JPS584399B2 - ひずみ等を遠隔計測する方法 - Google Patents
ひずみ等を遠隔計測する方法Info
- Publication number
- JPS584399B2 JPS584399B2 JP51010820A JP1082076A JPS584399B2 JP S584399 B2 JPS584399 B2 JP S584399B2 JP 51010820 A JP51010820 A JP 51010820A JP 1082076 A JP1082076 A JP 1082076A JP S584399 B2 JPS584399 B2 JP S584399B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resistance value
- value
- strain
- constant current
- cable core
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は所謂３導線式ひずみゲージを使用するときケー
ブル心線の直流抵抗によりひずみ等の測定感度が低下す
ることを防止し精密測定を行なう方法に関する。
ブル心線の直流抵抗によりひずみ等の測定感度が低下す
ることを防止し精密測定を行なう方法に関する。
従来ひずみゲージを使用してひずみ・温度を計測すると
き３心ケーブルにより遠隔測定することが行なわれてい
た。
き３心ケーブルにより遠隔測定することが行なわれてい
た。
この種ゲージを３導線式ひずみゲージと称しているが、
ケーブル心線の直流抵抗は、ひずみゲージの直流抵抗と
直列接続されて測定されるから、ケーブルを長く必要と
する場合等ケーブル心線の直流抵抗が大きくなって、ひ
ずみゲージのみの直流抵抗値を精度良く求めることが困
難であった。
ケーブル心線の直流抵抗は、ひずみゲージの直流抵抗と
直列接続されて測定されるから、ケーブルを長く必要と
する場合等ケーブル心線の直流抵抗が大きくなって、ひ
ずみゲージのみの直流抵抗値を精度良く求めることが困
難であった。
しかも心線の直流抵抗値は標準規格品の常温における値
を温度条件によって補正しながら計算によって求めるが
、ケーブルはその全長にわたって同一温度とは限らず、
したがって多数の個所における測定は計算に時間がかか
り、その割に正確な測定は困難であった。
を温度条件によって補正しながら計算によって求めるが
、ケーブルはその全長にわたって同一温度とは限らず、
したがって多数の個所における測定は計算に時間がかか
り、その割に正確な測定は困難であった。
本発明は前述の欠点を改善し、温度変化に関係なくケー
ブル心線の直流抵抗値を計測し、ひずみゲージによって
ひずみ等を計測する方法を得ることを目的とする。
ブル心線の直流抵抗値を計測し、ひずみゲージによって
ひずみ等を計測する方法を得ることを目的とする。
以下図面により本発明の実施例を説明する。
第１図は本発明を実施するとき使用する装置と、その接
続をブロックにより示したものである。
続をブロックにより示したものである。
１，２はひずみゲージでその直流抵抗値を各Ｒ１，Ｒ２
としたときＲ２／Ｒ１の値がひずみ量に比例し、Ｒ１＋
Ｒ２の値は温度に比例することが知られている，ひずみ
ゲージ１，２を直列接続し、中間接続点と各両端の３端
子を３心ケーブル３の各心線４，５６と接続する。
としたときＲ２／Ｒ１の値がひずみ量に比例し、Ｒ１＋
Ｒ２の値は温度に比例することが知られている，ひずみ
ゲージ１，２を直列接続し、中間接続点と各両端の３端
子を３心ケーブル３の各心線４，５６と接続する。
３心ゲーブルを介してひずみゲージ１，２の直流抵抗値
を遠隔測定すればひずみゲージの受けたひずみ及び温度
等を計測できることとなる。
を遠隔測定すればひずみゲージの受けたひずみ及び温度
等を計測できることとなる。
３心ケーブル３の各心線の直流抵抗値をＲ４，Ｒ５，Ｒ
６とする。
６とする。
７は高入力インピーダンスの電圧計、８は定電流源、９
は電圧計７の接続切換開閉器で切換接点を９ａ，９ｂ，
９ｃ，９ｄとする。
は電圧計７の接続切換開閉器で切換接点を９ａ，９ｂ，
９ｃ，９ｄとする。
また１０は定電流源８の切換開閉器で切換接点を１０ａ
，１０ｂとする。
，１０ｂとする。
１１は切換開閉器９，１０の切換接点を切換えるための
制御装置、１２は全体の制御装置、１３は記憶装置、１
４は演算装置を示す。
制御装置、１２は全体の制御装置、１３は記憶装置、１
４は演算装置を示す。
今第２図の線図で示すように制御装置１２の指令により
切換制御装置１１が動作し開閉器９を９ａ，９ｃ側に、
開閉器１０を１０ａ側に接続すると、定電流源８からの
電流は矢印■１のとおり流れゲーブル心線４，５間に電
圧Ｖ１を生ずる。
切換制御装置１１が動作し開閉器９を９ａ，９ｃ側に、
開閉器１０を１０ａ側に接続すると、定電流源８からの
電流は矢印■１のとおり流れゲーブル心線４，５間に電
圧Ｖ１を生ずる。
電圧■１を電圧計７によって例えばデジタル量で測定し
記憶装置１３に記憶する。
記憶装置１３に記憶する。
制御装置１２の次の指令により開閉器１０は第３図に示
すように１０ｂ側に接続され、電流は■２のとおり流れ
る（電圧計８の入力インピーダンスが高いためＶ−プル
の心線５を経る電流は小さく無視できる。
すように１０ｂ側に接続され、電流は■２のとおり流れ
る（電圧計８の入力インピーダンスが高いためＶ−プル
の心線５を経る電流は小さく無視できる。
）この場合の心線４，５間の電圧ｖ２を第２図の場合と
同様に測定し記憶装置１３に記憶する。
同様に測定し記憶装置１３に記憶する。
制御装置１２の次の指令で開閉器９は９ｂ，９ｄ側に接
続される。
続される。
この時第４図に示すように電流は■３のとおり流れ、ケ
ーブル心線５，６間の電圧ｖ３が測定記憶される。
ーブル心線５，６間の電圧ｖ３が測定記憶される。
次に制御装置の指令は演算装置１４に対し演算指令を発
するから、前記ｖ１とＶ２の値を記憶装置１３より得て
Ｖ１−Ｖ２を演算させると、ケーブル心線５の直流抵抗
値Ｒ，による電圧降下が求められ、記憶装置１３に記憶
させる。
するから、前記ｖ１とＶ２の値を記憶装置１３より得て
Ｖ１−Ｖ２を演算させると、ケーブル心線５の直流抵抗
値Ｒ，による電圧降下が求められ、記憶装置１３に記憶
させる。
以上の場合電流■１，■２，■３は定電流源８からの電
流で互いに等しいから、前記■１一Ｖ２の値に対し電流
■１で割算する演算指令により演算すれば、心線５の直
流抵抗値Ｒ５が得られ、これも記憶装置１３に記憶され
る。
流で互いに等しいから、前記■１一Ｖ２の値に対し電流
■１で割算する演算指令により演算すれば、心線５の直
流抵抗値Ｒ５が得られ、これも記憶装置１３に記憶され
る。
そしてケーブル心線４，５，６の各直流抵抗値Ｒ４，Ｒ
５，Ｒ６は通常のケーブルにおいては偏差なく互いに等
しいと考えられること、及びｖ２／■１、Ｖ３／■１と
いう演算を行なった値は各図面から明らかなようにひず
みゲージの直流抵抗値とケーブル心線の直流抵抗値との
合成抵抗値であることから、下式が成立する。
５，Ｒ６は通常のケーブルにおいては偏差なく互いに等
しいと考えられること、及びｖ２／■１、Ｖ３／■１と
いう演算を行なった値は各図面から明らかなようにひず
みゲージの直流抵抗値とケーブル心線の直流抵抗値との
合成抵抗値であることから、下式が成立する。
Ｒ１＋Ｒ５＝ｖ２／■１
Ｒ２＋Ｒ５＝Ｖ３／Ｉ１
という演算を演算装置１４において行なわせると、ひず
みゲージの直流抵抗値Ｒ１，Ｒ２を得ることができる。
みゲージの直流抵抗値Ｒ１，Ｒ２を得ることができる。
次に得られたＲ１，Ｒ２の値よりＲ２／Ｒ１を求め所定
の係数を掛ければひずみ量が、またＲ１＋Ｒ２の値に所
定の係数を掛ければ温度が測定できることとなる。
の係数を掛ければひずみ量が、またＲ１＋Ｒ２の値に所
定の係数を掛ければ温度が測定できることとなる。
このようにして本発明によれば定電流源を使用し、電圧
を測定しケーブル心線の直流抵抗値を簡単に求めること
ができ、それによりひずみゲージの直流抵抗値のみを精
度良く知ることができる。
を測定しケーブル心線の直流抵抗値を簡単に求めること
ができ、それによりひずみゲージの直流抵抗値のみを精
度良く知ることができる。
そのときケーブルの長さや周囲温度による影響はすべて
計測時に取入れて測定していること、前記測定は温度変
化の影響を受けない短時間に完了することのため、たと
え心線の直流抵抗が大きな値となった場合でも測定感度
の低下することがない。
計測時に取入れて測定していること、前記測定は温度変
化の影響を受けない短時間に完了することのため、たと
え心線の直流抵抗が大きな値となった場合でも測定感度
の低下することがない。
なお測定する時は単純な演算でよいから装置としてマイ
クロプロセッサ等が容易に利用できデジタル処理も可能
となり、ひずみゲージを多数の個所に置いて測定する場
合も迅速に且つ低コストで測定することができる。
クロプロセッサ等が容易に利用できデジタル処理も可能
となり、ひずみゲージを多数の個所に置いて測定する場
合も迅速に且つ低コストで測定することができる。
第１図は本発明を実施するとき使用する装置とその接続
を示し、第２図、第３図、第４図は第１図により測定す
る方法を説明する図である。 １，２・・・・・・ひずみゲージ、３・・・・・・３心
，ケーブル、４，５，６・・・・・・ケーブル心線、８
・・・・・・定電流源。
を示し、第２図、第３図、第４図は第１図により測定す
る方法を説明する図である。 １，２・・・・・・ひずみゲージ、３・・・・・・３心
，ケーブル、４，５，６・・・・・・ケーブル心線、８
・・・・・・定電流源。
Claims (1)
- １ 直列接続された２個のひずみゲージの直流抵抗値Ｒ
１，Ｒ２を３心ケーブルにより遠隔測定しひずみ等を計
測する方法において、前記２個のひずみゲージに直流定
電流源より第１及び第３のゲーブル心線４，６を介して
定電流を流すことにより生ずる、第１のひずみゲージの
直流抵抗値Ｒ１と該第１のひずみゲージに接続された第
１のゲーブル心線４の直流抵抗値との第１合成抵抗値及
び第２のひずみゲージの直流抵抗値Ｒ２と該第２のひず
みゲージに接続された第３のケーブル心線６の直流抵抗
値との第２合成抵抗値による各電圧降下値と、前記第１
又は第２のひずみゲージに直流定電流源より第１又は第
３のケーブル心線と第２ケーブル心線５とを介して定電
流を流すことにより生ずる、該ひずみゲージの抵抗値Ｒ
０又はＲ２と該ひずみゲージに接続された第１又は第３
のゲーブル心線の直流抵抗値と第２のケーブル心線５の
直流抵抗値との第３合成抵抗値による電圧降下値とを該
第１又は第３のケーブル心線と前記２個のひずみゲージ
の中間接続点に接続された第２のケーブル心線５の前記
直流定電流源側で計測し、前記第１合成抵抗値及び第２
合成抵抗値による各電圧降下値並びに定電流値より前記
第１及び第２のひずみゲージのそれぞれの直流抵抗値Ｒ
１，Ｒ２と１本のゲーブル心線の直流抵抗値との合成抵
抗値を演算し、前記第３合成抵抗値による電圧降下値と
前記第１又は第２合成抵抗値による電圧降下値との差値
及び定電流値より１本のケーブル心線の直流抵抗値を演
算し、以上の演算の結果より、前記第１及び第２のひず
みゲージのそれぞれの直流抵抗値Ｒ１，Ｒ２を求めるこ
とを特徴とするひずみ等を遠隔計測する方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51010820A JPS584399B2 (ja) | 1976-02-05 | 1976-02-05 | ひずみ等を遠隔計測する方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51010820A JPS584399B2 (ja) | 1976-02-05 | 1976-02-05 | ひずみ等を遠隔計測する方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5295250A JPS5295250A (en) | 1977-08-10 |
| JPS584399B2 true JPS584399B2 (ja) | 1983-01-26 |
Family
ID=11760982
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51010820A Expired JPS584399B2 (ja) | 1976-02-05 | 1976-02-05 | ひずみ等を遠隔計測する方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS584399B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20220099526A (ko) * | 2017-04-28 | 2022-07-13 | 삼성디스플레이 주식회사 | 편광층, 이를 구비하는 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50147760A (ja) * | 1974-05-17 | 1975-11-27 |
-
1976
- 1976-02-05 JP JP51010820A patent/JPS584399B2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50147760A (ja) * | 1974-05-17 | 1975-11-27 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20220099526A (ko) * | 2017-04-28 | 2022-07-13 | 삼성디스플레이 주식회사 | 편광층, 이를 구비하는 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5295250A (en) | 1977-08-10 |
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