JPS58151508A - 平行度の光学的測定方法 - Google Patents

平行度の光学的測定方法

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JPS58151508A
JPS58151508A JP3383182A JP3383182A JPS58151508A JP S58151508 A JPS58151508 A JP S58151508A JP 3383182 A JP3383182 A JP 3383182A JP 3383182 A JP3383182 A JP 3383182A JP S58151508 A JPS58151508 A JP S58151508A
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JP
Japan
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measured
mirror
plane mirror
lens
parallelism
Prior art date
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Pending
Application number
JP3383182A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiichiro Terajima
寺島 精一郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/16Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
    • G01B11/161Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge by interferometric means

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明に微小構造物(例えばVTRシリンダ、小型モー
タなど)の熱変形、経年変化等の平行度光学的に測定す
る方法に関するものである。
従来性なわれている構造物の熱変形測定方法を第1図に
示す。
被測定物1t−搭載台2の上にのせて複数個の変位検出
センサ4a、4b(例えばホトニラクセ/す、電気マイ
クロメータ、うず電流形変位計等)をセットして恒温槽
3内に設置する。必要な温度変化を与えて被測定物1が
変化する様子’t’変位横出検出サ4a、4bで測定す
る。
しかし、上記の測定方法で得られる測足値は、被測定物
を搭載した搭載台2の熱変形による誤差も含んでいるた
め測定精度が低下する。
本発明0#豹は被測定物の変形における平行度−本発明
の実施例を第2図に示す。
第2図(イ)において、第1図と同一符号のものは同一
部分を示す。1は被測定物、5は方向識別要素付平面鏡
、6はハーフミラ−で、これらの組合せを恒温槽3に入
れ・て平行光束を照射する。
次に光学系7の構成と動作を説明する。
8はコヒーレントな光を発撮するレーザ光源、9はレン
ズ、10はハーフミラ−111は特大レンズ、P2は結
倫レンズ、13はスクリーン、14はカメラである。レ
ーザ光源8から発蛋され次元はし/ズ9で4集光し、拡
大レンズ11で平行光束とする。レンズ9と拡大レンズ
の間のハーフミラ−10によりレーザ光源8からの光の
一部が被測定物に照射する。
平行光束に恒温槽3の上部に設けた窓によりさえぎられ
ることなく入射する。被測定物1に入射した平行光束は
、一部がハーフミラ−6で反射さ干渉縞儂となって特大
レンズ11を介してハーフミラ−10に入射する。ここ
で一部が透過し、一部が結儂レンズ12全介してスクリ
ーン13上に干渉縞偉t−!(Iする。これをカメラ1
4により撮影して測定する。カメラ上の干渉縞儂は第2
図(ロ)のよう観察され、この干渉縞のピッチと方向か
ら測定温度状態における構造体の傾きを決定する。
次に干渉縞f象の変化の様子を測定可能にする方向識別
要素付平面鏡について述べる。
第3図および#!4図において、方向識別要素付平面鏡
5は従来から用いられている全反射平面鏡にクサビ形反
射要素5ai4ケ所に等配したものである。クサビ形反
射要素5aが平面鏡上の方向識別要素となる。第3図お
よび第4図では、半径方向に方向識別要素を設けている
。しかし方向識別要素は円周方向に設置することも可能
である。
また傾きの方向もあらかじめ既知であるため任意で良い
次に本発明による方向識別要素付平面鏡5を用第6図お
よび第7図に上記の測定′f:説明するための概念図を
示すがその前に第5(イ)図において、円柱ブロック1
5を用いて方向識別要素の勾配を決定しておく。平行度
の精度が十分高い円柱ブロックを用いることにより、平
面鏡とハーフミラ−の傾!!は0のため方向識別要素か
ら第5図←)に示したような干渉縞が発生する。今識別
要素の半径方向長さ2vとし、その間に発生する干渉縞
の暗部の数をnとすると、幅Vでの傾きLvは単位長さ
当り、 として(1)式で決定できる。
このときの方向はすべて既知である。
次に測定対象物からの干渉縞rsrri第2図(ロ)に
示すように求まる。実際は第6図および第7図に示すよ
うに方向識別要素の干渉縞がその光路長により異なって
くる。いま測定対象物の全体の外径をDとし干渉縞の数
t−Nとする。単位長場当りの傾として決定できる。測
定すべき傾き量が(2)式で求まる。
次に0)式で示した方向識別要素の傾@Lvと(2)式
で決定し比傾きMeから、これを重ね合せた方向識別要
素部の干渉縞パターンから方向が決定できることを示す
。第6図および第7図(イ)、(ロ)、ぐっ。
に)において、矢の方向を上側に傾く方向として正方向
と定義する。また、第6図および第7図のようにX方向
、y方向を定める。第6図および第7図の(イ)のよう
にX方向に傾きMoが発生している場合は第6図(イ)
、(ロ)、f→、に)のような干渉縞ノ(ターンが得ら
れる。
この時の方向識別要素の干渉縞は第7図(イ)、(ロ)
(ハ)、に)に示したよりなLvとMoのベクトル合成
に対応する。Lvは常に内側に向きMDはX方向に向く
。LvとMt+との方向が全く一致するものはその加減
をとることで傾きが求まる。y方向についてflLマと
MDのベクトル合成量に対応して干渉縞が発生する。
第6図および第7図の仲)はX方向から45 方向にM
oが発生した場合を示す。第6図および第7図の(ハ)
は(ロ)と反対方向にMDが発生し友場合を示す。第6
図および第7因のに)はy方向にMDが発生した場合を
示すみいずれも正方向の傾きの最。
大値に最も近傍の方向識別要素に傾斜の最大値が発生す
る。
従って方向識別要素の干渉縞から傾きの正負が決定され
、以下このパターンの変化の様子を認識することにより
どのような状態に変化しても−その正負の方向を決定す
ることかできる。
方向が決定された干渉縞像に対しては、例えば常温状態
での傾きkMD(20)、60Gでの傾きiMD(60
)とすると1次のようにして温度変化に伴う変化分を求
めることができる。
この方法を第8図に示す。すなわち2(lにおける傾き
MDと60CにおけるMo (60)をベクトル的に合
成すれば良い。4Mは傾き変化量の絶対値とその方向を
示している。
なお、被測定物の外径に換算する場合はNa−jM−d
  ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(8
)として決定できる。
以上説明したように方向識別要素を付加することによシ
確実に方向の判別ができる。
なお上記の実施例では方向識別要素を円周方向に4ケ所
等配したが、円周全域にわたっても基本的には同じとな
る。(データ処理上の間組のみ)従って方向識別要素付
平面−とじて凹面鏡ないし凸面鏡を流用することも可能
である。
本発明方法によれば、傾き量の値とその方向が外部から
操作することなく決定できるので、変形量の測定を行な
う場合に大きな効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の平行度の測定方法を示す正面図、第2図
ケ)、(ロ)は本発明方法の実施例を示す断面図及び干
渉縞の一例を示す、第3図および第4図は方向識別要素
付平面鏡の断面図を示す、第5図(イ)。 (ロ)は測定対象部の円柱ブロックによる検証方法を示
す断面図、第6図および第7図(イ)、(ロ)、(ハ)
、(−4は方向識別要素の干渉縞パターンから傾きの方
向を判別する方法を示す概念図、第8図は傾き変化量か
ら変形の変化分を測定する方法を示す概念図である。 1・・・被測定物、3・・・恒温槽、5・・・方向識別
要素付平面鏡、6 、10・・・)1−7ミラー。 % 3 日 Y)s  図 聞6Uj311Fi7I!1 M。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 間隔をもって対向するように配設される被測定物上ハー
    フミラ−および平面鏡で挾み、その間で発生する干渉縞
    全利用して被測定物の平行度を光学的に測定する方法に
    おいて、前記平面鏡の半径方向又は円周方向に傾きの方
    向を識別する反射要素を配設し、この方向識別要素付平
    面鏡に発生する干渉縞パターンから被測定物の変形の状
    態および変形方向を測定できるようにしたことを特徴と
    する平行度の光学的測定方法。
JP3383182A 1982-03-05 1982-03-05 平行度の光学的測定方法 Pending JPS58151508A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110160469A (zh) * 2019-07-01 2019-08-23 河海大学常州校区 一种基于激光扫描与声波波速测量楔形体角度的方法
CN113176042A (zh) * 2021-03-31 2021-07-27 南京工程学院 一种气体泄漏检测装置及检测方法

Cited By (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110160469A (zh) * 2019-07-01 2019-08-23 河海大学常州校区 一种基于激光扫描与声波波速测量楔形体角度的方法
CN113176042A (zh) * 2021-03-31 2021-07-27 南京工程学院 一种气体泄漏检测装置及检测方法
CN113176042B (zh) * 2021-03-31 2022-07-01 南京工程学院 一种气体泄漏检测装置及检测方法

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