JPS58158965A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPS58158965A JPS58158965A JP57040799A JP4079982A JPS58158965A JP S58158965 A JPS58158965 A JP S58158965A JP 57040799 A JP57040799 A JP 57040799A JP 4079982 A JP4079982 A JP 4079982A JP S58158965 A JPS58158965 A JP S58158965A
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 18
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims 1
- 239000008188 pellet Substances 0.000 abstract description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
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- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/02—Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L24/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
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- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/02—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/06—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は高周波用のトランジスタに関する。
高周波用のトランジスタにおいては、第1図。
第1A図に示1ように例えばコレクタとなるNWS−基
板の主表面にP型ベース2とN+ Julエミッタ3の
細長形の拡散領域を交互にクシの歯状に形成し、各ベー
ス領域と各エミッタ領域に対しオーミック接触させた人
!膜等からなる電極4,5を基板の対角線方向に導いて
ボンディングパット6゜7 としている。これまでの構
造では同図のようにり/の歯を構成するベース乃至エミ
ッタのパターンを基板の対角線方向にそって、又はこれ
と直角方向に配置していた。
板の主表面にP型ベース2とN+ Julエミッタ3の
細長形の拡散領域を交互にクシの歯状に形成し、各ベー
ス領域と各エミッタ領域に対しオーミック接触させた人
!膜等からなる電極4,5を基板の対角線方向に導いて
ボンディングパット6゜7 としている。これまでの構
造では同図のようにり/の歯を構成するベース乃至エミ
ッタのパターンを基板の対角線方向にそって、又はこれ
と直角方向に配置していた。
これIエベレノト(半導体基板)の面積を有効に活用す
るためになるべく小さいペレットサイズにトランジスタ
の能動領域とポンディングパッドをむだなく配置し、製
造コストの低減を図ることに主眼を置いてなされたから
である。
るためになるべく小さいペレットサイズにトランジスタ
の能動領域とポンディングパッドをむだなく配置し、製
造コストの低減を図ることに主眼を置いてなされたから
である。
しかし最近開発されている高周波トランジスタのように
装置容量を小さくする目的でベース・エミッタ間隔をせ
まく、したがって(しの歯状に形成したベース・エミッ
タ電極の間隔(ピッチP)をせまくシ、ホトレジストマ
スクの位置合せ精度(ベースクラフトベース−エミッタ
・ベースコンタクト)が要求される半導体装置では、基
板辺に対して斜め(45°)のクシの歯状電極間隔の充
分な精度を出すことは困難である。
装置容量を小さくする目的でベース・エミッタ間隔をせ
まく、したがって(しの歯状に形成したベース・エミッ
タ電極の間隔(ピッチP)をせまくシ、ホトレジストマ
スクの位置合せ精度(ベースクラフトベース−エミッタ
・ベースコンタクト)が要求される半導体装置では、基
板辺に対して斜め(45°)のクシの歯状電極間隔の充
分な精度を出すことは困難である。
本発明は上記の欠点を取り除くべくなさtたものであり
、その目的はより高い周波数特性をもちかつ高い信頼性
をもつトランジスタの開発にある。
、その目的はより高い周波数特性をもちかつ高い信頼性
をもつトランジスタの開発にある。
以下本発明を実施例にそって詳述する。
11i2図に本発明による高周波トランジスタの電極配
置を示す平面パターンが示さnる。このトランジスタに
おいては、クシの書状電極を構成するベース4及びエミ
ッタ5の電極パターンは基板チップをウェハより切断す
るためのスクライブ方向、すなわちチップの両辺X、Y
方向にそりて又はこれと直角方向に形成されている。図
示されないがベース・エミッタの拡散パターンも当然基
板表面にX、Y方向に形成されている。一方、ベース−
エミッタ電極より導出されたポンディングパッド6.7
は基板チップの一つの対角線上にその中心上記実施例で
述べた本発明によれば下記の理由で前記発明の目的が達
成で挿るつ 半導体基板にベース・エミッタの拡散領域、電極バター
/を形成するにあたっては、半導体ウェハの形態でホト
レジスト処理による選択拡散1部分蒸着が成される。こ
のホトレジストのマスク合せ(アライメント)の際に第
3図に示すように半導体ウェハをオリエンテーシ嘗ンフ
ラット(OF)を基準線に合せておき、ウェハの両端位
置に設けたアライメントターゲット(AT、、AT、)
を見て合せるようにしている。このときの合せ精度が出
るのは左右上下は合せやすくずれが見やすい。
置を示す平面パターンが示さnる。このトランジスタに
おいては、クシの書状電極を構成するベース4及びエミ
ッタ5の電極パターンは基板チップをウェハより切断す
るためのスクライブ方向、すなわちチップの両辺X、Y
方向にそりて又はこれと直角方向に形成されている。図
示されないがベース・エミッタの拡散パターンも当然基
板表面にX、Y方向に形成されている。一方、ベース−
エミッタ電極より導出されたポンディングパッド6.7
は基板チップの一つの対角線上にその中心上記実施例で
述べた本発明によれば下記の理由で前記発明の目的が達
成で挿るつ 半導体基板にベース・エミッタの拡散領域、電極バター
/を形成するにあたっては、半導体ウェハの形態でホト
レジスト処理による選択拡散1部分蒸着が成される。こ
のホトレジストのマスク合せ(アライメント)の際に第
3図に示すように半導体ウェハをオリエンテーシ嘗ンフ
ラット(OF)を基準線に合せておき、ウェハの両端位
置に設けたアライメントターゲット(AT、、AT、)
を見て合せるようにしている。このときの合せ精度が出
るのは左右上下は合せやすくずれが見やすい。
第1図のようにパターンの主線が斜め方向の場合は合せ
に<<、ずれの判別がつぎにくい。したがって、第4図
t8) 、 (b)に示すように、アライメントのずれ
の方向(blと能動部パターンのずれの方向tl)とが
一致せず、下記の問題点が発生する。(II エミッ
J(電極パターン)とベース(E?パターン)が重なっ
て短絡する。(2)上記(1)のずれを考慮してエミッ
タとベースの間隔(P)を広げて設計することにより、
rbb′(ベース・エミッタ間抵抗)が上昇しNF(雑
音)、PG(パヮードイン)の低下となり、又ベース面
積の拡大からC8b(ペースコレクタ間接合容量)の上
昇、ひいては高周波特性の低下となった。
に<<、ずれの判別がつぎにくい。したがって、第4図
t8) 、 (b)に示すように、アライメントのずれ
の方向(blと能動部パターンのずれの方向tl)とが
一致せず、下記の問題点が発生する。(II エミッ
J(電極パターン)とベース(E?パターン)が重なっ
て短絡する。(2)上記(1)のずれを考慮してエミッ
タとベースの間隔(P)を広げて設計することにより、
rbb′(ベース・エミッタ間抵抗)が上昇しNF(雑
音)、PG(パヮードイン)の低下となり、又ベース面
積の拡大からC8b(ペースコレクタ間接合容量)の上
昇、ひいては高周波特性の低下となった。
しかし本発明のように能動部ベース・エミッタの主線を
ペレットの辺と直角又は平行に配置することによりパタ
ーンすれとアライメントずれが第4図(b)に一致し、
合せ精度を向上させることができ、エミッタ・ベース耐
圧シ目−トの低減ができるとともにベース・エミッタ間
隔Pを小さくしてNFの低下、PGの上昇、Cobの低
減が可能となる結果より高い周波性のトランジスタの開
発製造が可能となった。又、ポンディングパッドは基板
チップの対角線上に配置するから、基板表面を有効に利
用しチップ寸法の縮小を図ることができる。
ペレットの辺と直角又は平行に配置することによりパタ
ーンすれとアライメントずれが第4図(b)に一致し、
合せ精度を向上させることができ、エミッタ・ベース耐
圧シ目−トの低減ができるとともにベース・エミッタ間
隔Pを小さくしてNFの低下、PGの上昇、Cobの低
減が可能となる結果より高い周波性のトランジスタの開
発製造が可能となった。又、ポンディングパッドは基板
チップの対角線上に配置するから、基板表面を有効に利
用しチップ寸法の縮小を図ることができる。
本発明は特に微細系高周波トランジスタの歩留り向上に
極めて有効である。
極めて有効である。
第1図は高周波トランジスタの一例の平面図、第1A図
は第1図におけるA−A視拡大断面図である。第2図は
本発明による高周波トランジスタの実施例を示す平面図
、第3図はホトレジストマスクアライメント時の半導体
ウェハを示す平面図、第4 Eta) 、 (b)はパ
ターンずれとアライメントスれを示す原理説明図である
。 1・・・Nm&、2・・・Pベース、3・・・N+ エ
キツタ、4・・・ベース電極、5・・・エミッタ電極、
6 、7・・・ポンディングパッド。 代理人 弁理士 薄 1)利 幸 第 1 図 第1A図 第 2 図 第 3f’4 第 4 図(と2−) θl
は第1図におけるA−A視拡大断面図である。第2図は
本発明による高周波トランジスタの実施例を示す平面図
、第3図はホトレジストマスクアライメント時の半導体
ウェハを示す平面図、第4 Eta) 、 (b)はパ
ターンずれとアライメントスれを示す原理説明図である
。 1・・・Nm&、2・・・Pベース、3・・・N+ エ
キツタ、4・・・ベース電極、5・・・エミッタ電極、
6 、7・・・ポンディングパッド。 代理人 弁理士 薄 1)利 幸 第 1 図 第1A図 第 2 図 第 3f’4 第 4 図(と2−) θl
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、半導体基板の一生表面に導電製の異なる領域が交互
にクシの歯状となった能動部を形成し、上記領域に七粁
ぞnオーミック接触するクシ歯状の電極を形成した半導
体装置において、各電極の外端子をポンディングパッド
として基板の一つの対角線上に設ける一方、上記クシの
歯状の能動部及びこnに接触する電極を半導体基板の周
辺方向にそって形成したことを特徴とする半導体装置。 2、上記交互にクシの歯状に形成した能動領域はトラン
ジスタを構成するベース及びエミッタである特許請求の
範囲第1項に記載の半導体装置。 3、上記交互にクシの歯状に形成した能動領域は電界効
果トランジスタを構成するソース及びドレインである特
許請求の範囲第1項に記載の半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57040799A JPS58158965A (ja) | 1982-03-17 | 1982-03-17 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57040799A JPS58158965A (ja) | 1982-03-17 | 1982-03-17 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58158965A true JPS58158965A (ja) | 1983-09-21 |
Family
ID=12590669
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57040799A Pending JPS58158965A (ja) | 1982-03-17 | 1982-03-17 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58158965A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6239074A (ja) * | 1985-08-13 | 1987-02-20 | Matsushita Electronics Corp | 半導体装置 |
US6046493A (en) * | 1996-07-03 | 2000-04-04 | U.S. Philips Corporation | Semiconductor device with special emitter connection |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55117271A (en) * | 1979-02-28 | 1980-09-09 | Toshiba Corp | Semiconductor device |
-
1982
- 1982-03-17 JP JP57040799A patent/JPS58158965A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55117271A (en) * | 1979-02-28 | 1980-09-09 | Toshiba Corp | Semiconductor device |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6239074A (ja) * | 1985-08-13 | 1987-02-20 | Matsushita Electronics Corp | 半導体装置 |
US6046493A (en) * | 1996-07-03 | 2000-04-04 | U.S. Philips Corporation | Semiconductor device with special emitter connection |
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