JPS58215004A - イオン注入バブルデバイス用結晶 - Google Patents
イオン注入バブルデバイス用結晶Info
- Publication number
- JPS58215004A JPS58215004A JP57098117A JP9811782A JPS58215004A JP S58215004 A JPS58215004 A JP S58215004A JP 57098117 A JP57098117 A JP 57098117A JP 9811782 A JP9811782 A JP 9811782A JP S58215004 A JPS58215004 A JP S58215004A
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- JP
- Japan
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- bubble
- crystal
- thin film
- ion
- magnetic thin
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- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F10/00—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
- H01F10/08—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers
- H01F10/10—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition
- H01F10/18—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition being compounds
- H01F10/20—Ferrites
- H01F10/24—Garnets
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、イオン注入バブルデバイス用結晶に関し、該
結晶の結晶磁気異方性の絶対値を減少させようとするも
のである。
結晶の結晶磁気異方性の絶対値を減少させようとするも
のである。
技術の背景
磁気バブル装置はGGG非磁性基板に磁性薄膜をエピタ
キシャル成長させてなる基板を用いるものが多く、従来
はか\る基板にバブル発生およびゲート用導体パターン
およびバブル転送用磁性パターン等を被着してバブル制
御することが普通であった。しかしメモリの大容量化等
を狙ってバブルが微小化するにつれて、T、I、ハーフ
ディスクなどの各素子間にギャップがある転送用磁性パ
ターンを用いる方式は製作上の問題から採用が困難にな
り、代って上記磁性薄膜にイオン注入して無ギヤツプ連
続転送パターンを形成する方式が採用されつ\ある。即
ちGGG基板にエピタキシャル成長させた磁性薄膜は基
板厚み方向に磁化容易であるがイオン注入すると基板表
面に平行な方向に磁化容易となり、イオン注入領域と非
注入領域との境界をバブル転送に適するパターン例えば
多数の半円を継ぎ合せたパターンにすると、回転磁界に
従ってバブルは該パターンに沿って移動するようになり
、パーマロイなどで作るハーフディスク転送用磁性パタ
ーンなどは不要どなる。しかも転送パターンはT、Iま
たはハーフディスクなどのように個々に分離してはいな
い無間隙連続体であり、イオン注入だけでできるから微
細加工が容易で、1μm程度の径の微細バブル用のデバ
イスも容易に製作可能である。
キシャル成長させてなる基板を用いるものが多く、従来
はか\る基板にバブル発生およびゲート用導体パターン
およびバブル転送用磁性パターン等を被着してバブル制
御することが普通であった。しかしメモリの大容量化等
を狙ってバブルが微小化するにつれて、T、I、ハーフ
ディスクなどの各素子間にギャップがある転送用磁性パ
ターンを用いる方式は製作上の問題から採用が困難にな
り、代って上記磁性薄膜にイオン注入して無ギヤツプ連
続転送パターンを形成する方式が採用されつ\ある。即
ちGGG基板にエピタキシャル成長させた磁性薄膜は基
板厚み方向に磁化容易であるがイオン注入すると基板表
面に平行な方向に磁化容易となり、イオン注入領域と非
注入領域との境界をバブル転送に適するパターン例えば
多数の半円を継ぎ合せたパターンにすると、回転磁界に
従ってバブルは該パターンに沿って移動するようになり
、パーマロイなどで作るハーフディスク転送用磁性パタ
ーンなどは不要どなる。しかも転送パターンはT、Iま
たはハーフディスクなどのように個々に分離してはいな
い無間隙連続体であり、イオン注入だけでできるから微
細加工が容易で、1μm程度の径の微細バブル用のデバ
イスも容易に製作可能である。
従来技術と問題点
か−るイオン注入用バブルデバイス用結晶つまり上記磁
性薄膜では結晶の磁気異方性定数に+が問題である。こ
の定数に1はバブル用結晶では通常質であるのでここで
はその絶対値をとってIKI1で扱うが、1K11が大
であるとバブルを転送路に沿って一方向に駆動するのと
その逆方向の駆動とでは必要な駆動力が大きく異なるこ
とになり、バブル駆動が厄介になる。lK11が小であ
ればバブルをどの方向へ駆動するのも同じ強さの駆動回
転磁界でよく、バブル駆動が容易であるからバブル用磁
性薄膜にはIKI lの小さいものがよい。(YSmL
uCa)3 (GeFe)5012.はバブル用磁性
薄膜として優れた特性を持っているが、この結晶でIK
I lを減少すべくルテニウムイオンRu3+を添加す
ることが試みられたが、Ru3+の添加は逆にIKI
lを増加させてしまい、IKI l減少にはならなかっ
た。
性薄膜では結晶の磁気異方性定数に+が問題である。こ
の定数に1はバブル用結晶では通常質であるのでここで
はその絶対値をとってIKI1で扱うが、1K11が大
であるとバブルを転送路に沿って一方向に駆動するのと
その逆方向の駆動とでは必要な駆動力が大きく異なるこ
とになり、バブル駆動が厄介になる。lK11が小であ
ればバブルをどの方向へ駆動するのも同じ強さの駆動回
転磁界でよく、バブル駆動が容易であるからバブル用磁
性薄膜にはIKI lの小さいものがよい。(YSmL
uCa)3 (GeFe)5012.はバブル用磁性
薄膜として優れた特性を持っているが、この結晶でIK
I lを減少すべくルテニウムイオンRu3+を添加す
ることが試みられたが、Ru3+の添加は逆にIKI
lを増加させてしまい、IKI l減少にはならなかっ
た。
発明の目的
本発明はイオン注入バブルデバイスの動作特性向上を狙
って該デバイスに用いる磁性薄膜の異方性定数IK1
lを制御、特に小にしようとするものである。
って該デバイスに用いる磁性薄膜の異方性定数IK1
lを制御、特に小にしようとするものである。
発明の構成
本発明は結晶基板上にエピタキシャル成長して磁性薄膜
を形成しそしてイオン注入によりバブル伝播パターンを
形成されるイオン注入バブルデバイス用結晶において、
(YSmLuCa)3 (GeFe)50+□なる組
成を持ち、かつ5 Co / F eが0.10〜0.
20の範囲で遷移金属イオンC02+を添加されて結晶
磁気異方性定数lK+ lおよび異方性磁界H4を制御
されてなることを特徴とするものであるが、次に実施例
を参照しながらこれを説明する。
を形成しそしてイオン注入によりバブル伝播パターンを
形成されるイオン注入バブルデバイス用結晶において、
(YSmLuCa)3 (GeFe)50+□なる組
成を持ち、かつ5 Co / F eが0.10〜0.
20の範囲で遷移金属イオンC02+を添加されて結晶
磁気異方性定数lK+ lおよび異方性磁界H4を制御
されてなることを特徴とするものであるが、次に実施例
を参照しながらこれを説明する。
発明の実施例
バブル径1μmのバブルデバイス用イオン注入Sys結
晶(YSmLuCa)3 (GeFe)a。
晶(YSmLuCa)3 (GeFe)a。
1□にコバルトイオンC○ を添加した場合のコバルト
添加量対l K + l (erg /ad)の関係
を第1図に示す。このグラフから明らかなようにコバル
ト添加量が増すにつれてlK11はは\′直線的に減少
し、5 Co / F eが0.15を越える辺りから
逆に増加を始める。従って最も好ましい添加量は5 C
o / F e = 0.15であるが、0.10〜0
.20の範囲なら効果が認められる。これよりコバルト
添加量を少なくしてもまた多くしても効果が薄(なり、
特に多くする場合は、コバルト添加に対応させてsys
結晶のある成分本例ではGeを減少させるので他の磁気
特性に悪影響を与える恐れがある。なおIKI 1が減
少する範囲はコバルトが2価のイオンC02+で入って
おり、0.15を越えて増加する範囲ではこれが3価の
イオンCo”+に変っていると推定できる。またコバル
トは2価のイオンとして、具体的には酸化コバルトco
○として添加しないで、Co単体で添加すると、sYS
結晶中へは3+iI[iのイオンとして入る恐れがある
。
添加量対l K + l (erg /ad)の関係
を第1図に示す。このグラフから明らかなようにコバル
ト添加量が増すにつれてlK11はは\′直線的に減少
し、5 Co / F eが0.15を越える辺りから
逆に増加を始める。従って最も好ましい添加量は5 C
o / F e = 0.15であるが、0.10〜0
.20の範囲なら効果が認められる。これよりコバルト
添加量を少なくしてもまた多くしても効果が薄(なり、
特に多くする場合は、コバルト添加に対応させてsys
結晶のある成分本例ではGeを減少させるので他の磁気
特性に悪影響を与える恐れがある。なおIKI 1が減
少する範囲はコバルトが2価のイオンC02+で入って
おり、0.15を越えて増加する範囲ではこれが3価の
イオンCo”+に変っていると推定できる。またコバル
トは2価のイオンとして、具体的には酸化コバルトco
○として添加しないで、Co単体で添加すると、sYS
結晶中へは3+iI[iのイオンとして入る恐れがある
。
またC02+添加でSYS結晶のlK11を減少できる
理由は、この磁性酸化物中の8面***置にCo2+が入
ってその単一イオン性の大きいに1によりSYS結晶の
に+(負値)をプラス方向に変化させることによると解
される。
理由は、この磁性酸化物中の8面***置にCo2+が入
ってその単一イオン性の大きいに1によりSYS結晶の
に+(負値)をプラス方向に変化させることによると解
される。
第2図は、イオン注入に伴なう異方性磁界Hi(Oe)
を注入量D (X 1014/cJ)の関数として求め
たグラフである。○印はコバルトを添加した本発明の磁
性薄膜、・印はコバルトを添加しない従来の磁性薄膜に
ネオンを100 KeVでイオン注入したもので測定し
た結果である。コバルトを添加すると特にドーズ量の多
い領域でH4が向上する。実際のデバイスでイオン注入
は複数回行なうマルチ法をとっており、これに合せて先
ずネオンをlK14,50KeVで、次に水素を2F1
6゜50 KeVで、更にその後でネオンを2E14.
200KeVでイオン注入した例ではH4の最大値は4
800 0eに向上した。こ\でK14は×1014を
意味する。他もこれに準する。一般に異方性磁界H4は
大きい程バブルデバイスとしての特性は良好になると期
待される。
を注入量D (X 1014/cJ)の関数として求め
たグラフである。○印はコバルトを添加した本発明の磁
性薄膜、・印はコバルトを添加しない従来の磁性薄膜に
ネオンを100 KeVでイオン注入したもので測定し
た結果である。コバルトを添加すると特にドーズ量の多
い領域でH4が向上する。実際のデバイスでイオン注入
は複数回行なうマルチ法をとっており、これに合せて先
ずネオンをlK14,50KeVで、次に水素を2F1
6゜50 KeVで、更にその後でネオンを2E14.
200KeVでイオン注入した例ではH4の最大値は4
800 0eに向上した。こ\でK14は×1014を
意味する。他もこれに準する。一般に異方性磁界H4は
大きい程バブルデバイスとしての特性は良好になると期
待される。
こ\で異方性定数に+、異方性磁界Hiについて柵体す
ると、Eaを結晶磁気異方性エネルギ、直交したx、y
、z軸に関する自発磁化の方向余弦をα1.α2.α3
とすると、 Ea = Ko+ K、 (α1′α2′+α22α3
′+α3′α1′)十に2α1′α2′α3′+・ − に展開でき、K1.に2が異方性定数と呼ばれる。
ると、Eaを結晶磁気異方性エネルギ、直交したx、y
、z軸に関する自発磁化の方向余弦をα1.α2.α3
とすると、 Ea = Ko+ K、 (α1′α2′+α22α3
′+α3′α1′)十に2α1′α2′α3′+・ − に展開でき、K1.に2が異方性定数と呼ばれる。
F2は小さいので(測定しにくい)こ−では言及しない
。コバルトのような6万晶系では5in2θの級数に展
開して Ea=に、)+Ku、 5in2θ+Ku25in4θ
十90020.。
。コバルトのような6万晶系では5in2θの級数に展
開して Ea=に、)+Ku、 5in2θ+Ku25in4θ
十90020.。
とされ、この場合はKul、Ku2が異方性定数と呼ば
れる。異方性磁界Hiは異方性定数をKu、飽和磁化を
Msとして Hi=2Ku/Ms で表わされる。次に本発明磁性薄膜の製造工程の概要を
示す。Y 203 、 S m 20 v 、 L
u 203 。
れる。異方性磁界Hiは異方性定数をKu、飽和磁化を
Msとして Hi=2Ku/Ms で表わされる。次に本発明磁性薄膜の製造工程の概要を
示す。Y 203 、 S m 20 v 、 L
u 203 。
Ca2O3,Ge021 Fe2O3、と酸化コハル)
Coo (いずれも粉体)を所要量るつぼに入れ、更に
フラックスとしてPb0.B2O3を加え、1050℃
に加熱して溶融し、数時間その状態にして充分混合させ
る。次にs o o ’cに落とし、GGG基板を回転
させながら融液に浸し、数分間おいて引上げる。これで
GGG基板にCod(YSmLuCa)3 (GeF
e)50+、なる磁性薄膜が該基板に液相成長する。な
おこのコバルト2+ COは(YSmLuCa)3側にあるのか(GeF2)
5側にあるのかはっきりしないので、こ\ではCo”
: (YSmLuCa)] (GeF 2)50.
、、なる表現をとった。
Coo (いずれも粉体)を所要量るつぼに入れ、更に
フラックスとしてPb0.B2O3を加え、1050℃
に加熱して溶融し、数時間その状態にして充分混合させ
る。次にs o o ’cに落とし、GGG基板を回転
させながら融液に浸し、数分間おいて引上げる。これで
GGG基板にCod(YSmLuCa)3 (GeF
e)50+、なる磁性薄膜が該基板に液相成長する。な
おこのコバルト2+ COは(YSmLuCa)3側にあるのか(GeF2)
5側にあるのかはっきりしないので、こ\ではCo”
: (YSmLuCa)] (GeF 2)50.
、、なる表現をとった。
発明の詳細
な説明したように本発明によれば、イツトリウム・サマ
リウム・ルテチウム・カルシウム・ゲルマニウム・鉄・
酸素からなる1μφ微小バブル用磁性薄膜の異方性定数
lK+ 1が小になるので、問題であったバブル動作特
性の結晶方位依存性を緩和でき、また異方性磁界Hiが
大になるのでバブル動作特性に好影響を与えることがで
き、しかも他の磁気特性には悪影響を与えないという利
点が得られる。
リウム・ルテチウム・カルシウム・ゲルマニウム・鉄・
酸素からなる1μφ微小バブル用磁性薄膜の異方性定数
lK+ 1が小になるので、問題であったバブル動作特
性の結晶方位依存性を緩和でき、また異方性磁界Hiが
大になるのでバブル動作特性に好影響を与えることがで
き、しかも他の磁気特性には悪影響を与えないという利
点が得られる。
第1図は異方性定数IK+1の特性図、第2図は異方性
磁界Hiの特性図である。 出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 青 柳 稔
磁界Hiの特性図である。 出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 青 柳 稔
Claims (1)
- 結晶基板上にエピタキシャル成長して磁性薄膜を形成し
そしてイオン注入によりバブル伝播パターンを形成され
るイオン注入バブルデバイス用結晶において、(YSm
LuCa)3 (GeFe)5012なる組成を持ち
、かっ5 Co / F eが0.10〜0.20の範
囲で遷移金属イオンco2+を添加されて結晶磁気異方
性定数lK11および異方性磁界H1を制御されてなる
ことを特徴とするイオン注入バブルデバイス用結晶。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57098117A JPS58215004A (ja) | 1982-06-08 | 1982-06-08 | イオン注入バブルデバイス用結晶 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57098117A JPS58215004A (ja) | 1982-06-08 | 1982-06-08 | イオン注入バブルデバイス用結晶 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58215004A true JPS58215004A (ja) | 1983-12-14 |
Family
ID=14211353
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57098117A Pending JPS58215004A (ja) | 1982-06-08 | 1982-06-08 | イオン注入バブルデバイス用結晶 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58215004A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4711694A (en) * | 1984-11-12 | 1987-12-08 | Commissariat A L'energie Atomique | Process for producing a layer having a high magnetic anisotropy in a ferrimagnetic garnet |
-
1982
- 1982-06-08 JP JP57098117A patent/JPS58215004A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4711694A (en) * | 1984-11-12 | 1987-12-08 | Commissariat A L'energie Atomique | Process for producing a layer having a high magnetic anisotropy in a ferrimagnetic garnet |
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