JPS5839932A - 光沢計測装置 - Google Patents
光沢計測装置Info
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- JPS5839932A JPS5839932A JP13930081A JP13930081A JPS5839932A JP S5839932 A JPS5839932 A JP S5839932A JP 13930081 A JP13930081 A JP 13930081A JP 13930081 A JP13930081 A JP 13930081A JP S5839932 A JPS5839932 A JP S5839932A
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- Japan
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- mirror
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/57—Measuring gloss
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は光沢計測装置Kllするものである口従来の
光沢計測装置は、JISに規格されているように第1f
fiK示す被検査面Sの法線に対して45度の照射角度
で投光しうるように配置した投光手段lと、被検査面S
での前記照射光の正反射光を受光する受光素子2とで構
成され、一定設光光量に対し得られる受光光量から被検
査面Sの光沢を計測するようにしたものである0 この光沢計Ill装置は、被検査面Sの凹凸状態に方向
性がなく、どの方向からの照射に対1ても同一受光q#
−を呈する場合にはその測定結果は有効であるが、菖2
隅に示すような木材3の表面のように導管31・・・の
存在−より凹凸状llK方向性を有する被検査面では、
導管3a−:・の走行方向に対して自車7方向“19照
光する1IE3図^?場合と・導管3a°゛の走行方向
すよシ照簿する苧図@9場せとでは測定結果に大きな差
が生じ、正確な測定を行うことができないロセして、こ
のような方向性tVする被検査面は、前記木材表面に限
ら一ヘアライン加工された金属表面など実際の測定対象
として無数に存在するため、このような方向性を有する
被検査面に対しても正確な調定結果が得られる光沢針1
1義置の開発は、精度の高い光沢計測を行ううえで不可
欠である0 したがって、この発明の目的は、方向性を有する被検査
面の光沢測定についても正確に行うことのできる光沢針
側装置を提供することである0この発明の一実施例t−
第4図に示す。すなわち、この光沢針側装置社、被検査
面Sに対し垂直に光ビームを照射する投光器4と、前記
投光器40光軸5上で前記投光器4と被検査WJSの閲
に配設され前記光軸5を回転中心として回転し前記投光
器4から照射された光ビームを前記光軸5に対し所定の
放射角度に反射する平面鏡6と、前記光軸5と自己の軸
心とが一致するように前記平面鏡6の少し下方に配置さ
れ自己の内周鏡面7aで前記平面鏡6からの反射光を受
は被検査面Sの所定点P(前記光軸5が被検査1iiS
と交わる点〕に向け45度の角度で入射するように反射
させるとともに。
光沢計測装置は、JISに規格されているように第1f
fiK示す被検査面Sの法線に対して45度の照射角度
で投光しうるように配置した投光手段lと、被検査面S
での前記照射光の正反射光を受光する受光素子2とで構
成され、一定設光光量に対し得られる受光光量から被検
査面Sの光沢を計測するようにしたものである0 この光沢計Ill装置は、被検査面Sの凹凸状態に方向
性がなく、どの方向からの照射に対1ても同一受光q#
−を呈する場合にはその測定結果は有効であるが、菖2
隅に示すような木材3の表面のように導管31・・・の
存在−より凹凸状llK方向性を有する被検査面では、
導管3a−:・の走行方向に対して自車7方向“19照
光する1IE3図^?場合と・導管3a°゛の走行方向
すよシ照簿する苧図@9場せとでは測定結果に大きな差
が生じ、正確な測定を行うことができないロセして、こ
のような方向性tVする被検査面は、前記木材表面に限
ら一ヘアライン加工された金属表面など実際の測定対象
として無数に存在するため、このような方向性を有する
被検査面に対しても正確な調定結果が得られる光沢針1
1義置の開発は、精度の高い光沢計測を行ううえで不可
欠である0 したがって、この発明の目的は、方向性を有する被検査
面の光沢測定についても正確に行うことのできる光沢針
側装置を提供することである0この発明の一実施例t−
第4図に示す。すなわち、この光沢針側装置社、被検査
面Sに対し垂直に光ビームを照射する投光器4と、前記
投光器40光軸5上で前記投光器4と被検査WJSの閲
に配設され前記光軸5を回転中心として回転し前記投光
器4から照射された光ビームを前記光軸5に対し所定の
放射角度に反射する平面鏡6と、前記光軸5と自己の軸
心とが一致するように前記平面鏡6の少し下方に配置さ
れ自己の内周鏡面7aで前記平面鏡6からの反射光を受
は被検査面Sの所定点P(前記光軸5が被検査1iiS
と交わる点〕に向け45度の角度で入射するように反射
させるとともに。
被検査面S上の点Pでの反射光を自己の内周鏡面7m(
前記平面鏡6からの反射光を受ける面域に対し180度
の周角度で対向する面域)で受は前記平面鏡6の背面側
に向けて反射する円環状ミラー7 (f−11ミラー)
と、前記平面鏡6の背面に固定され前記平面鏡6に従動
回転して、前記円環状ミラー7を介して入光する被検査
面S上の点Pでの反射光を受光する受光素子8とを備え
、前記平面鏡6と受光素子8とは自己の細心を前記光軸
5に揃えて配置した円筒回転軸9の下端部に固定すると
ともに、通電環路10g、10m−を上面に有するロー
タlOを前記円筒回転軸9の上部に周設して、被検査面
上の点Pでの反射光量に対応して得られる前記受光素子
8の出力を前記a−夕10の過電環路10a、10a
fcffll接させたブラシ111i−介して電圧信号
として得るようにしたものである口前記受光素子8と前
記ロータ10の通電環路10m、10mとは前記円筒回
転軸9に沿って配設される通電m(図示せず〕を介して
接続している◎IL前記前記円転回転軸9−タ(図示せ
ず)により所定回転速度で回転駆動するようにしている
口 仁の光沢計測装置の動作を第5図の概略図および第6図
の波形図に基づき次に説明するO投光器4から光ビーム
12’j−照射□しなから前−円筒回転軸9を回転させ
ると、光ビーム12は所定の傾斜角度に設定された前記
平面鏡6で前記光軸5に対して所定の放射角度−で反射
するとともに、七の反射方向は前記円筒回転軸90同転
に伴5を中心にして刻々とaWIII変位する0平面鏡
6からの反射光12鳳は前記円環状ミラー7の内周鏡面
7mで受けられ、被検査WJSの前記に向けて45変の
角度で入射 するように反射され、同時に被検査iISの点Pでの反
射光12m’は、前記平面鏡Sからの反射光12iを受
叶暮前記円環状<7−7の内周鏡面710所180度6
周角度で対向する内周鏡面 7aの他両域で受けられて、その反射光12a’a前記
千厘鏡6の背面に固定された受光素子8に受光゛は前−
′平面鏡6の回転に伴な れ(これに伴ない前記円環状ミ2 −7の平面鏡6からの反射光12mの受光面域および被
検査面Sからの反射光12a′の受光面域は刻々と回動
変位する)、被検査面Sの点Pへの360度全方位にわ
たる入射光12JIK対する正反射光12m’の光量を
前記受光素子8が#I6図に示すように電圧出力として
連続的に出力し、ロータ10.ブラシ11を経て一定さ
れる口 JI6図に示す電圧出力の波形において、電圧レヘA/
カ180 Mlの周期で高低汞化しているのは、前記
被検査面SKへアライン華導管などによる凹゛凸状態の
方向性を示すもので、電圧レベ゛ルの低い部分すなわ□
ち反射光量の少ない部分は投受光が被検査1iISの凹
凸条に対し励直方向から行われている部分に相当し、逆
に電圧レミルの高い部分は投受光方向が凹凸条の走行方
向に揃っている場合に相当している0 このように構成したため、被検査面Sでの投受光t−3
60R全方位にわたって行i、全方位の受光凹凸状態に
方向性がある場合でも、前記受光素子8の全方位にわた
る電圧出力データを平均化してその平均値で光沢度合1
*定したシ、また前記電圧出力の最低レベルおよび最高
レベルを所定基準値と比較するなどの処理を行うことに
より、被検査面Sの正確な光沢測定を行う仁とができる
0また、被検査面Sがヘアライン加工し次金属面のよう
な場合で、ヘアラインと交差する方向に傷が存在する場
合には、ヘア2インに対して垂直な方向から投受光が行
われる電圧出力の低い部分(II7図囚KT工て示す)
Km記傷に対応する信号Cが見られるので、この信号C
を検出することによp被検査面Sの傷検出装置としても
利用することができる。
前記平面鏡6からの反射光を受ける面域に対し180度
の周角度で対向する面域)で受は前記平面鏡6の背面側
に向けて反射する円環状ミラー7 (f−11ミラー)
と、前記平面鏡6の背面に固定され前記平面鏡6に従動
回転して、前記円環状ミラー7を介して入光する被検査
面S上の点Pでの反射光を受光する受光素子8とを備え
、前記平面鏡6と受光素子8とは自己の細心を前記光軸
5に揃えて配置した円筒回転軸9の下端部に固定すると
ともに、通電環路10g、10m−を上面に有するロー
タlOを前記円筒回転軸9の上部に周設して、被検査面
上の点Pでの反射光量に対応して得られる前記受光素子
8の出力を前記a−夕10の過電環路10a、10a
fcffll接させたブラシ111i−介して電圧信号
として得るようにしたものである口前記受光素子8と前
記ロータ10の通電環路10m、10mとは前記円筒回
転軸9に沿って配設される通電m(図示せず〕を介して
接続している◎IL前記前記円転回転軸9−タ(図示せ
ず)により所定回転速度で回転駆動するようにしている
口 仁の光沢計測装置の動作を第5図の概略図および第6図
の波形図に基づき次に説明するO投光器4から光ビーム
12’j−照射□しなから前−円筒回転軸9を回転させ
ると、光ビーム12は所定の傾斜角度に設定された前記
平面鏡6で前記光軸5に対して所定の放射角度−で反射
するとともに、七の反射方向は前記円筒回転軸90同転
に伴5を中心にして刻々とaWIII変位する0平面鏡
6からの反射光12鳳は前記円環状ミラー7の内周鏡面
7mで受けられ、被検査WJSの前記に向けて45変の
角度で入射 するように反射され、同時に被検査iISの点Pでの反
射光12m’は、前記平面鏡Sからの反射光12iを受
叶暮前記円環状<7−7の内周鏡面710所180度6
周角度で対向する内周鏡面 7aの他両域で受けられて、その反射光12a’a前記
千厘鏡6の背面に固定された受光素子8に受光゛は前−
′平面鏡6の回転に伴な れ(これに伴ない前記円環状ミ2 −7の平面鏡6からの反射光12mの受光面域および被
検査面Sからの反射光12a′の受光面域は刻々と回動
変位する)、被検査面Sの点Pへの360度全方位にわ
たる入射光12JIK対する正反射光12m’の光量を
前記受光素子8が#I6図に示すように電圧出力として
連続的に出力し、ロータ10.ブラシ11を経て一定さ
れる口 JI6図に示す電圧出力の波形において、電圧レヘA/
カ180 Mlの周期で高低汞化しているのは、前記
被検査面SKへアライン華導管などによる凹゛凸状態の
方向性を示すもので、電圧レベ゛ルの低い部分すなわ□
ち反射光量の少ない部分は投受光が被検査1iISの凹
凸条に対し励直方向から行われている部分に相当し、逆
に電圧レミルの高い部分は投受光方向が凹凸条の走行方
向に揃っている場合に相当している0 このように構成したため、被検査面Sでの投受光t−3
60R全方位にわたって行i、全方位の受光凹凸状態に
方向性がある場合でも、前記受光素子8の全方位にわた
る電圧出力データを平均化してその平均値で光沢度合1
*定したシ、また前記電圧出力の最低レベルおよび最高
レベルを所定基準値と比較するなどの処理を行うことに
より、被検査面Sの正確な光沢測定を行う仁とができる
0また、被検査面Sがヘアライン加工し次金属面のよう
な場合で、ヘアラインと交差する方向に傷が存在する場
合には、ヘア2インに対して垂直な方向から投受光が行
われる電圧出力の低い部分(II7図囚KT工て示す)
Km記傷に対応する信号Cが見られるので、この信号C
を検出することによp被検査面Sの傷検出装置としても
利用することができる。
なお、このような傷の検出においては、傷に対応する信
号Cの発生域であるヘアライン九対して喬直な方向から
投受光が行われる区間TIK同期する1lIIt7Wi
@に示すようなゲート信号を発するゲート回路を用いて
、前記受光素子8の電圧出力のうち傷に対応する信号C
の発生域TよのみをIIL9出し、これを微分回jlに
人力するなどして薦7図(Qに示すように前記傷に対応
する信号C′をピックアップし、その検出を容易に精度
よく行うことも可能である。
号Cの発生域であるヘアライン九対して喬直な方向から
投受光が行われる区間TIK同期する1lIIt7Wi
@に示すようなゲート信号を発するゲート回路を用いて
、前記受光素子8の電圧出力のうち傷に対応する信号C
の発生域TよのみをIIL9出し、これを微分回jlに
人力するなどして薦7図(Qに示すように前記傷に対応
する信号C′をピックアップし、その検出を容易に精度
よく行うことも可能である。
前記実施例では、前記円環状ミラー7の内周鏡@7mは
凹面仕上けとして、入射される光ビームを被検査NSへ
の照射の際に効果的に収束させるようにしているが、特
にそのような収束を必要としない場合には、前記内周鏡
面7aは平面仕上げとしてもよい。
凹面仕上けとして、入射される光ビームを被検査NSへ
の照射の際に効果的に収束させるようにしているが、特
にそのような収束を必要としない場合には、前記内周鏡
面7aは平面仕上げとしてもよい。
この発明の他の実施例を第8図に示す。すなわち、この
光沢計測装置は、前記実施例における投光器4′として
H@−Neレーザ(赤色)とArレーザ(育色)を混合
した光ビーム13を照射するものを用いるとともに、前
記実施例における平面鏡6に替えて前記光ビーム13を
Arレーザ13aとHe−Neレーザ13bとに分光し
て投光器4′の光軸5′に対してそれぞれ異なる所定放
射角度で放射させるプリズム14を配設する6方1円環
状ミラーとして。
光沢計測装置は、前記実施例における投光器4′として
H@−Neレーザ(赤色)とArレーザ(育色)を混合
した光ビーム13を照射するものを用いるとともに、前
記実施例における平面鏡6に替えて前記光ビーム13を
Arレーザ13aとHe−Neレーザ13bとに分光し
て投光器4′の光軸5′に対してそれぞれ異なる所定放
射角度で放射させるプリズム14を配設する6方1円環
状ミラーとして。
前記Arレーザ13mを反射する第1円環状イラー15
と前記He−Neレーザ13bt反射するIs2円環円
環ラミ26とを被検査WiSの上方に重合配置し、被検
査面Sの所定点Pよ11円環状ミラー15で反射して入
光するArレーザ13mの反射光13m’を受光する菖
l受光素子8−とJI2円環状ミラー16で反射して入
光するHe−Neレーザ13bの反射光13b’を受光
する第2受光素子8′bとを、前記プリズム14に並設
して、2種類の異なる光により、それぞれ被検査面Sに
対する投受光角度を異ならせて光沢測定を全方位にわた
って行うようにしたものである◎ 前記第1 、@2受光素子8’a + a’bの入光部
には、それぞれ入光波長の異なるフィルタ17a、17
bQie−Neレーザを受光するM2受光素子8’bK
つ−ては632.8nmフィルタtarレーザを受光す
るM1受光素子8′aについては514.0nmフィル
タ)t−被着して、2つの光が混入することがないよう
にしている◎ 前記投光器4′は、被検査面Sに対して珈直方向にAr
レーザ13mを照射するJ11投光部4’aと、前記s
1投光部4−の光軸に対し直角に光軸を設定してHe−
N@レーザ13bを照射するJIE2投光部4’bと、
前記第1投光部4’aの光軸上に配置され前記第2投光
部4’bの照光を前記all投光部4’aの光軸に揃え
て第1投光部4’aの照光と混合するダイクロイックミ
ラー4′cとで構成している◎ そのほかの構成は前記実施例と同様である。
と前記He−Neレーザ13bt反射するIs2円環円
環ラミ26とを被検査WiSの上方に重合配置し、被検
査面Sの所定点Pよ11円環状ミラー15で反射して入
光するArレーザ13mの反射光13m’を受光する菖
l受光素子8−とJI2円環状ミラー16で反射して入
光するHe−Neレーザ13bの反射光13b’を受光
する第2受光素子8′bとを、前記プリズム14に並設
して、2種類の異なる光により、それぞれ被検査面Sに
対する投受光角度を異ならせて光沢測定を全方位にわた
って行うようにしたものである◎ 前記第1 、@2受光素子8’a + a’bの入光部
には、それぞれ入光波長の異なるフィルタ17a、17
bQie−Neレーザを受光するM2受光素子8’bK
つ−ては632.8nmフィルタtarレーザを受光す
るM1受光素子8′aについては514.0nmフィル
タ)t−被着して、2つの光が混入することがないよう
にしている◎ 前記投光器4′は、被検査面Sに対して珈直方向にAr
レーザ13mを照射するJ11投光部4’aと、前記s
1投光部4−の光軸に対し直角に光軸を設定してHe−
N@レーザ13bを照射するJIE2投光部4’bと、
前記第1投光部4’aの光軸上に配置され前記第2投光
部4’bの照光を前記all投光部4’aの光軸に揃え
て第1投光部4’aの照光と混合するダイクロイックミ
ラー4′cとで構成している◎ そのほかの構成は前記実施例と同様である。
仁のように構成し次ため、この光沢計測装置を用いて被
検査面Sの傷検知を行う場合に、2種類の照光により同
時に投受光角度の異なる2つの測定を行うことができ、
1つの投受光角度による測定で社発見できないような深
さの異なる傷についても容易に検出でき、精度の高い傷
検知を行うことができる。
検査面Sの傷検知を行う場合に、2種類の照光により同
時に投受光角度の異なる2つの測定を行うことができ、
1つの投受光角度による測定で社発見できないような深
さの異なる傷についても容易に検出でき、精度の高い傷
検知を行うことができる。
そのほかの効果は前記実施例と同様である。
以上のように、この発明の光沢計測装置は、被検°査う
面f+(′対(、Ll−暑・直に光ビームを照射する投
光手段と、前記投光手段、と=皺1検2簀面IIの、・
間に配設され前記投光手段の光軸を軸心として回転し前
記光ビームを光軸に対して所定放射角度に放射する放射
手段と、前記光軸に軸心を揃え−て1.讐検−査・、育
、の上方に配置され自己の内周鏡面で前記放射手段から
の放射光を受は被検査面の所定位置に反射しかつ被検査
面での反射光を自己の内周鏡面で受けて前記放射手段配
設置g1に反射する円環状ミラーと、前記放射手段に一
体的に設けられ前記放射手段に従動回転し前記円環収電
2−を介して入光する被検査面での反射光を受光し被検
査面の反射光量に相当する出力を得る受光素子とを備え
たものである友め、被検査面に対する投受光測定を全方
向にわたって行うことができ、ヘアラインなど表面の凹
凸状態に方向性を有する徽検査WiK対しても極めて精
度の高い光沢測定を行うことができるという効果を有す
る。
面f+(′対(、Ll−暑・直に光ビームを照射する投
光手段と、前記投光手段、と=皺1検2簀面IIの、・
間に配設され前記投光手段の光軸を軸心として回転し前
記光ビームを光軸に対して所定放射角度に放射する放射
手段と、前記光軸に軸心を揃え−て1.讐検−査・、育
、の上方に配置され自己の内周鏡面で前記放射手段から
の放射光を受は被検査面の所定位置に反射しかつ被検査
面での反射光を自己の内周鏡面で受けて前記放射手段配
設置g1に反射する円環状ミラーと、前記放射手段に一
体的に設けられ前記放射手段に従動回転し前記円環収電
2−を介して入光する被検査面での反射光を受光し被検
査面の反射光量に相当する出力を得る受光素子とを備え
たものである友め、被検査面に対する投受光測定を全方
向にわたって行うことができ、ヘアラインなど表面の凹
凸状態に方向性を有する徽検査WiK対しても極めて精
度の高い光沢測定を行うことができるという効果を有す
る。
J11図は従来の光沢計測装置による光沢計測の説明図
、第2図は木材IIW!iの光沢針WJを示す斜視図、
第3図囚、(2)は被検査面の凹凸状態に方向性のある
場合の光沢計測を示す説明図、第4図は仁の発明の一実
施例を示す斜視図、IIEsmはその動作を示す概略図
、嬉6111はその受光素子の電圧出力を示す波形図
$17図囚ないしくQはそれぞれ傷検知の場合の波形図
、98図はこの発明の他の実施例を示す概略図である0 4.4′・・・投光器、5.5’・・・光軸、6・・・
平面鏡(放射手段)、7・・・円環状ミラー、8・・・
受光素子、8−・・・第1受光素−子、8’b・・・J
12受光素子、9・・・円筒回転軸、10・・・ロータ
、 10m・・・通電環路、11・・・ブラシ、14・
・・プリズム(放射手段)、15・・・第1円環状さ2
−116・・・#I2円環状ミラー、S・・・被検査面 第4図 第8図 手続補正書(自発) の表示 和56年 特許願第139300万 の名称 沢計測装置 をする者 事件との関係 出願人 住 所 大阪府門真市大字門真1048番地名 称 (
583)松下電、工株式会社代表者 神 Air
善 −理 人 自発補正 6、補■ 7、補J−1
、第2図は木材IIW!iの光沢針WJを示す斜視図、
第3図囚、(2)は被検査面の凹凸状態に方向性のある
場合の光沢計測を示す説明図、第4図は仁の発明の一実
施例を示す斜視図、IIEsmはその動作を示す概略図
、嬉6111はその受光素子の電圧出力を示す波形図
$17図囚ないしくQはそれぞれ傷検知の場合の波形図
、98図はこの発明の他の実施例を示す概略図である0 4.4′・・・投光器、5.5’・・・光軸、6・・・
平面鏡(放射手段)、7・・・円環状ミラー、8・・・
受光素子、8−・・・第1受光素−子、8’b・・・J
12受光素子、9・・・円筒回転軸、10・・・ロータ
、 10m・・・通電環路、11・・・ブラシ、14・
・・プリズム(放射手段)、15・・・第1円環状さ2
−116・・・#I2円環状ミラー、S・・・被検査面 第4図 第8図 手続補正書(自発) の表示 和56年 特許願第139300万 の名称 沢計測装置 をする者 事件との関係 出願人 住 所 大阪府門真市大字門真1048番地名 称 (
583)松下電、工株式会社代表者 神 Air
善 −理 人 自発補正 6、補■ 7、補J−1
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被顎渣1に(一対・」し7喬直に光ビームを照射する投
光手段と、前記投光手段と一囃違円1の−・関・に配設
され前記投光手段の光軸を軸心として回転し前記光ビー
ムを光軸に対して所定放射角度に放射する放射手段と、
前記光軸に輪心を揃、え゛てネ@−査(藺。 の上方に配置され自己の内周鏡面で前記放射手段からO
薦射光を受は被検査面の所定位置に反射しかつ被検査面
での反射光を1己の内周鏡面で受けて前記放射手段配設
部に反射する円環状ミラーと、前記放射手段に一体的に
設けられ前記放射手段に従動回転し前記円環状<1−1
介して入光する被検査面での反射光を受光し被検車面の
反射光量に相蟲する出力を得る受光素子とを備えた光沢
計測装置。 、
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13930081A JPS5839932A (ja) | 1981-09-03 | 1981-09-03 | 光沢計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13930081A JPS5839932A (ja) | 1981-09-03 | 1981-09-03 | 光沢計測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5839932A true JPS5839932A (ja) | 1983-03-08 |
JPS6152416B2 JPS6152416B2 (ja) | 1986-11-13 |
Family
ID=15242067
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13930081A Granted JPS5839932A (ja) | 1981-09-03 | 1981-09-03 | 光沢計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5839932A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62116526A (ja) * | 1985-09-11 | 1987-05-28 | デイヴィ プロセス テクノロジー リミテッド | 水素化方法 |
WO2005119225A1 (en) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Nova Measuring Instruments Ltd. | Device and method for optical reflectometry under oblique angle |
JP2021139650A (ja) * | 2020-03-02 | 2021-09-16 | マツダ株式会社 | 照り評価装置および該方法 |
JP2021139649A (ja) * | 2020-03-02 | 2021-09-16 | マツダ株式会社 | 艶評価装置および該方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH099454A (ja) * | 1995-06-23 | 1997-01-10 | Meishin Denki Kk | 蛇腹状電線保護管 |
-
1981
- 1981-09-03 JP JP13930081A patent/JPS5839932A/ja active Granted
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62116526A (ja) * | 1985-09-11 | 1987-05-28 | デイヴィ プロセス テクノロジー リミテッド | 水素化方法 |
WO2005119225A1 (en) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Nova Measuring Instruments Ltd. | Device and method for optical reflectometry under oblique angle |
US7245375B2 (en) | 2004-06-01 | 2007-07-17 | Nova Measuring Instruments Ltd. | Optical measurement device and method |
JP2021139650A (ja) * | 2020-03-02 | 2021-09-16 | マツダ株式会社 | 照り評価装置および該方法 |
JP2021139649A (ja) * | 2020-03-02 | 2021-09-16 | マツダ株式会社 | 艶評価装置および該方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6152416B2 (ja) | 1986-11-13 |
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