，同时设置下一中断函数由上升沿触发改为下降沿触发，T2时刻，延时继电器触点闭合后，RelayTimeout信号由低电平变为高电平，定时器停止计数，且触发第二中断函数，得到计数器的值，根据定时器的计数频率，即可算出Tx的时间，从而得到延时继电器的延时时间。

本申请实施例还提供了一种单片机，如图8所示，包括处理器801、通信接口802、存储器803和通信总线804，其中，处理器801，通信接口802，存储器803通过通信总线804完成相互间的通信，

存储器803，用于存放计算机程序；

处理器801，用于执行存储器803上所存放的程序时，实现上述可访问资源的展示方法中客户端所执行的方法步骤。

上述客户端提到的通信总线可以是外设部件互连标准(Peripheral ComponentInterconnect，PCI)总线或扩展工业标准结构(Extended Industry StandardArchitecture，EISA)总线等。该通信总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。

通信接口用于上述客户端与其他设备之间的通信。

存储器可以包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)，也可以包括非易失性存储器(Non-Volatile Memory，NVM)，例如至少一个磁盘存储器。可选的，存储器还可以是至少一个位于远离前述处理器的存储装置。

上述的处理器可以是通用处理器，包括中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、网络处理器(Network Processor，NP)等；还可以是数字信号处理器(Digital SignalProcessing，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。

在本申请提供的又一实施例中，还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一测量方法的步骤。

在本申请提供的又一实施例中，还提供了一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述实施例中任一测量方法。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

本发明公开A1.一种测量方法，用于测量延时继电器的延时时间，包括：

在识别到延时继电器的线圈通电时，开始计数操作；

在识别到延时继电器的触点通电时，停止计数操作；

获取计数操作的计数增量值和计数操作的计数频率；

根据计数增量值和计数频率，计算延时继电器的延时时长。

A2.根据A1的方法，在识别到延时继电器的线圈通电时，开始计数操作包括：

获取延时继电器线圈输入端的第一信号；

获取延时继电器触点输出端的第二信号；

根据第一信号和第二信号生成用于控制计数操作的门控信号；

检测门控信号的跳变情况；

若门控信号由低电平变为高电平，则开始计数操作。

A3.根据A1或A2的方法，在识别到延时继电器的触点通电时，停止计数操作包括：

获取延时继电器线圈输入端的第一信号；

获取延时继电器触点输出端的第二信号；

根据第一信号和第二信号生成用于控制计数操作的门控信号；

检测门控信号的跳变情况；

若门控信号由高电平变为低电平，则停止计数操作。

A4.根据A2的方法，根据第一信号和第二信号生成用于控制计数操作的门控信号包括：

将第一信号和第二信号进行异或运算得到门控信号。

A5.根据A3的方法，根据第一信号和第二信号生成用于控制计数操作的门控信号包括：

将第一信号和第二信号进行异或运算得到门控信号。

A6.根据A5的方法，获取延时继电器线圈输入端的第一信号包括：

采集延时继电器线圈输入端的输入电压；

将输入电压进行分压以得到TTL电平信号。

A7.根据A5的方法，获取延时继电器触点输出端的第二信号包括：

采集延时继电器触点输出端的输入电压；

将输入电压进行分压以得到TTL电平信号。

A8.根据A1的方法，获取计数操作的计数增量值，根据计数增量值和计数频率，计算延时继电器的延时时长包括：

若开始计数操作，则执行第一中断函数，在第一中断函数中清零计数器；

若停止计数操作，则执行第二中断函数，在第二中断函数中获取停止计数时的计数值和计数操作的计数频率，将计数值作为计数增量值，根据计数增量值和计数频率，计算延时继电器的延时时长。

A9.根据A1的方法，获取计数操作的计数增量值，根据计数增量值和计数频率，计算延时继电器的延时时长包括：

若门控信号发生上升沿跳变，则执行第一中断函数，在第一中断函数中获取开始计数时的初始计数值；并配置下一中断函数的触发条件下降沿触发

若门控信号发生下降沿跳变，则执行第二中断函数，在第二中断函数中获取停止计数时的最终计数值和计数操作的计数频率，将最终计数值和初始计数值的差作为计数增量值，根据计数增量值和计数频率，计算延时继电器的延时时长。

本发明还公开B10.一种测量电路，用于测量延时继电器的延时时间，包括：处理器和定时器，定时器和处理器相连接，

定时器用于在识别到延时继电器的线圈通电时，开始计数操作；

在识别到延时继电器的触点通电时，停止计数操作；

处理器用于获取计数操作的计数增量值和计数操作的计数频率；

根据计数增量值和计数频率，计算延时继电器的延时时长。

B11.根据B10的电路，电路还包括异或门，

异或门的一个输入端连接延时继电器线圈的输入端；另一个输入端连接延时继电器触点的输出端；异或门的输出端连接定时器的门控输入端。

B12.根据B11的电路，延时继电器线圈的输入端经由分压电路与异或门的一个输入端连接。

B13.根据B11的电路，延时继电器触点的输出端经由分压电路与异或门的另一个输入端连接。

Claims (10)

1.一种测量方法，用于测量延时继电器的延时时间，其特征在于，包括：

在识别到所述延时继电器的线圈通电时，开始计数操作；

在识别到所述延时继电器的触点通电时，停止所述计数操作；

获取所述计数操作的计数增量值和所述计数操作的计数频率；

根据所述计数增量值和所述计数频率，计算所述延时继电器的延时时长。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在识别到所述延时继电器的线圈通电时，开始计数操作包括：

获取延时继电器线圈输入端的第一信号；

获取延时继电器触点输出端的第二信号；

根据所述第一信号和第二信号生成用于控制计数操作的门控信号；

检测所述门控信号的跳变情况；

若门控信号由低电平变为高电平，则开始计数操作。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述在识别到所述延时继电器的触点通电时，停止所述计数操作包括：

获取延时继电器线圈输入端的第一信号；

获取延时继电器触点输出端的第二信号；

根据所述第一信号和第二信号生成用于控制计数操作的门控信号；

检测所述门控信号的跳变情况；

若门控信号由高电平变为低电平，则停止计数操作。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一信号和第二信号生成用于控制计数操作的门控信号包括：

将所述第一信号和第二信号进行异或运算得到所述门控信号。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一信号和第二信号生成用于控制计数操作的门控信号包括：

将所述第一信号和第二信号进行异或运算得到所述门控信号。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述获取延时继电器线圈输入端的第一信号包括：

采集所述延时继电器线圈输入端的输入电压；

将所述输入电压进行分压以得到TTL电平信号。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述获取延时继电器触点输出端的第二信号包括：

采集所述延时继电器触点输出端的输入电压；

将所述输入电压进行分压以得到TTL电平信号。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述计数操作的计数增量值，根据所述计数增量值和所述计数频率，计算所述延时继电器的延时时长包括：

若开始计数操作，则执行第一中断函数，在所述第一中断函数中清零计数器；

若停止所述计数操作，则执行第二中断函数，在所述第二中断函数中获取停止计数时的计数值和所述计数操作的计数频率，将所述计数值作为计数增量值，根据所述计数增量值和所述计数频率，计算所述延时继电器的延时时长。

9.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取所述计数操作的计数增量值，根据所述计数增量值和所述计数频率，计算所述延时继电器的延时时长包括：

若门控信号发生上升沿跳变，则执行第一中断函数，在所述第一中断函数中获取开始计数时的初始计数值；并配置下一中断函数的触发条件下降沿触发；

若门控信号发生下降沿跳变，则执行第二中断函数，在所述第二中断函数中获取停止计数时的最终计数值和所述计数操作的计数频率，将所述最终计数值和初始计数值的差作为计数增量值，根据所述计数增量值和所述计数频率，计算所述延时继电器的延时时长。

10.一种测量电路，用于测量延时继电器的延时时间，其特征在于，包括：处理器和定时器，所述定时器和处理器相连接，

所述定时器用于在识别到所述延时继电器的线圈通电时，开始计数操作；

在识别到所述延时继电器的触点通电时，停止所述计数操作；

所述处理器用于获取所述计数操作的计数增量值和所述计数操作的计数频率；

根据所述计数增量值和所述计数频率，计算所述延时继电器的延时时长。

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