JPS5866069A - 非直線抵抗体の電気特性判別方法 - Google Patents
非直線抵抗体の電気特性判別方法Info
- Publication number
- JPS5866069A JPS5866069A JP56164439A JP16443981A JPS5866069A JP S5866069 A JPS5866069 A JP S5866069A JP 56164439 A JP56164439 A JP 56164439A JP 16443981 A JP16443981 A JP 16443981A JP S5866069 A JPS5866069 A JP S5866069A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- peak
- resistor
- sample
- peak value
- good
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Thermistors And Varistors (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はＺｎＯを主成分とする非直線抵抗体の電気特性
判別方法に関するものである。
判別方法に関するものである。
従来、Ｚｎｏｌに主成分とする非直線抵抗体（以下Ｚｎ
Ｏ素子と称する−の電気特性の判別は、そのＶ−ｉ特性
の測定によってα（非直線指数）値を求め、このα値の
大小によって行っていた。しかし。
Ｏ素子と称する−の電気特性の判別は、そのＶ−ｉ特性
の測定によってα（非直線指数）値を求め、このα値の
大小によって行っていた。しかし。
α値の良いことと寿命特性ｆ制限電圧比特性などの電気
特性の良いことと社必ずしも結び付かないため、α値の
大きいこと社必要とされながらその他の電気特性の良否
の目安とはなり、難かった。従って、寿命特性や制限電
圧比特性等は各々試験を行って良否の判別を行わねばな
らず、その際にＺｎｏ素子に試験の履歴が残り時間もか
かるため特に製品の場合には抜き取り試験を行っていた
。
特性の良いことと社必ずしも結び付かないため、α値の
大きいこと社必要とされながらその他の電気特性の良否
の目安とはなり、難かった。従って、寿命特性や制限電
圧比特性等は各々試験を行って良否の判別を行わねばな
らず、その際にＺｎｏ素子に試験の履歴が残り時間もか
かるため特に製品の場合には抜き取り試験を行っていた
。
本発明は上記の欠点を除去して５Ｚｎｏｔ主成分とする
非直線抵抗体の寿命特性および制限電圧比特性の良否の
判別を一回の試験により短時間でかつ非直線抵抗体に履
歴ｔ−残さずに行うことができる非直線抵抗体の電気特
性判別方法を提供することを目的とする。
非直線抵抗体の寿命特性および制限電圧比特性の良否の
判別を一回の試験により短時間でかつ非直線抵抗体に履
歴ｔ−残さずに行うことができる非直線抵抗体の電気特
性判別方法を提供することを目的とする。
以下本発明の実施例を図面とともに説明する。
第１図（Ａ）はＺｎＯ素子の熱刺激電流（以下Ｔｒｉｏ
と称するａ測定装置を示し、第１図（Ｂ）はＺｎＯ素子
の試料／を示す。試料ｌは両端にムＵ蒸着電極／ａ、／
ｂを有し、その大きさは８０ψｘ１ｔである。コは円板
状に形成された銅板で、その上部には試料ｌの一方の電
極および熱電対３と３１ｃ貼附したダミイ試料３′が密
着される。又、銅板コの側部には冷媒通流用の銅パイプ
弘が一体に設けられ、銅板コの下方にはヒータｊが設け
られる。これらの部材／〜ｊは真空槽６内に収納される
。又、７は試料／の他方の電極に接続された切換スイッ
チで、切換スイッチ７は切換接点７ａ、７ｂを有し、切
換接点７ａは電圧ｖｂの直流電源ｔおよび微少電流計り
を介して鋼板コの上部に接続され、切換接点７ｂは直接
微少電流計？に接続される。そして、熱電対Ｊの出力は
接続線１０を介してＸ−ＹレコーダのＸ軸に接続され、
微少電流計９の出力は接続線／／を介してＸ−Ｙレコー
ダのＹ軸に接続される。
と称するａ測定装置を示し、第１図（Ｂ）はＺｎＯ素子
の試料／を示す。試料ｌは両端にムＵ蒸着電極／ａ、／
ｂを有し、その大きさは８０ψｘ１ｔである。コは円板
状に形成された銅板で、その上部には試料ｌの一方の電
極および熱電対３と３１ｃ貼附したダミイ試料３′が密
着される。又、銅板コの側部には冷媒通流用の銅パイプ
弘が一体に設けられ、銅板コの下方にはヒータｊが設け
られる。これらの部材／〜ｊは真空槽６内に収納される
。又、７は試料／の他方の電極に接続された切換スイッ
チで、切換スイッチ７は切換接点７ａ、７ｂを有し、切
換接点７ａは電圧ｖｂの直流電源ｔおよび微少電流計り
を介して鋼板コの上部に接続され、切換接点７ｂは直接
微少電流計？に接続される。そして、熱電対Ｊの出力は
接続線１０を介してＸ−ＹレコーダのＸ軸に接続され、
微少電流計９の出力は接続線／／を介してＸ−Ｙレコー
ダのＹ軸に接続される。
上記装置において、 Ｔ８０の測定に際してはヒータＳ
による銅板コの加熱および銅パイプダ内の冷媒の通流に
よる銅板コの冷却により試料／の温度ｔｊｌ１２図（Ａ
）に示すように変化させる。即ち、まず切換スイッチ７
を切換接点７ａに接続して銅板コを介して試料／に電圧
ｖｂを印加しつつ試料ｌの温度を室温から１５０＠Ｋま
で冷却する。この間に試料／には第２図体）の■に示す
電流が流れる０次に切換スイッチ７を切換接点７ｂに接
続して試料／の両端を微少電流計？を介して短絡し、一
定の昇温速度で温度ｔ＋（’Ｃ）側まで上昇させる。こ
の間に試料／には第２図（Ｂ）の■に示すような電流が
流れ、この電流が７８０である。
による銅板コの加熱および銅パイプダ内の冷媒の通流に
よる銅板コの冷却により試料／の温度ｔｊｌ１２図（Ａ
）に示すように変化させる。即ち、まず切換スイッチ７
を切換接点７ａに接続して銅板コを介して試料／に電圧
ｖｂを印加しつつ試料ｌの温度を室温から１５０＠Ｋま
で冷却する。この間に試料／には第２図体）の■に示す
電流が流れる０次に切換スイッチ７を切換接点７ｂに接
続して試料／の両端を微少電流計？を介して短絡し、一
定の昇温速度で温度ｔ＋（’Ｃ）側まで上昇させる。こ
の間に試料／には第２図（Ｂ）の■に示すような電流が
流れ、この電流が７８０である。
第８図は制限電圧比（Ｖ＊、ｓｈａ／ｖｔｍＡ） オよ
び直流寿命（７５℃で９０％Ｖｔｍム印加時）の既に判
明した５個の試料／ム（制限電圧比１．８４、直流寿命
７０時間、以下同じ）、／ＩＩ（１，６５，１０００時
間）、／Ｃ（１，６９，１ｏｏｏｏ時間）、／Ｄ（１，
６７，４００００時間）、／Ｅ（１，９８，１０００時
間）について上記のようにしてＴ８０を測定した場合に
おいてＸ−Ｙレコーダに足場れた温度とＴＳＣの関係図
で、Ｔｏｏには温度上昇に従って三つのピークが生じる
。図から明らかなように第２のピークにおけるピーク値
とその半価幅（ピーク値の半分の値の横幅）との比が制
限電圧比特性と密接な関係を有し、又第８ピークにおけ
るピーク値の大小が寿命特性と密接な関係を有する。第
４図は各試料／Ａ〜／鵞における第２ピーク値／半価幅
と制限電圧比（Ｔ１．ＩｋＡ／７１１ｍム）の関係を示
すもので、第２ピーク値／半価幅が大きい程制限電圧比
が小さくなり特性が良好になることが判明する。
び直流寿命（７５℃で９０％Ｖｔｍム印加時）の既に判
明した５個の試料／ム（制限電圧比１．８４、直流寿命
７０時間、以下同じ）、／ＩＩ（１，６５，１０００時
間）、／Ｃ（１，６９，１ｏｏｏｏ時間）、／Ｄ（１，
６７，４００００時間）、／Ｅ（１，９８，１０００時
間）について上記のようにしてＴ８０を測定した場合に
おいてＸ−Ｙレコーダに足場れた温度とＴＳＣの関係図
で、Ｔｏｏには温度上昇に従って三つのピークが生じる
。図から明らかなように第２のピークにおけるピーク値
とその半価幅（ピーク値の半分の値の横幅）との比が制
限電圧比特性と密接な関係を有し、又第８ピークにおけ
るピーク値の大小が寿命特性と密接な関係を有する。第
４図は各試料／Ａ〜／鵞における第２ピーク値／半価幅
と制限電圧比（Ｔ１．ＩｋＡ／７１１ｍム）の関係を示
すもので、第２ピーク値／半価幅が大きい程制限電圧比
が小さくなり特性が良好になることが判明する。
父、第５図は各試料／Ａ〜／！について第８ピーク値と
直流寿命との関係管示すもので、第８のピーク値が小さ
くな６程直流寿命は長くなることが判明する。尚、Ｖｂ
は７１ｍ１ムの６０％〜９５４＠度が望ましい。Ｖｂが
これ以下であると三つのピークが明確に出す、又これ以
上であるとＺｎＯ素子に多く電流が流れて履歴ｔ−残す
恐れがあるからである。
直流寿命との関係管示すもので、第８のピーク値が小さ
くな６程直流寿命は長くなることが判明する。尚、Ｖｂ
は７１ｍ１ムの６０％〜９５４＠度が望ましい。Ｖｂが
これ以下であると三つのピークが明確に出す、又これ以
上であるとＺｎＯ素子に多く電流が流れて履歴ｔ−残す
恐れがあるからである。
以上のように本発明においては、Ｚｎｏｔ−主成分とす
る非直ｉｓ抵抗体を電圧を印加しつつ冷却し。
る非直ｉｓ抵抗体を電圧を印加しつつ冷却し。
しかる後に該非直線抵抗体をその両端間を短絡しなから
加熱して熱刺激電流を測定し、この熱刺激電流において
生じる三つのピークのうちＪＩ２のビークにおけるピー
ク値とその半価幅との比の大小により制限電圧比の良否
を判別し、かつ第８のビークのピーク値の大小により寿
命特性の良否を判別している。従って、１回の試験によ
り制限電圧比の良否と寿命特性の良否を判別することが
でき、又試験の際に時間ｔ−６まり要さず、かつ印加電
圧もあまり大きくなくて良いので非直線抵抗体に履歴を
残すこともない。又、これに伴って製品の全数試験も可
能となる。
加熱して熱刺激電流を測定し、この熱刺激電流において
生じる三つのピークのうちＪＩ２のビークにおけるピー
ク値とその半価幅との比の大小により制限電圧比の良否
を判別し、かつ第８のビークのピーク値の大小により寿
命特性の良否を判別している。従って、１回の試験によ
り制限電圧比の良否と寿命特性の良否を判別することが
でき、又試験の際に時間ｔ−６まり要さず、かつ印加電
圧もあまり大きくなくて良いので非直線抵抗体に履歴を
残すこともない。又、これに伴って製品の全数試験も可
能となる。
［１図（Ａ） 、 （Ｂ）は夫々非直線抵抗体の熱刺激
電流測定装置の構成図および非直線抵抗体の試料の正面
図、第２図α） ｔ （Ｂ）は夫々非直線抵抗体の熱刺
激電流測定時における時間温度特性図および時間室ｆｌ
Ｉｔ特性図、第３図は非直線抵抗体の各試料におけるｓ
ＷＬ熱刺激電流特性図、第４，５図は夫々非直線抵抗体
の各試料における第２ピーク値／半価幅−制限電圧比特
性図および第８ピーク値−直流寿命特性図。 ／、／ム〜／Ｉ ・・・非直線抵抗体の試料、４・・・
銅板、Ｊ・・・熱電対、３・・・ダミイ試料、ｔ・・・
銅パイプ、！・・・ヒータ、７・・・切換スイッチ、ｌ
・・・直流電源、２・・・微少電流計、 Ｔ８Ｃｉ・・
・熱刺激電流。 第４図 ” ２”％Ｓ＊’６ （１０９／、。）第３ピークイ
＋！（１０’Ａ）
電流測定装置の構成図および非直線抵抗体の試料の正面
図、第２図α） ｔ （Ｂ）は夫々非直線抵抗体の熱刺
激電流測定時における時間温度特性図および時間室ｆｌ
Ｉｔ特性図、第３図は非直線抵抗体の各試料におけるｓ
ＷＬ熱刺激電流特性図、第４，５図は夫々非直線抵抗体
の各試料における第２ピーク値／半価幅−制限電圧比特
性図および第８ピーク値−直流寿命特性図。 ／、／ム〜／Ｉ ・・・非直線抵抗体の試料、４・・・
銅板、Ｊ・・・熱電対、３・・・ダミイ試料、ｔ・・・
銅パイプ、！・・・ヒータ、７・・・切換スイッチ、ｌ
・・・直流電源、２・・・微少電流計、 Ｔ８Ｃｉ・・
・熱刺激電流。 第４図 ” ２”％Ｓ＊’６ （１０９／、。）第３ピークイ
＋！（１０’Ａ）
Claims (1)
- ＺｎＯを主成分とする非直線抵抗体を電圧を印加しつつ
冷却し、しかる後に該非直線抵抗体をその両端間を短絡
しながら加熱して該非直線抵抗体の熱刺激電流音測定し
、該熱刺激電流の第２のビークにおけるピーク値とその
半価幅との比の大／Ｊ％により非直線抵抗体の制限電圧
比特性の良否ｔ ’！ＩＩ ＭＩＪするとともに、該熱
刺激電流の第８のピークにおけるピーク値の大小により
非直線抵抗体の寿命特性の良否を判別することｔ％微と
する非直線抵抗体の電気特性判別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56164439A JPS5866069A (ja) | 1981-10-15 | 1981-10-15 | 非直線抵抗体の電気特性判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56164439A JPS5866069A (ja) | 1981-10-15 | 1981-10-15 | 非直線抵抗体の電気特性判別方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5866069A true JPS5866069A (ja) | 1983-04-20 |
Family
ID=15793179
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56164439A Pending JPS5866069A (ja) | 1981-10-15 | 1981-10-15 | 非直線抵抗体の電気特性判別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5866069A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ES2164604A1 (es) * | 2000-05-17 | 2002-02-16 | Univ Catalunya Politecnica | Horno cilindrico para medidas de corrientes estimuladas termicamente en recubrimientos aislantes. |
| CN104375040A (zh) * | 2014-11-21 | 2015-02-25 | 国家电网公司 | 一种压敏电阻伏安特性的测量*** |
-
1981
- 1981-10-15 JP JP56164439A patent/JPS5866069A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ES2164604A1 (es) * | 2000-05-17 | 2002-02-16 | Univ Catalunya Politecnica | Horno cilindrico para medidas de corrientes estimuladas termicamente en recubrimientos aislantes. |
| CN104375040A (zh) * | 2014-11-21 | 2015-02-25 | 国家电网公司 | 一种压敏电阻伏安特性的测量*** |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US2264968A (en) | Apparatus for measuring wall thickness | |
| KR0183398B1 (ko) | 가스의 열 전도율 측정 방법 및 장치 | |
| WO2001016614A1 (en) | Method and apparatus for electronically evaluating the internal temperature of an electrochemical cell or battery | |
| US4722611A (en) | Apparatus and process for monitoring the cooling properties of liquid quenchants and restoring used quenchants | |
| US4918974A (en) | Method and apparatus for the measurement of the thermal conductivity of gases | |
| JPS5866069A (ja) | 非直線抵抗体の電気特性判別方法 | |
| Marcus | Electrical resistometric detection of relaxation in an amorphous Pd Si Sb alloy | |
| CN209446504U (zh) | 一种可同时测量热电参数和霍尔系数的测量*** | |
| Robinson | The Unpolarized Resistivity of Glass | |
| Sarnes et al. | Determination of the time behaviour of thermocouples for sensor speedup and medium supervision | |
| Zrudsky et al. | A high resolution dynamic technique of thermoelectric power measurements | |
| JPH06151537A (ja) | 配線寿命の評価方法 | |
| CN117870912B (zh) | 一种测量ptc热敏元件的最大电流的方法及装置 | |
| SU754526A1 (ru) | Устройство дл определени теплофизических характеристик образцов | |
| CN114184860B (zh) | 一种测试铜排铆接端子耐电流能力的试验方法 | |
| US458784A (en) | Carl august caspersson | |
| Quandt et al. | Experimental and theoretical analysis of the transient response of surface bonded thermocouples | |
| JPS5860269A (ja) | 非直線抵抗体の寿命判定方法 | |
| Sullivan et al. | Basic BEOL parameters from isothermal wafer level electromigration testing | |
| CN109444221A (zh) | 一种半导体致冷晶棒测试仪及测试方法 | |
| WEINLAND | A Method of Measuring Thermal Conductivity at Furnace Temperatures | |
| Vandamme | Correspondence: Comments on" 1/f Noise in Metal Contacts and Granular Resistors" | |
| US2206849A (en) | Spark coil testing | |
| Nicolaus | Reconstruction of the original heatflux curve for a calorimetric measuring device | |
| JPH01301189A (ja) | 半導体装置の電気的特性測定方法 |