JPS5849817B2 - 熱雰囲気試験装置 - Google Patents
熱雰囲気試験装置Info
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- JPS5849817B2 JPS5849817B2 JP14129081A JP14129081A JPS5849817B2 JP S5849817 B2 JPS5849817 B2 JP S5849817B2 JP 14129081 A JP14129081 A JP 14129081A JP 14129081 A JP14129081 A JP 14129081A JP S5849817 B2 JPS5849817 B2 JP S5849817B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/60—Investigating resistance of materials, e.g. refractory materials, to rapid heat changes
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Analytical Chemistry (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は小型精密機器やその機器部品、或いは電子部品
等の熱的衝撃や温度サイクル等熱雰囲気に対する耐久性
、強度等の試験を、試験室内にて試料の移動を行なうこ
となしに、高温域から低温域までの範囲に切換えて実施
できるようにした熱雰囲気試験装置に関するものである
。
等の熱的衝撃や温度サイクル等熱雰囲気に対する耐久性
、強度等の試験を、試験室内にて試料の移動を行なうこ
となしに、高温域から低温域までの範囲に切換えて実施
できるようにした熱雰囲気試験装置に関するものである
。
従来、精密機器など並びにその部品等について、熱衝撃
試験や温度サイクル試験を行なうには、目的の試料をそ
の形状等に応じて試料支持枠または？ゴに入れて、これ
を試験内容に応じ高温に保ったチャンバーから低温に保
ったチャンバーへ、或いはその逆にと、試料を移動させ
る方式、または試料を収めたものを固定して高温チャン
バーや低温チャンバーを移動させる方式の試験装置が採
用されている。
試験や温度サイクル試験を行なうには、目的の試料をそ
の形状等に応じて試料支持枠または？ゴに入れて、これ
を試験内容に応じ高温に保ったチャンバーから低温に保
ったチャンバーへ、或いはその逆にと、試料を移動させ
る方式、または試料を収めたものを固定して高温チャン
バーや低温チャンバーを移動させる方式の試験装置が採
用されている。
しかし乍ら、従来の方式によれば試料をカコ、又は支持
枠内に収納するため、試験中に試料がはみ出したり、特
に小型の部品などの試料の場合落ちこぼれなどが生ずる
。
枠内に収納するため、試験中に試料がはみ出したり、特
に小型の部品などの試料の場合落ちこぼれなどが生ずる
。
更に試料移動方式のものでは試料が移動するために、試
料の測定、通電（機器類で通電状態で試験をするような
場合）がやりにくく、かつ試料に震動を与えることにな
るので正常なデータが得られにくい。
料の測定、通電（機器類で通電状態で試験をするような
場合）がやりにくく、かつ試料に震動を与えることにな
るので正常なデータが得られにくい。
その上支持枠を移動させるのでその機構が複雑になって
高価なものとなり、取扱いも不便である。
高価なものとなり、取扱いも不便である。
また試料固定方式のものでは、試料の測定、通電などは
容易となり、震動も少なくなるが、高温、低温の各チャ
ンバーを移動させることにな石ので構造並びに機構が大
型化して、これも高価につき取扱いも不便である。
容易となり、震動も少なくなるが、高温、低温の各チャ
ンバーを移動させることにな石ので構造並びに機構が大
型化して、これも高価につき取扱いも不便である。
このように従来採用されている試験装置においては種々
の問題点を有し、実用上精度の高いテストが行ない難い
。
の問題点を有し、実用上精度の高いテストが行ない難い
。
本発明は従来の問題点を解決して、試料を試験室内に定
置した状態で、該試験室に対して高温又は低温のいずれ
か並びに室温の各雰囲気となるよう、加熱源又は冷却源
からの気流を切換えて、これら操作を外部からの指令に
より所要の設定条件に基づき容易に実施できるようにし
たものである。
置した状態で、該試験室に対して高温又は低温のいずれ
か並びに室温の各雰囲気となるよう、加熱源又は冷却源
からの気流を切換えて、これら操作を外部からの指令に
より所要の設定条件に基づき容易に実施できるようにし
たものである。
本発明は冷却手段及びこの冷却手段により冷却された低
温の気体を移動させるファンを備えた低温気体供給室と
、加熱手段及びこの加熱手段により加熱された高温の気
体を移動させるファンを備えた高温気体供給室と、前記
高温並び低温両気体供給室とに個々に開閉できる遮蔽を
介して繋がる試験室と、所要時外気が試験室に送り込ま
れるようにした外気との連通手段とを、試験室に対して
それぞれ断熱壁体で仕切り所要配置にて１個の箱体内に
組合せ、試験室に対する各気体供給室はそれぞれ試験室
の両端部にて入口と出口とを開口し、この各開口部には
低温側、高温側共に箱体外部から出口と入口とを同時に
開閉操作される断熱扉を付設し、試験室の前記気体出口
、入口位置の内側位置には整流板を配設し、試験室に対
する外気導入部はスクリーンの外側位置で開閉自在な小
扉を介して、或いは外気導入ファンによって行なわれる
ようにし、斯かる試験室の前面に試料の出入口扉を設け
たものである。
温の気体を移動させるファンを備えた低温気体供給室と
、加熱手段及びこの加熱手段により加熱された高温の気
体を移動させるファンを備えた高温気体供給室と、前記
高温並び低温両気体供給室とに個々に開閉できる遮蔽を
介して繋がる試験室と、所要時外気が試験室に送り込ま
れるようにした外気との連通手段とを、試験室に対して
それぞれ断熱壁体で仕切り所要配置にて１個の箱体内に
組合せ、試験室に対する各気体供給室はそれぞれ試験室
の両端部にて入口と出口とを開口し、この各開口部には
低温側、高温側共に箱体外部から出口と入口とを同時に
開閉操作される断熱扉を付設し、試験室の前記気体出口
、入口位置の内側位置には整流板を配設し、試験室に対
する外気導入部はスクリーンの外側位置で開閉自在な小
扉を介して、或いは外気導入ファンによって行なわれる
ようにし、斯かる試験室の前面に試料の出入口扉を設け
たものである。
本発明にては試験室内の雰囲気を低温から高温又はその
逆の状態、或いは中間で室温にするなどの制御を、各扉
の開閉操作機構を予め設定した制御機構によって所定の
順序で開閉操作し、試験室内に入れた試料に対して所望
の温度を加えてテストが行なえるようにしたのである。
逆の状態、或いは中間で室温にするなどの制御を、各扉
の開閉操作機構を予め設定した制御機構によって所定の
順序で開閉操作し、試験室内に入れた試料に対して所望
の温度を加えてテストが行なえるようにしたのである。
また本発明にては試料を試験室内に定置して高温又は低
温の気体を循環供給して所要の温度雰囲気中でテストで
きるようにし、高温又は低温にはその所要温度の気体供
給室出口入口の扉を外部からの操作で切換え開閉するこ
とで、試験室と各気体供給室とが直ちに断熱開閉できる
ように構成したのである。
温の気体を循環供給して所要の温度雰囲気中でテストで
きるようにし、高温又は低温にはその所要温度の気体供
給室出口入口の扉を外部からの操作で切換え開閉するこ
とで、試験室と各気体供給室とが直ちに断熱開閉できる
ように構成したのである。
以下本発明装置について実施例を図面により詳述すれば
次の通りである。
次の通りである。
第１図乃至第５図に示すものは本発明装置の代表的な一
具体例であって、主要部を断熱壁体２により囲繞して所
要寸法の箱形躯体に形威した本体１の内部は、上部前位
置に所要容積の試験室１０を設け、この試験室１０の後
方には比較的容積の大きい低温気体供給室２０を配し、
また試験室１０の下部には高温気体供給室３０を配して
あり、試験室１０の正面には試料の出し入れ目１１を大
きく設けて、ここに断熱性を有する扉１２を取付けてあ
る。
具体例であって、主要部を断熱壁体２により囲繞して所
要寸法の箱形躯体に形威した本体１の内部は、上部前位
置に所要容積の試験室１０を設け、この試験室１０の後
方には比較的容積の大きい低温気体供給室２０を配し、
また試験室１０の下部には高温気体供給室３０を配して
あり、試験室１０の正面には試料の出し入れ目１１を大
きく設けて、ここに断熱性を有する扉１２を取付けてあ
る。
この試験室１０の内部にはその試料出し入れ口１１の横
幅とほぼ同程度の寸法で両側にパンチングメタルなどで
形成した整流板１３を取付けて、試験室１０の両端延長
部に形成した風洞部１ ４ ， １ ４’と仕切ってあ
る。
幅とほぼ同程度の寸法で両側にパンチングメタルなどで
形成した整流板１３を取付けて、試験室１０の両端延長
部に形成した風洞部１ ４ ， １ ４’と仕切ってあ
る。
斯かる試験室１０の背後位置には低温チャンバー２０が
形成されており、この低温チャンバー２０内には冷却機
の蒸発器２１と低温域の温度制御用ヒータ２２とファン
２３とが配設されており、試験室１０に対しては仕切断
熱壁体２を貫通して風洞部１ ４ ， １ ４’にそれ
ぞれ開口する冷気人口２４と冷気出口２４′とが設けて
あり、前記のファン２３の吐出口を冷気人口２４に向け
位置するよう配してある。
形成されており、この低温チャンバー２０内には冷却機
の蒸発器２１と低温域の温度制御用ヒータ２２とファン
２３とが配設されており、試験室１０に対しては仕切断
熱壁体２を貫通して風洞部１ ４ ， １ ４’にそれ
ぞれ開口する冷気人口２４と冷気出口２４′とが設けて
あり、前記のファン２３の吐出口を冷気人口２４に向け
位置するよう配してある。
なお、ファン２３の吸込口に対してと、仕切断熱壁体２
′内面と蒸発器２１やヒータ２２設置部との間には適当
な間隔をおいて冷気循環路が形成されるよう仕切板２９
が設けてある。
′内面と蒸発器２１やヒータ２２設置部との間には適当
な間隔をおいて冷気循環路が形成されるよう仕切板２９
が設けてある。
また試験室１０の下側位置には前記低温チャンバー２０
及び試験室１０とそれぞれ断熱仕切壁体２′，２“にて
仕切られて高温チャンバー３０が形成してあり、この高
温チャンバー３０内にはヒータ３１とファン３２、及び
該ファン３２の吸込口にヒータ３１を通過した熱風が送
り込まれるよう、かつ該高温チャンバー３０閉鎖時の循
環通路形成のための仕切板３３とが設けてあり、試験室
１０に対しては前記低温チャンバー３０同様風洞部１
４ ， １ ４’に対して熱風人口３４及び熱風出口３
４′とを設け、該熱風人口３４に対してファン３２の吐
出口が対向するようになされている。
及び試験室１０とそれぞれ断熱仕切壁体２′，２“にて
仕切られて高温チャンバー３０が形成してあり、この高
温チャンバー３０内にはヒータ３１とファン３２、及び
該ファン３２の吸込口にヒータ３１を通過した熱風が送
り込まれるよう、かつ該高温チャンバー３０閉鎖時の循
環通路形成のための仕切板３３とが設けてあり、試験室
１０に対しては前記低温チャンバー３０同様風洞部１
４ ， １ ４’に対して熱風人口３４及び熱風出口３
４′とを設け、該熱風人口３４に対してファン３２の吐
出口が対向するようになされている。
なお各ファン２３，３２の駆動モータ２ ３’， ３
２’はいずれもチャンバー外に設置されている。
２’はいずれもチャンバー外に設置されている。
而して前記した低温チャンバー２０と試験室１０とを繋
ぐ冷気の入口２４、出口２４′、及び高温チャンバー３
０と試験室１０とを繋ぐ、熱風の入口３４、出口３４′
にはそれぞれ断熱構造をもった遮断扉２５，２５’、及
び３５，３５’が付設してあり、これら遮断扉は冷気側
の遮断扉２５，２５’は１本の中実軸２６に基端を固着
し、熱風側の遮断扉３５，３５’は該中実軸２６に被嵌
する中空軸３６に基端を固着して、この両軸２６，３６
を同一軸芯上で断熱壁体外に配した往復直線駆動体（例
えばエアシリンダー）２７，３７とリンク機構２ ７’
， ３ ７’とで各々繋ぎ、個々に９００回動して扉
を開閉することができるようになっている。
ぐ冷気の入口２４、出口２４′、及び高温チャンバー３
０と試験室１０とを繋ぐ、熱風の入口３４、出口３４′
にはそれぞれ断熱構造をもった遮断扉２５，２５’、及
び３５，３５’が付設してあり、これら遮断扉は冷気側
の遮断扉２５，２５’は１本の中実軸２６に基端を固着
し、熱風側の遮断扉３５，３５’は該中実軸２６に被嵌
する中空軸３６に基端を固着して、この両軸２６，３６
を同一軸芯上で断熱壁体外に配した往復直線駆動体（例
えばエアシリンダー）２７，３７とリンク機構２ ７’
， ３ ７’とで各々繋ぎ、個々に９００回動して扉
を開閉することができるようになっている。
これらの各遮断扉２５，２５’又は３５，３５’は第５
図に示す如く試験室１０隣接の風洞部１４（又は１４つ
側で回動するようになされており、シールパッキン４を
断熱壁面３に当接して気密を保つようにし、併せて低温
チャンバー２０又は高温チャンバー３０側との断熱仕切
壁体２′，２“の厚みに応じてチャンバー側との間に適
当な断熱空間部５又は５′を形成する仕切扉２８又は３
８を下側基部で壁体に蝶着付設し、これら各遮断扉２５
．２５’（又は３５，３５つと仕切扉２８（又は３８）
とはそれぞれの対向する面の適所で連結棒３９により可
動的に連結したのである。
図に示す如く試験室１０隣接の風洞部１４（又は１４つ
側で回動するようになされており、シールパッキン４を
断熱壁面３に当接して気密を保つようにし、併せて低温
チャンバー２０又は高温チャンバー３０側との断熱仕切
壁体２′，２“の厚みに応じてチャンバー側との間に適
当な断熱空間部５又は５′を形成する仕切扉２８又は３
８を下側基部で壁体に蝶着付設し、これら各遮断扉２５
．２５’（又は３５，３５つと仕切扉２８（又は３８）
とはそれぞれの対向する面の適所で連結棒３９により可
動的に連結したのである。
また、試験室１０の両側風洞部１４，１４’の前側位置
には該試験室１０の運転中において室温状態にするため
の外気出入口６とこれを開閉する扉７とをそれぞれ設け
、この扉７はいずれも下端を本体１の一部に枢着して上
部で往復直線駆動体８により傾斜開閉する構或となって
いる。
には該試験室１０の運転中において室温状態にするため
の外気出入口６とこれを開閉する扉７とをそれぞれ設け
、この扉７はいずれも下端を本体１の一部に枢着して上
部で往復直線駆動体８により傾斜開閉する構或となって
いる。
そして一方の外気出入口６に対しては本体１外側上部に
付設した室温送入用ファン４０の吐出側と連結するよう
通路が連絡してある。
付設した室温送入用ファン４０の吐出側と連結するよう
通路が連絡してある。
而して本体１の下部は断熱壁体で仕切られて機械室９と
し、ここに前記低温チャンバー２０の冷却機動力部やそ
の凝縮器などが収納され、本体側部には制御用電気機器
などが収容されていて、遮断扉２５，２５’ ，３５，
３５’や室温導入用の扉７を操作する各機器、これに連
動する計器類等は制御機器と電気的に接続し、また計測
機器とも連動するようにしたものである。
し、ここに前記低温チャンバー２０の冷却機動力部やそ
の凝縮器などが収納され、本体側部には制御用電気機器
などが収容されていて、遮断扉２５，２５’ ，３５，
３５’や室温導入用の扉７を操作する各機器、これに連
動する計器類等は制御機器と電気的に接続し、また計測
機器とも連動するようにしたものである。
なお、試験室１０と高温チャンバー３０や低温チャンバ
ー２０との仕切壁体２′，２“には温度差に充分対応で
きて伝熱抵抗の大なる構成にした断熱材を使用し、室内
の条件が特定に保たれるようなされている。
ー２０との仕切壁体２′，２“には温度差に充分対応で
きて伝熱抵抗の大なる構成にした断熱材を使用し、室内
の条件が特定に保たれるようなされている。
また、本発明装置の各部の配置については上記の具体例
が最もコンパクトにまとめられて好適な構成であるが、
これに限定されるものではなく、必要に応じて他の状態
に組合せて構成することも任意なし得る。
が最もコンパクトにまとめられて好適な構成であるが、
これに限定されるものではなく、必要に応じて他の状態
に組合せて構成することも任意なし得る。
斯くの如く構成された本発明装置によれば、試験室１０
の前面の扉１２を開いてその内部に試料となる物品を入
れ、その試料のテスト要件に従ってそのまま静置し、ま
たは機器において外部から電動部に通電して（予め扉１
２若しくは試験室の適所に通電用のコンセント（耐熱、
耐寒性を有するもの）を設けておくか、シールできる構
造を付して外部にリード線を引出せるようにしておく）
、熱雰囲気試験を行なうのであり、たとえば熱衝撃試験
を行なうについては試料を試験室１０に入れた後、先づ
高温（例えば２００℃）に曝らすには高温チャンバー３
０との出口３４′人口３４の遮断扉３５．３５’を外部
からの操作（往復直線駆動体３７による作動）で開き、
高温チャンバー３０を試験室１０に連通させ、ファン３
２により該チャ？バー３０内にて予め加熱されている熱
風を入口３４から風洞部１４内に送り込み、整流板１３
を通し整流して試験室１０の反対側整流板１３から風洞
部１４′を経て出口３４′より再び高温チャンパー３０
に入る流れを造り、この熱風の循環を所要時間続けるこ
とによって試料を設定の温度雰囲気に保つ。
の前面の扉１２を開いてその内部に試料となる物品を入
れ、その試料のテスト要件に従ってそのまま静置し、ま
たは機器において外部から電動部に通電して（予め扉１
２若しくは試験室の適所に通電用のコンセント（耐熱、
耐寒性を有するもの）を設けておくか、シールできる構
造を付して外部にリード線を引出せるようにしておく）
、熱雰囲気試験を行なうのであり、たとえば熱衝撃試験
を行なうについては試料を試験室１０に入れた後、先づ
高温（例えば２００℃）に曝らすには高温チャンバー３
０との出口３４′人口３４の遮断扉３５．３５’を外部
からの操作（往復直線駆動体３７による作動）で開き、
高温チャンバー３０を試験室１０に連通させ、ファン３
２により該チャ？バー３０内にて予め加熱されている熱
風を入口３４から風洞部１４内に送り込み、整流板１３
を通し整流して試験室１０の反対側整流板１３から風洞
部１４′を経て出口３４′より再び高温チャンパー３０
に入る流れを造り、この熱風の循環を所要時間続けるこ
とによって試料を設定の温度雰囲気に保つ。
この際低温チャンバー２０側はその遮断２ ５ ， ２
５’により入口出口が閉じられているよう制御する。
５’により入口出口が閉じられているよう制御する。
この高温域での設定時間経過後直ちに低温（例えば−６
５℃）に曝すには、先づ高温チャンパー３０との連通を
断つため、その出口３４′、入口３４を各遮断扉３ ５
， ３ ５’にて閉鎖し、次いで低温チャンバー２０
と試験室１０とを連通させるためその人口２４出口２４
′の遮断扉２５，２５’を外部からの操作で（高温側と
同様に往復直線駆動体２７による作動で）開き、低温チ
ャンバー２０を試験室１０に連通させ、ファン２３によ
り入口２４から出口２４′を介して低温チャンバー２０
と試験室１０との間に冷風を循環させ、所要時間続ける
ことによって試料を設定の温度雰囲気に保ち、この間の
温度変化による試料に対しての所要データを測定し、ま
た温度差によって生ずる試料の外的結果を確認すること
ができるのである。
５℃）に曝すには、先づ高温チャンパー３０との連通を
断つため、その出口３４′、入口３４を各遮断扉３ ５
， ３ ５’にて閉鎖し、次いで低温チャンバー２０
と試験室１０とを連通させるためその人口２４出口２４
′の遮断扉２５，２５’を外部からの操作で（高温側と
同様に往復直線駆動体２７による作動で）開き、低温チ
ャンバー２０を試験室１０に連通させ、ファン２３によ
り入口２４から出口２４′を介して低温チャンバー２０
と試験室１０との間に冷風を循環させ、所要時間続ける
ことによって試料を設定の温度雰囲気に保ち、この間の
温度変化による試料に対しての所要データを測定し、ま
た温度差によって生ずる試料の外的結果を確認すること
ができるのである。
また温度サイクル試験などを行なうにはたとえば室温か
ら所要の時間で次第に高温に、そして所要時間高温を維
持した後所要の時間で次第に室温に下げ、その後低温に
、そして所要時間低温を維持して室温に戻す等の操作を
行なうに際して、高温及び低温にするには前記と同要領
にて行ない、室温にするには風洞部１ ４ ， １ ４
’前壁部に設けられた扉７，７を開くと共に室温送入用
ファン４０を駆動して試験室１０内に外気を流動させ、
試料を室温に曝してテストすることになるのである。
ら所要の時間で次第に高温に、そして所要時間高温を維
持した後所要の時間で次第に室温に下げ、その後低温に
、そして所要時間低温を維持して室温に戻す等の操作を
行なうに際して、高温及び低温にするには前記と同要領
にて行ない、室温にするには風洞部１ ４ ， １ ４
’前壁部に設けられた扉７，７を開くと共に室温送入用
ファン４０を駆動して試験室１０内に外気を流動させ、
試料を室温に曝してテストすることになるのである。
なお、高温、並びに低温における温度調節についてはヒ
ータ２２，３１の放熱量を加減することにより温度設定
が正確に行なえる。
ータ２２，３１の放熱量を加減することにより温度設定
が正確に行なえる。
従って上記したように高温、或いは低温、又は室温と所
定のテストの条件に合せて制御するのに電気的制御機構
を用いて試験室１０に対する各部の扉の開閉を予め設定
したプログラムに応じ順次作動するようにし、これに熱
源の制御や計測機器を接続連動させることで種々の雰囲
気試験が行なえるようになったのである。
定のテストの条件に合せて制御するのに電気的制御機構
を用いて試験室１０に対する各部の扉の開閉を予め設定
したプログラムに応じ順次作動するようにし、これに熱
源の制御や計測機器を接続連動させることで種々の雰囲
気試験が行なえるようになったのである。
而して試験室１０に対して低温、高温の両チャンバー２
０，３０との各気体出口、入口は、遮断扉２ ５ ，
２ ５’又は３ ５ ， ３ ５’にそれぞれ仕切扉２
８又は３８が連結棒３９を介して連動するよう設けられ
ているので、閉扉時には仕切壁体の厚みの範囲内で遮断
扉と仕切扉との間の空間部５又は５′により気体断熱層
を形成し、試験室１ｏ内に不使用時のチャンバー側との
熱移動を防止し、確実な操作が行なえるのである。
０，３０との各気体出口、入口は、遮断扉２ ５ ，
２ ５’又は３ ５ ， ３ ５’にそれぞれ仕切扉２
８又は３８が連結棒３９を介して連動するよう設けられ
ているので、閉扉時には仕切壁体の厚みの範囲内で遮断
扉と仕切扉との間の空間部５又は５′により気体断熱層
を形成し、試験室１ｏ内に不使用時のチャンバー側との
熱移動を防止し、確実な操作が行なえるのである。
叙上の如く本発明によれば、試料を試験室内に定置して
、この試験室に対して熱風を送り込んで循環させること
で高温に、また冷気を送り込んで循環させることで低温
に、更に外気を送り込むことで室温に、それぞれ曝して
試験することができ、これらは室温を除いて装置内に組
込んだ高温気体供給室又は冷温気体供給室と遮断扉を切
換開閉することで、直ちに所望の気体を試験室内に供給
循環できて温度設定が速やかに行なえ、試料は定置して
テストできるから、試料のハミ出し、落こぼれ、耐震動
性の確保、通電状態でのテストの安定化、測定の容易さ
など、従来の試験器では多くの難点があったものをすべ
て解消し、しかも循環気体は試験室の入口と出口との間
で整流板によって流れの安定性が計られ試料に対する気
体の流れが？定することにより温度精度が著しく向上し
、しかも全体構成が比較的簡素化できて取扱いも容易に
なる等多くの利点を具備したものとなし得たのである。
、この試験室に対して熱風を送り込んで循環させること
で高温に、また冷気を送り込んで循環させることで低温
に、更に外気を送り込むことで室温に、それぞれ曝して
試験することができ、これらは室温を除いて装置内に組
込んだ高温気体供給室又は冷温気体供給室と遮断扉を切
換開閉することで、直ちに所望の気体を試験室内に供給
循環できて温度設定が速やかに行なえ、試料は定置して
テストできるから、試料のハミ出し、落こぼれ、耐震動
性の確保、通電状態でのテストの安定化、測定の容易さ
など、従来の試験器では多くの難点があったものをすべ
て解消し、しかも循環気体は試験室の入口と出口との間
で整流板によって流れの安定性が計られ試料に対する気
体の流れが？定することにより温度精度が著しく向上し
、しかも全体構成が比較的簡素化できて取扱いも容易に
なる等多くの利点を具備したものとなし得たのである。
図面は本発明装置の一実施例を示すものであって、第１
図は機械収容部を除く縦断面図、第２図は平断面図、第
３図は第２図の■−■視縦断面図、第４図は第２図のＩ
Ｖ−ＩＶ視縦断面図、第５図は要部拡大断面図である。 １・・・・・・本体、２・・・・・・断熱壁体、２′，
２“・・曲仕切断熱壁体、５ ， ５’・・・・・断熱
空間部、６・・・・・・外気出入口、７，１２・・・・
・・扉、８，２７，３７・・曲往復直線駆動体、１０・
・・・・・試験室、１１・・曲試料出し入れ口、１３・
・・・・・整流板、１ ４ ， １ ４’・・間風洞部
、２０・・・・・・低温チャンバー、２１・・曲冷却機
の蒸発器、２２，３１・・・・・・ヒータ、２３，３２
・・曲ファン、２４・・・・・・冷気入口、２４′・・
曲冷気出口、２ ５ ， ２ ５’ ， ３ ５ ，
３ ５’・・・・・・遮断、２６，３６・・・・・・軸
、２８，３８・・・・・・仕切扉、３ｏ・・・・・・高
温チャンバー、３４・・・・・・熱風入口、３４′・・
・・・・熱風出口、４０・・・・・・室温送入用ファン
。
図は機械収容部を除く縦断面図、第２図は平断面図、第
３図は第２図の■−■視縦断面図、第４図は第２図のＩ
Ｖ−ＩＶ視縦断面図、第５図は要部拡大断面図である。 １・・・・・・本体、２・・・・・・断熱壁体、２′，
２“・・曲仕切断熱壁体、５ ， ５’・・・・・断熱
空間部、６・・・・・・外気出入口、７，１２・・・・
・・扉、８，２７，３７・・曲往復直線駆動体、１０・
・・・・・試験室、１１・・曲試料出し入れ口、１３・
・・・・・整流板、１ ４ ， １ ４’・・間風洞部
、２０・・・・・・低温チャンバー、２１・・曲冷却機
の蒸発器、２２，３１・・・・・・ヒータ、２３，３２
・・曲ファン、２４・・・・・・冷気入口、２４′・・
曲冷気出口、２ ５ ， ２ ５’ ， ３ ５ ，
３ ５’・・・・・・遮断、２６，３６・・・・・・軸
、２８，３８・・・・・・仕切扉、３ｏ・・・・・・高
温チャンバー、３４・・・・・・熱風入口、３４′・・
・・・・熱風出口、４０・・・・・・室温送入用ファン
。
Claims (1)
- １ 冷却手段及び冷却された低温気体を移動させるファ
ンを備えた低温気体供給室と、加熱手段及び加熱された
高温気体を移動させるファンを備えた高温気体供給室と
、前記両気体供給室に繋がり試料出入口扉を備えた試験
室と、所要時外気が試験室に送り込まれるようにした外
気連通開閉手段とを、試験室に対して各々断熱壁体で仕
切って所要配置で組合せ、試験室に対する各気体供給室
及び外気導入排出部は該試験室の両端部にて各々入口と
出口とを開口し、この各開口部には各温度条件の気体ご
との出口と入口とを同時に外部から開閉操作される断熱
扉を付設し、試験室への気体出入位置より内側には整流
板を両側に設けたことを特徴とする熱雰囲気試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14129081A JPS5849817B2 (ja) | 1981-09-07 | 1981-09-07 | 熱雰囲気試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14129081A JPS5849817B2 (ja) | 1981-09-07 | 1981-09-07 | 熱雰囲気試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5842952A JPS5842952A (ja) | 1983-03-12 |
| JPS5849817B2 true JPS5849817B2 (ja) | 1983-11-07 |
Family
ID=15288441
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14129081A Expired JPS5849817B2 (ja) | 1981-09-07 | 1981-09-07 | 熱雰囲気試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5849817B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012240370A (ja) * | 2011-05-23 | 2012-12-10 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 長尺フィルムの連続加熱装置 |
| JP2014224690A (ja) * | 2013-05-15 | 2014-12-04 | エスペック株式会社 | 環境試験装置 |
| JP2015225067A (ja) * | 2014-05-30 | 2015-12-14 | エスペック株式会社 | 環境試験装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60129653A (ja) * | 1983-12-16 | 1985-07-10 | Nippon Saamic:Kk | 熱浸漬試験装置 |
-
1981
- 1981-09-07 JP JP14129081A patent/JPS5849817B2/ja not_active Expired
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012240370A (ja) * | 2011-05-23 | 2012-12-10 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 長尺フィルムの連続加熱装置 |
| JP2014224690A (ja) * | 2013-05-15 | 2014-12-04 | エスペック株式会社 | 環境試験装置 |
| JP2015225067A (ja) * | 2014-05-30 | 2015-12-14 | エスペック株式会社 | 環境試験装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5842952A (ja) | 1983-03-12 |
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