JPS5860269A - 非直線抵抗体の寿命判定方法 - Google Patents
非直線抵抗体の寿命判定方法Info
- Publication number
- JPS5860269A JPS5860269A JP15846881A JP15846881A JPS5860269A JP S5860269 A JPS5860269 A JP S5860269A JP 15846881 A JP15846881 A JP 15846881A JP 15846881 A JP15846881 A JP 15846881A JP S5860269 A JPS5860269 A JP S5860269A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- sample
- life
- zno
- lifespan
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2642—Testing semiconductor operation lifetime or reliability, e.g. by accelerated life tests
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明FiZnok主成分とする非直線抵抗体の寿命判
定方法に関するものである。
定方法に関するものである。
健米、非m線抵抗体の寿命脣性鑞直流、又旗にか、かわ
らず実線に長時間の課電試験を行った結果より求めてい
た。このため寿命特性の、画定には多大の時間を盛装と
し、又課電試験は破壊試験の一向もあるので試験した非
直線抵抗体に履歴を残す結果となった。さらに寿命の推
定は温度、昧電電圧を変えて同徳試料について数水準の
賦験會行いアレニウスプロットより求めた直騨によって
行うため[11槽、1!源など多くの設備を会費とした
。
らず実線に長時間の課電試験を行った結果より求めてい
た。このため寿命特性の、画定には多大の時間を盛装と
し、又課電試験は破壊試験の一向もあるので試験した非
直線抵抗体に履歴を残す結果となった。さらに寿命の推
定は温度、昧電電圧を変えて同徳試料について数水準の
賦験會行いアレニウスプロットより求めた直騨によって
行うため[11槽、1!源など多くの設備を会費とした
。
又、従来のZnO糸非1[11抵抗体の寿命特性では実
−際に熱麺走したデータの蓄積により寿命の推軍は可能
であったが、改良されたZnO糸の非III/M抵抗体
Fi、寿命%性が良いために熱I#走したデータが得−
く、上記したような方法では寿臀の推定は行い離かった
。
−際に熱麺走したデータの蓄積により寿命の推軍は可能
であったが、改良されたZnO糸の非III/M抵抗体
Fi、寿命%性が良いために熱I#走したデータが得−
く、上記したような方法では寿臀の推定は行い離かった
。
本発kJ811上記の点を考慝して、簡単な設愉により
短時間で精確にかつ非破壊的に非m線抵抗体の寿m%性
の良台の判別および寿命の推定【行うことができる非直
線抵抗体の寿命判定方法t−提供することt目的とする
。
短時間で精確にかつ非破壊的に非m線抵抗体の寿m%性
の良台の判別および寿命の推定【行うことができる非直
線抵抗体の寿命判定方法t−提供することt目的とする
。
以下本発明の実施例を図面とともに説明する。
第1図(AlはZnOt−主成分とする非直線抵抗体(
以下ZnO素子と称する。)の熱刺敏電&(以下TEI
Cと称する。)#J定装置を示し、1は円板状に形成さ
れた銅板で、−板1の上部には第1図(Blに示すよう
に両端にムU蒸着電極2a、2bt″形成されたZnO
索子の試料2(30φX1t)の一方の電極を設置する
とともに熱電対會セットしたタミー試料3 tatll
i L、銅板1の1#部には冷媒通流用の銅パイプ4を
一体に取付け、−板1の下部にはヒータ5を設ける。そ
して、これらの部材l〜5は真空慣6内に収納する。又
、7は電圧vbの@九電源で、l1tIL電源7の一端
は切換スイッチ8を介して試料2の他方の電極に接続さ
れ、直流電@7の他端は切換スイッチ8に接続されると
ともに微少電流針9會介して銅板1の上部に接続される
。
以下ZnO素子と称する。)の熱刺敏電&(以下TEI
Cと称する。)#J定装置を示し、1は円板状に形成さ
れた銅板で、−板1の上部には第1図(Blに示すよう
に両端にムU蒸着電極2a、2bt″形成されたZnO
索子の試料2(30φX1t)の一方の電極を設置する
とともに熱電対會セットしたタミー試料3 tatll
i L、銅板1の1#部には冷媒通流用の銅パイプ4を
一体に取付け、−板1の下部にはヒータ5を設ける。そ
して、これらの部材l〜5は真空慣6内に収納する。又
、7は電圧vbの@九電源で、l1tIL電源7の一端
は切換スイッチ8を介して試料2の他方の電極に接続さ
れ、直流電@7の他端は切換スイッチ8に接続されると
ともに微少電流針9會介して銅板1の上部に接続される
。
上記装置において、TBOの測定に際してはヒータ5に
よる銅板1の加熱および銅ノくイブ4内の冷媒の通流に
よる銅板1の冷却によって試料2の温度を第2図(萄に
示すように変化させる。Iipち、まず試料2の温ll
l1.t−Tbまで上昇させる。ここで切換スイッチ8
を法点8aに接続し、温度ITbに保ったま′tIiI
il板1t−介して試料2に%庄vb會tb時間印加し
、しかる犠温腋1i−Tbより充分低いm度まで下ける
。こ仁で切換スイッチ8tl″一点8bに切換えて試料
20両端を倣少電謔酊9′t″介してlBi籟し、一定
の昇温速度で温度を上けると倣少電[1tt9即ち試料
2に第21申)に示すように電流が訛れ、これがTic
である。7mはTooが最大になった際の温度である。
よる銅板1の加熱および銅ノくイブ4内の冷媒の通流に
よる銅板1の冷却によって試料2の温度を第2図(萄に
示すように変化させる。Iipち、まず試料2の温ll
l1.t−Tbまで上昇させる。ここで切換スイッチ8
を法点8aに接続し、温度ITbに保ったま′tIiI
il板1t−介して試料2に%庄vb會tb時間印加し
、しかる犠温腋1i−Tbより充分低いm度まで下ける
。こ仁で切換スイッチ8tl″一点8bに切換えて試料
20両端を倣少電謔酊9′t″介してlBi籟し、一定
の昇温速度で温度を上けると倣少電[1tt9即ち試料
2に第21申)に示すように電流が訛れ、これがTic
である。7mはTooが最大になった際の温度である。
上記の温度Tb1電圧vbX時間tb に特に規定はな
いが、これらの値が極端に小さいと比較検討し欅いので
Tb =(資)℃以上、tb;3m1n以上、vb(試
料2の厚さ1■当りの印加電圧)−,25V/−以上が
望ましい。
いが、これらの値が極端に小さいと比較検討し欅いので
Tb =(資)℃以上、tb;3m1n以上、vb(試
料2の厚さ1■当りの印加電圧)−,25V/−以上が
望ましい。
しかるに上記のようにしてTSO@測定し、その時間積
分値(電荷)Qymot−求めると、このQ9゜はZn
O索子の寿命特性と相関関係があることが実験の結果明
らかとなった。即ち、第3図は各試料2ム(75℃で9
0*Vtm1昧電時の寿命が約40000時間、以下同
じ)、2B(60σ0〜8000時間)、2c(300
0〜60000間)、2D(約To。
分値(電荷)Qymot−求めると、このQ9゜はZn
O索子の寿命特性と相関関係があることが実験の結果明
らかとなった。即ち、第3図は各試料2ム(75℃で9
0*Vtm1昧電時の寿命が約40000時間、以下同
じ)、2B(60σ0〜8000時間)、2c(300
0〜60000間)、2D(約To。
時間)についてWb 、 75 V/as、tb=12
minの東上 件でTbとQtso/cd(試料の単位面槓尚りのQ−
Tea ) の関係を測定したもので、図から明らか
なように寿命の長いものtlどQテao/−が小さくな
る。又、逆にこのような特性線から寿命%注の良否の判
別を行うことができる。
minの東上 件でTbとQtso/cd(試料の単位面槓尚りのQ−
Tea ) の関係を測定したもので、図から明らか
なように寿命の長いものtlどQテao/−が小さくな
る。又、逆にこのような特性線から寿命%注の良否の判
別を行うことができる。
又、第4図はZnO索子に’Vb z Q、 7 Vt
mA/sm\ tl−蛛電し、Tb\、が100℃、 130 ’C、
1fyO℃の各場合においてtl)K征ってToot御
J定してGLvsoを求め、tbとQテgo の関係m
を作成したもので、tしとQTIla とはQ Tm
o ” tb (0,55≦n<0.65)の関係が
おるのでtbの2〜3点1cついてQtmo 會掬足
すれは関9klIIIを作成することカニできる。又、
Tb−130℃ の場合にはもれ亀tlL力;1mム/
−になった時を寿命としてもれ電tILやX夾Qyg。
mA/sm\ tl−蛛電し、Tb\、が100℃、 130 ’C、
1fyO℃の各場合においてtl)K征ってToot御
J定してGLvsoを求め、tbとQテgo の関係m
を作成したもので、tしとQTIla とはQ Tm
o ” tb (0,55≦n<0.65)の関係が
おるのでtbの2〜3点1cついてQtmo 會掬足
すれは関9klIIIを作成することカニできる。又、
Tb−130℃ の場合にはもれ亀tlL力;1mム/
−になった時を寿命としてもれ電tILやX夾Qyg。
察にこの値になるまでvb t−印加すると /−−
QL/−キ3,3x10 0/−となシ、この値が寿命
tteわすことになる。従って、Tb−150℃の場合
にはその関係線とQ−/−との交点のtl)即ちtb=
200時間が寿命となり、このようにして寿命を推定
することができ、特に関係線作成の場合のtl)を小さ
な値に選定すればZnO素子に履歴を残さずに寿命の推
定を行うことができる。
QL/−キ3,3x10 0/−となシ、この値が寿命
tteわすことになる。従って、Tb−150℃の場合
にはその関係線とQ−/−との交点のtl)即ちtb=
200時間が寿命となり、このようにして寿命を推定
することができ、特に関係線作成の場合のtl)を小さ
な値に選定すればZnO素子に履歴を残さずに寿命の推
定を行うことができる。
又、第5図は第3図において用いた試料2^〜2p(た
だし、第3図の場合試料の大きさは特に規定しないが第
5図の場合は羽φxltとする。
だし、第3図の場合試料の大きさは特に規定しないが第
5図の場合は羽φxltとする。
しかし、試料の犀さ1■轟りの印加電圧が−じでりれば
lL流#曾特性に変化がないことFi爽験的に横1した
。)についてt b = 12m1n 、 V kl=
++75 / wrでTbが78℃の場合と111 C
の場合とにおいてTSOを測定してQ T B 0/c
dを求め、yL訛寿命と” ” ”/cdとの関係を作
成したもので、τ80の測定条件が同じであればQtm
oと直流寿命とが相関関係を有し、直流寿命の良い試料
はどQysoが小さい仁とが判明する。このため、他の
直流寿命の未知の試料についてもそのQyaoを求めれ
#′i′第5図を用いてik流寿命を容易に推定するこ
とができる。
lL流#曾特性に変化がないことFi爽験的に横1した
。)についてt b = 12m1n 、 V kl=
++75 / wrでTbが78℃の場合と111 C
の場合とにおいてTSOを測定してQ T B 0/c
dを求め、yL訛寿命と” ” ”/cdとの関係を作
成したもので、τ80の測定条件が同じであればQtm
oと直流寿命とが相関関係を有し、直流寿命の良い試料
はどQysoが小さい仁とが判明する。このため、他の
直流寿命の未知の試料についてもそのQyaoを求めれ
#′i′第5図を用いてik流寿命を容易に推定するこ
とができる。
以上のように不発明においては、ZnO素子の熱刺激電
流の時間株分値がZnO素子の寿命特性の良否に関係か
める(時間積分値が小さいはと寿命%性が良い。)こと
に着目し、znO素子の熱刺激電at測定してその時間
積分値を求め、この時間積分値の大きさから寿命特性の
良否を判別している。又、寿命が既知の複数のZnO素
子の熱刺激電流の時間積分値をあるーj定条件で求めて
該時間株分値と寿命との関係を求め、同一条件で他のZ
nO素子の熱刺激電流の時間積分値を求めることにより
他のZnO素子の寿命urnsに推定することかでを、
又同−のZnO素子においてはある温度Tl)条件での
寿命が判明すれば電圧印加時間tbと前記時間積分値の
関係から他の温度条件での寿命を精確に推定することが
できる。しかも熱刺原電流の測定は簡単な設備で単時間
に行うことがぞき、かつZnO索子に対して非破壊的に
行わtするのでZnO3g子t−損傷することがない。
流の時間株分値がZnO素子の寿命特性の良否に関係か
める(時間積分値が小さいはと寿命%性が良い。)こと
に着目し、znO素子の熱刺激電at測定してその時間
積分値を求め、この時間積分値の大きさから寿命特性の
良否を判別している。又、寿命が既知の複数のZnO素
子の熱刺激電流の時間積分値をあるーj定条件で求めて
該時間株分値と寿命との関係を求め、同一条件で他のZ
nO素子の熱刺激電流の時間積分値を求めることにより
他のZnO素子の寿命urnsに推定することかでを、
又同−のZnO素子においてはある温度Tl)条件での
寿命が判明すれば電圧印加時間tbと前記時間積分値の
関係から他の温度条件での寿命を精確に推定することが
できる。しかも熱刺原電流の測定は簡単な設備で単時間
に行うことがぞき、かつZnO索子に対して非破壊的に
行わtするのでZnO3g子t−損傷することがない。
第1図体)、(司は夫々Z−no 素子の熱刺激電流の
両足装置の概略構成図およびZnO素子の試料の止叩図
、第2図(At 、 (B)は夫々熱刺激電流棚定時に
おけるZnO素子の時間温度特性図および時間電流測定
(2)、第3図は寿命の異るZnQ 素子の各試料に
おける温亀と熱刺激11Rの時間株分値との関係図、第
4図FiZnO素子における電圧印加時間と熱刺激電流
の時間秋分値との関係図、第5図はZnO素子の熱刺激
電流の時間積分値と直流寿命との関係図。 2.2^〜2.・・・ZnO素子の試料、Too・・・
熱刺激1にθt、 QTga・・・熱刺激電流の時間株
分値、Vl)・・・印加電圧、Tb・・・印加温度、t
b・・・印加時間。
両足装置の概略構成図およびZnO素子の試料の止叩図
、第2図(At 、 (B)は夫々熱刺激電流棚定時に
おけるZnO素子の時間温度特性図および時間電流測定
(2)、第3図は寿命の異るZnQ 素子の各試料に
おける温亀と熱刺激11Rの時間株分値との関係図、第
4図FiZnO素子における電圧印加時間と熱刺激電流
の時間秋分値との関係図、第5図はZnO素子の熱刺激
電流の時間積分値と直流寿命との関係図。 2.2^〜2.・・・ZnO素子の試料、Too・・・
熱刺激1にθt、 QTga・・・熱刺激電流の時間株
分値、Vl)・・・印加電圧、Tb・・・印加温度、t
b・・・印加時間。
Claims (1)
- 20Ot−主成分とする非m線抵抗体の熱刺激電流t−
m定し、この熱刺激電流の時間積分値によって非直線抵
抗体の寿命特性の真否の判別および寿命の推定を行うこ
とt−特徴とする非[*抵抗体の寿命判定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15846881A JPS5860269A (ja) | 1981-10-05 | 1981-10-05 | 非直線抵抗体の寿命判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15846881A JPS5860269A (ja) | 1981-10-05 | 1981-10-05 | 非直線抵抗体の寿命判定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5860269A true JPS5860269A (ja) | 1983-04-09 |
Family
ID=15672395
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15846881A Pending JPS5860269A (ja) | 1981-10-05 | 1981-10-05 | 非直線抵抗体の寿命判定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5860269A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2631165A1 (fr) * | 1988-05-05 | 1989-11-10 | Moulene Daniel | Support conditionneur de temperature pour petits objets tels que des composants semi-conducteurs et procede de regulation thermique utilisant ce support |
ES2164604A1 (es) * | 2000-05-17 | 2002-02-16 | Univ Catalunya Politecnica | Horno cilindrico para medidas de corrientes estimuladas termicamente en recubrimientos aislantes. |
-
1981
- 1981-10-05 JP JP15846881A patent/JPS5860269A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2631165A1 (fr) * | 1988-05-05 | 1989-11-10 | Moulene Daniel | Support conditionneur de temperature pour petits objets tels que des composants semi-conducteurs et procede de regulation thermique utilisant ce support |
US5034688A (en) * | 1988-05-05 | 1991-07-23 | Ets Gourdon | Temperature conditioning support for small objects such as semi-conductor components and thermal regulation process using said support |
ES2164604A1 (es) * | 2000-05-17 | 2002-02-16 | Univ Catalunya Politecnica | Horno cilindrico para medidas de corrientes estimuladas termicamente en recubrimientos aislantes. |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US2264968A (en) | Apparatus for measuring wall thickness | |
Julio-Betancourt et al. | Study of the Joule effect on rapid chloride permeability values and evaluation of related electrical properties of concretes | |
US6556019B2 (en) | Electronic battery tester | |
CN107069131B (zh) | 一种锂离子电池集总热学参数的辨识方法 | |
WO2004023580A2 (en) | Electronic battery tester configured to predict a load test result | |
JP2003508759A (ja) | 電気化学電池やバッテリの内部温度を電子工学的に評定する方法およびその装置 | |
WO2003079033A1 (en) | Electronic battery tester with battery failure temperature determination | |
EP2894466B1 (en) | Anticorrosive performance deterioration detection sensor, and hot-water supply and heating system provided with same | |
US11662386B2 (en) | Method for inspecting self-discharge of a power storage device and method for producing the power storage device | |
US4722611A (en) | Apparatus and process for monitoring the cooling properties of liquid quenchants and restoring used quenchants | |
JPS5860269A (ja) | 非直線抵抗体の寿命判定方法 | |
JP3412355B2 (ja) | ニッケル系電池の劣化判定方法 | |
US4904946A (en) | Method for evaluating insulating films | |
JPH06342027A (ja) | 配線の評価方法及び評価装置 | |
RU2263306C1 (ru) | Способ идентификации комплекса теплофизических характеристик твердых материалов | |
JP7278312B2 (ja) | 蓄電デバイスの自己放電検査方法及び蓄電デバイスの製造方法 | |
Champlin | Dynamic Method for Storage Battery Diagnostic Testing | |
JPS5866069A (ja) | 非直線抵抗体の電気特性判別方法 | |
JPH07318608A (ja) | トランジスタの検査方法 | |
Quandt et al. | Experimental and theoretical analysis of the transient response of surface bonded thermocouples | |
JPS62228494A (ja) | 貯水タンクにおける防食電極の消耗検知装置 | |
JPH10227784A (ja) | 焼戻しマルテンサイト系鋼のクリープ損傷評価方法 | |
SU987488A1 (ru) | Способ контрол монолитности токопровод щей части стержн обмотки электрической машины и устройство дл его осуществлени | |
US1121834A (en) | Electrical measuring apparatus. | |
US2899624A (en) | marriott |