JPS58175058A - Reader and writer for ic card - Google Patents
Reader and writer for ic cardInfo
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- JPS58175058A JPS58175058A JP57056440A JP5644082A JPS58175058A JP S58175058 A JPS58175058 A JP S58175058A JP 57056440 A JP57056440 A JP 57056440A JP 5644082 A JP5644082 A JP 5644082A JP S58175058 A JPS58175058 A JP S58175058A
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- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 この発明はＩＣカード用リーダ・ライタに関する。[Detailed description of the invention] The present invention relates to an IC card reader/writer.
近年、磁気カードの代りＫ ＩＣ（集積回路）チップを
カードに組込んだＩＣカードが利用されるようになって
いる。しかして、ＩＣカードにデータを書込んだり、Ｉ
Ｃカードからデータを読込んだすするＩＣカード用リー
ダ・ライタ忙おいては、ＩＣカードをリーダ・ライタの
所定位置にセットした後、ＩＣカードのセット位置を光
電スイッチ郷で検出し、セット状態が正常か否かの確認
を行なってからＩＣカードとの間でデータ転送を開始す
るようにしている。この場合、ＩＣカードにはり数個の
電極が設けられており、これらｔ極とリーダ・ライタの
コンタクト電極とを電気的に接触させることＫより、相
互にデータの転送を行ない得るようにしているが、ＩＣ
カード上のｔ極の間に導電性の物質が付着し、２つの電
極間に短絡を生じさせるような場合、ＩＣカードとり−
ダ・ライタとの間でデータ転送が正常に行なわれないと
いう欠点があった。また、場合によっては、電源電圧が
ＩＣカードの正規の電極以外の電極に印加されてしまい
、ＩＣカード内のＩＣチップの破壊につながるという恐
れがあった＝
第１図はかかる従来のＩＣカードとリーダ・ライタとの
電極接続の様子を示す図であり、ＩＣカードの平面状の
電極１（Ｑ１〜Ｑ８ ）にリーダ・２イタの棒状のコン
タクト電極２（Ｐ１〜Ｐ８ ）を相互に接触させるよう
にしている。したがって、正常時においてはＩＣカード
側の電極Ｑ１〜Ｑ８とリーグ・ライタ側の電極Ｐ１〜Ｐ
８との間で相互にデータの転送が行なわれる。しかしな
がら、たとえば図に示す如（ＩＣカード側の電極Ｑ１と
Ｑ５との間に導電性の不純物３が付着した場合には、電
極ＱｌとＱ５とが電気的に短絡してしまうので、電極Ｐ
Ｉ−Ｑｌ 、 Ｐ５−Ｑ５の間におけるデータの転送が
正常に行なわれないことになる。また、場合によっては
ＩＣカード上の正規の電極以外の電極に電源電圧が印加
されてしまい、ＩＣカード内のＩＣチップを破損してし
まうといった恐れもある。よって、この発明の目的は、
上述の如き欠点のないＩＣカード用のリーダ・ライタを
提供することにある。In recent years, instead of magnetic cards, IC cards in which a KIC (integrated circuit) chip is incorporated into the card have come into use. However, when writing data to an IC card,
When an IC card reader/writer is busy reading data from a C card, after setting the IC card in a predetermined position on the reader/writer, the photoelectric switch detects the set position of the IC card and confirms the set status. Data transfer between the IC card and the IC card is started after checking whether it is normal or not. In this case, the IC card is provided with several electrodes, and by electrically contacting these T-poles with the contact electrodes of the reader/writer, data can be transferred between them. However, IC
If a conductive substance adheres between the T-poles on the card and causes a short circuit between the two electrodes, the IC card
There was a drawback that data transfer between the data and the writer could not be performed normally. In addition, in some cases, the power supply voltage may be applied to electrodes other than the regular electrodes of the IC card, which may lead to destruction of the IC chip inside the IC card. This is a diagram showing how the electrodes are connected to the reader/writer, and the planar electrodes 1 (Q1 to Q8) of the IC card are brought into contact with the rod-shaped contact electrodes 2 (P1 to P8) of the reader/writer. I have to. Therefore, under normal conditions, electrodes Q1 to Q8 on the IC card side and electrodes P1 to P on the league writer side.
Data is transferred to and from 8. However, as shown in the figure (for example, if conductive impurity 3 adheres between electrodes Q1 and Q5 on the IC card side, electrodes Ql and Q5 will be electrically short-circuited, so electrode P
Data transfer between I-Ql and P5-Q5 will not be performed normally. Further, in some cases, the power supply voltage may be applied to electrodes other than the regular electrodes on the IC card, and there is a risk that the IC chip in the IC card may be damaged. Therefore, the purpose of this invention is to
The object of the present invention is to provide a reader/writer for IC cards that does not have the above-mentioned drawbacks.
以下にこの発明を説明する。This invention will be explained below.
この発明は、挿入されたＩＣカードの複数個の電極と相
互に接触するようにコンタクト電極を配設されたＩＣカ
ード用リーダ・ライタに関し、第２図に示すように、複
数個の電極（Ｑｌ〜Ｑ８ ）のうちの任意の２組の関に
おける電気的短絡を、コンタクト電極Ｐ１〜Ｐ８を介し
て検出するための短絡検出回路１０を設けたものである
。すなわち、ＩＣカードがＩＣカード用リーダ・ライタ
の所定位置にセットされると、ＩＣカードの電極１（Ｑ
１〜Ｑ８）はＩＣカード用リーダ・ライタのコンタクト
電極２（Ｐ１〜Ｐ８ ）に接触する。そし２て、ＩＣカ
ードとＩＣカード用リーダ・ライタとの間でデータの転
送を行なう前に、制御回路かからプローブ信号ＦＢを出
力し、短絡検出回路１０によってコンタクト電極Ｐ１〜
Ｐ８の任意の２組の間で電気的な短絡があるか否かを検
査し、いずれのコンタクト電極の間においても短絡がな
い場合には短絡信号ＮＳを制御回路加に出力せず、その
後に制御回路加を介してデータ転送を行なうようＫする
。しかして、挿入されたＩＣカードの電極Ｑ１〜Ｑ８の
間で、たとえばＩ！１図に示すような導電性の不純物３
が付着している場合には、コノタクト電極Ｐ１とＰ５と
の間で電気的な短絡が生じるので、短絡検出回路１０は
短絡信号Ｎ８を出力する。これにより、制御回路加はコ
ンタクト電極Ｐ１〜Ｐ８を介してＩＣカードとの間でデ
ータの転送を行なうことができない。The present invention relates to an IC card reader/writer in which a contact electrode is arranged so as to be in mutual contact with a plurality of electrodes of an inserted IC card, and as shown in FIG. -Q8) A short-circuit detection circuit 10 is provided for detecting an electrical short-circuit between any two sets of contacts through contact electrodes P1-P8. That is, when the IC card is set in the predetermined position of the IC card reader/writer, electrode 1 (Q
1 to Q8) contact the contact electrodes 2 (P1 to P8) of the IC card reader/writer. 2. Then, before data is transferred between the IC card and the IC card reader/writer, the control circuit outputs the probe signal FB, and the short circuit detection circuit 10 detects the contact electrodes P1 to P1.
It is checked whether there is an electrical short circuit between any two pairs of P8, and if there is no short circuit between any of the contact electrodes, the short circuit signal NS is not output to the control circuit, and then K so that data transfer is performed via the control circuit. For example, I! between the electrodes Q1 to Q8 of the inserted IC card. 1 Conductive impurity 3 as shown in Figure 1
is attached, an electrical short circuit occurs between the contact electrodes P1 and P5, and the short circuit detection circuit 10 outputs a short circuit signal N8. As a result, the control circuit cannot transfer data to or from the IC card via the contact electrodes P1 to P8.
次Ｋ、短絡検出回路１０の詳細を第３図に示し、その動
作を第４図（５）〜（Ｉ）のタイムチャートを参照して
説明する。Next, the details of the short circuit detection circuit 10 are shown in FIG. 3, and its operation will be explained with reference to the time charts of FIGS. 4 (5) to (I).
短絡検出回路１０は第３図に示すように、コノタクト電
極Ｐ１〜Ｐ８のうちの７つなそれぞれ入力するオアグー
） ＯＲＩ〜ＯＲ８と、当該オアゲートに入力されてい
ないｔ他信号Ｎ１〜Ｎ８によってオンオフされるトライ
・ゲートｑ１〜Ｇ８と、これらトライ・ゲート０１〜Ｇ
８の論理和を得るオアゲートＯＲ９と、このオアグー）
ＯＲ９及びグローブ信号ＰＨの論理積を得るアンドゲ
ートに山とで構成されている。なお、トライ・グー）Ｇ
ｌ〜Ｇ８はそれぞれゲート信号（Ｎｌ〜Ｎ８ ）がｒＨ
Ｊレベルの時にオンされるようになっている。As shown in FIG. 3, the short circuit detection circuit 10 is turned on and off by ORI to OR8 which are input to seven of the contact electrodes P1 to P8, respectively, and other signals N1 to N8 which are not input to the OR gates. tri-gates q1 to G8, and these tri-gates 01 to G
OR gate OR9 that obtains the logical sum of 8 and this ORGOO)
It consists of an AND gate that obtains the logical product of OR9 and the globe signal PH, and a mountain. In addition, Try Goo) G
The gate signals (Nl to N8) of l to G8 are rH.
It is designed to be turned on when you are at J level.
しかして、第４図（５）に示す如きグローブ信号ＦＢが
制御回路加から出力されると共に、グローブ信号ＦＢが
ｒＨＪレベルとなっている関に同図串）〜（Ｉ）に示す
如き電極信号Ｎ１〜へ８が順次出力される。したがって
、たとえば電極信号へ１が出力されている場合を考える
と、トライ・ゲートＧ１がオンされるので、オアグー）
ＯＲＩの出力がオアゲートω匈を軽てアンドゲートに
Φに入力されることになる。ここに、電極信号Ｎ１が出
力されている時に、コンタクト電極Ｐ１と他の電極Ｐ２
〜Ｐ８とが短絡されていなければ、オアグー） ＯＲＩ
の出力はｒＬＪレベルであり、結局アンドゲートＡＮＤ
の出力はｒＬＪレベルであり短絡信号Ｎ８は出力されな
い。これに対し、コンタクトｔ＆Ｐ１と他の電極Ｐ２〜
Ｐ８のいずれかとが不純物等によって短絡されていると
、オアゲートＯＲＩの出力がｒＨＪレベルとなることに
より短絡信号ＮＳが出力される。このような短絡検査を
順次電極Ｐ２゜Ｐ３．・・・Ｐ８について検査すること
により、グローブ信号ＰＢが出力されている間の全ての
電極Ｐ１〜Ｐ８ Ｋついての検査を行なうことができる
。Thus, the globe signal FB as shown in FIG. 8 are sequentially output to N1 to N1. Therefore, for example, if we consider the case where 1 is output to the electrode signal, tri-gate G1 is turned on, so
The output of ORI is inputted to Φ through the OR gate ω and the AND gate. Here, when the electrode signal N1 is output, the contact electrode P1 and the other electrode P2
~If P8 is not short-circuited, OAG) ORI
The output of is rLJ level, and after all it is an AND gate AND
The output is at the rLJ level, and the short circuit signal N8 is not output. On the other hand, contact t&P1 and other electrodes P2~
If either P8 is short-circuited due to impurities or the like, the output of the OR gate ORI becomes rHJ level, and a short-circuit signal NS is output. Such a short circuit test is performed sequentially on electrodes P2, P3. By inspecting P8, all electrodes P1 to P8K can be inspected while the globe signal PB is being output.
以上のようＫこの発明のＩＣカード用リーダ・ライタに
よれば、ＩＣカード上の電極間に付着した導電性の物質
の付着によつ【生じる短絡動作をそのデータ転送に先だ
って検査し、いずれの電極の間においても導通が生じて
いないことを確認してからデータの転送を開始するよう
にしているので、電極の短絡による誤動作や、ＩＣカー
ド内のＩＣチップの破損を生じるといったこともない。As described above, according to the IC card reader/writer of the present invention, the short-circuit operation caused by the adhesion of a conductive substance between the electrodes on the IC card is inspected prior to data transfer, and any Since data transfer is started after confirming that there is no conduction between the electrodes, there is no possibility of malfunction due to electrode short-circuiting or damage to the IC chip in the IC card.
なお、上述の夾流側においてはＩＣカードの電極及びＩ
Ｃカード用リーグ・ライタのコンタクト電極の数をそれ
ぞれ８個としているが、これら電極の数は任意であり、
それら形状、配列も任意である。また、上述の冥流側で
は電極のうちの任意の２つの組合せ全てについて短絡が
あるか否かを検査するようにしているが、互いに隣接す
る２つの電極の組合せについてだけ検査するようにして
も同様の効果を得ることができる。In addition, on the above-mentioned discharge side, the electrodes of the IC card and the I
The number of contact electrodes of each C card league writer is 8, but the number of these electrodes is arbitrary.
Their shape and arrangement are also arbitrary. In addition, on the undercurrent side described above, all combinations of any two electrodes are tested for short circuits, but it is also possible to test only the combinations of two adjacent electrodes. A similar effect can be obtained.
第１図はＩＣカードの電極とＩＣカード用り−ダ・ライ
タのコンタクト電極との接触の様子な示す図、第２図は
この発明の一実施例を示すブロック図、第３図はこの発
明に用いる短絡検出回路の一例を示す回路図、第４図（
５）〜（Ｉ）はその動作例を示すタイミングチャートで
ある。
１（Ｑ１〜Ｑ８ ）用電極、２ （ＰＩＡ、Ｐ６Ａ 。
ＰＩＢ〜Ｐ６Ｂ ）・・・コンタクト電極、３・・・不
純物、１０・・・短絡検出回路、加・・・制御回路。
邑願人代理人 安 形 雄 三烙 ３ 区
弔４！２
（Ａ）ＰＢ−「＝１
（Ｆ） Ｎ５ −ローFig. 1 is a diagram showing the state of contact between the electrode of the IC card and the contact electrode of the IC card reader/writer, Fig. 2 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, and Fig. 3 is a diagram showing the contact electrode of the IC card reader/writer. Figure 4 is a circuit diagram showing an example of a short circuit detection circuit used in
5) to (I) are timing charts showing examples of the operation. 1 (Q1-Q8) electrode, 2 (PIA, P6A. PIB-P6B)... contact electrode, 3... impurity, 10... short circuit detection circuit, addition... control circuit. Ogami agent Yasugata Yu Mitsuhiro 3 Ward condolence 4!2 (A) PB-"=1 (F) N5-Low
Claims (1)
ようにコンタクト電極を配設されたＩＣカード用リーダ
・ライタにおいて、前記複数個の電極のうちの任意の２
組の間、における短絡を、前記各コンタクト電極を介し
て検出するための短絡検出回路を備えたことを特徴とす
るＩＣカード用リーダ・ライタ。In an IC card reader/writer in which a contact electrode is arranged so as to be in mutual contact with a plurality of electrodes of an inserted IC card, any two of the plurality of electrodes
A reader/writer for an IC card, comprising a short-circuit detection circuit for detecting a short-circuit between the pairs of contacts via each of the contact electrodes.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57056440A JPS58175058A (en) | 1982-04-05 | 1982-04-05 | Reader and writer for ic card |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57056440A JPS58175058A (en) | 1982-04-05 | 1982-04-05 | Reader and writer for ic card |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58175058A true JPS58175058A (en) | 1983-10-14 |
| JPS648395B2 JPS648395B2 (en) | 1989-02-14 |
Family
ID=13027138
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57056440A Granted JPS58175058A (en) | 1982-04-05 | 1982-04-05 | Reader and writer for ic card |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58175058A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62157984A (en) * | 1985-12-31 | 1987-07-13 | Diesel Kiki Co Ltd | Reading and writing device for ic card |
| JPS62165286A (en) * | 1986-01-17 | 1987-07-21 | Toshiba Corp | Reading/writing device for portable recording medium |
| JPS62224874A (en) * | 1986-03-26 | 1987-10-02 | Diesel Kiki Co Ltd | Ic card read/write device |
| JPS6318485A (en) * | 1986-07-10 | 1988-01-26 | Omron Tateisi Electronics Co | Ic card reader/writer |
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-
1982
- 1982-04-05 JP JP57056440A patent/JPS58175058A/en active Granted
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS648395B2 (en) | 1989-02-14 |
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