JPS5839932A - 光沢計測装置 - Google Patents
光沢計測装置Info
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- JPS5839932A JPS5839932A JP13930081A JP13930081A JPS5839932A JP S5839932 A JPS5839932 A JP S5839932A JP 13930081 A JP13930081 A JP 13930081A JP 13930081 A JP13930081 A JP 13930081A JP S5839932 A JPS5839932 A JP S5839932A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/57—Measuring gloss
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は光沢計測装置Ｋｌｌするものである口従来の
光沢計測装置は、ＪＩＳに規格されているように第１ｆ
ｆｉＫ示す被検査面Ｓの法線に対して４５度の照射角度
で投光しうるように配置した投光手段ｌと、被検査面Ｓ
での前記照射光の正反射光を受光する受光素子２とで構
成され、一定設光光量に対し得られる受光光量から被検
査面Ｓの光沢を計測するようにしたものである０ この光沢計Ｉｌｌ装置は、被検査面Ｓの凹凸状態に方向
性がなく、どの方向からの照射に対１ても同一受光ｑ＃
−を呈する場合にはその測定結果は有効であるが、菖２
隅に示すような木材３の表面のように導管３１・・・の
存在−より凹凸状ｌｌＫ方向性を有する被検査面では、
導管３ａ−：・の走行方向に対して自車７方向“１９照
光する１ＩＥ３図＾？場合と・導管３ａ°゛の走行方向
すよシ照簿する苧図＠９場せとでは測定結果に大きな差
が生じ、正確な測定を行うことができないロセして、こ
のような方向性ｔＶする被検査面は、前記木材表面に限
ら一ヘアライン加工された金属表面など実際の測定対象
として無数に存在するため、このような方向性を有する
被検査面に対しても正確な調定結果が得られる光沢針１
１義置の開発は、精度の高い光沢計測を行ううえで不可
欠である０ したがって、この発明の目的は、方向性を有する被検査
面の光沢測定についても正確に行うことのできる光沢針
側装置を提供することである０この発明の一実施例ｔ−
第４図に示す。すなわち、この光沢針側装置社、被検査
面Ｓに対し垂直に光ビームを照射する投光器４と、前記
投光器４０光軸５上で前記投光器４と被検査ＷＪＳの閲
に配設され前記光軸５を回転中心として回転し前記投光
器４から照射された光ビームを前記光軸５に対し所定の
放射角度に反射する平面鏡６と、前記光軸５と自己の軸
心とが一致するように前記平面鏡６の少し下方に配置さ
れ自己の内周鏡面７ａで前記平面鏡６からの反射光を受
は被検査面Ｓの所定点Ｐ（前記光軸５が被検査１ｉｉＳ
と交わる点〕に向け４５度の角度で入射するように反射
させるとともに。
光沢計測装置は、ＪＩＳに規格されているように第１ｆ
ｆｉＫ示す被検査面Ｓの法線に対して４５度の照射角度
で投光しうるように配置した投光手段ｌと、被検査面Ｓ
での前記照射光の正反射光を受光する受光素子２とで構
成され、一定設光光量に対し得られる受光光量から被検
査面Ｓの光沢を計測するようにしたものである０ この光沢計Ｉｌｌ装置は、被検査面Ｓの凹凸状態に方向
性がなく、どの方向からの照射に対１ても同一受光ｑ＃
−を呈する場合にはその測定結果は有効であるが、菖２
隅に示すような木材３の表面のように導管３１・・・の
存在−より凹凸状ｌｌＫ方向性を有する被検査面では、
導管３ａ−：・の走行方向に対して自車７方向“１９照
光する１ＩＥ３図＾？場合と・導管３ａ°゛の走行方向
すよシ照簿する苧図＠９場せとでは測定結果に大きな差
が生じ、正確な測定を行うことができないロセして、こ
のような方向性ｔＶする被検査面は、前記木材表面に限
ら一ヘアライン加工された金属表面など実際の測定対象
として無数に存在するため、このような方向性を有する
被検査面に対しても正確な調定結果が得られる光沢針１
１義置の開発は、精度の高い光沢計測を行ううえで不可
欠である０ したがって、この発明の目的は、方向性を有する被検査
面の光沢測定についても正確に行うことのできる光沢針
側装置を提供することである０この発明の一実施例ｔ−
第４図に示す。すなわち、この光沢針側装置社、被検査
面Ｓに対し垂直に光ビームを照射する投光器４と、前記
投光器４０光軸５上で前記投光器４と被検査ＷＪＳの閲
に配設され前記光軸５を回転中心として回転し前記投光
器４から照射された光ビームを前記光軸５に対し所定の
放射角度に反射する平面鏡６と、前記光軸５と自己の軸
心とが一致するように前記平面鏡６の少し下方に配置さ
れ自己の内周鏡面７ａで前記平面鏡６からの反射光を受
は被検査面Ｓの所定点Ｐ（前記光軸５が被検査１ｉｉＳ
と交わる点〕に向け４５度の角度で入射するように反射
させるとともに。
被検査面Ｓ上の点Ｐでの反射光を自己の内周鏡面７ｍ（
前記平面鏡６からの反射光を受ける面域に対し１８０度
の周角度で対向する面域）で受は前記平面鏡６の背面側
に向けて反射する円環状ミラー７ （ｆ−１１ミラー）
と、前記平面鏡６の背面に固定され前記平面鏡６に従動
回転して、前記円環状ミラー７を介して入光する被検査
面Ｓ上の点Ｐでの反射光を受光する受光素子８とを備え
、前記平面鏡６と受光素子８とは自己の細心を前記光軸
５に揃えて配置した円筒回転軸９の下端部に固定すると
ともに、通電環路１０ｇ、１０ｍ−を上面に有するロー
タｌＯを前記円筒回転軸９の上部に周設して、被検査面
上の点Ｐでの反射光量に対応して得られる前記受光素子
８の出力を前記ａ−夕１０の過電環路１０ａ、１０ａ
ｆｃｆｆｌｌ接させたブラシ１１１ｉ−介して電圧信号
として得るようにしたものである口前記受光素子８と前
記ロータ１０の通電環路１０ｍ、１０ｍとは前記円筒回
転軸９に沿って配設される通電ｍ（図示せず〕を介して
接続している◎ＩＬ前記前記円転回転軸９−タ（図示せ
ず）により所定回転速度で回転駆動するようにしている
口 仁の光沢計測装置の動作を第５図の概略図および第６図
の波形図に基づき次に説明するＯ投光器４から光ビーム
１２’ｊ−照射□しなから前−円筒回転軸９を回転させ
ると、光ビーム１２は所定の傾斜角度に設定された前記
平面鏡６で前記光軸５に対して所定の放射角度−で反射
するとともに、七の反射方向は前記円筒回転軸９０同転
に伴５を中心にして刻々とａＷＩＩＩ変位する０平面鏡
６からの反射光１２鳳は前記円環状ミラー７の内周鏡面
７ｍで受けられ、被検査ＷＪＳの前記に向けて４５変の
角度で入射 するように反射され、同時に被検査ｉＩＳの点Ｐでの反
射光１２ｍ’は、前記平面鏡Ｓからの反射光１２ｉを受
叶暮前記円環状＜７−７の内周鏡面７１０所１８０度６
周角度で対向する内周鏡面 ７ａの他両域で受けられて、その反射光１２ａ’ａ前記
千厘鏡６の背面に固定された受光素子８に受光゛は前−
′平面鏡６の回転に伴な れ（これに伴ない前記円環状ミ２ −７の平面鏡６からの反射光１２ｍの受光面域および被
検査面Ｓからの反射光１２ａ′の受光面域は刻々と回動
変位する）、被検査面Ｓの点Ｐへの３６０度全方位にわ
たる入射光１２ＪＩＫ対する正反射光１２ｍ’の光量を
前記受光素子８が＃Ｉ６図に示すように電圧出力として
連続的に出力し、ロータ１０．ブラシ１１を経て一定さ
れる口 ＪＩ６図に示す電圧出力の波形において、電圧レヘＡ／
カ１８０ Ｍｌの周期で高低汞化しているのは、前記
被検査面ＳＫへアライン華導管などによる凹゛凸状態の
方向性を示すもので、電圧レベ゛ルの低い部分すなわ□
ち反射光量の少ない部分は投受光が被検査１ｉＩＳの凹
凸条に対し励直方向から行われている部分に相当し、逆
に電圧レミルの高い部分は投受光方向が凹凸条の走行方
向に揃っている場合に相当している０ このように構成したため、被検査面Ｓでの投受光ｔ−３
６０Ｒ全方位にわたって行ｉ、全方位の受光凹凸状態に
方向性がある場合でも、前記受光素子８の全方位にわた
る電圧出力データを平均化してその平均値で光沢度合１
＊定したシ、また前記電圧出力の最低レベルおよび最高
レベルを所定基準値と比較するなどの処理を行うことに
より、被検査面Ｓの正確な光沢測定を行う仁とができる
０また、被検査面Ｓがヘアライン加工し次金属面のよう
な場合で、ヘアラインと交差する方向に傷が存在する場
合には、ヘア２インに対して垂直な方向から投受光が行
われる電圧出力の低い部分（ＩＩ７図囚ＫＴ工て示す）
Ｋｍ記傷に対応する信号Ｃが見られるので、この信号Ｃ
を検出することによｐ被検査面Ｓの傷検出装置としても
利用することができる。
前記平面鏡６からの反射光を受ける面域に対し１８０度
の周角度で対向する面域）で受は前記平面鏡６の背面側
に向けて反射する円環状ミラー７ （ｆ−１１ミラー）
と、前記平面鏡６の背面に固定され前記平面鏡６に従動
回転して、前記円環状ミラー７を介して入光する被検査
面Ｓ上の点Ｐでの反射光を受光する受光素子８とを備え
、前記平面鏡６と受光素子８とは自己の細心を前記光軸
５に揃えて配置した円筒回転軸９の下端部に固定すると
ともに、通電環路１０ｇ、１０ｍ−を上面に有するロー
タｌＯを前記円筒回転軸９の上部に周設して、被検査面
上の点Ｐでの反射光量に対応して得られる前記受光素子
８の出力を前記ａ−夕１０の過電環路１０ａ、１０ａ
ｆｃｆｆｌｌ接させたブラシ１１１ｉ−介して電圧信号
として得るようにしたものである口前記受光素子８と前
記ロータ１０の通電環路１０ｍ、１０ｍとは前記円筒回
転軸９に沿って配設される通電ｍ（図示せず〕を介して
接続している◎ＩＬ前記前記円転回転軸９−タ（図示せ
ず）により所定回転速度で回転駆動するようにしている
口 仁の光沢計測装置の動作を第５図の概略図および第６図
の波形図に基づき次に説明するＯ投光器４から光ビーム
１２’ｊ−照射□しなから前−円筒回転軸９を回転させ
ると、光ビーム１２は所定の傾斜角度に設定された前記
平面鏡６で前記光軸５に対して所定の放射角度−で反射
するとともに、七の反射方向は前記円筒回転軸９０同転
に伴５を中心にして刻々とａＷＩＩＩ変位する０平面鏡
６からの反射光１２鳳は前記円環状ミラー７の内周鏡面
７ｍで受けられ、被検査ＷＪＳの前記に向けて４５変の
角度で入射 するように反射され、同時に被検査ｉＩＳの点Ｐでの反
射光１２ｍ’は、前記平面鏡Ｓからの反射光１２ｉを受
叶暮前記円環状＜７−７の内周鏡面７１０所１８０度６
周角度で対向する内周鏡面 ７ａの他両域で受けられて、その反射光１２ａ’ａ前記
千厘鏡６の背面に固定された受光素子８に受光゛は前−
′平面鏡６の回転に伴な れ（これに伴ない前記円環状ミ２ −７の平面鏡６からの反射光１２ｍの受光面域および被
検査面Ｓからの反射光１２ａ′の受光面域は刻々と回動
変位する）、被検査面Ｓの点Ｐへの３６０度全方位にわ
たる入射光１２ＪＩＫ対する正反射光１２ｍ’の光量を
前記受光素子８が＃Ｉ６図に示すように電圧出力として
連続的に出力し、ロータ１０．ブラシ１１を経て一定さ
れる口 ＪＩ６図に示す電圧出力の波形において、電圧レヘＡ／
カ１８０ Ｍｌの周期で高低汞化しているのは、前記
被検査面ＳＫへアライン華導管などによる凹゛凸状態の
方向性を示すもので、電圧レベ゛ルの低い部分すなわ□
ち反射光量の少ない部分は投受光が被検査１ｉＩＳの凹
凸条に対し励直方向から行われている部分に相当し、逆
に電圧レミルの高い部分は投受光方向が凹凸条の走行方
向に揃っている場合に相当している０ このように構成したため、被検査面Ｓでの投受光ｔ−３
６０Ｒ全方位にわたって行ｉ、全方位の受光凹凸状態に
方向性がある場合でも、前記受光素子８の全方位にわた
る電圧出力データを平均化してその平均値で光沢度合１
＊定したシ、また前記電圧出力の最低レベルおよび最高
レベルを所定基準値と比較するなどの処理を行うことに
より、被検査面Ｓの正確な光沢測定を行う仁とができる
０また、被検査面Ｓがヘアライン加工し次金属面のよう
な場合で、ヘアラインと交差する方向に傷が存在する場
合には、ヘア２インに対して垂直な方向から投受光が行
われる電圧出力の低い部分（ＩＩ７図囚ＫＴ工て示す）
Ｋｍ記傷に対応する信号Ｃが見られるので、この信号Ｃ
を検出することによｐ被検査面Ｓの傷検出装置としても
利用することができる。
なお、このような傷の検出においては、傷に対応する信
号Ｃの発生域であるヘアライン九対して喬直な方向から
投受光が行われる区間ＴＩＫ同期する１ｌＩＩｔ７Ｗｉ
＠に示すようなゲート信号を発するゲート回路を用いて
、前記受光素子８の電圧出力のうち傷に対応する信号Ｃ
の発生域ＴよのみをＩＩＬ９出し、これを微分回ｊｌに
人力するなどして薦７図（Ｑに示すように前記傷に対応
する信号Ｃ′をピックアップし、その検出を容易に精度
よく行うことも可能である。
号Ｃの発生域であるヘアライン九対して喬直な方向から
投受光が行われる区間ＴＩＫ同期する１ｌＩＩｔ７Ｗｉ
＠に示すようなゲート信号を発するゲート回路を用いて
、前記受光素子８の電圧出力のうち傷に対応する信号Ｃ
の発生域ＴよのみをＩＩＬ９出し、これを微分回ｊｌに
人力するなどして薦７図（Ｑに示すように前記傷に対応
する信号Ｃ′をピックアップし、その検出を容易に精度
よく行うことも可能である。
前記実施例では、前記円環状ミラー７の内周鏡＠７ｍは
凹面仕上けとして、入射される光ビームを被検査ＮＳへ
の照射の際に効果的に収束させるようにしているが、特
にそのような収束を必要としない場合には、前記内周鏡
面７ａは平面仕上げとしてもよい。
凹面仕上けとして、入射される光ビームを被検査ＮＳへ
の照射の際に効果的に収束させるようにしているが、特
にそのような収束を必要としない場合には、前記内周鏡
面７ａは平面仕上げとしてもよい。
この発明の他の実施例を第８図に示す。すなわち、この
光沢計測装置は、前記実施例における投光器４′として
Ｈ＠−Ｎｅレーザ（赤色）とＡｒレーザ（育色）を混合
した光ビーム１３を照射するものを用いるとともに、前
記実施例における平面鏡６に替えて前記光ビーム１３を
Ａｒレーザ１３ａとＨｅ−Ｎｅレーザ１３ｂとに分光し
て投光器４′の光軸５′に対してそれぞれ異なる所定放
射角度で放射させるプリズム１４を配設する６方１円環
状ミラーとして。
光沢計測装置は、前記実施例における投光器４′として
Ｈ＠−Ｎｅレーザ（赤色）とＡｒレーザ（育色）を混合
した光ビーム１３を照射するものを用いるとともに、前
記実施例における平面鏡６に替えて前記光ビーム１３を
Ａｒレーザ１３ａとＨｅ−Ｎｅレーザ１３ｂとに分光し
て投光器４′の光軸５′に対してそれぞれ異なる所定放
射角度で放射させるプリズム１４を配設する６方１円環
状ミラーとして。
前記Ａｒレーザ１３ｍを反射する第１円環状イラー１５
と前記Ｈｅ−Ｎｅレーザ１３ｂｔ反射するＩｓ２円環円
環ラミ２６とを被検査ＷｉＳの上方に重合配置し、被検
査面Ｓの所定点Ｐよ１１円環状ミラー１５で反射して入
光するＡｒレーザ１３ｍの反射光１３ｍ’を受光する菖
ｌ受光素子８−とＪＩ２円環状ミラー１６で反射して入
光するＨｅ−Ｎｅレーザ１３ｂの反射光１３ｂ’を受光
する第２受光素子８′ｂとを、前記プリズム１４に並設
して、２種類の異なる光により、それぞれ被検査面Ｓに
対する投受光角度を異ならせて光沢測定を全方位にわた
って行うようにしたものである◎ 前記第１ 、＠２受光素子８’ａ ＋ ａ’ｂの入光部
には、それぞれ入光波長の異なるフィルタ１７ａ、１７
ｂＱｉｅ−Ｎｅレーザを受光するＭ２受光素子８’ｂＫ
つ−ては６３２．８ｎｍフィルタｔａｒレーザを受光す
るＭ１受光素子８′ａについては５１４．０ｎｍフィル
タ）ｔ−被着して、２つの光が混入することがないよう
にしている◎ 前記投光器４′は、被検査面Ｓに対して珈直方向にＡｒ
レーザ１３ｍを照射するＪ１１投光部４’ａと、前記ｓ
１投光部４−の光軸に対し直角に光軸を設定してＨｅ−
Ｎ＠レーザ１３ｂを照射するＪＩＥ２投光部４’ｂと、
前記第１投光部４’ａの光軸上に配置され前記第２投光
部４’ｂの照光を前記ａｌｌ投光部４’ａの光軸に揃え
て第１投光部４’ａの照光と混合するダイクロイックミ
ラー４′ｃとで構成している◎ そのほかの構成は前記実施例と同様である。
と前記Ｈｅ−Ｎｅレーザ１３ｂｔ反射するＩｓ２円環円
環ラミ２６とを被検査ＷｉＳの上方に重合配置し、被検
査面Ｓの所定点Ｐよ１１円環状ミラー１５で反射して入
光するＡｒレーザ１３ｍの反射光１３ｍ’を受光する菖
ｌ受光素子８−とＪＩ２円環状ミラー１６で反射して入
光するＨｅ−Ｎｅレーザ１３ｂの反射光１３ｂ’を受光
する第２受光素子８′ｂとを、前記プリズム１４に並設
して、２種類の異なる光により、それぞれ被検査面Ｓに
対する投受光角度を異ならせて光沢測定を全方位にわた
って行うようにしたものである◎ 前記第１ 、＠２受光素子８’ａ ＋ ａ’ｂの入光部
には、それぞれ入光波長の異なるフィルタ１７ａ、１７
ｂＱｉｅ−Ｎｅレーザを受光するＭ２受光素子８’ｂＫ
つ−ては６３２．８ｎｍフィルタｔａｒレーザを受光す
るＭ１受光素子８′ａについては５１４．０ｎｍフィル
タ）ｔ−被着して、２つの光が混入することがないよう
にしている◎ 前記投光器４′は、被検査面Ｓに対して珈直方向にＡｒ
レーザ１３ｍを照射するＪ１１投光部４’ａと、前記ｓ
１投光部４−の光軸に対し直角に光軸を設定してＨｅ−
Ｎ＠レーザ１３ｂを照射するＪＩＥ２投光部４’ｂと、
前記第１投光部４’ａの光軸上に配置され前記第２投光
部４’ｂの照光を前記ａｌｌ投光部４’ａの光軸に揃え
て第１投光部４’ａの照光と混合するダイクロイックミ
ラー４′ｃとで構成している◎ そのほかの構成は前記実施例と同様である。
仁のように構成し次ため、この光沢計測装置を用いて被
検査面Ｓの傷検知を行う場合に、２種類の照光により同
時に投受光角度の異なる２つの測定を行うことができ、
１つの投受光角度による測定で社発見できないような深
さの異なる傷についても容易に検出でき、精度の高い傷
検知を行うことができる。
検査面Ｓの傷検知を行う場合に、２種類の照光により同
時に投受光角度の異なる２つの測定を行うことができ、
１つの投受光角度による測定で社発見できないような深
さの異なる傷についても容易に検出でき、精度の高い傷
検知を行うことができる。
そのほかの効果は前記実施例と同様である。
以上のように、この発明の光沢計測装置は、被検°査う
面ｆ＋（′対（、Ｌｌ−暑・直に光ビームを照射する投
光手段と、前記投光手段、と＝皺１検２簀面ＩＩの、・
間に配設され前記投光手段の光軸を軸心として回転し前
記光ビームを光軸に対して所定放射角度に放射する放射
手段と、前記光軸に軸心を揃え−て１．讐検−査・、育
、の上方に配置され自己の内周鏡面で前記放射手段から
の放射光を受は被検査面の所定位置に反射しかつ被検査
面での反射光を自己の内周鏡面で受けて前記放射手段配
設置ｇ１に反射する円環状ミラーと、前記放射手段に一
体的に設けられ前記放射手段に従動回転し前記円環収電
２−を介して入光する被検査面での反射光を受光し被検
査面の反射光量に相当する出力を得る受光素子とを備え
たものである友め、被検査面に対する投受光測定を全方
向にわたって行うことができ、ヘアラインなど表面の凹
凸状態に方向性を有する徽検査ＷｉＫ対しても極めて精
度の高い光沢測定を行うことができるという効果を有す
る。
面ｆ＋（′対（、Ｌｌ−暑・直に光ビームを照射する投
光手段と、前記投光手段、と＝皺１検２簀面ＩＩの、・
間に配設され前記投光手段の光軸を軸心として回転し前
記光ビームを光軸に対して所定放射角度に放射する放射
手段と、前記光軸に軸心を揃え−て１．讐検−査・、育
、の上方に配置され自己の内周鏡面で前記放射手段から
の放射光を受は被検査面の所定位置に反射しかつ被検査
面での反射光を自己の内周鏡面で受けて前記放射手段配
設置ｇ１に反射する円環状ミラーと、前記放射手段に一
体的に設けられ前記放射手段に従動回転し前記円環収電
２−を介して入光する被検査面での反射光を受光し被検
査面の反射光量に相当する出力を得る受光素子とを備え
たものである友め、被検査面に対する投受光測定を全方
向にわたって行うことができ、ヘアラインなど表面の凹
凸状態に方向性を有する徽検査ＷｉＫ対しても極めて精
度の高い光沢測定を行うことができるという効果を有す
る。
Ｊ１１図は従来の光沢計測装置による光沢計測の説明図
、第２図は木材ＩＩＷ！ｉの光沢針ＷＪを示す斜視図、
第３図囚、（２）は被検査面の凹凸状態に方向性のある
場合の光沢計測を示す説明図、第４図は仁の発明の一実
施例を示す斜視図、ＩＩＥｓｍはその動作を示す概略図
、嬉６１１１はその受光素子の電圧出力を示す波形図
＄１７図囚ないしくＱはそれぞれ傷検知の場合の波形図
、９８図はこの発明の他の実施例を示す概略図である０ ４．４′・・・投光器、５．５’・・・光軸、６・・・
平面鏡（放射手段）、７・・・円環状ミラー、８・・・
受光素子、８−・・・第１受光素−子、８’ｂ・・・Ｊ
１２受光素子、９・・・円筒回転軸、１０・・・ロータ
、 １０ｍ・・・通電環路、１１・・・ブラシ、１４・
・・プリズム（放射手段）、１５・・・第１円環状さ２
−１１６・・・＃Ｉ２円環状ミラー、Ｓ・・・被検査面 第４図 第８図 手続補正書（自発） の表示 和５６年 特許願第１３９３００万 の名称 沢計測装置 をする者 事件との関係 出願人 住 所 大阪府門真市大字門真１０４８番地名 称 （
５８３）松下電、工株式会社代表者 神 Ａｉｒ
善 −理 人 自発補正 ６、補■ ７、補Ｊ−１
、第２図は木材ＩＩＷ！ｉの光沢針ＷＪを示す斜視図、
第３図囚、（２）は被検査面の凹凸状態に方向性のある
場合の光沢計測を示す説明図、第４図は仁の発明の一実
施例を示す斜視図、ＩＩＥｓｍはその動作を示す概略図
、嬉６１１１はその受光素子の電圧出力を示す波形図
＄１７図囚ないしくＱはそれぞれ傷検知の場合の波形図
、９８図はこの発明の他の実施例を示す概略図である０ ４．４′・・・投光器、５．５’・・・光軸、６・・・
平面鏡（放射手段）、７・・・円環状ミラー、８・・・
受光素子、８−・・・第１受光素−子、８’ｂ・・・Ｊ
１２受光素子、９・・・円筒回転軸、１０・・・ロータ
、 １０ｍ・・・通電環路、１１・・・ブラシ、１４・
・・プリズム（放射手段）、１５・・・第１円環状さ２
−１１６・・・＃Ｉ２円環状ミラー、Ｓ・・・被検査面 第４図 第８図 手続補正書（自発） の表示 和５６年 特許願第１３９３００万 の名称 沢計測装置 をする者 事件との関係 出願人 住 所 大阪府門真市大字門真１０４８番地名 称 （
５８３）松下電、工株式会社代表者 神 Ａｉｒ
善 −理 人 自発補正 ６、補■ ７、補Ｊ−１
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被顎渣１に（一対・」し７喬直に光ビームを照射する投
光手段と、前記投光手段と一囃違円１の−・関・に配設
され前記投光手段の光軸を軸心として回転し前記光ビー
ムを光軸に対して所定放射角度に放射する放射手段と、
前記光軸に輪心を揃、え゛てネ＠−査（藺。 の上方に配置され自己の内周鏡面で前記放射手段からＯ
薦射光を受は被検査面の所定位置に反射しかつ被検査面
での反射光を１己の内周鏡面で受けて前記放射手段配設
部に反射する円環状ミラーと、前記放射手段に一体的に
設けられ前記放射手段に従動回転し前記円環状＜１−１
介して入光する被検査面での反射光を受光し被検車面の
反射光量に相蟲する出力を得る受光素子とを備えた光沢
計測装置。 、
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13930081A JPS5839932A (ja) | 1981-09-03 | 1981-09-03 | 光沢計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13930081A JPS5839932A (ja) | 1981-09-03 | 1981-09-03 | 光沢計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5839932A true JPS5839932A (ja) | 1983-03-08 |
| JPS6152416B2 JPS6152416B2 (ja) | 1986-11-13 |
Family
ID=15242067
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13930081A Granted JPS5839932A (ja) | 1981-09-03 | 1981-09-03 | 光沢計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5839932A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62116526A (ja) * | 1985-09-11 | 1987-05-28 | デイヴィ プロセス テクノロジー リミテッド | 水素化方法 |
| WO2005119225A1 (en) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Nova Measuring Instruments Ltd. | Device and method for optical reflectometry under oblique angle |
| JP2021139650A (ja) * | 2020-03-02 | 2021-09-16 | マツダ株式会社 | 照り評価装置および該方法 |
| JP2021139649A (ja) * | 2020-03-02 | 2021-09-16 | マツダ株式会社 | 艶評価装置および該方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH099454A (ja) * | 1995-06-23 | 1997-01-10 | Meishin Denki Kk | 蛇腹状電線保護管 |
-
1981
- 1981-09-03 JP JP13930081A patent/JPS5839932A/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62116526A (ja) * | 1985-09-11 | 1987-05-28 | デイヴィ プロセス テクノロジー リミテッド | 水素化方法 |
| WO2005119225A1 (en) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Nova Measuring Instruments Ltd. | Device and method for optical reflectometry under oblique angle |
| US7245375B2 (en) | 2004-06-01 | 2007-07-17 | Nova Measuring Instruments Ltd. | Optical measurement device and method |
| JP2021139650A (ja) * | 2020-03-02 | 2021-09-16 | マツダ株式会社 | 照り評価装置および該方法 |
| JP2021139649A (ja) * | 2020-03-02 | 2021-09-16 | マツダ株式会社 | 艶評価装置および該方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6152416B2 (ja) | 1986-11-13 |
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