JPS5866069A - 非直線抵抗体の電気特性判別方法 - Google Patents
非直線抵抗体の電気特性判別方法Info
- Publication number
- JPS5866069A JPS5866069A JP56164439A JP16443981A JPS5866069A JP S5866069 A JPS5866069 A JP S5866069A JP 56164439 A JP56164439 A JP 56164439A JP 16443981 A JP16443981 A JP 16443981A JP S5866069 A JPS5866069 A JP S5866069A
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- resistor
- sample
- peak value
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Thermistors And Varistors (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はZnOを主成分とする非直線抵抗体の電気特性
判別方法に関するものである。
判別方法に関するものである。
従来、Znolに主成分とする非直線抵抗体(以下Zn
O素子と称する−の電気特性の判別は、そのV−i特性
の測定によってα(非直線指数)値を求め、このα値の
大小によって行っていた。しかし。
O素子と称する−の電気特性の判別は、そのV−i特性
の測定によってα(非直線指数)値を求め、このα値の
大小によって行っていた。しかし。
α値の良いことと寿命特性f制限電圧比特性などの電気
特性の良いことと社必ずしも結び付かないため、α値の
大きいこと社必要とされながらその他の電気特性の良否
の目安とはなり、難かった。従って、寿命特性や制限電
圧比特性等は各々試験を行って良否の判別を行わねばな
らず、その際にZno素子に試験の履歴が残り時間もか
かるため特に製品の場合には抜き取り試験を行っていた
。
特性の良いことと社必ずしも結び付かないため、α値の
大きいこと社必要とされながらその他の電気特性の良否
の目安とはなり、難かった。従って、寿命特性や制限電
圧比特性等は各々試験を行って良否の判別を行わねばな
らず、その際にZno素子に試験の履歴が残り時間もか
かるため特に製品の場合には抜き取り試験を行っていた
。
本発明は上記の欠点を除去して5Znot主成分とする
非直線抵抗体の寿命特性および制限電圧比特性の良否の
判別を一回の試験により短時間でかつ非直線抵抗体に履
歴t−残さずに行うことができる非直線抵抗体の電気特
性判別方法を提供することを目的とする。
非直線抵抗体の寿命特性および制限電圧比特性の良否の
判別を一回の試験により短時間でかつ非直線抵抗体に履
歴t−残さずに行うことができる非直線抵抗体の電気特
性判別方法を提供することを目的とする。
以下本発明の実施例を図面とともに説明する。
第1図(A)はZnO素子の熱刺激電流(以下Trio
と称するa測定装置を示し、第1図(B)はZnO素子
の試料/を示す。試料lは両端にムU蒸着電極/a、/
bを有し、その大きさは80ψx1tである。コは円板
状に形成された銅板で、その上部には試料lの一方の電
極および熱電対3と31c貼附したダミイ試料3′が密
着される。又、銅板コの側部には冷媒通流用の銅パイプ
弘が一体に設けられ、銅板コの下方にはヒータjが設け
られる。これらの部材/〜jは真空槽6内に収納される
。又、7は試料/の他方の電極に接続された切換スイッ
チで、切換スイッチ7は切換接点7a、7bを有し、切
換接点7aは電圧vbの直流電源tおよび微少電流計り
を介して鋼板コの上部に接続され、切換接点7bは直接
微少電流計?に接続される。そして、熱電対Jの出力は
接続線10を介してX−YレコーダのX軸に接続され、
微少電流計9の出力は接続線//を介してX−Yレコー
ダのY軸に接続される。
と称するa測定装置を示し、第1図(B)はZnO素子
の試料/を示す。試料lは両端にムU蒸着電極/a、/
bを有し、その大きさは80ψx1tである。コは円板
状に形成された銅板で、その上部には試料lの一方の電
極および熱電対3と31c貼附したダミイ試料3′が密
着される。又、銅板コの側部には冷媒通流用の銅パイプ
弘が一体に設けられ、銅板コの下方にはヒータjが設け
られる。これらの部材/〜jは真空槽6内に収納される
。又、7は試料/の他方の電極に接続された切換スイッ
チで、切換スイッチ7は切換接点7a、7bを有し、切
換接点7aは電圧vbの直流電源tおよび微少電流計り
を介して鋼板コの上部に接続され、切換接点7bは直接
微少電流計?に接続される。そして、熱電対Jの出力は
接続線10を介してX−YレコーダのX軸に接続され、
微少電流計9の出力は接続線//を介してX−Yレコー
ダのY軸に接続される。
上記装置において、 T80の測定に際してはヒータS
による銅板コの加熱および銅パイプダ内の冷媒の通流に
よる銅板コの冷却により試料/の温度tjl12図(A
)に示すように変化させる。即ち、まず切換スイッチ7
を切換接点7aに接続して銅板コを介して試料/に電圧
vbを印加しつつ試料lの温度を室温から150@Kま
で冷却する。この間に試料/には第2図体)の■に示す
電流が流れる0次に切換スイッチ7を切換接点7bに接
続して試料/の両端を微少電流計?を介して短絡し、一
定の昇温速度で温度t+(’C)側まで上昇させる。こ
の間に試料/には第2図(B)の■に示すような電流が
流れ、この電流が780である。
による銅板コの加熱および銅パイプダ内の冷媒の通流に
よる銅板コの冷却により試料/の温度tjl12図(A
)に示すように変化させる。即ち、まず切換スイッチ7
を切換接点7aに接続して銅板コを介して試料/に電圧
vbを印加しつつ試料lの温度を室温から150@Kま
で冷却する。この間に試料/には第2図体)の■に示す
電流が流れる0次に切換スイッチ7を切換接点7bに接
続して試料/の両端を微少電流計?を介して短絡し、一
定の昇温速度で温度t+(’C)側まで上昇させる。こ
の間に試料/には第2図(B)の■に示すような電流が
流れ、この電流が780である。
第8図は制限電圧比(V*、sha/vtmA) オよ
び直流寿命(75℃で90%Vtmム印加時)の既に判
明した5個の試料/ム(制限電圧比1.84、直流寿命
70時間、以下同じ)、/II(1,65,1000時
間)、/C(1,69,1oooo時間)、/D(1,
67,40000時間)、/E(1,98,1000時
間)について上記のようにしてT80を測定した場合に
おいてX−Yレコーダに足場れた温度とTSCの関係図
で、Tooには温度上昇に従って三つのピークが生じる
。図から明らかなように第2のピークにおけるピーク値
とその半価幅(ピーク値の半分の値の横幅)との比が制
限電圧比特性と密接な関係を有し、又第8ピークにおけ
るピーク値の大小が寿命特性と密接な関係を有する。第
4図は各試料/A〜/鵞における第2ピーク値/半価幅
と制限電圧比(T1.IkA/711mム)の関係を示
すもので、第2ピーク値/半価幅が大きい程制限電圧比
が小さくなり特性が良好になることが判明する。
び直流寿命(75℃で90%Vtmム印加時)の既に判
明した5個の試料/ム(制限電圧比1.84、直流寿命
70時間、以下同じ)、/II(1,65,1000時
間)、/C(1,69,1oooo時間)、/D(1,
67,40000時間)、/E(1,98,1000時
間)について上記のようにしてT80を測定した場合に
おいてX−Yレコーダに足場れた温度とTSCの関係図
で、Tooには温度上昇に従って三つのピークが生じる
。図から明らかなように第2のピークにおけるピーク値
とその半価幅(ピーク値の半分の値の横幅)との比が制
限電圧比特性と密接な関係を有し、又第8ピークにおけ
るピーク値の大小が寿命特性と密接な関係を有する。第
4図は各試料/A〜/鵞における第2ピーク値/半価幅
と制限電圧比(T1.IkA/711mム)の関係を示
すもので、第2ピーク値/半価幅が大きい程制限電圧比
が小さくなり特性が良好になることが判明する。
父、第5図は各試料/A〜/!について第8ピーク値と
直流寿命との関係管示すもので、第8のピーク値が小さ
くな6程直流寿命は長くなることが判明する。尚、Vb
は71m1ムの60%〜954@度が望ましい。Vbが
これ以下であると三つのピークが明確に出す、又これ以
上であるとZnO素子に多く電流が流れて履歴t−残す
恐れがあるからである。
直流寿命との関係管示すもので、第8のピーク値が小さ
くな6程直流寿命は長くなることが判明する。尚、Vb
は71m1ムの60%〜954@度が望ましい。Vbが
これ以下であると三つのピークが明確に出す、又これ以
上であるとZnO素子に多く電流が流れて履歴t−残す
恐れがあるからである。
以上のように本発明においては、Znot−主成分とす
る非直is抵抗体を電圧を印加しつつ冷却し。
る非直is抵抗体を電圧を印加しつつ冷却し。
しかる後に該非直線抵抗体をその両端間を短絡しなから
加熱して熱刺激電流を測定し、この熱刺激電流において
生じる三つのピークのうちJI2のビークにおけるピー
ク値とその半価幅との比の大小により制限電圧比の良否
を判別し、かつ第8のビークのピーク値の大小により寿
命特性の良否を判別している。従って、1回の試験によ
り制限電圧比の良否と寿命特性の良否を判別することが
でき、又試験の際に時間t−6まり要さず、かつ印加電
圧もあまり大きくなくて良いので非直線抵抗体に履歴を
残すこともない。又、これに伴って製品の全数試験も可
能となる。
加熱して熱刺激電流を測定し、この熱刺激電流において
生じる三つのピークのうちJI2のビークにおけるピー
ク値とその半価幅との比の大小により制限電圧比の良否
を判別し、かつ第8のビークのピーク値の大小により寿
命特性の良否を判別している。従って、1回の試験によ
り制限電圧比の良否と寿命特性の良否を判別することが
でき、又試験の際に時間t−6まり要さず、かつ印加電
圧もあまり大きくなくて良いので非直線抵抗体に履歴を
残すこともない。又、これに伴って製品の全数試験も可
能となる。
[1図(A) 、 (B)は夫々非直線抵抗体の熱刺激
電流測定装置の構成図および非直線抵抗体の試料の正面
図、第2図α) t (B)は夫々非直線抵抗体の熱刺
激電流測定時における時間温度特性図および時間室fl
It特性図、第3図は非直線抵抗体の各試料におけるs
WL熱刺激電流特性図、第4,5図は夫々非直線抵抗体
の各試料における第2ピーク値/半価幅−制限電圧比特
性図および第8ピーク値−直流寿命特性図。 /、/ム〜/I ・・・非直線抵抗体の試料、4・・・
銅板、J・・・熱電対、3・・・ダミイ試料、t・・・
銅パイプ、!・・・ヒータ、7・・・切換スイッチ、l
・・・直流電源、2・・・微少電流計、 T8Ci・・
・熱刺激電流。 第4図 ” 2”%S*’6 (109/、。)第3ピークイ
+!(10’A)
電流測定装置の構成図および非直線抵抗体の試料の正面
図、第2図α) t (B)は夫々非直線抵抗体の熱刺
激電流測定時における時間温度特性図および時間室fl
It特性図、第3図は非直線抵抗体の各試料におけるs
WL熱刺激電流特性図、第4,5図は夫々非直線抵抗体
の各試料における第2ピーク値/半価幅−制限電圧比特
性図および第8ピーク値−直流寿命特性図。 /、/ム〜/I ・・・非直線抵抗体の試料、4・・・
銅板、J・・・熱電対、3・・・ダミイ試料、t・・・
銅パイプ、!・・・ヒータ、7・・・切換スイッチ、l
・・・直流電源、2・・・微少電流計、 T8Ci・・
・熱刺激電流。 第4図 ” 2”%S*’6 (109/、。)第3ピークイ
+!(10’A)
Claims (1)
- ZnOを主成分とする非直線抵抗体を電圧を印加しつつ
冷却し、しかる後に該非直線抵抗体をその両端間を短絡
しながら加熱して該非直線抵抗体の熱刺激電流音測定し
、該熱刺激電流の第2のビークにおけるピーク値とその
半価幅との比の大/J%により非直線抵抗体の制限電圧
比特性の良否t ’!II MIJするとともに、該熱
刺激電流の第8のピークにおけるピーク値の大小により
非直線抵抗体の寿命特性の良否を判別することt%微と
する非直線抵抗体の電気特性判別方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56164439A JPS5866069A (ja) | 1981-10-15 | 1981-10-15 | 非直線抵抗体の電気特性判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56164439A JPS5866069A (ja) | 1981-10-15 | 1981-10-15 | 非直線抵抗体の電気特性判別方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5866069A true JPS5866069A (ja) | 1983-04-20 |
Family
ID=15793179
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56164439A Pending JPS5866069A (ja) | 1981-10-15 | 1981-10-15 | 非直線抵抗体の電気特性判別方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5866069A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ES2164604A1 (es) * | 2000-05-17 | 2002-02-16 | Univ Catalunya Politecnica | Horno cilindrico para medidas de corrientes estimuladas termicamente en recubrimientos aislantes. |
CN104375040A (zh) * | 2014-11-21 | 2015-02-25 | 国家电网公司 | 一种压敏电阻伏安特性的测量*** |
-
1981
- 1981-10-15 JP JP56164439A patent/JPS5866069A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ES2164604A1 (es) * | 2000-05-17 | 2002-02-16 | Univ Catalunya Politecnica | Horno cilindrico para medidas de corrientes estimuladas termicamente en recubrimientos aislantes. |
CN104375040A (zh) * | 2014-11-21 | 2015-02-25 | 国家电网公司 | 一种压敏电阻伏安特性的测量*** |
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